JP3360324B2 - 光ヘッド装置及び光ディスク装置 - Google Patents
光ヘッド装置及び光ディスク装置Info
- Publication number
- JP3360324B2 JP3360324B2 JP26611992A JP26611992A JP3360324B2 JP 3360324 B2 JP3360324 B2 JP 3360324B2 JP 26611992 A JP26611992 A JP 26611992A JP 26611992 A JP26611992 A JP 26611992A JP 3360324 B2 JP3360324 B2 JP 3360324B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical path
- reflected
- reflecting
- reflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置の
光ヘッドなどに用いて好適な光ヘッド装置及びこの光ヘ
ッド装置を備えた光ディスク装置に関するものである。
光ヘッドなどに用いて好適な光ヘッド装置及びこの光ヘ
ッド装置を備えた光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来の磁界変調方式の光磁気デ
ィスク装置の構成例を示している。図６に示すように、
半導体レーザ６０から射出された光ビームはコリメータ
レンズ６５で平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ
６１を透過した光ビームは立ち上げミラー６２で反射さ
れ、対物レンズ６３で光磁気ディスク７０上に集光され
る。また半導体レーザ６０から射出され、偏光ビームス
プリッタ６１で反射された光は、半導体レーザ６０の射
出光量を検出するために、光検出器であるモニタ６７に
入射される。
ィスク装置の構成例を示している。図６に示すように、
半導体レーザ６０から射出された光ビームはコリメータ
レンズ６５で平行光に変換され、偏光ビームスプリッタ
６１を透過した光ビームは立ち上げミラー６２で反射さ
れ、対物レンズ６３で光磁気ディスク７０上に集光され
る。また半導体レーザ６０から射出され、偏光ビームス
プリッタ６１で反射された光は、半導体レーザ６０の射
出光量を検出するために、光検出器であるモニタ６７に
入射される。
【０００３】光磁気ディスク７０への情報の記録時にお
いては、光磁気ディスク７０上に光ビームを集光した状
態で、記録する情報（信号０、または１）に対応して光
磁気ディスク７０に対向した磁石７１の極性を変化させ
て情報を記録する。これはキュリー点記録方式と呼ばれ
るものであって、光磁気ディスク７０に対して垂直方向
に磁化される。
いては、光磁気ディスク７０上に光ビームを集光した状
態で、記録する情報（信号０、または１）に対応して光
磁気ディスク７０に対向した磁石７１の極性を変化させ
て情報を記録する。これはキュリー点記録方式と呼ばれ
るものであって、光磁気ディスク７０に対して垂直方向
に磁化される。
【０００４】光磁気ディスク７０に記録された情報の再
生時においては磁気カー効果により、光磁気ディスク７
０に集光された光ビームが反射するときに、その偏光面
すなわち光の振動方向が光磁気ディスク７０の磁化方向
に対応して、右または左にθｋ回転するので、光磁気デ
ィスク７０からの反射光の偏光面の回転角の変化を検出
することにより記録情報が再生される。即ち、光磁気デ
ィスク７０からの反射光は、対物レンズ６３を透過し、
偏光ビームスプリッタ６１で反射され、λ／２波長板６
４により偏波の４５度回転を行い、偏光ビームプリズム
６８によりカー効果によって生じた偏光面の回転θｋを
逆成分として含むＳ偏光とＰ偏光に分離される。分離さ
れたＳ偏光およびＰ偏光は、光検出器６９ａ，６９ｂに
入射され、光検出器６９ａ，６９ｂからの出力の取り出
し方によってＲＦ信号（ＭＯ信号）、プッシュプル法に
よりトラッキングエラー信号、差動同心円法によりフォ
ーカスエラー信号がそれぞれ得られる。
生時においては磁気カー効果により、光磁気ディスク７
０に集光された光ビームが反射するときに、その偏光面
すなわち光の振動方向が光磁気ディスク７０の磁化方向
に対応して、右または左にθｋ回転するので、光磁気デ
ィスク７０からの反射光の偏光面の回転角の変化を検出
することにより記録情報が再生される。即ち、光磁気デ
ィスク７０からの反射光は、対物レンズ６３を透過し、
偏光ビームスプリッタ６１で反射され、λ／２波長板６
４により偏波の４５度回転を行い、偏光ビームプリズム
６８によりカー効果によって生じた偏光面の回転θｋを
逆成分として含むＳ偏光とＰ偏光に分離される。分離さ
れたＳ偏光およびＰ偏光は、光検出器６９ａ，６９ｂに
入射され、光検出器６９ａ，６９ｂからの出力の取り出
し方によってＲＦ信号（ＭＯ信号）、プッシュプル法に
よりトラッキングエラー信号、差動同心円法によりフォ
ーカスエラー信号がそれぞれ得られる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
装置では図よりも明らかなように半導体レーザ６０、コ
リメータレンズ６５をはじめとする光学部品を個別に配
置しなければならず、しかも対物レンズ６３に追従する
ための立ち上げミラー６２が余分に必要となり、小型化
が困難であった。
装置では図よりも明らかなように半導体レーザ６０、コ
リメータレンズ６５をはじめとする光学部品を個別に配
置しなければならず、しかも対物レンズ６３に追従する
ための立ち上げミラー６２が余分に必要となり、小型化
が困難であった。
【０００６】各部品を配置するときは各部品の位置の調
整を高精度に行う必要があるため、組立が容易でなく製
造に時間がかかる課題もあった。また、例えば温度、湿
度、および外部からの振動などの外的要因により、各組
立て部品が変化したり、その配置位置がずれたりするの
で、初期設定時の光学特性がこれらの外的要因によって
容易に変化し、装置の信頼性に問題があった。
