JP3380402B2 - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JP3380402B2
JP3380402B2 JP20861396A JP20861396A JP3380402B2 JP 3380402 B2 JP3380402 B2 JP 3380402B2 JP 20861396 A JP20861396 A JP 20861396A JP 20861396 A JP20861396 A JP 20861396A JP 3380402 B2 JP3380402 B2 JP 3380402B2
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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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  • Studio Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子を用
いた撮像装置に関するものであり、特に、高解像度の画
像を得るためのイメージシフト機構を備えた撮像装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、画像入力装置の撮像素子とし
て、CCD(Charge Coupled Device)等の固体撮像素
子が広く用いられている。この固体撮像素子の解像度
は、一般的に上記固体撮像素子の受光面に形成される画
素数によってほぼ決定される。したがって、高い解像度
を得るためには、基本的に上記固体撮像素子の画素数を
増加させればよい。しかし、現状の技術では、コストや
サイズの面で実際に画素数を増加させるには限界があっ
た。
【0003】そこで、例えば特開昭60−54576号
公報、特開昭63−284980号公報には、イメージ
シフト機構を採用した撮像装置について開示されてい
る。これにより、限られた画素数の固体撮像素子を用い
て、比較的解像度の高い画像が得られるようになってい
る。
【0004】上記前者の撮像装置では、図16に示すよ
うに、平行平板ガラス101の傾斜角θを変化させるこ
とによって、被写体からの入射光を微小距離Δだけシフ
トさせて固体撮像素子に入射させ、それぞれの画像を画
像メモリに取り込むようにしている。ちなみに、平行平
板ガラス101の厚さをt、屈折率をnとすれば、平行
平板ガラス101の傾斜角θとシフト量Δとの関係は、 Δ=t・sinθ(1−1/n) である。
【0005】一方、上記後者の撮像装置では、図17に
示すように、被写体200からの光を光学系201、平
行平板ガラス202aを介して固体撮像素子203の受
光面に入射させ、それぞれの画像を画像形成部204の
画像メモリに取り込むようにしている。なお、上記平行
平板ガラス202aは駆動装置202bに固定されてお
り、この駆動装置202bによって上記平行平板ガラス
202aが光軸に対して所定角度だけ傾くようになって
いる。
【0006】上記従来技術においては、このようにして
画像メモリに取り込んだ複数の画像を合成し、固体撮像
素子の画素数を増加させた場合と等価的に高い解像度を
得るようにしている。
【0007】次に、イメージシフトされた2枚の画像
A、Bを画像メモリ上で合成する動作について、図17
ないし図20に基づいて説明する。なお、上記両者の従
来技術における画像合成動作は基本的に同じであるの
で、説明の便宜上、ここでは上記後者の従来技術を用い
て説明する。
【0008】まず、1枚目の画像Aを画像形成部204
の画像メモリ上に記憶する。図18(a)は、このとき
の画像データの配置を示している。なお、同図中の
「A」は画像Aの画像データであることを示し、添数字
は各画像データの行列番号を示している。つまり、例え
ばA12とは、画像Aにおける1行2列目の画像データで
あることを示している。
【0009】次に、平行平板ガラス202aを固体撮像
素子203の画素配列に対して水平方向に45°かつ垂
直方向に45°傾け、固体撮像素子203上の被写体像
をイメージシフトさせて2枚目の画像Bを得る。そし
て、この画像Bを画像形成部204の画像メモリ上に記
憶する。図18(b)は、このときの画像データの配置
を示している。なお、同図中の「B」は画像Bの画像デ
ータであることを示し、添数字は各画像データの行列番
号を示している。つまり、例えばB12とは、画像Bにお
ける1行2列目の画像データであることを示している。
【0010】ここで、上記2枚の画像A、Bの画像デー
タの位置関係は、図19に示すようになる。同図中、破
線は1枚目の画像Aの画像データを示し、実線は2枚目
の画像Bの画像データを示している。つまり、画像Bの
画像データは、固体撮像素子203のX軸方向、Y軸方
向の画素ピッチPx、Pyの1/2だけ画像Aの画像デ
ータに対してずれた配置となっている。なお、ここでは
固体撮像素子203の水平方向をX軸方向、垂直方向を
Y軸方向とする。
【0011】そして、画像形成部204は、図20に示
すように、2枚の画像A、Bの画像データを合成する。
このとき、図中「○」で示す位置は最初空白であるが、
例えば周囲の画素からの平均値を算出する等の補間を行
うことによって得られる新たな画像データがこの位置に
当てはめられることになる。以上のようにして得られる
合成画像の解像度は、固体撮像素子203において当初
得られる解像度の約2倍となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】このように、イメージ
シフト機構を搭載した撮像装置において高解像度の画像
を得る場合、上述のようにイメージシフトのために少な
くとも時間的に隔たった2枚の画像を入力する必要があ
る。このとき、イメージシフトされた上記2枚の画像
A、Bにおいて、実際にはイメージシフト以外に時間的
な要因によるずれが生じる。このずれは、例えば撮像装
置を手持ちした場合等に生じる不安定な振動(以下、手
ぶれと称する)、被写体200の移動等によって生じる
ものと考えられる。なお、後者は、イメージシフト機構
を搭載した撮像装置だけでなく、撮像装置全てに共通し
た問題であるのでここでは言及しない。
【0013】したがって、上記従来の構成では、スチル
カメラやムービー等の撮像装置を三脚等に固定せずに手
持ちした場合、手ぶれによって2枚の画像A、Bにイメ
ージシフト以外のずれが生じ、その結果、イメージシフ
トを行っても、解像度の高い画像を得ることができない
という問題が生ずる。また、このようなずれが大きけれ
ば、合成後の画像の解像度の向上を図ること自体が難し
く、場合によっては解像度が劣化してしまうという問題
が生ずる。
【0014】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、その目的は、手ぶれによって生じる解
像度の劣化を防止することのできる撮像装置を提供する
ことにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る撮
像装置は、上記の課題を解決するために、光学系を介し
て入射する被写体画像を、マトリクス状に配置された複
数の画素を有する固体撮像素子にて撮像する撮像装置で
あって、上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2
次元的に相対シフトさせるイメージシフト機構と、上
イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、固定
された当初予定の値である上記被写体画像のイメージシ
フト量を発生するシフト量発生手段と、上記イメージシ
フト機構によってシフトされた複数の画像を合成する画
像合成手段と、装置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段
とが設けられ、ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した
場合には、上記シフト量発生手段は、上記当初予定のイ
メージシフト量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメ
ージシフト量を演算し、さらに、所定の演算によって上
記第1補正イメージシフト量を、該第1補正イメージシ
フト量の小数部である第2補正イメージシフト量と、上
記第1補正イメージシフト量の整数部である補正量とに
分割し、上記制御手段は上記第2補正イメージシフト量
に基づいて、 上記イメージシフト機構が被写体画像をシ
フトするように該イメージシフト機構を制御する一方、
上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行
ことを特徴としている。
【0016】上記の構成によれば、光学系を介して入射
する被写体画像は、イメージシフト機構によって固体撮
像素子に対して2次元的に相対シフトされ、上記固体撮
像素子で撮像される。そして、このようにシフトされた
複数の画像は、画像合成手段によって合成されることに
なる。このとき、被写体画像のイメージシフト量は、シ
フト量発生手段によって発生される。また、上記のイメ
ージシフト機構の動作は制御手段によって制御されてい
る。
【0017】このとき、ぶれ量検出手段がぶれ量を検出
した場合、シフト量発生手段は、上記イメージシフト量
