JP3075452B2 - 位置測定装置 - Google Patents
位置測定装置Info
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- JP3075452B2 JP3075452B2 JP05154322A JP15432293A JP3075452B2 JP 3075452 B2 JP3075452 B2 JP 3075452B2 JP 05154322 A JP05154322 A JP 05154322A JP 15432293 A JP15432293 A JP 15432293A JP 3075452 B2 JP3075452 B2 JP 3075452B2
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- JP
- Japan
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- sine
- sine signal
- signal
- signals
- equation
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、検出器より位置変化に
応じて得られる位相の９０゜異なる２つの正弦信号を処
理して位置情報を得る位置測定装置に関する。
応じて得られる位相の９０゜異なる２つの正弦信号を処
理して位置情報を得る位置測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種装置は、図３に示されてい
るように、検出器１から得られる位相の９０゜異なる２
つの正弦信号を、アンプ２により増幅し、波形整形器３
によって矩形波信号に変換し、矩形波信号の個数をカウ
ンタ回路４により計数することにより、粗位置情報を得
て、処理回路２０に供給する一方、アンプ２により増幅
された位相の９０゜異なる２つの正弦信号をＡ／Ｄコン
バータ１９に印加し、それぞれ、デジタル化した後、処
理回路２０に供給する。処理回路２０は、ディジタル化
された位相の９０゜異なる２つの正弦信号をＲＯＭに記
憶されたｔａｎ-1表に入力して細かい変位を得、この細
かい変位に上記粗位置情報を加算して位置情報を導出
し、これを表示部２１に表示するとともに、外部出力部
２２に出力する。なお、図３に示された従来の位置測定
装置の詳細は、特開昭５６−９６２１３号に開示されて
いる。
るように、検出器１から得られる位相の９０゜異なる２
つの正弦信号を、アンプ２により増幅し、波形整形器３
によって矩形波信号に変換し、矩形波信号の個数をカウ
ンタ回路４により計数することにより、粗位置情報を得
て、処理回路２０に供給する一方、アンプ２により増幅
された位相の９０゜異なる２つの正弦信号をＡ／Ｄコン
バータ１９に印加し、それぞれ、デジタル化した後、処
理回路２０に供給する。処理回路２０は、ディジタル化
された位相の９０゜異なる２つの正弦信号をＲＯＭに記
憶されたｔａｎ-1表に入力して細かい変位を得、この細
かい変位に上記粗位置情報を加算して位置情報を導出
し、これを表示部２１に表示するとともに、外部出力部
２２に出力する。なお、図３に示された従来の位置測定
装置の詳細は、特開昭５６−９６２１３号に開示されて
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の位置測定装置においては、入力する正弦信号の
精度の変動により、測定精度が悪化してしまうという問
題点があった。
た従来の位置測定装置においては、入力する正弦信号の
精度の変動により、測定精度が悪化してしまうという問
題点があった。
【０００４】すなわち、検出器１より得られる位相の９
０゜異なる正弦信号をＡ，Ｂとする時、この２信号の位
相誤差がαである場合には、Ａ＝ＣＯＳθ、Ｂ＝ＳＩＮ
（θ＋α）で示されるが、角度θにより表される位置を
求める為にこの２つの正弦信号をＡ／Ｄコンバータ１９
に入力し、ｔａｎ-1表より角度θすなわち位置を求める
と、上記αにより位置誤差を生じてしまう。このαが一
定であれば補正定数として処理換算は可能であるが、一
定ではない為にこの操作は不可能である。
０゜異なる正弦信号をＡ，Ｂとする時、この２信号の位
相誤差がαである場合には、Ａ＝ＣＯＳθ、Ｂ＝ＳＩＮ
（θ＋α）で示されるが、角度θにより表される位置を
求める為にこの２つの正弦信号をＡ／Ｄコンバータ１９
に入力し、ｔａｎ-1表より角度θすなわち位置を求める
と、上記αにより位置誤差を生じてしまう。このαが一
定であれば補正定数として処理換算は可能であるが、一
定ではない為にこの操作は不可能である。
【０００５】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、検出器から出力される信号の精度に影響
されることなく、精度の高い変位すなわち位置情報を得
ることができる位置測定装置を提供することを目的とす
る。
たものであり、検出器から出力される信号の精度に影響
されることなく、精度の高い変位すなわち位置情報を得
ることができる位置測定装置を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の位置測定装置
は、検出器より位置変化に応じて得られる位相の９０゜
