JP3283534B2 - 圧胴の彫刻方法 - Google Patents
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Description
圧胴上に、対応付けされた各彫刻機構によって所定のセ
クション幅で軸方向に隣接して存在する少なくとも2つ
の彫刻セクションが彫刻される、輪転グラビア印刷のた
めの複数の圧胴の彫刻方法と、該方法の実施のための電
子彫刻機に関している。
工具としての彫刻針を有する彫刻機構が、圧胴に沿って
軸方向に連続的にまたは段階的に移動する。彫刻制御信
号から制御された彫刻針は、彫刻ラスタスクリーンで配
列される一連の凹部(以下ではセルとも称する)を圧胴
の套面に切削する。この彫刻制御信号は、“白”と
“黒”の間の階調値を表す彫刻信号と周期的なラスタス
クリーン信号の重畳から形成される。周期的なラスタス
クリーン信号が彫刻針の振動を伴った昇降運動を生ぜし
めるのに対して、彫刻信号は、再現すべき階調値に相応
して圧胴に彫刻されるセルの深さを制御する。
複数の圧胴(これらはグラビア印刷機において相前後し
て彫刻されるかまたは複数のグラビア印刷機において同
時に彫刻される)に対して、軸方向で隣接して存在する
帯状の円筒領域(彫刻セクションとも称する)がそれぞ
れ1つの彫刻機構と共に同時に彫刻される。個々の彫刻
セクションには、例えば種々の印刷ジョブの印刷頁が彫
刻される。個々の彫刻セクションに対応付けされる彫刻
機構は、共通の彫刻台に取り付けられており、これは彫
刻の際に軸方向で圧胴に沿って移動する。
おける個々の彫刻セクションのセクション幅のレジスタ
(見当合わせ)遵守である。彫刻セクションの正確な見
当位置での彫刻を達成するためには、従来の技法では、
圧胴軸方向での個々の彫刻機構の彫刻針先端の間の間隔
を、彫刻台上の彫刻機構の軸方向の移動によって高い精
度で所望のセクション幅に設定しなければならない。従
って彫刻台は、圧胴に対して正確に離間された彫刻機構
と共に次のようにシフトされなければならない。すなわ
ち彫刻針先端が彫刻セクションのそのつどの軸方向の彫
刻開始位置に対して位置付けされるようにシフトされな
ければならない。その際には許容偏差範囲内のセクショ
ン幅の絶対的設定に厳密になるのではなく、圧胴上の全
てのセクション幅が許容偏差範囲内で正確に一致するこ
とに注意するだけでよい。
端の従来方式の位置合わせは実質的には操作者によって
手動で行われていた。この場合はまず操作者によってセ
クション幅に相応する彫刻機構の間隔が粗的に設定調整
され、その後で彫刻機構の彫刻針先端が専用顕微鏡装置
(針対応付けガイド機構)を用いた彫刻針先端の目視観
察のもとに駆動スピンドルの手動操作によってファイン
チューニングされる。
ョンが多数に上る場合、そして多数の彫刻機構を位置付
けしなければならに場合には多大な時間がかかる。その
他にも調整制度は、実質的に操作者の腕に係わってく
る。
圧胴の彫刻の際の多数の彫刻機構の自動軸方向位置付け
装置が既に公知である。この場合は彫刻台上に配置され
た個々の彫刻機構に対するモータ駆動部と、さらに自動
的な移動経過のためのセンサ監視部が用いられている。
構によって所定のセクション幅で軸方向に隣接して存在
する少なくとも2つの彫刻セクションが彫刻される、輪
転グラビア印刷のための複数の圧胴の彫刻方法と、該方
法の実施のための電子彫刻機並びに彫刻機のための位置
測定装置において、彫刻機構相互の軸方向間隔の正確な
手動設定または自動設定をもはや必要とすることなく、
良好なグラビア印刷品質が達成できるように、改善を行
うことである。
る方法と、請求項26の特徴部分に記載の本発明による彫
刻機、および請求項31に記載の特徴部分に記載の位置測
定装置によって解決される。
に記載されている。
する。この場合、 図1は、圧胴に対する彫刻機の基本的なブロック回路図
であり、 図2は、補間の説明のためのグラフィック図面であり、 図3は、彫刻セクションの彫刻の際に、彫刻機構の位置
付け粗調整によって生じた間隔エラーの説明とその電子
的な補償の説明のための図であり、 図4は、彫刻機構の位置付け粗調整によって生じた間隔
エラーとその電子的な補償のさらなる説明図である。
路図である。この圧胴1は、駆動部2によって回転駆動
されている。彫刻機の具体例として、例えばドイツ連邦
共和国キール在住の“Hell Gravure Systems"社の“Hel
ioKlischograph"が挙げられる。
する複数の彫刻セクション(当実施例では軸方向のセク
ション幅が同じ2つの彫刻セクション(A,B)がそれぞ
れの対応付けされている彫刻機構3によって彫刻され
る。スタート彫刻ライン(SGL)は、圧胴1上で当該彫
刻セクション(A,B)の軸方向の彫刻開始位置を規定し
ている。
刻針を備えた電磁的彫刻機構として構成されている)
は、彫刻台4に設けられており、それらは手動もしくは
モータ駆動可能なスピンドル駆動部によって圧胴1の軸
方向で個別のシフト可能にかつロック可能に設けられて
いる。彫刻台4の圧胴1と相対的な軸方向の位置付け
と、彫刻期間中の軸方向での彫刻台4のシフトに対して
当該彫刻台4は、彫刻台駆動部6によりスピンドル5を
介して圧胴1の軸方向に移動される。
密駆動部として構成されている。このステップモータ
は、モータクロックシーケンスによって制御され、その
クロックは彫刻台4のそのつど進んだ増加距離に相応す
る。それによりモータクロックシーケンスのクロックの
計数によってそのつどの彫刻台4の軸方向の位置が検出
可能となり、あるいは彫刻台4がクロックの所定の数の
逆計数によって所定の軸方向位置にシフト可能である。
この種の位置付け駆動部は、公知であり、市販されてい
る。
を、回転する圧胴1の套面に切削する。その間彫刻台4
は彫刻機構3と共に圧胴1に沿ってシフト方向に移動す
る。これらのセルは、彫刻ラスタスクリーンにて配設さ
れる。その中ではラスタスクリーン網ラインの交点がセ
ルに対する彫刻ポイントを規定している。
胴1周面方向に延在する個別の彫刻ライン上で行われ
る。この場合彫刻段4は、そのつどの彫刻ライン上のセ
ルの彫刻の後で次の彫刻ラインまでの軸方向シフトステ
ップを実施する。
細書に記載されている。選択的に、彫刻セクション(A,
B)の彫刻は、圧胴1周面を螺旋状に延在する彫刻ライ
ンにおいて行われてもよい。その場合は、彫刻台4が彫
