JP3349934B2 - 磁気ディスク装置及びこの装置に使用するリードチャネルｉｃ - Google Patents
磁気ディスク装置及びこの装置に使用するリードチャネルｉｃInfo
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク装置、
及びこの装置に使用するリードチャネルＩＣに関し、特
に、サーマルアスペリティ、ミッシング、及び、エキス
トラによって発生する磁気ディスク装置のディスク媒体
の欠陥を検出する装置、及びこの検出装置に使用するリ
ードチャネルＩＣに関する。
及びこの装置に使用するリードチャネルＩＣに関し、特
に、サーマルアスペリティ、ミッシング、及び、エキス
トラによって発生する磁気ディスク装置のディスク媒体
の欠陥を検出する装置、及びこの検出装置に使用するリ
ードチャネルＩＣに関する。
【０００２】近年、プロセッサ能力の向上やマルチメデ
ィアソフトの普及に伴い、コンピュータの外部記憶装置
である磁気ディスク装置に対する高速性と大容量の要求
がますます激しくなっている。磁気ディスクの記録密度
を向上させるために、最近ではＭＲ（磁気抵抗）素子を
応用したＭＲヘッドが採用され、一方では、記録再生方
式としてＰＲ４ＭＬ（パーシャルレスポンスクラス４の
最尤検出）方式が採用されるようになってきている。ま
た、磁気ディスクの記録密度を上げるために、ヘッドの
浮上量も次第に小さくなり、更に、データの高速転送に
対応するためにディスク媒体の回転数も増大し、１００
００rpm を越えるような磁気ディスク装置も現れてきて
いる。
ィアソフトの普及に伴い、コンピュータの外部記憶装置
である磁気ディスク装置に対する高速性と大容量の要求
がますます激しくなっている。磁気ディスクの記録密度
を向上させるために、最近ではＭＲ（磁気抵抗）素子を
応用したＭＲヘッドが採用され、一方では、記録再生方
式としてＰＲ４ＭＬ（パーシャルレスポンスクラス４の
最尤検出）方式が採用されるようになってきている。ま
た、磁気ディスクの記録密度を上げるために、ヘッドの
浮上量も次第に小さくなり、更に、データの高速転送に
対応するためにディスク媒体の回転数も増大し、１００
００rpm を越えるような磁気ディスク装置も現れてきて
いる。
【０００３】ところで、ＭＲヘッドを磁気ディスク装置
で使用する場合、媒体とヘッドが接触してＭＲ素子の温
度が急激に変化してＭＲ素子の抵抗値が変化するサーマ
ルアスペリティ（以後ＴＡという）と呼ばれる現象があ
る。このＴＡが発生すると、ヘッドの出力が直流的にオ
フセットされてしまい、復調回路の自動利得制御回路
（ＡＧＣ）が飽和して必要な波形が取り込めなくなる。
この結果、正常に媒体からの情報を復調できない長さが
ＥＣＣの訂正能力を越えてしまい、訂正不能なリードエ
ラーが発生するという問題がある。
で使用する場合、媒体とヘッドが接触してＭＲ素子の温
度が急激に変化してＭＲ素子の抵抗値が変化するサーマ
ルアスペリティ（以後ＴＡという）と呼ばれる現象があ
る。このＴＡが発生すると、ヘッドの出力が直流的にオ
フセットされてしまい、復調回路の自動利得制御回路
（ＡＧＣ）が飽和して必要な波形が取り込めなくなる。
この結果、正常に媒体からの情報を復調できない長さが
ＥＣＣの訂正能力を越えてしまい、訂正不能なリードエ
ラーが発生するという問題がある。
【０００４】ＴＡの中には、常温ではリードできない時
間が短くてＥＣＣによる訂正が可能であっても、高温に
なって媒体突起高さが高くなるとリードできない時間が
長くなるものや、経時変化によりリードできない時間が
長くなるものなどが存在している。そのため、磁気ディ
スク装置の製造後の試験工程において媒体欠陥を検出し
て登録する場合には、通常の媒体欠陥位置とＴＡによる
欠陥位置とを別々に登録する必要がある。さらに、最近
ではデータの転送速度の上昇により、従来はヘッドＩＣ
の出力を磁気ディスク装置の外部に引き出して行ってい
た媒体の微小欠陥検出が不可能になってきており、それ
に代わる媒体欠陥検出装置が必要とされてきている。
間が短くてＥＣＣによる訂正が可能であっても、高温に
なって媒体突起高さが高くなるとリードできない時間が
長くなるものや、経時変化によりリードできない時間が
長くなるものなどが存在している。そのため、磁気ディ
スク装置の製造後の試験工程において媒体欠陥を検出し
て登録する場合には、通常の媒体欠陥位置とＴＡによる
欠陥位置とを別々に登録する必要がある。さらに、最近
ではデータの転送速度の上昇により、従来はヘッドＩＣ
の出力を磁気ディスク装置の外部に引き出して行ってい
た媒体の微小欠陥検出が不可能になってきており、それ
に代わる媒体欠陥検出装置が必要とされてきている。
【０００５】
【従来の技術】従来は、磁気ディスクへの書込みデータ
と書込み位置を変化させておき、これをヘッドでリード
した時にリードエラーが発生するかしないかで欠陥位置
を特定することが行われていた。また、磁気ディスク媒
体からヘッドを通じて読み出されたリード信号をアナロ
グ−デジタル変換し、これをレベルを可変できるスライ
スレベルと比較し、スライスレベルを越える部分をディ
スク媒体の欠陥部分として検出していた（特開平２−４
４２７２号公報参照）。
と書込み位置を変化させておき、これをヘッドでリード
した時にリードエラーが発生するかしないかで欠陥位置
を特定することが行われていた。また、磁気ディスク媒
体からヘッドを通じて読み出されたリード信号をアナロ
グ−デジタル変換し、これをレベルを可変できるスライ
スレベルと比較し、スライスレベルを越える部分をディ
スク媒体の欠陥部分として検出していた（特開平２−４
４２７２号公報参照）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、最初のリー
ドエラーが発生するかしないかでデジタル的に欠陥位置
を特定する方法においては、磁気ディスク上の媒体欠陥
位置を特定するために最低でも１０8 回以上のライト／
リード動作が必要であり、媒体欠陥を検出するには何回
のリード／ライト動作を実行するのが適当かの設定も難
しかった。また、媒体欠陥を検出してもその欠陥がどの
ような種類のものか判定できないという問題があった。
なお、媒体欠陥には、前述のＴＡの他に、リード信号の
波高値が低くてスライスレベル未満となり再生できない
欠陥を示すミッシングや、媒体上の傷によりリード信号
が一旦落ち込んでから上昇し、スライスレベルを二度よ
ぎる欠陥を示すエキストラがある。
ドエラーが発生するかしないかでデジタル的に欠陥位置
を特定する方法においては、磁気ディスク上の媒体欠陥
位置を特定するために最低でも１０8 回以上のライト／
リード動作が必要であり、媒体欠陥を検出するには何回
のリード／ライト動作を実行するのが適当かの設定も難
しかった。また、媒体欠陥を検出してもその欠陥がどの
ような種類のものか判定できないという問題があった。
なお、媒体欠陥には、前述のＴＡの他に、リード信号の
波高値が低くてスライスレベル未満となり再生できない
欠陥を示すミッシングや、媒体上の傷によりリード信号
が一旦落ち込んでから上昇し、スライスレベルを二度よ
ぎる欠陥を示すエキストラがある。
【０００７】また、特開平２−４４２７２号公報に記載
の媒体欠陥検出方法には、リード信号をアナログ−デジ
タル変換する場合におけるリード信号のパルス位置を特
定するために、スライスレベルを上げることや下げるこ
とについては記述されているが、ＴＡが発生して一方向
にリード信号が直流的にオフセットしているような場合
を検出できないという問題があった。
の媒体欠陥検出方法には、リード信号をアナログ−デジ
タル変換する場合におけるリード信号のパルス位置を特
定するために、スライスレベルを上げることや下げるこ
とについては記述されているが、ＴＡが発生して一方向
にリード信号が直流的にオフセットしているような場合
を検出できないという問題があった。
【０００８】そこで、本発明の目的は、前記従来の磁気
ディスク装置の媒体検査方法におけるこのような問題を
解決し、少ないリード／ライト回数で媒体欠陥の種類ま
で特定可能な磁気ディスク装置及びこの装置に使用する
リードチャネルＩＣを提供することにある。
ディスク装置の媒体検査方法におけるこのような問題を
解決し、少ないリード／ライト回数で媒体欠陥の種類ま
で特定可能な磁気ディスク装置及びこの装置に使用する
リードチャネルＩＣを提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明の第１の形態の磁気ディスク装置は、図１に示される
ように、ヘッドから読み出されたリード信号から媒体の
欠陥を検出することができる磁気ディスク装置におい
て、リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、サンプリングされたサンプル値と前回のサンプル値
の和を算出する加算手段と、今回と前回のサンプル値の
和を、予め設定された下限を示す下限基準値、及び上限
を示す上限基準値と比較する比較手段、及び、サンプル
値の和が下限基準値を下回った部分、及び、上限基準値
を上回った部分を、サーマルアスペリティによる媒体欠
陥として検出し、欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号
発生手段とを設けたことを特徴としている。
明の第１の形態の磁気ディスク装置は、図１に示される
ように、ヘッドから読み出されたリード信号から媒体の
欠陥を検出することができる磁気ディスク装置におい
て、リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、サンプリングされたサンプル値と前回のサンプル値
の和を算出する加算手段と、今回と前回のサンプル値の
和を、予め設定された下限を示す下限基準値、及び上限
を示す上限基準値と比較する比較手段、及び、サンプル
値の和が下限基準値を下回った部分、及び、上限基準値
を上回った部分を、サーマルアスペリティによる媒体欠
陥として検出し、欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号
発生手段とを設けたことを特徴としている。
【００１０】前記目的を達成する本発明の第２の形態の
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値と比較する比較手段、及び、サ
ンプル値の絶対値の和が下限基準値を下回った部分をミ
ッシングによる媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を
