JP3327324B2 - 非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置 - Google Patents
非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置Info
- Publication number
- JP3327324B2 JP3327324B2 JP09891097A JP9891097A JP3327324B2 JP 3327324 B2 JP3327324 B2 JP 3327324B2 JP 09891097 A JP09891097 A JP 09891097A JP 9891097 A JP9891097 A JP 9891097A JP 3327324 B2 JP3327324 B2 JP 3327324B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- failure
- impedance
- value
- contact type
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非接触式ＩＣカー
ドが故障した際に、そのＩＣカードの信号受信手段を用
いて、故障の有無とその状況を判定する非接触式ＩＣカ
ードの故障判定方法および装置に関するものである。
ドが故障した際に、そのＩＣカードの信号受信手段を用
いて、故障の有無とその状況を判定する非接触式ＩＣカ
ードの故障判定方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】非接触式のＩＣカードは、接触式のもの
と同じく、人間が携帯して使用することからさまざまな
状況にさらされる可能性があり、通常のＬＳＩ等より過
酷な状況におかれ、故障発生の危険性が高いのが実状で
ある。また、使用目的によっては故障などにより使用で
きなくなると著しい不便をきたす場合があることや、Ｉ
Ｃカード側に原因があるのかカードリーダ側に原因があ
るのかの切り分けをする必要があることなどから、カー
ド発行者や発売元としては、使用者から故障としてクレ
ームがあった場合の迅速な対応が必要である。ＩＣカー
ドを使用するためＩＣカードリーダライタにＩＣカード
を挿入したときに何らかの原因により正常なデータのや
りとりができず使用できなかった場合、カード発行者や
発売元にクレームが行くが、従来はその場で上記使用不
能の原因を明らかにすることはできなかった。これは、
従来はカード発行者やカード製造元の専門家が、ＩＣチ
ップの表面を露出させて顕微鏡などで観察するなどによ
り故障の判定をしていることによるものである。
と同じく、人間が携帯して使用することからさまざまな
状況にさらされる可能性があり、通常のＬＳＩ等より過
酷な状況におかれ、故障発生の危険性が高いのが実状で
ある。また、使用目的によっては故障などにより使用で
きなくなると著しい不便をきたす場合があることや、Ｉ
Ｃカード側に原因があるのかカードリーダ側に原因があ
るのかの切り分けをする必要があることなどから、カー
ド発行者や発売元としては、使用者から故障としてクレ
ームがあった場合の迅速な対応が必要である。ＩＣカー
ドを使用するためＩＣカードリーダライタにＩＣカード
を挿入したときに何らかの原因により正常なデータのや
りとりができず使用できなかった場合、カード発行者や
発売元にクレームが行くが、従来はその場で上記使用不
能の原因を明らかにすることはできなかった。これは、
従来はカード発行者やカード製造元の専門家が、ＩＣチ
ップの表面を露出させて顕微鏡などで観察するなどによ
り故障の判定をしていることによるものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の故
障判定においては、カード発行者やカード製造元などに
持ち込んで行うことになるので時間がかかるため、クレ
ームがあった時点でカード発行者や発売元が非接触式Ｉ
Ｃカードの故障原因を突き止めることができず、カード
所持者への返答などの対応が遅れるなどの欠点があっ
た。
障判定においては、カード発行者やカード製造元などに
持ち込んで行うことになるので時間がかかるため、クレ
ームがあった時点でカード発行者や発売元が非接触式Ｉ
Ｃカードの故障原因を突き止めることができず、カード
所持者への返答などの対応が遅れるなどの欠点があっ
た。
【０００４】本発明の目的は、上記の欠点に鑑み、故障
としてクレームがあった非接触式ＩＣカードの故障判定
を短時間に自動的に行える方法および装置を提供するこ
とにある。
