JP3431303B2 - ***撮影装置 - Google Patents
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- 238000009607 mammography Methods 0.000 title claims description 17
- 210000000481 breast Anatomy 0.000 claims description 53
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 30
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 30
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241001270131 Agaricus moelleri Species 0.000 description 1
- 206010006187 Breast cancer Diseases 0.000 description 1
- 208000026310 Breast neoplasm Diseases 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002559 palpation Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自動露出制御装置を有
する***撮影装置に関する。
する***撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】触診や視診では発見できないような早期
乳癌の微細病変を抽出するのに***撮影が用いられる。
この***撮影では、被曝線量を低減すると共に、***内
で発生する散乱線の影響を少なくするため、あるいはＸ
線パス長を均一化して組織分布を忠実に濃淡表現するた
めに、***を圧迫してその厚さの差異を平均化する圧迫
撮影が常用されている。また、***はＸ線吸収の個人差
が大きく***厚だけでは露出量制御の基準にできないの
で、一定濃度の画像を効率的に得る目的で自動露出制御
装置（ＡＥＣ；Automatic Exposure Control）が装備さ
れている。フォトマルチプライヤ、イオンチェンバー、
半導体等の自動露出制御装置の検出器は、***の大きさ
の個人差に対応するために、２次元的に移動自在に撮影
台内に収容されている。または、複数の検出器が撮影台
内に離散的に固定され、選択的に使用できるようになっ
ている。
乳癌の微細病変を抽出するのに***撮影が用いられる。
この***撮影では、被曝線量を低減すると共に、***内
で発生する散乱線の影響を少なくするため、あるいはＸ
線パス長を均一化して組織分布を忠実に濃淡表現するた
めに、***を圧迫してその厚さの差異を平均化する圧迫
撮影が常用されている。また、***はＸ線吸収の個人差
が大きく***厚だけでは露出量制御の基準にできないの
で、一定濃度の画像を効率的に得る目的で自動露出制御
装置（ＡＥＣ；Automatic Exposure Control）が装備さ
れている。フォトマルチプライヤ、イオンチェンバー、
半導体等の自動露出制御装置の検出器は、***の大きさ
の個人差に対応するために、２次元的に移動自在に撮影
台内に収容されている。または、複数の検出器が撮影台
内に離散的に固定され、選択的に使用できるようになっ
ている。
【０００３】もし、検出器の位置が適当でないとき、露
出制御が適当に機能しないで、必要なコントラストが得
られなくなってしまう。このため、検出器の現在位置
を、検出器の移動ツマミの目盛りや、選択された検出器
を表示すること等から把握できるようになっている。し
かし、検出器は保持装置内に収容されているので、実際
に圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出しているのかが
非常に分かりにくいのが現状である。
出制御が適当に機能しないで、必要なコントラストが得
られなくなってしまう。このため、検出器の現在位置
を、検出器の移動ツマミの目盛りや、選択された検出器
を表示すること等から把握できるようになっている。し
かし、検出器は保持装置内に収容されているので、実際
に圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出しているのかが
非常に分かりにくいのが現状である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した事情
に対処すべくなされたもので、その目的は、自動露出制
御装置の検出器が圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出