異なる第１および第２の正弦信号を処理して、位置を測
定する位置測定装置であって、第１の正弦信号から第２
の正弦信号を減算して第３の正弦信号を発生するととも
に、第１および第２正弦信号を加算して第４の正弦信号
を発生する加減算手段（例えば、図１の加減算回路５）
と、第３および第４の正弦信号のそれぞれの最大値およ
び最小値を測定する最大最小測定手段（例えば、図１の
最大最小測定回路６）と、この最大最小測定手段によっ
て測定された最大値および最小値に基づいて求められた
第３および第４正弦信号の振幅の比に基づいて、第３お
よび第４正弦信号の比を補正し、得られた補正値から位
置を求める処理手段（例えば、図１の処理回路７）とを
備えることを特徴とする。
は、検出器より位置変化に応じて得られる位相の９０゜
異なる第１および第２の正弦信号を処理して、位置を測
定する位置測定装置であって、第１の正弦信号から第２
の正弦信号を減算して第３の正弦信号を発生するととも
に、第１および第２正弦信号を加算して第４の正弦信号
を発生する加減算手段（例えば、図１の加減算回路５）
と、第３および第４の正弦信号のそれぞれの最大値およ
び最小値を測定する最大最小測定手段（例えば、図１の
最大最小測定回路６）と、この最大最小測定手段によっ
て測定された最大値および最小値に基づいて求められた
第３および第４正弦信号の振幅の比に基づいて、第３お
よび第４正弦信号の比を補正し、得られた補正値から位
置を求める処理手段（例えば、図１の処理回路７）とを
備えることを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明の位置測定装置においては、第１の正弦
信号から第２の正弦信号が差し引かれて第３の正弦信号
が発生され、第１および第２正弦信号が加算されて第４
の正弦信号が発生され、第３および第４の正弦信号のそ
れぞれの最大値および最小値が測定され、測定された最
大値および最小値に基づいて求められた第３および第４
正弦信号の振幅の比に基づいて、第３および第４正弦信
号の比が補正され、得られた補正値から位置が求められ
る。第３正弦信号と第４正弦信号との間には位相差はな
く、第１正弦信号と第２正弦信号との間に存在する位相
差は、第３正弦信号の振幅および第４正弦信号の振幅に
すべて吸収される。従って、第３および第４正弦信号の
比を求め、この比を、第３および第４正弦信号の振幅の
比に基づいて補正することにより、位置情報を高精度に
得ることができる。
信号から第２の正弦信号が差し引かれて第３の正弦信号
が発生され、第１および第２正弦信号が加算されて第４
の正弦信号が発生され、第３および第４の正弦信号のそ
れぞれの最大値および最小値が測定され、測定された最
大値および最小値に基づいて求められた第３および第４
正弦信号の振幅の比に基づいて、第３および第４正弦信
号の比が補正され、得られた補正値から位置が求められ
る。第３正弦信号と第４正弦信号との間には位相差はな
く、第１正弦信号と第２正弦信号との間に存在する位相
差は、第３正弦信号の振幅および第４正弦信号の振幅に
すべて吸収される。従って、第３および第４正弦信号の
比を求め、この比を、第３および第４正弦信号の振幅の
比に基づいて補正することにより、位置情報を高精度に
得ることができる。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明の位置測定装置の一実施例の
構成を示す。図１中、検出器１、アンプ２、波形整形器
３およびカウンタ回路４は、図３の従来例と同一であ
る。加減算回路５は、検出器１より位置変化に応じて得
られアンプ２によって増幅された位相の９０゜異なる第
１および第２の正弦信号を加算して第４の正弦信号を発
生するとともに、第１の正弦信号から第２の正弦信号を
減算して第３の正弦信号を発生する。最大最小測定回路
６は、第３および第４の正弦信号のそれぞれの最大値お
よび最小値を測定する。処理回路７は、最大最小測定回
路６によって測定された最大値および最小値に基づいて
求められた第３および第４正弦信号の振幅の比に基づい
て、第３および第４正弦信号の比を補正し、得られた補
正値から細かい変位を得、この細かい変位にカウンタ回
路４からの粗位置情報を加算して位置情報を導出し、こ
れを表示器８に表示するとともに、外部出力部９に出力
する。
構成を示す。図１中、検出器１、アンプ２、波形整形器
３およびカウンタ回路４は、図３の従来例と同一であ
る。加減算回路５は、検出器１より位置変化に応じて得
られアンプ２によって増幅された位相の９０゜異なる第
１および第２の正弦信号を加算して第４の正弦信号を発
生するとともに、第１の正弦信号から第２の正弦信号を
減算して第３の正弦信号を発生する。最大最小測定回路
６は、第３および第４の正弦信号のそれぞれの最大値お
よび最小値を測定する。処理回路７は、最大最小測定回
路６によって測定された最大値および最小値に基づいて
求められた第３および第４正弦信号の振幅の比に基づい
て、第３および第４正弦信号の比を補正し、得られた補
正値から細かい変位を得、この細かい変位にカウンタ回
路４からの粗位置情報を加算して位置情報を導出し、こ
れを表示器８に表示するとともに、外部出力部９に出力
する。
【０００９】次に、図１の実施例の動作を具体的に説明
する。検出器１から出力される第１および第２の正弦信