整を高精度に行う必要があるため、組立が容易でなく製
造に時間がかかる課題もあった。また、例えば温度、湿
度、および外部からの振動などの外的要因により、各組
立て部品が変化したり、その配置位置がずれたりするの
で、初期設定時の光学特性がこれらの外的要因によって
容易に変化し、装置の信頼性に問題があった。
【０００７】そこで本発明は、光ヘッド装置を小型化し
て製造を容易にするとともに、信頼性を向上させること
を目的とする。
て製造を容易にするとともに、信頼性を向上させること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題は、本発明によ
れば、基板に固定され、光を発光する発光手段と、前記
発光手段からの光を反射して記録媒体に照射し、前記記
録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光
路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射した光を
反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基板に固
定されるとともに、前記光を入射する面に前記光路分岐
手段が接合され、該光路分岐手段を透過した光をＰ偏光
とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設け
られ、前記偏光手段により反射及び透過された光をそれ
ぞれ受光する第１及び第２受光手段を備え、前記偏光手
段の前記光路分岐手段との接合面と前記偏光手段の反射
及び透過する面との交線と、前記発光手段の発光点と該
発光手段による前記光路分岐手段の反射面上のスポット
の中心を結ぶ直線とが所定の傾きを有してなることを特
徴とする光ヘッド装置によって解決される。上記課題
は、本発明によれば、基板に固定され、光を発光する発
光手段と、前記発光手段からの光を反射及び透過する面
を備え、前記反射及び透過する面で反射した光を記録媒
体に照射し、記録媒体からの反射光を透過する光路分岐
手段と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前
記入射した光を反射及び透過する面とを少なくとも備
え、前記基板に固定されるとともに、前記光を入射する
面に前記光路分岐手段が接合され、該光路分岐手段を透
過した光をＰ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、
前記基板上に設けられ前記偏光手段により反射及び透過
された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段と、
前記光路分岐手段に設けられ、前記発光手段から発光さ
れた光のうち前記反射及び透過する面を透過した光を反
射するための第１反射手段と、前記基板上に設けられ前
記第１反射手段により反射された光を受光するための第
３受光手段とを備えてなることを特徴とする光ヘッド装
置によって解決される。上記課題は、本発明によれば、
基板に固定され、光を発光する発光手段と、前記発光手
段からの光を反射して記録媒体に照射し、前記記録媒体
からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光路分岐
手段からの光を入射する面と、前記入射した光を反射及
び透過する面とを少なくとも備え、前記基板に固定され
るととも に、前記光を入射する面に前記光路分岐手段が
接合され、該光路分岐手段を透過した光をＰ偏光とＳ偏
光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設けられ、
前記偏光手段により反射及び透過された光をそれぞれ受
光する第１及び第２受光手段を備え、前記偏光手段の前
記光路分岐手段との接合面と前記偏光手段の反射及び透
過する面との交線と、前記発光手段の発光点と該発光手
段による前記光路分岐手段の反射面上のスポットの中心
を結ぶ直線とが所定の傾きを有してなることを特徴とす
る光ディスク装置によって解決される。
れば、基板に固定され、光を発光する発光手段と、前記
発光手段からの光を反射して記録媒体に照射し、前記記
録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光
路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射した光を
反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基板に固
定されるとともに、前記光を入射する面に前記光路分岐
手段が接合され、該光路分岐手段を透過した光をＰ偏光
とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設け
られ、前記偏光手段により反射及び透過された光をそれ
ぞれ受光する第１及び第２受光手段を備え、前記偏光手
段の前記光路分岐手段との接合面と前記偏光手段の反射
及び透過する面との交線と、前記発光手段の発光点と該
発光手段による前記光路分岐手段の反射面上のスポット
の中心を結ぶ直線とが所定の傾きを有してなることを特
徴とする光ヘッド装置によって解決される。上記課題
は、本発明によれば、基板に固定され、光を発光する発
光手段と、前記発光手段からの光を反射及び透過する面
を備え、前記反射及び透過する面で反射した光を記録媒
体に照射し、記録媒体からの反射光を透過する光路分岐
手段と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前
記入射した光を反射及び透過する面とを少なくとも備
え、前記基板に固定されるとともに、前記光を入射する
面に前記光路分岐手段が接合され、該光路分岐手段を透
過した光をＰ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、
前記基板上に設けられ前記偏光手段により反射及び透過
された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段と、