しているかを明瞭に示すことができる***撮影装置を提
供することである。
に対処すべくなされたもので、その目的は、自動露出制
御装置の検出器が圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出
しているかを明瞭に示すことができる***撮影装置を提
供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る***撮影装
置は、***を載せるための天板と、前記天板上の***を
圧迫するための圧迫板と、前記***に照射するためのＸ
線をばく射するＸ線管と、前記***を透過したＸ線像を
撮影する撮影手段と、前記天板の面と平行に２元的に移
動操作可能に設けられ、前記***を透過したＸ線を検出
するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前
記Ｘ線管の曝射を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ線検出
器の位置を検出する位置センサと、光源と、直交関係に
ある２本のシャフトまたはワイヤが各々独立して平行移
動自在に設けられてるスリットと、前記光源から発生さ
れ前記スリットを通過した光を屈曲して前記圧迫板上に
投光するためのミラーとを有する投光器と、前記２本の
ワイヤの交差点の影が前記Ｘ線検出器の真上に位置する
ように、前記位置センサで検出された前記Ｘ線検出器の
位置に基づいて前記スリットを制御するコントローラと
を具備する。本発明に係る***撮影装置は、***を載せ
るための天板と、前記天板上の***を圧迫するための圧
迫板と、前記***に照射するためのＸ線をばく射するＸ
線管と、前記***を透過したＸ線像を撮影する撮影手段
と、前記天板の面と平行に２元的に移動操作可能に設け
られ、前記***を透過したＸ線を検出するＸ線検出器
と、前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前記Ｘ線管の曝射
を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ線検出器の位置を検出
する位置センサと、光源と、液晶パネルと、前記光源か
ら発生され前記液晶パネルを通過した光を反射して前記
圧迫板上に投光するためのミラーとを有する投光器と、
前記液晶パネルに表示された濃黒像の影が前記Ｘ線検出
器の真上に位置するように、前記位置センサで検出され
た前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記液晶パネルを制
御するコントローラとを具備する。本発明に係る***撮
影装置は、***を載せるための天板と、前記天板上の乳
房を圧迫するための圧迫板と、前記***に照射するため
のＸ線をばく射するＸ線管と、前記***を透過したＸ線
像を撮影する撮影手段と、前記天板の面と平行に２元的
に移動操作可能に設けられ、前記***を透過したＸ線を
検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づ
き、前記Ｘ線管の曝射を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ
線検出器の位置を検出する位置センサと、レーザ光源
と、前記レーザ光源から発生されたレーザ光を反射して
前記圧迫板上に投光するための可動ミラーとを有する投
光器と、前記可動ミラーで反射されたレーザ光が前記Ｘ
線検出器の真上に位置するように、前記位置センサで検
出された前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記可動ミラ
ーを制御するコントローラとを具備する。
置は、***を載せるための天板と、前記天板上の***を
圧迫するための圧迫板と、前記***に照射するためのＸ
線をばく射するＸ線管と、前記***を透過したＸ線像を
撮影する撮影手段と、前記天板の面と平行に２元的に移
動操作可能に設けられ、前記***を透過したＸ線を検出
するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前
記Ｘ線管の曝射を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ線検出
器の位置を検出する位置センサと、光源と、直交関係に
ある２本のシャフトまたはワイヤが各々独立して平行移
動自在に設けられてるスリットと、前記光源から発生さ
れ前記スリットを通過した光を屈曲して前記圧迫板上に
投光するためのミラーとを有する投光器と、前記２本の
ワイヤの交差点の影が前記Ｘ線検出器の真上に位置する
ように、前記位置センサで検出された前記Ｘ線検出器の
位置に基づいて前記スリットを制御するコントローラと
を具備する。本発明に係る***撮影装置は、***を載せ
