JPH0273531A - 光滋気記録再生装置 - Google Patents
光滋気記録再生装置Info
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- JPH0273531A JPH0273531A JP63227009A JP22700988A JPH0273531A JP H0273531 A JPH0273531 A JP H0273531A JP 63227009 A JP63227009 A JP 63227009A JP 22700988 A JP22700988 A JP 22700988A JP H0273531 A JPH0273531 A JP H0273531A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
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- G—PHYSICS
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁性薄膜を記録媒体とし、レーザ光などの光ビ
ームを記録記録媒体に照射することにより情報の記録、
再生、消去をおこなう光磁気記録再生装置に関するもの
である。
ームを記録記録媒体に照射することにより情報の記録、
再生、消去をおこなう光磁気記録再生装置に関するもの
である。
従来の技術
従来の光磁気記録再生装置の概略構成の一例を第６図に
しめす。
しめす。
第６図において、１は半導体レーザ、２はコリメートレ
ンズ、３はビーム整形手段、４はハーフミラ−１５は対
物レンズであって光集光部を形成する。６は記録媒体、
７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ、９．１
０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、１２．１
３は光検出器である。
ンズ、３はビーム整形手段、４はハーフミラ−１５は対
物レンズであって光集光部を形成する。６は記録媒体、
７は１／２波長板、８は偏光ビームスプリッタ、９．１
０は凸レンズ、１１はフォーカス誤差検出器、１２．１
３は光検出器である。
この構成では、凸レンズ９．フォーカス誤差検出器１１
．光検出器１２とでフォーカス誤差検出手段を、凸レン
ズ１０．光検出器１３とでトラッキング誤差検出手段を
形成している。
．光検出器１２とでフォーカス誤差検出手段を、凸レン
ズ１０．光検出器１３とでトラッキング誤差検出手段を
形成している。
以下、図面を参照しながら従来の光磁気記録再生装置の
動作について説明する。
動作について説明する。
半導体レーザ１からの発散光は、コリメートレンズ２を
経て平行光となり、ビーム整形手段３を経て断面が略円
形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を透過
し、対物レンズ５を経て記録媒体６上に光スポットを形
成する。
経て平行光となり、ビーム整形手段３を経て断面が略円
形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を透過
し、対物レンズ５を経て記録媒体６上に光スポットを形
成する。
記録媒体６から反射光は対物レンズ５を経てハーフミラ
−４で反射および透過する。反射した光は１／２波長板
７を経て検光子である偏光ビームスプリッタ８で分割さ
れ、それぞれレンズ凸９゜１０で集光されて光検出器１
２．１３に入射する。
−４で反射および透過する。反射した光は１／２波長板
７を経て検光子である偏光ビームスプリッタ８で分割さ
れ、それぞれレンズ凸９゜１０で集光されて光検出器１
２．１３に入射する。
情報検出については、記録媒体６に照射された直線偏光
の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向きに
応じてカー効果により回転することから、上記構成の光
検出器１２．１３の出力が磁化の向きにより変化する。
の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向きに
応じてカー効果により回転することから、上記構成の光
検出器１２．１３の出力が磁化の向きにより変化する。
さらに記録媒体雑音などキャンセルするため２個の検出
器１２．１３で差動検出構成を取り、情報を再生してい
る。
器１２．１３で差動検出構成を取り、情報を再生してい
る。
さらに誤差信号検出については、凸レンズ９で集光され
、フォーカス誤差検出器１１を経て光検出器１２に入射
する光ビームによってフォーカス誤差信号が検出される
。またトラッキング誤差信号は、凸レンズ１０で集光さ
れ光検出器１３に入射する光ビームによって検出される
。
、フォーカス誤差検出器１１を経て光検出器１２に入射
する光ビームによってフォーカス誤差信号が検出される
。またトラッキング誤差信号は、凸レンズ１０で集光さ
れ光検出器１３に入射する光ビームによって検出される
。
第７図にトラッキング誤差検出の詳細図をしめす。
光検出器１３は２分割光検出器であり、入射する光ビー
ムの光量を２等分する位置に設定すれば、いわゆるプッ
シュプル検出によってトラッキング誤差信号を検出でき
る。
ムの光量を２等分する位置に設定すれば、いわゆるプッ
シュプル検出によってトラッキング誤差信号を検出でき
る。
発明が解決しようとする課題
上述した従来の光磁気記録再生装置は検光子として偏光
