JP3181989B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

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JP3181989B2 JP21463492A JP21463492A JP3181989B2 JP 3181989 B2 JP3181989 B2 JP 3181989B2 JP 21463492 A JP21463492 A JP 21463492A JP 21463492 A JP21463492 A JP 21463492A JP 3181989 B2 JP3181989 B2 JP 3181989B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ナイフエッジ法を用い
てフォーカシング誤差を検出する光ピックアップ装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】ナイフエッジ法を用いてフォーカシング
誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いてトラ
ッキング誤差を検出する光ピックアップ装置の従来例を
図15に示す。
【0003】同図において、半導体レーザ素子1から出
力された信号光は、カップリングレンズ2によって平行
光に変換されたのちに偏光ビームスプリッタ3に入射
し、この信号光は偏光ビームスプリッタ3によって反射
されて、1/4波長板4に導かれる。1/4波長板4を
透過した信号光は、対物レンズ5により集光されて、追
記型光ディスク6の記録面に結像される。
【0004】追記型光ディスク6から反射された信号光
は、対物レンズ5を透過して略平行光に変換された後に
再度1/4波長板4に入射され、1/4波長板4を透過
した信号光は、偏光ビームスプリッタ3を透過する。
【0005】このようにして、偏光ビームスプリッタ3
を透過した追記型光ディスク6からの信号光は、レンズ
7によって集束され、その光束のほぼ半分は、ナイフエ
ッジを構成する分割鏡8により反射されて、トラッキン
グ方向(すなわち、追記型光ディスク6の半径方向)に
受光面が二分割されている、トラッキングエラー検出用
の受光素子9に入射される。
【0006】また、レンズ7により集束される光束の残
りの部分は、分割鏡8の先端8aと平行な分割線で受光
面が二分割されている、フォーカシングエラー検出用の
受光素子10に入射される。
【0007】そして、受光素子9の分割された2つの受
光面から出力される受光信号の差に基づいてトラッキン
グ誤差信号が得られ、受光素子10の分割された2つの
受光面から出力される受光信号の差に基づいてフォーカ
シング誤差信号が得られる。また、受光素子9の受光信
号の和に基づいて、追記型光ディスク6からの再生信号
を得る。
【0008】また、対物レンズ5には、対物レンズ5を
トラッキング方向およびフォーカシング方向に移動する
ための対物レンズ移動機構11が付設されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このような、従来装置
には、次のような不都合があった。
【0010】すなわち、安価な小型の受光素子9を用い
るためには、受光素子9が受光する光スポットをある程
度小さくする必要があり、したがって、ナイフエッジを
構成する分割鏡8と受光素子9との光路長がある程度大
きくなり、光ピックアップ装置が大きくなるという不都
合を生じていた。
【0011】また、図16に示すように、受光素子9に
受光される信号光のスポットSPは、主として、トラッ
キング誤差成分を含まない回折0次光があらわれ、この
スポットSPの両側SPa,SPbの部分にトラッキン
グ誤差成分を含む回折1次光があらわれる。
【0012】このため、例えば、温度変化や経年変化な
どが原因となって、分割鏡8と受光素子9との位置関係
がずれて、信号光のスポットSPの中心位置と受光素子
9の分割線の位置がずれた場合、受光素子9の2つの受
光面から出力される受光信号の差に基づいて形成される
トラッキング誤差信号にオフセット成分が生じるという
不都合を生じていた。
【0013】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、小型化が可能、あるいは、温度変化や経年変
化などが原因となりトラッキング誤差信号に生じるオフ
セット成分を解消できる光ピックアップ装置を提供する
ことを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、ナイフエッジ
法を用いてフォーカシング誤差を検出するとともに、プ
ッシュプル法を用いてトラッキング誤差を検出する光ピ
ックアップ装置において、記録媒体から反射される信号
光を集束するレンズと、上記レンズの集束光を分割する
分割鏡を備え、上記分割鏡は、上記集束光の反射面に集
光作用のある凹面部が形成され、上記分割鏡の上記凹面
部からの反射光を上記トラッキング誤差の検出に用いる
とともに、上記分割鏡に反射されない上記集束光を上記
フォーカシング誤差の検出に用いるようにしたものであ
る。
【0015】また、ナイフエッジ法を用いてフォーカシ
ング誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いて
