JP3949793B2 - 光ピックアップ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は基板厚の異なる記録媒体に対して、情報の記録および再生の少なくとも一方を行う光記録再生装置の光ピックアップに関する。
【0002】
【従来技術】
基板厚の異なる2種類の記録媒体(光ディスク)に対して情報の記録再生を行う光ピックアップとしては、例えば特開平6−333255号公報に開示された光ピックアップが知られている。
【0003】
この特開平6−333255号公報に開示されている光ピックアップは、図3及び図4に図示するように、基板厚の薄い光ディスク131に対応して設計された対物レンズ103aと、基板厚の厚い光ディスク141に対応して設計された対物レンズ103bとを有し、これらの対物レンズ103aおよび103bはレンズホルダ104に固着されている。レンズホルダ104は、固定部材108と一端で結合された磁気ヨーク102の上に配置されたマグネット101aおよび101b間に位置し、4本の金属サスペンション107a,107b,107c,107d(107a,107bのみ図示)を介して、フォーカス方向及びトラッキング方向に並進できるように支持されている。
【0004】
レンズホルダ104をフォーカス方向に駆動し位置制御するフォーカシングコイルはレンズホルダ104に直接巻回され、レンズホルダ104をトラッキング方向に駆動し位置制御するトラッキングコイルはレンズホルダ104に固着されている。マグネット101aおよび101bは磁気ヨーク102に固定されており、磁気回路を構成している。
【0005】
光学台116にはビーム分離ミラー112、ビームスプリッタ113、半導体レーザ114、フォトディテクタ115が配設されている。磁気ヨーク102は光学台116にネジ等の固定手段で固定されている。光学台116は図示しないキャリヤに保持されて、トラッキング方向に移動でき、光ディスク131や光ディスク141の記録範囲の全域に記録することができるようになっている。
【0006】
図4(a)では対物レンズ103a、103bと光ディスク131との集光状態を示している。図3において半導体レーザ114から出射された光ビーム117は光ビーム分離ミラー112で2つの光ビーム117a、117bに分離されて両対物レンズ103a、103bに同時に入射され、記録膜131b上に収束光として照射される。
【0007】
対物レンズ103aは光ディスク131に対応するように設計されているので、その収束光は記録膜131bの位置で最適光スポットを形成するが、対物レンズ103bは光ディスク131との間で光学特性つまり集光特性が不適当であるからその収束光は十分に収束されない。よって、フォトディテクタ115によって受光されるのは対物レンズ103aからの反射光であって、この反射光に基づいてフォーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号が検出され、結果として対物レンズ103aで記録再生されることになる。
【0008】
対物レンズ103bからの反射光は、記録膜131b上で収束されないため散乱してしまい、フォトディテクタ115に十分に入射されない(もしくはノイズが多くなってしまう)。
【0009】
また、図4(b)において、対物レンズ103bは光ディスク141の光学特性に対応して設計されているので、この対物レンズ103bによる収束光は記録膜141bの位置で最適光スポットを形成するが、対物レンズ103aは光ディスク141の光学特性に対し不適当であるからその収束光は十分に収束されない。
【0010】
よって、光ディスク141の場合には対物レンズ103bによって記録されることになる。
さらに、図4(a)、図4(b)において、ビーム分離ミラー112には光ビーム117を2つの光ビーム117a、117bに分離するために2つのミラー面112aとハーフミラー面112bが形成されている。ハーフミラー面112bは光ビーム117を100%反射せず、対物レンズ103aを介して光ディスク131に投射するのに適した光ビーム117aのパワーを得る透過率をもって設計され、ハーフミラー面112bで反射される光ビーム117bについては対物レンズ103bを介して光ディスク141に投射するのに適したパワーが得られるようにしている。
【0011】
これによって、異なる光学特性、特に基板厚の異なる光ディスク131、141に対して互換が可能となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上述した光ピックアップは以下に挙げる問題点を有している。