刻期間の間連続的なシフト移動を実施する。
て制御される。この彫刻制御信号(SG)は、彫刻増幅器
9において周期的なラスタスクリーン信号(R)と彫刻
信号(G)の重畳によって形成される。この彫刻信号
(G)は、彫刻すべきセルの階調値を“黒”と“白”の
間で表している。周期的なラスタスクリーン信号(R)
に対しては、彫刻ラスタスクリーン形成のための彫刻針
7の振動昇降移動が生ぜしめられる。彫刻信号値(G)
は、彫刻すべき階調値に応じて、圧胴1の套面内への彫
刻針7のそのつどの侵入深さを規定する。彫刻機構3は
その他に彫刻の際に生じる材料を除去するそれぞれ1つ
のスクレーパとスライド脚部を有している。このスライ
ド脚部は圧胴1の套面を支持し、静止位置における彫刻
針と圧胴1套面との間の一定の間隔を保持する。前記ス
クレーパとスライド脚部は有利には、彫刻休止中に、制
御可能なピックアップ装置によって圧胴1套面から当該
套面保護のために引き上げられてもよい。
の周面速度と彫刻台4の軸方向シフト幅と共にスクリー
ン角度とスクリーン幅に関する幾何学的彫刻ラスタスク
リーンを定める。
て彫刻データ(GD)から得られる。この彫刻データ(G
D)は、彫刻データメモリ11に中間記憶されており、こ
のメモリから彫刻ライン毎に読出され、A/D変換器10に
供給される。その際圧胴1上のセルに対する各彫刻ポイ
ントに少なくとも1バイトの彫刻データが対応付けされ
る。このデータには特に彫刻情報として、“黒”および
“白”の間の彫刻すべき階調値が含まれている。
対して必要な彫刻データ(GD)は、当該実施例において
はラスタスクリーン計算機12における補間を用いたラス
タスクリーン換算によって、画像およびテキスト情報を
含んだ画像データ(BD)から得られる。これらはそのつ
どの彫刻ラスタスクリーンに依存しない元の解像度で存
在する。彫刻データ(GD)の補間に必要な画像データ
(BD)は、アドレス指定可能な画像データの形態で画像
データメモリ13にファイルされる。
(BD)からの彫刻ラスタスクリーンの個々の彫刻ポイン
ト毎の彫刻データ(GD)の形成は、有利には、ドイツ連
邦共和国特許出願DE−PS 43 35 214明細書による手法で
行われる。
ン網ラインの交点に画素(P0)を有する、元の解像度で
表された元のラスタスクリーン14と、彫刻ラスタスクリ
ーン15のラスタスクリーン網ラインの交点に彫刻ポイン
ト(PG)を有する、彫刻ラスタスクリーン15が示されて
いる。これらのラスタスクリーン14,15は、圧胴1の周
面方向(Y方向)と彫刻台4のシフト方向(X方向)に
配向されている。Y方向に延在する彫刻ラスタスクリー
ンのラスタスクリーン網ラインは、相互に並行して延在
する彫刻ラインを形成している。それらの相互間の間隔
は、それぞれ彫刻台4のそのつどのシフト幅に相応して
いる。
定されている。この分類領域16は、部分領域17に細分化
されており、これは補間分類レベルを表している。前記
分類領域16は、元のラスタスクリーン14の網目の大きさ
を有している。分類領域16の周囲には補間窓18が定めら
れており、これは彫刻ポイント(PG)の彫刻データ(G
D)の補間において関与されるべき画像データ(BD)分
の、元のラスタスクリーン14の画素(P0)を含んでい
る。分類領域16の各補間分類レベル毎に複数の重み付け
係数が求められる。これは補間窓18内の画素(P0)の数
に相応する。それに対しては、補間窓18内の個々の画素
(P0)に対する、部分面17のそのつどの間隔(これは該
当する補間分類レベルを表すが検出され、補間窓18内の
各画素(P0)毎に前記間隔に相応する重み付け係数が二
次元の重み付け関数から算出される。個々の補間分類レ
ベル毎の重み付け係数の算出されたセットは、相応する
部分領域17に対応付けされ、呼出し可能に記憶される。
分類領域16と共に元のラスタスクリーン14を越えて、そ
のつどの彫刻ポイント(PG)がシフトされた分類領域16
内に存在するまでシフトされる。補間窓18のシフトは、
圧胴1に対応付けされたXY座標系の位置座標(x,y)に
よって制御され、その場合Y軸は周面方向(彫刻方向)
で、X軸は圧胴1の軸方向(シフト方向)に配向され
る。彫刻ポイント(PG)がシフトされた分類領域16内に
存在するならば、該当する彫刻ポイント(PG)の部分領
域17が検出され、この検出SR得た部分領域17に対応付け
される補間分類レベルの重み付け係数のセットが呼出さ
れる。そして目下の彫刻ポイント(PG)に対する彫刻デ
ータ(GD)が、呼出された重み付け係数のセットを用い
て算出される。この場合補間窓18内に損愛する画素
(P0)の画像データ(BD)が、呼出された重み付け係数
で重み付けされ、該重み付けされた画像データ(BD)が
加算されて、彫刻ポイント(PG)の補間彫刻データ(G
D)が得られる。
モリ領域と共に組織される。一方のメモリ領域からは目
下の彫刻すべき彫刻ラインの彫刻データ(GD)が呼出さ
れるのに対して、他方のメモリ領域には、ラスタスクリ
ーン計算機12において補間される後続の彫刻すべき彫刻
ラインの彫刻データ(GD)が書込まれる。
は、例えばスキャナにおける個々の原画の画素毎および
ライン毎の光学的走査と、それに続けられる印刷頁に対
する原画の電子的な組合わせによって得られる。
は、XY座標系の位置座標(x,y)によって定められる。
彫刻台駆動部6は、シフト方向でx位置座標を生成す
る。これは圧胴1に関する彫刻台4の軸方向位置を定め
る。圧胴1と機械的に結合されている位置センサ19は相
応のy位置座標を生成する。これは彫刻針7に対する回
転する圧胴1の相対的な周面位置を定めている。彫刻ポ
イント(PG)の位置座標(x,y)は線路20,21を介して
制御機構2に供給される。
ーン計算機12,および画像データ(BD)からの彫刻デー
タ(GD)の補間の際の画像データメモリ13と彫刻の際の
全ての経過を制御している。位置座標(x,y)からはこ
の制御機構22において、2つの彫刻セクション(A,B)
におけるスタート彫刻ライン(SGL)の軸方向のx位置
座標を用いて目下の彫刻すべき彫刻ラインに対する彫刻
ポイント(PG)のそのつどのx位置座標が対応する彫刻
データ(GD)のアドレス指定のために算出される。その
他に制御機構22は、書込みクロックシーケンスと読出し
クロックシーケンスを生成している。これらのシーケン