号を、それぞれ、Ａ＝ＣＯＳθ、Ｂ＝ＳＩＮ（θ＋α）
とすると、加減算回路５では、第３正弦信号ＨＡ＝Ａ−
Ｂ、第４正弦信号ＨＢ＝Ａ＋Ｂを作成する。第３正弦信
号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢは、次の（式１）および
（式２）により示される。
する。検出器１から出力される第１および第２の正弦信
号を、それぞれ、Ａ＝ＣＯＳθ、Ｂ＝ＳＩＮ（θ＋α）
とすると、加減算回路５では、第３正弦信号ＨＡ＝Ａ−
Ｂ、第４正弦信号ＨＢ＝Ａ＋Ｂを作成する。第３正弦信
号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢは、次の（式１）および
（式２）により示される。
【００１０】
【数１】
【００１１】
【数２】
【００１２】ここで、
【数３】
【００１３】
【数４】
【００１４】
【数５】 である。
【００１５】従って、第３正弦信号ＨＡおよび第４正弦
信号ＨＢは、次の（式６）および（式７）のように示す
ことができる。
信号ＨＢは、次の（式６）および（式７）のように示す
ことができる。
【００１６】
【数６】
【００１７】
【数７】
【００１８】ただし、
【数８】
【００１９】
【数９】
【００２０】
【数１０】
【００２１】（式６）および（式７）から明かなよう
に、加減算回路５より得られる第３正弦信号ＨＡおよび
第４正弦信号ＨＢは、振幅差はあるものの、第１正弦信
号Ａおよび第２正弦信号の位相誤差αが消去された２信
号である。
に、加減算回路５より得られる第３正弦信号ＨＡおよび
第４正弦信号ＨＢは、振幅差はあるものの、第１正弦信
号Ａおよび第２正弦信号の位相誤差αが消去された２信
号である。
【００２２】次に、加減算回路５より得られた第３正弦
信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢは、最大最小測定回路
６に供給される。この最大最小測定回路６は、例えば、
図２に示されているように、マルチプレクサ１１、Ａ／
Ｄコンバータ１２、比較回路１３および記憶部１４から
構成される。
信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢは、最大最小測定回路
６に供給される。この最大最小測定回路６は、例えば、
図２に示されているように、マルチプレクサ１１、Ａ／
Ｄコンバータ１２、比較回路１３および記憶部１４から
構成される。
【００２３】マルチプレクサ１１は、第３正弦信号ＨＡ
および第４正弦信号ＨＢを交互にＡ／Ｄコンバータ１２
に供給する。Ａ／Ｄコンバータ１２は、入力された第３
正弦信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢをデジタル化す
る。比較回路１３は、記憶部１４に記憶された最大値お
よび最小値と、デジタル化された第３正弦信号ＨＡおよ
び第４正弦信号ＨＢの値とを逐次比較し、第３正弦信号
ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢの値が最大値よりも大きい
時には新たな最大値として記憶部１４に記憶し、第３正
弦信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢの値が最小値よりも
小さい場合は新たな最小値として記憶部１４に記憶す
る。
および第４正弦信号ＨＢを交互にＡ／Ｄコンバータ１２
に供給する。Ａ／Ｄコンバータ１２は、入力された第３
正弦信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢをデジタル化す
る。比較回路１３は、記憶部１４に記憶された最大値お
よび最小値と、デジタル化された第３正弦信号ＨＡおよ
び第４正弦信号ＨＢの値とを逐次比較し、第３正弦信号
ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢの値が最大値よりも大きい
時には新たな最大値として記憶部１４に記憶し、第３正
弦信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢの値が最小値よりも
小さい場合は新たな最小値として記憶部１４に記憶す
る。
【００２４】第３正弦信号ＨＡおよび第４正弦信号ＨＢ
のそれぞれの最大値と最小値を求める動作は、第１正弦
信号Ａおよび第２正弦信号Ｂが少なくとも１周期以上入
力されるまで行う。第１および第２正弦信号Ａ，Ｂの周
期変化は、カウンタ回路４より得ることができる。
のそれぞれの最大値と最小値を求める動作は、第１正弦
信号Ａおよび第２正弦信号Ｂが少なくとも１周期以上入
力されるまで行う。第１および第２正弦信号Ａ，Ｂの周
期変化は、カウンタ回路４より得ることができる。
【００２５】上述の動作により得られた第３正弦信号Ｈ
Ａの最大値および最小値ならびに第４正弦信号ＨＢの最
大値と最小値を、ＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMIN
とすると、記憶部１４は、これらの値を、カウンタ回路
４より得られる情報に応じて記憶場所を変更し、複数セ
ットのＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを記憶す