ビームスプリッタを用いて直交方向に２分割し、それぞ
れの光をさらに集光し、２個の光検出器に入射させてい
るため光学系が大型化するという欠点があった。
ビームスプリッタを用いて直交方向に２分割し、それぞ
れの光をさらに集光し、２個の光検出器に入射させてい
るため光学系が大型化するという欠点があった。
さらにプッシュプル検出をするために、装置の組立調整
時には、誤差信号を検出しながら光検出器１３を位置決
めせねばならない。また、凸レンズ１０による収れん光
束によって光検出器１３上に形成された比較的小さな光
スポットでプッシュプル検出を行うと、温度変化にとも
なうトラッキング誤差信号のドリフトが発生しやすい。
時には、誤差信号を検出しながら光検出器１３を位置決
めせねばならない。また、凸レンズ１０による収れん光
束によって光検出器１３上に形成された比較的小さな光
スポットでプッシュプル検出を行うと、温度変化にとも
なうトラッキング誤差信号のドリフトが発生しやすい。
このドリフトを避けるために、光検出器１３上に比較的
大きな光スポットをプッシュプル検出を行うと光検出器
１３自体が大型化し、検出信号を高い周波数域まで得る
ことが出来ないという数多くの欠点を有していた。
大きな光スポットをプッシュプル検出を行うと光検出器
１３自体が大型化し、検出信号を高い周波数域まで得る
ことが出来ないという数多くの欠点を有していた。
本発明は上記課題に鑑み、光学系が小型であり、かつト
ラッキング誤差検出方式であるプッシュプル検出を行う
ために、装置の組立調整時に誤差信号を検出しながら光
検出器を位置決めする必要が無い。しかも温度変化にと
もなうドリフトが発生しにくいプッシュプル検出でトラ
ッキング誤差信号を検出し、かつ検出信号を高い周波数
域まで得ることが出来る光磁気記録再生装置を提供する
ものである。
ラッキング誤差検出方式であるプッシュプル検出を行う
ために、装置の組立調整時に誤差信号を検出しながら光
検出器を位置決めする必要が無い。しかも温度変化にと
もなうドリフトが発生しにくいプッシュプル検出でトラ
ッキング誤差信号を検出し、かつ検出信号を高い周波数
域まで得ることが出来る光磁気記録再生装置を提供する
ものである。
課題を解決するための手段
この目的を達成するために本発明はの光磁気記録再生装
置は、磁性薄膜などからなる記録媒体と、光源である半
導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリメート
レンズ、記録媒体に光スポットを形成する対物レンズな
どからなる光集光部と、記録媒体からの反射光が入射す
るハーフミラ−と、ハーフミラ−で反射された光ビーム
が入射して情報信号を検出する情報検出手段、フォーカ
ス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段、トラッ
キング誤差信号を検出するトラッキング誤差検出手段と
を具備し、この情報検出手段、トラッキング誤差検出手
段は、直角三角プリズムと、直角三角プリズムの斜面に
接着され、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面でな
い２つの反射面を有する光束分割プリズムとで構成され
、接着面である斜面にはＳ偏光を反射させＰ偏光を透過
させる偏光膜を有する検光子と、この検光子を経た光ビ
ームを集光する凸レンズと、凸レンズを経た収れん光が
入射する少なくとも１個以上の光検出器とで構成された
ことを特徴としている。
置は、磁性薄膜などからなる記録媒体と、光源である半
導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリメート
レンズ、記録媒体に光スポットを形成する対物レンズな
どからなる光集光部と、記録媒体からの反射光が入射す
るハーフミラ−と、ハーフミラ−で反射された光ビーム
が入射して情報信号を検出する情報検出手段、フォーカ
ス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段、トラッ
キング誤差信号を検出するトラッキング誤差検出手段と
を具備し、この情報検出手段、トラッキング誤差検出手
段は、直角三角プリズムと、直角三角プリズムの斜面に
接着され、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面でな
い２つの反射面を有する光束分割プリズムとで構成され
、接着面である斜面にはＳ偏光を反射させＰ偏光を透過
させる偏光膜を有する検光子と、この検光子を経た光ビ
ームを集光する凸レンズと、凸レンズを経た収れん光が
入射する少なくとも１個以上の光検出器とで構成された
ことを特徴としている。
作用
この構成によって、記録媒体からの反射光のうち、Ｓ偏
光は検光子を形成する直角三角プリズムと光束分割プリ
ズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に設けられ
た偏光膜で反射される。−方Ｐ偏光は偏光膜を透過して
、斜面に接着された光束分割プリズムのうち同一平面で
ない２つの反射面で空間的に２分割されて反射される。
光は検光子を形成する直角三角プリズムと光束分割プリ
ズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に設けられ
た偏光膜で反射される。−方Ｐ偏光は偏光膜を透過して
、斜面に接着された光束分割プリズムのうち同一平面で
ない２つの反射面で空間的に２分割されて反射される。
