JPH0458657B2 - - Google Patents
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- JPH0458657B2 JPH0458657B2 JP4743084A JP4743084A JPH0458657B2 JP H0458657 B2 JPH0458657 B2 JP H0458657B2 JP 4743084 A JP4743084 A JP 4743084A JP 4743084 A JP4743084 A JP 4743084A JP H0458657 B2 JPH0458657 B2 JP H0458657B2
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- disk
- focus
- guide groove
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/085—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光情報処理に関連した光学式情報装
置に関するものである。
置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、光学式情報装置は、大容量記録媒体とし
て注目されている。以下に従来の光学式情報装置
について説明する。
て注目されている。以下に従来の光学式情報装置
について説明する。
第1図は、従来の光学式情報装置の一例を示す
ものであり、1はレーザ光源で半導体レーザより
なり一定光量のレーザ光を発光する。2はコリメ
ータレンズでレーザ光源1からのレーザ光を平行
光にする。3は偏光ビームスプリツタ、4はλ/
4波長板である。5は対物レンズ、6は対物レン
ズ5をフオーカス及びトラツキング方向に動作さ
せる光学ピツクアツプであり、ボイスコイルモー
タ等の既知の駆動手段にて構成される。7は光学
式デイスク(以下デイスクと呼ぶ)であり、情報
記録再生用の凹凸のトラツクを有している。8は
集光レンズ、9は分割ミラーである。10はフオ
ーカス制御用光検出器で2分割の光検出器より構
成され、各々の光検出器の差動出力にてフオーカ
ス誤差信号を得る。得られた誤差信号を増幅器1
1にて増幅し、補償回路12を介してアナログス
イツチ13を経てフオーカス駆動回路14に導
く。増幅器11の出力は微分回路15にも入力さ
れ、コンパレータ16にて電圧Vbと比較し、Vb
より高い信号の出力パルスを得る。一方増幅器1
1の出力は絶対値増幅器17にも入力されコンパ
レータ16の出力とともにAND回路18に入力
される。AND回路18の出力は前述したアナロ
グスイツチ13をオン、オフする。19はトラツ
キング制御用光検出器でフオーカス制御用光検出
器10と同様な構成にてトラツキング誤差信号を
得る。20はトラツキング制御回路で、19のト
ラツキング誤差信号より光学ピツクアツプ6をト
ラツキング方向に動作させる。なお、図中の光学
系部に記載した矢印はレーザ光の光路を示してい
る。
ものであり、1はレーザ光源で半導体レーザより
なり一定光量のレーザ光を発光する。2はコリメ
ータレンズでレーザ光源1からのレーザ光を平行
光にする。3は偏光ビームスプリツタ、4はλ/
4波長板である。5は対物レンズ、6は対物レン
ズ5をフオーカス及びトラツキング方向に動作さ
せる光学ピツクアツプであり、ボイスコイルモー
タ等の既知の駆動手段にて構成される。7は光学
式デイスク(以下デイスクと呼ぶ)であり、情報
記録再生用の凹凸のトラツクを有している。8は
集光レンズ、9は分割ミラーである。10はフオ
ーカス制御用光検出器で2分割の光検出器より構
成され、各々の光検出器の差動出力にてフオーカ
ス誤差信号を得る。得られた誤差信号を増幅器1
1にて増幅し、補償回路12を介してアナログス
イツチ13を経てフオーカス駆動回路14に導
く。増幅器11の出力は微分回路15にも入力さ
れ、コンパレータ16にて電圧Vbと比較し、Vb
より高い信号の出力パルスを得る。一方増幅器1
1の出力は絶対値増幅器17にも入力されコンパ
レータ16の出力とともにAND回路18に入力
される。AND回路18の出力は前述したアナロ
グスイツチ13をオン、オフする。19はトラツ
キング制御用光検出器でフオーカス制御用光検出
器10と同様な構成にてトラツキング誤差信号を
得る。20はトラツキング制御回路で、19のト
ラツキング誤差信号より光学ピツクアツプ6をト
