JP3218411B2 - 繊維サンプル内のトラツシユをモニターする装置 - Google Patents
繊維サンプル内のトラツシユをモニターする装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，繊維サンプルの中にあ
る異物の測定に関するものである。もう少し具体的に云
えば，綿の中の可視異物を計数し，大きさを測定し，種
類分けするための装置と方法を提供するものである。こ
れらの測定は異物又はトラツシユの新しい定義に従つた
ものである。
る異物の測定に関するものである。もう少し具体的に云
えば，綿の中の可視異物を計数し，大きさを測定し，種
類分けするための装置と方法を提供するものである。こ
れらの測定は異物又はトラツシユの新しい定義に従つた
ものである。
【０００２】
【従来の技術】綿中のトラツシユとごみは収穫時に含ま
れるものである。どのクリーニング工程でも，その主た
る目的はこの可視異物（ＶＦＭ）の除去と，クリーニン
グアグレツシブを最小にすることである。ここ数年，綿
ジニング工場の生産高は飛躍的に増加している。世界的
規模のテキスタイル工場では，クリーニングでの要求は
確実に増加している。近代的高速紡績機械はトラツシユ
やごみの含量を極力押さえているからである。トラツシ
ユやごみの除去は常に繊維の損失と傷みによる出費とな
る。明らかにトラツシユとごみ，ネツプと短繊維含有率
との関係に於ける最適状態は，どのジニングや紡績工程
にとつても達成しなければならない。
れるものである。どのクリーニング工程でも，その主た
る目的はこの可視異物（ＶＦＭ）の除去と，クリーニン
グアグレツシブを最小にすることである。ここ数年，綿
ジニング工場の生産高は飛躍的に増加している。世界的
規模のテキスタイル工場では，クリーニングでの要求は
確実に増加している。近代的高速紡績機械はトラツシユ
やごみの含量を極力押さえているからである。トラツシ
ユやごみの除去は常に繊維の損失と傷みによる出費とな
る。明らかにトラツシユとごみ，ネツプと短繊維含有率
との関係に於ける最適状態は，どのジニングや紡績工程
にとつても達成しなければならない。
【０００３】トラツシユとごみはテキスタイル繊維中の
好ましくない微片である。このＶＦＭは糸むらと糸強力
に影響を与えるたけでなく生産効率を減少させる。
好ましくない微片である。このＶＦＭは糸むらと糸強力
に影響を与えるたけでなく生産効率を減少させる。
【０００４】歴史的にはトラツシユとごみは遅いグラビ
メトリツク法によつて測定されていた。即ちＶＦＭは除
去され，その重量がサンプルの比率として報告されてい
た。かようなグラビメトリツク法ではトラツシユやごみ
の個数，大きさ，形状，種類といつた情報を提供するこ
とは出来ない。グラビメトリツクの精度と速度は，重量
比率がしばしば０．１％を下回るような今日のきれいな
スライバーと，ジニングや紡績技術と市場環境を動かし
ている今日の情報技術にとつては受け入れられないもの
になつて来た。単なる重量だけではないトラツシユ片の
数は，その大きさ，形状，種類と共に繊維品質又は工程
での挙動を知るのに益々上質の情報となりつつある。
メトリツク法によつて測定されていた。即ちＶＦＭは除
去され，その重量がサンプルの比率として報告されてい
た。かようなグラビメトリツク法ではトラツシユやごみ
の個数，大きさ，形状，種類といつた情報を提供するこ
とは出来ない。グラビメトリツクの精度と速度は，重量
比率がしばしば０．１％を下回るような今日のきれいな
スライバーと，ジニングや紡績技術と市場環境を動かし
ている今日の情報技術にとつては受け入れられないもの
になつて来た。単なる重量だけではないトラツシユ片の
数は，その大きさ，形状，種類と共に繊維品質又は工程
での挙動を知るのに益々上質の情報となりつつある。
【０００５】かくして，前出の定義に従つたより高精度
で，高速でコスト効果の高いトラツシユ又は異物の測定
が必要とされる。しかし追加の測定が必要であることも
又同様に明らかである。各種工程ポイントに於て異物の
重量比率を報告することはもう適当ではない。トラツシ
ユの大きさ，種類，カテゴリー（葉，樹皮，草，種の外
皮片等）の報告，異物除去の困難さの報告（クリーナピ
リテイ），又はトラツシユ又は特別なカテゴリーが製造
工程に害を及ぼすかどうかの報告が重要である。
で，高速でコスト効果の高いトラツシユ又は異物の測定
が必要とされる。しかし追加の測定が必要であることも
又同様に明らかである。各種工程ポイントに於て異物の
重量比率を報告することはもう適当ではない。トラツシ
ユの大きさ，種類，カテゴリー（葉，樹皮，草，種の外
皮片等）の報告，異物除去の困難さの報告（クリーナピ
リテイ），又はトラツシユ又は特別なカテゴリーが製造
工程に害を及ぼすかどうかの報告が重要である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は，繊維
サンプルの中の異物を測定する新しい方法を提供するこ
とにある。基本的に新しい物理的パラメーターであるサ
ンプルのグラム当りトラツシユ片数は明らかにされてい
る。異物を示す為の改良された表示，このパラメーター
を広く使うこと及びその方法を大きさ，形状，種別カテ
ゴリーへ拡張利用することによつて品質改善と利益性が
もたらされる。
サンプルの中の異物を測定する新しい方法を提供するこ
とにある。基本的に新しい物理的パラメーターであるサ
ンプルのグラム当りトラツシユ片数は明らかにされてい
る。異物を示す為の改良された表示，このパラメーター
を広く使うこと及びその方法を大きさ，形状，種別カテ
ゴリーへ拡張利用することによつて品質改善と利益性が
もたらされる。
【０００７】グラム当り個数，大きさ，形状と種類に対
して基本的に異なつた方法と装置を提供することがもう
１つの目的でもある。これらの方法と装置はそれぞれの
異物を光学的検出手段で呈示する手段を具体化するもの
である。
して基本的に異なつた方法と装置を提供することがもう
１つの目的でもある。これらの方法と装置はそれぞれの
異物を光学的検出手段で呈示する手段を具体化するもの
である。
【０００８】又従来のパラメーターであつた繊維サンプ
ル内の異物重量比率の改良された測定が，高速でしかも
高い精度と正確さをもつてきれいな繊維サンプルに対し
て提供されるということは本発明の重要な結果である。
ル内の異物重量比率の改良された測定が，高速でしかも
高い精度と正確さをもつてきれいな繊維サンプルに対し
て提供されるということは本発明の重要な結果である。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は，トラツシユ片
と繊維の重量を測定した後，トラツシユデータを得るた
めに処理する装置を提供することによつて，トラツシユ
を調査することに関する前述などの目的に合うものであ
る。呈示システム，特に分離装置，空送システムとノズ
ルはサンプル中の全てのトラツシユ片を光でチエツクさ
れる状態にしてチエツク場に呈示する。光センサは全て
のトラツシユ片がチエツク場に呈示された時に実質的に
チエツクし，少なくともサンプル内のトラツシユ片の存
在を示す出力信号を発生する。この出力信号はアナログ
信号を受けるためにアナログ／デジタル変換器を備えた
コンピユータに転送される。センサの出力信号に基づき
コンピユータは少なくともトラツシユ片の総数を決定
し，試料の単位重量当りトラツシユ片の数を計算する。
そてコンピユータは試料の単位重量当りのトラツシユ数
の形でデータを出力する。
と繊維の重量を測定した後，トラツシユデータを得るた
めに処理する装置を提供することによつて，トラツシユ