前記光路分岐手段に設けられ、前記発光手段から発光さ
れた光のうち前記反射及び透過する面を透過した光を反
射するための第１反射手段と、前記基板上に設けられ前
記第１反射手段により反射された光を受光するための第
３受光手段とを備えてなることを特徴とする光ヘッド装
置によって解決される。上記課題は、本発明によれば、
基板に固定され、光を発光する発光手段と、前記発光手
段からの光を反射して記録媒体に照射し、前記記録媒体
からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光路分岐
手段からの光を入射する面と、前記入射した光を反射及
び透過する面とを少なくとも備え、前記基板に固定され
るととも に、前記光を入射する面に前記光路分岐手段が
接合され、該光路分岐手段を透過した光をＰ偏光とＳ偏
光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設けられ、
前記偏光手段により反射及び透過された光をそれぞれ受
光する第１及び第２受光手段を備え、前記偏光手段の前
記光路分岐手段との接合面と前記偏光手段の反射及び透
過する面との交線と、前記発光手段の発光点と該発光手
段による前記光路分岐手段の反射面上のスポットの中心
を結ぶ直線とが所定の傾きを有してなることを特徴とす
る光ディスク装置によって解決される。
【０００９】
【作用】図１および図２に示すように、光路分岐手段２
は発光手段４からのレーザ光を反射して記録媒体７０に
照射し、また記録媒体７０からの反射光を透過する。こ
の透過した光が偏光手段３に入射する際に、偏光手段３
の光路分岐手段２との接合面と、偏光手段３の反射また
は透過する面との交線（以下偏光手段の軸と呼ぶ）と、
発光手段４の発光点とこの発光手段４による光路分岐手
段２の反射面のスポットの中心を結ぶ直線とが約４５度
の傾きを有しているので、光路分岐手段２で反射された
光の偏光方向が偏光手段の軸と約４５度の傾きを有す
る。つまり光の偏光方向が偏光手段３に対して約４５度
の角度で入射する。特に記録媒体が光磁気ディスクの場
合には、図３に示すようにカー効果によって生じた偏光
面の回転θｋを逆成分として含むＰ偏光、Ｓ偏光に分離
することができるので、第１受光手段８と第２受光手段
７により受光されたＳ偏光、Ｐ偏光の差をとることによ
り、記録された磁気を好適に再生することができる。
は発光手段４からのレーザ光を反射して記録媒体７０に
照射し、また記録媒体７０からの反射光を透過する。こ
の透過した光が偏光手段３に入射する際に、偏光手段３
の光路分岐手段２との接合面と、偏光手段３の反射また
は透過する面との交線（以下偏光手段の軸と呼ぶ）と、
発光手段４の発光点とこの発光手段４による光路分岐手
段２の反射面のスポットの中心を結ぶ直線とが約４５度
の傾きを有しているので、光路分岐手段２で反射された
光の偏光方向が偏光手段の軸と約４５度の傾きを有す
る。つまり光の偏光方向が偏光手段３に対して約４５度
の角度で入射する。特に記録媒体が光磁気ディスクの場
合には、図３に示すようにカー効果によって生じた偏光
面の回転θｋを逆成分として含むＰ偏光、Ｓ偏光に分離
することができるので、第１受光手段８と第２受光手段
７により受光されたＳ偏光、Ｐ偏光の差をとることによ
り、記録された磁気を好適に再生することができる。
【００１０】発光手段４からのレーザ光が光路分岐手段
２により透過され、第１反射手段１０９により反射さ
れ、第３受光手段１０により受光されるので、レーザ光
から出射された光量を検出することができる。特に光磁
気ディスクへの書き込みの際の、出射光量をモニタする
ことができる。
２により透過され、第１反射手段１０９により反射さ
れ、第３受光手段１０により受光されるので、レーザ光
から出射された光量を検出することができる。特に光磁
気ディスクへの書き込みの際の、出射光量をモニタする
ことができる。
【００１１】偏光手段３により反射された光を、第２反
射手段１１０により反射させることにより、第１受光手
段８を基板１上に形成することができる。
射手段１１０により反射させることにより、第１受光手
段８を基板１上に形成することができる。
【００１２】光路分岐手段２と偏光手段３がそれぞれ基
板１と約４５度の傾きを有しているので、Ｐ偏光とＳ偏
光を好適に分離することができ、しかもそれぞれの反射
光の光路を基板１に平行または垂直に制御することがで
きる。
板１と約４５度の傾きを有しているので、Ｐ偏光とＳ偏
光を好適に分離することができ、しかもそれぞれの反射
光の光路を基板１に平行または垂直に制御することがで
きる。
【００１３】また本発明によれば、第１受光手段８およ
び第２受光手段７の出力を信号処理する差動増幅器２７
〜２９および３６〜３８によりフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号、または光磁気ディスクからの
再生信号を検出することができる。
び第２受光手段７の出力を信号処理する差動増幅器２７
〜２９および３６〜３８によりフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号、または光磁気ディスクからの
再生信号を検出することができる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１５】図１は本発明の一実施例を示す光磁気ディ
スク装置の構成を示す斜視図である。図２は、図１を
Ａ，Ｂ，Ｃの各方向から見た図であり、特に図２（ａ）
はＡ方向、図２（ｂ）はＢ方向、図２（ｃ）はＣ方向か
らそれぞれ見た図である。
スク装置の構成を示す斜視図である。図２は、図１を
Ａ，Ｂ，Ｃの各方向から見た図であり、特に図２（ａ）
はＡ方向、図２（ｂ）はＢ方向、図２（ｃ）はＣ方向か
らそれぞれ見た図である。
【００１６】図１および図２に示すように、半導体レー
ザ４が半導体基板１に取り付けられており、面１０６で
接着された直角二等辺三角柱プリズムと平行四辺形プリ
ズムから構成されたビームスプリッタ３が半導体レーザ
４の取付け方向Ｅと４５度の角度で半導体基板１上に接