ラツキング方向に動作させる。なお、図中の光学
系部に記載した矢印はレーザ光の光路を示してい
る。
以上のように構成された従来例の光学式情報装
置のフオーカスサーボの引き込み方式について以
下その動作を説明する。
置のフオーカスサーボの引き込み方式について以
下その動作を説明する。
レーザ光源1から出たレーザ光はコリメータレ
ンズ2を通過し平行光となり偏光ビームスプリツ
タ3、λ/4波長板4を介して、対物レンズ5に
よりデイスク7に形成された情報トラツクに集光
される。この時、デイスク7の情報トラツクは面
振れ及び偏芯をともなつて回転しているので、所
定の情報トラツクにレーザ光を集光させるため
に、フオーカス誤差信号及びトラツキング誤差信
号に基づいた駆動電圧を光学ピツクアツプ6に加
えて対物レンズ5をフオーカス及びトラツキング
方向に動作させ、レーザ光を所定トラツクに追従
させている。デイスク7からの反射光は入射光路
と逆光路をたどり、λ/4波長板を2度通過する
ことにより入射光と90°偏光された光となり偏光
ビームスプリツタ3を直進して、集光レンズ8に
入る。集光レンズ8を出た反射光は分割ミラー9
によつて分割され、一方フオーカス制御用光検出
器10及びトラツキング制御用光検出器19に集
光される。フオーカス制御用光検出器10及びト
ラツキング制御用光検出器19は2分割の光検出
器より構成され、差動出力をとることにより、誤
差信号を得て、光学ピツクアツプ6をフオーカス
方向及びトラツキング方向にフイードバツクする
ことでフオーカス制御及びトラツキング制御がな
されている。
ンズ2を通過し平行光となり偏光ビームスプリツ
タ3、λ/4波長板4を介して、対物レンズ5に
よりデイスク7に形成された情報トラツクに集光
される。この時、デイスク7の情報トラツクは面
振れ及び偏芯をともなつて回転しているので、所
定の情報トラツクにレーザ光を集光させるため
に、フオーカス誤差信号及びトラツキング誤差信
号に基づいた駆動電圧を光学ピツクアツプ6に加
えて対物レンズ5をフオーカス及びトラツキング
方向に動作させ、レーザ光を所定トラツクに追従
させている。デイスク7からの反射光は入射光路
と逆光路をたどり、λ/4波長板を2度通過する
ことにより入射光と90°偏光された光となり偏光
ビームスプリツタ3を直進して、集光レンズ8に
入る。集光レンズ8を出た反射光は分割ミラー9
によつて分割され、一方フオーカス制御用光検出
器10及びトラツキング制御用光検出器19に集
光される。フオーカス制御用光検出器10及びト
ラツキング制御用光検出器19は2分割の光検出
器より構成され、差動出力をとることにより、誤
差信号を得て、光学ピツクアツプ6をフオーカス
方向及びトラツキング方向にフイードバツクする
ことでフオーカス制御及びトラツキング制御がな
されている。
そこで、フオーカス制御用光検出器10からの
差動出力からの誤差信号は増幅器11にて増幅さ
れ、その出力aは第2図aに示すようになる。す
なわち第2図において対物レンズ5がデイスク7
より遠ざかつた方向か徐々にデイスク7に近づく
方向に移動していくと、まずデイスク7基材の裏
面7bか生ずるフオーカス誤差信号が得られ、次
にトラツク案内溝7aから生ずる誤差信号があら
われる。第2図aにおけるウからの右側の破線で
示した線はフオーカスサーボが閉じられない場合
の誤差信号の様子を表わし、実線はフオーカスサ
ーボがウの時点で閉じられ、デイスク7のトラツ
ク案内溝面7a上に前記微小スポツト光が照射さ
れた状態の時の誤差信号を表わしている。増幅器
11の出力はフオーカスサーボを安定化するため
の既知の位相補償回路12に加えられ、その出力
はアナログスイツチ13を通してフオーカス駆動
回路14に加えられる。このフオーカス駆動回路
14の出力は光学ピツクアツプ6に加えられてお
り、アナログスイツチ13が閉じられた時、この
フオーカスサーボ回路は閉じられることになる。
差動出力からの誤差信号は増幅器11にて増幅さ
れ、その出力aは第2図aに示すようになる。す
なわち第2図において対物レンズ5がデイスク7
より遠ざかつた方向か徐々にデイスク7に近づく
方向に移動していくと、まずデイスク7基材の裏
面7bか生ずるフオーカス誤差信号が得られ、次
にトラツク案内溝7aから生ずる誤差信号があら
われる。第2図aにおけるウからの右側の破線で
示した線はフオーカスサーボが閉じられない場合
の誤差信号の様子を表わし、実線はフオーカスサ
ーボがウの時点で閉じられ、デイスク7のトラツ
ク案内溝面7a上に前記微小スポツト光が照射さ