を調査することに関する前述などの目的に合うものであ
る。呈示システム，特に分離装置，空送システムとノズ
ルはサンプル中の全てのトラツシユ片を光でチエツクさ
れる状態にしてチエツク場に呈示する。光センサは全て
のトラツシユ片がチエツク場に呈示された時に実質的に
チエツクし，少なくともサンプル内のトラツシユ片の存
在を示す出力信号を発生する。この出力信号はアナログ
信号を受けるためにアナログ／デジタル変換器を備えた
コンピユータに転送される。センサの出力信号に基づき
コンピユータは少なくともトラツシユ片の総数を決定
し，試料の単位重量当りトラツシユ片の数を計算する。
そてコンピユータは試料の単位重量当りのトラツシユ数
の形でデータを出力する。
【００１０】好ましい具体例としては光センサは各トラ
ツシユ片の存在と，トラツシユ片の大きさによつて変わ
るトラツシユ片の特性を測定する。光センサによつて投
影範囲に依存するいくつかの出力（Ｖ）が生じる。一般
的に好ましい処理手段はトラツシユ片の数と大きさに関
係する出力（Ｖ）と出力データを受け取る。特に処理手
段は各トラツシユ片の投影部分（以後）を，測定された
特性（Ｖ）を基に，大きさのことなる異物に対するそれ
ぞれの方程式を使つて計算する。特に処理手段は１つの
方程式を小片に，もう１つの方程式を大片に使用してい
る。小片と大片の違いはセンサ特性で指定された閾値に
よつて決定される。即ち出力（Ｖ）が閾値より小さけれ
ば異物は小片として扱われ，でなければ大片として扱わ
れる。
ツシユ片の存在と，トラツシユ片の大きさによつて変わ
るトラツシユ片の特性を測定する。光センサによつて投
影範囲に依存するいくつかの出力（Ｖ）が生じる。一般
的に好ましい処理手段はトラツシユ片の数と大きさに関
係する出力（Ｖ）と出力データを受け取る。特に処理手
段は各トラツシユ片の投影部分（以後）を，測定された
特性（Ｖ）を基に，大きさのことなる異物に対するそれ
ぞれの方程式を使つて計算する。特に処理手段は１つの
方程式を小片に，もう１つの方程式を大片に使用してい
る。小片と大片の違いはセンサ特性で指定された閾値に
よつて決定される。即ち出力（Ｖ）が閾値より小さけれ
ば異物は小片として扱われ，でなければ大片として扱わ
れる。
【００１１】好ましい具体例としては，処理手段は又試
料の単位重量当り微片数を計算し（個数／ｇｒａｍ），
別に試料の単位重量当り大片個数を計算する。どちらの
計数もデータとしての出力である。
料の単位重量当り微片数を計算し（個数／ｇｒａｍ），
別に試料の単位重量当り大片個数を計算する。どちらの
計数もデータとしての出力である。
【００１２】更にトラツシユ片の総重量は投影面積の合
計と相関がある。従つて処理手段は試料中トラツシユの
総予想重量と投影面積の合計を基とした可視異物（ＶＦ
Ｍ）の比率を計算し出力する。更に処理手段はトラツシ
ユ片の平均投影有効直径を計算し出力する。ここで使つ
た「有効直径」とはメツシユやふるいによつて実験的に
定めた値である。ＸとＸの開口を有するメツシニは通り
抜けるが，次の狭いＹとＹの開口は通り抜けない微粒は
（Ｘ−Ｙ）０．５の有効直径を有するものとする。投影
面積は有効直径の２乗であり，後で「Ｅ−Ｏ」（電子光
学的）として定義されるものである。
計と相関がある。従つて処理手段は試料中トラツシユの
総予想重量と投影面積の合計を基とした可視異物（ＶＦ
Ｍ）の比率を計算し出力する。更に処理手段はトラツシ
ユ片の平均投影有効直径を計算し出力する。ここで使つ
た「有効直径」とはメツシユやふるいによつて実験的に
定めた値である。ＸとＸの開口を有するメツシニは通り
抜けるが，次の狭いＹとＹの開口は通り抜けない微粒は
（Ｘ−Ｙ）０．５の有効直径を有するものとする。投影
面積は有効直径の２乗であり，後で「Ｅ−Ｏ」（電子光
学的）として定義されるものである。
【００１３】好ましい具体例としては，光検出器は光源
の光を検出する様に配置され，微粒が光源と検出器の間
を通過する時の光の影を測定して出力（Ｖ）を生じる。
これに加えて，又は代わりのものとして微粒によつて生
じる前面反射光，後面反射光等も測定され得る。そのよ
うな測定はいろいろな角度から実行され，必要な情報に
よつて異なる視点に立つて行われる。この様な光電技術
は形，細かさ，構造と種類を含む微粒の多岐にわたる特
性を明らかにする。この情報と，トラツシユの既に知ら
れた特性，例えばコツトントラツシユを利用し，各微粒
を葉，外皮，草，樹皮などに区別することができる。こ
の様にして例えば試料のグラム当りトラツシユ微粒の個
数を，有効直径が５００マイクロメータより大きいもの
は「葉」として出力する。別の例では，１，０００マイ
クロメータより長く，１００マイクロメータより薄く，
光の方向に関してＶ４０を光の４０°前面拡散，Ｖｏを
０°に於ける光の遮断とすると，そのＶ４０／Ｖｏ比が
０．８５より小さいトラツシユ微粒のグラム当りの数を
得ることができる。その様な測定に関して測定の為に微
粒を呈示することでトラツシユ粒のごとき微粒を計数
し，大きさを決め種別分けが出来るようにすることが大
切である。
の光を検出する様に配置され，微粒が光源と検出器の間
を通過する時の光の影を測定して出力（Ｖ）を生じる。
これに加えて，又は代わりのものとして微粒によつて生
じる前面反射光，後面反射光等も測定され得る。そのよ
うな測定はいろいろな角度から実行され，必要な情報に
よつて異なる視点に立つて行われる。この様な光電技術
は形，細かさ，構造と種類を含む微粒の多岐にわたる特
性を明らかにする。この情報と，トラツシユの既に知ら
れた特性，例えばコツトントラツシユを利用し，各微粒
を葉，外皮，草，樹皮などに区別することができる。こ
の様にして例えば試料のグラム当りトラツシユ微粒の個
数を，有効直径が５００マイクロメータより大きいもの
は「葉」として出力する。別の例では，１，０００マイ
クロメータより長く，１００マイクロメータより薄く，
光の方向に関してＶ４０を光の４０°前面拡散，Ｖｏを
０°に於ける光の遮断とすると，そのＶ４０／Ｖｏ比が
０．８５より小さいトラツシユ微粒のグラム当りの数を
得ることができる。その様な測定に関して測定の為に微
粒を呈示することでトラツシユ粒のごとき微粒を計数
し，大きさを決め種別分けが出来るようにすることが大
切である。
【００１４】
【実施例】本発明は以下に述べる具体例の詳細な説明を
図面を参照すると最も理解し易い。
図面を参照すると最も理解し易い。
【００１５】さて図面について見てみると，図１にはト
ラツシユモニタリング装置１０があり，繊維とトラツシ
ユを含む繊維試料１２中のトラツシユをチエツクする。
試料１２はまず秤１４に乗せられ，圧力（又は重量）ト
ランスジユーサ１６がライン１８上に試料１２に相当す
る信号を発生する。ライン１８上の信号はアナログ重量
信号を受け取る適当なＡ／Ｄコンバータを含むコンピユ
ータ２０に伝えられる。コンピユータ２０はライン１８
からの信号を基に試料１２の重量を計算して保存する。
ラツシユモニタリング装置１０があり，繊維とトラツシ
ユを含む繊維試料１２中のトラツシユをチエツクする。
試料１２はまず秤１４に乗せられ，圧力（又は重量）ト
ランスジユーサ１６がライン１８上に試料１２に相当す
る信号を発生する。ライン１８上の信号はアナログ重量
信号を受け取る適当なＡ／Ｄコンバータを含むコンピユ
ータ２０に伝えられる。コンピユータ２０はライン１８
からの信号を基に試料１２の重量を計算して保存する。
【００１６】次に試料１２は機械的スライバーメーカ２
１か手によつて普通スライバーと称される細長い形状に
整えられ，スライバーはコンジツト２２を通じてツエル