る。なお、この動作は検出器１の移動停止時、すなわち
信号変化の無い時には行わない。
Ａの最大値および最小値ならびに第４正弦信号ＨＢの最
大値と最小値を、ＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMIN
とすると、記憶部１４は、これらの値を、カウンタ回路
４より得られる情報に応じて記憶場所を変更し、複数セ
ットのＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを記憶す
る。なお、この動作は検出器１の移動停止時、すなわち
信号変化の無い時には行わない。
【００２６】次に、処理回路７は、記憶部１４に記憶さ
れたＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを必要時に呼
び出し、（式６）および（式７）中の振幅Ｌａ，Ｌｂを
次の（式１１）および（式１２）により求める。
れたＨＡMAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを必要時に呼
び出し、（式６）および（式７）中の振幅Ｌａ，Ｌｂを
次の（式１１）および（式１２）により求める。
【００２７】 Ｌａ＝（ＨＡMAX−ＨＡMIN）／２ ・・・（式１１）
【００２８】 Ｌｂ＝（ＨＢMAX−ＨＢMIN）／２ ・・・（式１２）
【００２９】そして、処理回路７は、複数セットのＨＡ
MAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを使用し、振幅Ｌａお
よびＬｂの平均を取る。この様に得られた振幅Ｌａおよ
びＬｂを用い、（式６）および（式７）のＨＡおよびＨ
Ｂから振幅項を削除すると、
MAX，ＨＡMIN，ＨＢMAX，ＨＢMINを使用し、振幅Ｌａお
よびＬｂの平均を取る。この様に得られた振幅Ｌａおよ
びＬｂを用い、（式６）および（式７）のＨＡおよびＨ
Ｂから振幅項を削除すると、
【００３０】 ＨＡ’＝ＣＯＳ（ψ） ・・・（式１３）
【００３１】 ＨＢ’＝ＳＩＮ（ψ） ・・・（式１４） となり、単純なｔａｎ-1表によりψが求まる。
【００３２】なお、最大最小測定回路６は、検出器１の
停止時に加減算回路５から供給された第３正弦信号ＨＡ
および第４正弦信号ＨＢを、Ａ／Ｄコンバータ１２によ
りデジタル化した後、比較回路１３に供給することな
く、処理回路７へ送る。
停止時に加減算回路５から供給された第３正弦信号ＨＡ
および第４正弦信号ＨＢを、Ａ／Ｄコンバータ１２によ
りデジタル化した後、比較回路１３に供給することな
く、処理回路７へ送る。
【００３３】処理回路７は、最終的に、次の（式１５）
の計算を行い、位置に相当するθを算出する。
の計算を行い、位置に相当するθを算出する。
【００３４】 θ＝ｔａｎ-1（ＨＢ’／ＨＡ’）−φＢ ＝ｔａｎ-1｛（ＨＢ／ＨＡ）×Ｆ（α）｝−ｔａｎ-1｛１／Ｆ（α）｝ ・・・（式１５）
【００３５】ここで、 Ｆ（α）＝Ｌａ／Ｌｂ ・・・（式１６） である。
【００３６】この様に、元の第１正弦信号信号Ａおよび
第２正弦信号Ｂの間に位相誤差αが存在し、かつこの位
相誤差が変動を示しても、その変動量には無関係に位置
を算出することができる。処理回路７では、カウンタ回
路４より得られた粗位置情報と（式１５）より得られた
細かい変位すなわち微細位置情報とを加算して、最終位
置を得、この最終結果を表示部８に表示し、外部出力部
９に出力する。
第２正弦信号Ｂの間に位相誤差αが存在し、かつこの位
相誤差が変動を示しても、その変動量には無関係に位置
を算出することができる。処理回路７では、カウンタ回
路４より得られた粗位置情報と（式１５）より得られた
細かい変位すなわち微細位置情報とを加算して、最終位
置を得、この最終結果を表示部８に表示し、外部出力部
９に出力する。
【００３７】なお、上記実施例の処理回路７は、ＣＰ
Ｕ、このＣＰＵの動作を規定するプログラムを規定する
ＲＯＭ、およびＣＰＵのワークエリアとなるＲＡＭの組
み合わせにより実現できるが、ハードワイヤードロジッ
クにより実現することもできる。
Ｕ、このＣＰＵの動作を規定するプログラムを規定する
ＲＯＭ、およびＣＰＵのワークエリアとなるＲＡＭの組
み合わせにより実現できるが、ハードワイヤードロジッ
クにより実現することもできる。
【００３８】このような位置測定装置は、高精度に位置
を測定できるので、例えばロータリエンコーダを用い、
角度を高精度に測定する測量機等に有効なものである。
勿論、リニアエンコーダを用いる各種測定装置も同様で
ある。
を測定できるので、例えばロータリエンコーダを用い、
角度を高精度に測定する測量機等に有効なものである。
勿論、リニアエンコーダを用いる各種測定装置も同様で
ある。
【００３９】
【発明の効果】以上の説明から明かなように、本発明の
位置測定装置によれば、検出器より位置変化に応じて得
られる位相の９０゜異なる第１および第２の正弦信号を
受け、第１の正弦信号から第２の正弦信号を減算して第
３の正弦信号を発生するとともに、第１および第２正弦
信号を加算して第４の正弦信号を発生し、第３および第
４の正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測定
し、測定した最大値および最小値に基づいて求められた