着されている。面１０５で接着された２つの直角二等辺
三角柱プリズムで構成されたビームスプリッタ２が半導
体レーザ４の取付け方向Ｅと平行に、ビームスプリッタ
３上に固定されている。
ザ４が半導体基板１に取り付けられており、面１０６で
接着された直角二等辺三角柱プリズムと平行四辺形プリ
ズムから構成されたビームスプリッタ３が半導体レーザ
４の取付け方向Ｅと４５度の角度で半導体基板１上に接
着されている。面１０５で接着された２つの直角二等辺
三角柱プリズムで構成されたビームスプリッタ２が半導
体レーザ４の取付け方向Ｅと平行に、ビームスプリッタ
３上に固定されている。
【００１７】ビームスプリッタ３の面１０６は偏光分離
膜であり、Ｐ偏光透過率Ｔｐ＝１００％，Ｐ偏光反射率
Ｒｐ＝０％，Ｓ偏光透過率Ｔｓ＝０％，Ｓ偏光反射率Ｒ
ｓ＝１００％の特性を持ち、ビームスプリッタ２の面１
０５は偏光分離半透過膜であり、Ｔｓ＝３０％，Ｒｓ＝
７０％，Ｔｐ＝１００％，Ｒｐ＝０％の特性を持つよう
に設計されている。ビームスプリッタ３の面１０６と平
行な面１１０およびビームスプリッタ２の面１０９は反
射膜がそれぞれコーティングされている。半導体基板１
内には記録信号を読み取るための光検出器７，８がそれ
ぞれ３分割されたフォトディテクタ７ａ〜７ｃおよび８
ａ〜８ｃおよび光検出器１０が半導体レーザ４の取付け
方向Ｅと直角に配設されている。
膜であり、Ｐ偏光透過率Ｔｐ＝１００％，Ｐ偏光反射率
Ｒｐ＝０％，Ｓ偏光透過率Ｔｓ＝０％，Ｓ偏光反射率Ｒ
ｓ＝１００％の特性を持ち、ビームスプリッタ２の面１
０５は偏光分離半透過膜であり、Ｔｓ＝３０％，Ｒｓ＝
７０％，Ｔｐ＝１００％，Ｒｐ＝０％の特性を持つよう
に設計されている。ビームスプリッタ３の面１０６と平
行な面１１０およびビームスプリッタ２の面１０９は反
射膜がそれぞれコーティングされている。半導体基板１
内には記録信号を読み取るための光検出器７，８がそれ
ぞれ３分割されたフォトディテクタ７ａ〜７ｃおよび８
ａ〜８ｃおよび光検出器１０が半導体レーザ４の取付け
方向Ｅと直角に配設されている。
【００１８】図１および図２に示すように、半導体レー
ザ４から出射され、取付け方向Ｅと直角な方向に偏光方
向を持つＳ偏光光束は、光分岐用偏光分離膜１０５で反
射され、対物レンズ１５により光磁気ディスク７０上に
集束され、光磁気ディスク７０上に記録された磁区によ
るカー効果により偏光面がθｋだけ回転しながら反射
し、往路を逆にたどってビームスプリッタ２に戻り、光
分岐用偏光分離膜１０５を透過する。
ザ４から出射され、取付け方向Ｅと直角な方向に偏光方
向を持つＳ偏光光束は、光分岐用偏光分離膜１０５で反
射され、対物レンズ１５により光磁気ディスク７０上に
集束され、光磁気ディスク７０上に記録された磁区によ
るカー効果により偏光面がθｋだけ回転しながら反射
し、往路を逆にたどってビームスプリッタ２に戻り、光
分岐用偏光分離膜１０５を透過する。
【００１９】この光分岐用偏光分離膜１０５を透過した
光束の入射偏光方向が、図２（ａ）に示すようにＥと平
行であり、ビームスプリッタとビームスプリッタ２が４
５度の角度で傾いているので、ビームスプリッタ３の面
１０６に対して４５度傾いた偏光方向で入射される。偏
光分離膜１０６に入射された光束のＰ偏光成分は透過さ
れ光検出器７により受光され、Ｓ偏光成分は反射され、
さらに反射膜１０９で反射された後に、光検出器８によ
り受光される。
光束の入射偏光方向が、図２（ａ）に示すようにＥと平
行であり、ビームスプリッタとビームスプリッタ２が４
５度の角度で傾いているので、ビームスプリッタ３の面
１０６に対して４５度傾いた偏光方向で入射される。偏
光分離膜１０６に入射された光束のＰ偏光成分は透過さ
れ光検出器７により受光され、Ｓ偏光成分は反射され、
さらに反射膜１０９で反射された後に、光検出器８によ
り受光される。
【００２０】図３に示すように、光検出器７および８に
より受光されたＰ偏光成分およびＳ偏光成分は各々カー
効果によって生じた偏光面の回転θｋを逆成分として含
むため、光検出器７および８の差動出力をとることによ
り、光磁気ディスク７０上に記録された記録磁区を検出
することができる。
より受光されたＰ偏光成分およびＳ偏光成分は各々カー
効果によって生じた偏光面の回転θｋを逆成分として含
むため、光検出器７および８の差動出力をとることによ
り、光磁気ディスク７０上に記録された記録磁区を検出
することができる。
【００２１】また、記録時における出射光束の光量検出
は、半導体レーザ４を出射した光束の一部が、光分岐用
偏光分離膜１０５を透過し、反射膜１０９で反射し、台
形ビームスプリッタ３を透過し、光検出器１０へ入射す
る光量を検出することにより可能となる。この時、面１
０９を偏光分離膜とすることにより、温度変化により偏
光比（完全Ｓ偏光でなくなる）が変化することによる光
量検出誤差の除去も可能である。
は、半導体レーザ４を出射した光束の一部が、光分岐用
偏光分離膜１０５を透過し、反射膜１０９で反射し、台
形ビームスプリッタ３を透過し、光検出器１０へ入射す
る光量を検出することにより可能となる。この時、面１
０９を偏光分離膜とすることにより、温度変化により偏
光比（完全Ｓ偏光でなくなる）が変化することによる光
量検出誤差の除去も可能である。
【００２２】図４は、第１実施例によるＲＦ信号（ＭＯ
信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信
号を得るための回路構成図である。
信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信
号を得るための回路構成図である。
【００２３】図４に示すように、光検出器７および８は
それぞれ３分割されたフォトディテクタ７ａ，７ｂ，７
ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃから構成され、フォトディテクタ
７ａ，７ｂ，７ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃからは各々信号