発生する欠陥検出信号発生手段とを設けたことを特徴と
している。この構成をブロックで表すと、図１の比較手
段に入力される上限基準値がないものに等しい。
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値と比較する比較手段、及び、サ
ンプル値の絶対値の和が下限基準値を下回った部分をミ
ッシングによる媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を
発生する欠陥検出信号発生手段とを設けたことを特徴と
している。この構成をブロックで表すと、図１の比較手
段に入力される上限基準値がないものに等しい。
【００１１】前記目的を達成する本発明の第３の形態の
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た上限を示す上限基準値と比較する比較手段、及び、サ
ンプル値の絶対値の和が上限基準値を上回った部分をエ
キストラによる媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を
発生する欠陥検出信号発生手段とを設けたことを特徴と
している。この構成をブロックで表すと、図１の比較手
段に入力される下限基準値がないものに等しい。
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た上限を示す上限基準値と比較する比較手段、及び、サ
ンプル値の絶対値の和が上限基準値を上回った部分をエ
キストラによる媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を
発生する欠陥検出信号発生手段とを設けたことを特徴と
している。この構成をブロックで表すと、図１の比較手
段に入力される下限基準値がないものに等しい。
【００１２】前記目的を達成する本発明の第４の形態の
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値、及び上限を示す上限基準値と
比較する比較手段、及び、サンプル値の和が、下限基準
値を下回った部分をミッシングによる媒体欠陥として検
出すると共に、上限基準値を上回った部分をエキストラ
による媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を発生する
欠陥検出信号発生手段とを設け、一度のリード動作で２
つの欠陥を検出できることを特徴としている。第４の形
態の構成をブロックで表すと、図１と同様になる。
磁気ディスク装置は、ヘッドから読み出されたリード信
号から媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク
装置において、リード信号をサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する加算手段と、
今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値、及び上限を示す上限基準値と
比較する比較手段、及び、サンプル値の和が、下限基準
値を下回った部分をミッシングによる媒体欠陥として検
出すると共に、上限基準値を上回った部分をエキストラ
による媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を発生する
欠陥検出信号発生手段とを設け、一度のリード動作で２
つの欠陥を検出できることを特徴としている。第４の形
態の構成をブロックで表すと、図１と同様になる。
【００１３】前記目的を達成する本発明の第５の形態の
磁気ディスク装置は、図２に示されるように、ヘッドか
ら読み出されたリード信号から媒体の欠陥を検出するこ
とができる磁気ディスク装置であって、リード信号をサ
ンプリングするサンプリング手段と、サンプリングされ
たサンプル値と前回のサンプル値の和を算出する第１の
加算手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する第２の加算手
段と、今回と前回のサンプル値の和を、予め設定された
下限を示す第１の下限基準値、及び上限を示す第１の上
限基準値と比較する第１の比較手段と、今回と前回のサ
ンプル値の絶対値の和を、予め設定された下限を示す第
２の下限基準値、及び上限を示す第２の上限基準値と比
較する第２の比較手段、及び、サンプル値の和が、第１
の下限基準値を下回った部分、及び、第２の上限基準値
を上回った部分を、サーマルアスペリティによる媒体欠
陥として検出すると共に、サンプル値の絶対値の和が、
第２の下限基準値を下回った部分をミッシングによる媒
体欠陥として検出すると共に、第２の上限基準値を上回
った部分をエキストラによる媒体欠陥として検出し、欠
陥検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段とを備え、
一度のリード動作で３種類の媒体欠陥を検出できること
を特徴としている。
磁気ディスク装置は、図２に示されるように、ヘッドか
ら読み出されたリード信号から媒体の欠陥を検出するこ
とができる磁気ディスク装置であって、リード信号をサ
ンプリングするサンプリング手段と、サンプリングされ
たサンプル値と前回のサンプル値の和を算出する第１の
加算手段と、サンプリングされたサンプル値の絶対値と
前回のサンプル値の絶対値の和を算出する第２の加算手
段と、今回と前回のサンプル値の和を、予め設定された
下限を示す第１の下限基準値、及び上限を示す第１の上
限基準値と比較する第１の比較手段と、今回と前回のサ
ンプル値の絶対値の和を、予め設定された下限を示す第
２の下限基準値、及び上限を示す第２の上限基準値と比
較する第２の比較手段、及び、サンプル値の和が、第１
の下限基準値を下回った部分、及び、第２の上限基準値
を上回った部分を、サーマルアスペリティによる媒体欠
陥として検出すると共に、サンプル値の絶対値の和が、
第２の下限基準値を下回った部分をミッシングによる媒
体欠陥として検出すると共に、第２の上限基準値を上回
った部分をエキストラによる媒体欠陥として検出し、欠
陥検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段とを備え、
一度のリード動作で３種類の媒体欠陥を検出できること
を特徴としている。
【００１４】第１から第５の形態の磁気ディスク装置に
よれば、媒体欠陥のＴＡ、ミッシング、及びエキストラ
を区別して少ないリード回数で媒体欠陥を検出すること
ができる。これらの形態の磁気ディスク装置において
は、更に、欠陥検出信号から、所定の幅以上に広い補正
欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号補正手段を設ける
ことができる。そして、この欠陥検出信号補正手段は、
欠陥検出信号が入力された場合に、次のリードリファレ
ンスクロックに同期して、少なくともこのリードリファ
レンスクロックの１周期の幅以上の幅を持つ補正欠陥検
出信号を出力すれば良い。このようにすれば、欠陥検出
信号のパルス幅が後段の回路で取り込み可能となる。こ
の場合、媒***置に同期して発生されるクロックをカウ
ントするカウンタ、及び、補正欠陥検出信号の変化点に
おけるカウンタの値を保持するラッチとを設けておけ
ば、補正欠陥検出信号の出力開始と終了に対応する媒体
上の位置を記録できる。
よれば、媒体欠陥のＴＡ、ミッシング、及びエキストラ
を区別して少ないリード回数で媒体欠陥を検出すること
ができる。これらの形態の磁気ディスク装置において
は、更に、欠陥検出信号から、所定の幅以上に広い補正
欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号補正手段を設ける
ことができる。そして、この欠陥検出信号補正手段は、
欠陥検出信号が入力された場合に、次のリードリファレ
ンスクロックに同期して、少なくともこのリードリファ
レンスクロックの１周期の幅以上の幅を持つ補正欠陥検
出信号を出力すれば良い。このようにすれば、欠陥検出
信号のパルス幅が後段の回路で取り込み可能となる。こ
の場合、媒***置に同期して発生されるクロックをカウ
ントするカウンタ、及び、補正欠陥検出信号の変化点に
おけるカウンタの値を保持するラッチとを設けておけ
ば、補正欠陥検出信号の出力開始と終了に対応する媒体
上の位置を記録できる。
【００１５】また、これらの形態の磁気ディスク装置に
おいて、基準値の値を変更可能な基準値変更手段を設け
ることができる。この場合には、媒体欠陥の発生レベル
を装置の特性に合わせることができる。更に、リード動
作を示すリードゲート信号が偽になるタイミングを検出
する偽タイミング検出手段と、欠陥検出信号発生手段か
ら欠陥検出信号が発生された場合に、偽タイミングで磁
気ディスク装置を制御するプロセッサに対して割り込み
を発生させ、このプロセッサに欠陥検出処理を行わせる
割込制御手段とを設けることができる。この場合には、
媒体欠陥のない正常な場合には、プロセッサに割り込み
が発生しないので、プロセッサは媒体欠陥検出以外の処
理を続けることができる。
おいて、基準値の値を変更可能な基準値変更手段を設け
ることができる。この場合には、媒体欠陥の発生レベル
を装置の特性に合わせることができる。更に、リード動
作を示すリードゲート信号が偽になるタイミングを検出
する偽タイミング検出手段と、欠陥検出信号発生手段か
ら欠陥検出信号が発生された場合に、偽タイミングで磁
気ディスク装置を制御するプロセッサに対して割り込み
を発生させ、このプロセッサに欠陥検出処理を行わせる
割込制御手段とを設けることができる。この場合には、
媒体欠陥のない正常な場合には、プロセッサに割り込み
が発生しないので、プロセッサは媒体欠陥検出以外の処
理を続けることができる。
【００１６】なお、これらの形態の磁気ディスク装置に
おいては、サンプリング手段がリード信号のサンプリン
グを媒体の信号に非同期で行うと媒体の欠陥検出効率が
向上する。また、媒体には、書込み可能な最高周波数で
単一のデータパターンを書き込んでおけば、媒体の微小
欠陥まで見つけることが可能となる。
おいては、サンプリング手段がリード信号のサンプリン
グを媒体の信号に非同期で行うと媒体の欠陥検出効率が
向上する。また、媒体には、書込み可能な最高周波数で
単一のデータパターンを書き込んでおけば、媒体の微小
欠陥まで見つけることが可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下添付図面を用いて本発明の実