と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト量を
発生し、上記イメージシフト機構が上記第1補正イメー
ジシフト量に基づいて被写体画像をシフトさせるように
なっているので、例えば撮像装置を手持ちした場合等に
おいて被写体画像にぶれが生じても、そのぶれ量をも考
慮したイメージシフトが行われることになる。したがっ
て、上記構成によれば、手持ち等によって装置にぶれが
生じても、そのようなぶれに影響されない高解像度の画
像を得ることができる。
【0018】また、上記第1補正イメージシフト量は、
シフト量発生手段の所定の演算によって第2補正イメー
ジシフト量と補正量とに分割される。このとき、上記イ
メージシフト機構は、上記第1補正イメージシフト量よ
りもシフト量の小さい上記第2補正イメージシフト量に
基づいて被写体画像をシフトさせることになる。これに
より、小型のイメージシフト機構でも十分に対応が可能
となり、また、イメージシフト自体も迅速に行われる。
したがって、上記構成によれば、イメージシフト機構の
小型化を図ることができると共に、イメージシフトの高
速化を図ることができる。
【0019】さらに、上記イメージシフト機構は、上記
第1補正イメージシフト量の小数部である第2補正イメ
ージシフト量に基づいて被写体画像をシフトさせること
になる。これにより、イメージシフトの範囲が当初より
も狭くなるので、小型のイメージシフト機構でも十分に
対応が可能となり、また、イメージシフト自体も迅速に
行われる。したがって、上記構成によれば、イメージシ
フト機構の小型化を図ることができると共に、イメージ
シフトの高速化を図ることができる。
【0020】請求項2の発明に係る撮像装置は、上記の
課題を解決するために、光学系を介して入射する被写体
画像を、マトリクス状に配置された複数の画素を有する
固体撮像素子にて撮像する撮像装置であって、上記被写
体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に相対シフ
トさせるイメージシフト機構と、上記イメージシフト機
構の動作を制御する制御手段と、固定された当初予定の
値である上記被写体画像のイメージシフト量を発生する
シフト量発生手段と、上記イメージシフト機構によって
シフトされた複数の画像を合成する画像合成手段と、装
置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段とが設けられ、上
記ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した場合には、上
記シフト量発生手段は、上記当初予定のイメージシフト
量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト量
を演算し、さらに、所定の演算によって上記第1補正イ
メージシフト量を、該第1補正イメージシフト量と第1
補正イメージシフト量の小数部を切り上げた量との差で
ある第2補正イメージシフト量と、上記第1補正イメー
ジシフト量の小数部を切り上げた量である補正量とに分
割し、上記制御手段は、上記第2補正イメージシフト量
に基づいて、上記イメージシフト機構が被写体画像をシ
フトするように該イメージシフト機構を制御する一方、
上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行
ことを特徴としている。
【0021】上記の構成によれば、上記イメージシフト
機構は、上記第1補正イメージシフト量と上記第1補正
イメージシフト量の小数部を切り上げた量との差である
第2補正イメージシフト量に基づいて被写体画像をシフ
トさせることになる。これにより、イメージシフトの範
囲が当初よりも狭くなるので、小型のイメージシフト機
構でも十分に対応が可能となり、また、イメージシフト
自体も迅速に行われる。したがって、上記構成によれ
ば、イメージシフト機構の小型化を図ることができると
共に、イメージシフトの高速化を図ることができる。
【0022】請求項3の発明に係る撮像装置は、上記の
課題を解決するために、光学系を介して入射する被写体
画像を、マトリクス状に配置された複数の画素を有する
固体撮像素子にて撮像する撮像装置であって、上記被写
体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に相対シフ
トさせるイメージシフト機構と、上記イメージシフト機
構の動作を制御する制御手段と、固定された当初予定の
値である上記被写体画像のイメージシフト量を発生する
シフト量発生手段と、上記イメージシフト機構によって
シフトされた複数の画像を合成する画像合成手段と、装
置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段とが設けられ、上
記ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した場合には、上
記シフト量発生手段は、上記当初予定のイメージシフト
量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト量
を演算し、さらに、所定の演算によって上記第1補正イ
メージシフト量を、上記第1補正イメージシフト量と上
記第1補正イメージシフト量に0.5を加算した量の整
数部との差である第2補正イメージシフト量と、上記第
1補正イメージシフト量に0.5を加算した量の整数部
である補正量とに分割し、上記制御手段は、上記第2補
正イメージシフト量に基づいて、上記イメージシフト機
構が被写体画像をシフトするように該イメージシフト機
構を制御する一方、上記画像合成手段は上記補正量に基
づいて画像処理を行うことを特徴としている。
【0023】上記の構成によれば、上記イメージシフト
機構は、上記第1補正イメージシフト量と上記第1補正
イメージシフト量に0.5を加算した量の整数部との差
である第2補正イメージシフト量に基づいて被写体画像
をシフトさせることになる。これにより、イメージシフ
トの範囲が当初よりも狭くなるので、小型のイメージシ
フト機構でも十分に対応が可能となり、また、イメージ
シフト自体も迅速に行われる。
【0024】また、上記構成によれば、上記イメージシ
フト機構によりイメージシフトする量、すなわち、第2
補正イメージシフト量が±0.5画素ピッチ以下となる
ので、イメージシフトによる変位の絶対量が少なくて済
むようになる。したがって、上記構成によれば、イメー
ジシフト機構のさらなる小型化を図ることができると共
に、イメージシフトのさらなる高速化を図ることができ
る。
【0025】請求項の発明に係る撮像装置は、上記の
課題を解決するために、光学系を介して入射する被写体
画像を、マトリクス状に配置された複数の画素を有する
固体撮像素子にて撮像する撮像装置であって、上記被写
体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に所定シフ
ト量だけ相対シフトさせるイメージシフト機構と、上記
イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、装置
のぶれ量を検出するぶれ量検出手段と、上記ぶれ量と所
定の値とを比較し、イメージシフトを行うかどうかの動
作を判定する動作判定手段と、上記動作判定手段が上記
ぶれ量が上記所定の値よりも大きいと判断した場合に、
上記固体撮像素子で撮像された画像を補間処理し画像を
得る一方、上記動作判定手段が上記ぶれ量が上記所定の
値以下であると判断した場合に、上記イメージシフト機
構によってシフトされた複数の画像を画像処理によって
合成する画像合成手段とが設けられていることを特徴と
している。
【0026】上記の構成によれば、動作判定手段が、ぶ
れ量検出手段の検出するぶれ量が所定の値よりも大きい
と判断した場合、イメージシフトではなく、光学系を介
して固体撮像素子で撮像された被写体画像に基づき、画
像合成手段によって補間処理が行われ、画像が得られる
ようになっている。
【0027】一方、動作判定手段が、上記ぶれ量が上記
所定の値以下であると判断した場合、光学系を介して入
射する被写体画像は、イメージシフト機構によって固体
撮像素子に対して所定シフト量だけ2次元的にシフトさ
れ、上記固体撮像素子で撮像される。そして、上記固体
撮像素子で撮像された複数の被写体画像が、画像合成手
段の画像処理によって合成されるようになっている。こ
のとき、上記のイメージシフト機構の動作は制御手段に
よって制御されている。
【0028】つまり、上記構成によれば、上記ぶれ量の
程度により、画像合成手段の動作が使い分けられること
になる。したがって、上記構成によれば、上記ぶれ量に
応じた最適な画像処理法が選択されることにより、上記
ぶれ量に応じて高解像度な画像を得ることができる。
【0029】請求項の発明に係る撮像装置は、上記の
課題を解決するために、焦点距離が可変である光学系を
介して入射する被写体画像を、マトリクス状に配置され
た複数の画素を有する固体撮像素子にて撮像する撮像装
置であって、上記被写体画像を上記固体撮像素子に対し
て2次元的に所定シフト量だけ相対シフトさせるイメー
ジシフト機構と、上記イメージシフト機構の動作を制御
する制御手段と、上記光学系の焦点距離を検出する焦点
距離検出手段と、上記焦点距離と所定の値とを比較し、
イメージシフトを行うかどうかの動作を判定する動作判
定手段と、上記動作判定手段が上記焦点距離が上記所定
の値よりも大きいと判断した場合に、上記固体撮像素子