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ａ′，Ｂ′，Ｃ′が出力されこれらのフォ
トディテクタの各端子は加算器２１〜２６に入力されて
いる。
それぞれ３分割されたフォトディテクタ７ａ，７ｂ，７
ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃから構成され、フォトディテクタ
７ａ，７ｂ，７ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃからは各々信号
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ａ′，Ｂ′，Ｃ′が出力されこれらのフォ
トディテクタの各端子は加算器２１〜２６に入力されて
いる。
【００２４】まずＲＦ信号は、カー効果によって生じて
偏光面の回転を逆成分として含むため光検出器７および
８により検出された光量の差動をとることにより得られ
る。すなわち光検出器７のフォトディテクタ７ａ，７
ｂ，７ｃのそれぞれの光量の和を加算器２４によりと
り、光検出器８のフォトディテクタ８ａ，８ｂ，８ｃの
それぞれの光量の和を加算器２３によりとり、これら加
算器２３，２４からの出力を差動増幅器２８に供給し、
その差動をとることによりＲＦ信号（(Ａ＋Ｂ＋Ｃ)−
(Ａ′＋Ｂ′＋Ｃ′)）が得られる。
偏光面の回転を逆成分として含むため光検出器７および
８により検出された光量の差動をとることにより得られ
る。すなわち光検出器７のフォトディテクタ７ａ，７
ｂ，７ｃのそれぞれの光量の和を加算器２４によりと
り、光検出器８のフォトディテクタ８ａ，８ｂ，８ｃの
それぞれの光量の和を加算器２３によりとり、これら加
算器２３，２４からの出力を差動増幅器２８に供給し、
その差動をとることによりＲＦ信号（(Ａ＋Ｂ＋Ｃ)−
(Ａ′＋Ｂ′＋Ｃ′)）が得られる。
【００２５】さらに本実施例では、集束された光束の集
束点が光磁気ディスク７０上に位置している場合に、こ
の集束点の共役点が偏光分離膜１０６と反射膜１０９と
の中間に位置するように配置されている。従って光検出
器７におけるＰ偏光スポットまたは光検出器８における
Ｓ偏光スポットは光磁気ディスク７０に集束点が位置し
ている時は互いに等しくなり、光磁気ディスク７０に集
束点が位置していない時はいずれか一方が大きくなる。
よってフォトディテクタ７ａ，７ｃ，８ｂの光量の和を
加算器２１、フォトディテクタ８ａ，８ｃ，７ｂの光量
の和を加算器２２でとり、これらを差動増幅器２７に供
給し差分をとることにより、差分同心円法によりフォー
カスエラー信号（(Ａ＋Ｃ−Ｂ)−(Ａ′＋Ｃ′−Ｂ′)）
が得られる。
束点が光磁気ディスク７０上に位置している場合に、こ
の集束点の共役点が偏光分離膜１０６と反射膜１０９と
の中間に位置するように配置されている。従って光検出
器７におけるＰ偏光スポットまたは光検出器８における
Ｓ偏光スポットは光磁気ディスク７０に集束点が位置し
ている時は互いに等しくなり、光磁気ディスク７０に集
束点が位置していない時はいずれか一方が大きくなる。
よってフォトディテクタ７ａ，７ｃ，８ｂの光量の和を
加算器２１、フォトディテクタ８ａ，８ｃ，７ｂの光量
の和を加算器２２でとり、これらを差動増幅器２７に供
給し差分をとることにより、差分同心円法によりフォー
カスエラー信号（(Ａ＋Ｃ−Ｂ)−(Ａ′＋Ｃ′−Ｂ′)）
が得られる。
【００２６】トラッキングエラー信号はトラック方向で
あるフォトディテクタ７ｂとフォトディテクタ８ｂを挟
んだフォトディテクタ７ａとフォトディテクタ７ｃとの
光量の差と、フォトディテクタ８ａとフォトディテクタ
８ｃとの光量の差との和をとることにより、プッシュプ
ル法により得られる。すなわちフォトディテクタ７ａ，
８ｃとの光量の和を加算器２６でとり、フォトディテク
タ８ａ，７ｃとの光量の和を加算器２５でとり、これら
を差動増幅器２９に供給し、差分をとることによりトラ
ッキングエラー信号（(Ａ−Ｃ)＋(Ｃ′−Ａ′)）得られ
る。
あるフォトディテクタ７ｂとフォトディテクタ８ｂを挟
んだフォトディテクタ７ａとフォトディテクタ７ｃとの
光量の差と、フォトディテクタ８ａとフォトディテクタ
８ｃとの光量の差との和をとることにより、プッシュプ
ル法により得られる。すなわちフォトディテクタ７ａ，
８ｃとの光量の和を加算器２６でとり、フォトディテク
タ８ａ，７ｃとの光量の和を加算器２５でとり、これら
を差動増幅器２９に供給し、差分をとることによりトラ
ッキングエラー信号（(Ａ−Ｃ)＋(Ｃ′−Ａ′)）得られ
る。
【００２７】本実施例においては、光磁気ディスク装置
の場合について適用したが、コンパクトディスクにおい
ても適用可能であり、コンパクトディスクにおける位相
ピット検出信号（再生信号）はフォトディテクタ７ａ，
７ｂ，７ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃからの光量の和（(Ａ＋
Ｂ＋Ｃ)＋(Ａ′＋Ｂ′＋Ｃ′)）をとることにより得ら
れる。
の場合について適用したが、コンパクトディスクにおい
ても適用可能であり、コンパクトディスクにおける位相
ピット検出信号（再生信号）はフォトディテクタ７ａ，
７ｂ，７ｃ，８ａ，８ｂ，８ｃからの光量の和（(Ａ＋
Ｂ＋Ｃ)＋(Ａ′＋Ｂ′＋Ｃ′)）をとることにより得ら
れる。
【００２８】図５は本発明の第２実施例によるＲＦ信号
（ＭＯ信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエ
ラー信号を得るための回路構成図である。
（ＭＯ信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエ
ラー信号を得るための回路構成図である。
【００２９】図５に示すように、光検出器７および８は
フォトディテクタ７ｄ〜７ｇおよび８ｄ〜８ｇにより４
分割されている。このフォトディテクタ７ｄ〜７ｇおよ
び８ｄ〜８ｄは各々Ｄ，Ｅ，Ｆ，ＧおよびＤ′，Ｅ′，
Ｆ′，Ｇ′の信号が出力されている。フォトディテクタ
７ｄ〜７ｇおよび８ｄ〜８ｇの端子は加算器３０〜３５
に接続され、加算器３０〜３５は差動増幅器３６〜３８
に接続されている。ＲＦ差信号は（(Ｄ＋Ｅ＋Ｆ＋Ｇ)−
(Ｄ′＋Ｅ′＋Ｆ′＋Ｇ′)）により得られ、トラッキン
グエラー信号はプッシュプル法｛（(Ｄ＋Ｅ)−(Ｆ＋
Ｇ)）＋（(Ｆ′＋Ｇ′)）−(Ｄ′＋Ｅ′)）｝により得
られ、フォーカスエラー信号は差動同心円法｛（(Ｄ＋
Ｇ)−(Ｅ＋Ｆ)）＋（(Ｄ′＋Ｇ′)）−（(Ｅ′＋
Ｆ′)）｝により得られる。
フォトディテクタ７ｄ〜７ｇおよび８ｄ〜８ｇにより４
分割されている。このフォトディテクタ７ｄ〜７ｇおよ
び８ｄ〜８ｄは各々Ｄ，Ｅ，Ｆ，ＧおよびＤ′，Ｅ′，
Ｆ′，Ｇ′の信号が出力されている。フォトディテクタ
７ｄ〜７ｇおよび８ｄ〜８ｇの端子は加算器３０〜３５
に接続され、加算器３０〜３５は差動増幅器３６〜３８
に接続されている。ＲＦ差信号は（(Ｄ＋Ｅ＋Ｆ＋Ｇ)−
(Ｄ′＋Ｅ′＋Ｆ′＋Ｇ′)）により得られ、トラッキン
グエラー信号はプッシュプル法｛（(Ｄ＋Ｅ)−(Ｆ＋
Ｇ)）＋（(Ｆ′＋Ｇ′)）−(Ｄ′＋Ｅ′)）｝により得
られ、フォーカスエラー信号は差動同心円法｛（(Ｄ＋
Ｇ)−(Ｅ＋Ｆ)）＋（(Ｄ′＋Ｇ′)）−（(Ｅ′＋
Ｆ′)）｝により得られる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば半
導体レーザ、２つのビームスプリッタ、光検出器が基板
に一体的に構成できるので装置を小型化することがで
き、しかも一体化によって各部品間の位置ずれが少なく
なるので光ヘッド装置の信頼性を向上させることができ
る。しかも各部品を調整するための工数を削減すること
ができる。また基板上に信号処理回路を一体化すること
も可能となる。
導体レーザ、２つのビームスプリッタ、光検出器が基板
に一体的に構成できるので装置を小型化することがで
き、しかも一体化によって各部品間の位置ずれが少なく
なるので光ヘッド装置の信頼性を向上させることができ
る。しかも各部品を調整するための工数を削減すること
ができる。また基板上に信号処理回路を一体化すること
も可能となる。
【図１】実施例による光磁気ディスク装置の斜視図であ
る。
る。
【図２】図１のＡ，Ｂ，Ｃ各方向から見た図である。
【図３】ＭＯ再生信号を説明するための図である。
【図４】第１実施例によるＭＯ信号、フォーカスエラー
信号、トラッキングエラー信号を得るための回路構成図
である。
信号、トラッキングエラー信号を得るための回路構成図
である。
【図５】第２実施例によるＭＯ信号、フォーカスエラー
信号、トラッキングエラー信号を得るための回路構成図
である。
信号、トラッキングエラー信号を得るための回路構成図
である。
【図６】従来例による光磁気ディスク装置構成図であ
る。
る。
１ 半導体基板（基板） ２ ビームスプリッタ ３ ビームスプリッタ ４ 半導体レーザ（発光手段） ７ 光検出器（第２受光手段） ８ 光検出器（第１受光手段） １０ 光検出器（第３受光手段） １５ 対物レンズ ７ａ〜７ｇ，８ａ〜８ｇ フォトディテクタ ２１〜２６，３０〜３５ 加算器 ２７〜２９，３６〜３８ 差動増幅器 ６０ 半導体レーザ ６１ 偏光ビームスプリッタ ６２ 立ち上げミラー ６３ 対物レンズ ６４ λ／２波長板 ６７ モニタ（ＰＤ） ６８ 偏光ビームプリズム ６９ａ，６９ｂ 光検出器 ７０ 光磁気ディスク ７１ 磁石
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 11/105 G11B 7/12 - 7/22
Claims (20)
- 【請求項１】 基板に固定され、光を発光する発光手段
と、 前記発光手段からの光を反射して記録媒体に照射し、前
記記録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射し
た光を反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基
板に固定されるとともに、前記光を入射する面に前記光
路分岐手段が接合され、該 光路分岐手段を透過した光を
Ｐ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設けられ、 前記偏光手段により反射及び透
過された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段を
備え、 前記偏光手段の前記光路分岐手段との接合面と前記偏光
手段の反射及び透過する面との交線と、前記発光手段の
発光点と該発光手段による前記光路分岐手段の反射面上
のスポットの中心を結ぶ直線とが所定の傾きを有してな
ることを特徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項２】 前記偏光手段の前記光路分岐手段との接
合面と前記偏光手段の反射及び透過する面との交線と、
前記発光手段の発光点と該発光手段による前記光路分岐
手段の反射する面上のスポットの中心を結ぶ直線とが約
４５度の傾きを有してなることを特徴とする請求項１記
載の光ヘッド装置。 - 【請求項３】 前記光路分岐手段は、前記発光手段から
の光を反射及び透過する面を備えるとともに、前記発光
手段から発光された光のうち前記反射及び透過する面を
透過した光を反射するための第１反射手段を備え、 前記基板上に、 前記第１反射手段により反射された光を
受光するための第３受光手段を備えてなることを特徴と
する請求項１記載の光ヘッド装置。 - 【請求項４】 前記偏光手段は、前記反射及び透過する
面により反射された光を反射するための第２反射手段を
備え、 前記第２反射手段により反射された光を前記第１受光手
段が受光するようになされてなることを特徴とする請求
項１または２または３記載の光ヘッド装置。 - 【請求項５】 前記光路分岐手段及び前記偏光手段の反
射及び透過する面が前記基板表面と約４５度の傾きを有
してなることを特徴とする請求項１または２記載の光ヘ
ッド装置。 - 【請求項６】 前記第１反射手段及び第２反射手段が、
前記基板表面と約４５度の傾きを有してなることを特徴
とする請求項３または４記載の光ヘッド装置。 - 【請求項７】 前記第１または第２受光手段の出力を信
号処理する、前記基板上に形成された信号処理手段をさ
らに備えてなることを特徴とする請求項１，２，３，
４，５または６記載の光ヘッド装置。 - 【請求項８】 前記信号処理手段は、前記第１及び／ま
たは第２受光手段の出力から、フォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号、または前記記録媒体からの再
生信号を検出することを特徴とする請求項７記載の光ヘ
ッド装置。 - 【請求項９】 基板に固定され、光を発光する発光手段
と、前記発光手段からの光を反射及び透過する面を備
え、前記反射及び透過する面で反射した光を記録媒体に
照射し、記録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段
と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射し
た光を反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基
板に固定されるとともに、前記光を入射する面に前記光
路分岐手段が接合され、該 光路分岐手段を透過した光を
Ｐ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、 前記基板上に設けられ前記偏光手段により反射及び透過
された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段と、前記光路分岐手段に設けられ、 前記発光手段から発光さ
れた光のうち前記反射及び透過する面を透過した光を反
射するための第１反射手段と、 前記基板上に設けられ前記第１反射手段により反射され
た光を受光するための第３受光手段と、 を備えてなることを特徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項１０】 前記偏光手段の前記光路分岐手段との
接合面と前記偏光手段の反射及び透過する面との交線
と、前記発光手段の発光点と該発光手段による前記光路
分岐手段の反射する面上のスポットの中心を結ぶ直線と
が約４５度の傾きを有してなることを特徴とする請求項
９記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１１】 前記偏光手段は、前記反射及び透過す
る面により反射された光を反射するための第２反射手段
を備え、 前記第２反射手段により反射された光を前記第１受光手
段が受光するようになされてなることを特徴とする請求
項９記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１２】 前記光路分岐手段及び前記偏光手段の
反射及び透過する面が前記基板表面と約４５度の傾きを
有してなることを特徴とする請求項９記載の光ヘッド装
置。 - 【請求項１３】 前記第１反射手段及び第２反射手段
が、前記基板表面と約４５度の傾きを有してなることを
特徴とする請求項１１記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１４】 前記第１、第２または第３受光手段の
出力を信号処理する、前記基板上に形成された信号処理
手段をさらに備えてなることを特徴とする請求項９記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項１５】 前記第１及び／または第２受光手段の
出力から、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー
信号、または前記記録媒体からの再生信号を検出し、前
記第３受光手段から前記発光手段の出射光量を検出する
ことを特徴とする請求項９記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１６】 基板に固定され、光を発光する発光手
段と、 前記発光手段からの光を反射して記録媒体に照射し、前
記記録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射し
た光を反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基
板に固定されるとともに、前記光を入射する面に前記光
路分岐手段が接合され、該 光路分岐手段を透過した光を
Ｐ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、前記基板上に設けられ、 前記偏光手段により反射及び透
過された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段を
備え、 前記偏光手段の前記光路分岐手段との接合面と前記偏光
手段の反射及び透過する面との交線と、前記発光手段の
発光点と該発光手段による前記光路分岐手段の反射面上
のスポットの中心を結ぶ直線とが所定の傾きを有してな
ることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項１７】 前記偏光手段の前記光路分岐手段との
接合面と前記偏光手段の反射及び透過する面との交線
と、前記発光手段の発光点と該発光手段による前記光路
分岐手段の反射する面上のスポットの中心を結ぶ直線と
が約４５度の傾きを有してなることを特徴とする請求項
１６記載の光ディスク装置。 - 【請求項１８】 基板に固定され、光を発光する発光手
段と、 前記発光手段からの光を反射及び透過する面を備え、前
記反射及び透過する面で反射した光を記録媒体に照射
し、記録媒体からの反射光を透過する光路分岐手段と、前記光路分岐手段からの光を入射する面と、前記入射し
た光を反射及び透過する面とを少なくとも備え、前記基
板に固定されるとともに、前記光を入射する面に前記光
路分岐手段が接合され、該 光路分岐手段を透過した光を
Ｐ偏光とＳ偏光に光路分岐する偏光手段と、 前記基板上に設けられ前記偏光手段により反射及び透過
された光をそれぞれ受光する第１及び第２受光手段と、前記光路分岐手段に設けられ、 前記発光手段から発光さ
