JP3177994B2 - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JP3177994B2
JP3177994B2 JP7865291A JP7865291A JP3177994B2 JP 3177994 B2 JP3177994 B2 JP 3177994B2 JP 7865291 A JP7865291 A JP 7865291A JP 7865291 A JP7865291 A JP 7865291A JP 3177994 B2 JP3177994 B2 JP 3177994B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ等の焦点検出装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、一眼レフレックスカメラにお
ける焦点検出方式として位相差検出方式が知られてい
る。図20によってこの方式を説明する。撮影レンズ2
1の領域21aを透過して入射した光束は視野マスク3
1、フィールドレンズ32、絞り開口部33aおよび再
結像レンズ34を通り光電変換素子アレイ41a上に結
像する。同様に撮影レンズ21の領域21bを透過して
入射した光束は視野マスク31、フィールドレンズ3
2、絞り開口部33bおよび再結像レンズ35を通り光
電変換素子アレイ41b上に結像する。
【0003】ここで、撮影レンズ21が予定焦点面より
も前に被写体の鮮鋭像を結ぶいわゆる前ピン状態におい
ては、光電変換素子アレイ41a,41b上に結像した
一対の被写体像は互いに近づき、逆に、予定焦点面より
後ろに被写体の鮮鋭像を結ぶいわゆる後ピン状態ではそ
れらは互いに遠ざかる。撮影レンズ21が被写体の鮮鋭
像を予定焦点面上に結ぶいわゆる合焦時には、光電変換
素子アレイ41a,41b上の被写体像は相対的に一致
する。従って、この一対の被写体像を光電変換素子アレ
イ41a,41bで光電変換して電気信号に変え、さら
に、不図示のマイクロコンピュ−タでこれらの信号を演
算処理して一対の被写体像の相対位置を求めると、これ
によって撮影レンズ21の焦点調節状態、ここでは合焦
状態からのずれ量とそのずれ方向(以後、デフォーカス
量DFと呼ぶ)が得られる。
【0004】従来のこの種の装置では図21に示すよう
に、焦点検出面50上で、撮影レンズの光軸LXと交わ
る位置(ロ)を中心とする±2〜±3mm程度の領域
(イ)〜(ハ)を焦点検出領域として、この範囲の像を
一対の再結像レンズ34,35によりIC基板41上の
光電変換素子アレイ41a,41b上に結び、両光電変
換素子アレイ41a,41bの画像出力から相対的像ず
れ量を検知して焦点検出を行なう。
【0005】ところで一眼レフカメラの焦点検出装置で
は、F5.6前後の開放F値をもつ交換レンズに対して
も焦点検出光学系にケラレが生じないようにする必要が
ある。F5.6の撮影レンズの射出瞳位置は、多くの場
合、ハッチングで示す50mm〜200mm程度の範囲のど
こかにあることが多く、射出瞳位置がこの程度の範囲に
あるF5.6レンズでケラレが生じないためには、検出
光束の広がりαをF7前後にする必要がある。
【0006】さらにフィ−ルドレンズ32により再結像
レンズ34,35の開口を射出瞳位置100mm前後(図
中L1の範囲)に投影するようにすれば、光軸から像高
2〜3mmの点(イ),(ハ)を通る光束(破線)につい
ても、射出瞳位置が50mm〜200mmのF5.6レンズ
に対してケラレなしに焦点検出が可能である。この様な
構成をとることにより、従来の焦点検出装置において
は、像高さ3mm程度の範囲についてケラレなしに焦点検
出が可能であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで光軸中心から
3〜4mm以上離れた位置(ニ),(ホ),(ヘ)を焦点
検出領域にして焦点検出を行ないたいという要求があ
る。そこで、例えば像高7mmの点(ホ)を中心とする
(ニ),(ホ),(ヘ)を焦点検出領域とするように再
結像レンズ61a,61bとIC基板71とを図21の
ように配置する。ここで、この焦点検出光学系を、再結
像レンズ61a,61bの開口がフィ−ルドレンズ32
によりほぼ射出瞳位置100mmの所に共役像を作るよう
に構成するものとする。この場合、図から明らかなごと
く、焦点検出領域(ニ),(ホ),(ヘ)に対してF
5.6の撮影レンズを使用してもケラレが生じないの