で撮像された画像を補間処理し画像を得る一方、上記動
作判定手段が上記焦点距離が上記所定の値以下であると
判断した場合に、上記イメージシフト機構によってシフ
トされた複数の画像を画像処理によって合成する画像合
成手段とが設けられていることを特徴としている。
【0030】上記の構成によれば、動作判定手段が、焦
点距離検出手段の検出する焦点距離が所定の値よりも大
きいと判断した場合、イメージシフトではなく、光学系
を介して固体撮像素子で撮像された被写体画像に基づ
き、画像合成手段によって補間処理が行われ、画像が得
られるようになっている。
【0031】一方、動作判定手段が、上記焦点距離が上
記所定の値以下であると判断した場合、光学系を介して
入射する被写体画像は、イメージシフト機構によって固
体撮像素子に対して所定シフト量だけ2次元的にシフト
され、上記固体撮像素子で撮像される。そして、上記固
体撮像素子で撮像された複数の被写体画像が、画像合成
手段の画像処理によって合成されるようになっている。
このとき、上記のイメージシフト機構の動作は制御手段
によって制御されている。
【0032】つまり、上記構成によれば、上記焦点距離
の大きさにより、画像合成手段の動作が使い分けられる
ことになる。したがって、上記構成によれば、上記焦点
距離の程度に応じた最適な画像処理法が選択されること
により、上記焦点距離の程度に応じて高解像度な画像を
得ることができる。
【0033】
【発明の実施の形態】〔実施の形態1〕 本発明の実施の一形態について図1ないし図4に基づい
て説明すれば、以下のとおりである。
【0034】図1は、本実施形態における撮像装置の概
略の構成を示している。この撮像装置は、光学系2、X
軸イメージシフト機構3、Y軸イメージシフト機構4、
固体撮像素子5、画像合成回路6、シフト量発生装置
7、制御回路8、およびぶれ量検出装置9を備えてい
る。なお、同図中の一点鎖線は光軸を示している。な
お、説明を簡略化するため、本発明に直接関連しないそ
の他の部材(例えば、固体撮像素子5の駆動回路、映像
信号を得るための画像処理装置等)については図示およ
びその説明を省略するが、本発明を制限するものではな
い。
【0035】光学系2は、被写体1からの入射光を固体
撮像素子5上に収束させるためのレンズ群等を含んで構
成されている。
【0036】X軸イメージシフト機構3は、透明な平行
平板3aと、該平行平板3aを透過する被写体画像から
の光が固体撮像素子5に対して所定シフト量だけ水平方
向に相対シフトするように、上記平行平板3aを光軸に
対して水平方向に所定角度だけ傾ける駆動装置3bとか
ら構成されている。なお、平行平板3aの傾き量は、制
御回路8によって制御されている。
【0037】Y軸イメージシフト機構4は、透明な平行
平板4aと、該平行平板4aを透過する被写体画像から
の光が固体撮像素子5に対して所定シフト量だけ垂直方
向に相対シフトするように、上記平行平板4aを光軸に
対して垂直方向に所定角度だけ傾ける駆動装置4bとか
ら構成されている。なお、平行平板4aの傾き量は、制
御回路8によって制御されている。
【0038】つまり、X軸イメージシフト機構3は、固
体撮像素子5の水平方向のイメージシフトを独立して司
り、Y軸イメージシフト機構4は、固体撮像素子5の垂
直方向のイメージシフトを独立して司っている。なお、
X軸イメージシフト機構3、Y軸イメージシフト機構4
の詳細な構成は、例えば本願と同一出願人により提案さ
れている特願平8−8628号に詳しく説明されている
ので、ここではその詳細な説明を省略する。
【0039】固体撮像素子5は、マトリクス状に配置さ
れたCCD(Charge Coupled Device )で構成されてい
る。これにより、固体撮像素子5の受光面には、複数の
画素が2次元的に配列されることになる。その結果、光
学系2にて集光された被写体1の画像は、X軸イメージ
シフト機構3、Y軸イメージシフト機構4によって所定
シフト量だけ2次元的にシフトされ、固体撮像素子5で
撮像されるようになっている。また、画像合成手段とし
ての画像合成回路6は、X軸イメージシフト機構3、Y
軸イメージシフト機構4によってシフトされ、固体撮像
素子5にて撮像された複数の画像を合成する機能を有し
ている。
【0040】シフト量発生手段としてのシフト量発生装
置7は、制御回路8(制御手段)の制御対象値となる被
写体画像のイメージシフト量(Xr,Yr)を発生する
ものである。なお、上記のXr,Yrはそれぞれ、上記
被写体画像の水平方向、垂直方向のイメージシフト量を
表すものとする。そして、このイメージシフト量(X
r,Yr)だけ被写体1の画像がシフトするように、制
御回路8はX軸イメージシフト機構3、Y軸イメージシ
フト機構4の動作を制御するようになっている。
【0041】通常の場合、このイメージシフト量(X
r,Yr)は、例えばXr=1/2Px、Yr=1/2
Pyとなるように固定されている。なお、Px、Pyは
それぞれ固体撮像素子5のX軸方向(水平方向)、Y軸
方向(垂直方向)の画素ピッチを示している。
【0042】ぶれ量検出手段としてのぶれ量検出装置9
は、撮像装置を手持ちした場合等に生じる振動等のぶれ
量を検出するための装置である。ぶれ量検出装置9によ
ってぶれ量が検出されると、シフト量発生装置7は上記
のイメージシフト量(Xr,Yr)と上記のぶれ量に基
づいて新たな補正イメージシフト量(X,Y)を演算し
て発生し、制御回路8に出力するようになっている。な
お、上記の補正イメージシフト量(X,Y)は、請求項
1に記載の第1補正イメージシフト量に相当する。
【0043】次に、本実施形態における撮像装置の動作
について説明すれば以下の通りである。
【0044】図2(a)は、イメージシフトによる被写
体画像のシフト位置を示しており、図2(b)は、固体
撮像素子5における画像取り込みのタイミングを示して
いる。
【0045】まず、制御回路8は、シフト量発生装置7
の発生する出力値(例えばXr=0、Yr=0)に応じ
て駆動装置3b、4bを駆動制御する。すると、光学系
2、X軸イメージシフト機構3、Y軸イメージシフト機
構4をそれぞれ透過した被写体画像は、同図(a)で示
すAの位置で固体撮像素子5上に撮像され、そこでti
a期間保持される。そして、上記の被写体画像は、同図
(b)で示したtaのタイミングで固体撮像素子5上の
受光素子部(図示しない)に蓄積される。その後、上記
の被写体画像の画像データがdtの時間をかけて画像合
成回路6の画像メモリに読み出される。なお、このよう
にして画像メモリに読み出された1回目の画像データ
を、以下画像データAと称する。この画像データAは、
例えば図18(a)に示すようなものである。
【0046】次に、制御回路8は、シフト量発生装置7
の発生する出力値(例えばXr=1/2Px、Yr=1
/2Py)に応じて駆動装置3b、4bを駆動制御し、
平行平板3a、4aを光軸に対して所定角度だけ傾け
る。すると、被写体画像は、同図(a)で示すBの位置
にシフトして固体撮像素子5上に撮像され、そこでti
b期間保持される。そして、上記の被写体画像は、同図
(b)で示したtbのタイミングで固体撮像素子5上の
受光素子部に蓄積される。その後、上記の被写体画像の
画像データがdtの時間をかけて画像合成回路6の画像
メモリに読み出される。なお、このようにして画像メモ
リに読み出された2回目の画像データを、以下画像デー
タBと称する。この画像データBは、例えば図18
(b)に示すようなものである。
【0047】つまり、固体撮像素子5の受光素子部に1
回目の画像が形成されてから2回目の画像が形成される
までに、dtの時間差が生じることになる。この場合、
被写体画像の同図中A位置からB位置への移動時間(遷
移時間)tabが長ければ、当然dtは移動時間tab
に制約を受ける。つまり、dtは有限である。
【0048】したがって、撮像装置が手ぶれ等によって
振動すると、図3に示すように、撮影画像(本実施形態
の場合「A」の文字)にぶれが生じる。つまり、図3に
おいては、dt時間の間に、斜線で示した状態から白塗
りで示した状態に被写体画像がぶれている。このとき、
X軸方向(水平方向)のぶれ量をdx、Y軸方向(垂直
方向)のぶれ量をdyとする。
【0049】したがって、補正イメージシフト量(X,
Y)は、当初予定のイメージシフト量(Xr(例えば1
/2Px),Yr(例えば1/2Py))と、上記のぶ
れ量(dx,dy)とを用いて以下の式のように簡単に
表される。なお、補正イメージシフト量(X,Y)の単
位は、固体撮像素子5の水平方向、垂直方向のそれぞれ
の画素ピッチとする。
【0050】 X=Xr+dx Y=Yr+dy したがって、ぶれ量検出装置9がぶれ量(dx,dy)
を検出すると、シフト量発生装置7が上記の演算を行っ
て新たな補正イメージシフト量(X,Y)を発生し、制
御回路8へ出力する。ここで、ぶれ量(dx,dy)を
考慮した2枚の画像の画像データA、Bの配置を図4に
示す。そして、この画像データA、Bを画像合成回路6
にて従来と同様のイメージシフトによって合成する。
【0051】上記の構成によれば、シフト量発生装置7
が、当初のイメージシフト量(Xr,Yr)と、ぶれ量
検出装置9の検出した装置のぶれ量(dx,dy)とに
基づいて補正イメージシフト量を演算し、X軸イメージ
シフト機構3、Y軸イメージシフト機構4がそれぞれ、
上記補正イメージシフト量に基づいて被写体画像のイメ
ージシフトを行っている。これにより、例えば撮像装置
を手持ちした場合等において被写体画像にぶれが生じて