半導体レーザ114から射出される光ビームを対物レンズ103aと103bにそれぞれ分離するのにハーフミラー面112bを用いており、常に2つの光ビーム117a、117bを光ディスクに照射させている。しかしこのハーフミラー面112によって2つの光ビーム117a、117bに分離することにより、光効率が約半分になってしまうので、記録再生を行うには半導体レーザ114は通常の約2倍のパワーの光ビームを射出しなければならない。
【0013】
また、選択されない対物レンズからの反射光は散乱するためフォトディテクタ115には迷光として検出される。この迷光はノイズとなるため、フォーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号に影響が出てしまうことがある。
【0014】
本発明は、上記問題点を解決し、異なる基板厚の2種類の光ディスクに対して記録及び再生の少なくとも一方を行うことができ、かつ光量の損失をほとんど無くし光効率の良い光ピックアップを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光を射出する光源手段と、前記光源手段から射出された光の偏光の状態を、ネマティック液晶のTN効果を用いて選択的に90゜変化させる偏光切り換え手段と、前記偏光切り換え手段を経た光の偏光方向に応じて、その光を第1の光路と第2の光路に切り換える偏光ビームスプリッタと、前記第1の光路上に配置され、第1の基板厚を有する第1の記録媒体に応じて設計された第1の対物レンズと、前記第2の光路上に配置され、前記第1の基板厚とは異なる第2の基板厚を有する第2の記録媒体に応じて設計された第2の対物レンズと、を有する光ピックアップにおいて、前記偏光ビームスプリッタのビームスプリッタ面を反射するP偏光成分の割合をRp、S偏光成分の割合をRsとしたとき、0<Rp<50<Rs<100(%)となるように前記ビームスプリッタ面を構成するとともに、前記偏光ビームスプリッタと前記第1の対物レンズとの間の前記第1の光路上または前記偏光ビームスプリッタと前記第2の対物レンズとの間の前記第2の光路上に1/2波長板を配置したことを特徴とするものである。
さらに、本発明の好適実施の形態においては、前記1/2波長板を前記偏光ビームスプリッタに接合して配置したことを特徴とするものである。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第1実施形態にかかる光ピックアップについて図1及び図2を参照して説明する。図1は全体の光学系を示す概略図、図2は対物レンズ周辺の側面図である。
【0017】
まず、図1、図2を参照して、光ピックアップの構成を説明する。
1は光ビームを射出する光源の半導体レーザである。2は半導体レーザ1から射出された光ビームを平行光にするコリメータレンズである。3は一部の平行光を前方モニター用光検出器4方向へさし向けるハーフミラー、5は2枚の透明電極板5a,5bの間にネマティック液晶5cが分子配向を透明電極基板の上下へ90゜連続にねじられるようにして介在している液晶セルである。なお、5dは透明電極基板5a,5bに電圧を印加しネマティック液晶5cの分子配向を切り換える電源である。
【0018】
この液晶セル5についてさらに詳細に説明する。
液晶セル5は2枚の透明電極基板5a,5bの間に誘電異方性が正のネマティック液晶5cを数μm〜数百μmの厚さにサンドイッチし、その分子配向を2枚の透明電極基板5a,5b間で90゜連続的にねじらせている。液晶セル5は、その印加電圧によって入射直線偏光の偏光方向を選択的に90゜回転させて出射させる。即ち、印加される電圧が、あるしきい値未満では、ネマティック液晶5cは2枚の透明電極基板5a,5b間で90゜連続的にねじれた分子配向を維持し、入射直線偏光の偏光方向を90゜回転させて射出させる。これに対して、印加電圧がしきい値以上だと、ネマティック液晶5cは、その分子配向が電場方向に傾いて90゜の旋光性を消失し、入射直線偏光の偏光方向を回転させることなく射出させる。
【0019】
6は偏光ビームスプリッタで、ビームスプリッタ面6aと全反射面6bが形成されている。ビームスプリッタ面6aはP偏光成分を20%反射(Rp=20%)、S偏光成分を80%反射(Rs=80%)、P偏光成分を80%透過(Tp=80%)、S偏光成分を20%透過(Ts=20%)させる特性を持っている。全反射面6bには光を全反射させるためのコーティングが施されている。
【0020】
7は1/2波長板で、ビームスプリッタ面6aと後述する対物レンズ9の間の光路中に位置するように、ビームスプリッタ6に接着剤等によって接合されている。1/2波長板7は、対物レンズ9を介して光ディスクに照射される光ビームの直線偏光の方向を、光ディスクの情報トラックの接線方向に対して平行にするために、1/2波長板7に入射された光ビームの直線偏光の偏光面を回転させる作用を有する。