としてクレームがあった非接触式ＩＣカードの故障判定
を短時間に自動的に行える方法および装置を提供するこ
とにある。
【０００５】
【発明が解決しようとする手段】本発明にかかる非接触
式ＩＣカードの故障判定方法は、試験対象となる非接触
式ＩＣカードの信号受信手段に対してカード内部の同調
周波数に合致する交流電圧信号を送信し、前記交流電圧
信号送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測することによ
りインピーダンスを算出し、この算出されたインピーダ
ンス値を正常な場合の値と比較し、ＩＣカード内部回路
の故障を判定するようにしたものである。
式ＩＣカードの故障判定方法は、試験対象となる非接触
式ＩＣカードの信号受信手段に対してカード内部の同調
周波数に合致する交流電圧信号を送信し、前記交流電圧
信号送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測することによ
りインピーダンスを算出し、この算出されたインピーダ
ンス値を正常な場合の値と比較し、ＩＣカード内部回路
の故障を判定するようにしたものである。
【０００６】本発明に係る非接触式ＩＣカードの故障判
定装置は、試験対象となる非接触式ＩＣカードの信号受
信手段に対してカード内部の同調周波数に合致する交流
電圧信号を送信する信号送信手段と、前記交流電圧信号
送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測することによりイ
ンピーダンスを算出するインピーダンス算出手段と、こ
の算出されたインピーダンス値を正常な場合の値と比較
し、ＩＣカード内部回路の故障を判定する比較判定手段
とを有するものである。
定装置は、試験対象となる非接触式ＩＣカードの信号受
信手段に対してカード内部の同調周波数に合致する交流
電圧信号を送信する信号送信手段と、前記交流電圧信号
送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測することによりイ
ンピーダンスを算出するインピーダンス算出手段と、こ
の算出されたインピーダンス値を正常な場合の値と比較
し、ＩＣカード内部回路の故障を判定する比較判定手段
とを有するものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明によれば、故障した非接触
式ＩＣカードの信号受信手段に対して、同調周波数に合
致した交流電圧信号を送信し、その時の電流値を測定す
ることによりインピーダンス値を算出し、その結果を数
値で判定し分類することで、故障モードが推定できるた
め、特別の知識を必要とせずに故障判定が可能となる。
また、本発明によれば簡易な単一周波数の交流電源，交
流電圧および電流の測定器および簡易な演算で判定結果
が得られ簡便で安価な装置を提供することが可能とな
る。
式ＩＣカードの信号受信手段に対して、同調周波数に合
致した交流電圧信号を送信し、その時の電流値を測定す
ることによりインピーダンス値を算出し、その結果を数
値で判定し分類することで、故障モードが推定できるた
め、特別の知識を必要とせずに故障判定が可能となる。
また、本発明によれば簡易な単一周波数の交流電源，交
流電圧および電流の測定器および簡易な演算で判定結果
が得られ簡便で安価な装置を提供することが可能とな
る。
【０００８】以下、この発明の実施の形態についてさら
に詳細に説明をする。
に詳細に説明をする。
【０００９】通常、非接触式ＩＣカードの信号受信回路
においては、信号送信回路から送信された特定周波数の
信号のみを内部回路で使用することから、同調回路を有
している。正常動作時にはこの同調回路で取り出された
信号成分が内部回路に到達し、所定の動作をすることに
なる。
においては、信号送信回路から送信された特定周波数の
信号のみを内部回路で使用することから、同調回路を有
している。正常動作時にはこの同調回路で取り出された
信号成分が内部回路に到達し、所定の動作をすることに
なる。
【００１０】従ってこの同調回路および内部回路部分の
正常時のインピーダンスの周波数特性をあらかじめ把握
しておけば、試験対象の周波数特性測定結果と比較する
ことにより故障か否かの判定が可能となる。
正常時のインピーダンスの周波数特性をあらかじめ把握
しておけば、試験対象の周波数特性測定結果と比較する
ことにより故障か否かの判定が可能となる。
【００１１】しかし、この測定を行うためには、広い周
波数帯域にわたって電流と電圧を測定する仕組みが必要
となり、故障を判定するためにこのような測定をしてい
ると時間がかかるとともに、測定器も高価なものとなり