トラッキング誤差を検出する光ピックアップ装置におい
て、記録媒体から反射される信号光を集束するレンズ
と、上記レンズの集束光を分割する分割鏡を備え、上記
分割鏡は、上記集束光の反射面を集光作用のある円筒状
の凹面に形成され、上記分割鏡の上記反射面からの反射
光を上記トラッキング誤差の検出に用いるとともに、上
記分割鏡に反射されない上記集束光を上記フォーカシン
グ誤差の検出に用いるようにしたものである。
【0016】また、ナイフエッジ法を用いてフォーカシ
ング誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いて
トラッキング誤差を検出する光ピックアップ装置におい
て、記録媒体から反射される信号光を分割する分割鏡の
遮光部に、2つの平面を凹状に突き合わせた谷を形成
し、その谷の稜線が信号光の光軸に一致するようにした
ものである。
【0017】
【0018】
【0019】
【0020】
【0021】
【作用】したがって、分割鏡の遮光部が集光作用を有し
ているので、分割鏡からトラッキング誤差検出用の受光
素子までの光路長を短縮でき、装置を小型化することが
できる。
【0022】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら、本発明の実
施例を詳細に説明する。
【0023】図1および図2は、本発明の一実施例にか
かる光ピックアップ装置を示している。なお、図におい
て、図15と同一部分および相当する部分には、同一符
号を付している。
【0024】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡15において、その分割する光束
を反射する反射面15aは、集光作用のある凹面に形成
されている。
【0025】したがって、この反射面15aで反射され
る光束は、レンズ7で集束された後に、反射面15aに
よってさらに集束されるので、この光束が受光される受
光素子9で従来装置と同等のスポット径を得るときに、
分割鏡15から受光素子9までの光路長を短縮すること
ができる。
【0026】これによって、光ピックアップ装置を小型
化することができ、また、装置コストを低減することが
できる。
【0027】図3および図4は、本発明の他の実施例に
かかる光ピックアップ装置を示している。なお、図にお
いて、図1および図2と同一部分および相当する部分に
は、同一符号を付している。
【0028】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡16において、その分割する光束
を反射する反射面16aは、分割鏡16の幅方向に長い
集光作用のある凹状の円筒面に形成されている。
【0029】したがって、この反射面16aで反射され
る光束は、レンズ7で集束された後に、反射面16aに
よってさらに集束されるので、この光束が受光される受
光素子9で従来装置と同等のスポット径を得るときに、
分割鏡16から受光素子9までの光路長を短縮すること
ができる。
【0030】これによって、光ピックアップ装置を小型
化することができ、また、装置コストを低減することが
できる。
【0031】図5および図6(a),(b)は、本発明
のさらに他の実施例を示している。なお、図において、
図1および図2と同一部分および相当する部分には、同
一符号を付している。
【0032】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡17の反射面17aは、2つの平
面17aa,17abを凹状に突き合わせた谷に形成さ
れており、その谷の稜線17acが信号光の光軸に一致
するように位置決めされている。
【0033】したがって、平面17aaに入射した光束
は、この平面17aaによって反射されて受光素子9の
受光面9aで受光されるとともに、平面17abに入射
した光束は、この平面17abで反射されて受光面9b
で受光される。
【0034】ここで、平面17aaと平面17abは、
その反射方向が互いに交差するので、受光面9aに形成
されるスポットSaと、受光面bに形成されるスポット
Sbは、受光素子9の分割線9cから所定距離の位置に
形成される。
【0035】この結果、例えば、温度変化や経年変化な
どによって、分割鏡17と受光素子9との位置関係がず
れたときでも、受光素子9の2つの受光面9a,9bで
受光されるスポットSa,Sbの光量は変化せず、した
がって、受光面9a,9bから出力される受光信号の差
信号からなるトラッキング誤差信号にオフセット成分が
生じることを抑制できる。
【0036】図7および図8(a),(b)は、本発明
のまたさらに他の実施例を示している。なお、図におい
て、図1および図2と同一部分および相当する部分に
は、同一符号を付している。
【0037】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡18の反射面18aは、2つの平
面18aa,18abを凸状に突き合わせた山に形成さ
れており、その山の稜線18acが信号光の光軸に一致
するように位置決めされている。
【0038】したがって、平面18aaに入射した光束
は、この平面18aaによって反射されて受光素子9の
受光面9aで受光されるとともに、平面18abに入射
した光束は、この平面18abで反射されて受光面9b
で受光される。
【0039】ここで、平面18aaと平面18abは、
その反射方向が互いに遠ざかるので、受光面9aに形成
されるスポットSaと、受光面9bに形成されるスポッ
トSbは、受光素子9の分割線9cから所定距離の位置
に形成される。
【0040】この結果、例えば、温度変化や経年変化な
どによって、分割鏡18と受光素子9との位置関係がず
れたときでも、受光素子9の2つの受光面9a,9bで
受光されるスポットSa,Sbの光量は変化せず、した
がって、受光面9a,9bから出力される受光信号の差
信号からなるトラッキング誤差信号にオフセット成分が
生じることを抑制できる。
【0041】図9および図10(a),(b)は、本発
明の別な実施例を示している。なお、図において、図1
および図2と同一部分および相当する部分には、同一符
号を付している。
【0042】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡19の反射面19aは、傾斜角の
異なる2つの斜面19aa,19abをもつ断面略鋸歯
状に形成されており、その鋸歯状の段差19acが信号
光の光軸に一致するように位置決めされている。
【0043】したがって、斜面19aaに入射した光束
は、この斜面19aaによって反射されて受光素子9の
受光面9aで受光されるとともに、斜面19abに入射
した光束は、この斜面19abで反射されて受光面9b
で受光される。
【0044】ここで、斜面19aaの傾斜よりも斜面1
9abの傾斜が小さい値に設定されているので、受光面
9aに形成されるスポットSaと、受光面bに形成され
るスポットSbは、受光素子9の分割線9cから所定距
離の位置に形成される。
【0045】この結果、例えば、温度変化や経年変化な
どによって、分割鏡19と受光素子9との位置関係がず
れたときでも、受光素子9の2つの受光面9a,9bで
受光されるスポットSa,Sbの光量は変化せず、した
がって、受光面9a,9bから出力される受光信号の差
信号からなるトラッキング誤差信号にオフセット成分が
生じることを抑制できる。
【0046】図11および図12は、本発明のまたさら
に別の実施例にかかる光ピックアップ装置を示してい
る。なお、図において、図15と同一部分および相当す
る部分には、同一符号を付している。
【0047】図において、分割鏡8と受光素子9の間に
は、分割鏡8によって反射された光束を、その光軸で2
分割するとともに、分割光束をそれぞれ異なる方向に偏
向する回折素子部材20が配設されている。
【0048】この回折素子部材20は、回折方向が異な
る2つの回折素子部材20aおよび回折素子部材20b
を、その端面で貼り合わせたものであり、その回折素子
部材20aと回折素子部材20bの連結部20cが、分
割鏡8によって反射された光束の光軸に一致するよう
に、位置決めされている。
【0049】したがって、回折素子部材20aに入射し
た光束は、この回折素子部材20aによって回折されて
受光素子9の受光面9aで受光されるとともに、回折素
子部材20bに入射した光束は、この回折素子部材20
bで反射されて受光面9bで受光される。
【0050】ここで、回折素子部材20aと回折素子部
材20bの回折方向が互いに異なるので、受光面9aに
形成されるスポットSaと、受光面9bに形成されるス
ポットSbは、受光素子9の分割線9cから所定距離の
位置に形成される。
【0051】この結果、例えば、温度変化や経年変化な
どによって、分割鏡8と受光素子9との位置関係がずれ
たときでも、受光素子9の2つの受光面9a,9bで受
光されるスポットSa,Sbの光量は変化せず、したが
って、受光面9a,9bから出力される受光信号の差信
号からなるトラッキング誤差信号にオフセット成分が生
じることを抑制できる。
【0052】図13および図14(a),(b)は、本
発明の別な実施例を示している。なお、図において、図
1および図2と同一部分および相当する部分には、同一
符号を付している。
【0053】図において、レンズ7によって集束された
光束を分割する分割鏡21の反射面21aには、互いに
回折方向が異なる回折素子部材21aaと回折素子部材
21abが配設されており、回折素子部材21aaと回
折素子部材21abの連結部21acが、レンズ7の集
束光束の光軸に一致するように、位置決めされている。
【0054】したがって、回折素子部材21aaに入射
した光束は、この回折素子部材21aaによって回折さ
れて受光素子9の受光面9aで受光されるとともに、回
折素子部材21abに入射した光束は、この回折素子部
材21abで反射されて受光面9bで受光される。
【0055】ここで、回折素子部材21aaと回折素子
部材21abの回折方向が互いに異なるので、受光面9
aに形成されるスポットSaと、受光面9bに形成され
るスポットSbは、受光素子9の分割線9cから所定距
離の位置に形成される。
【0056】この結果、例えば、温度変化や経年変化な
どによって、分割鏡21と受光素子9との位置関係がず
れたときでも、受光素子9の2つの受光面9a,9bで
受光されるスポットSa,Sbの光量は変化せず、した
がって、受光面9a,9bから出力される受光信号の差
信号からなるトラッキング誤差信号にオフセット成分が
生じることを抑制できる。
【0057】なお、上述した各実施例では、本発明を追
記型光ディスク装置の光ピックアップ装置に適用してい
るが、本発明は、それ以外の光ディスク装置の光ピック
アップ装置についても、同様にして適用することができ
る。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ナイフエッジ法を用いてフォーカシング誤差を検出する
とともに、プッシュプル法を用いてトラッキング誤差を
検出する光ピックアップ装置において、記録媒体から反
射される信号光を集束するレンズと、上記レンズの集束
光を分割する分割鏡を備え、上記分割鏡は、上記集束光
の反射面に集光作用のある凹面部が形成され、上記分割
鏡の上記凹面部からの反射光を上記トラッキング誤差の
検出に用いるとともに、上記分割鏡に反射されない上記
集束光を上記フォーカシング誤差の検出に用いるように
したので、分割鏡の遮光部が集光作用を有し、それによ
り、分割鏡からトラッキング誤差検出用の受光素子まで
の光路長を短縮でき、その結果、装置を小型化すること
ができるという効果を得る。また、ナイフエッジ法を用
いてフォーカシング誤差を検出するとともに、プッシュ
プル法を用いてトラッキング誤差を検出する光ピックア
ップ装置において、記録媒体から反射される信号光を集
束するレンズと、上記レンズの集束光を分割する分割鏡
を備え、上記分割鏡は、上記集束光の反射面を集光作用
のある円筒状の凹面に形成され、上記分割鏡の上記反射
面からの反射光を上記トラッキング誤差の検出に用いる
とともに、上記分割鏡に反射されない上記集束光を上記
フォーカシング誤差の検出に用いるようにしたので、分
割鏡の遮光部が集光作用を有し、それにより、分割鏡か
らトラッキング誤差検出用の受光素子までの光路長を短
縮でき、その結果、装置を小型化することができるとい
う効果を得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装置
の光学系を例示した概略図。
【図2】図1の分割鏡の構成を示した概略斜視図。
【図3】本発明の他の実施例にかかる光ピックアップ装
置の光学系を例示した概略図。
【図4】図3の分割鏡の構成を示した概略斜視図。
【図5】本発明のさらに他の実施例にかかる光ピックア
ップ装置の光学系を例示した概略図。
【図6】図5の分割鏡の構成を示した概略斜視図。
【図7】本発明のまたさらに他の実施例にかかる光ピッ
クアップ装置の光学系を例示した概略図。
【図8】図7の分割鏡の構成を示した概略斜視図。
【図9】本発明の別な実施例にかかる光ピックアップ装
置の光学系を例示した概略図。
【図10】図9の分割鏡の構成を示した概略斜視図。
【図11】本発明のさらに別な実施例にかかる光ピック
アップ装置の光学系を例示した概略図。
【図12】図11の回折素子部材を示した概略斜視図。
【図13】本発明のまたさらに別な実施例にかかる光ピ
ックアップ装置の光学系を例示した概略図。
【図14】図13の分割鏡を示した概略斜視図。
【図15】光ピックアップ装置の従来例を示した概略
図。
【図16】受光素子に形成されるスポットを説明するた
めの概略図。
【符号の説明】
8,15,16,17,19,21 分割鏡 20,20a,20b,21aa,21ab 回折素子
部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−122026(JP,A) 特開 平2−149944(JP,A) 特開 平2−158923(JP,A) 特開 昭63−104229(JP,A) 特開 昭63−204523(JP,A) 特開 昭62−205546(JP,A) 特開 昭57−109811(JP,A) 特開 平2−166630(JP,A) 実開 平3−61614(JP,U) 実開 昭62−142724(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/09 - 7/22

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ナイフエッジ法を用いてフォーカシング
    誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いてトラ
    ッキング誤差を検出する光ピックアップ装置において、 記録媒体から反射される信号光を集束するレンズと、 上記レンズの集束光を分割する分割鏡を備え、 上記分割鏡は、上記集束光の反射面に集光作用のある凹
    面部が形成され、 上記分割鏡の上記凹面部からの反射光を上記トラッキン
    グ誤差の検出に用いるとともに、上記分割鏡に反射され
    ない上記集束光を上記フォーカシング誤差の検出に用い
    ることを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 ナイフエッジ法を用いてフォーカシング
    誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いてトラ
    ッキング誤差を検出する光ピックアップ装置において、 記録媒体から反射される信号光を集束するレンズと、 上記レンズの集束光を分割する分割鏡を備え、 上記分割鏡は、上記集束光の反射面を集光作用のある円
    筒状の凹面に形成され、 上記分割鏡の上記反射面からの反射光を上記トラッキン
    グ誤差の検出に用いるとともに、上記分割鏡に反射され
    ない上記集束光を上記フォーカシング誤差の検出に用い
    ることを特徴とする光ピックアップ装置。
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