【0021】
8は偏光ビームスプリッタ6から射出された光ビームを対物レンズ方向に反射させる立ち上げ反射ミラーである。偏光ビームスプリッタ6から射出された光ビームは光ディスクの記録面と平行な面内を進行するものであるので、その光ビームを光ディスクの記録面と垂直な方向に立ち上げることにより対物レンズに光ビームを入射させるものである。
【0022】
9,10は対物レンズであって、対物レンズ9は基板厚1.2mmの光磁気ディスク(MO1)用に設計されており、対物レンズ10は基板厚0.6mmの光磁気ディスク(MO2)用に設計されている。なお、図示されてはいないが、対物レンズ9,10はホルダに保持されており、対物レンズ9,10を光ディスクの記録面に対し垂直な方向(フォーカシング方向)に駆動させるためのフォーカシングコイル及び光ディスクの情報トラックの接線方向に対し垂直な方向(トラッキング方向)に駆動させるためのトラッキングコイル等の駆動コイルが固着されている。
【0023】
11は1/2波長板で、ビームスプリッタ6と後述する光検出器との間の光路中に配置される。ビームスプリッタ6の反射光を出射する面上に接合してもよい。この1/2波長板は入射されてくる光ディスクからの反射光の偏光面を45゜回転させる作用を有している。
【0024】
12は偏光ビームスプリッタで、光ディスクからの反射光をビームスプリッタ面12aでS偏光成分を反射、P偏光成分を透過させる作用を有している。13,14は光検出器で、光検出器13はP偏光成分を受光し、光検出器14はS偏光成分を受光する。
【0025】
次に作用について説明する。
半導体レーザ1から出射された発散光ビームはコリメータレンズ2によって平行光ビームにされる。なお、半導体レーザ1から射出された光ビームはS偏光の直線偏光として説明する。平行光ビームはハーフミラー3に入射し、そこで一部の光ビームが反射され、前方モニター用光検出器4に受光される。前方モニター用光検出器4で受光された受光量に応じて、半導体レーザ1の出射パワーが制御される。ハーフミラー3を透過した光ビームは液晶セル5に入射し、その偏光方向が情報を再生しようとする光ディスクに応じて制御される。
【0026】
情報の再生を行おうとしている光ディスクが基板厚の厚い光磁気ディスクMO1の場合、電源5dは液晶セル5の透明電極基板5a,5bにしきい値以上の電圧を印加し、S偏光のまま射出させる。この光ビームは偏光ビームスプリッタ6に入射し、ビームスプリッタ面6aで反射され、1/2波長板7に入射する。1/2波長板7は、入射するS偏光の直線偏光の偏光面を90゜回転させるように、その主断面の方向が設定されており、入射されたS偏光の光ビームは偏光面を90゜回転させられ、P偏光と同じ偏光面を持つ光ビームとなって射出される。この光ビームは立ち上げ反射ミラー8によって反射され対物レンズ9に照射される。光ビームは対物レンズ9によって光磁気ディスクMO1に集光照射され、光磁気ディスクMO1の記録面上に光スポットが形成される。この光スポットはP偏光の直線偏光であり、その直線偏光の方向(偏光面の方向)は、情報トラックの接線方向に対し平行な関係である。
【0027】
光磁気ディスクMO1から反射した光ビームは、磁化の方向によって偏光面が±θK(カー回転角)の範囲で回転し、逆の経路を辿りビームスプリッタ面6aを透過し、1/2波長板11に入射して、その偏光面を45゜偏光面を回転させられる。偏光ビームスプリッタ12でP偏光成分とS偏光成分に分離され、それぞれ光検出器13および光検出器14に受光される。そして、光検出器13,14の出力から情報信号及び各サーボ信号を検出される。
【0028】
次に、情報の再生を行おうとしている光ディスクが基板厚の薄い光磁気ディスクMO2の場合、電源5dは液晶セル5の透明電極基板5a,5bに電圧を印加しない(もしくは、しきい値未満の電圧を印加)。したがって、液晶セル5に入射されたS偏光の直線偏光の光ビームはP偏光の直線偏光の光ビームに変換されて射出される。この光ビームは偏光ビームスプリッタ6に入射し、ビームスプリッタ面6aを透過、全反射面6bを反射してビームスプリッタ6を出射する。この光ビームは立ち上げ反射ミラー8によって反射され、光磁気ディスクMO2用の対物レンズ10に照射される。光ビームは対物レンズ10によって光磁気ディスクMO2に集光照射され、光磁気ディスクMO2の記録面上に光スポットが形成される。この光スポットはP偏光の直線偏光であり、その直線偏光の方向(偏光面の方向)は、情報トラックの接線方向に対し平行な関係である。つまり、光磁気ディスクMO1及び光磁気ディスクMO2にそれぞれ入射する光ビームはP偏光の直線偏光であり、かつ、情報トラックの接線方向に対し平行になる。