るための天板と、前記天板上の***を圧迫するための圧
迫板と、前記***に照射するためのＸ線をばく射するＸ
線管と、前記***を透過したＸ線像を撮影する撮影手段
と、前記天板の面と平行に２元的に移動操作可能に設け
られ、前記***を透過したＸ線を検出するＸ線検出器
と、前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前記Ｘ線管の曝射
を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ線検出器の位置を検出
する位置センサと、光源と、液晶パネルと、前記光源か
ら発生され前記液晶パネルを通過した光を反射して前記
圧迫板上に投光するためのミラーとを有する投光器と、
前記液晶パネルに表示された濃黒像の影が前記Ｘ線検出
器の真上に位置するように、前記位置センサで検出され
た前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記液晶パネルを制
御するコントローラとを具備する。本発明に係る***撮
影装置は、***を載せるための天板と、前記天板上の乳
房を圧迫するための圧迫板と、前記***に照射するため
のＸ線をばく射するＸ線管と、前記***を透過したＸ線
像を撮影する撮影手段と、前記天板の面と平行に２元的
に移動操作可能に設けられ、前記***を透過したＸ線を
検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づ
き、前記Ｘ線管の曝射を制御するＸ線制御部と、前記Ｘ
線検出器の位置を検出する位置センサと、レーザ光源
と、前記レーザ光源から発生されたレーザ光を反射して
前記圧迫板上に投光するための可動ミラーとを有する投
光器と、前記可動ミラーで反射されたレーザ光が前記Ｘ
線検出器の真上に位置するように、前記位置センサで検
出された前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記可動ミラ
ーを制御するコントローラとを具備する。
【０００６】
【作用】本発明によれば、Ｘ線検出器の真上の圧迫板上
の位置に、ワイヤの交差点の影、濃黒像の影、またはレ
ーザ光が映るので、自動露出制御のためのＸ線検出器が
圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出しているかを明瞭
に示すことができる。
の位置に、ワイヤの交差点の影、濃黒像の影、またはレ
ーザ光が映るので、自動露出制御のためのＸ線検出器が
圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を検出しているかを明瞭
に示すことができる。
【０００７】
【実施例】以下図面を参照して本発明による***撮影装
置の一実施例を説明する。図２は***撮影装置の斜視図
である。図２に示すように、Ｘ線管２２に撮影台４１が
対向して設けられる。Ｘ線管２２のＸ線放射口にはロン
グコーン形の照射筒４２が装着され、Ｘ線照射野を限定
するようになっている。Ｘ線吸収が少なく透明の材料で
一体成型された圧迫板４３は、撮影台４１に接近または
離間する方向に移動操作可能に設けられ、***を天板４
４の上に乗せ、その天板４４と圧迫板４３とで圧迫す
る。受像体としてのＸ線フィルムを保持する図示しない
カセッテは、カセッテ挿入口４５を介して撮影台４１内
に収納される。自動露出制御装置のフォトマルチプライ
ヤ、イオンチェンバーまたは半導体等のからなるＸ線検
出器１１は、***及びカセッテを透過したＸ線を任意の
位置で検出できるように、カセッテの後方で、天板面と
平行に２元的に移動操作可能に設けられる。位置調整ツ
マミ４６を検査者が操作することにより、電動でまたは
手動で検出器１１は任意の位置に移動される。または、
図示しないが複数の検出器１１が撮影台４１内に離散的
に固定され、選択的に使用できるようになっていてもよ
い。
置の一実施例を説明する。図２は***撮影装置の斜視図
である。図２に示すように、Ｘ線管２２に撮影台４１が
対向して設けられる。Ｘ線管２２のＸ線放射口にはロン
グコーン形の照射筒４２が装着され、Ｘ線照射野を限定
するようになっている。Ｘ線吸収が少なく透明の材料で
一体成型された圧迫板４３は、撮影台４１に接近または
離間する方向に移動操作可能に設けられ、***を天板４
４の上に乗せ、その天板４４と圧迫板４３とで圧迫す
る。受像体としてのＸ線フィルムを保持する図示しない
カセッテは、カセッテ挿入口４５を介して撮影台４１内
に収納される。自動露出制御装置のフォトマルチプライ
ヤ、イオンチェンバーまたは半導体等のからなるＸ線検
出器１１は、***及びカセッテを透過したＸ線を任意の
位置で検出できるように、カセッテの後方で、天板面と
平行に２元的に移動操作可能に設けられる。位置調整ツ