れた光のうち前記反射及び透過する面を透過した光を反
射するための第１反射手段と、 前記基板上に設けられ前記第１反射手段により反射され
た光を受光するための第３受光手段と、 を備えてなることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項１９】 前記偏光手段の前記光路分岐手段との
接合面と前記偏光手段の反射及び透過する面との交線
と、前記発光手段の発光点と該発光手段による前記光路
分岐手段の反射する面上のスポットの中心を結ぶ直線と
が約４５度の傾きを有してなることを特徴とする請求項
１８記載の光ディスク装置。 - 【請求項２０】 前記第１及び／または第２受光手段の
出力から、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー
信号、または前記記録媒体からの再生信号を検出し、前
記第３受光手段から前記発光手段の出射光量を検出する
ことを特徴とする請求項１８記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26611992A JP3360324B2 (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光ヘッド装置及び光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26611992A JP3360324B2 (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光ヘッド装置及び光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06119675A JPH06119675A (ja) | 1994-04-28 |
| JP3360324B2 true JP3360324B2 (ja) | 2002-12-24 |
Family
ID=17426590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26611992A Expired - Fee Related JP3360324B2 (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光ヘッド装置及び光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3360324B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3374573B2 (ja) * | 1995-02-20 | 2003-02-04 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップ及び光ガイド部材 |
-
1992
- 1992-10-05 JP JP26611992A patent/JP3360324B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06119675A (ja) | 1994-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63317938A (ja) | ２レ−ザ光ヘッド | |
| JP3438482B2 (ja) | 受発光素子とこれを用いた光学ピックアップ | |
| JPH0273531A (ja) | 光滋気記録再生装置 | |
| JP3360324B2 (ja) | 光ヘッド装置及び光ディスク装置 | |
| JP3949793B2 (ja) | 光ピックアップ | |
| JPH0650580B2 (ja) | 消去可能な光ヘツド | |
| JPH07105084B2 (ja) | 光磁気デイスク装置 | |
| JP2856980B2 (ja) | 光ヘッド | |
| JP3366017B2 (ja) | 光ヘッド | |
| JP3211483B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP2578796B2 (ja) | 光磁気デイスク装置 | |
| JPH06119676A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JPS63279448A (ja) | 光磁気記録再生装置 | |
| JPH05205339A (ja) | 光磁気記録用偏光光学系 | |
| JP2579013B2 (ja) | 光ヘッド | |
| JP3211484B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH03116546A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JPH10188326A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH06333290A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH06131684A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JP2000268386A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS63228423A (ja) | 光学的情報処理装置 | |
| JPH0386953A (ja) | 光磁気記録再生装置 | |
| JPH01211345A (ja) | 光磁気記録再生用光学ヘッド | |
| JPH11161994A (ja) | 複合発光素子及び光学ピックアップ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091018 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |