JPH0319992B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

〔産業上の利用分野〕 本発明は、銀行等の金融機関、スーパーマーケ
ツトおよび百貨店などで使用される硬貨の計数
機、選別計数機、入出金機等の硬貨処理機、或い
か自動釣銭補給式の自動販売機などにおける硬貨
の表面の汚れを検出する硬貨等円形物体の検知装
置に関する。 〔従来の技術〕 銀行等の金融機関、またはスーパーマーケツト
および百貨店において紙弊や硬貨を払出すとき、
あまり汚れた紙弊や硬貨を渡すと顧客に対して悪
い印象を与えることになるので、できるだけ汚れ
ていないきれいな紙弊や硬貨を渡すようにしてい
る。 この汚れた紙弊や硬貨の選別は、紙弊について
は汚損判別を自動的に判別して選別する装置が開
発されているが、硬貨については、例えば発光ラ
ンプや照射および受光のためのレンズ等からなる
大型の装置を硬貨の搬送される機構の複雑な硬貨
通路に設けることは不可能であつたので、予じめ
係員が手作業で汚れている硬貨と、汚れていない
硬貨とを目で判別して選別していた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上述のよに従来は汚れ硬貨を自動的に検出する
ことができず係員により汚れ硬貨を選別していた
ので、手間および時間がかかり、また、係員によ
つて汚れ判断のばらつきがあるという問題があつ
た。 本発明は、このような問題点に鑑みてなされた
もので、硬貨等円形物体の汚れを自動的に検知す
ることができ、しかも、硬貨等円形物体が１搬送
される毎に硬貨等円形物体の汚れと共にその硬貨
等円形物体の汚れを検出する検出面の塵埃付着を
検知し、汚れ検知を正確に行うことができる硬貨
等円形物体の検知装置を提供することを目的とす
るものである。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、光を発光する発光手段１５、この発
光手段１５の光を一端から入射し他端の発光端５
ａから搬送される硬貨等円形物体Ｃに対し照射す
る発光用光フアイバー５、この発光用光フアイバ
ー５から照射され硬貨等円形物体Ｃにて反射した
光を一端の受光端６ａから入射し他端に伝導する
受光用光フアイバー６、この受光用光フアイバー
６の他端から放出される光を受光する受光手段１
８を有し、上記硬貨等円形物体Ｃの表面に対向さ
せて上記発光用光フアイバー５の発光端５ａおよ
び上記受光用光フアイバー６の受光端６ａとを一
体的に構成した検出面８を設け、この検出面８に
透明板９を密着固定させてなる光学検出手段２
と、上記搬送される硬貨等円形物体Ｃの材質を検
出する材質検出手段３と、この材質検出面手３の
出力が第１の所定範囲のとき、上記光学検出手段
２の硬貨等円形物体Ｃからの受光量を予め定めら
れた基準レベルと比較して汚れを検知する汚れ検
知手段と、上記材質検出手段３の出力が第２の所
定範囲のとき、上記光学検出手段２の上記透明板
９からの受光量を予め定められた塵埃付着レベル
と比較して塵埃付着を検知する塵埃付着検知手段
とを具備し、硬貨等円形物体Ｃが１枚搬送される
毎に硬貨等円形物体Ｃの汚れと透明板９の塵埃付
着とを検知るものである。 〔作 用〕 本発明では、材質検出手段３によつて搬送され
る硬貨等円形物体Ｃの材質を検出し、かつ、光学
検出手段２よつて搬送される硬貨等円形物体Ｃに
光を照射してその反射光を受光し、この光学検出
手段２の受光量に基づいて汚れ検知手段および塵
埃付着検知手段によつて硬貨等円形物体Ｃが１枚
搬送される毎に硬貨等円形物体Ｃの汚れと光学検
出手段２の検出面８に密着固定された透明板９の
塵埃付着を検知する。そして、汚れ検知手段は、
材質検出手段３の出力が第１の所定範囲のとき
に、硬貨等円形物体Ｃからの受光量を予め定めら
れた基準レベルと比較することによつて汚れを検
知し、一方、塵埃付着検知手段は、材質検出手段
３の出力が第２の所定範囲のときに、光学検出手
段２の透明板９からの受光量を予め定められた塵
埃付着レベルと比較することによつて塵埃付着を
検知する。 〔実施例〕 次に本発明実施例の構成を図面を参照して説明
する。 第１図および第２図において、１は例えば硬貨
計数機、選別計数機および入出金機等の硬貨処理
機の硬貨Ｃが搬送される硬貨通路で、この硬貨通
路１上に光学検出手段としての光学検出部２およ
び材質検出手段としての材質検出部３とが硬貨Ｃ
の搬送方向順にそれぞれ設けられている。この光
学検出部２は一端から入射した光を他端の受光端
５ａから照射する発光用光フアイバー５と、この
発光用光フアイバー５の照射した光の反射光を一
端の受光端６ａから受光し他端から放射する受光
用光フアイバー６とを有し、これらの受光および
受光用光フアイバー５，６は複数本一体に束ねら
れその受光端５ａおよび受光端６ａの各端面を面
一に合せて矩形枠状の支持枠７納められ、第３図
に示すような検出面８を構成する。この検出面８
は受光用光フアイバー６が支持枠７内の全体に配
置されるのに対して、発光用光フアイバー５は所
定間隔毎に数列に配列され（発光用光フアイバー
５は太線にて示す）、かつ、この検出面８には透
明板９が密着固定されている。また、この検出面
８が臨む上記硬貨通路１上に発光用光フアイバー
５から照射される光が通過する挿通孔１０が開口
形成されている。また、上記材質検出部３は磁気
センサ１１を有し、この磁気センサ１１は上記硬
貨通路１に搬送される硬貨Ｃの表裏面を挟むよう
に略コ字状に設けられ、この磁気センサ１１の磁
気出力により磁気信号を出力して、後述する中央
処理装置３１は汚れ検出ゾーンとダスト検出ゾー
ンを決定し、また、この磁気信号に基づき、金種
識別も行なつて後述するランダムアクセスメモリ
３３の磁気金種メモリMDMに金種信号を記憶さ
せて指示された金種との照合を行う。 上記発光用光フアイバー５の発光端５ａ対する
他端には発光手段１５が接続され、この発光手段
１５は例えば7000Lx程度の照度を持つ小型の発
光ランプ１６と、この発光ランプ１６を点灯させ
る発光回路１７とからなつている。 上記発光６の受光端６ａに対する他端には受光
手段１８が接続され、この受光手段１８は検出用
受光センサ１９により受光用光フアイバー６から
放射される反射光量を検出して、検出用受光回路
２０により電圧レベル信号を出力し、この検出さ
れたアナログ電圧値をＡ／Ｄコンバータ２１にて
16進のデイジタル値に変換して受光信号を出力す
る。 また、上記受光ランプ１６と発光用光フアイバ
ー５との間には赤外カツトフイルタ２２が介さ
れ、発光ランプ１６から放射される光のうち赤外
光以上の波長（例えば700nm以上の波長）の光を
カツトして、上記受光センサ１９に対し硬貨Ｃの
表面の汚れ具合によつて反射光量の変化が出易い
波長の光のみを通過させる。また、上記受光セン
サ１９と受光用光フアイバー６との間にはイエロ
ーフイルタ２３が介在され、受光用光フアイバー
６を伝導してきた反射光のうち黄色系の光以下の
波長（例えば500nm以下の波長）の光をカツト
し、硬貨Ｃの汚れが検出し易い反射光のみを受光
センサ１９に通過させる。 また、上記受光手段１５には発光用光フアイバ
ー５とともにモニター用光フアイバー２４の一端
が接続され、このモニター用光フアイバー２４の
他端にはモニター用受光手段２５が接続されてい
る。このモニター用受光手段２５は上記発光ラン
プ１６が正常に発光しているか否かを判定するた
め発光ランプ１６の光量を検出するもので、上記
受光手段１８と同様にモニター用光フアイバー２
４を伝導してきた光をイエローフイルタ２６を通
しててモニター用受光センサ２７で検出し、モニ
ター用受光回路２８から出力される電圧レベル信
号をＡ／Ｄコンバータ２９でデイジタル値に変換
してモニター受光信号を出力する。 次に、３１は中央処理装置（以下CPUと呼ぶ）
で、このCu３１はリードオンメモリ３２（以下
ROMと呼ぶ）に記憶されているプログラムに従
つて硬貨処理機を制御するとともに、材質検出手
段（磁気識別部１２）の出力が後述する第１の所
定範囲のとき光学検出手段（受光手段１８）の硬
貨Ｃからの受光量を予め定められた基準レベルと
比較して汚れを検知る汚れ検知手段の機能と、材
質検出手段（磁気識別部１２）の出力が後述する
第２の所定範囲のとき光学検出手段（受光手段１
８）の透明板９からの受光量を予め定められた塵
埃付着レベルと較して塵埃付着を検知する塵埃付
着検知手機能とを備えている。このCPU３１は
上記発光回路１７を制御して発光ランプ１６を点
灯制御し、また、このCPU３１に上記磁気識別
部１２から磁気信号および上記Ａ／Ｄコンバータ
２１，２９から各受光信号がそれぞれ入力され
る。また、CPU３１にはランダムアクセスメモ
リ（以下RAMと呼ぶ）、硬貨処理部３４、表示
部３５とが接続され、RAM３は少なくとも第図
に示すような各種のフラグ、メモリ、カウンター
を有し、硬貨処理部３４は上記硬貨通路１に硬貨
Ｃを１枚ずつ搬送し、表示部３５は少なくとも汚
れ・塵埃付着・光量不足等の異常時の表示を行な
い、さらに、硬貨計数表示・金種別識別機能を有
する場合は金種別枚数等の表示も行なう。また、
正常硬貨と汚れ硬貨とを分けてそれぞれ枚数を表
示させてもよい。 次に本実施例の各検出作用について説明する。 第５図において、磁気識別部１２からCPU３
１に入力された磁気信号はａ，ｂ，ｃ，ｄの点に
分けられてａ−ｂ間を第１の所定範囲としての汚
れ検出ゾーン、ｃ−ｄ間を第２の所定範囲として
のダスト検出ゾーンとしている。この各ゾーンを
決定するａ，ｂ，ｃ，ｄのレベルは金種毎に異な
り、これを下記の表１のゾーン判定表に示す。

【表】 そして、汚れ検出ゾーンのａレベル（例えば10
円貨の場合は５レベル）に磁気信号が達すると、
このａレベルのt₁対する受光手段１８からの受光
信号のx₁のレベルを検出し、さらにこのx₁のレベ
ルを検出したのちt₂対するx₂，t₃に対するx₃とい
うように磁気信号がｂレベル（例えば10円貨の場
合12レベル）に達するまで所定時間間隔で受光信
号の数個所のレベルを検出する。そして、これら
の受光信号の検出レベルは検出毎に予め設定され
ている汚れ判定レベルとCPU３１により比較し、
硬貨Ｃの汚れ具合を判定する。この汚れ判定レベ
ルを下記の表２の汚れ判定表に示す。

〔発明の効果〕

本発明によれば、光を照射する発光用光フアイ
バーの発光端および反射光を受光する受光用光フ
アイバーの受光端とを一体的に構成して検出面を
設けた光学検出手段と材質検出手段とを用い、材
質検出手段の出力が第１の所定範囲のとき光学検
出手段の硬貨等円形物体からの受光量をめ定めら
れた基準レベルと比較することによつて汚れを自
動的に検知することができ、しかも、材質検出手
段の出力が第２の所定範囲のとき光学検出手段の
検出面に設けた透明板からの受光量を予め定めら
れた塵埃付着レベルと比較することによつて塵埃
付着をも検知することができ、したがつて、硬貨
等円形物体が１枚搬送される毎に硬貨等円形物体
の汚れと共に検出面の塵埃付着を検知し、汚れ検
知を正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置の実施例をす概要図、第
２図はその要部の斜視図、第３図はその検出面の
構成図、第４図はそのランダムアクセスメモリの
内容を示す説明図、第５図はその各信号波形図、
第図はその要部の縦断面図、第７図はそのフロー
チヤート図、第８図および第９図は本発明の装置
の検出面の変形例を示す構成図、第１０図は本発
明の装置の光学検出部の変形例を示す縦断面図で
ある。 ２……光学検出手段としての光学検出部、３…
…材質検出手段としての材質検出部、５……発光
用光フアイバー、５ａ……発光端、６……受光用
光フアイバー、６ａ……受光端、８……検出面、
９……透明板、１５……発光手段、１８……受光
手段、３１……汚れ検知手段の機能および塵埃付
着検知手段の機能を有する中央処理装置、Ｃ……
硬貨等円形物体としての硬貨。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光を発光する発光手段、この発光手段の光を
   一端から入射し他端の発光端から搬送される硬貨
   等円形物体に対し照射する発光用光フアイバー、
   この発光用光フアイバーから照射され硬貨等円形
   物体にて反射した光を一端の受光端から入射し他
   端に伝導する受光用光フアイバー、この受光用光
   フアイバーの他端から放出される光を受光する受
   光手段を有し、上記硬貨等円形物体の表面に対向
   させて上記発光用光フアイバーの発光端および上
   記受光用光フアイバーの受光端とを一体的に構成
   した検出面を設け、この検出面に透明板を密着固
   定させてなる光学検出手段と、 上記搬送される硬貨等円形物体の材質を検出す
   る材質検出手段と、 この材質検出面手の出力が第１の所定範囲のと
   き、上記光学検出手段の硬貨等円形物体からの受
   光量を予め定められた基準レベルと比較して汚れ
   を検知する汚れ検知手段と、 上記材質検出手段の出力が第２の所定範囲のと
   き、上記光学検出手段の上記透明板からの受光量
   を予め定められた塵埃付着レベルと比較して塵埃
   付着を検知する塵埃付着検知手段とを具備し、 硬貨等円形物体が１枚搬送される毎に硬貨等円
   形物体の汚れと透明板の塵埃付着とを検知ること
   を特徴とする硬貨等円形物体の検知装置。