は、撮影レンズの射出瞳位置が100mm前後のL1の範
囲に入っている場合だけである。したがって、使用でき
る交換レンズが制約を受け、実用上問題が多い。
【0008】本発明の目的は、撮影レンズの光軸から離
れた位置を焦点検出領域の中心とした場合でも各種の射
出瞳位置をもつ撮影レンズに対して正確に焦点検出を行
ない得る焦点検出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】一実施例を示す図1およ
び図2に対応づけて本発明を説明する。 (1)請求項1の発明は、所定面上に配置された複数対
の光電変換素子アレイSaとSb、ScとSd、Seと
Sfと、撮影レンズ1を通過した被写体像の光束を複数
対の光電変換素子アレイSaとSb、ScとSd、Se
とSfとに再結像する一対の再結像レンズLa,Lb
と、撮影レンズ1の予定焦点面近傍に配置され、一対の
再結像レンズLa,Lbに撮影レンズ1の光束を導く複
数のフィールドレンズFa,Fc,Feとを有し、複数
のフィールドレンズFa,Fc,Feのそれぞれは、撮
影レンズ1の異なる射出瞳位置上Poa,Poc,Po
eに一対の再結像レンズLa,Lbの瞳開口Na,Nb
の共役像をそれぞれ結ぶ光学性能を有することを特徴と
する。 (2)請求項2の発明は、請求項1の焦点検出装置にお
いて、複数対の光電変換素子アレイSaとSb、Scと
Sd、SeとSfのうちの一対を選択する選択手段CU
をさらに有し、選択手段CUは、撮影レンズ1の射出瞳
位置の情報に基づいて複数対の光電変換素子アレイSa
とSb、ScとSd、SeとSfのうちの一対を選択す
ることを特徴とする。一実施例を示す図1および図19
に対応づけて本発明を説明する。 (3)請求項3の発明は、撮影レンズ1の光軸外の所定
領域内に互いに近接して設定された複数の焦点検出領域
に対してそれぞれ各一対設けられた複数対の光電変換素
子アレイSaとSb、ScとSd、SeとSfと、撮影
レンズ1を通過した被写体像の光束を複数対の光電変換
素子アレイSaとSb、ScとSd、SeとSfに再結
像する再結像レンズLと、撮影レンズ1の予定焦点面近
傍に配置され、再結像レンズLに撮影レンズ1の光束を
導くフィールドレンズFとを有し、前記複数対の光電変
換素子アレイの各対は瞳分割方向とは直交する方向に並
んでいる焦点検出装置に適用され、撮影レンズ1の射出
瞳位置の情報を発生する情報発生手段EPOと、射出瞳
位置の情報に基づいて、複数対の光電変換素子アレイS
aとSb、ScとSd、SeとSfのなかから正常に機
能する一対の光電変換素子アレイを選択し、選択された
一対の光電変換素子アレイからの出力信号に基づいて焦
点検出情報を演算して撮影レンズ1を制御する制御信号
を出力する制御手段CUとを備えることを特徴とする。 (4)請求項4の発明は、請求項3に記載の焦点検出装
置において、再結像レンズLとフィールドレンズFは、
複数対の光電変換素子アレイSaとSb、ScとSd、
SeとSfとの各対に対応するレンズ部LaとLb、L
cとLd、LeとLfおよびFa,Fc,Feをそれぞ
れ備えたことを特徴とする。
【0009】
【作用】(1)請求項1の発明 複数のフィールドレンズFa,Fc,Feはそれぞれ光
学性能が異なるので、撮影レンズ1の異なる射出瞳位置
上Poa,Poc,Poeに、一対の再結像レンズL
a,Lbの瞳開口Na,Nbの共役像をそれぞれ結ぶ。
再結像レンズは一対だけでよく、小型化が可能となる。 (2)請求項2の発明 選択手段CUは、撮影レンズ1の射出瞳位置の情報に基
づいて複数対の光電変換素子アレイSaとSb、Scと
Sd、SeとSfのうちの一対を選択する。 (3)請求項3の発明 複数対の光電変換素子アレイSaとSb、ScとSd、
SeとSfにより、軸外の所定領域内に互いに近接して
設定された複数の焦点検出領域のそれぞれに対して焦点
検出が行われる。情報発生手段EPOから出力される撮
影レンズ1の射出瞳位置の情報に基づいて、複数対の光
電変換素子アレイSaとSb、ScとSd、SeとSf
のなかから正常に機能する一対の光電変換素子アレイを
選択して焦点検出情報を演算する。制御手段CUは、こ
の焦点検出情報により撮影レンズ1を制御する制御信号
を出力する。複数対の光電変換素子アレイSaとSb、
ScとSd、SeとSfのそれぞれの対は瞳分割方向と
は直交する方向に並び、いずれか一対の光電変換素子ア
レイにより焦点検出が行われる。
【0010】なお、本発明の構成を説明する課題を解決
