JP3317420B2 - 脱ぷ率検出装置 - Google Patents
脱ぷ率検出装置Info
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Description
一対の脱ぷロールによって脱ぷされた、いわゆる混合米
の脱ぷ率を測定するための脱ぷ率検出装置に関する。
は、発光素子から受光素子へ投光する投光域に混合米を
通過させ、透過光量の違いから籾(もみ)と玄米を判定
するものが特公昭62−32988や特開平4−403
48ほか周知である。
ては、玄米であっても籾と同様に光を透過しにくいもち
米、酒米、腹白米、心白米、死青米などは全て「籾」と
判定してしまうという問題がある。また、検出部におけ
るほこりやよごれにより発光・受光光量が変動した場
合、判定精度が著しく低下してしまう。
過する時間を測定することにより、長さの異なる籾と玄
米とを判定するものも知られているが(特開昭59−1
12845など)、このものは、米粒の通過速さが変化
すると判定精度が低下するという問題がある。
移送方向へ前後して一粒ずつ縦長方向へ流す流路と、こ
の流路の流れ方向に沿って複数連設された検出装置、す
なわち、投光素子133、光学繊維135a〜135d
及び受光素子134a〜134dを有し、穀粒がこれら
の検出装置と干渉する数によって穀粒の長さを検出する
ようにした穀粒の長さ検出装置が提案されている(特開
昭60−106576)。
玄米判定は行えるものの、次の問題がある。穀粒の長
さをある程度の精度で測定するためには、光学繊維35
及び受光素子34を多数連設する必要があり、製造コス
ト高になる、また、図8のV−V断面図で示すよう
に、細い光学繊維を多数配線するのにもコストがかかる
とともに断線しやすい、という問題がある。
てCCD(charge coupled device)を用いることもでき
るが、信号処理装置が複雑となり、よりコスト高とな
る。
かんがみ、製造コストが安価で、しかも、正確に米粒の
長さを測定することができ、高精度に籾・玄米の判別が
行える脱ぷ率検出装置を提供することを技術的課題とす
る。
本発明の脱ぷ率検出装置は、 イ.籾・玄米の混合米をその長さ方向に一粒ずつ搬送さ
せる搬送手段の流下下端部に、第1検出手段と第2検出
手段とを所定距離Lをもち、かつ、該第1,第2検出手
段の間隔距離を玄米の長さよりも小さく配置し、 ロ.この第1,第2検出手段からの出力をパルス信号に
整形するパルス整形器と、 ハ.該パルス信号から、二つのパルス信号の立上がり時
間差を取り出した第1パルス又は二つのパルス信号の立
下がり時間差を取り出した第3パルス、及び両パルス信
号の重合部を取り出した第2パルスを得る第1の演算手
段と、 ニ.クロック発生手段により、これら二つのパルスの時
間T1又はT2とT3とをカウントする第2の演算手段
と、 ホ.更に、この演算結果と前記第1,第2検出手段の所
定距離Lとにより当該米粒の速度を求めるとともに長さ
を算出して籾と玄米とを判別する中央演算処理装置と、
を設ける。 という技術的手段を講じたものである。
パルス信号の立上がり時間差を取り出した第1パルス、
二つのパルス信号の立下がり時間差を取り出した第3パ
ルス、及び両パルス信号の重合部を取り出した第2パル
スを得、クロック手段によりこれら三つのパルスの時間
差T1,T3,T2をカウントする第2の演算手段と、
さらに、この演算結果と前記第1,第2検出手段の所定
距離Lとにより当該米粒の速度を求めるとともに長さを
算出し、上記二つのパルス信号の立上がり時間差を取り
出したパルスの時間T1と、二つのパルスの立下がり時
間差を取り出したパルスの時間T3との差に基づいて補
正値を算出し、この補正値により前記米粒の長さを補正
する中央演算処理装置と、を設ける構成としてもよい。
される米粒は、第1検出手段と第2検出手段とにより時
間差を置いて検出され、この検出信号はパルス整形器に
よって各々パルス信号に整形させる。そして、第1の演
算手段において、前記パルス信号から、二つのパルス信
号の立上がり時間差を取り出した第1パルスか又は二つ
のパルス信号の立下がり時間差を取り出した第3パルス
と、両パルス信号の重合部を取り出した第2パルスとを
得、この二つのパルスは次に、第2の演算手段におい
て、クロック発生手段により発生するクロックによって
時間がカウントされる。これにより、中央演算処理装置
において、二つのパルス信号の立上がり時間差を取り出
した第1パルスの時間T1又は二つのパルス信号の立下
がり時間差を取り出した第3パルスの時間T3と、前記
第1検出手段と第2検出手段の所定距離Lとから当該米
粒が第1,第2検出手段を通過する速さを求めるととも
に長さを算出し、この長さの分布から玄米と籾とを判別
するとともにその比率を求め、脱ぷ率として表示器など
に出力する。
1〜T3を算出し、第1パルスの時間T1と第3パルス
の時間T3とが相違するときは、米粒が第1,第2検出
手段を曲がりながら通過したとみなし、この時間差に基
づいて補正値を算出し、この補正値により当該米粒の長
さを補正する。
して説明する。図1乃至図3において、もみすり機1の
混合米タンク2にサンプリングパイプ3の上端を臨ま
せ、該サンプリングパイプ3の下端をサンプリングボッ
クス4上端の取り入れ口5に接続する。サンプリングボ
ックス4内には前記取り入れ口5下方に違い棚状の第1
シュート6を配設するとともに、該第1シュート6の下
端に接続して反対方向に傾斜した第2シュート7を設け
る。該第2シュート7は傾斜上端にホッパー部8を設
け、ホッパー部8から米粒が1粒ずつ流下する溝9を形
成するとともに、第2シュート7下端にはフォトダイオ
ードなどからなる第1受光素子10と第2受光素子11
とを所定距離L、例えば0.5mmをもち、かつ、間隔
距離を0.005mmとして埋設してなるセンサー台1
2を配設する。該センサー台12の上面はガラス面13
となすとともに、該センサー台12は前記第2シュート
7と同傾斜状に、前記第2シュート7の下端部に固着し
て設ける。また、センサー台12の上方には発光ダイオ
ードなどからなる発光素子14を臨ませるとともに、第
2シュート7は固定具15を介し、サンプリングボック
ス4内壁面に固着した基板ケース16により固定され
る。サンプリングボックス4内壁面に固設した基板ケー
ス16により固定されるサンプリングボックス4の底部
はホッパー状となすとともに、もみすり機1の揚穀機17
内に測定済み米粒を返還する戻し口18を設ける。
構成について説明する。第1受光素子10は増幅器19
を介して第1パルス整形器21に接続され、第2受光素
子11は増幅器20を介して第2パルス整形器22に接
続される。そして、前記パルス整形器21,22は、第
1〜第3アンド回路23〜25及び第1,第2反転器2
6,27によって構成される第1演算回路28に接続さ
れる。すなわち、第1パルス整形器21は第1,第2ア
ンド回路23,24の各一方の入力端子に接続されると
ともに、第2反転器27を介して第3アンド回路25の
一方の入力端子に接続され、第2パルス整形器22は第
2,第3アンド回路24,25の他方の入力端子に接続
されるとともに、第1反転器26を介して第1アンド回
路23の他方の入力端子に接続される。
25は、第4、第5及び第6アンド回路29〜31、ク
ロック発生器32並びに第1、第2及び第3カウンタ3
3〜35によって構成される第2演算回路36に接続さ
れる。すなわち、前記第1、第2及び第3アンド回路2
3〜25の出力側は、第4、第5及び第6アンド回路2
9〜31の一方の入力端子にそれぞれ接続されるととも
に、該第4、第5及び第6アンド回路29〜31の他方
の入力端子にはクロック発生器32がそれぞれ接続され
る。
33〜35はワンチップマイコンからなる中央演算処理
装置40に接続されるとともに、該中央演算処理装置4
0は表示器37と、脱ぷロールのロール開閉モータ38
を駆動させるモータ駆動回路39とに接続される。
施例における具体的作動について説明する。一対の脱ぷ
ロール(図示せず)によって80〜90%の原料籾が脱
ぷされ、混合米となって揚穀機17により混合米タンク
2内に投入されるが、この混合米の一部は案内樋等によ
ってサンプリングパイプ3に取り込まれ、取り入れ口5
から第1シュート6上に落下し、減速しながら第2シュ
ート7のホッパー部8に供給される。
9内を自重により長さ方向に、かつ縦列状に滑流してセ
ンサー台12に至り、第1及び第2受光素子10,11
を米粒が通過することに伴って、この第1及び第2受光
素子10,11の出力が各々変化する。この出力変化は
第1パルス整形器21及び第2パルス整形器22により
各々パルス信号となり、第1演算回路28では、第1ア
ンド回路23により、前記二つのパルス信号の立上がり
時間差を取り出した第1パルス(T1参照)を、第2ア
ンド回路24により、前記二つのパルス信号の重合部を
取り出した第2パルス(T2参照)を、そして、第3ア
ンド回路25により、前記二つのパルス信号の立下がり
時間差を取り出した第3パルス(T3参照)を、それぞ
れ取り出し、これらのパルスは第2演算回路36の第
4、第5及び第6アンド回路29,30,31の一方の
入力端子に対して出力される。
31の他方の入力端子にはクロック発生器32によるク
ロック信号が入力されているので、前記各パルスはクロ
ック状に出力され、第1,第2,第3カウンタ33,3
4,35ではこれをカウントし、中央演算処理装置40
に対して出力する。中央演算処理装置40では、それぞ
れのカウント値と1クロック時間(例えば10万分の1
秒)とから前記各パルスの時間T1,T2,T3を読み
取る。
られると、次に、当該米粒の長さを演算する。すなわ
ち、第1受光素子10と第2受光素子11との所定距離
Lとこの距離Lを米粒が通過する時間T1(又はT3)
とにより当該米粒の速さを求め、この速さと前記時間T
2とにより当該米粒の長さを算出する。なお、この際、
第1,第2受光素子10,11の間隔距離0.005m
mは微少であるので加算しなかったが、これを加えたも
のを長さとしてもよい。
るときは、当該米粒が回動しながら第1,第2受光素子
10,11を通過したものとみなし、時間T1とT3の
差を求め、この差と、実験的に求めた係数C(例えば、
0.07)との積で補正値となし、この補正値を全長さ
に加えて補正した長さとすると、米粒が回動しながら検
出された場合であっても比較的正確な米粒長さを求める
ことができる。
米粒の長さを逐一求め、この長さデータが中央演算処理
装置40に一定量、例えば200粒分取り込まれた時点
で、各長さの分布状態をヒストグラムなどにより把握し
(図7参照)、長さの短い方の山のピーク値をもって玄
米の長さとし(脱ぷ率が変わってもほとんど変わらな
い)、この玄米の長さを1.4倍(多数のサンプリング
により求めた値)したものを籾の平均長さ、また、1.
2倍したものを籾と玄米とのしきい値とする。そして、
前記ヒストグラムにおける玄米の山と籾の山との面積比
を求めて脱ぷ率となし、この脱ぷ率を表示器37に表示
するとともに、これをあらかじめ入力された設定脱ぷ率
と比較し、測定脱ぷ率が設定脱ぷ率に近づくように中央
演算処理装置40からモータ駆動回路39に駆動信号を
出力し、ロール開閉モータ38を正又は逆方向に回転駆
動させる。以後、一定量の長さデータが蓄積されるごと
に脱ぷ率が算出されて表示されるとともに、しきい値も
補正される。
てであるが、長さの補正を行わない場合は、時間T1又
は時間T3のいずれかと時間T2を求めればよく、時間
T1又は時間T3を用いて米粒の速さを算出し、この速
さと前記時間T2とにより米粒長さを求めるように形成
される。
による籾・玄米の判定ではなく、二つの近接した検出手
段を米粒が通過する際の検出信号のずれを利用して籾玄
米の長さを検出するようにしたので、米粒が通過する
時間が変わっても判定精度が下がらない。米粒の色や
光透過性の強弱により精度が影響されることがなく、し
たがって、もち米や酒米などでも籾・玄米の判別ができ
るとともに、麦などの長さの異なる異種穀粒を判別する
ことも可能である。発光手段や受光手段のよごれなど
により光量が減衰しても判定精度が下がらない。
ある。
装着した場合を示す斜視図である。
図である。
である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 籾・玄米の混合米をその長さ方向に一粒
ずつ搬送させる搬送手段の流下下端部に、第1検出手段
と第2検出手段とを所定距離Lをもち、かつ、該第1,
第2検出手段の間隔距離を玄米の長さよりも小さく配置
し、この第1,第2検出手段からの出力をパルス信号に
整形するパルス整形器と、該パルス信号から、二つのパ
ルス信号の立上がり時間差を取り出した第1パルス又は
二つのパルス信号の立下がり時間差を取り出した第3パ
ルス、及び両パルス信号の重合部を取り出した第2パル
スを得る第1の演算手段と、クロック発生手段によりこ
れら二つのパルスの時間T1又はT3とT2とをカウン
トする第2の演算手段と、更に、この演算結果と前記第
1,第2検出手段の所定距離Lとにより当該米粒の速度
を求めるとともに長さを算出して籾と玄米とを判別する
中央演算処理装置と、を設けたことを特徴とする脱ぷ率
検出装置。 - 【請求項2】上記第1の演算手段により、二つのパルス
信号の立上がり時間差を取り出した第1パルス、二つの
パルス信号の立下がり時間差を取り出した第3パルス、
及び両パルス信号の重合部を取り出した第2パルスを
得、クロック発生手段によりこれら三つのパルスの時間
T1,T3,T2をカウントする第2の演算手段と、さ
らに、この演算結果と前記第1,第2検出手段の所定距
離Lとにより当該米粒の速度を求めるとともに長さを算
出し、上記二つのパルス信号の立上がり時間差を取り出
したパルスの時間T1と、二つのパルスの立下がり時間
差を取り出したパルスの時間T3との差に基づいて補正
値を算出し、この補正値により前記米粒の長さを補正す
る中央演算処理装置と、を設けてなる請求項1の脱ぷ率
検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06792794A JP3317420B2 (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 脱ぷ率検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06792794A JP3317420B2 (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 脱ぷ率検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07248298A JPH07248298A (ja) | 1995-09-26 |
JP3317420B2 true JP3317420B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=13359043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06792794A Expired - Lifetime JP3317420B2 (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 脱ぷ率検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3317420B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011120997A (ja) * | 2009-12-10 | 2011-06-23 | Satake Corp | 穀物選別装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7019126B2 (ja) * | 2016-08-30 | 2022-02-15 | 静岡製機株式会社 | 穀粒品質測定器 |
WO2021060465A1 (ja) * | 2019-09-27 | 2021-04-01 | 株式会社サタケ | 籾摺装置及び籾摺制御システム |
-
1994
- 1994-03-11 JP JP06792794A patent/JP3317420B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011120997A (ja) * | 2009-12-10 | 2011-06-23 | Satake Corp | 穀物選別装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07248298A (ja) | 1995-09-26 |
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