れた状態の時の誤差信号を表わしている。増幅器
11の出力はフオーカスサーボを安定化するため
の既知の位相補償回路12に加えられ、その出力
はアナログスイツチ13を通してフオーカス駆動
回路14に加えられる。このフオーカス駆動回路
14の出力は光学ピツクアツプ6に加えられてお
り、アナログスイツチ13が閉じられた時、この
フオーカスサーボ回路は閉じられることになる。
ここで、従来のデイスクに対するフオーカスサ
ーボ引き込み方式について第1図、第2図を用い
て説明する。増幅器11の出力aは微分回路15
に加えられており、その出力bは第2図bに示す
ようになる。一般にデイスク7の光反射率である
が、デイスク7基材の裏面7bとトラツク案内溝
面7aすなわち材料面では2〜3倍程度違い、対
物レンズ5がデイスク7より遠ざかつた方向から
徐々にデイスク7に近づく方向に移動していく
と、第2図aに示すように最初にデイスク7基材
の裏面7bより得られるキ付近のフオーカス誤差
信号を得、次にトラツク案内溝7aより得られる
ウ付近のフオーカス誤差信号を得る。このとき微
分回路15の出力bのピーク値はデイスク7基材
の裏面7bおよびトラツク案内溝面7aに対応し
て2ケ所得られる。微分回路15の出力bは基準
電圧Vbと比較するコンパレータ16に加えられ、
基準電圧Vbより入力信号の電圧が高い範囲のみ
第2図cに示すような信号cを出力する。即ちデ
イスクのトラツク案内溝面7aのみを検出するレ
ベルに基準電圧Vbを設定することで、信号波形
cを得る。
ーボ引き込み方式について第1図、第2図を用い
て説明する。増幅器11の出力aは微分回路15
に加えられており、その出力bは第2図bに示す
ようになる。一般にデイスク7の光反射率である
が、デイスク7基材の裏面7bとトラツク案内溝
面7aすなわち材料面では2〜3倍程度違い、対
物レンズ5がデイスク7より遠ざかつた方向から
徐々にデイスク7に近づく方向に移動していく
と、第2図aに示すように最初にデイスク7基材
の裏面7bより得られるキ付近のフオーカス誤差
信号を得、次にトラツク案内溝7aより得られる
ウ付近のフオーカス誤差信号を得る。このとき微
分回路15の出力bのピーク値はデイスク7基材
の裏面7bおよびトラツク案内溝面7aに対応し
て2ケ所得られる。微分回路15の出力bは基準
電圧Vbと比較するコンパレータ16に加えられ、
基準電圧Vbより入力信号の電圧が高い範囲のみ
第2図cに示すような信号cを出力する。即ちデ
イスクのトラツク案内溝面7aのみを検出するレ
ベルに基準電圧Vbを設定することで、信号波形
cを得る。
次に、増幅器11の出力aは絶対値増幅器17
にも加えられる。絶対値増幅器17の入出力特性
は第3図に示すような特性をしており、従つて第
2図のaに示した誤差信号を十分飽和するまで前
記絶対値増幅器17で増幅すると、第2図dに示
すように前記誤差信号が第2図のように零クロス
する点のみに零となるような信号dが得られ、イ
ンバータ(図示せず)した信号eが得られる。前
記コンパレータ16の出力cと前記絶対値増幅器
17の出力eとのANDをANDゲート18でとる
と第2図のfに示す信号、すなわちデイスクのト
ラツク案内溝7aに前記微小スポツト光が照射さ
れたウの瞬間を示す信号fが得られる。信号fの
タイミングによりラツチ信号(図示せず)を得、
アナログスイツチ13は閉じられ、フオーカスサ
ーボが閉じられ、フオーカスサーボが引き込まれ
る。
にも加えられる。絶対値増幅器17の入出力特性
は第3図に示すような特性をしており、従つて第
2図のaに示した誤差信号を十分飽和するまで前
記絶対値増幅器17で増幅すると、第2図dに示
すように前記誤差信号が第2図のように零クロス
する点のみに零となるような信号dが得られ、イ
ンバータ(図示せず)した信号eが得られる。前
記コンパレータ16の出力cと前記絶対値増幅器
17の出力eとのANDをANDゲート18でとる
と第2図のfに示す信号、すなわちデイスクのト
ラツク案内溝7aに前記微小スポツト光が照射さ
れたウの瞬間を示す信号fが得られる。信号fの
タイミングによりラツチ信号(図示せず)を得、
アナログスイツチ13は閉じられ、フオーカスサ
ーボが閉じられ、フオーカスサーボが引き込まれ
る。
しかしながら上記のようなフオーカスサーボ引
き込み方式において、デイスクの裏面7bとトラ
ツク案内溝7aのフオーカス誤差信号を識別する
ために、反射率の違いに応じたトラツク案内溝7
aのみを検出するコンパレータ16の基準電圧
Vbを設定して、第2図cのフオーカスサーボ引
き込み信号を検出していることは、デイスク基材
の裏面7bとトラツク案内溝7aの反射率の差が
大きく、また、トラツク案内溝7aの反射率がコ
ンパレータ16の基準電圧Vbより常に大きな電
圧となるデイスク7のみにしか使用できないとい
う問題点を有していた。さらに、トラツク案内溝
7aの反射率が基準電圧Vbの電圧より低い場合
あるいは、基準電圧Vbを低く設定している場合、
フオーカスサーボ引き込み信号fが検出されない
ために、デイスク7と対物レンズ5が衝突し、破
損する可能性を有していた。
き込み方式において、デイスクの裏面7bとトラ
ツク案内溝7aのフオーカス誤差信号を識別する
ために、反射率の違いに応じたトラツク案内溝7
aのみを検出するコンパレータ16の基準電圧
Vbを設定して、第2図cのフオーカスサーボ引
き込み信号を検出していることは、デイスク基材
の裏面7bとトラツク案内溝7aの反射率の差が
大きく、また、トラツク案内溝7aの反射率がコ
ンパレータ16の基準電圧Vbより常に大きな電
圧となるデイスク7のみにしか使用できないとい
う問題点を有していた。さらに、トラツク案内溝
7aの反射率が基準電圧Vbの電圧より低い場合
あるいは、基準電圧Vbを低く設定している場合、
フオーカスサーボ引き込み信号fが検出されない
ために、デイスク7と対物レンズ5が衝突し、破
損する可能性を有していた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、
デイスクに対する光学系のフオーカスサーボの引
きこみ方式を提案し、これにより、デイスク基材
とデイスクのトラツク案内溝の反射率の差に関係
なく、また、トラツク案内溝を検出するコンパレ
ータ等の基準電圧を調整することなく、デイスク
のトラツク案内溝にフオーカス制御を可能にした
光学式情報装置を提供することを目的とする。
デイスクに対する光学系のフオーカスサーボの引
きこみ方式を提案し、これにより、デイスク基材
とデイスクのトラツク案内溝の反射率の差に関係
なく、また、トラツク案内溝を検出するコンパレ
ータ等の基準電圧を調整することなく、デイスク
のトラツク案内溝にフオーカス制御を可能にした
光学式情報装置を提供することを目的とする。
発明の構成
本発明はフオーカスサーボ引き込み時に対物レ
ンズをデイスクの面ブレ以上に離れた位置からト
ラツク案内溝に近付けるように移動させる光学ピ
ツクアツプ駆動手段と、フオーカス制御用検出器
から得たフオーカス誤差信号の零クロス点を検出
する第1の検出手段と、トラツキング制御用検出
器から得られたトラツキング誤差信号の零クロス
点の間隔が所定の周期以上になることを検出する
第2の検出手段と、第1および第2の検出手段の
出力の論理積をとる第3の検出手段と、光学ピツ
クアツプ駆動手段の移動中にこの第3の検出手段
の出力により移動を停止し、フオーカスサーボ引
き込み動作を停止することにより、デイスクと対
物レンズの衝突及びデイスクの基材裏面にフオー
カスサーボが引き込むことを防止できるフオーカ
スサーボ引き込み方式を提供し、デイスク基材と
デイスクのトラツク案内溝の反射率の差に関係な
く、トラツク案内溝を検出する基準電圧の調整を
必要なしにトラツク案内溝にフオーカス制御を可
能とするものである。
ンズをデイスクの面ブレ以上に離れた位置からト
ラツク案内溝に近付けるように移動させる光学ピ
ツクアツプ駆動手段と、フオーカス制御用検出器
から得たフオーカス誤差信号の零クロス点を検出
する第1の検出手段と、トラツキング制御用検出
器から得られたトラツキング誤差信号の零クロス
点の間隔が所定の周期以上になることを検出する
第2の検出手段と、第1および第2の検出手段の
出力の論理積をとる第3の検出手段と、光学ピツ
クアツプ駆動手段の移動中にこの第3の検出手段
の出力により移動を停止し、フオーカスサーボ引
き込み動作を停止することにより、デイスクと対
物レンズの衝突及びデイスクの基材裏面にフオー
カスサーボが引き込むことを防止できるフオーカ
スサーボ引き込み方式を提供し、デイスク基材と
デイスクのトラツク案内溝の反射率の差に関係な
く、トラツク案内溝を検出する基準電圧の調整を
必要なしにトラツク案内溝にフオーカス制御を可
能とするものである。
実施例の説明
第4図は本発明の一実施例における光学式情報
装置のブロツク図を示すものである。第4図にお
ける第1図の従来例と同一機能の構成要因のもの
は同一番号として詳細な説明は除く。
装置のブロツク図を示すものである。第4図にお
ける第1図の従来例と同一機能の構成要因のもの
は同一番号として詳細な説明は除く。
第4図において、デイスク7から検出された信
号は、集光レンズ8を通り、分割ミラー9で、2
分割の光検出器より構成されたフオーカス制御光
検出器10とトラツキング制御用光検出器19に
分割される。フオーカス制御用光検出器10の
各々の差動出力にてフオーカス誤差信号が得ら
れ、増幅器11にて増幅し、補償回路12を介し
てアナログスイツチ13を経てフオーカス駆動回
路14を経て光学ピツクアツプ6に導き、フオー
カス方向に動作させる。増幅器11のフオーカス
誤差信号出力は、絶対値増幅器17にも入力され
る。一方、トラツキング制御光検出器19の各々
の差動出力にてトラツキング誤差信号が得られ、
トラツキング誤差信号を増幅し、補償回路等含ん
だトラツキング制御回路20を経て、光学ピツク
アツプ6に導きトラツキング方向に動作させる。
トラツキング制御回路20で増幅されたトラツキ
ング誤差信号は、高周波のノイズ成分を取り除
く、ローパスフイルター回路21(以下、L.P.F
と記す)に入力され、その出力は、溝トラツクの
横断を検出するための溝横断増幅器22を経て、
ワンシヨツト回路23(以下モノマルチと記す)
に入力され、その出力は、絶対値増幅器17の出
力とともにAND回路18に入力される。AND回
路18の出力は前述したアナログスイツチ13を
オン、オフする。
号は、集光レンズ8を通り、分割ミラー9で、2
分割の光検出器より構成されたフオーカス制御光
検出器10とトラツキング制御用光検出器19に
分割される。フオーカス制御用光検出器10の
各々の差動出力にてフオーカス誤差信号が得ら
れ、増幅器11にて増幅し、補償回路12を介し
てアナログスイツチ13を経てフオーカス駆動回
路14を経て光学ピツクアツプ6に導き、フオー
カス方向に動作させる。増幅器11のフオーカス
誤差信号出力は、絶対値増幅器17にも入力され
る。一方、トラツキング制御光検出器19の各々
の差動出力にてトラツキング誤差信号が得られ、
トラツキング誤差信号を増幅し、補償回路等含ん
だトラツキング制御回路20を経て、光学ピツク
アツプ6に導きトラツキング方向に動作させる。
トラツキング制御回路20で増幅されたトラツキ
ング誤差信号は、高周波のノイズ成分を取り除
く、ローパスフイルター回路21(以下、L.P.F
と記す)に入力され、その出力は、溝トラツクの
横断を検出するための溝横断増幅器22を経て、
ワンシヨツト回路23(以下モノマルチと記す)
に入力され、その出力は、絶対値増幅器17の出
力とともにAND回路18に入力される。AND回
路18の出力は前述したアナログスイツチ13を
オン、オフする。
以上のように構成されたこの実施例の光学式情
報装置のフオーカスサーボの引き込み方式につい
て以下その動作を説明する。
報装置のフオーカスサーボの引き込み方式につい
て以下その動作を説明する。
第4図において、レーザ光源1から出たレーザ
光はコリメータレンズ2、偏光ビームスプリツタ
3、λ/4波長板4、対物レンズ5によりデイス
ク7に形成された情報トラツクに集光される。デ
イスク7からの反射光は、偏光ビームスプリツタ
3を直進して、集光レンズ8に入り、分割ミラー
9によつて、フオーカス制御用光検出器10及び
トラツキング制御用光検出器19に集光される。
光検出器の差動出力をとることにより、誤差信号
を得て、光学ピツクアツプ6をフオーカス及びト
ラツキング方向にフイードバツクすることでフオ
ーカス制御及びトラツキング制御がなされてい
る。
光はコリメータレンズ2、偏光ビームスプリツタ
3、λ/4波長板4、対物レンズ5によりデイス
ク7に形成された情報トラツクに集光される。デ
イスク7からの反射光は、偏光ビームスプリツタ
3を直進して、集光レンズ8に入り、分割ミラー
9によつて、フオーカス制御用光検出器10及び
トラツキング制御用光検出器19に集光される。
光検出器の差動出力をとることにより、誤差信号
を得て、光学ピツクアツプ6をフオーカス及びト
ラツキング方向にフイードバツクすることでフオ
ーカス制御及びトラツキング制御がなされてい
る。
そこで、フオーカスサーボがかけれた状態にお
けるトラツキング誤差信号は、トラツキング制御
用光検出器19の差動出力にて検出でき、トラツ
キング制御回路20にて増幅されL.P.F21に入
力される。その信号gは、第5図gのようにな
る。ここでトラツキング誤差信号は第5図a,
b,c,dに示すように光スポツトがトラツク案
内溝7aを横断する時うける回折光の動きで、反
射光の集光していない位置(フアーフイールド位
置)に置かれたトラツキング制御用光検出器19
より検出する。光スポツトがトラツク案内溝7a
を横切つた時に生じるフアーフイールド像の動き
であり、第5図に示すg信号となる。すなわち、
トラツク案内溝7aを横切ると光強度の強い部分
が、トラツク案内溝7aと垂直方向に移動するた
め2分割されたトラツキング制御用光検出器19
の差動出力からトラツキング誤差信号を得ること
ができる。すなわち、第4図において、対物レン
ズ5がデイスク7より遠ざかつた方向から徐々に
デイスク7に近づく方向に移動していくと、トラ
ツキング誤差信号は、第6図gに示すように、デ
イスク7のトラツク案内溝付近よりトラツク溝横
断信号を発生することになり、この信号gからフ
オーカスサーボ回路を閉じることが可能である。
けるトラツキング誤差信号は、トラツキング制御
用光検出器19の差動出力にて検出でき、トラツ
キング制御回路20にて増幅されL.P.F21に入
力される。その信号gは、第5図gのようにな
る。ここでトラツキング誤差信号は第5図a,
b,c,dに示すように光スポツトがトラツク案
内溝7aを横断する時うける回折光の動きで、反
射光の集光していない位置(フアーフイールド位
置)に置かれたトラツキング制御用光検出器19
より検出する。光スポツトがトラツク案内溝7a
を横切つた時に生じるフアーフイールド像の動き
であり、第5図に示すg信号となる。すなわち、
トラツク案内溝7aを横切ると光強度の強い部分
が、トラツク案内溝7aと垂直方向に移動するた
め2分割されたトラツキング制御用光検出器19
の差動出力からトラツキング誤差信号を得ること
ができる。すなわち、第4図において、対物レン
ズ5がデイスク7より遠ざかつた方向から徐々に
デイスク7に近づく方向に移動していくと、トラ
ツキング誤差信号は、第6図gに示すように、デ
イスク7のトラツク案内溝付近よりトラツク溝横
断信号を発生することになり、この信号gからフ
オーカスサーボ回路を閉じることが可能である。
ここで、本発明のデイスクに対するフオーカス
サーボ引き込み方式について第4図、第6図を用
いて説明する。増幅器11のフオーカス誤差信号
出力aは、対物レンズ5がデイスク7より遠ざか
つた方向から徐々にデイスク7に近づく方向に移
動していくと、第6図aに示すように最初にデイ
スク基材の裏面7bより得られるキ付近のフオー
カス誤差信号を得、次にトラツク案内溝7aより
得られるウ付近のフオーカス誤差信号を得る。ま
た、増幅器11のフオーカス誤差信号出力aは絶
対値増幅器17にも加えられ、第6図のように零
クロスする点のみ零となる零クロス信号dが得ら
れ、インバータした信号eが得られる。
サーボ引き込み方式について第4図、第6図を用
いて説明する。増幅器11のフオーカス誤差信号
出力aは、対物レンズ5がデイスク7より遠ざか
つた方向から徐々にデイスク7に近づく方向に移
動していくと、第6図aに示すように最初にデイ
スク基材の裏面7bより得られるキ付近のフオー
カス誤差信号を得、次にトラツク案内溝7aより
得られるウ付近のフオーカス誤差信号を得る。ま
た、増幅器11のフオーカス誤差信号出力aは絶
対値増幅器17にも加えられ、第6図のように零
クロスする点のみ零となる零クロス信号dが得ら
れ、インバータした信号eが得られる。
一方、トラツキング制御回路20からのトラツ
キング誤差信号gは、第6図gに示すように、デ
イスク7のトラツク案内溝7a付近から、トラツ
ク溝横断信号が発生するようになる。このトラツ
キング誤差信号は、高周波成分を取り除くL.P.F
回路21を介して、絶対値増幅器17と同様な構
成方法にてトラツク溝横断信号を検出するための
増幅回路の溝横断増幅回路22にて増幅され、ト
ラツク横断信号hが得られる。トラツク横断信号
hは、モノマルチ回路23にて、一定間隔のトラ
ツク横断検出信号iを得る。前記絶対値増幅器1
7からの零クロス信号eとトラツク横断検出信号
iとのANDをANDゲート18でとると第6図の
fに示す信号、すなわち、デイスクのトラツク案
内溝7aに前記微小スポツト光が照射されたウの
瞬間を示す信号fが得られる。信号fにより信号
fのタイミングによりラツチ信号(図示せず)を
得、アナログスイツチは閉じられ、フオーカスサ
ーボが閉じられ、フオーカスサーボが引き込まれ
る。
キング誤差信号gは、第6図gに示すように、デ
イスク7のトラツク案内溝7a付近から、トラツ
ク溝横断信号が発生するようになる。このトラツ
キング誤差信号は、高周波成分を取り除くL.P.F
回路21を介して、絶対値増幅器17と同様な構
成方法にてトラツク溝横断信号を検出するための
増幅回路の溝横断増幅回路22にて増幅され、ト
ラツク横断信号hが得られる。トラツク横断信号
hは、モノマルチ回路23にて、一定間隔のトラ
ツク横断検出信号iを得る。前記絶対値増幅器1
7からの零クロス信号eとトラツク横断検出信号
iとのANDをANDゲート18でとると第6図の
fに示す信号、すなわち、デイスクのトラツク案
内溝7aに前記微小スポツト光が照射されたウの
瞬間を示す信号fが得られる。信号fにより信号
fのタイミングによりラツチ信号(図示せず)を
得、アナログスイツチは閉じられ、フオーカスサ
ーボが閉じられ、フオーカスサーボが引き込まれ
る。
ここで、第6図においては、デイスク7基材の
裏面7bとトラツク案内溝面7aすなち材料面で
の光反射率が違う場合を示している。また第7図
には、デイスク基材の裏面7bとトラツク案内溝
面7aの光反射率が同一の例えばレプリカ等のフ
オーカス引き込みタイミングを示しており、フオ
ーカス誤差信号a′のみが変化するだけで、前述し
たフオーカスサーボ引き込み方式で同様にトラツ
ク案内溝7aにフオーカスサーボが引き込まれ
る。
裏面7bとトラツク案内溝面7aすなち材料面で
の光反射率が違う場合を示している。また第7図
には、デイスク基材の裏面7bとトラツク案内溝
面7aの光反射率が同一の例えばレプリカ等のフ
オーカス引き込みタイミングを示しており、フオ
ーカス誤差信号a′のみが変化するだけで、前述し
たフオーカスサーボ引き込み方式で同様にトラツ
ク案内溝7aにフオーカスサーボが引き込まれ
る。
以上のようにこの実施例によれば、デイスクの
トラツク案内溝面の検出をフアーフイールドのト
ラツク溝横断信号によつて検出しているため、反
射光の絶対値を利用して検出する方法に比べて、
デイスクのトラツク案内溝面の光反射率の変動、
光学部品の光透過率の劣化等の影響を受けにく
く、デイスク基材の裏面とデイスクトラツク案内
溝の反射率の差に関係なく、また、トラツク案内
溝を検出する基準電圧を調整なしにデイスクトラ
ツク案内溝面を検出することができ、前記微小ス
ポツト光をデイスクのトラツク案内溝に照射させ
ることができる。
トラツク案内溝面の検出をフアーフイールドのト
ラツク溝横断信号によつて検出しているため、反
射光の絶対値を利用して検出する方法に比べて、
デイスクのトラツク案内溝面の光反射率の変動、
光学部品の光透過率の劣化等の影響を受けにく
く、デイスク基材の裏面とデイスクトラツク案内
溝の反射率の差に関係なく、また、トラツク案内
溝を検出する基準電圧を調整なしにデイスクトラ
ツク案内溝面を検出することができ、前記微小ス
ポツト光をデイスクのトラツク案内溝に照射させ
ることができる。
発明の効果
以上のように本発明の光学式情報装置はフオー
カスサーボ引き込み時に対物レンズをデイスクの
面ブレ以上に離れた位置からトラツク案内溝に近
付けるように移動させ、移動中にフオーカス誤差
信号の零クロス点が検出され、かつ、トラツキン
グ誤差信号の零クロス点の間隔が所定の周期以上
になつたとき、トラツク溝の信号が検出されたも
のとして、即ち微小スポツト光がデイスクのトラ
ツク溝にフオーカスされたものとして、フオーカ
スサーボを閉じることで、デイスク基材とデイス
クのトラツク案内溝の反射率の差に関係なく、ト
ラツク案内溝を検出するコンパレータ等の基準電
圧を調整することなく、安定に微小スポツト光を
デイスクのトラツク案内溝上に照射するフオーカ
スサーボ引き込みが可能となり、その実用的効果
は大きい。
カスサーボ引き込み時に対物レンズをデイスクの
面ブレ以上に離れた位置からトラツク案内溝に近
付けるように移動させ、移動中にフオーカス誤差
信号の零クロス点が検出され、かつ、トラツキン
グ誤差信号の零クロス点の間隔が所定の周期以上
になつたとき、トラツク溝の信号が検出されたも
のとして、即ち微小スポツト光がデイスクのトラ
ツク溝にフオーカスされたものとして、フオーカ
スサーボを閉じることで、デイスク基材とデイス
クのトラツク案内溝の反射率の差に関係なく、ト
ラツク案内溝を検出するコンパレータ等の基準電
圧を調整することなく、安定に微小スポツト光を
デイスクのトラツク案内溝上に照射するフオーカ
スサーボ引き込みが可能となり、その実用的効果
は大きい。
第1図は従来例の光学式情報装置のブロツク
図、第2図は第1図に示した各部の出力のタイム
チヤート、第3図は第1図または第4図の絶対値
増幅回路の入出力特性図、第4図は本発明の一実
施例における光学式情報装置のフオーカスサーボ
のブロツク図、第5図は第4図の装置で用いられ
る光検出器の原理図、第6図は第4図に示した各
部の出力の第一例のタイムチヤート、第7図は第
4図に示した各部の出力第二例のタイムチヤート
である。 1……レーザ光源、5……対物レンズ、6……
光学ピツクアツプ、7……デイスク、7a……ト
ラツク案内溝面、7b……基材の裏面、9……分
割ミラー、10……フオーカス制御用光検出器、
13……アナログスイツチ、15……微分回路、
16……コンパレータ、17……絶対値増幅器、
18……AND回路、19……トラツキング制御
用光検出器、21……ローパスフイルター(L.P.
F)、22……溝横断増幅器、23……モノマル
チ。
図、第2図は第1図に示した各部の出力のタイム
チヤート、第3図は第1図または第4図の絶対値
増幅回路の入出力特性図、第4図は本発明の一実
施例における光学式情報装置のフオーカスサーボ
のブロツク図、第5図は第4図の装置で用いられ
る光検出器の原理図、第6図は第4図に示した各
部の出力の第一例のタイムチヤート、第7図は第
4図に示した各部の出力第二例のタイムチヤート
である。 1……レーザ光源、5……対物レンズ、6……
光学ピツクアツプ、7……デイスク、7a……ト
ラツク案内溝面、7b……基材の裏面、9……分
割ミラー、10……フオーカス制御用光検出器、
13……アナログスイツチ、15……微分回路、
16……コンパレータ、17……絶対値増幅器、
18……AND回路、19……トラツキング制御
用光検出器、21……ローパスフイルター(L.P.
F)、22……溝横断増幅器、23……モノマル
チ。
Claims (1)
- 1 光源より出た光を対物レンズを有する光学系
により微小スポツト光に絞り、この微小スポツト
光をデイスクのトラツク案内溝にフオーカスする
ためのフオーカス制御用検出器と、前記微小スポ
ツト光がトラツク案内溝にトラツキングするため
のトラツキング制御用検出器とを有し、フオーカ
スサーボ引き込み時に前記対物レンズをデイスク
の面ブレ以上に離れた位置からトラツク案内溝に
近付けるように移動させる光学ピツクアツプ駆動
手段と、前記フオーカス制御用検出器から得られ
たフオーカス誤差信号の零クロス点を検出する第
1の検出手段と、前記トラツキング制御用検出器
から得られたトラツキング誤差信号の零クロス点
の間隔が所定の周期以上になることを検出する第
2の検出手段と、第1および第2の検出手段の出
力の論理積をとる第3の検出手段と、前記光学ピ
ツクアツプ駆動手段の移動中に前記第3の検出手
段の出力により移動を停止し、サーボ引き込み動
作を停止する手段とからなる光学式情報装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4743084A JPS60191440A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 光学式情報装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4743084A JPS60191440A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 光学式情報装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60191440A JPS60191440A (ja) | 1985-09-28 |
JPH0458657B2 true JPH0458657B2 (ja) | 1992-09-18 |
Family
ID=12774931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4743084A Granted JPS60191440A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 光学式情報装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60191440A (ja) |
-
1984
- 1984-03-12 JP JP4743084A patent/JPS60191440A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60191440A (ja) | 1985-09-28 |
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