スを用いて彫刻データ(GD)が彫刻データメモリ11に書
込まれており、そこから読出されたりする。アドレス、
読出しクロックシーケンス、書込みクロックシーケンス
および相応の制御命令は、線路23を介して彫刻データメ
モリ11に供給される。
べき彫刻ラインに対する彫刻ポイント(PG)の位置座標
(x,y)と相応の制御信号はその他にも線路24を介して
ラスタスクリーン計算機2に供給される。これらの位置
座標(x,y)からはラスタスクリーン計算機12において
後続する彫刻すべき彫刻ラインに対する彫刻ポイントが
求められ、この後続する彫刻すべき彫刻ラインに対する
彫刻ポイントの彫刻データ(GD)が相応の画像データ
(BD)から補間される。
計算機12から画像データメモリ13へアドレッシングさ
れ、読出しクロックシーケンスを用いて画像データメモ
リ13から読出され、ラスタスクリーン計算機12に供給さ
れる。このラスタスクリーン計算機12と画像データメモ
リ13は線路25を介して作用できるように接続されてい
る。
(R)を形成し、これを線路26を介して彫刻増幅器9へ
供給する。
B)に対して彫刻台4上の彫刻機構3の彫刻針の間隔が
設定される必要があり、場合によっては彫刻台4のシフ
トによって彫刻機構3の彫刻針先端が彫刻セクションの
スタート彫刻ライン(SGL)に対して位置付けされる。
して本発明による彫刻機は位置測定装置27,28,29を有し
ている。この位置測定装置は実質的に、圧胴1の軸方向
にシフト可能なビデオカメラ28を備えた測定台27と、ビ
デオカメラ28から形成されたビデオ画像の評価のための
画像評価段29とから形成される。測定台27は、スピンド
ル30を用いて測定台駆動部31によって移動される。この
駆動部もステップモータを備えた精密駆動部として構成
されている。
備のために、軸方向の基準位置(RP)が定められる。そ
れらの相互間の間隔はそれぞれ所要のセクション幅(S
B)に相応している。圧胴1に関する基準位置(RP)の
軸方向位置は、基本的には任意である。しかしながら、
セクション幅(SB)だけ相互に離間された基準位置(R
P)が、同じようにセクション幅(SB)だけ相互に離間
された圧胴1上の2つのスタート彫刻ライン(SGL)の
軸方向位置と一致すると有利である。なぜならこの場合
は、彫刻針先端の間隔設定の後で相応のスタート彫刻ラ
イン(SGL)に対する彫刻台4の位置付けが不要となる
からである。
て、ビデオカメラ28の測定マークが、測定台駆動部31を
用いて基準位置(RP)の1つに正確に位置付けされる。
このプリセッティングされるx位置座標(xREF)と相応
の制御命令は、制御機構22によって線路32を介して測定
台駆動部31に伝送される。
によって記録された彫刻機構3の彫刻針先端のビデオ画
像の評価あるいはその他の軸方向に垂直な方向の各基準
点の評価により方向付けがなされ、相前後して彫刻針先
端の経過平面を介して彫刻機構3の彫刻針先端の軸方向
の実際位置が検出される。これは事前に操作者によって
手動であるいはモータ駆動によって大まかにのみ基準位
置(RP)に対して設定されたものである。
刻針先端の実際位置のx位置座標と対応する基準位置
(RP)のx位置座標との間の差分形成によって測定され
る。この間隔エラー±Δxは、残留エラーにプラス/マ
イナスして彫刻ライン間隔の数倍にもなり得る。測定さ
れた間隔エラー±Δxは線路33を介してさらなる処理の
ために制御機構22に供給される。
る基準位置(RP)領域での彫刻機構3の軸方向シフトに
対しては、彫刻機は補助装置、例えば軸方向に対して垂
直な方向に配向される光ビーム照射形の補助装置34,35
を有している。それに対して測定台27には光ビーム発生
器34が設けられ、彫刻機構3にはそれぞれ1つの光セン
サ35が設けられる。このセンサは、彫刻機構3の彫刻針
先端が位置測定装置27,28,29の許容測定領域内にある場
合には、操作者による彫刻機構3の手動シフトのもとで
光学的または音響的な信号を発生し、彫刻機構3のモー
タ駆動によるシフトの際には電気的な制御信号が形成さ
れる。
彫刻機に組込まれる前に行われる。その際ビデオカメラ
28は、測定台27の支持のもとで軸方向に対して垂直方向
に次のようにシフトされる。すなわちビデオカメラが彫
刻針先端の鮮明なビデオ画像を供給するようにシフトさ
れる。
位置の代わりに他の基準点の実際位置が求められてもよ
い。例えばここの彫刻機構3を用いて圧胴1上に試験的
に彫刻されたセルの軸方向の実際値など。この場合は、
ビデオカメラ28は、試験的に彫刻されたセルを撮影す
る。画像評価段29では実際位置の検出のために評価さ
れ、さらに基準位置(RP)からのセルの軸方向間隔エラ
ー±Δxが相応に評価される。
スクレーパに対する昇降装置は、線路36の彫刻イネーブ
ル信号(S)によって操作される。
の方法は、以下では方法ステップ[I]〜[IV]と、図
3および図4に基づいて詳細に説明する。
セクションの彫刻のための実施例を説明したこの方法ス
テップは、もちろん同じかもしくは異なるセクション幅
(SB)の任意の数の彫刻セクションの彫刻のための例に
も当てはまる。
刻に係わる彫刻機構3が大まかに基準位置(RP)までシ
フトされそこに固定される。この基準位置相互間の間隔
は彫刻セクションの所定のセクション幅(SB)に相応し
ている。その後でこの粗的位置付けによって引き起こさ
れた、彫刻針先端あるいは試験的に彫刻されたセルの基
準位置(RP)に対する軸方向間隔エラー±Δxが、彫刻
針先端またはセルの実際位置のx位置座標と、対応する
基準位置(RP)のx位置座標の間の差分形成によって測
定される。この間隔エラー±Δxの測定のもとでは、正
の間隔エラーと負の間隔エラーの間で区別される。この
場合正の間隔エラー(+Δx)は、実際位置がシフト方
向で対応する基準位置からみて右側にある場合に生じ
る。また負の間隔エラー(−Δx)は、実際位置が、対
応する基準位置から左側にある場合に生じる。
刻を基本的に示している。この場合は測定台27が、彫刻
機構3の彫刻針先端の基準位置(RP)に対する正または
負の軸方向間隔エラー±Δxの測定のために、まず第1
の基準位置(RPA)まで走行される。その後で第1の彫
刻セクション(A)に対応付けされた第1の彫刻機構3A
は、測定台27の光ビームによって第1の彫刻機構3Aの彫
刻針先端がビデオカメラ28の測定領域内にあることを信