マミ４６を検査者が操作することにより、電動でまたは
手動で検出器１１は任意の位置に移動される。または、
図示しないが複数の検出器１１が撮影台４１内に離散的
に固定され、選択的に使用できるようになっていてもよ
い。
【０００８】図１は本実施例の主要部のブロック図であ
る。適当なフィルム濃度を得るための自動露出制御装置
１は、透過Ｘ線量を検出器１１で電気信号に変換し、こ
の電気量が一定値に達したとき判定部１２からＸ線遮断
信号をＸ線管装置２のＸ線制御部２１に出力し、Ｘ線管
２２のＸ線曝射を停止するためのものである。
る。適当なフィルム濃度を得るための自動露出制御装置
１は、透過Ｘ線量を検出器１１で電気信号に変換し、こ
の電気量が一定値に達したとき判定部１２からＸ線遮断
信号をＸ線管装置２のＸ線制御部２１に出力し、Ｘ線管
２２のＸ線曝射を停止するためのものである。
【０００９】検出器位置指示装置３の位置センサ３１
は、検出器１１の２次元の位置を検出し、その位置デー
タをコントローラ３２に出力する。コントローラ３２は
投光器３３を制御して、その照準を検出器１１の真上に
位置させ、これにより検出器１１の現在位置を検査者に
指示する。また、コントローラ３２は、Ｘ線制御部２１
からＸ線曝射信号を取り込み、これに基づいて投光器３
３を制御して、Ｘ線管２２からＸ線が曝射されていると
き投光器３３を停止させ、一方、Ｘ線管２２からＸ線が
曝射されていないとき投光器３３を起動して検出器１１
の現在位置を自動的に検査者に指示する。
は、検出器１１の２次元の位置を検出し、その位置デー
タをコントローラ３２に出力する。コントローラ３２は
投光器３３を制御して、その照準を検出器１１の真上に
位置させ、これにより検出器１１の現在位置を検査者に
指示する。また、コントローラ３２は、Ｘ線制御部２１
からＸ線曝射信号を取り込み、これに基づいて投光器３
３を制御して、Ｘ線管２２からＸ線が曝射されていると
き投光器３３を停止させ、一方、Ｘ線管２２からＸ線が
曝射されていないとき投光器３３を起動して検出器１１
の現在位置を自動的に検査者に指示する。
【００１０】図３に投光器３３の一構造例を示す。回転
陽極タイプのＸ線管２２であれば、密封されたガラス管
２２ａ内に、回転軸２２ｂの先端に取り付けられた円錐
形の回転陽極２２ｃと陰極２２ｄとが収容されていて、
陰極２２ｄからの熱電子が回転陽極２２ｃのターゲット
に衝突することによりＸ線がベリリウム窓２２ｅを介し
て外部に放射される。２３はＸ線を所定レベルまで減衰
させる付加フィルタである。投光器３３は、光源３３ａ
から放出された拡散光がスリット３３ｂを通過し、ミラ
ー３３ｃで屈曲されて***上（または圧迫板上）に投光
されるようになっている。光源３３ａの図示しない光源
電源はコントローラ３２に制御されて光源３３ａに電力
を供給する。スリット３３ｂは、図４（ａ）または図４
（ｂ）のように構成される。図４（ａ）では、直交関係
にある２本のシャフトまたはワイヤ（以下ワイヤとして
説明する）３３1 ，３３2 がフレーム３３3 内の図示し
ないワイヤ駆動機構又はラックピニオン駆動機構により
各々独立して平行移動自在に設けられている。この場
合、各ワイヤの交差点が照準を示すことになる。コント
ローラ３２は位置センサ３１の出力にしたがって各々の
駆動機構を制御して、ワイヤ３３1 ，３３2 を移動さ
せ、検出器１１の位置に応じた位置でワイヤ３３1 ，３
３2 を交差させる。図４（ｂ）では、液晶パネル３３4
が採用される。コントローラ３２は位置センサ３１の出
力にしたがって液晶パネル３３4 の駆動装置を制御し
て、パネル内の検出器１１の位置に応じた位置に濃黒像
を写し出させる。この場合、この濃黒像の影が照準を示
すことになる。
陽極タイプのＸ線管２２であれば、密封されたガラス管
２２ａ内に、回転軸２２ｂの先端に取り付けられた円錐
形の回転陽極２２ｃと陰極２２ｄとが収容されていて、
陰極２２ｄからの熱電子が回転陽極２２ｃのターゲット
に衝突することによりＸ線がベリリウム窓２２ｅを介し
て外部に放射される。２３はＸ線を所定レベルまで減衰
させる付加フィルタである。投光器３３は、光源３３ａ
から放出された拡散光がスリット３３ｂを通過し、ミラ
ー３３ｃで屈曲されて***上（または圧迫板上）に投光
されるようになっている。光源３３ａの図示しない光源
電源はコントローラ３２に制御されて光源３３ａに電力
を供給する。スリット３３ｂは、図４（ａ）または図４
（ｂ）のように構成される。図４（ａ）では、直交関係
にある２本のシャフトまたはワイヤ（以下ワイヤとして
説明する）３３1 ，３３2 がフレーム３３3 内の図示し
ないワイヤ駆動機構又はラックピニオン駆動機構により
各々独立して平行移動自在に設けられている。この場
合、各ワイヤの交差点が照準を示すことになる。コント
ローラ３２は位置センサ３１の出力にしたがって各々の
駆動機構を制御して、ワイヤ３３1 ，３３2 を移動さ
