JP3259325B2 - 光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその装置 - Google Patents
光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに対して光
ピックアップの対物レンズを焦点深度内に引き込む際の
制御方法および制御装置に係り、特に、フォーカスサー
チの速度制御に関するものである。
ピックアップの対物レンズを焦点深度内に引き込む際の
制御方法および制御装置に係り、特に、フォーカスサー
チの速度制御に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスクと光ピックアップとの間に
は、常に面振れが生じている。このディスク面振れ(0.2
〜0.3mm 程度) は、光ディスク面上にレーザ光を結像さ
せる光ピックアップにおける対物レンズの焦点深度(±
1μm程度)よりはるかに大きいので、対物レンズをデ
ィスク面に対して近づく方向および遠ざかる方向に移動
させて、対物レンズと光ディスクとの距離を対物レンズ
の焦点深度内に収めるため、フォーカス誤差(フォーカ
スエラー)を検出する必要がある。そこで、従来より上
記焦点誤差を補償し、正確なフォーカシングを行う手段
として、フォーカスサーボ方式が採用されている。
は、常に面振れが生じている。このディスク面振れ(0.2
〜0.3mm 程度) は、光ディスク面上にレーザ光を結像さ
せる光ピックアップにおける対物レンズの焦点深度(±
1μm程度)よりはるかに大きいので、対物レンズをデ
ィスク面に対して近づく方向および遠ざかる方向に移動
させて、対物レンズと光ディスクとの距離を対物レンズ
の焦点深度内に収めるため、フォーカス誤差(フォーカ
スエラー)を検出する必要がある。そこで、従来より上
記焦点誤差を補償し、正確なフォーカシングを行う手段
として、フォーカスサーボ方式が採用されている。
【0003】光ディスクのフォーカスサーボ方式の代表
的なものとして、ナイフエッジ法や非点収差法などが知
られている。ナイフエッジ法は、光ディスクからの反射
光の収束光路幅にナイフエッジを配置し、フォトダイオ
ード上での光点像の移動量を検出することにより、フォ
ーカスエラー信号を得る方式である。
的なものとして、ナイフエッジ法や非点収差法などが知
られている。ナイフエッジ法は、光ディスクからの反射
光の収束光路幅にナイフエッジを配置し、フォトダイオ
ード上での光点像の移動量を検出することにより、フォ
ーカスエラー信号を得る方式である。
【0004】非点収差法は、非点収差を発生する光学部
品を用いるもので、光ディスクの情報記録面が対物レン
ズの焦平面にあるときに非点収差光学系のビーム断面が
円形となるような位置に、4分割フォトダイオードを配
置し、この4分割フォトダイオードの4つの出力信号の
演算結果をフォーカスエラー信号として得る方式であ
る。
品を用いるもので、光ディスクの情報記録面が対物レン
ズの焦平面にあるときに非点収差光学系のビーム断面が
円形となるような位置に、4分割フォトダイオードを配
置し、この4分割フォトダイオードの4つの出力信号の
演算結果をフォーカスエラー信号として得る方式であ
る。
【0005】このような方法によりフォーカスエラー信
号が得られ、このフォーカスエラー信号に基づいて対物
レンズを移動させるフォーカス引き込みが行われる。実
際のフォーカス引き込みでは、フォーカスアクチュエー
タにより対物レンズを光ディスク面から遠ざけた後に光
ディスク面に近づけるように駆動制御が行われる。この
フォーカス引き込みの際に得られるフォーカスエラー信
号FεのいわゆるS字曲線は、光ディスク面からの反射
光によって形成されるが、図5の(a) に示すように、ま
ず、光ディスク表面からの反射光によって図中(X) で
示すようなS字曲線が形成される。さらに対物レンズが
光ディスク面に近づくと、光ディスク記録面からの反射
光によって図中(Y) で示すようなS字曲線が形成され
る。このとき対物レンズが光ディスク面に近づくにつれ
て、まず、対物レンズが図5の(b) に示すように、S字
曲線の正帰還領域Aに入る。ここで、フォーカスサーボ
系をオンにすると、対物レンズは合焦位置に近づくが、
ゲインが大きくなっていくため加速されて合焦位置を通
り過ぎ、反対側の正帰還領域Bに入ってしまい、フォー
カス引き込みに失敗してしまう。
号が得られ、このフォーカスエラー信号に基づいて対物
レンズを移動させるフォーカス引き込みが行われる。実
際のフォーカス引き込みでは、フォーカスアクチュエー
タにより対物レンズを光ディスク面から遠ざけた後に光
ディスク面に近づけるように駆動制御が行われる。この
フォーカス引き込みの際に得られるフォーカスエラー信
号FεのいわゆるS字曲線は、光ディスク面からの反射
光によって形成されるが、図5の(a) に示すように、ま
ず、光ディスク表面からの反射光によって図中(X) で
示すようなS字曲線が形成される。さらに対物レンズが
光ディスク面に近づくと、光ディスク記録面からの反射
光によって図中(Y) で示すようなS字曲線が形成され
る。このとき対物レンズが光ディスク面に近づくにつれ
て、まず、対物レンズが図5の(b) に示すように、S字
曲線の正帰還領域Aに入る。ここで、フォーカスサーボ
系をオンにすると、対物レンズは合焦位置に近づくが、
ゲインが大きくなっていくため加速されて合焦位置を通
り過ぎ、反対側の正帰還領域Bに入ってしまい、フォー
カス引き込みに失敗してしまう。
【0006】そこで、従来のフォーカス引き込み制御系
では、まず、フォーカスアクチュエータの駆動電流を所
定の値に設定して対物レンズを合焦位置に近づけ、この
とき、光ディスク記録面からの反射光によって形成され
る図5の(a) における図中(Y) で示すS字特性を有す
るフォーカスエラー信号Fεとあらかじめ設定した引き
込み領域判定用しきい値Vthとを比較回路により比較す
る。この比較において、まずフォーカスエラー信号Fε
がしきい値Vthより大きくなる。そして、対物レンズが
さらに近づくと今度はしきい値Vthの方が大きくなるの
で、このときフォーカスサーボ系が動作するように構成
されている。
では、まず、フォーカスアクチュエータの駆動電流を所
定の値に設定して対物レンズを合焦位置に近づけ、この
とき、光ディスク記録面からの反射光によって形成され
る図5の(a) における図中(Y) で示すS字特性を有す
るフォーカスエラー信号Fεとあらかじめ設定した引き
込み領域判定用しきい値Vthとを比較回路により比較す
る。この比較において、まずフォーカスエラー信号Fε
がしきい値Vthより大きくなる。そして、対物レンズが
さらに近づくと今度はしきい値Vthの方が大きくなるの
で、このときフォーカスサーボ系が動作するように構成
されている。
【0007】図6は、ナイフエッジ法を採用した光ディ
スクのフォーカス引き込み制御装置の構成図で、この構
成では、ナイフエッジを集光レンズ(検出レンズ)の焦
点位置から離れた位置に配置したナイフエッジ法を採用
している。図6において、1は光ディスク、2は信号入
力部、3はレーザダイオード(LD)駆動回路、4は光
ピックアップ、5はフォーカスエラー信号生成用差分ア
ンプ、7はフォーカスサーボ系オン・オフ用スイッチ回
路、8は加算器、9は比較器、10は制御回路、11は
電力増幅器をそれぞれ示している。
スクのフォーカス引き込み制御装置の構成図で、この構
成では、ナイフエッジを集光レンズ(検出レンズ)の焦
点位置から離れた位置に配置したナイフエッジ法を採用
している。図6において、1は光ディスク、2は信号入
力部、3はレーザダイオード(LD)駆動回路、4は光
ピックアップ、5はフォーカスエラー信号生成用差分ア
ンプ、7はフォーカスサーボ系オン・オフ用スイッチ回
路、8は加算器、9は比較器、10は制御回路、11は
電力増幅器をそれぞれ示している。
【0008】この光ディスク記録装置は、以下のように
動作する。すなわち、まず、フォーカスサーチを開始さ
せるに際し、信号入力部2に入力されたレーザ駆動回路
制御信号CTLにより、レーザ駆動回路3は光ピックア
ップ4のLD41を駆動させる。これにより、LD41
からレーザ光が出射され、このLD41から出射された
レーザ光は、コリメートレンズ42により平行光束に変
換された後、ビームスプリッタ43を透過し、対物レン
ズ44に入射される。対物レンズ44に入射した光は、
集光され光ディスク1に対しビームスポットとして照射
される。
動作する。すなわち、まず、フォーカスサーチを開始さ
せるに際し、信号入力部2に入力されたレーザ駆動回路
制御信号CTLにより、レーザ駆動回路3は光ピックア
ップ4のLD41を駆動させる。これにより、LD41
からレーザ光が出射され、このLD41から出射された
レーザ光は、コリメートレンズ42により平行光束に変
換された後、ビームスプリッタ43を透過し、対物レン
ズ44に入射される。対物レンズ44に入射した光は、
集光され光ディスク1に対しビームスポットとして照射
される。
【0009】このとき、スイッチ回路7はオフ状態にあ
り、このためフォーカスサーボ系はオフ状態にある。こ
のような状態で、制御回路10からフォーカスアクチュ
エータ45の駆動電流Iを,たとえばI1 に設定するよ
うに駆動制御信号DRが出力される。これにより、電力
増幅回路11からフォーカスアクチュエータ45に対し
て駆動電流I1 が供給される。これに伴い、対物レンズ
44は、駆動電流I1に応じた速度をもってフォーカス
アクチュエータ45により光ディスク1面に対して近づ
く方向に移動される。このとき、ビームスポットは、ま
ず光ディスク1の表面1S 、次いで記録面1W に照射さ
れる。
り、このためフォーカスサーボ系はオフ状態にある。こ
のような状態で、制御回路10からフォーカスアクチュ
エータ45の駆動電流Iを,たとえばI1 に設定するよ
うに駆動制御信号DRが出力される。これにより、電力
増幅回路11からフォーカスアクチュエータ45に対し
て駆動電流I1 が供給される。これに伴い、対物レンズ
44は、駆動電流I1に応じた速度をもってフォーカス
アクチュエータ45により光ディスク1面に対して近づ
く方向に移動される。このとき、ビームスポットは、ま
ず光ディスク1の表面1S 、次いで記録面1W に照射さ
れる。
【0010】光ディスク1に照射されたスポット光は、
光ディスク1上で反射される。これら反射戻り光は、対
物レンズ44を介してビームスプリッタ43で反射さ
れ、集光レンズ46で集光される。集光された反射戻り
光は、その一部がナイフエッジ47によりけられて2分
割−光検出器48で受光される。
光ディスク1上で反射される。これら反射戻り光は、対
物レンズ44を介してビームスプリッタ43で反射さ
れ、集光レンズ46で集光される。集光された反射戻り
光は、その一部がナイフエッジ47によりけられて2分
割−光検出器48で受光される。
【0011】2分割−光検出器48で受光された反射戻
り光は、その光量に応じたレベルの電気信号に変換さ
れ、光検出器48を構成する各フォトダイオードから光
出力信号として差分アンプ5の非反転入力(+)および
反転入力(−)にそれぞれ出力される。
り光は、その光量に応じたレベルの電気信号に変換さ
れ、光検出器48を構成する各フォトダイオードから光
出力信号として差分アンプ5の非反転入力(+)および
反転入力(−)にそれぞれ出力される。
【0012】差分アンプ5では、入力信号の差分が求め
られて、フォーカスエラー信号Fεが生成され、位相補
償回路6および比較器9の非反転入力(+)に出力され
る。位相補償回路6では、フォーカスエラー信号Fεの
位相が補償されスイッチ回路7に出力される。このとき
のスイッチ回路7のオン・オフ制御は比較器9の比較結
果に応じた制御が行われる。
られて、フォーカスエラー信号Fεが生成され、位相補
償回路6および比較器9の非反転入力(+)に出力され
る。位相補償回路6では、フォーカスエラー信号Fεの
位相が補償されスイッチ回路7に出力される。このとき
のスイッチ回路7のオン・オフ制御は比較器9の比較結
果に応じた制御が行われる。
【0013】すなわち、比較器9において、フォーカス
エラー信号Fεとあらかじめ設定されている引き込み領
域判定用しきい値Vthとの比較が行われる。この比較に
おいて、まず、対物レンズ44が光ディスク1に近づく
につれフォーカスエラー信号Fεは、図5に示すような
S字曲線を描くが、フォーカスエラー信号Fεが正帰還
領域Aにあるときは、しきい値Vthの方がフォーカスエ
ラー信号Fεのレベルよりも大きいため、スイッチ回路
7はオフのままに保持される。
エラー信号Fεとあらかじめ設定されている引き込み領
域判定用しきい値Vthとの比較が行われる。この比較に
おいて、まず、対物レンズ44が光ディスク1に近づく
につれフォーカスエラー信号Fεは、図5に示すような
S字曲線を描くが、フォーカスエラー信号Fεが正帰還
領域Aにあるときは、しきい値Vthの方がフォーカスエ
ラー信号Fεのレベルよりも大きいため、スイッチ回路
7はオフのままに保持される。
【0014】ここで、対物レンズ44が光ディスク1面
にさらに近づくと、フォーカスエラー信号Fεのレベル
がしきい値Vthより大きくなり、対物レンズ44がさら
に近づくと今度はしきい値Vthの方がフォーカスエラー
信号Fεのレベルよりも大きくなる。このような比較器
9の比較結果が比較信号CMPとして制御回路10に入
力されると、制御回路10は、引き込み位置Cにきたも
のと判断して信号SWを出力してスイッチ回路7をオン
させる。これにより、フォーカスサーボ系がオンとな
る。これに伴い、位相補償回路6により位相が補償され
たフォーカスエラー信号Fεが加算器8に入力し、この
信号に基づいて電力増幅器11から駆動電流IF がフォ
ーカスアクチュエータ45に供給されて、光ディスク1
の記録面1W が合焦位置にくるような適切な位置に対物
レンズ44が移動され、すなわちサーボ制御されてフォ
ーカス引き込み動作が終了する。
にさらに近づくと、フォーカスエラー信号Fεのレベル
がしきい値Vthより大きくなり、対物レンズ44がさら
に近づくと今度はしきい値Vthの方がフォーカスエラー
信号Fεのレベルよりも大きくなる。このような比較器
9の比較結果が比較信号CMPとして制御回路10に入
力されると、制御回路10は、引き込み位置Cにきたも
のと判断して信号SWを出力してスイッチ回路7をオン
させる。これにより、フォーカスサーボ系がオンとな
る。これに伴い、位相補償回路6により位相が補償され
たフォーカスエラー信号Fεが加算器8に入力し、この
信号に基づいて電力増幅器11から駆動電流IF がフォ
ーカスアクチュエータ45に供給されて、光ディスク1
の記録面1W が合焦位置にくるような適切な位置に対物
レンズ44が移動され、すなわちサーボ制御されてフォ
ーカス引き込み動作が終了する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た引き込み装置では、対物レンズの移動速度、すなわち
フォーカスサーチの速度をフォーカス引き込み領域に入
るまで所定の速度に保持し、対物レンズ44が引き込み
領域に入ったときにスイッチ回路7をオンにしてフォー
カスサーボ系をオンにするように構成されているので、
フォーカスサーチの速度が大きいと引き込み領域を通り
すぎて再び正帰還領域Bに入ってしまう、いわゆるオー
バシュートが起こるおそれがあり、安定に引き込み動作
が行われないという欠点がある。
た引き込み装置では、対物レンズの移動速度、すなわち
フォーカスサーチの速度をフォーカス引き込み領域に入
るまで所定の速度に保持し、対物レンズ44が引き込み
領域に入ったときにスイッチ回路7をオンにしてフォー
カスサーボ系をオンにするように構成されているので、
フォーカスサーチの速度が大きいと引き込み領域を通り
すぎて再び正帰還領域Bに入ってしまう、いわゆるオー
バシュートが起こるおそれがあり、安定に引き込み動作
が行われないという欠点がある。
【0016】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、安定な引き込み動作を実現でき
る光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその
装置を提供することにある。
のであり、その目的は、安定な引き込み動作を実現でき
る光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその
装置を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のフォーカス引き込み制御方法では、光ディ
スクからの反射光を検出した検出信号を用いて生成され
たフォーカスエラー信号に基づいて対物レンズを駆動す
るフォーカスサーボの引き込み制御方法において、上記
光ディスクからの反射光に基づくフォーカスエラー信号
の瞬時値が所定の範囲外にあるときは上記フォーカスア
クチュエータを駆動して上記対物レンズを第1の速度で
上記光ディスクに近づく方向に移動させ、上記光ディス
クの表面にビームスポットが照射されることによって上
記フォーカスエラー信号の瞬時値が第1の閾値よりも大
きくなったときに上記フォーカスアクチュエータを駆動
して上記対物レンズを上記第1の速度よりも減速させた
第2の速度で上記光ディスクに近づく方向に更に移動さ
せ、上記対物レンズが上記第2の速度で上記光ディスク
に近づく方向に更に移動している間に、上記光ディスク
の記録面にビームスポットが照射されることによって上
記フォーカスエラー信号の瞬時値が上記第1の閾値より
大きい第2の閾値よりも大きくなった後、上記第2の閾
値が上記フォーカスエラー信号の瞬時値より大きくなっ
たときに上記フォーカスサーボを閉じるようにした。
め、本発明のフォーカス引き込み制御方法では、光ディ
スクからの反射光を検出した検出信号を用いて生成され
たフォーカスエラー信号に基づいて対物レンズを駆動す
るフォーカスサーボの引き込み制御方法において、上記
光ディスクからの反射光に基づくフォーカスエラー信号
の瞬時値が所定の範囲外にあるときは上記フォーカスア
クチュエータを駆動して上記対物レンズを第1の速度で
上記光ディスクに近づく方向に移動させ、上記光ディス
クの表面にビームスポットが照射されることによって上
記フォーカスエラー信号の瞬時値が第1の閾値よりも大
きくなったときに上記フォーカスアクチュエータを駆動
して上記対物レンズを上記第1の速度よりも減速させた
第2の速度で上記光ディスクに近づく方向に更に移動さ
せ、上記対物レンズが上記第2の速度で上記光ディスク
に近づく方向に更に移動している間に、上記光ディスク
の記録面にビームスポットが照射されることによって上
記フォーカスエラー信号の瞬時値が上記第1の閾値より
大きい第2の閾値よりも大きくなった後、上記第2の閾
値が上記フォーカスエラー信号の瞬時値より大きくなっ
たときに上記フォーカスサーボを閉じるようにした。
【0018】
【0019】本発明のフォーカス引き込み制御装置で
は、光ディスクからの反射光を検出した検出信号に基づ
いてフォーカスエラー信号を生成するエラー信号生成部
と、上記光ディスクにレーザ光を結像させる対物レンズ
を上記光ディスクに近づく方向または上記光ディスクか
ら遠ざかる方向に駆動するフォーカスアクチュエータ
と、上記エラー信号生成部からのフォーカスエラー信号
に基づいて上記フォーカスアクチュエータに駆動制御信
号を供給する制御信号供給部と、上記エラー信号生成部
から供給されるフォーカスエラー信号を上記光ディスク
の表面による上記フォーカスエラー信号の最大値より小
さい第1の閾値と比較する第1の比較部と、上記エラー
信号生成部から供給されるフォーカスエラー信号を、上
記光ディスクの表面による上記フォーカスエラー信号の
最大値より大きく、上記光ディスクの記録面による上記
フォーカスエラー信号の最大値より小さい第2の閾値と
比較する第2の比較部と、上記光ディスクからの反射光
に基づくフォーカスエラー信号の値が所定の範囲外にあ
るときは上記フォーカスアクチュエータを駆動して上記
対物レンズを第1の速度で上記光ディスクに近づく方向
に移動させ、上記第1の比較部からの比較結果に基づい
て上記フォーカスエラー信号が第1の閾値よりも大きく
なったときに上記フォーカスアクチュエータを駆動して
上記対物レンズを上記第1の速度よりも減速させた第2
の速度で上記光ディスクに近づく方向に更に移動させ、
上記対物レンズが上記第2の速度で移動している間に、
上記第2の比較部からの比較結果に基づいて上記フォー
カスエラー信号が上記第2の閾値よりも大きくなった
後、上記第2の閾値が上記フォーカスエラー信号よりも
大きくなったときに上記制御信号供給部からの駆動制御
信号を上記フォーカスアクチュエータに供給する制御部
とを有する。
は、光ディスクからの反射光を検出した検出信号に基づ
いてフォーカスエラー信号を生成するエラー信号生成部
と、上記光ディスクにレーザ光を結像させる対物レンズ
を上記光ディスクに近づく方向または上記光ディスクか
ら遠ざかる方向に駆動するフォーカスアクチュエータ
と、上記エラー信号生成部からのフォーカスエラー信号
に基づいて上記フォーカスアクチュエータに駆動制御信
号を供給する制御信号供給部と、上記エラー信号生成部
から供給されるフォーカスエラー信号を上記光ディスク
の表面による上記フォーカスエラー信号の最大値より小
さい第1の閾値と比較する第1の比較部と、上記エラー
信号生成部から供給されるフォーカスエラー信号を、上
記光ディスクの表面による上記フォーカスエラー信号の
最大値より大きく、上記光ディスクの記録面による上記
フォーカスエラー信号の最大値より小さい第2の閾値と
比較する第2の比較部と、上記光ディスクからの反射光
に基づくフォーカスエラー信号の値が所定の範囲外にあ
るときは上記フォーカスアクチュエータを駆動して上記
対物レンズを第1の速度で上記光ディスクに近づく方向
に移動させ、上記第1の比較部からの比較結果に基づい
て上記フォーカスエラー信号が第1の閾値よりも大きく
なったときに上記フォーカスアクチュエータを駆動して
上記対物レンズを上記第1の速度よりも減速させた第2
の速度で上記光ディスクに近づく方向に更に移動させ、
上記対物レンズが上記第2の速度で移動している間に、
上記第2の比較部からの比較結果に基づいて上記フォー
カスエラー信号が上記第2の閾値よりも大きくなった
後、上記第2の閾値が上記フォーカスエラー信号よりも
大きくなったときに上記制御信号供給部からの駆動制御
信号を上記フォーカスアクチュエータに供給する制御部
とを有する。
【0020】
【0021】
【作用】本発明のフォーカス引き込み制御方法によれ
ば、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動力で
駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接近さ
れ、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面が入
る。ここで、光ディスク表面の反射光に基づくフォーカ
スエラー信号の値が所定範囲内に入った場合にはフォー
カスアクチュエータが範囲外にあるときよりも小さな駆
動力で駆動される。すなわち、フォーカスサーチの速度
が減速される。
ば、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動力で
駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接近さ
れ、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面が入
る。ここで、光ディスク表面の反射光に基づくフォーカ
スエラー信号の値が所定範囲内に入った場合にはフォー
カスアクチュエータが範囲外にあるときよりも小さな駆
動力で駆動される。すなわち、フォーカスサーチの速度
が減速される。
【0022】また、本発明のフォーカス引き込み制御方
法によれば、光ディスク記録面の反射光に基づくフォー
カスエラー信号の値が所定の範囲内に入った場合にフォ
ーカスサーボ系がオンにされ、レーザビームのビーム・
ウェストが記録面上にくるように制御される。
法によれば、光ディスク記録面の反射光に基づくフォー
カスエラー信号の値が所定の範囲内に入った場合にフォ
ーカスサーボ系がオンにされ、レーザビームのビーム・
ウェストが記録面上にくるように制御される。
【0023】本発明のフォーカス引き込み制御装置で
は、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動力で
駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接近さ
れ、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面が入
る。このとき、ディスク表面に基づくフォーカスエラー
信号が形成され、比較手段により、この光ディスク表面
の反射光に基づくフォーカスエラー信号の値とあらかじ
め設定したしきい値との比較が行われる。この比較の結
果、しきい値内にフォーカスエラー信号の値が入った場
合には、フォーカスアクチュエータの駆動力をフォーカ
スエラー信号の値がしきい値外にあるときの駆動力より
小さな駆動力に設定される。これにより、フォーカスア
クチュエータは、小さな駆動力で駆動されて、対物レン
ズによる焦点深度内に光ディスク記録面が入るように、
対物レンズが光ディスク面に徐々に接近される。
は、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動力で
駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接近さ
れ、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面が入
る。このとき、ディスク表面に基づくフォーカスエラー
信号が形成され、比較手段により、この光ディスク表面
の反射光に基づくフォーカスエラー信号の値とあらかじ
め設定したしきい値との比較が行われる。この比較の結
果、しきい値内にフォーカスエラー信号の値が入った場
合には、フォーカスアクチュエータの駆動力をフォーカ
スエラー信号の値がしきい値外にあるときの駆動力より
小さな駆動力に設定される。これにより、フォーカスア
クチュエータは、小さな駆動力で駆動されて、対物レン
ズによる焦点深度内に光ディスク記録面が入るように、
対物レンズが光ディスク面に徐々に接近される。
【0024】また、本発明のフォーカス引き込み制御装
置では、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動
力で駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接
近され、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面
が入る。このとき、ディスク表面に基づくフォーカスエ
ラー信号が形成され、第1の比較手段により、この光デ
ィスク表面の反射光に基づくフォーカスエラー信号の値
とあらかじめ設定した第1のしきい値との比較が行われ
る。この比較の結果、第1のしきい値内にフォーカスエ
ラー信号の値が入った場合には、フォーカスアクチュエ
ータの駆動力をフォーカスエラー信号の値が第1のしき
い値外にあるときの駆動力より小さな駆動力に設定され
る。これにより、フォーカスアクチュエータは、小さな
駆動力で駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々
に接近され、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク
記録面が入る。このとき、ディスク記録面に基づくフォ
ーカスエラー信号が形成され、第2の比較手段により、
この光ディスク記録面の反射光に基づくフォーカスエラ
ー信号の値とあらかじめ設定した第2のしきい値との比
較が行われる。この比較の結果、フォーカスエラー信号
の値が第2のしきい値内に入った場合にはフォーカスサ
ーボ系がオンにされ、レーザビームのビーム・ウェスト
が記録面上にくるように制御される。
置では、まずフォーカスアクチュエータは、大きな駆動
力で駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々に接
近され、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク表面
が入る。このとき、ディスク表面に基づくフォーカスエ
ラー信号が形成され、第1の比較手段により、この光デ
ィスク表面の反射光に基づくフォーカスエラー信号の値
とあらかじめ設定した第1のしきい値との比較が行われ
る。この比較の結果、第1のしきい値内にフォーカスエ
ラー信号の値が入った場合には、フォーカスアクチュエ
ータの駆動力をフォーカスエラー信号の値が第1のしき
い値外にあるときの駆動力より小さな駆動力に設定され
る。これにより、フォーカスアクチュエータは、小さな
駆動力で駆動されて、対物レンズが光ディスク面に徐々
に接近され、対物レンズによる焦点深度内に光ディスク
記録面が入る。このとき、ディスク記録面に基づくフォ
ーカスエラー信号が形成され、第2の比較手段により、
この光ディスク記録面の反射光に基づくフォーカスエラ
ー信号の値とあらかじめ設定した第2のしきい値との比
較が行われる。この比較の結果、フォーカスエラー信号
の値が第2のしきい値内に入った場合にはフォーカスサ
ーボ系がオンにされ、レーザビームのビーム・ウェスト
が記録面上にくるように制御される。
【0025】
【実施例】図1は、本発明に係る光ディスク記録装置の
一実施例を示すブロック図であって、従来例を示す図6
と同一構成部分は同一符号をもって表す。すなわち、1
は光ディスク、2は信号入力部、3はレーザダイオード
(LD)駆動回路、4は光ピックアップ、5はフォーカ
スエラー信号生成用差分アンプ、7はフォーカスサーボ
系オン・オフ用スイッチ回路、8は加算器、9aは第1
の比較器、9bは第2の比較器、10aは制御回路、1
1は電力増幅器をそれぞれ示している。なお、制御回路
10aおよび電力増幅器11には、本発明に係る制御部
および制御信号供給部の機能を含んでいる。
一実施例を示すブロック図であって、従来例を示す図6
と同一構成部分は同一符号をもって表す。すなわち、1
は光ディスク、2は信号入力部、3はレーザダイオード
(LD)駆動回路、4は光ピックアップ、5はフォーカ
スエラー信号生成用差分アンプ、7はフォーカスサーボ
系オン・オフ用スイッチ回路、8は加算器、9aは第1
の比較器、9bは第2の比較器、10aは制御回路、1
1は電力増幅器をそれぞれ示している。なお、制御回路
10aおよび電力増幅器11には、本発明に係る制御部
および制御信号供給部の機能を含んでいる。
【0026】光ピックアップ4は、LD駆動回路3の駆
動制御の下にレーザ光を出射するLD41と、LD41
の出射光を平行光に変換するコリメートレンズ42と、
コリメートレンズ42の出射光を透過し光ディスク1の
反射光はコリメートレンズ42の出射光の入射方向と直
交する方向に反射するビームスプリッタ43と、ビーム
スプリッタ43の透過光を集光して光ディスク1上に照
射する対物レンズ44と、対物レンズ45を駆動するた
めのフォーカスアクチュエータ45と、ビームスプリッ
タ43の反射光を集光する集光レンズ46と、集光レン
ズ46の収束光路幅に配置されたナイフエッジ47と、
集光レンズ46で集光された光を検出し、その検出レベ
ルに応じたレベルの2つの電気信号を出力する2分割の
フォトダイオードからなる2分割−光検出器48とから
構成されている。
動制御の下にレーザ光を出射するLD41と、LD41
の出射光を平行光に変換するコリメートレンズ42と、
コリメートレンズ42の出射光を透過し光ディスク1の
反射光はコリメートレンズ42の出射光の入射方向と直
交する方向に反射するビームスプリッタ43と、ビーム
スプリッタ43の透過光を集光して光ディスク1上に照
射する対物レンズ44と、対物レンズ45を駆動するた
めのフォーカスアクチュエータ45と、ビームスプリッ
タ43の反射光を集光する集光レンズ46と、集光レン
ズ46の収束光路幅に配置されたナイフエッジ47と、
集光レンズ46で集光された光を検出し、その検出レベ
ルに応じたレベルの2つの電気信号を出力する2分割の
フォトダイオードからなる2分割−光検出器48とから
構成されている。
【0027】第1の比較器9aは、図2中(X)に示す
ように、光ディスク表面1S からの反射光によって形成
されるフォーカスエラー信号Fεのレベルとあらかじめ
設定した第1のしきい値VTHとを比較し、比較結果を信
号CMP1として制御回路10aに出力する。
ように、光ディスク表面1S からの反射光によって形成
されるフォーカスエラー信号Fεのレベルとあらかじめ
設定した第1のしきい値VTHとを比較し、比較結果を信
号CMP1として制御回路10aに出力する。
【0028】第2の比較器9bは、図2中(Y)に示す
ように、光ディスク記録面1W からの反射光によって形
成されるフォーカスエラー信号Fεのレベルとあらかじ
め設定した第2のしきい値Vthとを比較し、比較結果を
信号CMP2として制御回路10aに出力する。この第
2の比較器9bは、従来の装置を示す図6の比較器9と
同様の機能を有し、第2のしきい値Vthは引き込み領域
判定用しきい値に相当する。
ように、光ディスク記録面1W からの反射光によって形
成されるフォーカスエラー信号Fεのレベルとあらかじ
め設定した第2のしきい値Vthとを比較し、比較結果を
信号CMP2として制御回路10aに出力する。この第
2の比較器9bは、従来の装置を示す図6の比較器9と
同様の機能を有し、第2のしきい値Vthは引き込み領域
判定用しきい値に相当する。
【0029】制御回路10aは、第1および第2の比較
器9a,9bの比較結果に応じて駆動制御信号DRによ
りフォーカスアクチュエータ45の駆動電流Iを制御す
るとともに、スイッチ回路7のオン・オフ制御を行う。
図3は、制御回路10aの制御動作を説明するためのフ
ローチャートである。図3に示すように、制御回路10
aは、いわゆるフォーカスサーチが開始されると、ま
ず、駆動制御回路DRによりフォーカスアクチュエータ
45の駆動電流IをI1 に設定する(S1)。次に、第
1の比較器9aの出力信号CMP1を監視し、フォーカ
スエラー信号Fεのレベルが第1のしきい値VTHより大
きくなったか否かの判別を行い(S2)、大きくなった
と判別した場合には、フォーカスアクチュエータ45の
駆動電流IをI1 からI2 (<I1 )に設定し、駆動電
流Iを小さくして、図4の(b)に示すように、フォーカ
スサーチ速度を減速させる。次に、制御回路10aは、
第2の比較器9bの出力信号CMP2を監視し、フォー
カスエラー信号Fεのレベルが第2のしきい値Vthより
一度大きくなり、今度はしきい値Vthの方がフォーカス
エラー信号Fεのレベルよりも大きくなると、対物レン
ズ44が引き込み位置Cに到達したものと判断して、信
号SWを出力してスイッチ回路7をオンさせる(S4,
S5,S6)。これにより、フォーカスサーボ系をオン
とする。
器9a,9bの比較結果に応じて駆動制御信号DRによ
りフォーカスアクチュエータ45の駆動電流Iを制御す
るとともに、スイッチ回路7のオン・オフ制御を行う。
図3は、制御回路10aの制御動作を説明するためのフ
ローチャートである。図3に示すように、制御回路10
aは、いわゆるフォーカスサーチが開始されると、ま
ず、駆動制御回路DRによりフォーカスアクチュエータ
45の駆動電流IをI1 に設定する(S1)。次に、第
1の比較器9aの出力信号CMP1を監視し、フォーカ
スエラー信号Fεのレベルが第1のしきい値VTHより大
きくなったか否かの判別を行い(S2)、大きくなった
と判別した場合には、フォーカスアクチュエータ45の
駆動電流IをI1 からI2 (<I1 )に設定し、駆動電
流Iを小さくして、図4の(b)に示すように、フォーカ
スサーチ速度を減速させる。次に、制御回路10aは、
第2の比較器9bの出力信号CMP2を監視し、フォー
カスエラー信号Fεのレベルが第2のしきい値Vthより
一度大きくなり、今度はしきい値Vthの方がフォーカス
エラー信号Fεのレベルよりも大きくなると、対物レン
ズ44が引き込み位置Cに到達したものと判断して、信
号SWを出力してスイッチ回路7をオンさせる(S4,
S5,S6)。これにより、フォーカスサーボ系をオン
とする。
【0030】また、図4は、図3に示す制御動作におけ
る図2に対応したフォーカスアクチュエータ駆動電流I
の遷移状態と、移動速度vの遷移状態を示している。
る図2に対応したフォーカスアクチュエータ駆動電流I
の遷移状態と、移動速度vの遷移状態を示している。
【0031】次に、上記構成による動作を説明する。ま
ず、フォーカスサーチを開始させるに際し、信号入力部
2に入力されたレーザ駆動回路制御信号CTLにより、
レーザ駆動回路3は光ピックアップ4のLD41を駆動
させる。これにより、LD41からレーザ光が出射さ
れ、このLD41から出射されたレーザ光は、コリメー
トレンズ42により平行光束に変換された後、ビームス
プリッタ43を透過し、対物レンズ44に入射される。
対物レンズ44に入射した光は、集光され光ディスク1
に対しビームスポットとして照射される。
ず、フォーカスサーチを開始させるに際し、信号入力部
2に入力されたレーザ駆動回路制御信号CTLにより、
レーザ駆動回路3は光ピックアップ4のLD41を駆動
させる。これにより、LD41からレーザ光が出射さ
れ、このLD41から出射されたレーザ光は、コリメー
トレンズ42により平行光束に変換された後、ビームス
プリッタ43を透過し、対物レンズ44に入射される。
対物レンズ44に入射した光は、集光され光ディスク1
に対しビームスポットとして照射される。
【0032】このとき、スイッチ回路7はオフ状態にあ
り、このためフォーカスサーボ系はオフ状態にある。こ
のような状態で、制御回路10aからフォーカスアクチ
ュエータ45の駆動電流IをI1 に設定するように駆動
制御信号DRが出力される。これにより、電力増幅器1
1からフォーカスアクチュエータ45に対して駆動電流
I1 が供給される。これに伴い、対物レンズ44は、駆
動電流I1 に応じた速度をもってフォーカスアクチュエ
ータ45により光ディスク1面に対して近づく方向に移
動される。このとき、ビームスポットは、まず光ディス
ク1の表面1S、次いで記録面1W に照射される。
り、このためフォーカスサーボ系はオフ状態にある。こ
のような状態で、制御回路10aからフォーカスアクチ
ュエータ45の駆動電流IをI1 に設定するように駆動
制御信号DRが出力される。これにより、電力増幅器1
1からフォーカスアクチュエータ45に対して駆動電流
I1 が供給される。これに伴い、対物レンズ44は、駆
動電流I1 に応じた速度をもってフォーカスアクチュエ
ータ45により光ディスク1面に対して近づく方向に移
動される。このとき、ビームスポットは、まず光ディス
ク1の表面1S、次いで記録面1W に照射される。
【0033】光ディスク1に照射されたスポット光は、
光ディスク1上で反射される。これら反射戻り光は、対
物レンズ44を介してビームスプリッタ43で反射さ
れ、集光レンズ46で集光される。集光された反射戻り
光は、その一部がナイフエッジ47によりけられて2分
割−光検出器48で受光される。
光ディスク1上で反射される。これら反射戻り光は、対
物レンズ44を介してビームスプリッタ43で反射さ
れ、集光レンズ46で集光される。集光された反射戻り
光は、その一部がナイフエッジ47によりけられて2分
割−光検出器48で受光される。
【0034】2分割−光検出器48で受光された反射戻
り光は、その光量に応じたレベルの電気信号に変換さ
れ、光検出器48を構成する各フォトダイオードから光
出力信号として差分アンプ5の非反転入力(+)および
反転入力(−)にそれぞれ出力される。
り光は、その光量に応じたレベルの電気信号に変換さ
れ、光検出器48を構成する各フォトダイオードから光
出力信号として差分アンプ5の非反転入力(+)および
反転入力(−)にそれぞれ出力される。
【0035】差分アンプ5では、入力信号の差分が求め
られて、フォーカスエラー信号Fεが生成され、位相補
償回路6および第1および第2の比較器9a,9bの非
反転入力(+)に出力される。位相補償回路6では、フ
ォーカスエラー信号Fεの位相が補償されスイッチ回路
7に出力される。このときのスイッチ回路7は上記した
ようにオフ状態にあり、フォーカスサーボ系はオフ状態
にある。
られて、フォーカスエラー信号Fεが生成され、位相補
償回路6および第1および第2の比較器9a,9bの非
反転入力(+)に出力される。位相補償回路6では、フ
ォーカスエラー信号Fεの位相が補償されスイッチ回路
7に出力される。このときのスイッチ回路7は上記した
ようにオフ状態にあり、フォーカスサーボ系はオフ状態
にある。
【0036】第1の比較器9aでは、ビームスポットが
光ディスク1の表面1S に照射されるようになると、ま
ず、図2の(X)で示すディスク表面1S に基づくフォ
ーカスエラー信号Fεが形成されることから、このフォ
ーカスエラー信号Fεのレベルと第1のしきい値VTHと
の比較が行われ、比較結果が信号CMP1として制御回
路10aに出力される。制御回路10aは、この比較結
果が、フォーカスエラー信号Fεのレベルが第1のしき
い値VTHより大きくなったものと判別すると、フォーカ
スアクチュエータ45の駆動電流IをI1 からI2 に落
とすように駆動制御信号DRを出力する。これにより、
電力増幅器11から駆動電流I2 がフォーカスアクチュ
エータ45に供給され、フォーカスサーチ速度が減速さ
れる。このとき、第2の比較器9bでは、図2に示すよ
うに、ディスク表面1S によるフォーカスエラー信号F
εのレベルは、記録面1W によるフォーカスエラー信号
Fεのレベルよりも小さく、また、第2のしきい値Vth
よりも小さい。したがって、スイッチ回路7はオフのま
まに保持される。
光ディスク1の表面1S に照射されるようになると、ま
ず、図2の(X)で示すディスク表面1S に基づくフォ
ーカスエラー信号Fεが形成されることから、このフォ
ーカスエラー信号Fεのレベルと第1のしきい値VTHと
の比較が行われ、比較結果が信号CMP1として制御回
路10aに出力される。制御回路10aは、この比較結
果が、フォーカスエラー信号Fεのレベルが第1のしき
い値VTHより大きくなったものと判別すると、フォーカ
スアクチュエータ45の駆動電流IをI1 からI2 に落
とすように駆動制御信号DRを出力する。これにより、
電力増幅器11から駆動電流I2 がフォーカスアクチュ
エータ45に供給され、フォーカスサーチ速度が減速さ
れる。このとき、第2の比較器9bでは、図2に示すよ
うに、ディスク表面1S によるフォーカスエラー信号F
εのレベルは、記録面1W によるフォーカスエラー信号
Fεのレベルよりも小さく、また、第2のしきい値Vth
よりも小さい。したがって、スイッチ回路7はオフのま
まに保持される。
【0037】ここで、対物レンズ44が光ディスク1面
にさらに近づくと、ビームスポットが光ディスク1の記
録面1W に照射されるようになる。これにより、図2の
(Y)で示すディスク記録面1W に基づくフォーカスエ
ラー信号Fεが形成され、このフォーカスエラー信号F
εのレベルと第2のしきい値VTHとの比較が第2の比較
器9bにより行われ、比較結果が信号CMP2として制
御回路10aに出力される。このときのフォーカスエラ
ー信号Fεのレベルは、一旦第2のしきい値Vthより大
きくなり、対物レンズ44がさらに近づくと今度は第2
のしきい値Vthの方がフォーカスエラー信号Fεのレベ
ルよりも大きくなる。このような第2の比較器9bの比
較結果が比較信号CMP2として制御回路10aに入力
されると、制御回路10aは、引き込み位置Cにきたも
のと判断して信号SWを出力してスイッチ回路7をオン
させる。これにより、フォーカスサーボ系がオンとな
る。これに伴い、位相補償回路6により位相が補償され
たフォーカスエラー信号Fεが加算器8に入力し、この
信号に基づいて電力増幅器11から駆動電流IF がフォ
ーカスアクチュエータ45に供給されて、光ディスク1
の記録面1W が合焦位置にくるような適切な位置に対物
レンズ44が移動され、すなわちサーボ制御されてフォ
ーカス引き込み動作が終了する。
にさらに近づくと、ビームスポットが光ディスク1の記
録面1W に照射されるようになる。これにより、図2の
(Y)で示すディスク記録面1W に基づくフォーカスエ
ラー信号Fεが形成され、このフォーカスエラー信号F
εのレベルと第2のしきい値VTHとの比較が第2の比較
器9bにより行われ、比較結果が信号CMP2として制
御回路10aに出力される。このときのフォーカスエラ
ー信号Fεのレベルは、一旦第2のしきい値Vthより大
きくなり、対物レンズ44がさらに近づくと今度は第2
のしきい値Vthの方がフォーカスエラー信号Fεのレベ
ルよりも大きくなる。このような第2の比較器9bの比
較結果が比較信号CMP2として制御回路10aに入力
されると、制御回路10aは、引き込み位置Cにきたも
のと判断して信号SWを出力してスイッチ回路7をオン
させる。これにより、フォーカスサーボ系がオンとな
る。これに伴い、位相補償回路6により位相が補償され
たフォーカスエラー信号Fεが加算器8に入力し、この
信号に基づいて電力増幅器11から駆動電流IF がフォ
ーカスアクチュエータ45に供給されて、光ディスク1
の記録面1W が合焦位置にくるような適切な位置に対物
レンズ44が移動され、すなわちサーボ制御されてフォ
ーカス引き込み動作が終了する。
【0038】以上説明したように、本実施例によれば、
フォーカスサーチの際に、レーザ光の合焦点が光ディス
ク1の表面1S に達するまでのフォーカスアクチュエー
タ45の駆動電流を大きな値I1 に設定して速度を大き
くし、光ディスク1の表面1S に達すると、フォーカス
アクチュエータ45の駆動電流を大きな値I1 からI2
に設定して減速させ、光ディスク1の記録面1W で合焦
してフォーカス引き込み動作を終了するまで、サーチ速
度を小さくするように構成したので、オーバーシュート
などが発生するおそれがなく、短時間で安定したフォー
カス引き込み動作を行うことができる。
フォーカスサーチの際に、レーザ光の合焦点が光ディス
ク1の表面1S に達するまでのフォーカスアクチュエー
タ45の駆動電流を大きな値I1 に設定して速度を大き
くし、光ディスク1の表面1S に達すると、フォーカス
アクチュエータ45の駆動電流を大きな値I1 からI2
に設定して減速させ、光ディスク1の記録面1W で合焦
してフォーカス引き込み動作を終了するまで、サーチ速
度を小さくするように構成したので、オーバーシュート
などが発生するおそれがなく、短時間で安定したフォー
カス引き込み動作を行うことができる。
【0039】なお、本実施例においては、ナイフエッジ
法を採用した装置を例に説明したが、本発明が非点収差
法など採用した装置にも適用できることはいうまでもな
く、この場合も上述した効果と同様の効果を得ることが
できる。
法を採用した装置を例に説明したが、本発明が非点収差
法など採用した装置にも適用できることはいうまでもな
く、この場合も上述した効果と同様の効果を得ることが
できる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
オーバーシュートなどが発生するおそれがなく、短時間
で安定したフォーカス引き込み動作を行うことができ
る。
オーバーシュートなどが発生するおそれがなく、短時間
で安定したフォーカス引き込み動作を行うことができ
る。
【図1】本発明に係る光ディスクのフォーカス引き込み
制御装置の一実施例を示す構成図である。
制御装置の一実施例を示す構成図である。
【図2】本発明装置に係るフォーカス引き込み時のフォ
ーカスエラー信号のS字曲線を示す図である。
ーカスエラー信号のS字曲線を示す図である。
【図3】本発明に係る制御回路の制御動作を説明するた
めのフローチャートである。
めのフローチャートである。
【図4】図2に対応したフォーカスアクチュエータ駆動
電流の遷移状態と、移動速度の遷移状態を示す図であ
る。
電流の遷移状態と、移動速度の遷移状態を示す図であ
る。
【図5】従来装置に係るフォーカス引き込み時のフォー
カスエラー信号のS字曲線を示す図である。
カスエラー信号のS字曲線を示す図である。
【図6】従来の光ディスクのフォーカス引き込み制御装
置の構成例を示す図である。
置の構成例を示す図である。
1…光ディスク 1S …ディスク表面 1W …ディスク記録面 2…信号入力部 3…レーザダイオード(LD)駆動回路 4…光ピックアップ 41…レーザダイオード(LD) 42…コリメートレンズ 43…ビームスプリッタ 44…対物レンズ 45…フォーカスアクチュエータ 46…集光レンズ 47…ナイフエッジ 48…2分割−光検出器 5…フォーカスエラー信号生成用差分アンプ 6…位相補償回路 7…フォーカスサーボ系オン・オフ用スイッチ回路 8…加算器 9a…第1の比較器 9b…第2の比較器 10a…制御回路 11…電力増幅器 Fε…フォーカスエラー信号 VTH…第 1のしきい値 Vth…第2のしきい値
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−129525(JP,A) 特開 昭62−57127(JP,A) 特開 平2−76128(JP,A) 特開 平4−13222(JP,A) 特開 平3−12032(JP,A) 特開 平3−37828(JP,A) 実開 平2−12718(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/085
Claims (2)
- 【請求項1】 光ディスクからの反射光を検出した検出
信号を用いて生成されたフォーカスエラー信号に基づい
て対物レンズを駆動するフォーカスサーボの引き込み制
御方法において、 上記光ディスクからの反射光に基づくフォーカスエラー
信号の瞬時値が所定の範囲外にあるときは上記フォーカ
スアクチュエータを駆動して上記対物レンズを第1の速
度で上記光ディスクに近づく方向に移動させ、 上記光ディスクの表面にビームスポットが照射されるこ
とによって上記フォーカスエラー信号の瞬時値が第1の
閾値よりも大きくなったときに上記フォーカスアクチュ
エータを駆動して上記対物レンズを上記第1の速度より
も減速させた第2の速度で上記光ディスクに近づく方向
に更に移動させ、 上記対物レンズが上記第2の速度で上記光ディスクに近
づく方向に更に移動している間に、上記光ディスクの記
録面にビームスポットが照射されることによって上記フ
ォーカスエラー信号の瞬時値が上記第1の閾値より大き
い第2の閾値よりも大きくなった後、上記第2の閾値が
上記フォーカスエラー信号の瞬時値より大きくなったと
きに上記フォーカスサーボを閉じるようにしたことを特
徴とするフォーカスサーボの引き込み制御方法。 - 【請求項2】 光ディスクからの反射光を検出した検出
信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するエラー
信号生成部と、 上記光ディスクにレーザ光を結像させる対物レンズを上
記光ディスクに近づく方向または上記光ディスクから遠
ざかる方向に駆動するフォーカスアクチュエータと、 上記エラー信号生成部からのフォーカスエラー信号に基
づいて上記フォーカスアクチュエータに駆動制御信号を
供給する制御信号供給部と、 上記エラー信号生成部から供給されるフォーカスエラー
信号を上記光ディスクの表面による上記フォーカスエラ
ー信号の最大値より小さい第1の閾値と比較する第1の
比較部と、 上記エラー信号生成部から供給されるフォーカスエラー
信号を、上記光ディスクの表面による上記フォーカスエ
ラー信号の最大値より大きく、上記光ディスクの記録面
による上記フォーカスエラー信号の最大値より小さい第
2の閾値と比較する第2の比較部と、 上記光ディスクからの反射光に基づくフォーカスエラー
信号の値が所定の範囲外にあるときは上記フォーカスア
クチュエータを駆動して上記対物レンズを第1の速度で
上記光ディスクに近づく方向に移動させ、上記第1の比
較部からの比較結果に基づいて上記フォーカスエラー信
号が第1の閾値よりも大きくなったときに上記フォーカ
スアクチュエータを駆動して上記対物レンズを上記第1
の速度よりも減速させた第2の速度で上記光ディスクに
近づく方向に更に移動させ、上記対物レンズが上記第2
の速度で移動している間に、上記第2の比較部からの比
較結果に基づいて上記フォーカスエラー信号が上記第2
の閾値よりも大きくなった後、上記第2の閾値が上記フ
ォーカスエラー信号よりも大きくなったときに上記制御
信号供給部からの駆動制御信号を上記フォーカスアクチ
ュエータに供給する制御部とを有するフォーカスサーボ
の引き込み制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12993292A JP3259325B2 (ja) | 1992-04-24 | 1992-04-24 | 光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12993292A JP3259325B2 (ja) | 1992-04-24 | 1992-04-24 | 光ディスクのフォーカス引き込み制御方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05303752A JPH05303752A (ja) | 1993-11-16 |
JP3259325B2 true JP3259325B2 (ja) | 2002-02-25 |
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ID=15021991
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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---|---|---|---|---|
WO2006109414A1 (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-19 | Pioneer Corporation | 光学式記録再生装置およびフォーカスサーチ方法 |
-
1992
- 1992-04-24 JP JP12993292A patent/JP3259325B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH05303752A (ja) | 1993-11-16 |
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