施形態を具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。図
３は本発明における磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装
置の全体構成を示すものである。１は磁気ディスク媒体
であり、ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）２Ａによって駆
動される磁気ヘッド２によりディスク媒体１上の情報が
記録、再生される。磁気ヘッド２からのリード信号はヘ
ッドＩＣ３を経てリードチャネルＩＣ４に入力される。
このリードチャネルＩＣ４の構成については後述する。
施形態を具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。図
３は本発明における磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装
置の全体構成を示すものである。１は磁気ディスク媒体
であり、ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）２Ａによって駆
動される磁気ヘッド２によりディスク媒体１上の情報が
記録、再生される。磁気ヘッド２からのリード信号はヘ
ッドＩＣ３を経てリードチャネルＩＣ４に入力される。
このリードチャネルＩＣ４の構成については後述する。
【００１８】リードチャネルＩＣ４はハードディスクコ
ントローラ（ＨＤＣ）５とドライブＬＳＩ７に接続され
ている。また、ドライブＬＳＩ７の出力はデジタル信号
プロセッサ（ＤＳＰ）１１に入力され、パワーアンプ１
０を通じてＶＣＭ２Ａに戻され、ＶＣＭ２Ａが制御され
る。そして、ＨＤＣ５とドライブＬＳＩ７は、バス２１
を通じてＭＣＵ８、バッファ９、及びプログラマブルＲ
ＯＭ（ＰＲＯＭ）１２に相互に接続されている。更に、
ＨＤＣ５はバス２２を通じてホストインタフェース（Ｉ
／Ｆ）１３に接続されている。
ントローラ（ＨＤＣ）５とドライブＬＳＩ７に接続され
ている。また、ドライブＬＳＩ７の出力はデジタル信号
プロセッサ（ＤＳＰ）１１に入力され、パワーアンプ１
０を通じてＶＣＭ２Ａに戻され、ＶＣＭ２Ａが制御され
る。そして、ＨＤＣ５とドライブＬＳＩ７は、バス２１
を通じてＭＣＵ８、バッファ９、及びプログラマブルＲ
ＯＭ（ＰＲＯＭ）１２に相互に接続されている。更に、
ＨＤＣ５はバス２２を通じてホストインタフェース（Ｉ
／Ｆ）１３に接続されている。
【００１９】なお、図３において、ＤＤは欠陥検出信
号、ＲＲＣはリードリファレンスクロック、ＲＧ信号は
リードゲート信号、ＷＧ信号はライトゲート信号、及
び、Ｗ／Ｒ信号は書込／読出信号を示している。欠陥検
出モードでは、データバスの一本のＮＲＺｂｉｔ７が欠
陥検出信号ＤＤの出力用に割り当てられている。図４は
図３のリードチャネルＩＣ４の内部構成を示すものであ
る。ヘッドＩＣからのリード信号はＥＣＬレシーバ１
４、利得制御アンプ（ＧＣＡ）１５、アナログフィルタ
１６、ＡＤ変換器（ＡＤＣ）１７、及び自動等化、レベ
ル検出、周波数検出回路１８を経てＴＡ（サーマルアス
ペリティ）検出回路２０、欠陥検出回路４０、及びサー
ボ復調回路５０に入力される。欠陥検出回路４０の内部
の構成については後述する。ＴＡ検出回路２０からのサ
ーマルアスペリティの検出信号、欠陥検出回路４０から
の欠陥位置情報と欠陥検出信号ＤＤ、及び、サーボ復調
回路５０からのサーボ情報は、パラレルインタフェース
（Ｉ／Ｆ）５１を通じてドライブＬＳＩ７に入力され、
ドライブＬＳＩ７からＤＳＰ１１とＭＣＵ８に出力され
る。
号、ＲＲＣはリードリファレンスクロック、ＲＧ信号は
リードゲート信号、ＷＧ信号はライトゲート信号、及
び、Ｗ／Ｒ信号は書込／読出信号を示している。欠陥検
出モードでは、データバスの一本のＮＲＺｂｉｔ７が欠
陥検出信号ＤＤの出力用に割り当てられている。図４は
図３のリードチャネルＩＣ４の内部構成を示すものであ
る。ヘッドＩＣからのリード信号はＥＣＬレシーバ１
４、利得制御アンプ（ＧＣＡ）１５、アナログフィルタ
１６、ＡＤ変換器（ＡＤＣ）１７、及び自動等化、レベ
ル検出、周波数検出回路１８を経てＴＡ（サーマルアス
ペリティ）検出回路２０、欠陥検出回路４０、及びサー
ボ復調回路５０に入力される。欠陥検出回路４０の内部
の構成については後述する。ＴＡ検出回路２０からのサ
ーマルアスペリティの検出信号、欠陥検出回路４０から
の欠陥位置情報と欠陥検出信号ＤＤ、及び、サーボ復調
回路５０からのサーボ情報は、パラレルインタフェース
（Ｉ／Ｆ）５１を通じてドライブＬＳＩ７に入力され、
ドライブＬＳＩ７からＤＳＰ１１とＭＣＵ８に出力され
る。
【００２０】また、自動等化、レベル検出、周波数検出
回路１８の出力は、ＧＣＡ制御回路１９を通じてＧＣＡ
１５にフィードバックされると共に、パーシャルレスポ
ンスクラス４（ＰＲ４）回路５２にも出力される。ＰＲ
４回路５２の出力は、シリアル−パラレル変換回路５
３、デコーダ５４、デスクランブラ５５を経てパラレル
インタフェース（Ｉ／Ｆ）５６に入力され、ＨＤＣ５に
出力される。パラレルＩ／Ｆ５６からＨＤＣ５への出力
にはＲＲＣも含まれる。
回路１８の出力は、ＧＣＡ制御回路１９を通じてＧＣＡ
１５にフィードバックされると共に、パーシャルレスポ
ンスクラス４（ＰＲ４）回路５２にも出力される。ＰＲ
４回路５２の出力は、シリアル−パラレル変換回路５
３、デコーダ５４、デスクランブラ５５を経てパラレル
インタフェース（Ｉ／Ｆ）５６に入力され、ＨＤＣ５に
出力される。パラレルＩ／Ｆ５６からＨＤＣ５への出力
にはＲＲＣも含まれる。
【００２１】一方、ＨＤＣ５からパラレルＩ／Ｆ５６に
入力された書込データ信号は、スクランブラ５７、エン
コーダ５８、プリコーダ５９、プリコンペンセイション
６０、及びＥＣＬドライバ６１を経てヘッドＩＣに出力
される。書込回路は本発明の主題とは関係がないので、
これ以上の説明を省略する。更に、リードチャネルＩＣ
４にはリード／ライト用のクロック回路が設けられてい
る。このクロック回路には、自動等化、レベル検出、周
波数検出回路１８の出力が入力されるＤＡＣ（ディジタ
ル−アナログ変換器）６２があり、このＤＡＣ６２の出
力はループフィルタ６３、リードＶＣＯ６４を通じてク
ロック制御回路６８に入力され、リード系モジュールと
ライト系モジュールに出力される。リードＶＣＯ６４の
出力は位相比較器６５にも出力され、位相比較器６５は
シンセサイザＰＬＬ６６から入力される基準クロックと
の位相差をループフィルタ６３にフィードバックする。
シンセサイザＰＬＬ６６にはループフィルタ６７が接続
されており、シンセサイザＰＬＬ６６に入力された基準
クロックはクロック制御回路６８にも出力される。
入力された書込データ信号は、スクランブラ５７、エン
コーダ５８、プリコーダ５９、プリコンペンセイション
６０、及びＥＣＬドライバ６１を経てヘッドＩＣに出力
される。書込回路は本発明の主題とは関係がないので、
これ以上の説明を省略する。更に、リードチャネルＩＣ
４にはリード／ライト用のクロック回路が設けられてい
る。このクロック回路には、自動等化、レベル検出、周
波数検出回路１８の出力が入力されるＤＡＣ（ディジタ
ル−アナログ変換器）６２があり、このＤＡＣ６２の出
力はループフィルタ６３、リードＶＣＯ６４を通じてク
ロック制御回路６８に入力され、リード系モジュールと
ライト系モジュールに出力される。リードＶＣＯ６４の
出力は位相比較器６５にも出力され、位相比較器６５は
シンセサイザＰＬＬ６６から入力される基準クロックと
の位相差をループフィルタ６３にフィードバックする。
シンセサイザＰＬＬ６６にはループフィルタ６７が接続
されており、シンセサイザＰＬＬ６６に入力された基準
クロックはクロック制御回路６８にも出力される。
【００２２】図５は図３のドライブＬＳＩ７の内部構成
を示すものである。図において＞はリードリファレンス
クロックＲＲＣ、欠陥検出信号ＤＤ、クリア信号ＣＬ
Ｒ、クロックＣＬＫ、リードゲート信号ＲＧ、及びラッ
チアドレス信号が入力される入力端子を示しており、○
は欠陥検出信号ＤＤ、ハイラッチデータ、及びローラッ
チデータが出力される出力端子を示している。クリア信
号ＣＬＲはＭＣＵが欠陥情報を読み込んだ後、特定アド
レスにデータをライトすることにより発行されるリセッ
ト信号である。また、クロックＣＬＫはドライブＬＳＩ
７のシステムクロックである。
を示すものである。図において＞はリードリファレンス
クロックＲＲＣ、欠陥検出信号ＤＤ、クリア信号ＣＬ
Ｒ、クロックＣＬＫ、リードゲート信号ＲＧ、及びラッ
チアドレス信号が入力される入力端子を示しており、○
は欠陥検出信号ＤＤ、ハイラッチデータ、及びローラッ
チデータが出力される出力端子を示している。クリア信
号ＣＬＲはＭＣＵが欠陥情報を読み込んだ後、特定アド
レスにデータをライトすることにより発行されるリセッ
ト信号である。また、クロックＣＬＫはドライブＬＳＩ
７のシステムクロックである。
【００２３】ドライブＬＳＩ７には、複数個のフリップ
フロップ（ＦＦ）２３，２４，２５，３３，３４、サー
ボゲートカウンタ２６、Ｎ個のハイラッチ回路２８とそ
の前段に設けられるＮ個のＮＡＮＤ回路２７、Ｎ個のロ
ーラッチ回路３０とその前段に設けられるＮ個のＮＡＮ
Ｄ回路２９、欠陥検出信号ＤＤカウンタ３１、セレクタ
３２，３７、２つのマルチプレクサ（ＭＰＸ）３５，３
６、及びＡＮＤ回路３８があり、図示のように接続され
ている。なお、図５の中の太線はバスを示しており、細
線は信号線を示している。
フロップ（ＦＦ）２３，２４，２５，３３，３４、サー
ボゲートカウンタ２６、Ｎ個のハイラッチ回路２８とそ
の前段に設けられるＮ個のＮＡＮＤ回路２７、Ｎ個のロ
ーラッチ回路３０とその前段に設けられるＮ個のＮＡＮ
Ｄ回路２９、欠陥検出信号ＤＤカウンタ３１、セレクタ
３２，３７、２つのマルチプレクサ（ＭＰＸ）３５，３
６、及びＡＮＤ回路３８があり、図示のように接続され
ている。なお、図５の中の太線はバスを示しており、細
線は信号線を示している。
【００２４】ＦＦ２３にはリードリファレンスクロック
ＲＲＣと欠陥検出信号ＤＤが入力されており、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣの立ち下がりで欠陥検出信号
ＤＤのレベルが出力端子Ｑから出力される。また、ＦＦ
２４はＦＦ２３の出力がハイレベルになると、クリア信
号がリセット端子ＲＳＴに入力されるまでの間、出力を
