JPH0244272A - 磁気ディスク装置の媒体検査方法 - Google Patents
磁気ディスク装置の媒体検査方法Info
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- JPH0244272A JPH0244272A JP19505588A JP19505588A JPH0244272A JP H0244272 A JPH0244272 A JP H0244272A JP 19505588 A JP19505588 A JP 19505588A JP 19505588 A JP19505588 A JP 19505588A JP H0244272 A JPH0244272 A JP H0244272A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 27
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 230000006355 external stress Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要］
磁気ディスク媒体の表面の傷などの欠陥を検査する方法
に関し、 少ないＷ／Ｒ回数により、しかもデジタル的な欠陥検出
方法によって媒体検査を実現可能とし、作業が困難で時
間を要するアナログ方式の欠陥検出工程と設備を要しな
い媒体検査方法を実現することを目的とし、 磁気ディスク媒体よりの読出し信号を、予め設けられた
スライスレベルと比較することで、欠陥であるかどうか
を判定する方法において、磁気ディスク装置の内部のア
ナログ／デジタル変換部に、スライスレベル可変部を設
けたこと、該アナログ／デジタル変換部において、アナ
ログ／デジタル変換を行なう際のスライスレベル（基準
電圧）を、スライスレベル可変部によって上下に変化し
た状態で、磁気ディスク媒体の欠陥をデジタル的に検出
すること、 を特徴とする方法を採っている。
に関し、 少ないＷ／Ｒ回数により、しかもデジタル的な欠陥検出
方法によって媒体検査を実現可能とし、作業が困難で時
間を要するアナログ方式の欠陥検出工程と設備を要しな
い媒体検査方法を実現することを目的とし、 磁気ディスク媒体よりの読出し信号を、予め設けられた
スライスレベルと比較することで、欠陥であるかどうか
を判定する方法において、磁気ディスク装置の内部のア
ナログ／デジタル変換部に、スライスレベル可変部を設
けたこと、該アナログ／デジタル変換部において、アナ
ログ／デジタル変換を行なう際のスライスレベル（基準
電圧）を、スライスレベル可変部によって上下に変化し
た状態で、磁気ディスク媒体の欠陥をデジタル的に検出
すること、 を特徴とする方法を採っている。
本発明は、磁気ディスク媒体の表面の傷などの欠陥を検
査する方法に関する。
査する方法に関する。
磁気ディスク装置の媒体上の欠陥部（傷）を、インター
フェースからのデータの書き込み、読出し動作（以下”
’Ｗ／Ｒ’”と略す）によって検出する方法は、デジタ
ル的な欠陥検出方法と定義できる。従来のデジタル的欠
陥検出方法は、Ｗ／Ｈするデータのパターンの種類、順
序、回数等の項目を多種、多様に組み合わせることで行
なっていた。
フェースからのデータの書き込み、読出し動作（以下”
’Ｗ／Ｒ’”と略す）によって検出する方法は、デジタ
ル的な欠陥検出方法と定義できる。従来のデジタル的欠
陥検出方法は、Ｗ／Ｈするデータのパターンの種類、順
序、回数等の項目を多種、多様に組み合わせることで行
なっていた。
第８図に、磁気ディスク装置の記録信号系の概念図を示
す。９は磁気ディスク媒体であり、磁気ヘッド８でデー
タが記録／再生される。アナログ／デジタル変換部１０
は、磁気ヘッド８で続出された微小の読出し電流を電圧
の大きさに増幅し、基卓電圧（スライスレベル）とその
大きさ比較し、スライスレベルより続出し電流が大きい
か、小さいかにより、デジタル値°“１“ °“０°゛
に変換している。これらの信号は、デジタル部１１にお
いて、必要とする形に整形して、ホストインタフェース
１２に送り出される。
す。９は磁気ディスク媒体であり、磁気ヘッド８でデー
タが記録／再生される。アナログ／デジタル変換部１０
は、磁気ヘッド８で続出された微小の読出し電流を電圧
の大きさに増幅し、基卓電圧（スライスレベル）とその
大きさ比較し、スライスレベルより続出し電流が大きい
か、小さいかにより、デジタル値°“１“ °“０°゛
に変換している。これらの信号は、デジタル部１１にお
いて、必要とする形に整形して、ホストインタフェース
１２に送り出される。
第９図に、アナログ／デジタル変換部の読出し時の動作
原理を示す。この図に示すように、磁気ディスク媒体よ
り読出した信号電流１が、スライスレベル２より大きい
か、それとも小さいかによって、デジタル信号の“Ｉ”
および“０”に変換している。すなわち、読出されたア
ナログ信号１が、スライスレベル２より大きい場合にデ
ジタル信号の１″に変換され、小さい場合に“０”に変
換される。
原理を示す。この図に示すように、磁気ディスク媒体よ
り読出した信号電流１が、スライスレベル２より大きい
か、それとも小さいかによって、デジタル信号の“Ｉ”
および“０”に変換している。すなわち、読出されたア
ナログ信号１が、スライスレベル２より大きい場合にデ
ジタル信号の１″に変換され、小さい場合に“０”に変
換される。
これに対し、読出した信号電流１の大きさが、スライス
レベル２とほぼ同等の場合は、判定が困難である。すな
わち、第１０図に示すように、磁気ディスク媒体より読
出した信号電流１が、スライスレベル２とほぼ同じ大き
さの場合は、アナログ／デジタル変換部１０で、デジタ
ル値の′ｌ′°と判断されるか、“０パと判断されるか
が不安定となる。そのため、不安定なデジタル信号２０
は、読出すたびにデジタル値の“ビになったり、Ｏ″に
なったりし、確定した値とならない。
レベル２とほぼ同等の場合は、判定が困難である。すな
わち、第１０図に示すように、磁気ディスク媒体より読
出した信号電流１が、スライスレベル２とほぼ同じ大き
さの場合は、アナログ／デジタル変換部１０で、デジタ
ル値の′ｌ′°と判断されるか、“０パと判断されるか
が不安定となる。そのため、不安定なデジタル信号２０
は、読出すたびにデジタル値の“ビになったり、Ｏ″に
なったりし、確定した値とならない。
ところで、磁気ディスク装置側のスライスレベルは、ア
ナログ／デジタル変換の安定している状態に調整されて
いる。そのため、前記のような方法では、第１に、第１
０図に示すようにデジタル的に欠陥と判断されるかどう
かの境界付近のレベルでの欠陥部については、最低で１
（１６回以上ものＷ／Ｒ動作を行なわないと、検出不可
能であった。
ナログ／デジタル変換の安定している状態に調整されて
いる。そのため、前記のような方法では、第１に、第１
０図に示すようにデジタル的に欠陥と判断されるかどう
かの境界付近のレベルでの欠陥部については、最低で１
（１６回以上ものＷ／Ｒ動作を行なわないと、検出不可
能であった。
またデジタル的な欠陥検出を何回行なうのが望ましいか
の判断も、欠陥の種類によって異なり、実用上難しい問
題があった。
の判断も、欠陥の種類によって異なり、実用上難しい問
題があった。
第２に、前記の第１の理由により、磁気ディスク媒体上
の傷検出の基本的方法として、アナログ検出方法をとら
ざるを得なかった。
の傷検出の基本的方法として、アナログ検出方法をとら
ざるを得なかった。
ところが、アナログ的方法では、磁気ディスク装置の外
部に、アナログ的に波形のレベルを計測するための設備
と工程を設けて、媒体傷を検出しなければならない、そ
して、デジタル的傷検出は、アナログ検出した傷の確認
程度としてしか用いられていない。
部に、アナログ的に波形のレベルを計測するための設備
と工程を設けて、媒体傷を検出しなければならない、そ
して、デジタル的傷検出は、アナログ検出した傷の確認
程度としてしか用いられていない。
本発明の技術的課題は、従来の磁気ディスク装置の媒体
検査方法におけるこのような問題を解消し、少ないＷ／
Ｒ回数により、しかもデジタル的な欠陥検出方法によっ
て媒体検査を実現可能とし、作業が困難で時間を要する
アナログ方式の傷検出工程と設備を要しない磁気ディス
ク装置の媒体検査方法を実現することにある。
検査方法におけるこのような問題を解消し、少ないＷ／
Ｒ回数により、しかもデジタル的な欠陥検出方法によっ
て媒体検査を実現可能とし、作業が困難で時間を要する
アナログ方式の傷検出工程と設備を要しない磁気ディス
ク装置の媒体検査方法を実現することにある。
第１図は本発明による磁気ディスク装置の媒体検査方法
の基本原理を説明するブロック図である。
の基本原理を説明するブロック図である。
１５は磁気ディスク装置であり、磁気ディスク媒体９に
、磁気へラド８で情報が記録／再生される。
、磁気へラド８で情報が記録／再生される。
磁気ディスク装置１５の内部のアナログ／デジタル変換
部１０に、スライスレベル可変部１６を有している。そ
してこのアナログ／デジタル変換部１０において、磁気
ディスク媒体よりの読出し信号を、予め設けられたスラ
イスレベルと比較することで、アナログ／デジタル変換
を行ない、傷であるかどうかを判定する０本発明では、
この際のスライスレベル（基準電圧）を、スライスレベ
ル可変部１６によって上下に変化した状態で、磁気ディ
スク媒体の欠陥をデジタル的に検出する。
部１０に、スライスレベル可変部１６を有している。そ
してこのアナログ／デジタル変換部１０において、磁気
ディスク媒体よりの読出し信号を、予め設けられたスラ
イスレベルと比較することで、アナログ／デジタル変換
を行ない、傷であるかどうかを判定する０本発明では、
この際のスライスレベル（基準電圧）を、スライスレベ
ル可変部１６によって上下に変化した状態で、磁気ディ
スク媒体の欠陥をデジタル的に検出する。
このとき、スライスレベルは、媒体欠陥の種類に応じて
、その欠陥が検出され易い方向に変化させることにより
、欠陥を容易にかつ正確に発見できる。
、その欠陥が検出され易い方向に変化させることにより
、欠陥を容易にかつ正確に発見できる。
磁気ディスク媒体の欠陥について、その分類を行なうと
、次の２種類に大別される。
、次の２種類に大別される。
■ミッシング傷（Ｍ傷）
磁気ディスク媒体表面の磁性材料の欠陥により、磁化さ
れるべき磁性材料が少ないために、第４図に４で示すよ
うに、読出し時に誘起される電流値が低下する場合。
れるべき磁性材料が少ないために、第４図に４で示すよ
うに、読出し時に誘起される電流値が低下する場合。
■エキストラ傷（Ｅ傷）
ミッシング傷よりも更に深い傷であり、磁気ヘッドと磁
気ディスク媒体面との間の距離が大きくなって、十分に
磁化されないため、あるいは以前に書込まれた方向の残
留磁気が消去できずに、第５図に５で示すように、結果
的に読出し時に正しい方向の電流が誘起されない場合。
気ディスク媒体面との間の距離が大きくなって、十分に
磁化されないため、あるいは以前に書込まれた方向の残
留磁気が消去できずに、第５図に５で示すように、結果
的に読出し時に正しい方向の電流が誘起されない場合。
このように、ミッシング傷、エキストラ傷などによって
、磁気ディスク媒体より読出された信号電流の大きさや
方向が変わってしまうことに着目すれば、磁気ディスク
装置そのものに設定されているアナログ／デジタル変換
部のスライスレベル（基準電圧）を、傷の種類に対応し
て、その傷が検出され易い方向に変化させてやることに
より、傷が発見し易くなる。
、磁気ディスク媒体より読出された信号電流の大きさや
方向が変わってしまうことに着目すれば、磁気ディスク
装置そのものに設定されているアナログ／デジタル変換
部のスライスレベル（基準電圧）を、傷の種類に対応し
て、その傷が検出され易い方向に変化させてやることに
より、傷が発見し易くなる。
第２図はミッシング傷に対する検出方法を示したもので
、スライスレベル２を、上方へのストレスを加えたスラ
イスレベル２ｕに変化している。その結果、ミッシング
傷によって信号電流が低下した部分４は、完全にスライ
スレベル２ｕより下側となるため、確実にミッシング傷
として検出、判断される。
、スライスレベル２を、上方へのストレスを加えたスラ
イスレベル２ｕに変化している。その結果、ミッシング
傷によって信号電流が低下した部分４は、完全にスライ
スレベル２ｕより下側となるため、確実にミッシング傷
として検出、判断される。
また第３図は、エキストラ傷に対する検出方法を示した
もので、スライスレベル２を、下方へのストレスを加え
たスライスレベル２ｄに変化している。その結果、エキ
ストラ傷による信号電流５が、スライスレベル２ｄにと
らえられて、エキストラ傷として検出、判断される。
もので、スライスレベル２を、下方へのストレスを加え
たスライスレベル２ｄに変化している。その結果、エキ
ストラ傷による信号電流５が、スライスレベル２ｄにと
らえられて、エキストラ傷として検出、判断される。
このようにデジタル的な欠陥検出を行なう際に、スライ
スレベルを可変させることによって、欠陥の検出、判定
が確実かつ容易となるため、より少ない回数のＷ／Ｒで
欠陥を検出することが可能となる。
スレベルを可変させることによって、欠陥の検出、判定
が確実かつ容易となるため、より少ない回数のＷ／Ｒで
欠陥を検出することが可能となる。
次に本発明による磁気ディスク装置の媒体検査方法が実
際上どのように具体化されるかを実施例で説明する。
際上どのように具体化されるかを実施例で説明する。
（１）磁気ディスク装置回路に外部ストレスを加える方
法。
法。
第６図（ａ） （ｂ）は、外部ストレスを加えるために
、外付は抵抗１３を設けた例であり、第６図（ａ）はブ
ロック図、第６図ら）は装置の外観斜視図である。
、外付は抵抗１３を設けた例であり、第６図（ａ）はブ
ロック図、第６図ら）は装置の外観斜視図である。
この実施例は、磁気ディスク装置のＲＥＡＤアンプ回路
部、すなわち磁気ヘッドからの微少な読出し電流を増幅
し、そのアナログ信号をデジタル信号に変換する部分１
０のアナログ／デジタル変換のスライスレベル可変部１
８に、外部から抵抗器１３を、クリップ１７等でクラン
プすることにより、スライスレベルを上下させるもので
ある。
部、すなわち磁気ヘッドからの微少な読出し電流を増幅
し、そのアナログ信号をデジタル信号に変換する部分１
０のアナログ／デジタル変換のスライスレベル可変部１
８に、外部から抵抗器１３を、クリップ１７等でクラン
プすることにより、スライスレベルを上下させるもので
ある。
（２）ホストインタフェース上のコマンドにより、磁気
ディスク装置自身がスライスレベルを変化させる方法。
ディスク装置自身がスライスレベルを変化させる方法。
第７図（ａ）（ト））は、内蔵されたストレス回路１９
によって、スライスレベルを変化させる実施例を示して
いる。第７図（ａ）はブロック図であり、内蔵ストレス
回路１９中のスイッチ２０で、抵抗値を選択することに
より、スライスレベルを変化させる。このスイッチ２０
は、以下に説明する特別コマンドで、自動的に切り換え
られる。
によって、スライスレベルを変化させる実施例を示して
いる。第７図（ａ）はブロック図であり、内蔵ストレス
回路１９中のスイッチ２０で、抵抗値を選択することに
より、スライスレベルを変化させる。このスイッチ２０
は、以下に説明する特別コマンドで、自動的に切り換え
られる。
第７図（ｂ）は実際の装置の外観斜視図である。この実
施例は、前記（１）の実施例における外部ストレス回路
を、装置１４の中に内蔵し、ホストインタフェース上の
コマンドに定義した特別なコマンドで、選択スイッチを
駆動し、スライスレベルを制御する。
施例は、前記（１）の実施例における外部ストレス回路
を、装置１４の中に内蔵し、ホストインタフェース上の
コマンドに定義した特別なコマンドで、選択スイッチを
駆動し、スライスレベルを制御する。
すなわち、この実施例におけるデジタル部１１ａは、ホ
ストインタフェース１２を介して、図示しない試験装置
から送出されて来る抵抗値切り替えコマンドを解析する
コマンド解析部と、コマンド解析部の解析結果に応じて
、スライスレベル可変部である内蔵ストレス回路１９に
対して切り替え指示を発する制御部を含んで構成される
。
ストインタフェース１２を介して、図示しない試験装置
から送出されて来る抵抗値切り替えコマンドを解析する
コマンド解析部と、コマンド解析部の解析結果に応じて
、スライスレベル可変部である内蔵ストレス回路１９に
対して切り替え指示を発する制御部を含んで構成される
。
なおホストインタフェース１２は、５ｃｓｒインタフエ
ースを採用することにより、特別コマンドが容易に設定
可能である。
ースを採用することにより、特別コマンドが容易に設定
可能である。
したがって、磁気ディスク装置の試験装置は、所定の試
験項目に応じて、抵抗値切り替えコマンドを発すること
により、エキストラ傷用およびミッシング傷用、および
通常動作用の抵抗値に切り替え指示を発するように構成
すればよい。
験項目に応じて、抵抗値切り替えコマンドを発すること
により、エキストラ傷用およびミッシング傷用、および
通常動作用の抵抗値に切り替え指示を発するように構成
すればよい。
以上のように従来の媒体検査方法では、デジタル的検出
、判定が難しく、また極めて多数回にわたってＷ／Ｒを
行なわねば検出できなかったが、本発明の方法によれば
、少ない回数のＷ／Ｒで、正確かつ容易に媒体欠陥を検
出できる。また従来必要とされたアナログ式の欠陥検出
工程と設備が不要となる。その結果、磁気ディスク装置
の信頬性向上と生産性向上に寄与するところが大きい。
、判定が難しく、また極めて多数回にわたってＷ／Ｒを
行なわねば検出できなかったが、本発明の方法によれば
、少ない回数のＷ／Ｒで、正確かつ容易に媒体欠陥を検
出できる。また従来必要とされたアナログ式の欠陥検出
工程と設備が不要となる。その結果、磁気ディスク装置
の信頬性向上と生産性向上に寄与するところが大きい。
第１図は本発明による磁気ディスク装置の媒体検査方法
の基本原理を説明するブロック図、第２図はミッシング
傷の検出方法を説明する波形図、第３図はエキストラ傷
の検出方法を説明する波形図、第４図はミッシング傷に
よる信号電流を説明する波形図、第５図はエキストラ傷
による信号電流を説明する波形図、第６図は磁気ディス
ク装置回路に外部ストレスを加える例を説明する図で、
（ａ）はブロック図、ら）は外観斜視図、第７図は磁気
ディスク装置自身がストレス回路を内蔵している例を示
す図、第８図は従来の磁気ディスク装置の信号系を示す
概念図、第９図はアナログ／デジタル変換部の続出し時
の動作を説明する図、第１０図は磁気ディスク媒体の読
出し信号がスライスレベル付近の場合を説明する波形図
である。 図において、１は磁気ディスク媒体より読出された信号
電流、２はスライスレベル、３はデジタル信号、４はミ
ッシング傷による信号電流、５はエキストラ傷による信
号電流、２ｕは上方へのストレスを加えたスライスレベ
ル、２ｄは下方へのストレスを加えたスライスレベル、
８は磁気ヘッド、９は磁気ディスク媒体、１０はアナロ
グ／ディジタル変換部、１３は外付は抵抗、１６はスラ
イスレベル可変部、１９は内蔵ストレス回路、２０は不
安定なデジタル信号をそれぞれ示す。 特許出願人 富士通株式会社 復代理人 弁理士 福 島 康 文 第５圀 （δ） （ｂ） 遭しｔロオ炉ストレ久口Σ４と閂ＩＫ 、；ｆ’１ｕ （ａン （ｂ） νｊｆｆｉ［ヨニξ１；グト部ストし又と刀口九つ方法
性６ レフ 砥灰テ゛イスフ式１の４ｇ号千孝υ日 オδ目 アグロク／テンリタル更撲司窃款み出し時の初４丁オ９
区
の基本原理を説明するブロック図、第２図はミッシング
傷の検出方法を説明する波形図、第３図はエキストラ傷
の検出方法を説明する波形図、第４図はミッシング傷に
よる信号電流を説明する波形図、第５図はエキストラ傷
による信号電流を説明する波形図、第６図は磁気ディス
ク装置回路に外部ストレスを加える例を説明する図で、
（ａ）はブロック図、ら）は外観斜視図、第７図は磁気
ディスク装置自身がストレス回路を内蔵している例を示
す図、第８図は従来の磁気ディスク装置の信号系を示す
概念図、第９図はアナログ／デジタル変換部の続出し時
の動作を説明する図、第１０図は磁気ディスク媒体の読
出し信号がスライスレベル付近の場合を説明する波形図
である。 図において、１は磁気ディスク媒体より読出された信号
電流、２はスライスレベル、３はデジタル信号、４はミ
ッシング傷による信号電流、５はエキストラ傷による信
号電流、２ｕは上方へのストレスを加えたスライスレベ
ル、２ｄは下方へのストレスを加えたスライスレベル、
８は磁気ヘッド、９は磁気ディスク媒体、１０はアナロ
グ／ディジタル変換部、１３は外付は抵抗、１６はスラ
イスレベル可変部、１９は内蔵ストレス回路、２０は不
安定なデジタル信号をそれぞれ示す。 特許出願人 富士通株式会社 復代理人 弁理士 福 島 康 文 第５圀 （δ） （ｂ） 遭しｔロオ炉ストレ久口Σ４と閂ＩＫ 、；ｆ’１ｕ （ａン （ｂ） νｊｆｆｉ［ヨニξ１；グト部ストし又と刀口九つ方法
性６ レフ 砥灰テ゛イスフ式１の４ｇ号千孝υ日 オδ目 アグロク／テンリタル更撲司窃款み出し時の初４丁オ９
区
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ディスク媒体よりの読出し信号を、予め設けられた
スライスレベルと比較することで、欠陥であるかどうか
を判定する方法において、 磁気ディスク装置（１５）の内部のアナログ／デジタル
変換部（１０）に、スライスレベル可変部（１６）を設
けたこと、 該アナログ／デジタル変換部（１０）において、アナロ
グ／デジタル変換を行なう際のスライスレベル（基準電
圧）を、スライスレベル可変部（１６）によって上下に
変化した状態で、磁気ディスク媒体の欠陥をデジタル的
に検出すること、 を特徴とする磁気ディスク装置の媒体検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19505588A JPH0244272A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | 磁気ディスク装置の媒体検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19505588A JPH0244272A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | 磁気ディスク装置の媒体検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244272A true JPH0244272A (ja) | 1990-02-14 |
Family
ID=16334805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19505588A Pending JPH0244272A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | 磁気ディスク装置の媒体検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244272A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6175459B1 (en) | 1997-12-01 | 2001-01-16 | Fujitsu Limited | Magnetic disk drive with a disk medium defect detector and read channel IC used in the drive |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62130362A (ja) * | 1985-12-02 | 1987-06-12 | Fujitsu Ltd | デイスク媒体の欠陥検出装置 |
| JPS62159067A (ja) * | 1986-01-08 | 1987-07-15 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | デイスク型記録媒体の検査方式 |
-
1988
- 1988-08-04 JP JP19505588A patent/JPH0244272A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62130362A (ja) * | 1985-12-02 | 1987-06-12 | Fujitsu Ltd | デイスク媒体の欠陥検出装置 |
| JPS62159067A (ja) * | 1986-01-08 | 1987-07-15 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | デイスク型記録媒体の検査方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6175459B1 (en) | 1997-12-01 | 2001-01-16 | Fujitsu Limited | Magnetic disk drive with a disk medium defect detector and read channel IC used in the drive |
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