せ、検出器１１の位置に応じた位置でワイヤ３３1 ，３
３2 を交差させる。図４（ｂ）では、液晶パネル３３4
が採用される。コントローラ３２は位置センサ３１の出
力にしたがって液晶パネル３３4 の駆動装置を制御し
て、パネル内の検出器１１の位置に応じた位置に濃黒像
を写し出させる。この場合、この濃黒像の影が照準を示
すことになる。
【００１１】図５に投光器３３の他の構造例を示す。こ
の投光器３３では、レーザ光源３３ｄからのレーザ光線
がミラー３３ｅで屈曲されて***上（または圧迫板上）
に投光され照準を示すようになっている。ミラー３３ｅ
は、レーザ光線が***上（または圧迫板上）の任意の位
置に投光されるように、直交する２つの回転軸各々の回
りを回動自在に図示しないミラー保持駆動機構に保持さ
れている。コントローラ３２は位置センサ３１の出力に
したがってミラー保持駆動機構を制御して、ミラー３３
ｅを傾斜させ、検出器１１の位置の真上に相当する***
上（または圧迫板上）の位置にレーザ光線を照射させ
る。
の投光器３３では、レーザ光源３３ｄからのレーザ光線
がミラー３３ｅで屈曲されて***上（または圧迫板上）
に投光され照準を示すようになっている。ミラー３３ｅ
は、レーザ光線が***上（または圧迫板上）の任意の位
置に投光されるように、直交する２つの回転軸各々の回
りを回動自在に図示しないミラー保持駆動機構に保持さ
れている。コントローラ３２は位置センサ３１の出力に
したがってミラー保持駆動機構を制御して、ミラー３３
ｅを傾斜させ、検出器１１の位置の真上に相当する***
上（または圧迫板上）の位置にレーザ光線を照射させ
る。
【００１２】図６に投光器３３のさらに他の構造例を示
す。この投光器３３では、自由支点で支持されたスポッ
トライト４７からのスポット光が***上（または圧迫板
上）に直接投光され照準を示すようになっている。コン
トローラ３２は位置センサ３１の出力にしたがって図示
しない移動機構を制御して、スポットライト４７の向き
を移動させ、検出器１１の位置の真上に相当する***上
（または圧迫板上）の位置にスポット光を照射させる。
す。この投光器３３では、自由支点で支持されたスポッ
トライト４７からのスポット光が***上（または圧迫板
上）に直接投光され照準を示すようになっている。コン
トローラ３２は位置センサ３１の出力にしたがって図示
しない移動機構を制御して、スポットライト４７の向き
を移動させ、検出器１１の位置の真上に相当する***上
（または圧迫板上）の位置にスポット光を照射させる。
【００１３】次に本実施例の動作を説明する。検出器位
置指示持装置３の位置センサ３１により、検出器１１の
２次元の位置が検出され、その位置データがコントロー
ラ３２に取り込まれる。または、複数の検出器１１が撮
影台４１内に離散的に固定され、選択的に使用できるよ
うになっている場合には、検出器１１の選択データが位
置データとしてコントローラ３２に取り込まれる。コン
トローラ３２は投光器３３を制御して、その照準を検出
器１１の真上に位置させ、これにより検出器１１の現在
位置を検査者に指示する。図３且つ図４（ａ）に示す投
光器３３であれば、コントローラ３２は位置センサ３１
の出力に応じて駆動機構を制御してワイヤ３３1 ，３３
2 各々を移動し、ワイヤ３３1 ，３３2 を検出器１１の
位置に応じた位置で交差させる。これにより、２本のワ
イヤ影が***上（または圧迫板上）の検出器１１の真上
で交差して検出器１１の位置を示す照準として検査者に
示される。図３且つ図４（ｂ）に示す投光器３３であれ
ば、コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じて
液晶パネル３３4 の駆動装置を制御してパネル内の検出
器１１の位置に応じた位置に濃黒像を写し出す。これに
より濃黒像の影が***上（または圧迫板上）の検出器１
１の真上に投影され、検出器１１の位置を示す照準とし
て検査者に示される。図５に示す投光器３３であれば、
コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じてミラ
ー保持駆動機構を制御してミラー３３ｅを回動する。こ
れにより、レーザ光線が照準として***上（または圧迫
板上）の検出器１１の真上に投光され、検出器１１の位
置が検査者に示される。図６に示す投光器３３であれ
ば、コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じて
移動機構を制御してスポットライト４７を移動する。こ
れにより、スポット光が照準として***上（または圧迫
板上）の検出器１１の真上に投光され、検出器１１の位
置が検査者に示される。
置指示持装置３の位置センサ３１により、検出器１１の
２次元の位置が検出され、その位置データがコントロー
ラ３２に取り込まれる。または、複数の検出器１１が撮