【0029】
光磁気ディスクMO2から反射した光ビームは、磁化の方向によって偏光面が±θK(カー回転角)の範囲で回転し、逆の経路を辿りビームスプリッタ面6aで反射し、1/2波長板11に入射して、その偏光面を45゜偏光面を回転させられる。偏光ビームスプリッタ12でP偏光成分とS偏光成分に分離され、それぞれ光検出器13および光検出器14に受光される。そして、光検出器13,14の出力から情報信号及び各サーボ信号を検出される。
【0030】
本実施形態によれば、偏光ビームスプリッタ6のビームスプリッタ面6aではRp<Rs、Tp>Tsとなるように偏光膜が形成されているため、見かけ上のカー回転角θkが増大し、良好なCN比での情報再生が可能となる。一般的には、偏光ビームスプリッタ6のビームスプリッタ面6aを透過または反射する光ビームにおいて、P偏光とS偏光に位相差が生じると、直線偏光ではなく楕円偏光になりCN比が低下してしまう。しかし、透過及び反射それぞれで位相差を0または最適値にビームスプリッタ面6aを設計することは困難である。これに対し本実施形態では、ビームスプリッタ面6aを透過する光ビームの位相差についてはビームスプリッタ面6aの偏光膜を最適に設計することで対応し、全反射面6bで反射する光ビームの位相差については全反射面6bの反射膜を最適に設計することで対応し、それぞれの位相差を最適値に補正することが可能となる。
【0031】
また、十分な出射効率を確保して、それぞれの光磁気ディスクに光ビームを照射させることができ、情報再生時のCN比も十分に確保することが可能である。
また、本実施形態では、偏光ビームスプリッタ6のビームスプリッタ面6aの特性をRp=20%、Rs=80%と設定したが、これに限定されることなく、Rp、Rsをそれぞれ0<Rp<50<Rs<100(%)に設定することで、同様の効果を得ることができる。
【0032】
また、偏光ビームスプリッタ6における透過、反射と対物レンズ9,10の配置関係についても種々変更が可能である。
【0033】
【発明の効果】
以上説明したように、本実施例によれば、異なる基板厚の2種類の光ディスクに対して記録及び再生の少なくとも一方を行うことができ、かつ光量の損失をほとんど無くし光効率の良い光ピックアップを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は本実施形態の光ピックアップの全体の光学系を示す概略図である。
【図2】 図2は図1における対物レンズ周辺の側面図である。
【図3】 図3は従来の光ピックアップの構成を示す斜視図である。
【図4】 図4は従来の光ピックアップの対物レンズ周辺の側面図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ
2 コリメータレンズ
3 ハーフミラー
4 前方モニター用光検出器
5 液晶セル
6 偏光ビームスプリッタ
7 1/2波長板
8 立ち上げ反射ミラー
9 対物レンズ
10 対物レンズ
11 1/2波長板
12 偏光ビームスプリッタ
13 光検出器
14 光検出器
Claims (2)
- 光を射出する光源手段と、前記光源手段から射出された光の偏光の状態を、ネマティック液晶のTN効果を用いて選択的に90゜変化させる偏光切り換え手段と、前記偏光切り換え手段を経た光の偏光方向に応じて、その光を第1の光路と第2の光路に切り換える偏光ビームスプリッタと、前記第1の光路上に配置され、第1の基板厚を有する第1の記録媒体に応じて設計された第1の対物レンズと、前記第2の光路上に配置され、前記第1の基板厚とは異なる第2の基板厚を有する第2の記録媒体に応じて設計された第2の対物レンズと、を有する光ピックアップにおいて、
前記偏光ビームスプリッタのビームスプリッタ面を反射するP偏光成分の割合をRp、S偏光成分の割合をRsとしたとき、0<Rp<50<Rs<100(%)となるように前記ビームスプリッタ面を構成するとともに、
前記偏光ビームスプリッタと前記第1の対物レンズとの間の前記第1の光路上または前記偏光ビームスプリッタと前記第2の対物レンズとの間の前記第2の光路上に1/2波長板を配置したことを特徴とする光ピックアップ。 - 前記1/2波長板を前記偏光ビームスプリッタに接合して配置したことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ。
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