も、そのぶれ量を考慮したイメージシフトが行われるこ
とになる。したがって、上記構成によれば、手持ち等に
よって装置にぶれが生じても、そのようなぶれに影響さ
れない高解像度の画像を得ることができる。
【0052】〔実施の形態2〕 本発明の実施の他の一形態について、図5ないし図7に
基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、本実
施形態における撮像装置の全体的な構成は、実施の形態
1と全く同様であるのでその説明を省略する。また、本
実施形態では、画像合成回路6、シフト量発生装置7
(共に図1参照)の動作以外については実施の形態1と
全く同様であるので、主に画像合成回路6、シフト量発
生装置7の動作について説明する。
【0053】図5は、本実施形態のシフト量発生装置7
における動作の流れを示すフローチャートである。ま
ず、ぶれ量検出装置9(図1参照)がぶれ量(dx,d
y)を検出すると(ステップ1;以下、ステップは単に
Sと略記する)、シフト量発生装置7は、実施の形態1
と同様の演算式によって、補正イメージシフト量(X,
Y)を演算する(S2)。
【0054】次に、シフト量発生装置7は以下のような
演算を行い、新たな補正イメージシフト量(X′,
Y′)を得る(S3)。なお、上記の補正イメージシフ
ト量(X′,Y′)は、請求項2に記載の第2補正イメ
ージシフト量に相当する。
【0055】 X′=X−int(X) Y′=Y−int(Y) ただし、int(a)は、aに最も近い負側の整数を表
すものとする。
【0056】そして、シフト量発生装置7は、上記の補
正イメージシフト量(X′,Y′)を制御回路8(図1
参照)に出力する(S4)。
【0057】一方、画像合成回路6(図1参照)は、以
下に示す補正量(Xint,Yint)に応じて画像デ
ータを画像メモリ上で補正する。なお、補正量(Xin
t,Yint)が正の場合は画像データAを補正し、補
正量(Xint,Yint)が負の場合は画像データB
を補正するようにする。
【0058】 Xint=int(X) Yint=int(Y) つまり、シフト量発生装置7は、補正イメージシフト量
(X,Y)の小数部分を制御回路8に出力し、被写体画
像をイメージシフトさせる一方、画像合成回路6は、補
正イメージシフト量(X,Y)の整数部分の量に対応し
た補正を画像処理で行うことになる。
【0059】ここで、例えばXint=1、Yint=
1である場合の、画像合成回路6の画像メモリにおける
画像データAの配置を図6(a)および図6(b)に示
す。なお、図6(a)は、補正前の画像データAの配置
を示し、図6(b)は、補正後の画像データAの配置を
示している。なお、同図中で付した添数字は各画像デー
タの行列番号を示すものとする。例えばA12は、画像デ
ータAにおける1行2列目のデータであることを示して
いる。
【0060】上記のように補正した場合、補正前の画像
データA11の場所に、画像データA22が補正後配置され
ている。また、補正前の画像データA12の場所に、画像
データA23が補正後配置されている。つまり、補正後の
画像データは、補正前の画像データの各添数字にXin
t、Yintが加算された場所に配置されることにな
る。
【0061】このようにして補正された画像データAと
画像データBとを合成した結果を図7に示す。同図に示
すように、この場合、画像データA11、A12等が欠如し
たものとなる。しかし、合成画像の全画素数に比べれ
ば、欠如した量は僅かなものであるので、画像への影響
は僅かである。
【0062】上記の構成によれば、上記補正イメージシ
フト量(X,Y)は、シフト量発生装置7の所定の演算
によって補正イメージシフト量(X′,Y′)と補正量
(Xint,Yint)とに分割される。本実施形態の
場合、補正イメージシフト量(X′,Y′)は、補正イ
メージシフト量(X,Y)の小数部分、つまり、1画素
ピッチ未満となっている。そして、X軸イメージシフト
機構3、Y軸イメージシフト機構4はそれぞれ、補正イ
メージシフト量(X′,Y′)に基づいて被写体画像を
シフトさせることになる。これにより、イメージシフト
の範囲が当初よりも狭くなるので、X軸イメージシフト
機構3、Y軸イメージシフト機構4が小型であっても十
分に対応が可能となり、また、イメージシフト自体も迅
速に行われる。したがって、上記構成によれば、X軸イ
メージシフト機構3、Y軸イメージシフト機構4の小型
化を図ることができると共に、イメージシフトの高速化
を図ることができる。
【0063】なお、Xint、Yintが負の場合で
も、上記のようにして画像データBを補正すればよい。
【0064】〔実施の形態3〕 本発明の実施の他の一形態について、図8に基づいて説
明すれば、以下のとおりである。なお、本実施形態にお
ける撮像装置の全体的な構成は、実施の形態1と全く同
様であるのでその説明を省略する。また、本実施形態で
は、画像合成回路6、シフト量発生装置7(共に図1参
照)の動作以外については実施の形態1と全く同様であ
るので、主に画像合成回路6、シフト量発生装置7の動
作について説明する。
【0065】図8は、本実施形態のシフト量発生装置7
における動作の流れを示すフローチャートである。ま
ず、ぶれ量検出装置9(図1参照)がぶれ量(dx,d
y)を検出すると(S11)、シフト量発生装置7は、
実施の形態1と同様の演算式によって、補正イメージシ
フト量(X,Y)を演算する(S12)。
【0066】次に、シフト量発生装置7は以下のような
演算を行い、新たな補正イメージシフト量(X′,
Y′)を得る(S13)。なお、この補正イメージシフ
ト量(X′,Y′)は、請求項2に記載の第2補正イメ
ージシフト量に相当する。
【0067】 X′=X−fro(X) Y′=Y−fro(Y) ただし、fro(a)は、aに最も近い正側の整数を表
すものとする。
【0068】そして、シフト量発生装置7は、上記の補
正イメージシフト量(X′,Y′)を制御回路8(図1
参照)に出力する(S14)。
【0069】一方、画像合成回路6(図1参照)は、以
下に示す補正量(Xfro,Yfro)に応じて画像デ
ータを画像メモリ上で補正する。なお、補正量(Xfr
o,Yfro)が正の場合は画像データAを補正し、補
正量(Xfro,Yfro)が負の場合は画像データB
を補正するようにする。
【0070】 Xfro=fro(X) Yfro=fro(Y) つまり、シフト量発生装置7は、上記補正イメージシフ
ト量(X,Y)と上記補正イメージシフト量(X,Y)
の小数部を切り上げた量との差である補正イメージシフ
ト量(X′,Y′)を制御回路8に出力する。このと
き、補正イメージシフト量(X′,Y′)は勿論、補正
イメージシフト量(X,Y)よりも小さい、1画素ピッ
チ未満の値となる。そして、X軸イメージシフト機構
3、Y軸イメージシフト機構4が、上記の補正イメージ
シフト量(X′,Y′)に基づき被写体画像をイメージ
シフトさせる。
【0071】一方、画像合成回路6は、補正イメージシ
フト量(X,Y)の小数部を切り上げた量に対応した補
正を画像処理で行うことになる。なお、画像データの補
正方法は上述の実施の形態2と同様であるのでその説明
を省略する。したがって、以上のような構成としても、
イメージシフトの範囲が当初よりも狭くなるので、その
結果、実施の形態2と同様の効果を得ることができる。
【0072】〔実施の形態4〕 本発明の実施の他の一形態について、図9に基づいて説
明すれば、以下のとおりである。なお、本実施形態にお
ける撮像装置の全体的な構成は、実施の形態1と全く同
様であるのでその説明を省略する。また、本実施形態で
は、画像合成回路6、シフト量発生装置7(共に図1参
照)の動作以外については実施の形態1と全く同様であ
るので、主に画像合成回路6、シフト量発生装置7の動
作について説明する。
【0073】図9は、本実施形態のシフト量発生装置7
における動作の流れを示すフローチャートである。ま
ず、ぶれ量検出装置9(図1参照)がぶれ量(dx,d
y)を検出すると(S21)、シフト量発生装置7は、
実施の形態1と同様の演算式によって、補正イメージシ
フト量(X,Y)を演算する(S22)。
【0074】次に、シフト量発生装置7は以下のような
演算を行い、新たな補正イメージシフト量(X′,
Y′)を得る(S23)。なお、この補正イメージシフ
ト量(X′,Y′)は、請求項2に記載の第2補正イメ
ージシフト量に相当する。
【0075】 X′=X−int(X+0.5) Y′=Y−int(Y+0.5) ただし、int(a)は、aに最も近い負側の整数を表
すものとする。
【0076】そして、シフト量発生装置7は、上記の補
正イメージシフト量(X′,Y′)を制御回路8(図1
参照)に出力する(S24)。
【0077】一方、画像合成回路6(図1参照)は、以
下に示す補正量(Xint,Yint)に応じて画像デ
ータを画像メモリ上で補正する。なお、補正量(Xin
t,Yint)が正の場合は画像データAを補正し、補
正量(Xint,Yint)が負の場合は画像データB
を補正するようにする。
【0078】 Xint=int(X+0.5) Yint=int(Y+0.5) つまり、シフト量発生装置7は、上記補正イメージシフ
ト量(X,Y)と上記補正イメージシフト量(X,Y)
に0.5を加算した量の整数部との差である補正イメー
ジシフト量(X′,Y′)を制御回路8に出力する。こ
のとき、補正イメージシフト量(X′,Y′)は勿論、
補正イメージシフト量(X,Y)よりも小さい、±0.