影台４１内に離散的に固定され、選択的に使用できるよ
うになっている場合には、検出器１１の選択データが位
置データとしてコントローラ３２に取り込まれる。コン
トローラ３２は投光器３３を制御して、その照準を検出
器１１の真上に位置させ、これにより検出器１１の現在
位置を検査者に指示する。図３且つ図４（ａ）に示す投
光器３３であれば、コントローラ３２は位置センサ３１
の出力に応じて駆動機構を制御してワイヤ３３1 ，３３
2 各々を移動し、ワイヤ３３1 ，３３2 を検出器１１の
位置に応じた位置で交差させる。これにより、２本のワ
イヤ影が***上（または圧迫板上）の検出器１１の真上
で交差して検出器１１の位置を示す照準として検査者に
示される。図３且つ図４（ｂ）に示す投光器３３であれ
ば、コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じて
液晶パネル３３4 の駆動装置を制御してパネル内の検出
器１１の位置に応じた位置に濃黒像を写し出す。これに
より濃黒像の影が***上（または圧迫板上）の検出器１
１の真上に投影され、検出器１１の位置を示す照準とし
て検査者に示される。図５に示す投光器３３であれば、
コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じてミラ
ー保持駆動機構を制御してミラー３３ｅを回動する。こ
れにより、レーザ光線が照準として***上（または圧迫
板上）の検出器１１の真上に投光され、検出器１１の位
置が検査者に示される。図６に示す投光器３３であれ
ば、コントローラ３２は位置センサ３１の出力に応じて
移動機構を制御してスポットライト４７を移動する。こ
れにより、スポット光が照準として***上（または圧迫
板上）の検出器１１の真上に投光され、検出器１１の位
置が検査者に示される。
【００１４】このように***上（または圧迫板上）に検
出器１１の位置が示されるので、検出器１１と圧迫され
た***との位置関係が明瞭になり、所望する部分に検出
器１１を配置して最適濃度の画像が得られ、不良濃度の
画像が撮影されたときの再撮影の手間がなくなる。
出器１１の位置が示されるので、検出器１１と圧迫され
た***との位置関係が明瞭になり、所望する部分に検出
器１１を配置して最適濃度の画像が得られ、不良濃度の
画像が撮影されたときの再撮影の手間がなくなる。
【００１５】また、コントローラ３２には、例えばＸ線
管２２からＸ線が曝射されたことを示すＸ線制御部２１
の出力端子の電圧変化がＸ線曝射信号として取り込まれ
る。Ｘ線曝射信号に基づいてコントローラ３２により投
光器３３が制御され、Ｘ線管２２からＸ線が曝射されて
いるとき投光器３３の動作が停止され、一方、Ｘ線管２
２からＸ線が曝射されていない期間継続して投光器３３
が動作する。これによりＸ線管２２からＸ線が曝射され
ていない期間、常に投光器３３が動作して、検出器１１
の現在位置が検査者に示される。したがって、実際に撮
影する前には常に検出器１１の位置が***上（または圧
迫板上）に投光されるので、検出器１１の位置合わせを
忘れてしまうことが回避される。
管２２からＸ線が曝射されたことを示すＸ線制御部２１
の出力端子の電圧変化がＸ線曝射信号として取り込まれ
る。Ｘ線曝射信号に基づいてコントローラ３２により投
光器３３が制御され、Ｘ線管２２からＸ線が曝射されて
いるとき投光器３３の動作が停止され、一方、Ｘ線管２
２からＸ線が曝射されていない期間継続して投光器３３
が動作する。これによりＸ線管２２からＸ線が曝射され
ていない期間、常に投光器３３が動作して、検出器１１
の現在位置が検査者に示される。したがって、実際に撮
影する前には常に検出器１１の位置が***上（または圧
迫板上）に投光されるので、検出器１１の位置合わせを
忘れてしまうことが回避される。
【００１６】本発明は上述した実施例に限定されず、種
々変形して実施可能である。例えば、フィルムの代りに
ＴＶカメラ等で撮影するような***撮影装置でも本発明
は同様に適用できる。
々変形して実施可能である。例えば、フィルムの代りに
ＴＶカメラ等で撮影するような***撮影装置でも本発明
は同様に適用できる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｘ
線検出器の真上の圧迫板上の位置に、ワイヤの交差点の
影、濃黒像の影、またはレーザ光が映るので、自動露出
制御のための検出器が圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を
検出しているかを明瞭に示すことができる***撮影装置
が提供される。
線検出器の真上の圧迫板上の位置に、ワイヤの交差点の
影、濃黒像の影、またはレーザ光が映るので、自動露出
制御のための検出器が圧迫***のどの部分の透過Ｘ線を
検出しているかを明瞭に示すことができる***撮影装置