この２分割された反射光であるＰ偏光は、再び接着面（
直角三角プリズムの斜面）に設けられた偏光膜を透過し
て、偏光膜で反射されたＳ偏光の光束と同方向の光軸を
有することになる。したがって、情報信号を検出するた
めのＳ偏光、Ｐ偏光が同方向の光軸を有する光束で得ら
れるため、光検出器を一箇所にまとめることができ、光
学系の小型化をはかれる。かつトラッキング誤差検出方
式であるプッシュプル検出を行うために、Ｐ偏光の光束
が２分割されているので、装置の組立調整時に、誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要が無い。
直角三角プリズムの斜面）に設けられた偏光膜を透過し
て、偏光膜で反射されたＳ偏光の光束と同方向の光軸を
有することになる。したがって、情報信号を検出するた
めのＳ偏光、Ｐ偏光が同方向の光軸を有する光束で得ら
れるため、光検出器を一箇所にまとめることができ、光
学系の小型化をはかれる。かつトラッキング誤差検出方
式であるプッシュプル検出を行うために、Ｐ偏光の光束
が２分割されているので、装置の組立調整時に、誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要が無い。
しかもＰ偏光の光束２分割は、平行光束で大きなビーム
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ偏光の光
ビームは凸レンズで集光されて、光検出器の異なる受光
領域に小さな光スポットを形成するため光検出器自体は
小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが出
来る。
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ偏光の光
ビームは凸レンズで集光されて、光検出器の異なる受光
領域に小さな光スポットを形成するため光検出器自体は
小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが出
来る。
である。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。第１図は本発明の一実施例における光磁気記録
再生装置の概略構成図である。
明する。第１図は本発明の一実施例における光磁気記録
再生装置の概略構成図である。
第１図において、１は半導体レーザ、２はコリメートレ
ンズ、３はビーム整形手段、４はハーフミラ−１５は対
物レンズであって光集光部を形成する。６は記録媒体、
７は１／２波長板であって第４図の構成と同一である。
ンズ、３はビーム整形手段、４はハーフミラ−１５は対
物レンズであって光集光部を形成する。６は記録媒体、
７は１／２波長板であって第４図の構成と同一である。
なお記録媒体６のトラックは図中に示すように紙面平行
方向である。
方向である。
１４は検光子であって直角三角プリズム１５と、直角三
角プリズム１５の斜面に接着され、接着面とは異なる面
で、かつ同一の平面でない２つの反射面を有する光束分
割プリズム１６とで構成され、接着面である斜面にはＳ
偏光を反射させＰ偏光を透過させる偏光膜１７を有する
。この検光子１４は、直角三角プリズム１５の直角を構
成する一面１５ａを記録媒体からの反射光にたいして直
角に向けると共に、入射光が直角三角プリズム１５の斜
面で反射し直角三角プリズム１５の直角を構成する他面
１５ｂを通して出射するように配置している。
角プリズム１５の斜面に接着され、接着面とは異なる面
で、かつ同一の平面でない２つの反射面を有する光束分
割プリズム１６とで構成され、接着面である斜面にはＳ
偏光を反射させＰ偏光を透過させる偏光膜１７を有する
。この検光子１４は、直角三角プリズム１５の直角を構
成する一面１５ａを記録媒体からの反射光にたいして直
角に向けると共に、入射光が直角三角プリズム１５の斜
面で反射し直角三角プリズム１５の直角を構成する他面
１５ｂを通して出射するように配置している。
１８は検光子１４を経た光ビームを集光する凸レンズ、
１９はフォーカス誤差検出器、２０は光検出器である。
１９はフォーカス誤差検出器、２０は光検出器である。
この構成で、検光子１４．凸レンズ１日、フォーカス誤
差検出器１９．光検出器２０によってフォーカス誤差検
出手段を、検光子１４．凸レンズ１８．光検出器２０に
よってトラッキング誤差検出手段を形成している。
差検出器１９．光検出器２０によってフォーカス誤差検
出手段を、検光子１４．凸レンズ１８．光検出器２０に
よってトラッキング誤差検出手段を形成している。
以下、図面を参照しながら本発明の光磁気記録再生装置
の動作について説明する。
の動作について説明する。
半導体レーザｌからの発散光は、コリメートレンズ２を
経て平行光となり、ビーム整形手段３を経て断面が略円
形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を透過
し、対物レンズ５を経て記録媒体６上に光スポットを形
成する。
経て平行光となり、ビーム整形手段３を経て断面が略円
形のビームと成る。このビームはハーフミラ−４を透過
し、対物レンズ５を経て記録媒体６上に光スポットを形
成する。
記録媒体６から反射光は対物レンズ５を経てハーフミラ
−４で反射および透過する。反射した光は１／２波長板
７を経て検光子１４に入射する。
−４で反射および透過する。反射した光は１／２波長板
７を経て検光子１４に入射する。
ここまでの動作は、第４図の従来例の動作と同一である
。