第３および第４正弦信号の振幅の比に基づいて、第３お
よび第４正弦信号の比を補正し、得られた補正値から位
置を求めるようにしたので、検出器から得られる信号状
態が悪い場合でも、また、温度変化等により信号の変動
が生じた場合でも、検出器の信号状態に影響されること
なく、位置情報を高精度に得ることができる。
位置測定装置によれば、検出器より位置変化に応じて得
られる位相の９０゜異なる第１および第２の正弦信号を
受け、第１の正弦信号から第２の正弦信号を減算して第
３の正弦信号を発生するとともに、第１および第２正弦
信号を加算して第４の正弦信号を発生し、第３および第
４の正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測定
し、測定した最大値および最小値に基づいて求められた
第３および第４正弦信号の振幅の比に基づいて、第３お
よび第４正弦信号の比を補正し、得られた補正値から位
置を求めるようにしたので、検出器から得られる信号状
態が悪い場合でも、また、温度変化等により信号の変動
が生じた場合でも、検出器の信号状態に影響されること
なく、位置情報を高精度に得ることができる。
【図１】本発明の位置測定装置の一実施例の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図１の最大最小測定回路の一構成例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】従来の位置測定装置の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
１ 検出器 ２ アンプ ３ 波形整形器 ４ カウンタ回路 ５ 加減算回路 ６ 最大最小測定回路 ７ 処理回路 １１ マルチプレクサ １２ Ａ／Ｄコンバータ １３ 比較回路 １４ 記憶部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−96131（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−96130（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−231879（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−26686（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01D 5/00 - 5/62
Claims (1)
- 【請求項１】 検出器より位置変化に応じて得られる位
相の９０゜異なる第１および第２の正弦信号を処理し
て、位置を測定する位置測定装置において、 前記第１の正弦信号から前記第２の正弦信号を減算して
第３の正弦信号を発生するとともに、前記第１および第
２正弦信号を加算して第４の正弦信号を発生する加減算
手段と、 前記第３および第４の正弦信号のそれぞれの最大値およ
び最小値を測定する最大最小測定手段と、 前記最大最小測定手段によって測定された最大値および
最小値に基づいて求められた前記第３および第４正弦信
号の振幅の比に基づいて、前記第３および第４正弦信号
の比を補正し、得られた補正値から位置を求める処理手
段とを備えることを特徴とする位置測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05154322A JP3075452B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05154322A JP3075452B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06341856A JPH06341856A (ja) | 1994-12-13 |
| JP3075452B2 true JP3075452B2 (ja) | 2000-08-14 |
Family
ID=15581610
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05154322A Expired - Lifetime JP3075452B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3075452B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5333863B2 (ja) * | 2009-08-26 | 2013-11-06 | 株式会社ジェイテクト | 回転角検出装置 |
| JP6939049B2 (ja) * | 2017-04-25 | 2021-09-22 | 日本精工株式会社 | 相対角度検出装置、トルクセンサ、電動パワーステアリング装置及び車両 |
-
1993
- 1993-06-01 JP JP05154322A patent/JP3075452B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06341856A (ja) | 1994-12-13 |
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