ヴーゲルウステル社にて準備されているが如きインデイ
ビジユアライザー／セパレータ２４に搬送される。繊維
試料１２は分離ホイール２６と２８，カーデイングフラ
ツト２７その他トラツシユから繊維を分離するセパレー
タ２４中の，公知の他のエレメントによつて処理され
る。トラツシユはコンジツト３０と３２によつて集めら
れる。コンジツト３０と３２にある矢印によつて示され
ているように，コンジツト３０と３２内にはホイール２
６と２８の近くにコンジツト３０と３２にはじき出され
た粒の運動に対抗する空気流がある。この空気流は逆流
と称せられ，コンジツトは逆流スロツトと称せられる。
逆流空気は繊維をコンジツト３０と３２に吹き戻すが，
ホイールはトラツシユ粒には逆流空気流に抗して屈折点
３１と３３に到達するのに十分な速度を伝える。その屈
折点でトラツシユ粒は，逆流空気とは反対方向に流れる
コンジツト３０と３２内の空気流に乗つて移動する。屈
折点３１と３３は，トラツシユ粒がシリンダ２６，２８
の方に戻されるか又は運び出されるかの分かれ道となる
コンジツト３０と３２の中の小さな部分であることは明
白である。又運び出されるトラツシユ粒の大きさを調節
できることもはつきりしている。
１か手によつて普通スライバーと称される細長い形状に
整えられ，スライバーはコンジツト２２を通じてツエル
ヴーゲルウステル社にて準備されているが如きインデイ
ビジユアライザー／セパレータ２４に搬送される。繊維
試料１２は分離ホイール２６と２８，カーデイングフラ
ツト２７その他トラツシユから繊維を分離するセパレー
タ２４中の，公知の他のエレメントによつて処理され
る。トラツシユはコンジツト３０と３２によつて集めら
れる。コンジツト３０と３２にある矢印によつて示され
ているように，コンジツト３０と３２内にはホイール２
６と２８の近くにコンジツト３０と３２にはじき出され
た粒の運動に対抗する空気流がある。この空気流は逆流
と称せられ，コンジツトは逆流スロツトと称せられる。
逆流空気は繊維をコンジツト３０と３２に吹き戻すが，
ホイールはトラツシユ粒には逆流空気流に抗して屈折点
３１と３３に到達するのに十分な速度を伝える。その屈
折点でトラツシユ粒は，逆流空気とは反対方向に流れる
コンジツト３０と３２内の空気流に乗つて移動する。屈
折点３１と３３は，トラツシユ粒がシリンダ２６，２８
の方に戻されるか又は運び出されるかの分かれ道となる
コンジツト３０と３２の中の小さな部分であることは明
白である。又運び出されるトラツシユ粒の大きさを調節
できることもはつきりしている。
【００１７】リント（繊維）はコンジツト３４で集めら
れ，吸気による空気流の存在するコンジツト３６の方に
運ばれる。同様にコンジツト３８内の吸気による空気流
はコンジツト３０と３２からのトラツシユ粒を受取り流
れに乗せる。セパレータ２４はトラツシユ粒と繊維をば
らばらにし，トラツシユ粒の実質的に全てを同時にコン
ジツト３８に，繊維の実質的に全てを同時にコンジツト
３６に配分されるように設計されている。繊維からトラ
ツシユ粒を空気工学的に分離し，異なつた空気流に配分
する方法が好ましい一方で，試料１２を機械的に解きは
ぐし，１本の空気流に流して光学的手段で識別し，種類
分けしたりすることも考えられる。即ち試料は光学的方
法によつてトラツシユと繊維のカテゴリーに分離される
ことが出来る。
れ，吸気による空気流の存在するコンジツト３６の方に
運ばれる。同様にコンジツト３８内の吸気による空気流
はコンジツト３０と３２からのトラツシユ粒を受取り流
れに乗せる。セパレータ２４はトラツシユ粒と繊維をば
らばらにし，トラツシユ粒の実質的に全てを同時にコン
ジツト３８に，繊維の実質的に全てを同時にコンジツト
３６に配分されるように設計されている。繊維からトラ
ツシユ粒を空気工学的に分離し，異なつた空気流に配分
する方法が好ましい一方で，試料１２を機械的に解きは
ぐし，１本の空気流に流して光学的手段で識別し，種類
分けしたりすることも考えられる。即ち試料は光学的方
法によつてトラツシユと繊維のカテゴリーに分離される
ことが出来る。
【００１８】コンジツト３８内のトラツシユ粒は光セン
サ４０の方に配送され，そこでノズル４６によつて，光
源４２によつて作られる光の中を通過する時に測定され
るように呈示され，光検出器４４によつて検出される。
微粒群はサクシヨンノズル４８によつて集められ，コン
ジツト４９の中のサクシヨンによつて生ずる空気流に乗
せられる。トラツシユ粒がセンサ４０を通過する時，そ
れらは実質的にばらばらの状態で呈示されながらセンシ
ング場を通過する。かくしてノズル４６は微粒を加速
し，ノズル４８は微粒を減速するが，ノズルはセンシン
グ場５２の中で実質的にばらばらの方向に微粒を呈示す
るように設計されている。センサ４４によつて検出され
た光は電圧信号としてライン５３に伝えられ，更に適当
なＡ／Ｄコンバータを備えたコンピユータ２０に伝え
る。好ましい状況としては，センサ４４と光源４２は微
粒がセンシング場５２を通過する時に生じる光の遮断を
検出するように配置されている。光の拡散も又利用でき
る。好ましい具体例として最初に光の遮断を検出すると
述べたが，センサ４４はセンシング場５２を通過する微
粒によつて生じる前方拡散光と後方拡散光，光遮断を検
出する組合せた検出器を代表するものとして考えるべき
ものである。
サ４０の方に配送され，そこでノズル４６によつて，光
源４２によつて作られる光の中を通過する時に測定され
るように呈示され，光検出器４４によつて検出される。
微粒群はサクシヨンノズル４８によつて集められ，コン
ジツト４９の中のサクシヨンによつて生ずる空気流に乗
せられる。トラツシユ粒がセンサ４０を通過する時，そ
れらは実質的にばらばらの状態で呈示されながらセンシ
ング場を通過する。かくしてノズル４６は微粒を加速
し，ノズル４８は微粒を減速するが，ノズルはセンシン
グ場５２の中で実質的にばらばらの方向に微粒を呈示す
るように設計されている。センサ４４によつて検出され
た光は電圧信号としてライン５３に伝えられ，更に適当
なＡ／Ｄコンバータを備えたコンピユータ２０に伝え
る。好ましい状況としては，センサ４４と光源４２は微
粒がセンシング場５２を通過する時に生じる光の遮断を
検出するように配置されている。光の拡散も又利用でき
る。好ましい具体例として最初に光の遮断を検出すると
述べたが，センサ４４はセンシング場５２を通過する微
粒によつて生じる前方拡散光と後方拡散光，光遮断を検
出する組合せた検出器を代表するものとして考えるべき
ものである。
【００１９】同様の光電センサ５０がコンジツト３６に
備えられており，繊維がセンサ５０を通過する時に繊維
の光学的特性をチエツクする。この構成では１つの試料
を供給して，繊維とトラツシユに関する多くのデータ
（ＳＳ／ＭＤ）を入手する。センサ５０と４０は，セン
サ５０が繊維がセンサ５０を通過する時に方向を揃える
為に設計された噴き出しノズル５６と吸引ノズル５８を
有していることを除けば，基本的には同じ物である。繊
維を方向付けする機能は繊維を測定する場合に有効であ
るが，絶対必要なものでもない。特にトラツシユに関し
てはセンシング場５２に入る前に特別な角度位置に揃え
ることは必要ない。実際トラツシユについては実際上無
作為な方向で呈示されるのが好ましい。
備えられており，繊維がセンサ５０を通過する時に繊維
の光学的特性をチエツクする。この構成では１つの試料
を供給して，繊維とトラツシユに関する多くのデータ
（ＳＳ／ＭＤ）を入手する。センサ５０と４０は，セン
サ５０が繊維がセンサ５０を通過する時に方向を揃える
為に設計された噴き出しノズル５６と吸引ノズル５８を
有していることを除けば，基本的には同じ物である。繊
維を方向付けする機能は繊維を測定する場合に有効であ
るが，絶対必要なものでもない。特にトラツシユに関し
てはセンシング場５２に入る前に特別な角度位置に揃え
ることは必要ない。実際トラツシユについては実際上無
作為な方向で呈示されるのが好ましい。
【００２０】センサ４０はコンジツト４９を通じて接続
されており，センサ５０はコンジツト６０を通して，上
述した空気流を得るのに必要な吸引力を発生するバキユ
ームポンプ６２と接続されている。フイルタ５９がポン
プ６２の上昇流れ方向のコンジツト４９の中に配されて
いて，全てのトラツシユ粒を集め，フイルタ６１がコン
ジツト６０の中に配されていて，全ての繊維を集める。
どんな試料１２に対しても繊維とトラツシユは，秤１４
で重量測定をするような手作業の為にフイルタ５９と６
１によつて別々に回収される。この手作業は，センサ４
０と５０からの出力を基本とした測定と計算に関して事
前に装置を校正し，その様な光学測定を検証し又は補足
するのに用いられる。
されており，センサ５０はコンジツト６０を通して，上
述した空気流を得るのに必要な吸引力を発生するバキユ
ームポンプ６２と接続されている。フイルタ５９がポン
プ６２の上昇流れ方向のコンジツト４９の中に配されて
いて，全てのトラツシユ粒を集め，フイルタ６１がコン
ジツト６０の中に配されていて，全ての繊維を集める。
どんな試料１２に対しても繊維とトラツシユは，秤１４
で重量測定をするような手作業の為にフイルタ５９と６
１によつて別々に回収される。この手作業は，センサ４
０と５０からの出力を基本とした測定と計算に関して事
前に装置を校正し，その様な光学測定を検証し又は補足
するのに用いられる。
【００２１】図２は，光センサ４４に近づきつつある微
粒６４が示されている。微粒６４の占める部分はセンサ
４４の幅に比して非常に小さい。かくして微粒６４がセ
ンサ４４の前を通り過ぎる時，微粒６４によつて無くな
る光は，微粒の投影面積に依存することが検知されるは
ずである。
粒６４が示されている。微粒６４の占める部分はセンサ
４４の幅に比して非常に小さい。かくして微粒６４がセ
ンサ４４の前を通り過ぎる時，微粒６４によつて無くな
る光は，微粒の投影面積に依存することが検知されるは
ずである。
【００２２】図３は，光センサ４４に近づきつつある大
粒６６が示されている。粒６６がセンサ４４の前を通り
過ぎる時，粒はセンサを覆い隠してしまう。かくして粒
６６によつて無くなる，さもなければセンサ４４によつ
てチエツクされる光の量は粒６６の有効直径に比例す
る。
粒６６が示されている。粒６６がセンサ４４の前を通り
過ぎる時，粒はセンサを覆い隠してしまう。かくして粒
６６によつて無くなる，さもなければセンサ４４によつ
てチエツクされる光の量は粒６６の有効直径に比例す
る。
【００２３】図４，５，６では典型的なトラツシユ粒６
８が，側面図，平面図，正面図としてそれぞれ表示され
ている。トラツシユ粒のほとんどのものは図に示された
様な片形状をしているので，トラツシユ粒６８がセンサ
を通過する時に呈示される片の方向によつて大きく値が
かわる。このことからデータ，特にセンサ４０によつて
生成される光遮断データは，その使いみちに限度のある
ことが示唆される。
８が，側面図，平面図，正面図としてそれぞれ表示され
ている。トラツシユ粒のほとんどのものは図に示された
様な片形状をしているので，トラツシユ粒６８がセンサ
を通過する時に呈示される片の方向によつて大きく値が
かわる。このことからデータ，特にセンサ４０によつて
生成される光遮断データは，その使いみちに限度のある
ことが示唆される。
【００２４】図７は，６８の如きトラツシユ粒が図５に
示された様な標準的な垂直状態で呈示される確率のグラ
フを示している。カーブ７０はトラツシユ粒が１軸の周
りに自由に回ることができる場合のトラツシユ粒の各方
向の確率を示していて，正規の方向は回数の１４％を少
し上回る程度に発生することが予想される。一方正規投
影部分の１０分の１の面のみ見える場合は回数中の約３
％の発生が予想される。
示された様な標準的な垂直状態で呈示される確率のグラ
フを示している。カーブ７０はトラツシユ粒が１軸の周
りに自由に回ることができる場合のトラツシユ粒の各方
向の確率を示していて，正規の方向は回数の１４％を少
し上回る程度に発生することが予想される。一方正規投
影部分の１０分の１の面のみ見える場合は回数中の約３
％の発生が予想される。
【００２５】トラツシユ粒が２本の垂直軸の周りに自由
回転出来る場合は，トラツシユ粒６８の正常方向は回数
の２％以下の予測となる一方，正常投影部分の約１０％
の呈示は回数の９％が予測されている。同様に正常投影
部分の１５％の方向は回数の約７．５％で発生し，２０
％方向では回数の７％ぐらいが現れる。カーブ７２に基
づくと，粒がランダムな方向で呈示された場合，粒の正
常な方向を見ることは殆ど期待できない。かくして粒の
正常方向の発生は殆ど起こらないので，光センサに対し
て全く自由な方向のトラツシユ粒の呈示が有効な大きさ
の情報を含まない検出信号を生じることが期待される。
回転出来る場合は，トラツシユ粒６８の正常方向は回数
の２％以下の予測となる一方，正常投影部分の約１０％
の呈示は回数の９％が予測されている。同様に正常投影
部分の１５％の方向は回数の約７．５％で発生し，２０
％方向では回数の７％ぐらいが現れる。カーブ７２に基
づくと，粒がランダムな方向で呈示された場合，粒の正
常な方向を見ることは殆ど期待できない。かくして粒の
正常方向の発生は殆ど起こらないので，光センサに対し
て全く自由な方向のトラツシユ粒の呈示が有効な大きさ
の情報を含まない検出信号を生じることが期待される。
【００２６】図８に示された実験結果によれば，センサ
４４の光遮断出力は粒の有効直径と良い相関関係を示
し，更に粒の投影部分とも良い相関関係を示している。
図８のＹ軸にはセンサ４４からの平均ピーク電圧がＸ軸
の粒直径に対してプロツトされている。粒の実用有効直
径はこのテストの目的の為に，手作業で粒群をだんだん
と小さくなるスクリーンメツシユを通過させて決定され
る。グラフの黒丸は球状ガラス玉のデータであり，ダイ
ヤモンド記号はトラツシユ粒のデータである。トラツシ
ユ粒でもガラス玉でも，平均ピーク電圧が直径とよい相
関関係を示しているのが認められる（図８で示された電
圧信号は実際には２つのアンプであり，高い方の感度は
低い方の感度の１２．５倍のゲインがある。２つのステ
ージは広いダイナミツクレンジをカバーするのに必要で
ある。）
４４の光遮断出力は粒の有効直径と良い相関関係を示
し，更に粒の投影部分とも良い相関関係を示している。
図８のＹ軸にはセンサ４４からの平均ピーク電圧がＸ軸
の粒直径に対してプロツトされている。粒の実用有効直
径はこのテストの目的の為に，手作業で粒群をだんだん
と小さくなるスクリーンメツシユを通過させて決定され
る。グラフの黒丸は球状ガラス玉のデータであり，ダイ
ヤモンド記号はトラツシユ粒のデータである。トラツシ
ユ粒でもガラス玉でも，平均ピーク電圧が直径とよい相
関関係を示しているのが認められる（図８で示された電
圧信号は実際には２つのアンプであり，高い方の感度は
低い方の感度の１２．５倍のゲインがある。２つのステ
ージは広いダイナミツクレンジをカバーするのに必要で
ある。）
【００２７】図９では，カーブ７４と７６の一部は図８
と同じカーブであるが，分かりやすくするためにカーブ
を別けて示してある。図９に関連してセンサ４４の出力
と粒の大きさとの間の汎関数関係は小さい粒と大きい粒
とでは異なつている。小さい粒に関してセンサ４４の出
力電圧Ｖは方程式Ｖ＝ａ＋ｂＸ＋ｃＸ２によつて粒の大
きさと関係付けられている。ここでＸは，有効直径の如
き一次元の粒サイズである。特に４８８ミクロンより小
さな綿トラツシユ粒に対しては式は次のように決定され
得る。 Ｖ＝０．００００３０３Ｘ２＋０．００４７５Ｘ−．０４０３。 大きな粒に対しては関係は次の様に定義付けられる：Ｖ
＝ｍＸ＋ｂ。 特に直径が４８８ミクロン以上の綿トラツシユ粒に対し
ては方程式は次の様になる。 Ｖ＝．０３１３Ｘ−５．７８。
と同じカーブであるが，分かりやすくするためにカーブ
を別けて示してある。図９に関連してセンサ４４の出力
と粒の大きさとの間の汎関数関係は小さい粒と大きい粒
とでは異なつている。小さい粒に関してセンサ４４の出
力電圧Ｖは方程式Ｖ＝ａ＋ｂＸ＋ｃＸ２によつて粒の大
きさと関係付けられている。ここでＸは，有効直径の如
き一次元の粒サイズである。特に４８８ミクロンより小
さな綿トラツシユ粒に対しては式は次のように決定され
得る。 Ｖ＝０．００００３０３Ｘ２＋０．００４７５Ｘ−．０４０３。 大きな粒に対しては関係は次の様に定義付けられる：Ｖ
＝ｍＸ＋ｂ。 特に直径が４８８ミクロン以上の綿トラツシユ粒に対し
ては方程式は次の様になる。 Ｖ＝．０３１３Ｘ−５．７８。
【００２８】要約すると，図２〜６と説明文によつて示
された各トラツシユ粒は，図１の光センサ４０を通過す
る時，ライン５３に信号を生じる。コンピユータ２０
は，少なくともトラツシユ粒であることを示すこれらの
信号を計数し，試料重量と組み合せて新しい基礎となる
データである試料のグラム当り個数を生み出す。
された各トラツシユ粒は，図１の光センサ４０を通過す
る時，ライン５３に信号を生じる。コンピユータ２０
は，少なくともトラツシユ粒であることを示すこれらの
信号を計数し，試料重量と組み合せて新しい基礎となる
データである試料のグラム当り個数を生み出す。
【００２９】しかしライン５３上のこれらの信号はトラ
ツシユ粒のグラム当り個数を示すだけに止まらず，大き
さ，形状，構成，方向についての情報を含んでいる。国
際特許出願公開第９１−１４１６９号明細書参照。この
詳細な電子光学的情報は各粒の重さを決定するのに利用
され得る。特定サイズ範囲の中のグラム当り個数による
掛け算と全ての大きさの粒の範囲に互る合計でトラツシ
ユ粒の全重量が与えられる。これを試料重量で割るとＶ
ＦＭ％予想が得られる。
ツシユ粒のグラム当り個数を示すだけに止まらず，大き
さ，形状，構成，方向についての情報を含んでいる。国
際特許出願公開第９１−１４１６９号明細書参照。この
詳細な電子光学的情報は各粒の重さを決定するのに利用
され得る。特定サイズ範囲の中のグラム当り個数による
掛け算と全ての大きさの粒の範囲に互る合計でトラツシ
ユ粒の全重量が与えられる。これを試料重量で割るとＶ
ＦＭ％予想が得られる。
【００３０】幸いにも我々の調査は平均遮断モードのみ
を使つてＶＦＭ％を予測する単純でスマートな方法を見
つけ出した。図８と９は大きさ，形状，構成の特性が既
知の試料について必要かつ十分な校正結果を正確に示し
ている。方向性についても固有のものとして校正中に含
まれている。
を使つてＶＦＭ％を予測する単純でスマートな方法を見
つけ出した。図８と９は大きさ，形状，構成の特性が既
知の試料について必要かつ十分な校正結果を正確に示し
ている。方向性についても固有のものとして校正中に含
まれている。
【００３１】未知の試料を測定するに際してまずやるこ
とは，各トラツシユ電圧信号に対して有効直径を計算す
ることである。特に図１のコンピユータ２０はセンサ４
０の遮断検出出力を利用し，各粒に対して一次元のサイ
ズ表示Ｄ（有効直径）を計算する。例えば図８又は９よ
り９．５ボルトのピーク遮断電圧は，平均して有効直径
Ｄが４８８ミクロンであるトラツシユ粒に相当する。重
要なことはこの平均は大きさ，形状，構成，方向性等の
全ての効果を含んでいる。図８による電圧から有効直径
Ｄへの変換は上に述べた換算表または２次方程式と１次
方程式を介してコンピユータ２０によつて扱われる。
とは，各トラツシユ電圧信号に対して有効直径を計算す
ることである。特に図１のコンピユータ２０はセンサ４
０の遮断検出出力を利用し，各粒に対して一次元のサイ
ズ表示Ｄ（有効直径）を計算する。例えば図８又は９よ
り９．５ボルトのピーク遮断電圧は，平均して有効直径
Ｄが４８８ミクロンであるトラツシユ粒に相当する。重
要なことはこの平均は大きさ，形状，構成，方向性等の
全ての効果を含んでいる。図８による電圧から有効直径
Ｄへの変換は上に述べた換算表または２次方程式と１次
方程式を介してコンピユータ２０によつて扱われる。
【００３２】第２ステツプは次の定義に従つてＥ−Ｏユ
ニツトを計算する。 Ｅ−Ｏユツト＝（Ｄ／１，０００）２ これは各トラツシユ粒の投影範囲をｍｍ２で表わしたも
のである。第３ステツプは試料中の全粒のＥ−Ｏユニツ
ト分布を合計する。
ニツトを計算する。 Ｅ−Ｏユツト＝（Ｄ／１，０００）２ これは各トラツシユ粒の投影範囲をｍｍ２で表わしたも
のである。第３ステツプは試料中の全粒のＥ−Ｏユニツ
ト分布を合計する。
【００３３】この方法がトラツシユに対して有効である
ことの確認として図１０と１１を参照する。図１０のＹ
軸は可視異物の通常の重量ＶＦＭ％を示している。トラ
ツシユの物体は図１のフイルター５９で捕捉される。
ことの確認として図１０と１１を参照する。図１０のＹ
軸は可視異物の通常の重量ＶＦＭ％を示している。トラ
ツシユの物体は図１のフイルター５９で捕捉される。
【００３４】広範囲のトラツシユ内容をカバーするＸ軸
上のＥ−ＯユニツトはＶＦＭ％と密接に関係している。
この結果はトラツシユ粒当りの重さがそのＥ−Ｏユニツ
トに比例するという仮説の正しさを認めている。この仮
説は又物理学上でもうなずけるものである。最終的にグ
ラム当りの合計Ｅ−Ｏユニツトは直観的に十分な説明が
できている。ｍｍ２で示された合計Ｅ−Ｏユニツトは試
料１グラムから取り除かれたトラツシユの投影面積を表
わしている。
上のＥ−ＯユニツトはＶＦＭ％と密接に関係している。
この結果はトラツシユ粒当りの重さがそのＥ−Ｏユニツ
トに比例するという仮説の正しさを認めている。この仮
説は又物理学上でもうなずけるものである。最終的にグ
ラム当りの合計Ｅ−Ｏユニツトは直観的に十分な説明が
できている。ｍｍ２で示された合計Ｅ−Ｏユニツトは試
料１グラムから取り除かれたトラツシユの投影面積を表
わしている。
【００３５】図１２では綿繊維試料５個の典型的な出力
が示されている。″Ｒｅｐ″と書かれた最初の欄は試料
数又は繰り返し数を示す。″Ｓａｍｐｌｅ Ｓｉｚｅ″
欄にはオリジナル綿試料の重量がグラムで示されてい
る。次の欄″Ｔｏｔａｌ″には，オリジナル試料のグラ
ム当りトラツシユ粒の個数が示されている。次の欄″Ｍ
ｅａｎ Ｓｉｚｅ″には各試料の全トラツシユ粒の平均
有効直径がマイクロメータで示されている。次の欄は″
Ｄｕｓｔ″で，グラム当り個数が示されている。コンピ
ユータ２０は一定の大きさより小さい粒（閾値よりも小
さいセンサ出力Ｖであるもの）を計数し，その数値を元
の試料の合計重さ（グラム）で除してこの数値を決定す
る。次の欄″トラツシユ″では，事前に決めた大きさよ
りも大きい粒（閾値よりも大きいセンサ出力Ｖであるも
の）のグラム当り計数値の表示がある。綿の場合，平均
が５００ミクロン以下の大きさである粒は普通ダストと
され，それ以上の大きさのものはトラツシユと呼ばれ
る。かくして好ましい具体例ではダストとトラツシユの
２出力がある。しかしながらトラツシユという言葉は本
文の一般的な文章中で使われている場合は，試料中の非
繊維物体のことを指しており，上に定義したダストもト
ラツシユも含んでいることを記憶するべきである。この
紛らわしい言葉使いは初期の測定方法と定義から来てい
るもので，残念ながら業界でなじまれているものであ
る。最後の欄には，綿繊維中トラツシユを従来の測度単
位で計算した可視異物比率ＶＦＭが示されている。計算
は上に記述した電子光学的ユニツトで行われる。
が示されている。″Ｒｅｐ″と書かれた最初の欄は試料
数又は繰り返し数を示す。″Ｓａｍｐｌｅ Ｓｉｚｅ″
欄にはオリジナル綿試料の重量がグラムで示されてい
る。次の欄″Ｔｏｔａｌ″には，オリジナル試料のグラ
ム当りトラツシユ粒の個数が示されている。次の欄″Ｍ
ｅａｎ Ｓｉｚｅ″には各試料の全トラツシユ粒の平均
有効直径がマイクロメータで示されている。次の欄は″
Ｄｕｓｔ″で，グラム当り個数が示されている。コンピ
ユータ２０は一定の大きさより小さい粒（閾値よりも小
さいセンサ出力Ｖであるもの）を計数し，その数値を元
の試料の合計重さ（グラム）で除してこの数値を決定す
る。次の欄″トラツシユ″では，事前に決めた大きさよ
りも大きい粒（閾値よりも大きいセンサ出力Ｖであるも
の）のグラム当り計数値の表示がある。綿の場合，平均
が５００ミクロン以下の大きさである粒は普通ダストと
され，それ以上の大きさのものはトラツシユと呼ばれ
る。かくして好ましい具体例ではダストとトラツシユの
２出力がある。しかしながらトラツシユという言葉は本
文の一般的な文章中で使われている場合は，試料中の非
繊維物体のことを指しており，上に定義したダストもト
ラツシユも含んでいることを記憶するべきである。この
紛らわしい言葉使いは初期の測定方法と定義から来てい
るもので，残念ながら業界でなじまれているものであ
る。最後の欄には，綿繊維中トラツシユを従来の測度単
位で計算した可視異物比率ＶＦＭが示されている。計算
は上に記述した電子光学的ユニツトで行われる。
【００３６】以上述べた各欄の下段にある３つの数字は
５回繰り返しの平均値，標準偏差，ＣＶパーセントを示
している。
５回繰り返しの平均値，標準偏差，ＣＶパーセントを示
している。
【００３７】図１２のグラフの下部分には２つのグラフ
があり，Ｘ軸にグラム当り個数とＹ軸に大きさ（有効直
径）を示している。左上部隅にある最初のグラフは左と
上のスケールを使つている。右下部に示された第２のグ
ラフは下と右のスケールを使つている。これらのグラフ
は試料繊維中のトラツシユ粒のサイズ分布を示している
が，データは各粒のサイズに対して試料のグラム当り個
数に標準化している。右上隅には方形のグラフ表示があ
り，試料中トラツシユの投影部分を示すＥ−Ｏユニツト
を示している。
があり，Ｘ軸にグラム当り個数とＹ軸に大きさ（有効直
径）を示している。左上部隅にある最初のグラフは左と
上のスケールを使つている。右下部に示された第２のグ
ラフは下と右のスケールを使つている。これらのグラフ
は試料繊維中のトラツシユ粒のサイズ分布を示している
が，データは各粒のサイズに対して試料のグラム当り個
数に標準化している。右上隅には方形のグラフ表示があ
り，試料中トラツシユの投影部分を示すＥ−Ｏユニツト
を示している。
【００３８】上に述べた出力は装置１０によつて提供さ
れる出力タイプの例である。トラツシユのグラム当り個
数の全ての試料とトラツシユの特別なカテゴリ，即ちサ
イズカテゴリに対して与えられる。同様にグラム当りト
ラツシユ個数はトラツシユの他のカテゴリ又はタイプに
対しても供給される。例えばコンピユータ２０は又セン
サ５０からきれいな繊維に関する電子光学的データを受
取り，電子光学的に個数と重量を決定する。かくして装
置１０は清浄繊維本数当りのトラツシユ個数，又は清浄
繊維のグラム当りトラツシユ個数を二者択一の出力とし
て出力する。
れる出力タイプの例である。トラツシユのグラム当り個
数の全ての試料とトラツシユの特別なカテゴリ，即ちサ
イズカテゴリに対して与えられる。同様にグラム当りト
ラツシユ個数はトラツシユの他のカテゴリ又はタイプに
対しても供給される。例えばコンピユータ２０は又セン
サ５０からきれいな繊維に関する電子光学的データを受
取り，電子光学的に個数と重量を決定する。かくして装
置１０は清浄繊維本数当りのトラツシユ個数，又は清浄
繊維のグラム当りトラツシユ個数を二者択一の出力とし
て出力する。
【００３９】今まで本発明について図１に示された装置
に対して説明してきたが，発明の主要なポイントはこの
特別な装置のどの部分にも限定するものではない。例え
ばトラツシユ粒を繊維から分離し，ランダムな呈示で別
々に測定するのが望ましいが，他の装置でも呈示を達成
するのに使用することもあり得る。例えば図１３に示す
ように，繊維８０とトラツシユ８２は一緒に薄い平面形
状で呈示される。この場合あらゆるトラツシユ粒がカメ
ラで捕えられるように，トラツシユは個々に分離されて
おり繊維の層はセンシングされる範囲内で十分に薄くな
るように分散されている。カメラ８４で見た試料９０の
範囲と試料の深さは，この具体例でのセンシング容量を
決め，力メラ８４は試料が呈示された時，センシング容
量中のトラツシユの実質的に全てを観察する。カメラは
可視スペクトル内外のイメージ情報を提供するものであ
ると理解されるべきである。特に含まれているものは近
赤外線イメージ手段と光の波長の重複に於けるイメージ
の供給である。照明は必要に応じて試料９０上の１又は
複数個のライト８６と，試料の下の１又は複数個のライ
ト８８によつて実施される。この具体例に於ては，まず
幾何学的構成と，トラツシユを構成するに十分な投影部
分を有する観察範囲内の全ての対象物を識別するために
従来のデジタルイメージ解析技術が使われている。ネツ
プは通常この範囲にあり，従つて対象の全ては更に分析
され，光沢ネツプとか成熟ネツプ等の繊維状対象物を排
除しなければならない。一度ネツプが排除されれば残つ
た対象物は計数され，コンピユータ２０はトラツシユ粒
８２によつて占められた画素（ピクセル）を勘定して，
各粒の投影範囲を決定する。個数と投影範囲が決定され
ると，他の必要なデータが既に説明した様に計算され
る。
に対して説明してきたが，発明の主要なポイントはこの
特別な装置のどの部分にも限定するものではない。例え
ばトラツシユ粒を繊維から分離し，ランダムな呈示で別
々に測定するのが望ましいが，他の装置でも呈示を達成
するのに使用することもあり得る。例えば図１３に示す
ように，繊維８０とトラツシユ８２は一緒に薄い平面形
状で呈示される。この場合あらゆるトラツシユ粒がカメ
ラで捕えられるように，トラツシユは個々に分離されて
おり繊維の層はセンシングされる範囲内で十分に薄くな
るように分散されている。カメラ８４で見た試料９０の
範囲と試料の深さは，この具体例でのセンシング容量を
決め，力メラ８４は試料が呈示された時，センシング容
量中のトラツシユの実質的に全てを観察する。カメラは
可視スペクトル内外のイメージ情報を提供するものであ
ると理解されるべきである。特に含まれているものは近
赤外線イメージ手段と光の波長の重複に於けるイメージ
の供給である。照明は必要に応じて試料９０上の１又は
複数個のライト８６と，試料の下の１又は複数個のライ
ト８８によつて実施される。この具体例に於ては，まず
幾何学的構成と，トラツシユを構成するに十分な投影部
分を有する観察範囲内の全ての対象物を識別するために
従来のデジタルイメージ解析技術が使われている。ネツ
プは通常この範囲にあり，従つて対象の全ては更に分析
され，光沢ネツプとか成熟ネツプ等の繊維状対象物を排
除しなければならない。一度ネツプが排除されれば残つ
た対象物は計数され，コンピユータ２０はトラツシユ粒
８２によつて占められた画素（ピクセル）を勘定して，
各粒の投影範囲を決定する。個数と投影範囲が決定され
ると，他の必要なデータが既に説明した様に計算され
る。
【００４０】最後に，国際特許出願公開第９１−１４１
６９号明細書によれば，試料のグラム当りトラツシユ粒
の個数の新しいデータでは，繊維試料の重量も又図１の
繊維センサ５０によつて電子光学的に決定されているこ
とを知るのは有効である。
６９号明細書によれば，試料のグラム当りトラツシユ粒
の個数の新しいデータでは，繊維試料の重量も又図１の
繊維センサ５０によつて電子光学的に決定されているこ
とを知るのは有効である。
【図１】トラツシユモニタリング装置のブロツクダイヤ
グラムである。
グラムである。
【図２】小さなトラツシユ微粒とセンサの説明図であ
る。
る。
【図３】大きなトラツシユ片とセンサの説明図である。
【図４】トラツシユの側面図である。
【図５】トラツシユの平面図である。
【図６】トラツシユの正面図である。
【図７】Ｙ軸に確率，Ｘ軸にトラツシユ粒の標準化され
た投影面積を示したグラムである。
た投影面積を示したグラムである。
【図８】Ｘ軸に微粒の直径，Ｙ軸に微粒がセンサに呈示
された時生ずる電圧を示したグラフである。
された時生ずる電圧を示したグラフである。
【図９】図８に示したと同じグラフであるが２つに別け
て示している。
て示している。
【図１０】本発明によつて測定されたグラム当り投影面
積と手動で決定された可視異物比率との間の相関を示す
グラフである。
積と手動で決定された可視異物比率との間の相関を示す
グラフである。
【図１１】本発明によつて測定されたグラム当り投影面
積と手動で決定された可視異物比率との間の相関を示す
表である。
積と手動で決定された可視異物比率との間の相関を示す
表である。
【図１２】装置からの代表的な出力の１例を示す。
【図１３】ピデオカメラを使い繊維の薄いウエブとトラ
ツシユを見ようとする別の具体的な例を示す図である。
ツシユを見ようとする別の具体的な例を示す図である。
１０ トラツシユモニタリング装置 １２ 繊維試料 １８ ライン ２０ コンピユータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジヨセフ・シー・ボールドウイン アメリカ合衆国テネシー37923・ノツク スヴイル・グレイランド・ドライブ9004 (72)発明者 マーク・ジー・タウンズ アメリカ合衆国テネシー37922・ノツク スヴイル・トウールズ・ベンド・ロード 3111 (72)発明者 ユエーテイー・チユー アメリカ合衆国テネシー37922・ノツク スヴイル・ハーパー・ロード1228 (72)発明者 マイケル・イー・ゲイロン アメリカ合衆国テネシー37922・ノツク スヴイル・ラーク・メドウ・レーン600 (56)参考文献 特開 昭63−165527（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−274863（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−97923（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 D01G 1/00 - 37/00 D06H 1/00 - 7/24
Claims (15)
- 【請求項１】 試料重量を測定し，重量単位で重量デー
タを作り出す為の重量測定手段と，センンシング場と，
試料中の全てのトラツシユ粒を光学的に検出できる状態
でセンシング場へ送る為の送り手段と，トラツシユ粒が
センシング場へ送られた時に全てのトラツシユ粒を検出
し，センシング場で少なくともトラツシユ粒の存在に応
ずる出力信号を出す為の光学的検出手段と，重量データ
と光学的検出手段の出力信号とを受取り，トラツシユ粒
の個数を数え，この個数を試料重量で除し，試料の単位
重量当りトラツシユ粒個数としてデータを出力する為の
処理手段とを含んでいる，繊維サンプル内のトラツシユ
をモニターする装置。 - 【請求項２】 前記光学的センシング手段が更に光学的
にトラツシユ粒の存在と，トラツシユ粒の投影されたト
ラツシユ粒の有効直径に応じた特性とを検知し，前記光
学的センシング手段が更に検知された特性に応じた出力
（Ｖ）を生じ，前記処理手段がトラツシユ粒の検知され
た特性と個数に応じた出力データに対して処置する，請
求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 前記処理手段が更に各トラツシユ粒の投
影範囲を各トラツシユ粒の検知された特性に基づいて計
算する，請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 前記処理手段が更にトラツシユ粒の式Ｖ
＝ｍＸ＋ｂによつて決定された閾値を越すセンサ出力
（Ｖ）を生じ，次の式Ｖ＝ａＸ２＋ｃＸ＋ｄ（ここに
ａ，ｂ，ｃ，ｄとｍは定数で，Ｘは各トラツシユ粒の投
影有効直径である）に基ずく閾値を下回るセンサ出力
（Ｖ）を生じるトラツシユ粒の投影有効直径を計算す
る，請求項２に記載の装置。 - 【請求項５】 前記処理手段が更に少なくともその部分
の各粒の検知された特性と，その部分の粒の個数を基に
トラツシユ粒の重量の予測をする，請求項４に記載の装
置。 - 【請求項６】 前記処理手段が全てのトラツシユ粒の検
知された特性と個数を基に可視異物比率（ＶＦＭ）を予
測する，請求項４に記載の装置。 - 【請求項７】 前記処理手段が検知された特性を基に各
トラツシユ粒のサイズを計算し，第１のサイズ範囲にあ
るトラツシユ粒についての試料の第１の重量当り個数を
計算し，第２のサイズ範囲にあるトラツシユ粒に対する
試料の第２の重量当り個数を計算し，試料の重量当り第
１及び第２の個数を出力する，請求項２に記載の装置。 - 【請求項８】 前記第１のサイズ範囲が，ダストとみな
される最大のトラツシユ粒に対応する事前設定値より小
さい検知特性を有するトラツシユ粒を含んでいる，請求
項７に記載の装置。 - 【請求項９】 前記処理手段が事前に設定範囲に入る，
検知された特性を生ずるトラツシユ粒を計算し，事前設
定範囲内にある検知された特性を有するトラツシユ粒の
試料重量当り個数を計数し，試料の重量当り個数を出力
する，請求項２に記載の装置。 - 【請求項１０】 前記処理手段が試料中の全てのトラツ
シユ粒の平均サイズを計算し，平均サイズ値を出力す
る，請求項２に記載の装置。 - 【請求項１１】 前記トラツシユ粒を少なくとも１つの
異なつたカテゴリーに分類する処理手段が，異なつたカ
テゴリー内のトラツシユ粒を計数してカテゴリー別の個
数を計数して，そのカテゴリー別個数に応じたデータを
出力する，請求項１に記載の装置。 - 【請求項１２】 前記データが試料の重量当りカテゴリ
ー別個数を含む，請求項１１に記載の装置。 - 【請求項１３】 更に繊維のみの特性を決定し，繊維デ
ータを生じ，その繊維データを前記処理手段に入力し，
その処理手段は繊維データのフアンクシヨンとして個数
の型式でデータを計算し，出力するものを含む，請求項
１に記載の装置。 - 【請求項１４】 前記特性とは繊維本数で，前記処理手
段が繊維本数当りトラツシユ個数の形でデータを計算
し，出力する，請求項１３に記載の装置。 - 【請求項１５】 前記特性とは清浄繊維重量で，前記処
理手段が清浄繊維の重量当りトラツシユ個数の形でデー
タを計算し，出力する，請求項１３に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/762905 | 1991-09-19 | ||
| US07/762,905 US5321496A (en) | 1990-03-14 | 1991-09-19 | Apparatus for monitoring trash in a fiber sample |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213827A JPH06213827A (ja) | 1994-08-05 |
| JP3218411B2 true JP3218411B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=25066353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28654792A Expired - Fee Related JP3218411B2 (ja) | 1991-09-19 | 1992-09-14 | 繊維サンプル内のトラツシユをモニターする装置 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5321496A (ja) |
| EP (1) | EP0533079B1 (ja) |
| JP (1) | JP3218411B2 (ja) |
| KR (1) | KR930006441A (ja) |
| CN (1) | CN1039364C (ja) |
| AU (1) | AU662554B2 (ja) |
| DE (1) | DE69223109T2 (ja) |
| ES (1) | ES2108721T3 (ja) |
| RU (1) | RU2060500C1 (ja) |
| TW (1) | TW206264B (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| US5469253A (en) | 1990-03-14 | 1995-11-21 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and method for testing multiple characteristics of single textile sample with automatic feed |
| EP0606620B1 (en) * | 1993-01-11 | 2000-02-09 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and methods for measurement and classification of trash in fiber samples |
| AT399400B (de) * | 1993-03-15 | 1995-04-25 | Binder Co Ag | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der reinheit von aufbereitetem altglas |
| AT400906B (de) * | 1994-10-25 | 1996-04-25 | Binder Co Ag | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der reinheit von aufbereitetem altglas |
| GR960100084A (el) * | 1995-04-13 | 1996-12-31 | Trutzschler Gmbh & Co Kg | Μηχανισμος για ενα λαναρι για τον εντοπισμο οχλουντων σωματιδιων, ιδιαιτερως σωματιδιων προς απορριψη, κομβων, θυλακωτων κομβων, θηλειων και παρομοιων. |
| US6029316A (en) * | 1997-01-08 | 2000-02-29 | Premier Polytronics Limited | Environmental conditioning methods and apparatus for improved materials testing: rapidcon and rapidair |
| US5890264A (en) * | 1997-10-06 | 1999-04-06 | Premier Polytronics Limited | Aeromechanical individualizer |
| US5929460A (en) * | 1997-10-06 | 1999-07-27 | Premier Polytronics Limited | High throughput nep measurement |
| US6088094A (en) * | 1997-12-23 | 2000-07-11 | Zellweger Uster, Inc. | On-line sliver monitor |
| JP2003517108A (ja) * | 1999-12-16 | 2003-05-20 | ツエルヴエーゲル・ルーヴア・アクチエンゲゼルシヤフト | 圧縮された紡織繊維から成る繊維流中の異材料を識別して排出する方法及び装置 |
| WO2002042753A1 (en) * | 2000-11-27 | 2002-05-30 | Jensen Denmark A/S | An apparatus and a method of inspecting pieces of cloth |
| SE0004523L (sv) * | 2000-12-07 | 2002-06-08 | Svante Bjoerk Ab | Förfarande och anordning för bestämning av förekomsten av föroreningar i ett material |
| DE10063861B4 (de) * | 2000-12-21 | 2014-08-28 | Trützschler GmbH & Co Kommanditgesellschaft | Vorrichtung an einer Spinnereivorbereitungsmaschine, z. B. Reiniger, Öffner, Karde o. dgl. zur Erfassung von ausgeschiedenem Abfall |
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| DE10214657A1 (de) * | 2001-10-05 | 2003-04-10 | Rieter Ag Maschf | Verfahren und Prüfgerät zum Prüfen von Fasermaterial auf dessen Kennwerte |
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-
1991
- 1991-09-19 US US07/762,905 patent/US5321496A/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
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