実用的でない。
波数帯域にわたって電流と電圧を測定する仕組みが必要
となり、故障を判定するためにこのような測定をしてい
ると時間がかかるとともに、測定器も高価なものとなり
実用的でない。
【００１２】そこで、本発明では、以下のような原理に
より短時間にかつ安価な装置で故障を判定，解析する方
法を提案する。
より短時間にかつ安価な装置で故障を判定，解析する方
法を提案する。
【００１３】図１（ａ），（ｂ）は、本発明で用いる非
接触式ＩＣカード１０および対向する信号送信回路２０
の等価回路図と、周波数特性図である。同図において外
部からみた非接触式ＩＣカード１０の入力インピーダン
スＺｉｎは、コイルおよびキャパシタおよび内部回路部
分のインピーダンスをそれぞれ、ＺＬ（ｆ），ＺＣ
（ｆ），Ｚ０（ｆ）とすると、以下のようになる。
接触式ＩＣカード１０および対向する信号送信回路２０
の等価回路図と、周波数特性図である。同図において外
部からみた非接触式ＩＣカード１０の入力インピーダン
スＺｉｎは、コイルおよびキャパシタおよび内部回路部
分のインピーダンスをそれぞれ、ＺＬ（ｆ），ＺＣ
（ｆ），Ｚ０（ｆ）とすると、以下のようになる。
【００１４】
【数１】 また、Ｚｉｎ（ｆ）の値は、印加した交流電圧の値Ｖ
（ｆ）をその時の交流電流の値Ｉ（ｆ）で除することに
より算出することができる。
（ｆ）をその時の交流電流の値Ｉ（ｆ）で除することに
より算出することができる。
【００１５】ここで、非接触式ＩＣカード１０の正常時
の同調周波数をｆ０とすると、
の同調周波数をｆ０とすると、
【００１６】
【数２】 であることから、
【００１７】
【数３】 となる。よって、同調周波数ｆ０の交流電圧に対する非
接触式ＩＣカードの入力インピーダンスＺｉｎ（ｆ０）
は、内部回路のみの値（つまり、Ｚ０（ｆ０））と等し
くなる。
接触式ＩＣカードの入力インピーダンスＺｉｎ（ｆ０）
は、内部回路のみの値（つまり、Ｚ０（ｆ０））と等し
くなる。
【００１８】また、正常な非接触式ＩＣカードの内部回
路のインピーダンスは、チップのばらつきによる変動は
あるものの同一種類のチップではほぼ固定値をとる。
路のインピーダンスは、チップのばらつきによる変動は
あるものの同一種類のチップではほぼ固定値をとる。
【００１９】次に非接触式ＩＣカードの回路に電気的な
故障が発生した場合について述べる。
故障が発生した場合について述べる。
【００２０】図２（ａ），（ｂ）は、非接触式ＩＣカー
ドの内部回路部分に、短絡や回路接合部や配線部でのリ
ークパス等の故障が発生した場合である。このような故
障では大電流が流れることから、入力インピーダンスが
正常時と比較して低くなる。
ドの内部回路部分に、短絡や回路接合部や配線部でのリ
ークパス等の故障が発生した場合である。このような故
障では大電流が流れることから、入力インピーダンスが
正常時と比較して低くなる。
【００２１】短絡発生時の内部回路部分のインピーダン
スＺｓ（ｆ）は、リーク（あるいは短絡部）部の並列イ
ンピーダンスＺ１（ｆ）が、Ｚ０（ｆ）より十分小さい
ことから
スＺｓ（ｆ）は、リーク（あるいは短絡部）部の並列イ
ンピーダンスＺ１（ｆ）が、Ｚ０（ｆ）より十分小さい
ことから
【００２２】
【数４】 非接触式ＩＣカード１０の入力インピーダンスは、
【００２３】
【数５】 となり、共振周波数をｆ０とすると
【００２４】
【数６】 であることから、
【００２５】
【数７】 となる。
【００２６】図３（ａ），（ｂ）は、非接触式ＩＣカー
ド１０の内部回路に断線や接合部での直列抵抗増加等の
故障が発生した場合であり、電流が流れにくくなること
から、入力インピーダンスが正常時と比較して高くな
る。
ド１０の内部回路に断線や接合部での直列抵抗増加等の
故障が発生した場合であり、電流が流れにくくなること
から、入力インピーダンスが正常時と比較して高くな
る。
【００２７】断線発生時の内部回路のインピーダンスＺ
ｄ（ｆ）は、断線（あるいは直流抵抗挿入）部の直列イ
ンピーダンスＺ２（ｆ）が、Ｚ０（ｆ）より十分大きい
ことから
ｄ（ｆ）は、断線（あるいは直流抵抗挿入）部の直列イ
ンピーダンスＺ２（ｆ）が、Ｚ０（ｆ）より十分大きい
ことから
【００２８】
【数８】 非接触式ＩＣカード１０の入力インピーダンスは、
【００２９】
【数９】 となり、共振周波数をｆ０とすると
【００３０】
【数１０】 であることから、
【００３１】
【数１１】 となる。
【００３２】次に、同調回路部分における故障について
述べる。
述べる。
【００３３】図４（ａ），（ｂ）は、非接触式ＩＣカー
ド１０の同調回路のコイル後段で断線や直列抵抗挿入等