ハイレベルにラッチする働きをする。更に、ＦＦ２５
は、リードゲート信号ＲＧの立ち下がりでＦＦ２４の出
力を取込み、ＦＦ２４の出力がハイレベルの時に、ＭＣ
Ｕに補正された欠陥検出信号ＤＤＣを出力するものであ
る。この欠陥検出信号ＤＤＣは欠陥検出信号ＤＤの周波
数が逓倍されたものである。
ＲＲＣと欠陥検出信号ＤＤが入力されており、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣの立ち下がりで欠陥検出信号
ＤＤのレベルが出力端子Ｑから出力される。また、ＦＦ
２４はＦＦ２３の出力がハイレベルになると、クリア信
号がリセット端子ＲＳＴに入力されるまでの間、出力を
ハイレベルにラッチする働きをする。更に、ＦＦ２５
は、リードゲート信号ＲＧの立ち下がりでＦＦ２４の出
力を取込み、ＦＦ２４の出力がハイレベルの時に、ＭＣ
Ｕに補正された欠陥検出信号ＤＤＣを出力するものであ
る。この欠陥検出信号ＤＤＣは欠陥検出信号ＤＤの周波
数が逓倍されたものである。
【００２５】一方、クロックＣＬＫが入力されるサーボ
ゲートカウンタ２６は、サーボゲート信号からの距離を
測定するためのカウンタである。また、ＮＡＮＤ回路２
７は、欠陥検出信号ＤＤの立ち上がりをラッチするトリ
ガを選択するためのものであり、ハイラッチ回路２８
は、欠陥検出信号ＤＤの立ち上がりをラッチするラッチ
である。同様に、ＮＡＮＤ回路２９は欠陥検出信号ＤＤ
の立ち下がりをラッチするトリガを選択するためのもの
であり、ローラッチ回路３０は欠陥検出信号ＤＤの立ち
下がりをラッチするラッチである。ＡＮＤ回路３８はロ
ーラッチ回路３０の取込み信号を作成するためのもので
ある。ハイラッチ回路２８とローラッチ回路３０は、Ｌ
Ｔ端子がローの時のＤＴ端子の値を保持するように動作
する。
ゲートカウンタ２６は、サーボゲート信号からの距離を
測定するためのカウンタである。また、ＮＡＮＤ回路２
７は、欠陥検出信号ＤＤの立ち上がりをラッチするトリ
ガを選択するためのものであり、ハイラッチ回路２８
は、欠陥検出信号ＤＤの立ち上がりをラッチするラッチ
である。同様に、ＮＡＮＤ回路２９は欠陥検出信号ＤＤ
の立ち下がりをラッチするトリガを選択するためのもの
であり、ローラッチ回路３０は欠陥検出信号ＤＤの立ち
下がりをラッチするラッチである。ＡＮＤ回路３８はロ
ーラッチ回路３０の取込み信号を作成するためのもので
ある。ハイラッチ回路２８とローラッチ回路３０は、Ｌ
Ｔ端子がローの時のＤＴ端子の値を保持するように動作
する。
【００２６】ＤＤカウンタ３１は欠陥検出信号ＤＤがハ
イレベルになった回数をカウントするカウンタであり、
セレクタ３２はカウンタ３１の出力からどのハイラッチ
回路２８またはローラッチ回路３０を選択するかの選択
信号を出力するものである。セレクタ３２の出力は、選
択したラッチへの信号がハイになるように構成すること
により、ＡＮＤ回路と同じ論理になる。また、ＦＦ３３
とＦＦ３４は、入力されるリードリファレンスクロック
ＲＲＣを１クロック分遅らせる働きをする。更に、ＭＰ
Ｘ３５はＮ個のハイラッチ回路２８からの出力の立ち上
がり位置を選択してハイラッチデータとして出力するも
のであり、ＭＰＸ３６はＮ個のローラッチ回路３０から
の出力の立ち下がり位置を選択してローラッチデータと
して出力するものである。更に、セレクタ３７はどの欠
陥情報を出力するかを選択するものである。
イレベルになった回数をカウントするカウンタであり、
セレクタ３２はカウンタ３１の出力からどのハイラッチ
回路２８またはローラッチ回路３０を選択するかの選択
信号を出力するものである。セレクタ３２の出力は、選
択したラッチへの信号がハイになるように構成すること
により、ＡＮＤ回路と同じ論理になる。また、ＦＦ３３
とＦＦ３４は、入力されるリードリファレンスクロック
ＲＲＣを１クロック分遅らせる働きをする。更に、ＭＰ
Ｘ３５はＮ個のハイラッチ回路２８からの出力の立ち上
がり位置を選択してハイラッチデータとして出力するも
のであり、ＭＰＸ３６はＮ個のローラッチ回路３０から
の出力の立ち下がり位置を選択してローラッチデータと
して出力するものである。更に、セレクタ３７はどの欠
陥情報を出力するかを選択するものである。
【００２７】図６は図４の欠陥検出回路４０の内部構成
を示すものである。媒体欠陥回路４０ではＰＲ４ＭＬ
（パーシャルレスポンスクラス４の最尤検出）の復調に
必須な１＋Ｄの演算回路４１を使用しており、リード信
号はこの１＋Ｄの演算回路４１に入力される。１＋Ｄの
演算回路４１の出力は２つに分岐され、一方は上限基準
値が入力される比較器４２に入力され、他方は下限基準
値が入力される比較器４３に入力される。上限基準値と
下限基準値は基準値出力回路４５から出力されるが、こ
の上限基準値と下限基準値（スライスレベル）は、基準
値変更回路４６により可変になっている。
を示すものである。媒体欠陥回路４０ではＰＲ４ＭＬ
（パーシャルレスポンスクラス４の最尤検出）の復調に
必須な１＋Ｄの演算回路４１を使用しており、リード信
号はこの１＋Ｄの演算回路４１に入力される。１＋Ｄの
演算回路４１の出力は２つに分岐され、一方は上限基準
値が入力される比較器４２に入力され、他方は下限基準
値が入力される比較器４３に入力される。上限基準値と
下限基準値は基準値出力回路４５から出力されるが、こ
の上限基準値と下限基準値（スライスレベル）は、基準
値変更回路４６により可変になっている。
【００２８】比較器４２と４３は、１＋Ｄの演算回路４
１からの出力がスライスを越えた場合にはＯＲ回路４４
に欠陥検出信号を出力する。ＯＲ回路４４は、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣに同期してドライブＬＳＩ７
に欠陥検出信号ＤＤを出力する。ドライブＬＳＩ７で
は、前述の構成の回路（カウンタ３１とハイラッチ回路
２８、ローラッチ回路３０等）により、欠陥検出信号Ｄ
Ｄが真になる開始位置とその長さを記録し、媒体の欠陥
位置と欠陥の大きさを特定する。
１からの出力がスライスを越えた場合にはＯＲ回路４４
に欠陥検出信号を出力する。ＯＲ回路４４は、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣに同期してドライブＬＳＩ７
に欠陥検出信号ＤＤを出力する。ドライブＬＳＩ７で
は、前述の構成の回路（カウンタ３１とハイラッチ回路
２８、ローラッチ回路３０等）により、欠陥検出信号Ｄ
Ｄが真になる開始位置とその長さを記録し、媒体の欠陥
位置と欠陥の大きさを特定する。
【００２９】ここで、図６で説明した欠陥検出回路４０
及び図５で説明したドライブＬＳＩ７の動作を、媒体の
欠陥がミッシングの場合、エキストラの場合、及びサー
マルアスペリティの場合のそれぞれについて図７から図
９を用いて説明する。図７は媒体欠陥がミッシングの時
の、本発明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装置にお
ける欠陥検出の動作を説明するタイムチャートである。
及び図５で説明したドライブＬＳＩ７の動作を、媒体の
欠陥がミッシングの場合、エキストラの場合、及びサー
マルアスペリティの場合のそれぞれについて図７から図
９を用いて説明する。図７は媒体欠陥がミッシングの時
の、本発明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装置にお
ける欠陥検出の動作を説明するタイムチャートである。
【００３０】媒体欠陥の１つであるミッシングの検出時
には、図３及び図４で説明したリードチャネルＩＣ４に
対して欠陥検出モードを設定し、リードゲートが真にな
ると通常のリード動作を実行せずにリードチャネルＩＣ
４の欠陥検出回路４０が動作する。図７に示すようなリ
ード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された場合、Ａ
ＤＣ１７ではこのリード信号ＲＳに対して同期をかけず
にシンセサイザのクロックで非同期にサンプリングを行
う。
には、図３及び図４で説明したリードチャネルＩＣ４に
対して欠陥検出モードを設定し、リードゲートが真にな
ると通常のリード動作を実行せずにリードチャネルＩＣ
４の欠陥検出回路４０が動作する。図７に示すようなリ
ード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された場合、Ａ
ＤＣ１７ではこのリード信号ＲＳに対して同期をかけず
にシンセサイザのクロックで非同期にサンプリングを行
う。
【００３１】そして、サンプリングしたデータの絶対値
を取り、そのデータに対して欠陥検出回路４０の１＋Ｄ
の演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。この計算は、サ
ンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプル
値の絶対値とを加算する計算である。媒体にミッシング
の欠陥がある場合、リード信号ＲＳには波高値の低い部
分がある。この結果、１＋Ｄの計算結果は波形ＡＢＭの
ようになり、下限基準値を下回る部分が存在する。この
ように下限基準値を下回る部分が波形ＡＢＭに存在する
場合は、比較器４３の出力がハイレベルになり、ＯＲ回
路４４からは波形ＤＤで示す欠陥検出信号が出力され、
この信号はリード基準クロックに同期してドライブＬＳ
Ｉ４に入力される。
を取り、そのデータに対して欠陥検出回路４０の１＋Ｄ
の演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。この計算は、サ
ンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプル
値の絶対値とを加算する計算である。媒体にミッシング
の欠陥がある場合、リード信号ＲＳには波高値の低い部
分がある。この結果、１＋Ｄの計算結果は波形ＡＢＭの
ようになり、下限基準値を下回る部分が存在する。この
ように下限基準値を下回る部分が波形ＡＢＭに存在する
場合は、比較器４３の出力がハイレベルになり、ＯＲ回
路４４からは波形ＤＤで示す欠陥検出信号が出力され、
この信号はリード基準クロックに同期してドライブＬＳ
Ｉ４に入力される。
【００３２】ドライブＬＳＩ４ではこの欠陥検出信号Ｄ
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。このラッチ信号ＬＴは欠陥検出信号ＤＤのパル
ス幅を広げるためのものである。このようにラッチ信号