号化する。そして画像評価段29では、彫刻機構3Aの彫刻
針先端と基準位置(RPA)の間の軸方向間隔エラー±Δx
Aを検出する。わかりやすくするために図面ではこの間
隔エラーがセクション幅に対して誇張的に大きく示され
ている。
基準位置(RPB)までシフトされ、第2の彫刻セクショ
ン(B)に対応付けされた第2の彫刻機構3Bが第2の基
準位置(RPB)まで大まかに設定調整され、これは測定
台27の光ビーム34,35によって第2の彫刻機構3Bの彫刻
針先端がビデオカメラ28の測定領域内にあることが信号
化されるまで行われる。その後で画像評価段29で、彫刻
機構3Bの彫刻針先端と基準位置(RPB)の間の軸方向間
隔エラー±ΔxBが検出される。同じようにその他の2つ
の彫刻機構3C,3Dも、間隔エラー±ΔxCと±ΔxDを求め
るために走行される。彫刻機構(3A,3B,3C,3D)を用い
て試験的に彫刻されたセルと、基準位置(RPA,RPB,RPC,
RPD)との間の正または負の軸方向間隔エラー±Δxの
測定のために、有利には、まず全ての彫刻機構(3A,3B,
3C,3D)が基準位置(RPA,RPB,RPC,RPD)に大まかに位置
付けされ、その後で各彫刻機構(3A,3B,3C,3D)を用い
てすくなくとも1つのせるが圧胴1上に彫刻される。セ
ルの試験的な彫刻がなされた後ではビデオカメラ28を備
えた測定台27が、相前後して基準位置(RPA,RPB,RPC,RP
D)に位置付けされ、彫刻されたセルとこの基準位置(R
PA,RPB,RPC,RPD)の間の間隔エラー±Δxが測定され
る。
4つの基準位置(RPA,RPB,RPC,RPD)に粗的に位置付け
された様子が示されており、これらはそれぞれ所定のセ
クション幅(SB)だけ相互に離間されている。
構(3A,3B)の彫刻針先端に対して負の間隔エラー(−
ΔxA,−ΔxB)が第1および第2の基準位置(RPA,RPB)
に対して生じている。なぜならこれらの彫刻針先端の実
際位置がシフト方向で見て第1および第2の基準位置
(RPA,RPB)の左側に存在しているからである。それに
対して第3および第4の彫刻機構(3C,3D)の彫刻針先
端に対しては正の間隔エラー(+ΔxC,+ΔxD)が第3
および第4の基準位置(RPC,RPD)に対して生じてい
る。なぜならこれらの彫刻針先端の実際位置がシフト方
向で見て第3および第4の基準位置(RPC,RPD)の右側
に存在しているからである。
彫刻針先端の間の誤った間隔実際値は、DAB=SB+ΔxA
−ΔxBである。また第2および第3の彫刻機構(3B,
3C)の彫刻針先端の間の誤った間隔実際値は、DBC=SB
+ΔxB+ΔxCである。また第3および第4の彫刻機構
(3C,3D)の彫刻針先端の間の誤った間隔実際値は、DCD
=SB−ΔxC−ΔxDである。
おいて正の間隔エラー(+Δx)が測定された否かが検
出される。測定されなかった場合には、方法ステップ
[IV]に進められる。それとは反対に正の間隔エラー
(+Δx)が測定された場合には、まず最大の正の間隔
エラー(+ΔxMAX)が求められる。図3のaには例えば
第4の彫刻機構3Dの彫刻針が最大の正の間隔エラーを有
している(+ΔxD=+ΔxMAX)。
xが、彫刻セクションの彫刻の際の彫刻情報の紛失防止
の保証のために、計算的(図3)にもしくは機械的(図
4)に補正される。
エラー±Δxと最大の正の+ΔxMAXの間の、少なくとも
0までの(すなわち直接0までかまたは負の間隔エラー
−Δxまで)差分形成によって補正され、その他の間隔
エラー±Δxは補正値に応じて補正される。0までの最
大の正の間隔エラー+ΔxMAXの補正の際には、全ての間
隔エラーに対する補正値が最大の正の間隔エラー+Δx
MAXに同じである。
補正が行われる。この場合は、第4の彫刻機構3Dの最大
の正の間隔エラー+ΔxDが次の式、 ΔxD*=ΔxD−ΔxMAX=0 に従って0までセットされ、第1、第2、第3の彫刻機
構(3A,3B,3C)のの彫刻針先端の間隔エラー(±ΔxA,
±ΔxB,±ΔxC)が次の式、 ΔxA*=ΔxA−ΔxMAX ΔxB*=ΔxB−ΔxMAX ΔxC*=ΔxC−ΔxMAX に従って補正される。
付けされた彫刻機構3による彫刻セクション(A,B)の
彫刻が行われる。彫刻セクション(A,B)の彫刻の間、
彫刻機構3の粗的位置付けによって引き起こされ方法ス
テップ[III]において補正された間隔エラー−Δx*
が、圧胴1上の彫刻セクションの“電子的シフト”によ
って次のように補正される。すなわち彫刻セクションが
彫刻針先端の間隔エラーにも係わらず所定のセクション
幅(SB)を有するように補正される。
ようにして達成される。すなわちまず方法ステップ[II
I]において補正された間隔エラー−Δx*に相応する
ベクトル(SV)がXY座標系のX軸方向で定められ、シフ
トされる彫刻ラインに重要な彫刻制御信号値(GS)の時
間的な処理と準備が、前記スタートベクトル(SV)によ
り、圧胴1に対する相対的な個々の彫刻機構3ないし彫
刻台4のシフト移動により達成された軸方向での位置に
依存して制御されることによって達成される。
た彫刻機構3が、対応する彫刻セクションのスタート彫
刻ライン(SGL)の彫刻と共に彫刻機構3の粗い位置付
けによって占められている軸方向の実際位置にて直接開
始される。その他のまだ間隔エラー−Δx*を含んだ彫
刻機構3は、相応の彫刻セクションのスタート彫刻ライ
ン(SGL)の彫刻と共に遅延して開始される。その後で
彫刻機構3は、それぞれ彫刻機構3の粗設定調整によっ
て占められた軸方向位置から出発して、該当するスター
トベクトル(SV)に相応するシフト経路を進む。
ョン(D)のスタート彫刻ライン(SGLD)の彫刻でもっ
て直接スタートし、それに対して他の彫刻機構(3A,3B,
3C)は、それぞれのスタートベクトル(SVA,SVB,SVC)
に相応する経路区間の走行の後で初めて彫刻セクション
(A,B,C)のスタート彫刻ライン(SGLA,SGLB,SGLC)の
彫刻でもってスタートする。
制御信号値(GS)の処理と準備は次のように制御され
る。すなわち彫刻台4のシフト移動の際の彫刻機構3の
彫刻針先端が、シフトされたスタート彫刻ライン(SG
L)のそれぞれの軸方向位置へ到達する時点で、シフト
されるスタート彫刻ライン(SGL)の彫刻に重要な彫刻
制御信号値(GS)が彫刻機構3に供給されるように制御