。
検光子１４を形成する直角三角プリズム１５の一面１５
ａに垂直入射した、記録媒体６からの反射光のうち、Ｓ
偏光は検光子１４を形成する直角三角プリズムと光束分
割プリズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に形
成された偏光膜１７で反射される。一方Ｐ偏光は偏光膜
１７を透過して、斜面に接着された光束分割プリズム１
６のうち同一平面でない２つの反射面で空間的に２分割
されて反射される。この２分割された反射光であるＰ偏
光は、再び接着面（直角三角プリズムの斜面）に設けら
れた偏光膜１７を透過して、偏光膜で反射されたＳ偏光
の光束と同方向の光軸を有して、直角三角プリズム１５
の一面１５ｂから略垂直出射する。
ａに垂直入射した、記録媒体６からの反射光のうち、Ｓ
偏光は検光子１４を形成する直角三角プリズムと光束分
割プリズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に形
成された偏光膜１７で反射される。一方Ｐ偏光は偏光膜
１７を透過して、斜面に接着された光束分割プリズム１
６のうち同一平面でない２つの反射面で空間的に２分割
されて反射される。この２分割された反射光であるＰ偏
光は、再び接着面（直角三角プリズムの斜面）に設けら
れた偏光膜１７を透過して、偏光膜で反射されたＳ偏光
の光束と同方向の光軸を有して、直角三角プリズム１５
の一面１５ｂから略垂直出射する。
ここでは第２図は検光子１４の詳細図である。
記録媒体６からの反射光は、直角三角プリズム１５の一
面１５ａに垂直な入射光軸を持つ入射光束である。この
入射光束のうち、Ｓ偏光は、偏光膜１７で反射されて直
角三角プリズム１５の一面１５ｂに垂直な第一出射光軸
を持つ光束として出射する（第一出射光束）。
面１５ａに垂直な入射光軸を持つ入射光束である。この
入射光束のうち、Ｓ偏光は、偏光膜１７で反射されて直
角三角プリズム１５の一面１５ｂに垂直な第一出射光軸
を持つ光束として出射する（第一出射光束）。
一方Ｐ偏光は偏光膜１７を透過して、斜面に接着された
光束分割プリズム１６に入射する。光束分割プリズム１
６は、Ｑ矢視図に示すように接着面（偏光膜１７）に対
して反対の向きの角度（Ｘ）を持つ同一平面でない２つ
の反射面Ｊ、Ｋを有するため、光束分割プリズム１６に
入射したＰ偏光は反射面Ｊ。
光束分割プリズム１６に入射する。光束分割プリズム１
６は、Ｑ矢視図に示すように接着面（偏光膜１７）に対
して反対の向きの角度（Ｘ）を持つ同一平面でない２つ
の反射面Ｊ、Ｋを有するため、光束分割プリズム１６に
入射したＰ偏光は反射面Ｊ。
Ｋによって空間２分割され、偏光膜１７に対して反対の
向き角度（２Ｘ）を持つ光束となる。この２分割された
反射光であるＰ偏光は、再び偏光膜１７を有する斜面を
透過して、直角三角プリズム１５の一面１５ｂに略垂直
な第二出射光軸を持つ光束として出射する（第二出射光
束）。
向き角度（２Ｘ）を持つ光束となる。この２分割された
反射光であるＰ偏光は、再び偏光膜１７を有する斜面を
透過して、直角三角プリズム１５の一面１５ｂに略垂直
な第二出射光軸を持つ光束として出射する（第二出射光
束）。
したがって記録媒体６からの反射信号は検光子１４を経
ることにより、Ｓ偏光とＰ偏光とに分離され、かつ両光
束は各々第一出射光軸、第二出射光軸という同方向の光
軸を有する、第一出射光束。
ることにより、Ｓ偏光とＰ偏光とに分離され、かつ両光
束は各々第一出射光軸、第二出射光軸という同方向の光
軸を有する、第一出射光束。
第二出射光束として、直角三角プリズム１５の一面１５
ｂから略垂直出射する。
ｂから略垂直出射する。
これらの射出光束、全てレンズ１８で集光されて、フォ
ーカス誤差検出器１９を経て光検出器２０に入射する。
ーカス誤差検出器１９を経て光検出器２０に入射する。
第３図に本実施例のトラッキング誤差検出の詳細図をし
めす。
めす。
光検出器２０は多分割光検出器であり、フォーカス誤差
検出器１９を経て中央部の受光領域に入射する光ビーム
（検出器１４の第一出射光束、Ｓ偏光）によってフォー
カス誤差信号を検出することが出来る。
検出器１９を経て中央部の受光領域に入射する光ビーム
（検出器１４の第一出射光束、Ｓ偏光）によってフォー
カス誤差信号を検出することが出来る。
一方、中央部の受光領域の両隣に存在する２つの受光領
域■、Ｗには、検出器１４で光束が二分割された光ビー
ム（第二出射光束、Ｐ偏光）がフォーカス誤差検出器を
経て各々入射する。従って受光領域Ｖ、Ｗの検出信号の
差動を取ることによってトラッキング誤差信号をプッシ
ュプル方式で検出することが出来る。
域■、Ｗには、検出器１４で光束が二分割された光ビー
ム（第二出射光束、Ｐ偏光）がフォーカス誤差検出器を
経て各々入射する。従って受光領域Ｖ、Ｗの検出信号の
差動を取ることによってトラッキング誤差信号をプッシ
ュプル方式で検出することが出来る。
情報検出については、記録媒体６に照射された直線偏光
の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向きに
応じてカー効果により回転することから、上記構成の光
検出器２０において、中央部の受光領域（Ｓ偏光）と両
隣の受光領域Ｖ、 Ｗ（Ｐ偏光）の出力が磁化の向きに
より変化する。
の半導体レーザ光の反射光はその偏波面が磁化の向きに
応じてカー効果により回転することから、上記構成の光
検出器２０において、中央部の受光領域（Ｓ偏光）と両
隣の受光領域Ｖ、 Ｗ（Ｐ偏光）の出力が磁化の向きに
より変化する。
さらに記録媒体雑音などキャンセルするため、中央部の
受光領域（Ｓ偏光）と両隣の受光領域■。
受光領域（Ｓ偏光）と両隣の受光領域■。
ｗ（ｐ偏光）の出力の差動検出構成を取り、情報を再生
している。
している。
以上のように本実施例によれば、検光子１４は直角三角
プリズム１５と、直角三角プリズム１５の斜面に接着さ
れ、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面でない２つ
の反射面に、 Ｊを有する光束分割プリズム１６とで
構成され、接着面（直角三角プリズム１５の斜面）にＳ
偏光を反射させＰ偏光を透過させる偏光膜１７が設けら
れている。この検光子１４は、直角三角プリズム１５の
直角を構成する一面１５ａを記録媒体からの反射光にた
いして直角に向けると共に、入射光が直角三角プリズム
１５の斜面で反射し直角三角プリズム１５の直角を構成
する他面１５ｂを通して出射するように配置している。
プリズム１５と、直角三角プリズム１５の斜面に接着さ
れ、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面でない２つ
の反射面に、 Ｊを有する光束分割プリズム１６とで
構成され、接着面（直角三角プリズム１５の斜面）にＳ
偏光を反射させＰ偏光を透過させる偏光膜１７が設けら
れている。この検光子１４は、直角三角プリズム１５の
直角を構成する一面１５ａを記録媒体からの反射光にた
いして直角に向けると共に、入射光が直角三角プリズム
１５の斜面で反射し直角三角プリズム１５の直角を構成
する他面１５ｂを通して出射するように配置している。
この構成によって、情報信号を検出するためのＳ偏光、
Ｐ偏光が同方向の光軸を有する光束で得られるため、従
来具なる位置に複数個必要であった光検出器を、情報検
出、フォーカス誤差検出。
Ｐ偏光が同方向の光軸を有する光束で得られるため、従
来具なる位置に複数個必要であった光検出器を、情報検
出、フォーカス誤差検出。
トラッキング誤差検出を含めて一個にまとめることがで
き、光学系の大幅な小型化をはかれる。かつフォーカス
誤差検出のために光検出器２０を調整する必要はあって
も、トラッキング誤差検出方式であるプッシュプル検出
を行うためには、あらかじめＰ偏光の光束が２分割され
ているので、装置の組立調整時に、トラッキング誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要が無い。
き、光学系の大幅な小型化をはかれる。かつフォーカス
誤差検出のために光検出器２０を調整する必要はあって
も、トラッキング誤差検出方式であるプッシュプル検出
を行うためには、あらかじめＰ偏光の光束が２分割され
ているので、装置の組立調整時に、トラッキング誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要が無い。
しかもＰ偏光の光束２分割は、平行光束で大きなビーム
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ （ＦＡ
光の光ビームは凸レンズ１８で集光されて、光検出器２
０の異なる受光領域■。
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ （ＦＡ
光の光ビームは凸レンズ１８で集光されて、光検出器２
０の異なる受光領域■。
Ｗに小さな光スポットを形成するため光検出器２０自体
を小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが
出来る。
を小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが
出来る。
したがって、光学系が小型であり、かつトラッキング誤
差検出方式であるプッシュプル検出を行うために、装置
の組立調整時に、誤差信号を検出しながらの光検出器の
位置決め調整を削除することが出来る。
差検出方式であるプッシュプル検出を行うために、装置
の組立調整時に、誤差信号を検出しながらの光検出器の
位置決め調整を削除することが出来る。
しかも、温度変化にともなうドリフトが発生しにくいプ
ッシュプル検出でトランキング誤差信号を検出すること
ができ、かつ光検出器自体を小型化できて、検出信号を
高い周波数域まで得ることが出来る。
ッシュプル検出でトランキング誤差信号を検出すること
ができ、かつ光検出器自体を小型化できて、検出信号を
高い周波数域まで得ることが出来る。
なお、本発明では、光束分割プリズム１６を、接着面（
偏光膜１７）に対して反対の向きの角度（Ｘ）を持つ同
一平面でない２つの反射面Ｊ、Ｋを有する形状としたが
、光束分割プリズムは第４図に示す２個のくさびプリズ
ムの組合せや、第５図に示す２個の平行板の組合せなど
であっても同様の機能かえられる。つまり、光束分割プ
リズムは、直角三角プリズム１５の斜面に接着され、接
着面とは異なる面で、かつ同一の平面でない２つの反射
面を有するプリズムであって、偏光膜１７を透過したＰ
偏光の光束を空間的に二分割する機能を持っていればよ
い。
偏光膜１７）に対して反対の向きの角度（Ｘ）を持つ同
一平面でない２つの反射面Ｊ、Ｋを有する形状としたが
、光束分割プリズムは第４図に示す２個のくさびプリズ
ムの組合せや、第５図に示す２個の平行板の組合せなど
であっても同様の機能かえられる。つまり、光束分割プ
リズムは、直角三角プリズム１５の斜面に接着され、接
着面とは異なる面で、かつ同一の平面でない２つの反射
面を有するプリズムであって、偏光膜１７を透過したＰ
偏光の光束を空間的に二分割する機能を持っていればよ
い。
ただし、第１図に示した紙面平行方向にトラックが存在
する配置の光磁気記録再生装置においては、第２図、第
４図、第５図のような光束分割プリズムを用いて紙面垂
直方向に光束を分割して、プッシュプル検出によるトラ
ッキング誤差信号を得ればよいが、例えばトラックが紙
面垂直方向に存在する配置の光磁気記録再生装置におい
ては、紙面平行方向に光束を分割して、プッシュプル検
出によるトラッキング誤差信号を得れるように光束分割
プリズムの向きを設定して直角三角プリズムを接着すれ
ば良いことはいうまでもない。
する配置の光磁気記録再生装置においては、第２図、第
４図、第５図のような光束分割プリズムを用いて紙面垂
直方向に光束を分割して、プッシュプル検出によるトラ
ッキング誤差信号を得ればよいが、例えばトラックが紙
面垂直方向に存在する配置の光磁気記録再生装置におい
ては、紙面平行方向に光束を分割して、プッシュプル検
出によるトラッキング誤差信号を得れるように光束分割
プリズムの向きを設定して直角三角プリズムを接着すれ
ば良いことはいうまでもない。
発明の効果
本発明は、磁性薄膜などからなる記録媒体と、光源であ
る半導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリメ
ートレンズ、記録媒体に光スポットを形成する対物レン
ズなどからなる光集光部と、記録媒体からの反射光が入
射するハーフミラ−とハーフミラ−で反射された光ビー
ムが入射して情報信号を検出する情報検出手段、フォー
カス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段、トラ
ッキング誤差信号を検出するトラッキング誤差検出手段
とを具備し、情報検出手段、トラッキング誤差検出手段
は、直角三角プリズムと、この直角三角プリズムの斜面
に接着され、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面で
ない２つの反射面を有する光束分割プリズムとで構成さ
れ、接着面である斜面にはＳ偏光を反射させＰ偏光を透
過させる偏光膜を有する検光子と、検光子を経た光ビー
ムを集光する凸レンズ、凸レンズを経た収れん光が入射
する少なくとも１個以上の光検出器とで構成されたこと
を特徴とすることにより、記録媒体からの反射光のうち
、Ｓ偏光は検光子を形成する直角三角プリズムと光束分
割プリズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に設
けられた偏光膜で反射される。
る半導体レーザからの発散光を平行光に変換するコリメ
ートレンズ、記録媒体に光スポットを形成する対物レン
ズなどからなる光集光部と、記録媒体からの反射光が入
射するハーフミラ−とハーフミラ−で反射された光ビー
ムが入射して情報信号を検出する情報検出手段、フォー
カス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段、トラ
ッキング誤差信号を検出するトラッキング誤差検出手段
とを具備し、情報検出手段、トラッキング誤差検出手段
は、直角三角プリズムと、この直角三角プリズムの斜面
に接着され、接着面とは異なる面で、かつ同一の平面で
ない２つの反射面を有する光束分割プリズムとで構成さ
れ、接着面である斜面にはＳ偏光を反射させＰ偏光を透
過させる偏光膜を有する検光子と、検光子を経た光ビー
ムを集光する凸レンズ、凸レンズを経た収れん光が入射
する少なくとも１個以上の光検出器とで構成されたこと
を特徴とすることにより、記録媒体からの反射光のうち
、Ｓ偏光は検光子を形成する直角三角プリズムと光束分
割プリズムとの接着面（直角三角プリズムの斜面）に設
けられた偏光膜で反射される。
一方Ｐ偏光は偏光膜を透過して、斜面に接着された光束
分割プリズムのうち同一平面でない２つの反射面で空間
的に２分割されて反射される。この２分割された反射光
であるＰ偏光は、再び接着面（直角三角プリズムの斜面
）に設けられた偏光膜を透過して、偏光膜で反射された
Ｓ偏光の光束と同方向の光軸を有することになる。
分割プリズムのうち同一平面でない２つの反射面で空間
的に２分割されて反射される。この２分割された反射光
であるＰ偏光は、再び接着面（直角三角プリズムの斜面
）に設けられた偏光膜を透過して、偏光膜で反射された
Ｓ偏光の光束と同方向の光軸を有することになる。
したがって、情報信号を検出するためのＳ偏光。
Ｐ偏光が同方向の光軸を有する光束で得られるため、光
検出器を一箇所にまとめることができ、光学系の小型化
をはかれる。かつ、トラッキング誤差検出方式であるプ
ッシュプル検出を行うために、あらかじめＰ偏光の光束
が２分割されているので、装置の組立調整時に、誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要は無い。
検出器を一箇所にまとめることができ、光学系の小型化
をはかれる。かつ、トラッキング誤差検出方式であるプ
ッシュプル検出を行うために、あらかじめＰ偏光の光束
が２分割されているので、装置の組立調整時に、誤差信
号を検出しながら光検出器を位置決めする必要は無い。
しかもＰ偏光の光束２分割は、平行光束で大きなビーム
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ偏光の光
ビームは凸レンズで集光されて、光検出器の異なる受光
領域に小さな光スポットを形成するため光検出器自体を
小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが可
能となるという優れた効果を得られる光磁気記録再生装
置を実現できるものである。
径の時に行うために、温度変化にともなうドリフトが発
生しにくいプッシュプル検出でトラッキング誤差信号を
検出することができ、かつこの２分割されたＰ偏光の光
ビームは凸レンズで集光されて、光検出器の異なる受光
領域に小さな光スポットを形成するため光検出器自体を
小型化でき、検出信号を高い周波数域まで得ることが可
能となるという優れた効果を得られる光磁気記録再生装
置を実現できるものである。
第１図は本発明の一実施例における光磁気記録再生装置
の概略構成図、第２図はその実施例の検光子の詳細図、
第３図はその実施例のトラッキング誤差検出の詳細図、
第４図、第５図は光束分割プリズムの他の実施例を示す
説明図、第６図は従来の光磁気記録再生装置の概略構成
図、第７図は従来例のトラッキング誤差検出の詳細図で
ある。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・ビーム整形手段、４・・・・
・・ハーフミラ−５・・・・・・対物レンズ、６・・・
・・・記録媒体、７・・・・・・１／２波長板、８・・
・・・・偏光ビームスプリ・ンタ、９．１０゜Ｉ８・・
・・・・レンズ、１１．１９・・・・・・フォーカス誤
差検出器、１２、１３．２０・・・・・・光検出器、１
５・・・・・・直角三角プリズム、１６・・・・・・光
分割プリズム、１７・・・・・・偏光膜。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか１名第１図 へ ろ鞄ｉＮ ｋ１体 受光４Ｉｌ成Ｖ ／ ２０＊、楕田酪 第 ４ 図 １５面 嘉 図
の概略構成図、第２図はその実施例の検光子の詳細図、
第３図はその実施例のトラッキング誤差検出の詳細図、
第４図、第５図は光束分割プリズムの他の実施例を示す
説明図、第６図は従来の光磁気記録再生装置の概略構成
図、第７図は従来例のトラッキング誤差検出の詳細図で
ある。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・ビーム整形手段、４・・・・
・・ハーフミラ−５・・・・・・対物レンズ、６・・・
・・・記録媒体、７・・・・・・１／２波長板、８・・
・・・・偏光ビームスプリ・ンタ、９．１０゜Ｉ８・・
・・・・レンズ、１１．１９・・・・・・フォーカス誤
差検出器、１２、１３．２０・・・・・・光検出器、１
５・・・・・・直角三角プリズム、１６・・・・・・光
分割プリズム、１７・・・・・・偏光膜。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか１名第１図 へ ろ鞄ｉＮ ｋ１体 受光４Ｉｌ成Ｖ ／ ２０＊、楕田酪 第 ４ 図 １５面 嘉 図
Claims (1)
- 磁性薄膜などからなる記録媒体と、光源である半導体レ
ーザからの発散光を平行光に変換するコリメートレンズ
、前記記録媒体に光スポットを形成する対物レンズなど
からなる光集光部と、前記記録媒体からの反射光が入射
するハーフミラーと、前記ハーフミラーで反射された光
ビームが入射して情報信号を検出する情報検出手段、フ
ォーカス誤差信号を検出するフォーカス誤差検出手段、
トラッキング誤差信号を検出するトラッキング誤差検出
手段とを具備し、前記情報検出手段、前記トラッキング
誤差検出手段は、直角三角プリズムと、前記直角三角プ
リズムの斜面に接着され、接着面とは異なる面で、かつ
同一の平面でない２つの反射面を有する光束分割プリズ
ムとで構成され、接着面である斜面にはＳ偏光を反射さ
せＰ偏光を透過させる偏光膜を有する検光子と、前記検
光子を経た光ビームを集光する凸レンズと、前記凸レン
ズを経た収れん光が入射する少なくとも１個以上の光検
出器とで構成されたことを特徴とする光磁気記録再生装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227009A JPH0273531A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 光滋気記録再生装置 |
| US07/403,446 US5150350A (en) | 1988-09-09 | 1989-09-06 | Magneto-optical data recording and reproducing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227009A JPH0273531A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 光滋気記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0273531A true JPH0273531A (ja) | 1990-03-13 |
Family
ID=16854083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63227009A Pending JPH0273531A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 光滋気記録再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5150350A (ja) |
| JP (1) | JPH0273531A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3159746B2 (ja) * | 1991-01-11 | 2001-04-23 | 旭光学工業株式会社 | 光磁気ディスク装置の信号検出系 |
| US5646778A (en) * | 1991-05-28 | 1997-07-08 | Discovision Associates | Optical beamsplitter |
| US5331622A (en) * | 1991-05-28 | 1994-07-19 | Applied Magnetics Corporation | Compact optical head |
| JPH05128627A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-05-25 | Pioneer Electron Corp | 光学式記録再生装置の光ピツクアツプ |
| US5631559A (en) * | 1993-03-05 | 1997-05-20 | Northeastern University | Method and apparatus for performing magnetic field measurements using magneto-optic kerr effect sensors |
| US5493220A (en) * | 1993-03-05 | 1996-02-20 | Northeastern University | Magneto-optic Kerr effect stress sensing system |
| JP3047342B2 (ja) * | 1993-06-21 | 2000-05-29 | 富士通株式会社 | 光学的情報記録再生装置 |
| KR100211820B1 (ko) * | 1996-12-30 | 1999-08-02 | 전주범 | 광 픽업 장치 |
| JP2008130152A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Sony Corp | 光ピックアップ及びこれを用いた光ディスク装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273445A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-04 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
| JPS63181145A (ja) * | 1987-01-21 | 1988-07-26 | Hitachi Ltd | 磁気光学ヘツド |
| JPH01179245A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-17 | Nec Corp | 光磁気ヘッド |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0205940B1 (de) * | 1985-05-31 | 1989-08-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Optisches System zum Führen des Lesestrahles bei einem magneto-optischen Speicher |
| EP0225564A3 (en) * | 1985-11-30 | 1988-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| JPS62226454A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-10-05 | Nec Corp | 光磁気記録再生装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP63227009A patent/JPH0273531A/ja active Pending
-
1989
- 1989-09-06 US US07/403,446 patent/US5150350A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273445A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-04 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
| JPS63181145A (ja) * | 1987-01-21 | 1988-07-26 | Hitachi Ltd | 磁気光学ヘツド |
| JPH01179245A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-17 | Nec Corp | 光磁気ヘッド |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5150350A (en) | 1992-09-22 |
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