ＬＴにより欠陥検出信号ＤＤのパルス幅を広げる理由
は、パルス幅を後段の回路で取り込み可能な所定の幅以
上に広くするためである。この場合、欠陥検出信号ＤＤ
のパルス幅は、リードリファレンスクロックＲＲＣの１
周期以上に広げれば良い。そうすると、媒体にミッシン
グの欠陥がある場合、ＲＲＣの立ち上がりで必ずミッシ
ングを示すラッチ信号ＬＴを取り込むことができ、補正
された欠陥検出信号ＤＤＣを作ることができるためであ
る。
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。このラッチ信号ＬＴは欠陥検出信号ＤＤのパル
ス幅を広げるためのものである。このようにラッチ信号
ＬＴにより欠陥検出信号ＤＤのパルス幅を広げる理由
は、パルス幅を後段の回路で取り込み可能な所定の幅以
上に広くするためである。この場合、欠陥検出信号ＤＤ
のパルス幅は、リードリファレンスクロックＲＲＣの１
周期以上に広げれば良い。そうすると、媒体にミッシン
グの欠陥がある場合、ＲＲＣの立ち上がりで必ずミッシ
ングを示すラッチ信号ＬＴを取り込むことができ、補正
された欠陥検出信号ＤＤＣを作ることができるためであ
る。
【００３３】図８は媒体欠陥がエキストラの時の、本発
明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装置における欠陥
検出の動作を説明するタイムチャートである。媒体欠陥
の１つであるエキストラの検出時は、図７で説明したミ
ッシングの検出と同様に行うことができる。図８に示す
ようなリード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された
場合、ＡＤＣ１７はこのリード信号ＲＳに対して同期を
かけずにシンセサイザのクロックで非同期にサンプリン
グを行う。そして、サンプリングしたデータの絶対値を
取り、そのデータに対して欠陥検出回路４０の１＋Ｄの
演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。
明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装置における欠陥
検出の動作を説明するタイムチャートである。媒体欠陥
の１つであるエキストラの検出時は、図７で説明したミ
ッシングの検出と同様に行うことができる。図８に示す
ようなリード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された
場合、ＡＤＣ１７はこのリード信号ＲＳに対して同期を
かけずにシンセサイザのクロックで非同期にサンプリン
グを行う。そして、サンプリングしたデータの絶対値を
取り、そのデータに対して欠陥検出回路４０の１＋Ｄの
演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。
【００３４】媒体にエキストラの欠陥がある場合、リー
ド信号ＲＳには波高値の高い部分がある。この結果、１
＋Ｄの計算結果は波形ＡＢＥのようになり、上限基準値
を上回る部分が存在する。このように上限基準値を上回
る部分が波形ＡＢＥに存在する場合は、比較器４２の出
力がハイレベルになり、ＯＲ回路４４からは波形ＤＤで
示す欠陥検出信号が出力され、この信号はリードリファ
レンスクロックに同期してドライブＬＳＩ４に入力され
る。
ド信号ＲＳには波高値の高い部分がある。この結果、１
＋Ｄの計算結果は波形ＡＢＥのようになり、上限基準値
を上回る部分が存在する。このように上限基準値を上回
る部分が波形ＡＢＥに存在する場合は、比較器４２の出
力がハイレベルになり、ＯＲ回路４４からは波形ＤＤで
示す欠陥検出信号が出力され、この信号はリードリファ
レンスクロックに同期してドライブＬＳＩ４に入力され
る。
【００３５】ドライブＬＳＩ４ではこの欠陥検出信号Ｄ
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。この結果、媒体にエキストラの欠陥がある場
合、リードリファレンスクロックＲＲＣの立ち上がりで
エキストラを示すラッチ信号ＬＴを取り込み、補正され
た欠陥検出信号ＤＤＣが作られる。図９は媒体欠陥がサ
ーマルアスペリティの時の、本発明の磁気ディスク装置
の媒体欠陥検出装置における欠陥検出の動作を説明する
タイムチャートである。
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。この結果、媒体にエキストラの欠陥がある場
合、リードリファレンスクロックＲＲＣの立ち上がりで
エキストラを示すラッチ信号ＬＴを取り込み、補正され
た欠陥検出信号ＤＤＣが作られる。図９は媒体欠陥がサ
ーマルアスペリティの時の、本発明の磁気ディスク装置
の媒体欠陥検出装置における欠陥検出の動作を説明する
タイムチャートである。
【００３６】媒体欠陥の１つであるサーマルアスペリテ
ィの検出は、サンプリング値の加算に絶対値を使用しな
いことを除いて、図７，図８で説明したミッシングやエ
キストラの検出とほぼ同様の手順で行うことができる。
磁気ディスク媒体にサーマルアスペリティが発生した場
合は、リード信号ＲＳに一点鎖線で示すような直流成分
ＤＣが加わり、リード信号ＲＳは直流成分ＤＣによって
正方向、或いは負方向にシフトされる。図９に示すよう
なリード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された場
合、ＡＤＣ１７はこのリード信号ＲＳに対して同期をか
けずにシンセサイザのクロックで非同期にサンプリング
を行う。そして、サンプリングしたデータは絶対値を取
らずに符号付きの値のまま、欠陥検出回路４０の１＋Ｄ
の演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。これは、サーマ
ルアスペリティの発生時にはリード信号の直流成分が変
動するため、符号付のサンプリング値から検出可能とな
るからである。
ィの検出は、サンプリング値の加算に絶対値を使用しな
いことを除いて、図７，図８で説明したミッシングやエ
キストラの検出とほぼ同様の手順で行うことができる。
磁気ディスク媒体にサーマルアスペリティが発生した場
合は、リード信号ＲＳに一点鎖線で示すような直流成分
ＤＣが加わり、リード信号ＲＳは直流成分ＤＣによって
正方向、或いは負方向にシフトされる。図９に示すよう
なリード信号ＲＳが図４のＡＤＣ１７に入力された場
合、ＡＤＣ１７はこのリード信号ＲＳに対して同期をか
けずにシンセサイザのクロックで非同期にサンプリング
を行う。そして、サンプリングしたデータは絶対値を取
らずに符号付きの値のまま、欠陥検出回路４０の１＋Ｄ
の演算回路４１で１＋Ｄの計算を行う。これは、サーマ
ルアスペリティの発生時にはリード信号の直流成分が変
動するため、符号付のサンプリング値から検出可能とな
るからである。
【００３７】媒体にサーマルアスペリティが発生した場
合、リード信号ＲＳには正方向、或いは負方向へのシフ
トが発生している部分がある。この例ではリード信号Ｒ
Ｓには正方向へのシフトが発生している部分がある。こ
の結果、１＋Ｄの計算結果は波形ＴＡＷのようになり、
上限基準値を上回る部分が存在する。このように上限基
準値を上回る部分が波形ＴＡＷに存在する場合は、比較
器４２の出力がハイレベルになり、ＯＲ回路４４からは
波形ＤＤで示す欠陥検出信号が出力され、この信号はリ
ード基準クロックに同期してドライブＬＳＩ４に入力さ
れる。
合、リード信号ＲＳには正方向、或いは負方向へのシフ
トが発生している部分がある。この例ではリード信号Ｒ
Ｓには正方向へのシフトが発生している部分がある。こ
の結果、１＋Ｄの計算結果は波形ＴＡＷのようになり、
上限基準値を上回る部分が存在する。このように上限基
準値を上回る部分が波形ＴＡＷに存在する場合は、比較
器４２の出力がハイレベルになり、ＯＲ回路４４からは
波形ＤＤで示す欠陥検出信号が出力され、この信号はリ
ード基準クロックに同期してドライブＬＳＩ４に入力さ
れる。
【００３８】ドライブＬＳＩ４ではこの欠陥検出信号Ｄ
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。この例では、サーマルアスペリティにより欠陥
検出信号ＤＤのパルスが３箇所に発生している。このよ
うな場合、最初の欠陥検出信号ＤＤ１によりラッチ信号
の立ち下がりは波形ＬＴ１となる。ところが、引続き２
番目の欠陥検出信号ＤＤ２があるので、ラッチ信号は波
形ＬＴ２の部分まで延長される。更に、引続き３番目の
欠陥検出信号ＤＤ３があるので、ラッチ信号は最終的に
は波形ＬＴ３の部分まで延長される。このように、媒体
にサーマルアスペリティの欠陥がある場合も、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣの立ち上がりでエキストラを
示すラッチ信号ＬＴを取り込み、補正された欠陥検出信
号ＤＤＣが作られる。
Ｄによりラッチ信号ＬＴが、ＦＦ２３，２４によって作
られる。この例では、サーマルアスペリティにより欠陥
検出信号ＤＤのパルスが３箇所に発生している。このよ
うな場合、最初の欠陥検出信号ＤＤ１によりラッチ信号
の立ち下がりは波形ＬＴ１となる。ところが、引続き２
番目の欠陥検出信号ＤＤ２があるので、ラッチ信号は波
形ＬＴ２の部分まで延長される。更に、引続き３番目の
欠陥検出信号ＤＤ３があるので、ラッチ信号は最終的に
は波形ＬＴ３の部分まで延長される。このように、媒体
にサーマルアスペリティの欠陥がある場合も、リードリ
ファレンスクロックＲＲＣの立ち上がりでエキストラを
示すラッチ信号ＬＴを取り込み、補正された欠陥検出信
号ＤＤＣが作られる。
【００３９】なお、以上のような媒体欠陥の検出におい
て、比較器４２，４３に設定する上限基準値と下限基準
値のレベルは、プロセッサから設定可能とする。また、
各比較器４２，４３の出力はプロセッサからの設定でマ
スク可能とし、比較器４２，４３の出力のどちらか一方
のみを出力可能とする。そうすれば、下限基準値のみを
設定した比較器４２のみを有効にすることによりミッシ
ングの検出を行うことができ、上限基準値を設定した比
較器４３のみを有効にすることによりエキストラの検出
を行うことができるようになる。
て、比較器４２，４３に設定する上限基準値と下限基準
値のレベルは、プロセッサから設定可能とする。また、
各比較器４２，４３の出力はプロセッサからの設定でマ
スク可能とし、比較器４２，４３の出力のどちらか一方
のみを出力可能とする。そうすれば、下限基準値のみを
設定した比較器４２のみを有効にすることによりミッシ