5画素ピッチ未満の値となる。そして、X軸イメージシ
フト機構3、Y軸イメージシフト機構4が、上記の補正
イメージシフト量(X′,Y′)に基づき被写体画像を
イメージシフトさせる。
【0079】一方、画像合成回路6は、補正イメージシ
フト量(X,Y)に0.5を加算した量の整数部に対応
した補正を画像処理で行うことになる。なお、画像デー
タの補正方法は上述の実施の形態2と同様であるのでそ
の説明を省略する。
【0080】したがって、以上のような構成としても実
施の形態2と同様の効果を得ることができる。特に本実
施形態の場合、被写体画像のシフトする量が±0.5画
素ピッチ以下であるため、イメージシフトによる変位の
絶対量が実施の形態1、2、3に比べて少なくなる。こ
れにより、X軸イメージシフト機構3、Y軸イメージシ
フト機構4(共に図1参照)をさらに小型化することが
できると共に、イメージシフトをさらに高速で行うこと
ができる。
【0081】〔実施の形態5〕 本発明の実施の他の一形態について、図10ないし図1
3に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、
説明の便宜上、実施の形態1ないし4で用いた部材と同
一の機能を有する部材については同一の部材番号を付記
し、その説明を省略する。
【0082】図10は、本実施形態における撮像装置の
概略の構成を示している。この撮像装置は、光学系2、
X軸イメージシフト機構3(イメージシフト機構)、Y
軸イメージシフト機構4(イメージシフト機構)、固体
撮像素子5、画像合成回路6(画像合成手段)、シフト
量発生装置7、制御回路8(制御手段)、ぶれ量検出装
置9(ぶれ量検出手段)、および動作判定回路10(動
作判定手段)を備えている。なお、同図中の一点鎖線は
光軸を示している。なお、説明を簡略化するため、本発
明に直接関連しないその他の部材(例えば、固体撮像素
子5の駆動回路、映像信号を得るための画像処理装置
等)については図示およびその説明を省略するが、本発
明を制限するものではない。
【0083】また、本実施形態では、画像合成回路6は
シフト量発生装置7に接続されていると共に、ぶれ量検
出装置9は動作判定回路10を介してシフト量発生装置
7および画像合成回路6に接続されている。動作判定回
路10は、ぶれ量検出装置9の検出するぶれ量と所定の
値とを比較してイメージシフトを行うかどうかの動作を
判定し、シフト量発生装置7および画像合成回路6の動
作を制御する機能を有している。
【0084】また、画像合成回路6は、上記動作判定回
路10が上記ぶれ量が上記所定の値よりも大きいと判断
した場合に、上記固体撮像素子5で撮像された画像を補
間処理し画像を得る一方、上記動作判定回路10が上記
ぶれ量が上記所定の値以下であると判断した場合に、イ
メージシフトされた複数の画像を画像処理によって合成
するようになっている。
【0085】ここで、本実施形態におけるぶれ量検出装
置9の詳細な構成について、図11に基づいて説明すれ
ば以下の通りである。
【0086】図11に示すように、ぶれ量検出装置9
は、撮像装置のX軸方向の回転角加速度を検出するX軸
回転角加速度センサー21と、撮像装置のY軸方向の回
転角加速度を検出するY軸回転角加速度センサー22と
を有している。なお、上記のX軸、Y軸方向とはそれぞ
れ、固体撮像素子5の画素配列に対して水平方向、垂直
方向を意味している。
【0087】X軸回転角加速度センサー21、Y軸回転
角加速度センサー22は、積分器23、24にそれぞれ
接続されている。積分器23、24は、X軸回転角加速
度センサー21、Y軸回転角加速度センサー22からの
出力をそれぞれ積分して回転角速度を求めるものであ
る。
【0088】また、このぶれ量検出装置9には焦点距離
検出装置25が設けられている。焦点距離検出装置25
は、光学系2の焦点距離を検出し出力するものである。
なお、光学系2が固定焦点である場合、焦点距離検出装
置25は焦点距離を検出せず、例えば一定値を出力する
ようになっている。また、焦点距離検出装置25は、例
えば光学系2内のバリエータ、またはコンペンセータに
連動したポテンションメータ等で構成されてもよいが、
これに限るわけではなく、結果的に、光学系2の焦点距
離を検出できるものであればよい。
【0089】この焦点距離検出装置25には、ぶれ量演
算部26が接続されている。ぶれ量演算部26は、上記
積分器23、24から出力される回転角速度、および焦
点距離検出装置25から出力される焦点距離の情報に基
づいて、dt時間における固体撮像素子5上での被写体
画像のぶれ量を演算する機能を有している。なお、上記
dt時間とは、固体撮像素子5上の受光素子部(図示し
ない)で受光した画像データが、画像合成回路6の画像
メモリに読み出されるまでの時間を示している。
【0090】ここで、検出された光学系2の焦点距離を
f、X軸方向、Y軸方向の回転角速度をそれぞれθx、
θy、光学系2の任意の焦点距離f0における、撮像装
置の単位回転角速度で発生する固体撮像素子5上での被
写体画像の変位をkとすると、以下の演算によってぶれ
量(dx,dy)が検出される。
【0091】 dx=k・f/f0・θx・dt dy=k・f/f0・θy・dt なお、本実施形態では、撮像装置のぶれ量検出として、
X軸回転角加速度センサー21、Y軸回転角加速度セン
サー22を用いているが、それらのかわりに例えばジャ
イロスター(村田製作所製)等の角速度センサーを用い
てもよい。この場合は当然ながら、積分器23、24は
不要となる。
【0092】上記の構成によれば、X軸回転角加速度セ
ンサー21、Y軸回転角加速度センサー22からの出力
(X軸回転角加速度、Y軸回転角加速度)または角速度
センサーからの出力(回転角速度)と、焦点距離検出装
置25からの出力(焦点距離)とに基づいて、ぶれ量演
算部26がぶれ量を演算するので、光学系2の焦点距離
に応じて常に適切に固体撮像素子5上のぶれ量を検出す
ることができる。
【0093】なお、このようなぶれ量検出において、X
軸回転角加速度センサー21、Y軸回転角加速度センサ
ー22の応答速度、または積分器23、24の演算速度
が遅い場合、リアルタイムでぶれ量を検出することがで
きなくなる。このような場合、上記のようなぶれ量検出
を一定期間ごとに行っておき、得られた過去のぶれ量か
らdt時間後のぶれ量を予測するようにすればよい。予
測の方法としては、例えばぶれ量の時間的な変化を過去
のぶれ量から線形予測する、あるいは上記変化に基づい
て高次関数から予測する方法がある。なお、撮像装置の
ぶれ量の帯域は、上記ぶれ量を検出する周期の逆数の周
波数に比べて十分低いので、上記のような予測は十分可
能となる。
【0094】上記の構成によれば、X軸回転角加速度セ
ンサー21、Y軸回転角加速度センサー22からの出力
(X軸回転角加速度、Y軸回転角加速度)または角速度
センサーからの出力(回転角速度)と、焦点距離検出装
置25からの出力(焦点距離)とから演算されるぶれ量
に基づいて、所定時間後のぶれ量を予測することができ
るので、センサーの応答速度や信号処理に遅延が生じて
も、補正量演算を行う際の最適なぶれ量を検出すること
ができる。
【0095】次に、ぶれ量検出装置9の他の構成例を図
12に示す。同図に示すように、このぶれ量検出装置9
は、固体撮像素子5から得られる画像データAを記憶す
る画像メモリ31と、上記画像データAが得られてから
dt時間経過後に得られる画像データBを記憶する画像
メモリ32と、上記画像メモリ31、32間の動きベク
トルを演算する動きベクトル演算器33とで構成されて
いる。つまり、ここではぶれ量が動きベクトル量として
求められることになる。なお、動きベクトルの演算方法
としては、勾配法、代表点マッチング法、オプティカル
フロー法等が公知であるので、詳細な説明は省略する。
【0096】また、動きベクトルを演算する際における
2つの画像の時差はdtに限られるものではない。以下
に示す演算により、任意の時間dt′における動きベク
トル量dx′dy′から、dt時間における動きベクト
ル量dx、dyを求めるようにしてもよい。
【0097】 dx=dx′・dt/dt′ dy=dy′・dt/dt′ このようにぶれ量検出装置9を構成すれば、撮像装置の
ぶれ量が直接固体撮像素子5上の移動量として求められ
る。したがって、この場合、光学系2の焦点距離や撮像
装置の回転角速度または回転速度等を検出する特別なセ
ンサー等を用いる必要がない。それゆえ、上記構成によ
れば、装置の低コスト化を図ることができる。また、焦
点距離の補正等を行ったりする必要もなくなるので、そ
の手間をも削減することができる。
【0098】なお、このようなぶれ量検出において、動
きベクトル演算器33の演算速度が遅い場合、リアルタ
イムで動きベクトル量、すなわち、ぶれ量を検出するこ
とができなくなる。このような場合、上記のようなぶれ
量検出を一定期間ごとに行っておき、得られた過去のぶ
れ量からdt時間後のぶれ量を予測するようにすればよ
い。予測の方法としては、例えばぶれ量の時間的な変化
を過去のぶれ量から線形予測する、あるいは上記変化に
基づいて高次関数から予測する方法がある。なお、撮像
装置のぶれ量の帯域は、上記ぶれ量を検出する周期の逆
数の周波数に比べて十分低いので、上記のような予測は
十分可能となる。
【0099】上記の構成によれば、動きベクトル演算器
33から出力される動きベクトル量、すなわち、ぶれ量
に基づいて、所定時間後のぶれ量を予測することができ
るので、信号処理に遅延が生じても、補正量演算を行う
際の最適なぶれ量を検出することができる。
【0100】次に、本実施形態における撮像装置の動作
について図13に基づいて説明する。なお、本実施形態
では、ぶれ量検出装置9、動作判定回路10の動作以外