の故障が発生した場合であり、入力インピーダンスが同
調回路のコイルのみで決定される。
ド１０の同調回路のコイル後段で断線や直列抵抗挿入等
の故障が発生した場合であり、入力インピーダンスが同
調回路のコイルのみで決定される。
【００３４】よって、この時の非接触式ＩＣカードの入
力インピーダンスは、
力インピーダンスは、
【００３５】
【数１２】 ここで、共振周波数をｆ０とすると、一般に非接触式Ｉ
Ｃカード１０の同調回路のコイルの同調周波数に対する
インピーダンス値ＺＬ（ｆ０）はインダクタンスＬを構
造上大きくすることはできないことから、
Ｃカード１０の同調回路のコイルの同調周波数に対する
インピーダンス値ＺＬ（ｆ０）はインダクタンスＬを構
造上大きくすることはできないことから、
【００３６】
【数１３】 以上述べたように、いずれの故障が発生した場合におい
ても、非接触式ＩＣカードの回路に電気的な故障が発生
した場合には、内部回路の入力インピーダンスに変化が
生じることがわかる。
ても、非接触式ＩＣカードの回路に電気的な故障が発生
した場合には、内部回路の入力インピーダンスに変化が
生じることがわかる。
【００３７】このことから、試験対象カードの同調周波
数に対する入力インピーダンスを測定し、あらかじめ把
握しておいた正常動作可能なカードの値と比較すること
によって、非接触式ＩＣカードへの電気的な故障発生の
有無を検出することができる。
数に対する入力インピーダンスを測定し、あらかじめ把
握しておいた正常動作可能なカードの値と比較すること
によって、非接触式ＩＣカードへの電気的な故障発生の
有無を検出することができる。
【００３８】なお、等価回路については図１に示した例
に限定されることなく、対象とする非接触ＩＣカード１
０の構成に応じて変更可能である。
に限定されることなく、対象とする非接触ＩＣカード１
０の構成に応じて変更可能である。
【００３９】
【実施例】図５は、本発明にかかる非接触ＩＣカードの
故障判定装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。被接触式ＩＣカード１０は、信号受信部１１と内部
回路１２とを有する。非接触式ＩＣカードの故障判定装
置２０における各部の構成，機能を説明する。単一周波
交流電源２１は試験対象となる非接触式ＩＣカード１０
の同調周波数ｆ０を発生し、信号送信部（信号送信手
段）２２を介して、非接触式ＩＣカード１０に対して電
圧を印加する。単一周波交流電圧計２３および単一周波
交流電流計２４は、それぞれ信号送信部２２へ印加され
た周波数ｆ０の交流電圧および交流電流値を測定する。
故障判定装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。被接触式ＩＣカード１０は、信号受信部１１と内部
回路１２とを有する。非接触式ＩＣカードの故障判定装
置２０における各部の構成，機能を説明する。単一周波
交流電源２１は試験対象となる非接触式ＩＣカード１０
の同調周波数ｆ０を発生し、信号送信部（信号送信手
段）２２を介して、非接触式ＩＣカード１０に対して電
圧を印加する。単一周波交流電圧計２３および単一周波
交流電流計２４は、それぞれ信号送信部２２へ印加され
た周波数ｆ０の交流電圧および交流電流値を測定する。
【００４０】インピーダンス算出部（インピーダンス算
出手段）２５は単一周波交流電圧計２３から通知された
電圧測定値を、単一周波交流電流計２４から通知された
電流値で除して、試験対象となる非接触式ＩＣカード１
０の入力インピーダンス値を算出する。
出手段）２５は単一周波交流電圧計２３から通知された
電圧測定値を、単一周波交流電流計２４から通知された
電流値で除して、試験対象となる非接触式ＩＣカード１
０の入力インピーダンス値を算出する。
【００４１】正常値記憶部２６には、試験対象と同一種
類の正常な非接触式ＩＣカード１０のインピーダンス値
を正常値として記憶させておく。
類の正常な非接触式ＩＣカード１０のインピーダンス値
を正常値として記憶させておく。
【００４２】比較（故障判定）部（比較判定手段）２７
では、正常値記憶部２６から通知された正常値を元にあ
らかじめ設定されたルールにしたがって、インピーダン
ス算出部２５から通知されたインピーダンスの算出値か
ら、試験対象の非接触式ＩＣカード１０の故障有無の判
定を行う。操作・表示・コントローラ部２８では、本装
置の試験開始・停止の制御操作や結果の表示等を行う。
では、正常値記憶部２６から通知された正常値を元にあ
らかじめ設定されたルールにしたがって、インピーダン
ス算出部２５から通知されたインピーダンスの算出値か