が提供される。
【図１】本実施例の主要部のブロック図。
【図２】***撮影装置の斜視図。
【図３】図１の投光器の一構造例を示す図。
【図４】図３のスリットの構造例を示す図。
【図５】図１の投光器の他の構造例を示す図。
【図６】図１の投光器のさらに他の構造例を示す図。
１…自動露出制御装置、２…Ｘ線管装置、３…検出器位
置指示装置、１１…検出器、１２…判定部、２１…Ｘ線
制御部、２２…Ｘ線管、３１…位置センサ、３２…コン
トローラ、３３…投光器。
置指示装置、１１…検出器、１２…判定部、２１…Ｘ線
制御部、２２…Ｘ線管、３１…位置センサ、３２…コン
トローラ、３３…投光器。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 6/00 - 6/14
Claims (4)
- 【請求項１】 ***を載せるための天板と、 前記天板上の***を圧迫するための圧迫板と、 前記***に照射するためのＸ線をばく射するＸ線管と、 前記***を透過したＸ線像を撮影する撮影手段と、 前記天板の面と平行に２元的に移動操作可能に設けら
れ、前記***を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前記Ｘ線管の曝射を制
御するＸ線制御部と、 前記Ｘ線検出器の位置を検出する位置センサと、 光源と、直交関係にある２本のシャフトまたはワイヤが
各々独立して平行移動自在に設けられてるスリットと、
前記光源から発生され前記スリットを通過した光を屈曲
して前記圧迫板上に投光するためのミラーとを有する投
光器と、 前記２本のワイヤの交差点の影が前記Ｘ線検出器の真上
に位置するように、前記位置センサで検出された前記Ｘ
線検出器の位置に基づいて前記スリットを制御するコン
トローラとを具備することを特徴とする***撮影装置。 - 【請求項２】 ***を載せるための天板と、 前記天板上の***を圧迫するための圧迫板と、 前記***に照射するためのＸ線をばく射するＸ線管と、 前記***を透過したＸ線像を撮影する撮影手段と、 前記天板の面と平行に２元的に移動操作可能に設けら
れ、前記***を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前記Ｘ線管の曝射を制
御するＸ線制御部と、 前記Ｘ線検出器の位置を検出する位置センサと、 光源と、液晶パネルと、前記光源から発生され前記液晶
パネルを通過した光を反射して前記圧迫板上に投光する
ためのミラーとを有する投光器と、 前記液晶パネルに表示された濃黒像の影が前記Ｘ線検出
器の真上に位置するように、前記位置センサで検出され
た前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記液晶パネルを制
御するコントローラとを具備することを特徴とする***
撮影装置。 - 【請求項３】 ***を載せるための天板と、 前記天板上の***を圧迫するための圧迫板と、 前記***に照射するためのＸ線をばく射するＸ線管と、 前記***を透過したＸ線像を撮影する撮影手段と、 前記天板の面と平行に２元的に移動操作可能に設けら
れ、前記***を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づき、前記Ｘ線管の曝射を制
御するＸ線制御部と、 前記Ｘ線検出器の位置を検出する位置センサと、 レーザ光源と、前記レーザ光源から発生されたレーザ光
を反射して前記圧迫板上に投光するための可動ミラーと
を有する投光器と、 前記可動ミラーで反射されたレーザ光が前記Ｘ線検出器
の真上に位置するように、前記位置センサで検出された
前記Ｘ線検出器の位置に基づいて前記可動ミラーを制御
するコントローラとを具備することを特徴とする***撮
影装置。 - 【請求項４】 前記コントローラは、前記Ｘ線管からＸ
線がばく射されているとき、前記投光器を停止し、前記
Ｘ線管からＸ線がばく射されていないとき、前記投光器
を起動することを特徴とする請求項１、２、３のいずれ
か一項記載の***撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21717694A JP3431303B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | ***撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21717694A JP3431303B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | ***撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0880295A JPH0880295A (ja) | 1996-03-26 |
| JP3431303B2 true JP3431303B2 (ja) | 2003-07-28 |
Family
ID=16700059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21717694A Expired - Fee Related JP3431303B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | ***撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3431303B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007229269A (ja) * | 2006-03-01 | 2007-09-13 | Fujifilm Corp | マンモグラフィ装置及び該マンモグラフィ装置に用いられる***圧迫板 |
| JP2007289640A (ja) * | 2005-10-06 | 2007-11-08 | Fujifilm Corp | ***画像撮影装置 |
| JP2009254853A (ja) * | 2005-10-06 | 2009-11-05 | Fujifilm Corp | ***画像撮影装置 |
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|---|---|---|---|---|
| DE10346288A1 (de) * | 2003-03-24 | 2004-10-07 | Kaltenbach & Voigt Gmbh & Co. Kg | Röntgengerät |
| DE102005039658B3 (de) | 2005-08-22 | 2007-07-19 | Siemens Ag | Laservorrichtung für ein Mammographiegerät |
| JP5515592B2 (ja) * | 2009-10-07 | 2014-06-11 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線撮像装置 |
| ES2532523A1 (es) * | 2014-10-01 | 2015-03-27 | Universidad Politécnica de Madrid | Mecanismo electromecánico localizador de lesiones no palpables en mamografías |
| CN211883839U (zh) * | 2019-11-25 | 2020-11-10 | 达影医疗(中山)有限公司 | 一种标识x射线aec区域光学机构以及乳腺检测装置 |
| JP7301806B2 (ja) | 2020-09-30 | 2023-07-03 | 富士フイルム株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム |
-
1994
- 1994-09-12 JP JP21717694A patent/JP3431303B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007289640A (ja) * | 2005-10-06 | 2007-11-08 | Fujifilm Corp | ***画像撮影装置 |
| JP2009254853A (ja) * | 2005-10-06 | 2009-11-05 | Fujifilm Corp | ***画像撮影装置 |
| JP2009254854A (ja) * | 2005-10-06 | 2009-11-05 | Fujifilm Corp | ***画像撮影装置 |
| JP4598135B2 (ja) * | 2005-10-06 | 2010-12-15 | 富士フイルム株式会社 | ***画像撮影装置 |
| JP4597936B2 (ja) * | 2005-10-06 | 2010-12-15 | 富士フイルム株式会社 | ***画像撮影装置 |
| JP4600942B2 (ja) * | 2005-10-06 | 2010-12-22 | 富士フイルム株式会社 | ***画像撮影装置 |
| JP2007229269A (ja) * | 2006-03-01 | 2007-09-13 | Fujifilm Corp | マンモグラフィ装置及び該マンモグラフィ装置に用いられる***圧迫板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0880295A (ja) | 1996-03-26 |
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