については実施の形態1と全く同様であるので、主にぶ
れ量検出装置9、動作判定回路10の動作について説明
する。
【0101】まず、ぶれ量検出装置9がぶれ量(dx,
dy)を検出すると(S31)、動作判定回路10は、
上記のぶれ量(dx,dy)がシフト量発生装置7の出
力するイメージシフト量(Xr,Yr)の1/5以下で
あるかどうかを判断する。
【0102】ここで、例えばXr=1/2Px、Yr=
1/2Pyとすれば、動作判定回路10は、結局、上記
のぶれ量(dx,dy)が画素ピッチPx、Pyの1/
10以下であるかどうかを判断することになる(S3
2)。
【0103】S32にて、ぶれ量(dx,dy)のいず
れかが画素ピッチPx、Pyの1/10よりも大きいと
判断した場合、動作判定回路10は、シフト量発生装置
7の発生するイメージシフト量(Xr,Yr)をXr=
0、Yr=0としてイメージシフトを行わないように制
御する(S33)。このとき、シフト量発生装置7の出
力値は固定値(Xr=0、Yr=0)のまま保持され
る。
【0104】そして、画像合成回路6は、被写体画像1
枚の画像データに基づき補間を行い、高解像度な画像を
合成する(S34)。なお、補間によって高解像度な画
像を合成する技術は、例えばキュービックコンボリュー
ション、ニアレストネイバー法などが公知であるので詳
細な説明は省略する。
【0105】一方、S32にて、ぶれ量(dx,dy)
のいずれかが画素ピッチPx、Pyの1/10以下であ
ると判断した場合、動作判定回路10は、シフト量発生
装置7の発生するイメージシフト量をXr=1/2P
x、Yr=1/2Pyに設定し(S35)、制御回路8
によって従来通りのイメージシフトを行う。そして、画
像合成回路6が従来通り2枚の画像を合成することによ
り、高解像度の画像が得られることになる(S36)。
【0106】なお、S32において、ぶれ量(dx,d
y)との比較をイメージシフト量(Xr,Yr)の1/
5とした理由は以下の通りである。つまり、シフト量発
生装置7の発生するイメージシフトシフト量(Xr,Y
r)を、例えば(0.9Xr,0.9Yr)、(0.8
Xr,0.8Yr)、・・・のように、本来のイメージ
シフト量(Xr,Yr)からずらして従来と同様にイメ
ージシフトを行い、画像合成回路6にて合成された画像
を主観的に見比べる実験を行った。
【0107】その結果、イメージシフト量(Xr,Y
r)の±20%までの変動では、イメージシフト動作に
よって高解像度の画像が得られており、イメージシフト
の効果があることが分かった。したがって、ぶれ量(d
x,dy)との比較基準としてイメージシフト量(X
r,Yr)の1/5を選定した。
【0108】なお、本実施形態では、上記のような実験
をもとにイメージシフト量(Xr,Yr)の1/5を選
定したのであって、この値が全てのイメージシフト手法
に当てはまるわけではない。つまり、上記の値はイメー
ジシフト手法、および固体撮像素子等によって影響を受
ける。したがって、それぞれの撮像装置の種類に応じて
適宜上記と同様の実験を行い、上記のような値を選定す
る方がよい。
【0109】上記の構成によれば、手ぶれ等によって撮
像装置が振動しても、そのぶれ量の程度により、画像合
成回路6の動作が使い分けられることになる。したがっ
て、上記構成によれば、上記ぶれ量に応じた最適な画像
処理法が選択されることにより、上記ぶれ量に応じて高
解像度な画像を得ることができる。
【0110】なお、本実施形態では、ぶれ量検出装置9
で検出されるぶれ量の程度により、イメージシフトの動
作、停止が制御されているが、イメージシフトの動作を
行ったまま画像合成回路6を動作させるようにしてもよ
い。
【0111】〔実施の形態6〕 本発明の実施の他の一形態について、図14および図1
5に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、
本実施形態における撮像装置は、実施の形態5で説明し
た撮像装置の光学系2(図10参照)の代わりに光学系
2′を配していると共に、ぶれ量検出装置9(図10参
照)を焦点距離検出装置25だけで構成している。な
お、説明の便宜上、実施の形態5で用いた部材と同一の
機能を有する部材については同一の部材番号を付記し、
その説明を省略する。
【0112】図14は、本実施形態における撮像装置の
概略の構成を示している。この撮像装置は、光学系
2′、X軸イメージシフト機構3(イメージシフト機
構)、Y軸イメージシフト機構4(イメージシフト機
構)、固体撮像素子5、画像合成回路6(画像合成手
段)、シフト量発生装置7、制御回路8(制御手段)、
焦点距離検出装置25(焦点距離検出手段)、および動
作判定回路10(動作判定手段)を備えている。なお、
同図中の一点鎖線は光軸を示している。なお、説明を簡
略化するため、本発明に直接関連しないその他の部材
(例えば、固体撮像素子5の駆動回路、映像信号を得る
ための画像処理装置等)については図示およびその説明
を省略するが、本発明を制限するものではない。
【0113】光学系2′は、被写体1からの入射光を固
体撮像素子5上に収束させるためのレンズ群等を含んで
構成されており、焦点距離が可変であるズーム式となっ
ている。
【0114】焦点距離検出装置25は、光学系2′の焦
点距離を検出するものである。そのため、この焦点距離
検出装置25は、光学系2′内に設けられているバリエ
ータ、またはコンペンセータに連動したポテンションメ
ータで構成してもよいが、これに限ることはなく、結果
的に光学系2′の焦点距離を検出できるものであればよ
い。
【0115】また、動作判定回路10は、焦点距離検出
装置25の検出した焦点距離に基づいて、シフト量発生
装置7および画像合成回路6を制御する機能を有してい
る。
【0116】本実施形態の場合、画像合成回路6は、上
記動作判定回路10が上記焦点距離が上記所定の値より
も大きいと判断した場合に、上記固体撮像素子5で撮像
された画像を補間処理し画像を得る一方、上記動作判定
回路10が上記焦点距離が上記所定の値以下であると判
断した場合に、イメージシフトされた複数の画像を画像
処理によって合成するようになっている。
【0117】次に、本実施形態における撮像装置の動作
について図15に基づいて説明すれば以下の通りであ
る。なお、本実施形態では、動作判定回路10の動作以
外については実施の形態5と全く同様であるのでその説
明を省略し、主に動作判定回路10の動作について説明
する。
【0118】まず、焦点距離検出装置25が光学系2′
の焦点距離fを検出すると(S41)、動作判定回路1
0は、上記の焦点距離fが10mm以下であるかどうか
を判断する(S42)。
【0119】S42にて、焦点距離fが10mmを越え
ていると判断した場合、動作判定回路10は、シフト量
発生装置7の発生するイメージシフト量(Xr,Yr)
をXr=0、Yr=0としてイメージシフトを行わない
ように制御する(S43)。このとき、シフト量発生装
置7の出力値は固定値(Xr=0、Yr=0)のまま保
持される。
【0120】そして、画像合成回路6は、被写体画像1
枚の画像データに基づき補間を行い、高解像度な画像を
合成する(S44)。なお、補間によって高解像度な画
像を合成する技術は、例えばキュービックコンボリュー
ション、ニアレストネイバー法などが公知であるので詳
細な説明は省略する。
【0121】一方、S42にて、焦点距離fが10mm
以下であると判断した場合、動作判定回路10は、シフ
ト量発生装置7の発生するイメージシフト量をXr=1
/2Px、Yr=1/2Pyに設定し(S45)、制御
回路8によって従来通りのイメージシフトが行われる。
そして、画像合成回路6が従来通り2枚の画像を合成す
ることにより、高解像度の画像が得られることになる
(S46)。
【0122】なお、S42において、焦点距離fとの比
較基準を10mmとした理由は以下の実験に基づいてい
る。
【0123】まず、上記のような構成を有する撮像装置
を通常のように手持ちして被写体1を撮像し、従来と同
様のイメージシフトを行い高解像度な画像を得る。次
に、このような動作を光学系2′の各焦点距離ごとに行
う。そして、得られた各合成画像と、上記撮像装置を三
脚等に固定して得られた合成画像との比較を行う。その
結果、光学系2′の焦点距離が10mm以下であれば、
撮像装置を固定した場合と遜色なく高解像度な画像が得
られることがわかった。したがって、本実施形態では、
イメージシフト動作における焦点距離との比較基準を1
0mmとした。
【0124】なお、本実施形態では、上記のような実験
をもとに焦点距離との比較基準10mmを選定したので
あって、この値が全てのイメージシフト手法に当てはま
るわけではない。つまり、上記の値はイメージシフト手
法、および固体撮像素子等によって影響を受ける。した
がって、それぞれの撮像装置の種類に応じて適宜上記と
同様の実験を行い、上記のような値を選定する方がよ
い。
【0125】上記の構成によれば、手ぶれ等によって撮
像装置が振動しても、上記焦点距離の大きさにより、画
像合成回路6の動作が使い分けられることになる。した
がって、上記構成によれば、上記焦点距離に応じた最適
な画像処理法が選択されることにより、高解像度な画像
を得ることができる。
【0126】
【発明の効果】請求項1の発明に係る撮像装置は、以上
のように、光学系を介して入射する被写体画像を、マト
リクス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素子
にて撮像する撮像装置であって、上記被写体画像を上記
固体撮像素子に対して2次元的に相対シフトさせるイメ
ージシフト機構と、上記イメージシフト機構の動作を制
御する制御手段と、固定された当初予定の値である上記
被写体画像のイメージシフト量を発生するシフト量発生
手段と、上記イメージシフト機構によってシフトされた
複数の画像を合成する画像合成手段と、装置のぶれ量を
検出するぶれ量検出手段とが設けられ、上記ぶれ量検出
手段が上記ぶれ量を検出した場合には、上記シフト量発
生手段は、上記当初予定のイメージシフト量と上記ぶれ
量とに基づいて第1補正イメージシフト量を演算し、さ
らに、所定の演算によって上記第1補正イメージシフト
量を、該第1補正イメージシフト量の小数部である第2
補正イメージシフト量と、上記第1補正イメージシフト
量の整数部である補正量とに分割し、上記制御手段は、
上記第2補正イメージシフト量に基づいて、上記イメー
ジシフト機構が被写体画像をシフトするように該イメー
ジシフト機構を制御する一方、上記画像合成手段は上記
補正量に基づいて画像処理を行う構成である。
【0127】それゆえ、例えば撮像装置を手持ちした場
合等において被写体画像にぶれが生じても、そのぶれ量
を考慮したイメージシフトが行われることになる。した
がって、上記構成によれば、手持ち等によって装置にぶ
れが生じても、そのようなぶれに影響されない高解像度
の画像を得ることができる
【0128】また、上記イメージシフト機構は、上記第
1補正イメージシフト量よりもシフト量の小さい上記第
2補正イメージシフト量に基づいて被写体画像をシフト
させることになるので、小型のイメージシフト機構でも
十分に対応が可能となり、また、イメージシフト自体も
迅速に行われる。したがって、上記構成によれば、イメ
ージシフト機構の小型化を図ることができると共に、イ
メージシフトの高速化を図ることができる
【0129】さらに、イメージシフトの範囲が1画素ピ
ッチ以下となって当初よりも狭くなるので、小型のイメ
ージシフト機構でも十分に対応が可能となり、また、イ
メージシフト自体も迅速に行われる。したがって、上記
構成によれば、イメージシフト機構の小型化を図ること
ができると共に、イメージシフトの高速化を図ることが
できるという効果を奏する。
【0130】請求項2の発明に係る撮像装置は、以上の
ように、光学系を介して入射する被写体画像を、マトリ
クス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素子に
て撮像する撮像装置であって、上記被写体画像を上記固
体撮像素子に対して2次元的に相対シフトさせるイメー
ジシフト機構と、上記イメージシフト機構の動作を制御
する制御手段と、固定された当初予定の値である上記被
写体画像のイメージシフト量を発生するシフト量発生手
段と、上記イメージシフト機構によってシフトされた複
数の画像を合成する画像合成手段と、装置のぶれ量を検
出するぶれ量検出手段とが設けられ、上記ぶれ量検出手
段が上記ぶれ量を検出した場合には、上記シフト量発生
手段は、上記当初予定のイメージシフト量と上記ぶれ量
とに基づいて第1補正イメージシフト量を演算し、さら
に、所定の演算によって上記第1補正イメージシフト量
を、上記第1補正イメージシフト量と上記第1補正イメ
ージシフト量の小数部を切り上げた量との差である第2
補正イメージシフト量と、上記第1補正イメージシフト
量の小数部を切り上げた量である補正量とに分割し、上
記制御手段は、上記第2補正イメージシフト量に基づい
て、上記イメージシフト機構が被写体画像をシフトする
ように該イメージシフト機構を制御する一方、上記画像
合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行う構成で
ある。
【0131】それゆえ、イメージシフトの範囲が1画素
ピッチ以下となって当初よりも狭くなるので、小型のイ
メージシフト機構でも十分に対応が可能となり、また、
イメージシフト自体も迅速に行われる。したがって、上
記構成によれば、イメージシフト機構の小型化を図るこ
とができると共に、イメージシフトの高速化を図ること
ができるという効果を奏する。
【0132】請求項3の発明に係る撮像装置は、以上の
ように、光学系を介して入射する被写体画像を、マトリ
クス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素子に
て撮像する撮像装置であって、上記被写体画像を上記固
体撮像素子に対して2次元的に相対シフトさせるイメー
ジシフト機構と、上記イメージシフト機構の動作を制
する制御手段と、固定された当初予定の値である上記被
写体画像のイメージシフト量を発生するシフト量発生手
段と、上記イメージシフト機構によってシフトされた複
数の画像を合成する画像合成手段と、装置のぶれ量を検
出するぶれ量検出手段とが設けられ、上記ぶれ量検出手
段が上記ぶれ量を検出した場合には、上記シフト量発生
手段は、上記当初予定のイメージシフト量と上記ぶれ量
とに基づいて第1補正イメージシフト量を演算し、さら
に、所定の演算によって上記第1補正イメージシフト量
を、上記第1補正イメージシフト量と上記第1補正イメ
ージシフト量に0.5を加算した量の整数部との差であ
る第2補正イメージシフト量と、上記第1補正イメージ
シフト量に0.5を加算した量の整数部である補正量と
に分割し、上記制御手段は、上記第2補正イメージシフ
ト量に基づいて、上記イメージシフト機構が被写体画像
をシフトするように該イメージシフト機構を制御する一
方、上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理
を行う構成である。
【0133】それゆえ、上記イメージシフト機構により
イメージシフトする量、すなわち、第2補正イメージシ
フト量が±0.5画素ピッチ以下となるので、イメージ
シフトによる変位の絶対量が少なくて済むようになる。
したがって、上記構成によれば、イメージシフト機構の
さらなる小型化を図ることができると共に、イメージシ
フトのさらなる高速化を図ることができるという効果を
奏する。
【0134】請求項の発明に係る撮像装置は、以上の
ように、光学系を介して入射する被写体画像を、マトリ
クス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素子に
て撮像する撮像装置であって、上記被写体画像を上記固
体撮像素子に対して2次元的に所定シフト量だけ相対シ
フトさせるイメージシフト機構と、上記イメージシフト
機構の動作を制御する制御手段と、装置のぶれ量を検出
するぶれ量検出手段と、上記ぶれ量と所定の値とを比較
し、イメージシフトを行うかどうかの動作を判定する動
作判定手段と、上記動作判定手段が上記ぶれ量が上記所
定の値よりも大きいと判断した場合に、上記固体撮像素
子で撮像された画像を補間処理し画像を得る一方、上記
動作判定手段が上記ぶれ量が上記所定の値以下であると
判断した場合に、上記イメージシフト機構によってシフ
トされた複数の画像を画像処理によって合成する画像合
成手段とが設けられている構成である。
【0135】それゆえ、上記ぶれ量の程度により、画像
合成手段の画像処理方法が使い分けられるので、上記ぶ
れ量に応じた最適な画像処理法が選択されることによ
り、上記ぶれ量に応じて高解像度な画像を得ることがで
きるという効果を奏する。
【0136】請求項の発明に係る撮像装置は、以上の
ように、焦点距離が可変である光学系を介して入射する
被写体画像を、マトリクス状に配置された複数の画素を
有する固体撮像素子にて撮像する撮像装置であって、上
記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に所
定シフト量だけ相対シフトさせるイメージシフト機構
と、上記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段
と、上記光学系の焦点距離を検出する焦点距離検出手段
と、上記焦点距離と所定の値とを比較し、イメージシフ
トを行うかどうかの動作を判定する動作判定手段と、上
記動作判定手段が上記焦点距離が上記所定の値よりも大
きいと判断した場合に、上記固体撮像素子で撮像された
画像を補間処理し画像を得る一方、上記動作判定手段が
上記焦点距離が上記所定の値以下であると判断した場合
に、上記イメージシフト機構によってシフトされた複数
の画像を画像処理によって合成する画像合成手段とが設
けられている構成である。
【0137】それゆえ、上記焦点距離の大きさにより、
画像合成手段の画像処理方法が使い分けられるので、上
記焦点距離の程度に応じた最適な画像処理法が選択され
ることにより、上記焦点距離の程度に応じて高解像度な
画像を得ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る撮像装置の一構成例を示す説明図
である。
【図2】(a)は、画像位置がシフトするタイミングを
示すタイミングチャートであり、(b)は、画像合成回
路の画像メモリが固体撮像素子から画像データを取り込
むタイミングを示すタイミングチャートである。
【図3】固体撮像素子上で画像がぶれている様子を示す
説明図である。
【図4】装置にぶれが生じた時の固体撮像素子上におけ
る2つの画像データの配置を示す説明図である。
【図5】シフト量発生装置における動作の流れを示すフ
ローチャートである。
【図6】(a)は、補正前の画像データの配置を示す説
明図であり、(b)は、補正後の画像データの配置を示
す説明図である。
【図7】2つの画像データを合成した状態を示す説明図
である。
【図8】上記シフト量発生装置における他の動作の流れ
を示すフローチャートである。
【図9】上記シフト量発生装置における更に他の動作の
流れを示すフローチャートである。
【図10】上記撮像装置の他の構成例を示す説明図であ
る。
【図11】ぶれ量検出装置の一構成例を示すブロック図
である。
【図12】上記ぶれ量検出装置の他の構成例を示すブロ
ック図である。
【図13】上記撮像装置に設けられた動作判定回路にお
ける動作の流れを示すフローチャートである。
【図14】上記撮像装置の更に他の構成を示す説明図で
ある。
【図15】上記撮像装置に設けられた動作判定回路にお
ける動作の流れを示すフローチャートである。
【図16】イメージシフトの原理を表す断面図である。
【図17】従来の撮像装置の一構成例を示す斜視図であ
る。
【図18】(a)は、画像Aの画像データを示す説明図
であり、(b)は、画像Bの画像データを示す説明図で
ある。
【図19】上記の2つの画像データのイメージシフト量
を示す説明図である。
【図20】上記の2つの画像データを合成した状態を示
す説明図である。
【符号の説明】
1 被写体 2 光学系 2′ 光学系 3 X軸イメージシフト機構(イメージシフト機構) 4 Y軸イメージシフト機構(イメージシフト機構) 5 固体撮像素子 6 画像合成回路(画像合成手段) 7 シフト量発生装置(シフト量発生手段) 8 制御回路(制御手段) 9 ぶれ量検出装置(ぶれ量検出手段) 10 動作判定回路(動作判定手段) 25 焦点距離検出装置(焦点距離検出手段)
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−287268(JP,A) 特開 平7−240870(JP,A) 特開 平8−251487(JP,A) 特開 平7−177424(JP,A) 特開 平10−23321(JP,A) 特開 平9−261674(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 5/335 H04N 5/225 - 5/232

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学系を介して入射する被写体画像を、マ
    トリクス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素
    子にて撮像する撮像装置であって、 上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に
    相対シフトさせるイメージシフト機構と 記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、固定された当初予定の値である上記被写体画像のイメー
    ジシフト量を発生するシフト量発生手段と、 上記イメージシフト機構によってシフトされた複数の画
    像を合成する画像合成手段と、 装置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段とが設けられ、上記ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した場合には、
    上記シフト量発生手段は、上記当初予定のイメージシフ
    ト量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト
    量を演算し、さらに、所定の演算によって上記第1補正
    イメージシフト量を、該第1補正イメージシフト量の小
    数部である第2補正イメージシフト量と、上記第1補正
    イメージシフト量の整数部である補正量とに分割し、 上記制御手段は、上記第2補正イメージシフト量に基づ
    いて、上記イメージシフト機構が被写体画像をシフトす
    るように該イメージシフト機構を制御する一方、 上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行
    うことを特徴とする撮像装置。
  2. 【請求項2】光学系を介して入射する被写体画像を、マ
    トリクス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素
    子にて撮像する撮像装置であって、 上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に
    相対シフトさせるイメージシフト機構と、 上記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、固定された当初予定の値である上記被写体画像のイメー
    ジシフト量を発生するシフト量発生手段と、 上記イメージシフト機構によってシフトされた複数の画
    像を合成する画像合成手段と、 装置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段とが設けられ、 上記ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した場合には、
    上記シフト量発生手段は、上記当初予定のイメージシフ
    ト量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト
    量を演算し、さらに、所定の演算によって上記第1補正
    イメージシフト量を、上記第1補正イメージシフト量と
    上記第1補正イメージシフト量の小数部を切り上げた量
    との差である第2補正イメージシフト量と、上記第1補
    正イメージシフト量の小数部を切り上げた量である補正
    量とに分割し、 上記制御手段は、上記第2補正イメージシフト量に基づ
    いて、上記イメージシフト機構が被写体画像をシフトす
    るように該イメージシフト機構を制御する一方、 上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行
    うことを特徴とする撮像装置。
  3. 【請求項3】光学系を介して入射する被写体画像を、マ
    トリクス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素
    子にて撮像する撮像装置であって、 上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に
    相対シフトさせるイメージシフト機構と、 上記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、 固定された当初予定の値である上記被写体画像のイメー
    ジシフト量を発生するシフト量発生手段と、 上記イメージシフト機構によってシフトされた複数の画
    像を合成する画像合成手段と、 装置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段とが設けられ、 上記ぶれ量検出手段が上記ぶれ量を検出した場合には、
    上記シフト量発生手段 は、上記当初予定のイメージシフ
    ト量と上記ぶれ量とに基づいて第1補正イメージシフト
    量を演算し、さらに、所定の演算によって上記第1補正
    イメージシフト量を、上記第1補正イメージシフト量と
    上記第1補正イメージシフト量に0.5を加算した量の
    整数部との差である第2補正イメージシフト量と、上記
    第1補正イメージシフト量に0.5を加算した量の整数
    部である補正量とに分割し、 上記制御手段は、上記第2補正イメージシフト量に基づ
    いて、上記イメージシフト機構が被写体画像をシフトす
    るように該イメージシフト機構を制御する一方、 上記画像合成手段は上記補正量に基づいて画像処理を行
    うことを特徴とする撮像装置。
  4. 【請求項4】光学系を介して入射する被写体画像を、マ
    トリクス状に配置された複数の画素を有する固体撮像素
    子にて撮像する撮像装置であって、 上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に
    所定シフト量だけ相対シフトさせるイメージシフト機構
    と、 上記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、 装置のぶれ量を検出するぶれ量検出手段と、 上記ぶれ量と所定の値とを比較し、イメージシフトを行
    うかどうかの動作を判定する動作判定手段と、 上記動作判定手段が上記ぶれ量が上記所定の値よりも大
    きいと判断した場合に、上記固体撮像素子で撮像された
    画像を補間処理し画像を得る一方、上記動作判定手段が
    上記ぶれ量が上記所定の値以下であると判断した場合
    に、上記イメージシフト機構によってシフトされた複数
    の画像を画像処理によって合成する画像合成手段とが設
    けられていることを特徴とする撮像装置。
  5. 【請求項5】焦点距離が可変である光学系を介して入射
    する被写体画像を、マトリクス状に配置された複数の画
    素を有する固体撮像素子にて撮像する撮像装置であっ
    て、 上記被写体画像を上記固体撮像素子に対して2次元的に
    所定シフト量だけ相対シフトさせるイメージシフト機構
    と、 上記イメージシフト機構の動作を制御する制御手段と、 上記光学系の焦点距離を検出する焦点距離検出手段と、 上記焦点距離と所定の値とを比較し、イメージシフトを
    行うかどうかの動作を判定する動作判定手段と、 上記動作判定手段が上記焦点距離が上記所定の値よりも
    大きいと判断した場合に、上記固体撮像素子で撮像され
    た画像を補間処理し画像を得る一方、上記動作判定手段
    が上記焦点距離が上記所定の値以下であると判断した場
    合に、上記イメージシフト機構によってシフトされた複
    数の画像を画像処理によって合成する画像合成手段とが
    設けられていることを特徴とする撮像装置。
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