ら、試験対象の非接触式ＩＣカード１０の故障有無の判
定を行う。操作・表示・コントローラ部２８では、本装
置の試験開始・停止の制御操作や結果の表示等を行う。
【００４３】非接触式ＩＣカード１０の入力インピーダ
ンスの算出結果と、故障状態の対応ルールを示した例を
図６に示す。図６では、入力インピーダンスの算出値Ｚ
ｉｎ（ｆ０）を正常値Ｚ０（ｆ０）で規格化している。
ここで正常な非接触ＩＣカード１０とその他の故障の非
接触ＩＣカード１０とを区分する判定基準値は、正常な
非接触ＩＣカード１０のインピーダンス値より０．５桁
ずらした値としている。
ンスの算出結果と、故障状態の対応ルールを示した例を
図６に示す。図６では、入力インピーダンスの算出値Ｚ
ｉｎ（ｆ０）を正常値Ｚ０（ｆ０）で規格化している。
ここで正常な非接触ＩＣカード１０とその他の故障の非
接触ＩＣカード１０とを区分する判定基準値は、正常な
非接触ＩＣカード１０のインピーダンス値より０．５桁
ずらした値としている。
【００４４】なお、この判定基準値は本実施例では０．
５桁としたが、判定を行う対象とするＩＣカードによっ
ては回路内容が異なる場合もあるので、最も分類しやす
い値を設ければよい。また、同調周波数は非接触ＩＣカ
ード１０の種別毎に異なるが、同一券種であれば同じで
ある。故障判定装置２０は同調周波数の判別はできない
ので、事前に試験対象となるＩＣカードの同調周波数お
よび正常値を調べておき、それに合った故障判定装置２
０を準備する必要がある。
５桁としたが、判定を行う対象とするＩＣカードによっ
ては回路内容が異なる場合もあるので、最も分類しやす
い値を設ければよい。また、同調周波数は非接触ＩＣカ
ード１０の種別毎に異なるが、同一券種であれば同じで
ある。故障判定装置２０は同調周波数の判別はできない
ので、事前に試験対象となるＩＣカードの同調周波数お
よび正常値を調べておき、それに合った故障判定装置２
０を準備する必要がある。
【００４５】
【発明の効果】本発明の非接触ＩＣカードの故障判定方
法および装置は、非接触式ＩＣカードが故障した際に、
そのＩＣカードの信号受信手段に対して、その同調周波
数と合致する交流電圧信号を送信し、そのときの電流・
電圧を測定することによりインピーダンスを算出し、あ
らかじめ定めておいた正常値と比較することにより故障
の有無とその状態を判定するようにしたので、交流電圧
発生装置，交流電圧計および交流電流計が、単一の周波
数ｆ０だけが取扱えれば良いだけでなく、単一のインピ
ーダンスの算出値が規定の範囲にあるか否かのみを判別
することで故障の検出が可能であることから、従来のイ
ンピーダンスアナライザやＩＣカードのチップ表面を観
察する方法に比べて、非常に安価で小型な故障判定装置
を実現できる。また、本方法および装置を用いることに
より、操作者に特別な知識がなくても、簡便かつ迅速に
カードのチェックを行うことができる。
法および装置は、非接触式ＩＣカードが故障した際に、
そのＩＣカードの信号受信手段に対して、その同調周波
数と合致する交流電圧信号を送信し、そのときの電流・
電圧を測定することによりインピーダンスを算出し、あ
らかじめ定めておいた正常値と比較することにより故障
の有無とその状態を判定するようにしたので、交流電圧
発生装置，交流電圧計および交流電流計が、単一の周波
数ｆ０だけが取扱えれば良いだけでなく、単一のインピ
ーダンスの算出値が規定の範囲にあるか否かのみを判別
することで故障の検出が可能であることから、従来のイ
ンピーダンスアナライザやＩＣカードのチップ表面を観
察する方法に比べて、非常に安価で小型な故障判定装置
を実現できる。また、本方法および装置を用いることに
より、操作者に特別な知識がなくても、簡便かつ迅速に
カードのチェックを行うことができる。
【図１】本発明で用いる非接触式ＩＣカードと、それに
対向する信号送信回路の等価回路図と周波数特性図であ
る。
対向する信号送信回路の等価回路図と周波数特性図であ
る。
【図２】本発明で用いる非接触式ＩＣカードの内部回路
部分に短絡等の故障が発生した場合の信号送信回路の等
価回路図と周波数特性図である。
部分に短絡等の故障が発生した場合の信号送信回路の等
価回路図と周波数特性図である。
【図３】本発明で用いる非接触式ＩＣカードの内部回路
部分に断線等の故障が発生した場合の信号送信回路の等
価回路図と周波数特性図である。
部分に断線等の故障が発生した場合の信号送信回路の等
価回路図と周波数特性図である。
【図４】本発明で用いる非接触式ＩＣカードの内部回路
部分の同調回路のコイル後段で断線等の故障が発生した
場合の信号送信回路の等価回路図と周波数特性図であ
る。
部分の同調回路のコイル後段で断線等の故障が発生した
場合の信号送信回路の等価回路図と周波数特性図であ
る。
【図５】本発明にかかる非接触式ＩＣカードの故障判定
装置の一実施例の構成例を示すブロック図である。
装置の一実施例の構成例を示すブロック図である。
【図６】本発明による入力インピーダンスの算出結果
と、故障状態の対応ルールを示した図である。
と、故障状態の対応ルールを示した図である。
１０ 非接触式ＩＣカード １１ 信号受信部 １２ 内部回路 ２０ 非接触式ＩＣカードの故障判定装置 ２１ 単一周波交流電源 ２２ 信号送信部（信号送信手段） ２３ 単一周波交流電圧計 ２４ 単一周波交流電流計 ２５ インピーダンス算出部（インピーダンス算出手
段） ２６ 正常値記憶部 ２７ 比較（故障判定）部（比較判定手段） ２８ 操作・表示・コントロール部
段） ２６ 正常値記憶部 ２７ 比較（故障判定）部（比較判定手段） ２８ 操作・表示・コントロール部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/28 - 31/3193 G06K 17/00
Claims (2)
- 【請求項１】 試験対象となる非接触式ＩＣカードの信
号受信手段に対してカード内部の同調周波数に合致する
交流電圧信号を送信し、 前記交流電圧信号送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測
することによりインピーダンスを算出し、 この算出されたインピーダンス値を正常な場合の値と比
較し、ＩＣカード内部回路の故障を判定することを特徴
とする非接触式ＩＣカードの故障判定方法。 - 【請求項２】 試験対象となる非接触式ＩＣカードの信
号受信手段に対してカード内部の同調周波数に合致する
交流電圧信号を送信する信号送信手段と、 前記交流電圧信号送信時の電圧・電流値をそれぞれ計測
することによりインピーダンスを算出するインピーダン
ス算出手段と、 この算出されたインピーダンス値を正常な場合の値と比
較し、ＩＣカード内部回路の故障を判定する比較判定手
段とを有することを特徴とする非接触式ＩＣカードの故
障判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09891097A JP3327324B2 (ja) | 1997-04-16 | 1997-04-16 | 非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09891097A JP3327324B2 (ja) | 1997-04-16 | 1997-04-16 | 非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10288643A JPH10288643A (ja) | 1998-10-27 |
| JP3327324B2 true JP3327324B2 (ja) | 2002-09-24 |
Family
ID=14232295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09891097A Expired - Fee Related JP3327324B2 (ja) | 1997-04-16 | 1997-04-16 | 非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3327324B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000242746A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Hitachi Ltd | 非接触式ｉｃカードの検査装置およびその方法 |
| FR2812986B1 (fr) * | 2000-08-09 | 2002-10-31 | St Microelectronics Sa | Detection d'une signature electrique d'un transpondeur electromagnetique |
| JP4635249B2 (ja) * | 2004-08-26 | 2011-02-23 | 学校法人 芝浦工業大学 | 巻線試験装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0526938A (ja) * | 1991-07-24 | 1993-02-05 | Fujitsu Ltd | 平面アンテナ付き電子回路装置の試験方法 |