するための手段の項および作用の項では、本発明を分か
り易くするために実施例の図を用いたが、これにより本
発明が実施例に限定されるものではない。
【0011】
【実施例】−第1の実施例− 図1〜図11により本発明に係る焦点検出装置の第1の
実施例を説明する。図1は本発明の概念を示す図で、撮
影レンズ1の射出瞳上の複数の領域を通過して入射する
複数の光束は焦点検出面2上にそれぞれ結像し、さらに
後述する焦点検出モジュールMDに入射し、その光電変
換素子アレイ上に再結像して各光束について焦点検出が
行なわれる。
【0012】焦点検出モジュールMDは、図2に詳細を
示す通り、焦点検出面2と共役な面上に複数の光電変換
素子アレイSa,Sb、Sc,Sd、Se,Sfが配置
されたIC基板Sと、撮影レンズ1の各領域Ta,T
b、Tc,Td、Te,Tfを通過する光束の像を各光
電変換素子アレイ上に結像させる再結像レンズLa,L
bを有するレンズ基板Lと、レンズ基板Lの前方に配置
され各再結像レンズと対向する開口絞りNa,Nbを有
する絞り板Nと、光学性能が異なる3つの部分Fa,F
c,Feを有し、再結像レンズLa,Lbの瞳開口N
a,Nbの共役像を領域Ta,Tb、Tc,Td、T
e,Tfを通って異なる射出瞳位置上にそれぞれ結像さ
せるフィールドレンズFと、光電変換素子アレイに不要
な光束が入射しないように矩形の開口MOを有する視野
マスクMとで構成される。図2中、Da,Dc,Deは
焦点検出面2上での焦点検出領域であり、再結像レンズ
La,LbとフィールドレンズFにより光電変換素子ア
レイ対Sa,Sbと、Sc,Sdと、Se,Sfとが重
なり合って投影される領域である。
【0013】ここで、図3によりフィールドレンズFに
ついて説明する。フィールドレンズFの3つの部分F
a,Fc,Feは、図3に示すように、異なる射出瞳位
置POa,POc,POe上に再結像レンズLa,Lb
の瞳開口Na,Nbの共役像をそれぞれ結ぶようなパワ
ーを備え、例えば、図4(a),(b)に示す形状に構
成される。
【0014】一般に、35mm一眼レフカメラの交換レ
ンズの射出瞳は100mmを中心として50mm〜30
0mmの範囲に分布するから、上記射出瞳位置POa,
POc,POeは、具体的には、それぞれ50〜85m
m程度、75〜135mm程度、120mm以上に設定
される。ただし、P0a<POc<POeである。
【0015】図4(a)のフィールドレンズFは、撮影
レンズから遠い側を平面にして撮影レンズ側を3分割し
たもので、図4(b)のフィールドレンズは、撮影レン
ズから遠い側を曲面にして撮影レンズ側を3分割したも
のである。このように、撮影レンズ側を分割すると光束
分離上好ましい。また、光軸から最も離れたフィールド
レンズFeが最も遠い射出瞳POe上に開口瞳Na,N
bの像を結ぶようにしているが、光軸から最も離れたフ
ィールドレンズFeが最も近い射出瞳POa上に開口瞳
Na,Nbの像を結ぶようにしてもよい。光学設計上
は、図示のようにするのが好ましい。
【0016】図1からもわかるように、撮影レンズ1の
射出瞳上で下側に設定された領域Ta,Tbを通過する
光束はフィールドレンズFaを介して再結像レンズL
a,Lbにより光電変換素子アレイSa,Sb上に結像
され、領域Ta,Tbよりもやや上方に設定された領域
Tc,Tdを通過する光束はフィールドレンズFcを介
して再結像レンズLa,Lbにより光電変換素子アレイ
Sc,Sd上に結像され、領域Tc,Tdよりもやや上
方に設定された領域Te,Tfを通過する光束はフィー
ルドレンズFeを介して再結像レンズLa,Lbにより
光電変換素子アレイSe,Sf上に結像される。本明細
書中、それぞれ対をなす光電変換素子アレイSaとS
b、ScとSd、SeとSfをそれぞれ第1〜第3のア
レイ対と呼び、符号S1〜S3で表す。なお、図1中の
領域Ta〜Tfの撮影レンズ瞳開口に対する相対的位置
関係は撮影レンズの瞳位置によって変化する。
【0017】さらに図1において、CUはCPU、RO
M、RAM、その他の周辺回路からなる制御回路であ
り、それぞれ対をなす3組の光電変換素子アレイ対S1
〜S3からの信号により各組の各アレイ間の像ズレを検
出して撮影レンズの焦点検出面2上からのデフォーカス
量を求めて焦点検出を行なう焦点検出演算部AFCを含
む。EPOは、撮影レンズの射出瞳位置に関する情報を
発生する瞳位置情報発生部であり、交換レンズ内のレン
ズROM内に焦点距離に応じて予め書込まれた値を発生
したり、あるいはズームレンズではズーミングによって
変化する焦点距離に応じた値を発生する。また、HPO
は、焦点検出モジュールMDの高さ位置情報を発生する
センサ位置情報発生部である。LDは撮影レンズの駆動
部、DSは各種の表示部である。
【0018】例えば、本焦点検出装置が仕様の異なる各
種のカメラに組込むことができる汎用タイプのものであ
る場合、焦点検出モジュールMDの光軸からの高さ位置
はそれぞれの機種によって異なる。そこで、ROM内に
予め、焦点検出モジュールMDの高さに対する各アレイ
対S1〜S3で焦点検出可能な射出瞳位置範囲の対応テ
ーブルを作成しておき、組み立て時にセンサ位置情報発
生部HPOを通して各機種の高さ位置を制御回路CUに
入力する。焦点検出モジュールMDがある高さ位置に設
置される時には、それに応じて第1〜第3のアレイ対S
1〜S3で焦点検出できる撮影レンズの射出瞳位置範囲
が決るから、センサ位置情報発生部HPOからのセンサ
高さ位置信号によりその様な条件を選択するように制御
する。
【0019】図5に基づいてさらに詳しく説明する。図
5は、3組のアレイ対S1〜S3のそれぞれがケラレな
しで焦点検出可能な射出瞳位置範囲を示す図で、PXは
各射出瞳位置における光束の広がりを示す。今、図5の
ように焦点検出モジュールMDが設置されている場合に
は、第1のアレイ対S1はイの射出瞳位置範囲を、第2
のアレイ対S2はロの範囲を、第3のアレイ対S3はハ
の範囲をケラレなしで焦点検出可能である。
【0020】すなわち、焦点検出モジュールMDの高さ
位置を決めると、各アレイ対で焦点検出できる射出瞳範
囲が定まるから、センサ位置情報発生部HPOを通して
上記センサ位置情報を制御部CUに入力してアレイ対と
射出瞳位置との対応テーブルを選択することにより、焦
点検出モジュールMDを汎用性ある焦点検出装置として
使用できる。
【0021】図6は焦点検出モジュールMDをその像ズ
レ検出方向に垂直方向に移動して光軸からの高さを調節
可能にした実施例である。SDは焦点検出モジュールM
Dを駆動する駆動装置であり、撮影者により任意の位置
に焦点検出モジュールMDを設定できる。REは焦点検
出モジュールMDの高さ位置を検出してセンサ高さ位置
を情報を出力するセンサである。
【0022】このような実施例の装置は、次のように使
用して好適である。図5の高さ位置で射出瞳位置がイに
ある撮影レンズを使用して第1のアレイ対S1で焦点検
出を行なっている時、焦点検出領域を光軸に近い領域に
シフトするため焦点検出モジュールMDを光軸側に移動
する場合を考える。焦点検出モジュールMDの移動によ
りアレイ対S1がケラレ無しで焦点検出できる射出瞳が
イから外れると、焦点検出ができなくなる。このような
場合、焦点検出モジュールMDの高さ位置と射出瞳位置
とに連動して第2のアレイ対S2または第3のアレイ対
S3に自動的に切換えれば、ケラレ無しでより光軸に近
い領域を焦点検出できる。
【0023】図7は焦点検出モジュールを移動可能にし
た具体例である。焦点検出モジュール取り付け部11の
中央部には、メインミラーMMとサブミラーSMを介し
て導かれる光軸近傍の焦点検出光束を導く開口12があ
けられ、モジュール取り付け部11内に設置された図示
しない周知の焦点検出モジュールの一対の光電変換素子
上にその開口12を通過する光束が導かれ、これによ
り、光軸近傍領域の焦点検出を行なう。一方、その開口
12の両側には溝13,14が刻設され、各溝13,1
4にそれぞれ図2に示したと同様に構成される焦点検出
モジュールMD1,MD2が摺動可能に設けられてい
る。各焦点検出モジュールMD1,MD2には、メイン
ミラーMMとサブミラーSMを介して導かれる光軸外の
焦点検出光束をそれぞれ導く開口15,16があけら
れ、それらの開口15,16を通過する光束が各モジュ
ールMD1,MD2のセンサ基板S上に設けられた3組
の光電変換素子アレイ対上に導かれる。これにより、光
軸外の焦点検出を行う。
【0024】移動可能な各焦点検出モジュールMD1,
MD2の位置は図8に示すように検出される。すなわ
ち、溝13(14)に沿って摺動抵抗17を延設させる
とともに、各モジュールMD1,MD2にその摺動抵抗
17と接触する接点18を設ける。摺動抵抗17の端部
と接点18との間の抵抗値はモジュール位置に応じて変
化するから、検出回路19でその抵抗値に応じた電圧値
を読取ってモジュールMD1,MD2の位置を検出でき
る。
【0025】いま、モジュール取り付け部11内に設置
された図示しない焦点検出モジュールの一対の光電変換
素子からの信号により光軸近傍領域の焦点検出を行なっ
ているとき、光軸外の領域で焦点検出を行なうため焦点
検出モジュールMD1を操作者が選択して、焦点検出領
域を任意所望の位置に設定したとする。このとき、検出
回路19で焦点検出モジュールMD1の位置を検出する
とともに、撮影レンズの射出瞳位置を図1に示した射出
瞳位置情報発生部EPOで読取り、焦点検出モジュール
MD1の位置に基づいて、この射出瞳位置に最適なアレ
イ対を3組のアレイ対S1〜S3の中から選択し、選択
された一対のアレイ対からの焦点検出信号により焦点検
出が行なわれる。
【0026】なお、いずれのアレイ対によっても焦点検
出できない時は、いずれかのアレイ対で焦点検出できる
ように焦点検出モジュールを移動するようにしてもよ
い。
【0027】図9および図10に示すように、焦点検出
モジュールMDが光軸LXから離れても所定位置の射出
瞳内の領域RXを睨むように、焦点検出モジュールMD
の摺動溝20を曲率面にすると、撮影画面のほぼ全領域
を焦点検出できる。溝20の曲率中心は、35mm一眼レ
フカメラでは、焦点検出面の前方約70〜140mmの範
囲内に設定するのが好ましく、とくに約100mmに設定
するのがよい。
【0028】この図9,10の実施例のように焦点検出
モジュールの向きを焦点検出領域の位置に応じて変更で
きるようにすれば、どの焦点検出領域でもいずれかの組
のアレイ対で焦点検出できる。
【0029】図11は、3対の光電変換素子アレイSa
とSb、ScとSd、SeとSfを選択して使用する回
路構成を示す。RG1〜3はシフトレジスタであり、そ
れぞれスイッチSW1〜3を介して出力端子OUTに接
続されている。各スイッチSW1〜3は制御回路CUに
より切換え制御され、所望の焦点検出信号が取り出され
る。
【0030】なお、図1の構成において、光軸外の焦点
検出モジュールMDを移動可能に設置せず、固定しても
よい。また、射出瞳位置によらず開放F値によりいずれ
か一対の光電変換素子を選択するようにしてもよい。あ
るいは、射出瞳位置と開放F値とに基づいて選択しても
よい。
【0031】−応用例1− 次に、開放F値が小さい明るいレンズでは、ケラレの生
じない光軸外の焦点検出領域が複数存在することがあ
る。この場合、それら複数の領域からの焦点検出信号に
より焦点検出演算することができる。以下、3つの例を
説明する。
【0032】(1)低輝度時にS/N比を改善して焦点
検出検出精度を向上させる実施例を図12のフローチャ
ートに基づいて説明する。なお、このプログラムは図1
の制御回路CU内で実行される。ステップS1で低輝度
か否かを判定し、低輝度ならステップS2でケラレの生
じていない領域が複数あるか判定する。複数領域で焦点
検出可能であれば、ステップS3に進み、それらケラレ
の生じていない複数のアレイ対からの焦点検出信号を合
成する。これは、上述したスイッチSW1〜SW3の少
なくとも2つを閉じることにより達成され、そのとき、
出力端子OUTから取り出される信号が合成信号とな
る。ステップS4では、この合成信号に基づいてデフォ
ーカス演算を実行し、ステップS5で、焦点検出結果の
表示と、レンズ駆動を行う。ステップS6で合焦を判定
し、合焦していない時には、ステップS1に戻り、上述
した手順を再度実行する。低輝度でない時、あるいはケ
ラレの生じていない領域が1つの場合には、ステップS
7に進み、ケラレが生じていないその領域に対応するア
レイ対からの焦点検出信号に基づいてデフォーカス演算
を実行する。
【0033】このように、ケラレの生じていない複数の
領域の焦点検出信号を合成してデフォーカス演算を行う
ので、低輝度時のS/N比が改善され、焦点検出演算精
度が向上する。
【0034】(2)複数の焦点検出領域に優先順位をつ
けて、より適切な焦点検出演算を行う実施例を図13に
基づいて説明する。ステップS11でケラレの生じない
焦点検出領域が複数あるかを判定し、複数ある時はステ
ップS12に進む。ステップS12においては、予めつ
けられた優先順位で各焦点検出信号を順次に処理し、1
つでも焦点検出演算が得られたらその時点で焦点検出演
算を終了する。ケラレの生じていない焦点検出領域が1
つだけの時はステップS13に進み、その焦点検出領域
からの焦点検出信号に基づいて焦点検出演算を実行す
る。ステップS14では、得られたデフォーカス量の大
きさから焦点検出可能かどうかを判定し、肯定されると
ステップS15において、その焦点検出演算結果により
レンズ駆動と合焦表示を行う。また、ステップS15で
焦点検出不能と判定される場合には、ステップS16に
進んで、撮影レンズをスキャンして改めて光電変換素子
アレイに電荷を蓄積し、ステップS11に戻り、上述の
ステップを繰り返す。
【0035】(3)このような(2)のアルゴリズムを
次のように変形することもできる。図13のステップS
12を図14のステップS22のようにしてもよい。つ
まり、ケラレのない焦点検出領域が複数ある時、すべて
の焦点検出信号に基づいて焦点検出演算を実行し、予め
定められている選択アルゴリズムにより1つの焦点検出
結果を抽出する。この場合、複数の焦点検出結果を1つ
だけ選択するだけでなく、複数の焦点検出結果を合成し
て最適な1つの焦点検出結果を得てもよい。
【0036】−第2の実施例− 図15は、光軸近傍では焦点検出モジュールMD3によ
り複数の焦点検出領域について焦点検出を行い、光軸外
では第1の実施例のように構成された焦点検出モジュー
ルMD1,2により焦点検出を行う焦点検出装置を示す
図である。図15において、51は撮影レンズ、52は
視野マスク、53aは光軸近傍の焦点検出用フィールド
レンズ、53b,53cは光軸外の焦点検出用フィール
ドレンズ、54aは光軸近傍の焦点検出用開口絞り、5
4b,54cは光軸外の焦点検出用開口絞り、55aは
光軸近傍の再結像レンズ、55b,55cは光軸外の再
結像レンズ、56aは光軸近傍の焦点検出用センサ基
板、56b,56cは光軸外の焦点検出用センサ基板で
ある。
【0037】ここで、光軸近傍の焦点検出用フィールド
レンズ53aは、それぞれ光学性能の異なる部分53
1,532,533を備え、光軸近傍の焦点検出用再結
像レンズ55aは、再結像レンズ551,552,55
3を備える。さらに、センサ基板56aには、3対の光
電変換素子アレイ561,562,563が設けられ、
撮影レンズ51の光軸近傍に設定された一対の焦点検出
領域をそれぞれ通過する光束は、フィールドレンズ53
1,532,533および再結像レンズ551,55
2,553を介してそれぞれ3対の光電変換素子アレイ
561,562,563上に結像される。
【0038】このような焦点検出装置を備えたカメラの
ファインダには、図16(a)に符号61,62,6
3,64,65で示すように焦点検出領域が表示され
る。ここで、焦点検出領域61〜63は点線で囲まれた
円内に設定された光軸近傍の焦点検出領域、64,65
は光軸外の焦点検出領域である。光軸近傍の焦点検出領
域の半径は7mm〜12mmに設定される。なお、D
a,Dc、Deは図2に示す焦点検出領域である。ま
た、光軸外の焦点検出領域Da,Dc,Deを意図的に
離して配置した場合には、図16(b)に符号66〜6
8で示すように個別に焦点検出領域を表示してもよい。
この場合、画面枠外にいずれの領域が選択されているか
を示す表示Ba,Bc,Beを設けてもよい。開放F値
が小さく明るいレンズでは、焦点検出領域Da,Dc,
Deの間隔を積極的にあけ、選択可能な焦点検出領域の
数を増やすのが好ましい。
【0039】このような焦点検出装置には次のような利
点がある。いま、図15に示すように、光軸近傍で3つ
の焦点検出領域61〜63を設定し、光軸外で2つの焦
点検出領域64,65を設定する場合、単純に光軸近傍
のセンサ基板56を延長して光軸外の焦点検出用光電変
換素子アレイも一体に設けようとすると、基板が大型化
してコストアップになる。かといって、図17に示すよ
うに、光軸外焦点検出用のフィールドレンズ53'b,
53'cの光学性能を破線で示すように設定すると、光
学的に無理があり好ましくない。また、光軸外の焦点検
出領域の焦点検出が撮影レンズの射出瞳によってはでき
なくなるおそれがある。そこで、図15のような構成を
採用すると、センサ基板は大型化せずコストアップを最
小限にでき、また、光軸外の焦点検出用フィールドレン
ズの光学性能も良好となる。さらに、撮影レンズの射出
瞳が異なって光軸外の焦点検出が広範囲に可能となる。
【0040】−第2の実施例の変形例− 第2の実施例の光軸外の焦点検出装置を図18あるいは
図19のように構成することができる。図18に示す構
成は、第1の実施例の構成において、複数の焦点検出領
域に応じて再結像レンズを3対設けたものである。この
場合、視野マスクMには3つの焦点検出領域に対応した
開口Ma,Mc,Meがあけられるが、その他の構成は
同一である。
【0041】図18の構成の利点は次の点にある。光軸
外の焦点検出領域Da,Dc,Deの間隔を大きく(例
えば、1〜2mm)する場合、光学收差性能は、図1の
ように一対の再結像レンズを設ける場合よりも向上させ
ることができる。
【0042】一方、図1、2の構成は図18に比べて次
のような利点がある。図2の場合は、センサ基板S上に
設けられた3対のアレイの相互の位置はサブミクロンの
オーダで位置決めされている。したがって、再結像レン
ズLaによる光電変換素子アレイScの像と、再結像レ
ンズLbによる光電変換素子アレイSdの像とが焦点検
出面2上の焦点検出領域Dcで相互に厳密(とくに、画
素ならび方向に垂直な方向)に重なり合うように、再結
像レンズ基板Lとセンサ基板Sとを位置調整すれば、再
結像レンズLaによる光電変換素子アレイSaの像と、
再結像レンズLbによる光電変換素子アレイSbの像と
が焦点検出面2上の焦点検出領域Daで一致し、また、
再結像レンズLaによる光電変換素子アレイSeの像
と、再結像レンズLbによる光電変換素子アレイSfの
像とが焦点検出面2上の焦点検出領域Deで一致する。
【0043】これに対して、図18の焦点検出装置の構
成では、3対の再結像レンズが1枚のプラスチック基板
L’上に成型で設けられるため、各レンズ位置をサブミ
クロンオーダで位置決めできず、位置合せ作業が難かし
い。
【0044】図19の焦点検出モジュールMDは、焦点
検出面2と共役な面上に複数の光電変換素子アレイS
a,Sb、Sc,Sd、Se,Sfが配置されたIC基
板Sと、各光電変換素子アレイ上に撮影レンズ1の各領
域Ta,Tb、Tc,Td、Te,Tfを通過する光束
の像を結像させる再結像レンズLa,Lb,Lc,L
d,Le,Lfを有するレンズ基板Lと、レンズ基板L
の前方に配置され各再結像レンズと対向する開口絞りを
有する絞り板(不図示)と、撮影レンズ1の各領域を通
過して焦点検出面2上に結像する光束の像を再結像レン
ズを介して各光電変換素子アレイ上に投影させるフィー
ルドレンズFと,光電変換素子アレイに不要な光束が入
射しないように矩形の開口を有する視野マスク(不図
示)とで構成される。図中、Dは焦点検出面2上での焦
点検出領域を、PO1,PO2は異なる射出瞳位置を示
す。
【0045】図19からもわかるように、撮影レンズ1
の下側に設定された領域Ta,Tbを通過する光束は再
結像レンズLa,Lbにより光電変換素子アレイSa,
Sb上に結像され、領域Ta,Tbよりもやや上方に設
定された領域Tc,Tdを通過する光束は再結像レンズ
Lc,Ldにより光電変換素子アレイSc,Sd上に結
像され、領域Tc,Tdよりもやや上方に設定された領
域Te,Tfを通過する光束は再結像レンズLe,Lf
により光電変換素子アレイSe,Sf上に結像される。
この図19の光学系においては、3対の光電変換素子ア
レイがほとんど同じ検出領域Dを見ているので、撮影レ
ンズによりケラレの生じる光電変換素子アレイ対が生じ
ても、他の対で同じ検出領域が検出できる利点がある。
しかし、F値の小さい明るいレンズを使った場合で、ど
の光電変換素子対にもケラレが生じていない場合でも検
出領域の数が増やせない欠点がある。すなわち図1の場
合、図18の場合、図19の場合にはそれぞれ一長一短
があり、使用目的でどのタイプにするかを選ぶことにな
る。
【0046】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、種々の異なる
射出瞳位置を有する撮影レンズに対応可能な焦点検出装
置が実現でき、ケラレなどの影響による焦点検出精度の
悪化を防止することができる。請求項2の発明によれ
ば、請求項1の効果に加えて選択手段を設けたことで、
撮影レンズの射出瞳位置に最適な光電変換素子アレイを
選択できるので、正確な焦点検出が可能となる。請求項
3および4の発明によれば、撮影レンズの光軸外に配置
された光電変換素子アレイはケラレの影響を受けやすく
焦点検出精度が出にくいが、撮影レンズの射出瞳位置の
情報に応じて複数対の光電変換素子アレイのなかから正
常に機能する光電変換素子アレイを選択して焦点検出情
報を得るようにしたので、精度のよい焦点検出が可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の概略を示す全体構成図
【図2】焦点検出モジュールの詳細を示す斜視図
【図3】焦点検出モジュールを構成するフィールドレン
ズの説明図
【図4】フィールドレンズの形状を示す図
【図5】第1〜第3の各光電変換素子アレイ対で焦点検
出可能な射出瞳位置範囲の関係を示す図
【図6】焦点検出モジュールを移動可能にした実施例を
示す図
【図7】焦点検出モジュールの移動機構を示す斜視図
【図8】移動可能な焦点検出モジュールの位置を検出す
る機構を示す図
【図9】移動可能な焦点検出モジュールの焦点検出方向
をその高さ位置にかかわらず所定の射出瞳内領域に向け
る機構を示す平面図
【図10】図9に示す機構の斜視図
【図11】光電変換素子アレイから焦点検出信号を取り
出す回路を示す図
【図12】低輝度時に光軸外の複数の焦点検出領域で焦
点検出可能な時に、複数の焦点検出信号を合成してS/
N比を向上可能にする手順を示すフローチャート
【図13】図12の手順の変形例を示すフローチャート
【図14】図12の手順の他の変形例を示すフローチャ
ート
【図15】光軸外に図1のような複数の焦点検出領域を
設定するとともに、光軸近傍の焦点検出領域についても
複数の焦点検出領域を設定する実施例を示す図
【図16】図15に示す実施例の撮影画面内の表示例を
示す図
【図17】図15に示す実施例の効果を説明するための
【図18】図15の実施例の光軸外の焦点検出装置の変
形例を示す斜視図
【図19】図15の実施例の光軸外の焦点検出装置の他
の変形例を示す斜視図
【図20】従来から知られている位相差式焦点検出光学
系を説明する図
【図21】従来の焦点検出モジュールで焦点検出できる
範囲を説明する図
【符号の説明】
1:撮影レンズ 2:焦点検出面 F:フィールドレンズ Fa,Fb,Fc:フィールドレンズの光学性能の異な
る部分 L:レンズ基板 La〜Lf:再結像レンズ N:開口絞り Na,Nb:瞳開口 S:IC基板 Sa〜Sf:光電変換素子アレイ S1〜S1:対をなす光電変換素子の組 MD:焦点検出モジュール EP1:第1の射出瞳位置 EP2:第2の射出瞳位置 CU:制御部 EPO:射出瞳位置情報発生部 HPO:センサ位置情報発生部

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定面上に配置された複数対の光電変換素
    子アレイと、 撮影レンズを通過した被写体像の光束を前記複数対の光
    電変換素子アレイに再結像する一対の再結像レンズと、 前記撮影レンズの予定焦点面近傍に配置され、前記一対
    の再結像レンズに前記撮影レンズの光束を導く複数のフ
    ィールドレンズとを有し、 前記複数のフィールドレンズのそれぞれは、前記撮影レ
    ンズの異なる射出瞳位置上に前記一対の再結像レンズの
    瞳開口の共役像をそれぞれ結ぶ光学性能を有することを
    特徴とする焦点検出装置。
  2. 【請求項2】請求項1の焦点検出装置において、 前記複数対の光電変換素子アレイのうちの一対を選択す
    る選択手段をさらに有し、 前記選択手段は、前記撮影レンズの射出瞳位置の情報に
    基づいて前記複数対の光電変換素子アレイのうちの一対
    を選択することを特徴とする焦点検出装置。
  3. 【請求項3】撮影レンズの光軸外の所定領域内に互いに
    近接して設定された複数の焦点検出領域に対してそれぞ
    れ各一対設けられた複数対の光電変換素子アレイと、前
    記撮影レンズを通過した被写体像の光束を前記複数対の
    光電変換素子アレイに再結像する再結像レンズと、前記
    撮影レンズの予定焦点面近傍に配置され、前記再結像レ
    ンズに前記撮影レンズの光束を導くフィールドレンズと
    を有し、前記複数対の光電変換素子アレイの各対は瞳分
    割方向とは直交する方向に並んでいる焦点検出装置にお
    いて、 前記撮影レンズの射出瞳位置の情報を発生する情報発生
    手段と、 前記射出瞳位置の情報に基づいて、前記複数対の光電変
    換素子アレイのなかから正常に機能する一対の光電変換
    素子アレイを選択し、選択された一対の光電変換素子ア
    レイからの出力信号に基づいて焦点検出情報を演算して
    前記撮影レンズを制御する制御信号を出力する制御手段
    とを備えることを特徴とする焦点検出装置。
  4. 【請求項4】請求項3に記載の焦点検出装置において、 前記再結像レンズと前記フィールドレンズとは、前記複
    数対の光電変換素子アレイの各対に対応するレンズ部を
    それぞれ備えることを特徴とする焦点検出装置。 【0001】
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