ングの検出を行うことができ、上限基準値を設定した比
較器４３のみを有効にすることによりエキストラの検出
を行うことができるようになる。
【００４０】図１０はドライブＬＳＩ４における欠陥検
出信号ＤＤの取込みタイミングを示すものである。媒体
に複数箇所の欠陥がある場合、欠陥検出信号ＤＤも複数
箇所に現れ、それに伴ってドライブＬＳＩ４の内部でリ
ードリファレンスクロックＲＲＣの１周期以上のパルス
幅を持つラッチ信号ＬＴが作られ、リードリファレンス
クロックＲＲＣの立ち上がりのタイミングでラッチ信号
ＬＴがハイレベルの部分で補正された欠陥検出信号ＤＤ
Ｃが立ち上がる。この補正された欠陥検出信号ＤＤＣの
立ち下がりは次のリードリファレンスクロックＲＲＣの
立ち上がりの時点である。
出信号ＤＤの取込みタイミングを示すものである。媒体
に複数箇所の欠陥がある場合、欠陥検出信号ＤＤも複数
箇所に現れ、それに伴ってドライブＬＳＩ４の内部でリ
ードリファレンスクロックＲＲＣの１周期以上のパルス
幅を持つラッチ信号ＬＴが作られ、リードリファレンス
クロックＲＲＣの立ち上がりのタイミングでラッチ信号
ＬＴがハイレベルの部分で補正された欠陥検出信号ＤＤ
Ｃが立ち上がる。この補正された欠陥検出信号ＤＤＣの
立ち下がりは次のリードリファレンスクロックＲＲＣの
立ち上がりの時点である。
【００４１】図１１にエンベデッドサーボ方式を想定し
た欠陥検出モード時のフォーマット例を示す。ＳＶはサ
ーボフレームであり、この例ではサーボフレームＳＶの
間のデータフレームＦ２を全て測定用パターンライト機
能（８／９ＥＮＣ、プリコーダバイパス）で書き込んで
おく。このとき、ＳＢ（Ｓｙｎｃ Ｂｙｔｅ）やトレー
ニング部を含まないパターンで書込みを実施する。
た欠陥検出モード時のフォーマット例を示す。ＳＶはサ
ーボフレームであり、この例ではサーボフレームＳＶの
間のデータフレームＦ２を全て測定用パターンライト機
能（８／９ＥＮＣ、プリコーダバイパス）で書き込んで
おく。このとき、ＳＢ（Ｓｙｎｃ Ｂｙｔｅ）やトレー
ニング部を含まないパターンで書込みを実施する。
【００４２】ここで、媒体欠陥検出を行う場合のリード
チャネルＩＣ４の各種設定を以下に示す。 (1) 欠陥検出モード このモードに設定されると通常のリード動作は行わずに
シンセサイザクロックによるサンプリングを実行し、絶
対値による１＋Ｄの演算を行う。演算結果は上限基準値
と下限基準値と比較され、いずれかの基準値を越えると
リードリファレンスクロックＲＲＣに同期してＮＲＺの
欠陥検出信号ＤＤが１になる。
チャネルＩＣ４の各種設定を以下に示す。 (1) 欠陥検出モード このモードに設定されると通常のリード動作は行わずに
シンセサイザクロックによるサンプリングを実行し、絶
対値による１＋Ｄの演算を行う。演算結果は上限基準値
と下限基準値と比較され、いずれかの基準値を越えると
リードリファレンスクロックＲＲＣに同期してＮＲＺの
欠陥検出信号ＤＤが１になる。
【００４３】(2) サーマルアスペリティ検出モード 欠陥検出時の１＋Ｄの演算を符号付きで実行する。 (3) 上限基準値マスクモード １＋Ｄの演算結果と上限基準値との比較結果をマスクす
る。 (4) 下限基準値マスクモード １＋Ｄの演算結果と下限基準値との比較結果をマスクす
る。
る。 (4) 下限基準値マスクモード １＋Ｄの演算結果と下限基準値との比較結果をマスクす
る。
【００４４】(5) 上限基準値設定モード １＋Ｄの演算結果と比較する上限基準値設定する。 (6) 下限基準値設定モード １＋Ｄの演算結果と比較する下限基準値設定する。 本発明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出装置は、磁気
ディスク装置の製造後の出荷前に媒体の検査を行うもの
であり、これらのモード(1) から(6) が設定されていな
い場合は動作しないようになっている。この結果、無駄
な消費電力を抑えることができる。
ディスク装置の製造後の出荷前に媒体の検査を行うもの
であり、これらのモード(1) から(6) が設定されていな
い場合は動作しないようになっている。この結果、無駄
な消費電力を抑えることができる。
【００４５】図１２及び図１３は以上のような磁気ディ
スク装置の媒体欠陥検出装置の媒体欠陥検出動作の手順
を示すフローチャートである。ステップ２０１では、ま
ず、媒体の総欠陥個数と、ハイラッチ回路とローラッチ
回路の番号Ｎが全て０にセットされる。続くステップ２
０２では、リードチャネルＩＣ（ＲＤＣ）を単一パター
ン書き込みモードに設定し、ステップ２０３においてデ
ィスク媒体のデータ部前面に最高周波数の単一パターン
を書き込む。次のステップ２０４では、ＲＤＣの欠陥検
出スライスレジスタにスライスレベル（上限基準値と下
限基準値）を設定する。ここでは、検出しようとする欠
陥の種類によってスライスレベルを変更する。このと
き、サーマルアスペリティを検出する場合は、サーマル
アスペリティモードも設定する。
スク装置の媒体欠陥検出装置の媒体欠陥検出動作の手順
を示すフローチャートである。ステップ２０１では、ま
ず、媒体の総欠陥個数と、ハイラッチ回路とローラッチ
回路の番号Ｎが全て０にセットされる。続くステップ２
０２では、リードチャネルＩＣ（ＲＤＣ）を単一パター
ン書き込みモードに設定し、ステップ２０３においてデ
ィスク媒体のデータ部前面に最高周波数の単一パターン
を書き込む。次のステップ２０４では、ＲＤＣの欠陥検
出スライスレジスタにスライスレベル（上限基準値と下
限基準値）を設定する。ここでは、検出しようとする欠
陥の種類によってスライスレベルを変更する。このと
き、サーマルアスペリティを検出する場合は、サーマル
アスペリティモードも設定する。
【００４６】続くステップ２０５ではＲＤＣを媒体欠陥
検出モードに設定し、ステップ２０６でドライブＬＳＩ
のハイラッチ回路とローラッチ回路とを全てクリアす
る。そして、ステップ２０７において、ドライブＬＳＩ
からＭＣＵに対するエラー信号を解除する。このように
して設定が終了すると、ステップ２０８で媒体のリード
が実行される。次のステップ２０９は媒体のセクタが終
了したか否かを判定するものであり、セクタが終了して
いない時にはステップ２０８に戻ってリードを続行す
る。一方、セクタが終了した時にはステップ２１０に進
み、正常終了したか否か、即ち、欠陥検出がなかったか
否かを判定する。そのセクタに欠陥検出がなかった場合
はステップ２１１に進み、全セクタのリードを終了した
か否かを判定する。全セクタのリードが終了した場合に
はステップ２１２で欠陥検出モードを解除してこのルー
チンを終了するが、全セクタのリードが終了していない
場合にはステップ２０８に戻り、残りのセクタのリード
動作を続行する。
検出モードに設定し、ステップ２０６でドライブＬＳＩ
のハイラッチ回路とローラッチ回路とを全てクリアす
る。そして、ステップ２０７において、ドライブＬＳＩ
からＭＣＵに対するエラー信号を解除する。このように
して設定が終了すると、ステップ２０８で媒体のリード
が実行される。次のステップ２０９は媒体のセクタが終
了したか否かを判定するものであり、セクタが終了して
いない時にはステップ２０８に戻ってリードを続行す
る。一方、セクタが終了した時にはステップ２１０に進
み、正常終了したか否か、即ち、欠陥検出がなかったか
否かを判定する。そのセクタに欠陥検出がなかった場合
はステップ２１１に進み、全セクタのリードを終了した
か否かを判定する。全セクタのリードが終了した場合に
はステップ２１２で欠陥検出モードを解除してこのルー
チンを終了するが、全セクタのリードが終了していない
場合にはステップ２０８に戻り、残りのセクタのリード
動作を続行する。
【００４７】次に、媒体に欠陥があった場合には、ステ
ップ２１０において正常終了ではないと判定され、ステ
ップ２１３に進む。ステップ２１３ではＮ個ずつあるハ
イラッチ回路とローラッチ回路の番号に１が加算され
る。ハイラッチ回路とローラッチ回路の番号はステップ
２０１で０に設定されているので、初めてステップ２１
３に進んできた時にはハイラッチ回路とローラッチ回路
の番号は１になる。そして、ステップ２１４において媒
体の総欠陥個数に１を加える計算を行う。媒体の総欠陥
個数はステップ２０１において０に設定されているの
で、初めてステップ２１４に進んできた時には、媒体の
総欠陥個数は１になる。
ップ２１０において正常終了ではないと判定され、ステ
ップ２１３に進む。ステップ２１３ではＮ個ずつあるハ
イラッチ回路とローラッチ回路の番号に１が加算され
る。ハイラッチ回路とローラッチ回路の番号はステップ
２０１で０に設定されているので、初めてステップ２１
３に進んできた時にはハイラッチ回路とローラッチ回路
の番号は１になる。そして、ステップ２１４において媒
体の総欠陥個数に１を加える計算を行う。媒体の総欠陥
個数はステップ２０１において０に設定されているの
で、初めてステップ２１４に進んできた時には、媒体の
総欠陥個数は１になる。
【００４８】ステップ２１５ではＮ番目のハイラッチ回
路の値をそのサーボセクタの欠陥の先頭として登録す
る。次のステップ２１６ではＮ番目のローラッチ回路の
値が０か否かが判定される。Ｎ番目のローラッチ回路の
値が０の時はステップ２１７に進んでＮ番目のローラッ
チ回路の値をリードゲートが閉じる位置の値に変更す
る。この処理は、サーボセクタの終りまで欠陥が連続す
る場合は、ローラッチ回路に値が入らないために、セク
タの終りの値を欠陥終了位置とする処理である。また、
ステップ２１６においてＮ番目のローラッチ回路の値が
０でない場合はステップ２１８に進む。ステップ２１８
ではＮ番目のローラッチ回路とハイラッチ回路の差を欠
陥の長さとして登録する。そして、ステップ２１９にお
いてハイラッチ回路とローラッチ回路の番号Ｎに１を加
算し、次のステップ２２０でＮ番目のハイラッチ回路の
値が０か否かを判定し、０の場合はステップ２２１に進
み、０でない場合はステップ２１４に戻る。
路の値をそのサーボセクタの欠陥の先頭として登録す
る。次のステップ２１６ではＮ番目のローラッチ回路の
値が０か否かが判定される。Ｎ番目のローラッチ回路の
値が０の時はステップ２１７に進んでＮ番目のローラッ
チ回路の値をリードゲートが閉じる位置の値に変更す
る。この処理は、サーボセクタの終りまで欠陥が連続す
る場合は、ローラッチ回路に値が入らないために、セク
タの終りの値を欠陥終了位置とする処理である。また、
ステップ２１６においてＮ番目のローラッチ回路の値が
０でない場合はステップ２１８に進む。ステップ２１８
ではＮ番目のローラッチ回路とハイラッチ回路の差を欠
陥の長さとして登録する。そして、ステップ２１９にお
いてハイラッチ回路とローラッチ回路の番号Ｎに１を加
算し、次のステップ２２０でＮ番目のハイラッチ回路の
値が０か否かを判定し、０の場合はステップ２２１に進
み、０でない場合はステップ２１４に戻る。
【００４９】ステップ２２１では媒体の総欠陥個数が、
媒体に許される最大欠陥個数以下か否かが判定され、最
大欠陥個数以下の場合はステップ２１１に進んで全セク
タのリードが終了したか否かが判定されるが、総欠陥個
数が最大欠陥個数を越えた場合は、ステップ２２２に進
み、装置不良、即ち、この媒体は欠陥箇所が多くて使用
できないので交換の必要があることを示してステップ２
１２に進み、欠陥検出モードを解除してこのルーチンを
終了する。
媒体に許される最大欠陥個数以下か否かが判定され、最
大欠陥個数以下の場合はステップ２１１に進んで全セク
タのリードが終了したか否かが判定されるが、総欠陥個
数が最大欠陥個数を越えた場合は、ステップ２２２に進
み、装置不良、即ち、この媒体は欠陥箇所が多くて使用
できないので交換の必要があることを示してステップ２
１２に進み、欠陥検出モードを解除してこのルーチンを
終了する。
【００５０】このように、媒体に欠陥がある場合はその
部分の長さを登録して使用しないようにし、媒体の欠陥
箇所が許容数を越えて多い場合には、使用できる領域が
少ないので、その媒体を不良として交換が指示される。
次に、ドライブＬＳＩ４の動作について図１４を用いて
説明する。媒体にミッシングの欠陥が存在すると、この
欠陥によりリード信号ＲＳに振幅が低くなる異常が発生
する。この欠陥は前述のリードチャネルＩＣの欠陥検出
回路４０（図６）によって検出され、リードチャネルＩ
ＣからはリードリファレンスクロックＲＲＣに同期して
欠陥検出信号ＤＤがハイレベルになる。このハイレベル
になった欠陥検出信号ＤＤの位置と、ローレベルになっ
た欠陥検出信号ＤＤの位置をレジスタに記録しておくこ
とにより媒体欠陥の位置とその大きさを知ることが可能
となる。
部分の長さを登録して使用しないようにし、媒体の欠陥
箇所が許容数を越えて多い場合には、使用できる領域が
少ないので、その媒体を不良として交換が指示される。
次に、ドライブＬＳＩ４の動作について図１４を用いて
説明する。媒体にミッシングの欠陥が存在すると、この
欠陥によりリード信号ＲＳに振幅が低くなる異常が発生
する。この欠陥は前述のリードチャネルＩＣの欠陥検出
回路４０（図６）によって検出され、リードチャネルＩ
ＣからはリードリファレンスクロックＲＲＣに同期して
欠陥検出信号ＤＤがハイレベルになる。このハイレベル
になった欠陥検出信号ＤＤの位置と、ローレベルになっ
た欠陥検出信号ＤＤの位置をレジスタに記録しておくこ
とにより媒体欠陥の位置とその大きさを知ることが可能
となる。
【００５１】フリップフロップ２３は欠陥検出信号ＤＤ
を、リードリファレンスクロックＲＲＣの立ち下がりエ
ッジで取り込む。フリップフロップ２４の出力は、欠陥
が発生したことを示す信号であり、補正された欠陥検出
信号ＤＤＣは、フリップフロップ２４の出力をリードゲ
ート信号ＲＧの立ち下がりで取り込んだ信号である。Ｄ
Ｄカウンタ３１のＯｕｔ０は出力のビット０であり、Ｏ
ｕｔ１は出力のビット１である。よって、ＤＤカウンタ
３１のＯｕｔ０とＯｕｔ１が共にローの時は、ＤＤカウ
ンタ３１の出力値は０であり、Ｏｕｔ０がハイでＯｕｔ
１がローの時は、ＤＤカウンタ３１の出力値は１であ
り、Ｏｕｔ０がローでＯｕｔ１がハイの時は、ＤＤカウ
ンタ３１の出力値は２である。
を、リードリファレンスクロックＲＲＣの立ち下がりエ
ッジで取り込む。フリップフロップ２４の出力は、欠陥
が発生したことを示す信号であり、補正された欠陥検出
信号ＤＤＣは、フリップフロップ２４の出力をリードゲ
ート信号ＲＧの立ち下がりで取り込んだ信号である。Ｄ
Ｄカウンタ３１のＯｕｔ０は出力のビット０であり、Ｏ
ｕｔ１は出力のビット１である。よって、ＤＤカウンタ
３１のＯｕｔ０とＯｕｔ１が共にローの時は、ＤＤカウ
ンタ３１の出力値は０であり、Ｏｕｔ０がハイでＯｕｔ
１がローの時は、ＤＤカウンタ３１の出力値は１であ
り、Ｏｕｔ０がローでＯｕｔ１がハイの時は、ＤＤカウ
ンタ３１の出力値は２である。
【００５２】ハイラッチ回路２６のｎ番目のものをハイ
ラッチｎとした時に、ハイラッチ１はそのＬＴ入力がロ
ーになった時にカウンタ２６の出力をラッチするので、
ハイラッチ１の出力は３となり、ハイラッチ２はそのＬ
Ｔ入力がローになった時にカウンタ２６の出力をラッチ
するので、ハイラッチ２の出力は５となる。同様に、ロ
ーラッチ回路３０のｎ番目のものをローラッチｎとした
時に、ローラッチ１はそのＬＴ入力がローになった時に
カウンタ２６の出力をラッチするので、ローラッチ１の
出力は５となり、ローラッチ２はそのＬＴ入力がローに
なった時にカウンタ２６の出力をラッチするので、ロー
ラッチ２の出力は１３となる。
ラッチｎとした時に、ハイラッチ１はそのＬＴ入力がロ
ーになった時にカウンタ２６の出力をラッチするので、
ハイラッチ１の出力は３となり、ハイラッチ２はそのＬ
Ｔ入力がローになった時にカウンタ２６の出力をラッチ
するので、ハイラッチ２の出力は５となる。同様に、ロ
ーラッチ回路３０のｎ番目のものをローラッチｎとした
時に、ローラッチ１はそのＬＴ入力がローになった時に
カウンタ２６の出力をラッチするので、ローラッチ１の
出力は５となり、ローラッチ２はそのＬＴ入力がローに
なった時にカウンタ２６の出力をラッチするので、ロー
ラッチ２の出力は１３となる。
【００５３】実際の回路においては、リードゲートが開
いている時間（リードゲート信号ＲＧがハイレベルの時
間）をカウント可能なカウンタと、欠陥情報が出力され
るＨＤＣ５とリードチャネルＩＣ４の間のデータバスが
ハイレベルになった時のカウンタの値を記録する複数の
ラッチと、ローレベルになった時のカウンタの値を記録
する複数のラッチを設けることにより、１回のリードゲ
ート中に存在する複数の欠陥を検出することが可能とな
る。
いている時間（リードゲート信号ＲＧがハイレベルの時
間）をカウント可能なカウンタと、欠陥情報が出力され
るＨＤＣ５とリードチャネルＩＣ４の間のデータバスが
ハイレベルになった時のカウンタの値を記録する複数の
ラッチと、ローレベルになった時のカウンタの値を記録
する複数のラッチを設けることにより、１回のリードゲ
ート中に存在する複数の欠陥を検出することが可能とな
る。
【００５４】以上説明したように、本発明によれば、リ
ードチャネルＩＣ内部にもともと内蔵されている１＋Ｄ
の演算回路を流用し、且つＡＤ変換器の出力を絶対値で
演算するか符号有りで演算するかを切り替える機能と、
１＋Ｄの演算結果を基準値と比較することにより、短時
間で媒体にどのような欠陥がどのような位置に存在して
いるか検査することが可能となり、磁気ディスク装置の
製造性と信頼性の向上に寄与することが大である。
ードチャネルＩＣ内部にもともと内蔵されている１＋Ｄ
の演算回路を流用し、且つＡＤ変換器の出力を絶対値で
演算するか符号有りで演算するかを切り替える機能と、
１＋Ｄの演算結果を基準値と比較することにより、短時
間で媒体にどのような欠陥がどのような位置に存在して
いるか検査することが可能となり、磁気ディスク装置の
製造性と信頼性の向上に寄与することが大である。
【００５５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気ディ
スク装置及びこの装置に使用するリードチャネルＩＣに
よれば、媒体欠陥のサーマルアスペリティ、ミッシン
グ、及びエキストラを区別して少ないリード回数で媒体
欠陥を検出することができるという効果がある。
スク装置及びこの装置に使用するリードチャネルＩＣに
よれば、媒体欠陥のサーマルアスペリティ、ミッシン
グ、及びエキストラを区別して少ないリード回数で媒体
欠陥を検出することができるという効果がある。
【図１】本発明の磁気ディスク装置の第１から第４の形
態の原理的な構成を示すブロック図である。
態の原理的な構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の磁気ディスク装置の第５の形態の原理
的な構成を示すブロック図である。
的な構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の磁気ディスク装置の全体構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】図３のリードチャネルＩＣの内部構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図５】図３のドライブＬＳＩの内部構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】図４の欠陥検出回路の内部構成を示すブロック
図である。
図である。
【図７】媒体欠陥がミッシングの時の、本発明の磁気デ
ィスク装置における欠陥検出の動作を説明するタイムチ
ャートである。
ィスク装置における欠陥検出の動作を説明するタイムチ
ャートである。
【図８】媒体欠陥がエキストラの時の、本発明の磁気デ
ィスク装置における欠陥検出の動作を説明するタイムチ
ャートである。
ィスク装置における欠陥検出の動作を説明するタイムチ
ャートである。
【図９】媒体欠陥がサーマルアスペリティの時の、本発
明の磁気ディスク装置における欠陥検出の動作を説明す
るタイムチャートである。
明の磁気ディスク装置における欠陥検出の動作を説明す
るタイムチャートである。
【図１０】ドライブＬＳＩにおける第１の欠陥検出信号
ＤＤの取込みタイミングを説明するタイムチャートであ
る。
ＤＤの取込みタイミングを説明するタイムチャートであ
る。
【図１１】エンベデッドサーボ方式の欠陥検出モード時
のフォーマット例を示す説明図である。
のフォーマット例を示す説明図である。
【図１２】本発明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出動
作の手順の一例を示すフローチャートの一部である。
作の手順の一例を示すフローチャートの一部である。
【図１３】本発明の磁気ディスク装置の媒体欠陥検出動
作の手順の一例を示すフローチャートの一部である。
作の手順の一例を示すフローチャートの一部である。
【図１４】図５のドライブＬＳＩの各部の動作を示すタ
イムチャートである。
イムチャートである。
１…磁気ディスク媒体 ２…磁気ヘッド ４…リードチャネルＩＣ ５…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ） ７…ドライブＬＳＩ ８…ＭＣＵ ２０…サーマルアスペリティ検出器 ２３〜２５，３３，３４…フリップフロップ（ＦＦ） ２６…サーボゲートカウンタ ２８…ハイラッチ回路 ３０…ローラッチ回路 ３１…欠陥信号カウンタ ３５，３６…マルチプレクサ（ＭＰＸ） ３７…セレクタ ４０…欠陥検出回路 ４１…１＋Ｄの演算回路 ４２，４３…比較器 ４５…基準値出力回路 ４６…基準値変更回路
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 5/09 G11B 5/00 - 5/024
Claims (19)
- 【請求項１】 ヘッドから読み出されたリード信号から
媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク装置で
あって、 前記リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、 サンプリングされたサンプル値と前回のサンプル値の和
を算出する加算手段と、 今回と前回のサンプル値の和を、予め設定された下限を
示す下限基準値、及び上限を示す上限基準値と比較する
比較手段、及び、 前記サンプル値の和が、前記下限基準値を下回った部
分、及び、前記上限基準値を上回った部分を、サーマル
アスペリティによる媒体欠陥として検出し、欠陥検出信
号を発生する欠陥検出信号発生手段と、 を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項２】 ヘッドから読み出されたリード信号から
媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク装置で
あって、 前記リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、 サンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプ
ル値の絶対値の和を算出する加算手段と、 今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値と比較する比較手段、及び、 前記サンプル値の絶対値の和が、前記下限基準値を下回
った部分を、ミッシングによる媒体欠陥として検出し、
欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段と、 を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項３】 ヘッドから読み出されたリード信号から
媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク装置で
あって、 前記リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、 サンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプ
ル値の絶対値の和を算出する加算手段と、 今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た上限を示す上限基準値と比較する比較手段、及び、 前記サンプル値の絶対値の和が、前記上限基準値を上回
った部分を、エキストラによる媒体欠陥として検出し、
欠陥検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段と、 を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項４】 ヘッドから読み出されたリード信号から
媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク装置で
あって、 前記リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、 サンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプ
ル値の絶対値の和を算出する加算手段と、 今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す下限基準値、及び上限を示す上限基準値と
比較する比較手段、及び、 前記サンプル値の絶対値の和が、前記下限基準値を下回
った部分をミッシングによる媒体欠陥として検出すると
共に、前記上限基準値を上回った部分をエキストラによ
る媒体欠陥として検出し、欠陥検出信号を発生する欠陥
検出信号発生手段とを備え、 一度のリード動作で２つの欠陥を検出できることを特徴
とする磁気ディスク装置。 - 【請求項５】 ヘッドから読み出されたリード信号から
媒体の欠陥を検出することができる磁気ディスク装置で
あって、 前記リード信号をサンプリングするサンプリング手段
と、 サンプリングされたサンプル値と前回のサンプル値の和
を算出する第１の加算手段と、 サンプリングされたサンプル値の絶対値と前回のサンプ
ル値の絶対値の和を算出する第２の加算手段と、 今回と前回のサンプル値の和を、予め設定された下限を
示す第１の下限基準値、及び上限を示す第１の上限基準
値と比較する第１の比較手段、 今回と前回のサンプル値の絶対値の和を、予め設定され
た下限を示す第２の下限基準値、及び上限を示す第２の
上限基準値と比較する第２の比較手段、及び、 前記サンプル値の和が、前記第１の下限基準値を下回っ
た部分、及び、前記第２の上限基準値を上回った部分
を、サーマルアスペリティによる媒体欠陥として検出す
ると共に、前記サンプル値の絶対値の和が、前記第２の
下限基準値を下回った部分をミッシングによる媒体欠陥
として検出すると共に、前記第２の上限基準値を上回っ
た部分をエキストラによる媒体欠陥として検出し、欠陥
検出信号を発生する欠陥検出信号発生手段とを備え、 一度のリード動作で３種類の媒体欠陥を検出できること
を特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項６】 請求項１から５の何れか１項に記載の磁
気ディスク装置であって、更に、 前記欠陥検出信号から、パルス幅が後段の回路で取り込
み可能な所定の幅以上に広い補正欠陥検出信号を発生す
る欠陥検出信号補正手段を備える磁気ディスク装置。 - 【請求項７】 請求項６に記載の磁気ディスク装置であ
って、 前記欠陥検出信号補正手段は、前記欠陥検出信号が入力
された場合に、次のリードリファレンスクロックに同期
して、少なくともこのリードリファレンスクロックの１
周期の幅以上の幅を持つ補正欠陥検出信号を出力する磁
気ディスク装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の磁気ディスク装置であ
って、更に、 前記媒***置に同期して発生されるクロックをカウント
するカウンタ、及び前記補正欠陥検出信号の変化点にお
ける前記カウンタの値を保持するラッチとを備え、 前記補正欠陥検出信号の出力開始と終了に対応する媒体
上の位置を記録できるようにした磁気ディスク装置。 - 【請求項９】 請求項１から５の何れか１項に記載の磁
気ディスク装置であって、更に、 前記基準値の値を変更可能な基準値変更手段を備える磁
気ディスク装置。 - 【請求項１０】 請求項１から５の何れか１項に記載の
磁気ディスク装置であって、更に、 リード動作を示すリードゲート信号が偽になるタイミン
グを検出する偽タイミング検出手段、及び、 前記欠陥検出信号発生手段から欠陥検出信号が発生され
た場合に、前記偽タイミングで磁気ディスク装置を制御
するプロセッサに対して割り込みを発生させ、このプロ
セッサに欠陥検出処理を行わせる割込制御手段と、 を備える磁気ディスク装置。 - 【請求項１１】 請求項１から５の何れか１項に記載の
磁気ディスク装置であって、 前記サンプリング手段が前記リード信号のサンプリング
を、媒体の信号に非同期で行うことを特徴とする磁気デ
ィスク装置。 - 【請求項１２】 請求項１から５の何れか１項に記載の
磁気ディスク装置であって、 前記媒体には、書込み可能な最高周波数で単一のデータ
パターンが書き込まれている磁気ディスク装置。 - 【請求項１３】 請求項１から５の何れか１項に記載の
磁気ディスク装置に使用するリードチャネルＩＣであっ
て、 前記サンプリング手段、加算手段、比較手段、及び欠陥
検出信号発生手段とを内蔵するリードチャネルＩＣ。 - 【請求項１４】 請求項１３に記載のリードチャネルＩ
Ｃであって、 前記欠陥検出信号から、パルス幅が後段の回路で取り込
み可能な所定の幅以上に広い補正欠陥検出信号を発生す
る欠陥検出信号補正手段を備えるリードチャネルＩＣ。 - 【請求項１５】 請求項１４に記載のリードチャネルＩ
Ｃであって、 前記欠陥検出信号補正手段は、前記欠陥検出信号が入力
された場合に、次のリードリファレンスクロックに同期
して、少なくともこのリードリファレンスクロックの１
周期の幅以上の幅を持つ補正欠陥検出信号を出力するリ
ードチャネルＩＣ。 - 【請求項１６】 請求項１５に記載のリードチャネルＩ
Ｃであって、更に、 前記媒***置に同期して発生されるクロックをカウント
するカウンタ、及び前記補正欠陥検出信号の変化点にお
ける前記カウンタの値を保持するラッチとを備え、 前記補正欠陥検出信号の出力開始と終了に対応する媒体
上の位置を記録できるようにしたリードチャネルＩＣ。 - 【請求項１７】 請求項１３から１６の何れか１項に記
載のリードチャネルＩＣであって、更に、 前記基準値の値を変更可能な基準値変更手段を備えるリ
ードチャネルＩＣ。 - 【請求項１８】 請求項１３から１７の何れか１項に記
載のリードチャネルＩＣであって、更に、 リード動作を示すリードゲート信号が偽になるタイミン
グを検出する偽タイミング検出手段、及び、 前記欠陥検出信号発生手段から欠陥検出信号が発生され
た場合に、前記偽タイミングで磁気ディスク装置を制御
するプロセッサに対して割り込みを発生させ、このプロ
セッサに欠陥検出処理を行わせる割込制御手段と、 を備えリードチャネルＩＣ。 - 【請求項１９】 請求項１３から１８の何れか１項に記
載のリードチャネルＩＣであって、 前記サンプリング手段が前記リード信号のサンプリング
を媒体の信号に非同期で行うことを特徴とするリードチ
ャネルＩＣ。
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