される。
刻データ(GD)は、当該実施例ではラスタスクリーン計
算機12において、該当する軸方向スタートベクトル(V
S)分だけシフトされる補間計算によって生成される。
スタートベクトル(VS)分だけシフトされる補間計算の
実施に対しては、前述の実施例の場合では、XY座標系の
X軸における補間計算に対するxスタートポイントが、
シフト方向に対してそのつどのスタートベクトル(SV)
分だけ、相応する画像データの開始アドレスからシフト
される。このスタートポイントシフトは、ラスタスクリ
ーン計算機(12)における位置座標(x,y)によって制
御された補間窓(18)のそのつどのスタートベクトル
(SV)分だけのシフトに相応する。
V)は、彫刻ライン間隔プラス/マイナス軸方向のラス
タスクリーンエラーの数倍にもなり得る可能性があるの
で、彫刻ラインは、正確に位置付けされた彫刻機構3に
よる彫刻の基準となる彫刻ラスタスクリーンに“パス”
しない。スタートベクトル(SV)分だけシフトされた補
間によって、彫刻データ(GD)は、そのつどのラスタス
クリーンエラー分だけずれている彫刻ラインに対して正
確に補間される。これにより、高い補間精度と共に、誤
って位置付けされた彫刻機構3にも係わらず彫刻セクシ
ョンの彫刻の際の高い精度が達成される。
L)まで進む距離区間内では、次のことが考慮されなけ
ればならない。すなわち圧胴1に対して情報なしの彫刻
がなされるように、すなわち彫刻針先端が圧胴1の套面
に接触しない“スーパーホワイト”の彫刻がなされるよ
うに考慮されなければならない。画像データセットが彫
刻情報“スーパーホワイト”による“白枠”を有し、ス
タートベクトル(SV)が画像データセットの“白枠”内
に存在する場合には、彫刻データ“スーパーホワイト”
が補間され、彫刻制御信号値(SG)として彫刻機構3に
供給される。
重要ではない、経路区間内で補間された彫刻データ(G
D)ないし彫刻制御信号値(GS)が抑圧される。このこ
とは例えば彫刻増幅器9の相応の制御によって行われる
かまたは当該実施例のように、線路36の彫刻イネーブル
信号(S)によって制御される彫刻機構3の昇降装置を
用いたスライド脚部とスクレーパの引き上げによって行
われる。スライド脚部とスクレーパの引き上げは、圧胴
1の套面の損傷からの保護のためにも“スーパーホワイ
ト”の彫刻の際に付加的に推奨される。
に、x座標に依存して、4つの彫刻セクション(A,B,C,
D)の彫刻の際の補間の経過が示されている。図面に
は、そのつどのスタートベクトル(SVA,SVB,SVC)分だ
けの補間シフトが示されている。この場合スタートベク
トルSVDは、方法ステップ[III]に基づいて行われた最
大間隔エラーの電子的補償調整に基づいてSVD=0であ
る。図中斜線のないパルス面部分は、既に補間がなされ
るが但し補間された彫刻データ(GD)は使用されないこ
とを表している。それに対して斜線の引かれているパル
ス面部分は、補間された彫刻データ(GD)が彫刻制御信
号値(GSA,GSB,GSC,GSD)に変換されて彫刻機構(3A,3
B,3C,3D)に供給されることを表している。
するために、4つの彫刻セクション(A,B,C,D)の彫刻
の際の彫刻機構(3A,3B,3C,3D)に対する彫刻制御信号
値(GSA,GSB,GSC,GSD)の準備の様子がx座標に依存し
て示されている。
ラーの補正のための彫刻の際の彫刻セクション(A,B,C,
D)の電子的なシフトの結果が示されている。この図か
らは、全ての彫刻セクション(A,B,C,D)が彫刻前にエ
ラーを含んで設定された彫刻機構間隔にも係わらずに所
要のセクション幅(SB)を正確に有していることがわか
る。
ー+ΔxMAXが機械的に補正される場合を説明するもので
ある。この機械的な補正では、最大間隔エラー+ΔxMAX
が次のことによって0におかれる。すなわち彫刻台4が
大まかに位置付けされた(以下では粗的位置付けとも称
する)調整機構3と共に少なくとも最大間隔エラー+Δ
xMAX分だけシフト方向に抗してシフトされることによっ
て0におかれる。それにより、正の最大間隔エラー+Δ
xMAXを有している彫刻機構3の彫刻針先端が対応する基
準位置(RP)に位置付けされる。他の彫刻機構3の彫刻
針先端も機械的に相応に補正された間隔エラー−Δx*
を有する。
彫刻台4のシフトによる特性が示されている。このシフ
トによって、第4の彫刻機構3Dの彫刻針先端の最大の正
の間隔エラー+ΔxDは0にもたらされる。それに対して
第1、第2、第3の彫刻機構(3A,3B,3C)の彫刻針先端
の間隔エラー±ΔxA,±ΔxB,±ΔxCは、シフトによって
−ΔxA*,−ΔxB*−ΔxC*まで補正される。
に概略的な形態でx座標に依存した4つの彫刻セクショ
ン(A,B,C,D)の彫刻の際の補間の経過が示されてい
る。
するために、4つの彫刻セクション(A,B,C,D)の彫刻
の際の彫刻機構(3A,3B,3C,3D)に対する彫刻制御信号
値(GSA,GSB,GSC,GSD)の準備の様子がx座標に依存し
て示されている。
ラーの補正のための、彫刻の際の彫刻セクション(A,B,
C,D)の電子的なシフトの結果が示されている。この図
からは、全ての彫刻セクション(A,B,C,D)が彫刻前に
エラーを含んで設定された彫刻機構間隔にも係わらずに
所要のセクション幅(SB)を正確に有していることがわ
かる。
構に代えて電子ビームまたはレーザービームによる彫刻
機構が用いられてもよい。
えられる。
ークに対するビデオ画像の評価の代わりに、測定台27が
相前後して実際位置と基準位置までシフトされ、間隔エ
ラー±Δxが2つの位置での測定台の位置座標差分から
直接検出されてもよい。
位置との間の軸方向間隔エラー±Δxの測定に対して、
例えば市販の長さ測定系(例えばソニーマグネスケール
社の“MR−MAGNESCALE")が用いられてもよい。この場
合には、軸方向に磁気的に読出し可能な測定尺度が配設
されており、これが測定台27にある読出しヘッドによっ
て読出され、評価される。間隔エラー±Δxの算出は、
例えば干渉計による測定手法に従って測定台27に取付け
られた干渉計を用いて行われてもよい。
て得られる実施例に対して代替的に、彫刻データ(GD)
を既に所要の彫刻ラスタスクリーン内に存在させてもよ
い。それにより、ラスタスクリーン計算機(12)と画像
データメモリ(13)が省略できる。この場合には、彫刻
セクションの彫刻の際の間隔エラー(Δx*)の電子的
な補正に対して必要な彫刻データ(GD)がスタートベク
トル(VS)分だけ変更された彫刻データメモリ(11)に
アドレッシングによって得られる。
刻ラインの彫刻のもとでも、連続的なシフトを伴う螺旋
状の彫刻ラインの彫刻のもとでも適用可能である。螺旋
状の彫刻ラインの彫刻の場合には、彫刻機構の誤った位
置付けによって間隔エラーがXおよびY軸方向で生じ、
スタートベクトル(VS)は、そのつどのXベクトル補正
分(VSX)としての軸方向の間隔エラーと、Yベクトル
成分(SVy)としてのものから求められる。これは螺旋
の上昇から生じる。
ョンの彫刻に適している。彫刻台上の彫刻に係わる全て
の彫刻機構の精密な位置付けが省かれるので、準備フェ
ーズが有利には大幅に短縮されるにも係わらず、彫刻の
際の高い彫刻精度が得られる。その他にも彫刻精度は実
質的に操作者の腕に依存しなくなる。
Claims (31)
- 【請求項1】電子的な彫刻機における輪転グラビア印刷
のための圧胴の彫刻のための方法であって、 圧胴(1)の軸方向に隣接的に存在する、所定のセクシ
ョン幅(SB)の少なくとも2つの彫刻セクション(A,
B)を、それぞれに対応付けされた彫刻機構(3)を用
いて彫刻し、 前記彫刻機構(3)はそれぞれ、彫刻ラスタスクリーン
(15)内に配列される一連のセルを回転する圧胴(1)
へ彫刻し、 彫刻機構(3)の制御のための彫刻制御信号(GS)が、
彫刻すべき階調値を表す彫刻信号(G)と、ラスタスク
リーン生成のための周期的なラスタスクリーン信号
(R)との重畳によって形成され、 前記彫刻機構(3)はセルの面状の彫刻のために圧胴
(1)に沿って圧胴(1)の軸方向に配向されたシフト
移動を実施し、 前記彫刻機構(3)相互の軸方向の間隔が当該彫刻の前
に設定される形式のものにおいて、 当該彫刻前に、 各彫刻機構(3)毎に軸方向の基準位置(RP)を設定
し、この場合前記基準位置(RP)相互の軸方向の間隔
は、彫刻セクション(A,B)の所定のセクション幅(S
B)に相応しており、 前記彫刻機構(3)をその基準位置(RP)に粗的に位置
付けし、 前記基準位置(RP)と、前記粗的位置付けに基づいて実
際に占められた彫刻機構(3)の実際位置との間の軸方
向の間隔エラー(Δx)を測定し、 当該彫刻の際に、 前記彫刻機構(3)は、その粗的位置付けに起因するエ
ラーを含んだ相互間の間隔でもって、圧胴(1)に沿っ
てシフト移動を行い、 彫刻機構(3)相互のエラーを含んだ間隔にも係わらず
彫刻セクション(A,B)が予め設定された所定のセクシ
ョン幅(SB)を有するように、圧胴(1)上の彫刻セク
ション(A,B)のシフトされる彫刻によって当該間隔エ
ラー(Δx)を補正するようにしたことを特徴とする、
圧胴の彫刻方法。 - 【請求項2】前記彫刻機構(3)を彫刻台(4)上にシ
フト可能にかつロック可能に配設し、 前記彫刻機構(3)をその基準位置(RP)に粗的に位置
付けし、該粗的位置付けに基づいて占められた彫刻台
(4)上の実際位置にロックし、 前記彫刻台(4)をロックされた彫刻機構(3)と共に
彫刻の際に圧胴(1)に沿ってシフト移動させる、請求
項1記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項3】複数のセルを圧胴(1)の周囲に延在する
彫刻ライン上に彫刻し、 前記彫刻機構(3)ないし彫刻台(4)は、彫刻ライン
の彫刻の後でそれぞれ彫刻ライン間隔に相応するシフト
ステップを実施する、請求項1または2記載の圧胴の彫
刻方法。 - 【請求項4】間隔エラー(±Δx)の測定の際に、彫刻
機構(3)の実際位置がシフト方向で見て、相応する基
準位置(RP)の右側にあるのか(正の間隔エラー(+Δ
x))、あるいは左側にあるのか(負の間隔エラー(−
Δx))で区別を行い、 正の間隔エラー(+Δx)が測定された場合には、最大
の正の間隔エラー(+ΔxMAX)を求め、 前記最大の正の間隔エラー(+ΔxMAX)は、補正値の減
算によって少なくとも0まで補正され、他の間隔エラー
(±Δx)は補正値分だけ補正され、この場合前記最大
の正の間隔エラー(+ΔxMAX)の0までの補正の際の補
正値は、最大の正の間隔エラーに等しく、 補正された間隔エラー(Δx*)は、圧胴(1)上のシ
フトされる彫刻セクション(A,B)の彫刻によって補正
される、請求項1〜3いずれか1項記載の圧胴の彫刻方
法。 - 【請求項5】前記間隔エラー(±Δx)の測定の際に、
彫刻機構(3)の実際位置がシフト方向で見て、相応す
る基準位置(RP)の右側にあるのか(正の間隔エラー
(+Δx))、あるいは左側にあるのか(負の間隔エラ
ー(−Δx))で区別を行い、 正の間隔エラー(+Δx)が測定された場合には、最大
の正の間隔エラー(+ΔxMAX)を求め、 前記最大の正の間隔エラー(+ΔxMAX)をシフト方向に
対向する方向での補正値分だけの彫刻台(4)のシフト
によって少なくとも0まで補正し、他の間隔エラー(±
Δx)は補正値分だけ機械的に補正し、この場合前記最
大の正の間隔エラー(+ΔxMAX)の0までの補正の際の
補正値は、最大の正の間隔エラーに等しく、 補正された間隔エラー(Δx*)は、圧胴(1)上のシ
フトされる彫刻セクション(A,B)の彫刻によって補正
される、請求項1〜3のいずれか1項記載の圧胴の彫刻
方法。 - 【請求項6】前記彫刻機構(3)の実際位置は、圧胴
(1)の軸線に対して垂直方向に、セルを生成する彫刻
機構(3)の構成要素を通って延在する平面によって規
定される、請求項1〜5いずれか1項記載の圧胴の彫刻
方法。 - 【請求項7】前記彫刻機構(3)の実際位置は、機械的
な彫刻機構(3)の彫刻針の先端によって規定される、
請求項6記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項8】前記彫刻機構(3)の実際位置は、該当す
る彫刻機構(3)を用いて試験的に圧胴(1)上に彫刻
された少なくとも1つのセルの位置によって規定され
る、請求項6記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項9】その基準位置(RP)に対して粗的に位置付
けされる彫刻機構(3)の間隔エラー(±Δx)を、位
置測定装置(27,28,29)のビデオカメラ(28)と画像評
価段(29)を用いて求める、請求項1〜8いずれか1項
記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項10】前記ビデオカメラ(28)は彫刻機におい
て、圧胴(1)の軸方向で位置付け可能に測定台(27)
に設けられている、請求項9記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項11】前記ビデオカメラ(28)は、測定台(2
7)に対する駆動部(31)を用いて自動的に基準位置(R
P)に位置付けされる、請求項10記載の圧胴の彫刻方
法。 - 【請求項12】粗的に位置付けされる1つの彫刻機構
(3)の間隔エラー(±Δx)の測定に対して、 前記ビデオカメラ(28)を測定台(27)を用いて当該彫
刻機構(3)の対応する基準位置(RP)に位置付けし、 前記ビデオカメラ(28)は、該当する彫刻機構(3)の
彫刻針先端のビデオ画像かまたは該当する彫刻機構
(3)を用いて試験的に圧胴(1)上に彫刻された少な
くとも1つのセルのビデオ画像を、当該彫刻機構(3)
の実際位置として撮影し、 彫刻機構(3)の実際位置と、対応する基準位置(RP)
との間の間隔エラー(±Δx)をビデオ画像のビデオ評
価段(29)における電子的な評価によって検出する、請
求項9〜11いずれか1項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項13】粗的に位置付けされる1つの彫刻機構
(3)の間隔エラー(±Δx)の測定に対して、 前記ビデオカメラ(28)は、該当する彫刻機構(3)の
彫刻針先端のビデオ画像かまたは該当する彫刻機構
(3)を用いて試験的に圧胴(1)上に彫刻された少な
くとも1つのセルのビデオ画像を、当該彫刻機構(3)
の実際位置として撮影し、 彫刻機構(3)の実際位置が測定台(27)の基準マーク
と一致する測定位置へ測定台(27)を移動し、 前記測定台(27)を、対応する基準位置(RP)に位置付
けし、 測定位置と基準位置(RP)との間の測定台(27)の差分
距離から前記間隔エラー(±Δx)を求める、請求項9
〜11いずれか1項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項14】粗的に位置付けされる全ての彫刻機構
(3)の間隔エラー(±Δx)の測定に対して、 ビデオカメラ(28)を粗前後して彫刻機構(3)の個々
の基準位置に位置付けし、 各基準位置(RP)において対応する彫刻機構(3)を基
準位置(RP)まで粗的に設定調整し、 各基準位置(RP)において間隔エラー(±Δx)を、ビ
デオカメラ(28)によって撮影された彫刻針先端のビデ
オ画像の評価によって求める、請求項9〜13いずれか1
項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項15】粗的に位置付けされる全ての彫刻機構
(3)の間隔エラー(±Δx)の測定に対して、 彫刻機構(3)を対応する基準位置(RP)に粗的に位置
付けし、 各彫刻機構(3)を用いて試験的に少なくとも1つのセ
ルを圧胴(1)に彫刻し、 ビデオカメラ(28)を相前後して個々の基準位置(RP)
に位置付けし、 各基準位置(RP)毎に、対応する彫刻機構(3)を粗的
に基準位置(RP)に設定調整し、 各基準位置(RP)毎に間隔エラー(±Δx)を、ビデオ
カメラ(28)を用いて撮影した試験的に彫刻されたセル
のビデオ画像の評価によって求める、請求項9〜13いず
れか1項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項16】補助装置(34,35)が設けられており、
該補助装置は、彫刻機構(3)が粗的位置付けの際に位
置測定装置(27,28,29)の測定領域内に入ると同時に信
号を生成する、請求項9〜15いずれか1項記載の圧胴の
彫刻方法。 - 【請求項17】前記補助装置(34,35)は、光ビーム装
置として構成されている、請求項16記載の圧胴の彫刻方
法。 - 【請求項18】圧胴(1)上の彫刻セクション(A,B)
の彫刻の際の補正された間隔エラー(Δx*)の補償調
整に対して、 その最大の正の間隔エラーが少なくとも0まで補正され
た彫刻機構(3)を、彫刻開始の際に直接その実際位置
において相応の彫刻セクションの彫刻でもってスタート
させ、 他の彫刻機構(3)は、それぞれ補正された間隔エラー
(Δx*)分だけシフトされる対応する彫刻セクション
の彫刻でもってスタートさせ、その後で、補正された間
隔エラー(Δx*)に相応する軸方向のシフト距離をそ
の実際位置から進むようにさせ、 スタートベクトル(SV)を生成し、その長さは補正され
た間隔エラー(Δx*)に相応しており、 位置シフトされた彫刻ラインのセルの彫刻に必要な彫刻
データ(GD)の供給を、軸方向のスタートベクトル(S
V)によって制御する、請求項1〜17いずれか1項記載
の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項19】各彫刻セクション(A,B)毎に、 印刷ラスタスクリーン(15)によって規定される彫刻ポ
イントに対する彫刻データ(GD)を、画像データ(BD)
からの補間計算によって生成し、 該補間計算のための軸方向のスタートポイントを、該当
する彫刻セクション(A,B)のスタート彫刻ライン(SG
L)から軸方向スタートベクトル(VS)分だけ彫刻機構
(3)の実際位置に対して彫刻開始の際にシフト方向に
対向する方向でシフトさせる、請求項18記載の圧胴の彫
刻方法。 - 【請求項20】各彫刻セクション(A,B)毎に、 画像データ(BD)が元のラスタスクリーン(14)内に存
在し、 分類領域(16)が元のラスタスクリーン(14)のラスタ
スクリーン網目の大きさによって確定され、前記分類領
域(16)は補間分類レベルを表す部分領域(17)に細分
化され、 個々の補間分類レベル毎に重み付け係数が呼出し可能に
記憶され、 前記分類領域(16)の周囲に補間窓(18)を定め、該補
間窓はそれぞれ彫刻ラスタスクリーン(15)の彫刻デー
タ(GD)の計算に求められるだけの画像データ(BD)を
含んでおり、 前記分類領域(16)は、補間窓(18)と共に彫刻の際に
彫刻機構(3)のシフト移動及び圧胴(1)の回転移動
と同期して元のラスタスクリーン(14)を越えて、彫刻
ラスタスクリーン(15)の彫刻ポイントがシフトされた
分類領域(16)内に存在するまでシフトされ、 彫刻ポイントが入る部分領域(17)を検出し、 検出された部分領域(17)に事前に対応付けされた補間
分類レベルの重み付け係数を呼出し、 前記彫刻ポイントの彫刻データ(GD)を、呼出された重
み付け係数を用いて補間窓(18)内に存在する画像デー
タ(BD)から算出する、請求項18または19記載の圧胴の
彫刻方法。 - 【請求項21】前記補間窓(18)を、彫刻セクション
(A,B)のスタート彫刻ライン(SGL)に対して、対応す
る軸方向スタートベクトル(VS)分だけ彫刻機構(3)
の実際位置に対して彫刻開始の際にシフト方向に対向す
る方向でシフトさせる、請求項20記載の圧胴の彫刻方
法。 - 【請求項22】予め設定される基準位置(RP)が、圧胴
(1)上の彫刻セクション(A,B)の所望のスタート位
置に少なくともほぼ一致する、請求項1〜21いずれか1
項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項23】前記彫刻機構(3)の少なくとも1つの
実際位置が圧胴(1)上の彫刻セクション(A,B)の所
望のスタート位置と一致するように、彫刻台(4)が彫
刻前にシフトされる、請求項1〜22いずれか1項記載の
圧胴の彫刻方法。 - 【請求項24】前記彫刻機構(3)はその実際位置から
スタート彫刻ライン(SGL)までの軸方向シフト経過期
間中に“スーパーホワイト”情報を彫刻する、請求項1
〜23いずれか1項記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項25】彫刻機構(3)のスクレーパとスライド
脚部のための昇降装置が、実際位置からスタート彫刻ラ
イン(SGL)までの軸方向シフト経過期間中に圧胴
(1)から引き上げられる、請求項1〜24いずれか1項
記載の圧胴の彫刻方法。 - 【請求項26】圧胴(1)の軸方向に隣接して存在する
所定のセクション幅(SB)の少なくとも2つの彫刻セク
ション(A,B)をそれぞれに対応付けされた彫刻機構
(3)によって彫刻するための彫刻機であって、 回転可能に支承された圧胴(1)と、;該圧胴(1)は
第1の駆動部(2)によって回転されるものであり、 彫刻台(4)と、;該彫刻台(4)は第2の駆動部
(6)を用いて前記圧胴(1)の軸方向に移動可能であ
り、 彫刻セクション(A,B)の彫刻のための彫刻機構(3)
と、;該彫刻機構(3)は前記彫刻台(4)上にシフト
およびロック可能に配設されており、 前記彫刻機構(3)の彫刻制御信号(GS)生成のための
信号処理段(9,10)とから構成されている形式のものに
おいて、 前記彫刻機構(3)の所定の軸方向基準位置(RP)と、
該彫刻機構(3)が所定の基準位置(RP)への粗的位置
付けの際に実際に占めた実際位置との間の軸方向の間隔
エラー(±Δx)を測定するための位置測定装置(27,2
8,29)を有し、 圧胴(1)上でシフトされる彫刻セクション(A,B)の
彫刻と、相応にシフトされる彫刻機構(3)のための彫
刻制御信号値(GS)の供給とによって、前記測定された
間隔エラー(±Δx)を補正するための手段(11,12,2
2)が設けられていることを特徴とする彫刻機。 - 【請求項27】前記位置測定装置(27,28,29)は、 彫刻機構(3)の彫刻針先端のビデオ画像かもしくは彫
刻機構(3)の実際位置として当該彫刻機構(3)によ
って試験的に彫刻されたセルのビデオ画像を撮影するた
めの、測定台(27)に取り付けられたビデオカメラ(2
8)と、 彫刻機構(3)の実際位置と所定の基準位置(RP)との
間の間隔エラー(±Δx)をビデオカメラから撮影され
たビデオ画像の評価によって求める画像評価段(29)と
で構成されている、請求項26記載の彫刻機。 - 【請求項28】前記測定台(27)は、ビデオカメラ(2
8)と共に圧胴(1)の軸方向でシフト可能である、請
求項26または27記載の彫刻機。 - 【請求項29】前記測定台(27)は、ビデオカメラ(2
8)と共に駆動部(31)によって所定の軸方向基準位置
(RP)に位置付け可能である、請求項26または27記載の
彫刻機。 - 【請求項30】ラスタスクリーン計算機(12)が設けら
れており、該ラスタスクリーン計算機(12)においては
彫刻データ(GD)が、画像メモリ(13)にファイルされ
ている画像データ(BD)からの補間によって得られてお
り、 前記測定された間隔エラー(±Δx)の補正のための手
段(11,12,22)は、彫刻セクション(A,B)のシフトさ
れる彫刻のもとでの彫刻機構(3)に対する彫刻制御信
号値(GS)の供給を制御するために、前記ラスタスクリ
ーン計算機(12)と作用可能に接続されている、請求項
26〜28のいずれか1項記載の彫刻機。 - 【請求項31】圧胴(1)の軸方向に隣接して存在する
所定のセクション幅(SB)の少なくとも2つの彫刻セク
ション(A,B)を、彫刻制御信号(GS)によって制御さ
れるそれぞれに対応付けされた彫刻機構(3)によって
彫刻する彫刻機のための位置測定装置において、 彫刻機構(3)の彫刻針先端のビデオ画像かもしくは所
定の基準位置(RP)へ粗的にシフトされた彫刻機構
(3)の本当の実際位置として当該彫刻機構(3)によ
って試験的に彫刻されたセルのビデオ画像を撮影するた
めに、測定台(27)に取り付けられたビデオカメラ(2
8)が設けられており、 前記測定台(27)は、圧胴(1)の軸方向にシフト可能
にかつ彫刻機構(3)の所定の基準位置(RP)へ位置付
け可能に構成されており、 さらに、彫刻機構(3)の本当の実際位置と基準位置
(RP)との間の間隔エラー(±Δx)を求めるために、
撮影されたビデオ画像を評価する、ビデオカメラ(28)
に接続された画像評価段(29)が設けられており、 圧胴(1)上でシフトされる彫刻セクション(A,B)の
彫刻と、相応にシフトされる彫刻機構(3)のための彫
刻制御信号値(GS)の供給とによって、位置測定装置
(27,28,29)により測定された間隔エラー(±Δx)を
補正する手段(11,12,22)が設けられており、該手段
(11,12,22)は前記画像評価段(29)に接続されている
ことを特徴とする、位置測定装置。
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