| JPH06131510A (ja) * | 1992-10-19 | 1994-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | 非接触型ｉｃカードのテスト装置及び非接触型ｉｃカード |
-
1997
- 1997-04-16 JP JP09891097A patent/JP3327324B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10288643A (ja) | 1998-10-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5124660A (en) | Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package | |
| US5557209A (en) | Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package | |
| US5696451A (en) | Identification of pin-open faults by capacitive coupling | |
| US5254953A (en) | Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package | |
| US7498767B2 (en) | Centralized data storage of condition of a storage battery at its point of sale | |
| US7075307B1 (en) | Method and apparatus for detecting shorts on inaccessible pins using capacitive measurements | |
| US6091236A (en) | System and method for measuring and analyzing electrical signals on the shaft of a machine | |
| US6411101B1 (en) | Method and apparatus for testing frequency-dependent electrical circuits | |
| US10955465B2 (en) | Method and apparatus for bond wire testing in an integrated circuit | |
| WO2009006633A1 (en) | Method and system for simulating a proximity-based transaction device | |
| JP3327324B2 (ja) | 非接触式ｉｃカードの故障判定方法および装置 | |
| TWI383160B (zh) | 電性連接瑕疵偵測系統及方法 | |
| JP3111313B2 (ja) | 診断情報発生装置及び方法 | |
| JP2010096739A (ja) | 検査装置およびその検査方法 | |
| KR102417253B1 (ko) | 전력량계 고장 점검 조치 장치 및 방법 | |
| JPH04501763A (ja) | 回路試験 | |
| KR20170034421A (ko) | 전기 제품의 조립 공정의 관리 방법 | |
| JP6931830B2 (ja) | インダクタンスの計測方法、計測システム、及びプログラム | |
| JPH0275087A (ja) | 磁気ラインセンサ | |
| JP2675583B2 (ja) | イミュニティ試験回路 | |
| JPH08178278A (ja) | ガス機器等の修理方法及び修理支援装置 | |
| Serpaud et al. | Performance Charaterisation of the Decoupling Capacitor Network using the Near-Field Measurement | |
| JPH0674990A (ja) | 配線ショート検出方法 | |
| CN117665530A (zh) | 检测电路 | |
| JPH05226206A (ja) | 半導体製造装置の性能管理方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090712 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |