JP3208932B2 - 位置測定装置 - Google Patents
位置測定装置Info
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- JP3208932B2 JP3208932B2 JP15432093A JP15432093A JP3208932B2 JP 3208932 B2 JP3208932 B2 JP 3208932B2 JP 15432093 A JP15432093 A JP 15432093A JP 15432093 A JP15432093 A JP 15432093A JP 3208932 B2 JP3208932 B2 JP 3208932B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、検出器より位置変化に
応じて得られる位相の90゜異なる2つの正弦信号を処
理して位置情報を得る位置測定装置に関する。
応じて得られる位相の90゜異なる2つの正弦信号を処
理して位置情報を得る位置測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種装置は、図4に示されてい
るように、検出器1から得られる位相の90゜異なる2
つの正弦信号を、アンプ3により増幅し、波形整形器3
によって矩形波信号に変換し、矩形波信号の個数をカウ
ンタ回路4により計数することにより、粗位置情報を得
て、処理回路20に供給する一方、アンプ3により増幅
された位相の90゜異なる2つの正弦信号をA/Dコン
バータ19に印加し、それぞれ、デジタル化した後、処
理回路20に供給する。処理回路20は、ディジタル化
された位相の90゜異なる2つの正弦信号をROMに記
憶されたtan-1表に入力して微細位置情報を得、この
微細位置情報に上記粗位置情報を加算して位置情報を導
出し、これを表示器21に表示するとともに、外部出力
部22に出力する。なお、図3に示された従来の位置測
定装置の詳細は、特開昭56−96213号に開示され
ている。
るように、検出器1から得られる位相の90゜異なる2
つの正弦信号を、アンプ3により増幅し、波形整形器3
によって矩形波信号に変換し、矩形波信号の個数をカウ
ンタ回路4により計数することにより、粗位置情報を得
て、処理回路20に供給する一方、アンプ3により増幅
された位相の90゜異なる2つの正弦信号をA/Dコン
バータ19に印加し、それぞれ、デジタル化した後、処
理回路20に供給する。処理回路20は、ディジタル化
された位相の90゜異なる2つの正弦信号をROMに記
憶されたtan-1表に入力して微細位置情報を得、この
微細位置情報に上記粗位置情報を加算して位置情報を導
出し、これを表示器21に表示するとともに、外部出力
部22に出力する。なお、図3に示された従来の位置測
定装置の詳細は、特開昭56−96213号に開示され
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の位置測定装置は、入力する正弦信号の精度の変
動により、測定精度が悪化してしまうという問題点があ
った。
た従来の位置測定装置は、入力する正弦信号の精度の変
動により、測定精度が悪化してしまうという問題点があ
った。
【0004】すなわち、検出器1より得られる位相の9
0゜異なる第1および第2正弦信号AおよびBは、これ
ら2信号の振幅をそれぞれaおよびbであり、位相誤差
がαである場合には、
0゜異なる第1および第2正弦信号AおよびBは、これ
ら2信号の振幅をそれぞれaおよびbであり、位相誤差
がαである場合には、
【0005】 A=a×COSθ+C1 ・・・(式1)
【0006】 B=b×SIN(θ+α)+C2 ・・・(式2)
【0007】上記の(式1)および(式2)により示さ
れるが、角度θより表される位置を求めるために、第1
および第2正弦信号AおよびBをA/Dコンバータ19
に入力し、処理回路20のtan-1表より角度θを位置
に換算すると、上記振幅aおよびbの相違、位相誤差
α、ならびにオフセットC1およびC2の相違により位
置誤差を生じてしまう。このa,b,α,C1,C2が
一定であれば補正定数として処理換算は可能であるが、
一定ではない為にこの操作は不可能である。
れるが、角度θより表される位置を求めるために、第1
および第2正弦信号AおよびBをA/Dコンバータ19
に入力し、処理回路20のtan-1表より角度θを位置
に換算すると、上記振幅aおよびbの相違、位相誤差
α、ならびにオフセットC1およびC2の相違により位
置誤差を生じてしまう。このa,b,α,C1,C2が
一定であれば補正定数として処理換算は可能であるが、
一定ではない為にこの操作は不可能である。
【0008】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、検出器から出力される2つ正弦信号の精
度に影響されることなく高い精度で位置を測定できる位
置測定装置を提供することを目的とする。
たものであり、検出器から出力される2つ正弦信号の精
度に影響されることなく高い精度で位置を測定できる位
置測定装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の位置測定装置
は、検出器より位置変化に応じて得られる位相の90゜
異なる第1および第2の正弦信号を処理して、位置情報
を得る位置測定装置であって、第1および第2正弦信号
のそれぞれの最大値および最小値を測定する第1最大最
小測定手段(例えば、図1の最大最小測定回路6)と、
第1最大最小測定手段によって測定された第1および第
2正弦信号の最大値および最小値に基づいて第1および
第2正弦信号の振幅およびオフセットを求める第1処理
手段(例えば、図1の処理回路7)と、第1処理手段に
よって求められた振幅およびオフセットに基づいて第1
および第2正弦信号を正規化して第3および第4正弦信
号を発生させる補正手段(例えば、図1の補正回路1
0)と、第3の正弦信号から第4の正弦信号を減算して
第5の正弦信号を発生するとともに、第3および第4正
弦信号を加算して第6の正弦信号を発生する加減算手段
(例えば、図1の加減算回路5)と、第5および第6の
正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測定する第
2最大最小測定手段(例えば、図1の最大最小測定回路
6)と、第2最大最小測定手段によって測定された第5
および第6正弦信号の最大値および最小値を使用して求
めた第5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5
および第6正弦信号の比を補正し、得られた補正値から
位置情報を求める第2処理手段(例えば、図1の処理回
路7)とを備えることを特徴とする。
は、検出器より位置変化に応じて得られる位相の90゜
異なる第1および第2の正弦信号を処理して、位置情報
を得る位置測定装置であって、第1および第2正弦信号
のそれぞれの最大値および最小値を測定する第1最大最
小測定手段(例えば、図1の最大最小測定回路6)と、
第1最大最小測定手段によって測定された第1および第
2正弦信号の最大値および最小値に基づいて第1および
第2正弦信号の振幅およびオフセットを求める第1処理
手段(例えば、図1の処理回路7)と、第1処理手段に
よって求められた振幅およびオフセットに基づいて第1
および第2正弦信号を正規化して第3および第4正弦信
号を発生させる補正手段(例えば、図1の補正回路1
0)と、第3の正弦信号から第4の正弦信号を減算して
第5の正弦信号を発生するとともに、第3および第4正
弦信号を加算して第6の正弦信号を発生する加減算手段
(例えば、図1の加減算回路5)と、第5および第6の
正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測定する第
2最大最小測定手段(例えば、図1の最大最小測定回路
6)と、第2最大最小測定手段によって測定された第5
および第6正弦信号の最大値および最小値を使用して求
めた第5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5
および第6正弦信号の比を補正し、得られた補正値から
位置情報を求める第2処理手段(例えば、図1の処理回
路7)とを備えることを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明の位置測定装置においては、第1および
第2正弦信号のそれぞれの最大値および最小値が測定さ
れ、測定された第1および第2正弦信号の最大値および
最小値に基づいて第1および第2正弦信号の振幅および
オフセットが求められ、求められた振幅およびオフセッ
トに基づいて第1および第2正弦信号を正規化して第3
および第4正弦信号が発生され、第3の正弦信号から第
4の正弦信号を減算して第5の正弦信号が発生され、第
3および第4正弦信号が加算されて第6の正弦信号が発
生され、第5および第6の正弦信号のそれぞれの最大値
および最小値が測定され、測定された第5および第6正
弦信号の最大値および最小値を使用して求められた第5
および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5および第
6正弦信号の比が補正され、得られた補正値から位置情
報が求められる。
第2正弦信号のそれぞれの最大値および最小値が測定さ
れ、測定された第1および第2正弦信号の最大値および
最小値に基づいて第1および第2正弦信号の振幅および
オフセットが求められ、求められた振幅およびオフセッ
トに基づいて第1および第2正弦信号を正規化して第3
および第4正弦信号が発生され、第3の正弦信号から第
4の正弦信号を減算して第5の正弦信号が発生され、第
3および第4正弦信号が加算されて第6の正弦信号が発
生され、第5および第6の正弦信号のそれぞれの最大値
および最小値が測定され、測定された第5および第6正
弦信号の最大値および最小値を使用して求められた第5
および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5および第
6正弦信号の比が補正され、得られた補正値から位置情
報が求められる。
【0011】第5および第6正弦信号の間には位相誤差
が存在せず、第1正弦信号および第2正弦信号の間の位
相誤差すなわち第3正弦信号および第4正弦信号の間の
位相誤差は、第5および第6正弦信号の振幅に吸収され
るが、第5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第
5および第6正弦信号の比が補正されるから、高い精度
で位置を測定できる。
が存在せず、第1正弦信号および第2正弦信号の間の位
相誤差すなわち第3正弦信号および第4正弦信号の間の
位相誤差は、第5および第6正弦信号の振幅に吸収され
るが、第5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第
5および第6正弦信号の比が補正されるから、高い精度
で位置を測定できる。
【0012】
【実施例】図1は、本発明の位置測定装置の一実施例の
構成を示す。図1中、検出器1、アンプ2、波形整形器
3およびカウンタ回路4は、図3の従来例と同一であ
る。
構成を示す。図1中、検出器1、アンプ2、波形整形器
3およびカウンタ回路4は、図3の従来例と同一であ
る。
【0013】検出器1から出力された上記(式1)で示
される第1正弦信号A、および上記(式2)で示される
第2正弦信号Bは、最大最小測定回路6に供給される。
この最大最小測定回路6は、例えば、図2に示されてい
るように、マルチプレクサ11、A/Dコンバータ1
2、比較回路13および記憶部14から構成される。
される第1正弦信号A、および上記(式2)で示される
第2正弦信号Bは、最大最小測定回路6に供給される。
この最大最小測定回路6は、例えば、図2に示されてい
るように、マルチプレクサ11、A/Dコンバータ1
2、比較回路13および記憶部14から構成される。
【0014】第1正弦信号Aおよび第2正弦信号Bは、
マルチプレクサ11を介して交互に入力し、A/Dコン
バータ12によってデジタル化される。比較回路13
は、デジタル化された第1および第2正弦信号Aおよび
Bの信号値と、記憶部14に記憶された最大値および最
小値とを逐次比較し、信号値が最大値値よりも大きい時
には新たな最大値として記憶部14に記憶し、信号値が
最小値よりも小さい場合は新たな最小値として記憶部1
4に記憶する。
マルチプレクサ11を介して交互に入力し、A/Dコン
バータ12によってデジタル化される。比較回路13
は、デジタル化された第1および第2正弦信号Aおよび
Bの信号値と、記憶部14に記憶された最大値および最
小値とを逐次比較し、信号値が最大値値よりも大きい時
には新たな最大値として記憶部14に記憶し、信号値が
最小値よりも小さい場合は新たな最小値として記憶部1
4に記憶する。
【0015】第1および第2正弦信号AおよびBに対し
それぞれの最大値および最小値を求める上記動作は、第
1および第2正弦信号AおよびBが少なくとも1周期以
上入力されるまで行う。第1および第2正弦信号Aおよ
びBの周期変化は、カウンタ回路4より得ることができ
る。このようにして求められた最大値および最小値を、
それぞれAMAX,AMIN,BMAX,BMINとすると、記憶部
14は、カウンタ回路4より得られる情報に応じて、こ
れらの値の記憶場所を変更し、複数個の最大値および最
小値を記憶する。なお、この最大値および最小値を求め
る動作は、検出器1の移動停止時、すなわち信号変化の
ないときには行わない。
それぞれの最大値および最小値を求める上記動作は、第
1および第2正弦信号AおよびBが少なくとも1周期以
上入力されるまで行う。第1および第2正弦信号Aおよ
びBの周期変化は、カウンタ回路4より得ることができ
る。このようにして求められた最大値および最小値を、
それぞれAMAX,AMIN,BMAX,BMINとすると、記憶部
14は、カウンタ回路4より得られる情報に応じて、こ
れらの値の記憶場所を変更し、複数個の最大値および最
小値を記憶する。なお、この最大値および最小値を求め
る動作は、検出器1の移動停止時、すなわち信号変化の
ないときには行わない。
【0016】次に、処理回路7は、記憶部14に記憶さ
れた最大値および最小値を呼び出し、次の(式3),
(式4),(式5)および(式6)に基づいて、第1お
よび第2正弦信号A,Bの振幅a,bおよびオフセット
C1,C2を求める。
れた最大値および最小値を呼び出し、次の(式3),
(式4),(式5)および(式6)に基づいて、第1お
よび第2正弦信号A,Bの振幅a,bおよびオフセット
C1,C2を求める。
【0017】 a=(AMAX−AMIN)/2 ・・・(式3)
【0018】 b=(BMAX−BMIN)/2 ・・・(式4)
【0019】 C1=(AMAX+AMIN)/2 ・・・(式5)
【0020】 C2=(BMAX+BMIN)/2 ・・・(式6)
【0021】処理回路7は、このようにして求めた振幅
a,bおよびオフセットC1,C2の値を補正回路10
へ送る。補正回路10は、例えば、図3に示されている
ように、アンプ2のレファレンス電位を変更するレファ
レンス電位変更回路15と、アンプ2の増幅度を変更す
る増幅度変更回路16とを有し、入力された振幅a,b
およびオフセットC1,C2の値に応じて、アンプ2の
レファレンス電位および増幅度を変更し、第1および第
2正弦信号A,Bの振幅a,bおよびオフセット値C
1,C2が、a=b,C1=C2となるように補正をか
け、結果的に第1および第2正弦信号A,Bの正規化を
行い、(式7)および(式8)によりそれぞれ示される
第3および第4正弦信号A’,B’を得る。
a,bおよびオフセットC1,C2の値を補正回路10
へ送る。補正回路10は、例えば、図3に示されている
ように、アンプ2のレファレンス電位を変更するレファ
レンス電位変更回路15と、アンプ2の増幅度を変更す
る増幅度変更回路16とを有し、入力された振幅a,b
およびオフセットC1,C2の値に応じて、アンプ2の
レファレンス電位および増幅度を変更し、第1および第
2正弦信号A,Bの振幅a,bおよびオフセット値C
1,C2が、a=b,C1=C2となるように補正をか
け、結果的に第1および第2正弦信号A,Bの正規化を
行い、(式7)および(式8)によりそれぞれ示される
第3および第4正弦信号A’,B’を得る。
【0022】 A’=COSθ ・・・(式7)
【0023】 B’=SIN(θ+α) ・・・(式8)
【0024】第3および第4正弦信号A’,B’は、加
減算回路5に供給される。加減算回路5は、第3正弦信
号A’から第4正弦信号B’を減算して第5の正弦信号
HAを発生するとともに、第3および第4正弦信号
A’,B’を加算して第6の正弦信号HBを発生する。
第5および第6正弦信号HAおよびHBは、次の(式
9)および(式10)で示される。
減算回路5に供給される。加減算回路5は、第3正弦信
号A’から第4正弦信号B’を減算して第5の正弦信号
HAを発生するとともに、第3および第4正弦信号
A’,B’を加算して第6の正弦信号HBを発生する。
第5および第6正弦信号HAおよびHBは、次の(式
9)および(式10)で示される。
【0025】
【数1】
【0026】
【数2】
【0027】ここで、
【数3】
【0028】
【数4】
【0029】
【数5】 である。
【0030】従って、第5および第6正弦信号HAおよ
びHBは、次の(式14)および(式15)のように示
すことができる。
びHBは、次の(式14)および(式15)のように示
すことができる。
【0031】
【数6】
【0032】
【数7】
【0033】ただし、
【数8】
【0034】
【数9】
【0035】
【数10】 である。
【0036】(式14)乃至(式18)より明かよう
に、第5および第6正弦信号HAおよびHBは、振幅差
はあるものの、位相誤差が位相誤差の消去された信号と
なる。
に、第5および第6正弦信号HAおよびHBは、振幅差
はあるものの、位相誤差が位相誤差の消去された信号と
なる。
【0037】次に、第5および第6正弦信号HAおよび
HBは、最大最小測定回路6に供給され、前述の第1お
よび第2正弦信号AおよびBと同様に、それぞれの最大
値および最小値が求められる。そして、処理回路7は、
第5および第6正弦信号HAおよびHBの最大値および
最小値をHAMAX,HAMIN,HBMAX,HBMINとする
と、次の(式19)および(式20)に従って、第5お
よび第6正弦信号HAおよびHBの振幅La,Lbを求
める。
HBは、最大最小測定回路6に供給され、前述の第1お
よび第2正弦信号AおよびBと同様に、それぞれの最大
値および最小値が求められる。そして、処理回路7は、
第5および第6正弦信号HAおよびHBの最大値および
最小値をHAMAX,HAMIN,HBMAX,HBMINとする
と、次の(式19)および(式20)に従って、第5お
よび第6正弦信号HAおよびHBの振幅La,Lbを求
める。
【0038】 La=(HAMAX−HAMIN)/2 ・・・(式19)
【0039】 Lb=(HBMAX−HBMIN)/2 ・・・(式20)
【0040】処理回路7は、振幅La,Lbを求める際
には、複数個の最大値および最小値を使用し平均を取
る。この様に得られた振幅La,Lbを用い、(式1
4)および(式15)から振幅項を削除すると、次の
(式21)および(式22)のようになり、単純なta
n-1表によりψが求まる。
には、複数個の最大値および最小値を使用し平均を取
る。この様に得られた振幅La,Lbを用い、(式1
4)および(式15)から振幅項を削除すると、次の
(式21)および(式22)のようになり、単純なta
n-1表によりψが求まる。
【0041】 HA’=COS(ψ) ・・・(式21)
【0042】 HB’=SIN(ψ) ・・・(式22)
【0043】ここで、最大最小測定回路6は、検出器1
の停止時に第5および第6正弦信号HA,HBをA/D
コンバータ12に通した後、比較回路13を経由せず
に、直接、処理回路7に供給する。処理回路7は、最終
的に、次の(式23)の計算を行い、位置に相当するθ
を算出する。
の停止時に第5および第6正弦信号HA,HBをA/D
コンバータ12に通した後、比較回路13を経由せず
に、直接、処理回路7に供給する。処理回路7は、最終
的に、次の(式23)の計算を行い、位置に相当するθ
を算出する。
【0044】 θ=tan-1(HB’/HA’)−φB =tan-1{(HB/HA)×F(α)}−tan-1{1/F(α)} ・・・(式23)
【0045】ここで F(α)=La/Lb ・・・(式24) である。
【0046】(式23)の演算により得られた位置情報
は、第1および第2正弦信号AおよびBの一周期内の微
細位置情報であり、処理回路7は、カウンタ回路4より
得られた粗情報とこの微細位置情報を加え最終的な位置
を得る。この様に、元の第1および第2正弦信号A,B
に、異なる振幅a,bが存在し、両信号間に位相誤差α
が存在し、両信号に異なるオフセットC1,C2が存在
し、かつこれらの量が変動を示しても、その変動量には
無関係に位置が算出することができる。処理回路7は、
算出した結果を、表示部8に表示し、外部出力部9に対
しそれに合わせた数値に変換し出力する。
は、第1および第2正弦信号AおよびBの一周期内の微
細位置情報であり、処理回路7は、カウンタ回路4より
得られた粗情報とこの微細位置情報を加え最終的な位置
を得る。この様に、元の第1および第2正弦信号A,B
に、異なる振幅a,bが存在し、両信号間に位相誤差α
が存在し、両信号に異なるオフセットC1,C2が存在
し、かつこれらの量が変動を示しても、その変動量には
無関係に位置が算出することができる。処理回路7は、
算出した結果を、表示部8に表示し、外部出力部9に対
しそれに合わせた数値に変換し出力する。
【0047】なお、上記処理回路7は、CPUおよびそ
の動作を規定するプログラムを規定するROMの組み合
わせで実現できるが、ハードワイヤードロジックで実現
することもできる。
の動作を規定するプログラムを規定するROMの組み合
わせで実現できるが、ハードワイヤードロジックで実現
することもできる。
【0048】このような位置測定装置は、高精度に位置
を測定できるので、例えばロータリエンコーダを用い、
角度を高精度に測定する測量機等に有効なものである。
勿論、リニアエンコーダを用いる各種測定装置も同様で
ある。
を測定できるので、例えばロータリエンコーダを用い、
角度を高精度に測定する測量機等に有効なものである。
勿論、リニアエンコーダを用いる各種測定装置も同様で
ある。
【0049】
【発明の効果】本発明の位置測定装置によれば、第1お
よび第2正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測
定し、測定した第1および第2正弦信号の最大値および
最小値に基づいて第1および第2正弦信号の振幅および
オフセットを求め、求めた振幅およびオフセットに基づ
いて第1および第2正弦信号を正規化して第3および第
4正弦信号を発生し、第3の正弦信号から第4の正弦信
号を減算して第5の正弦信号を発生し、第3および第4
正弦信号を加算して第6の正弦信号を発生し、第5およ
び第6の正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測
定し、測定した第5および第6正弦信号の最大値および
最小値を使用して求められた第5および第6正弦信号の
振幅の比に基づいて第5および第6正弦信号の比を補正
し、得られた補正値から位置情報を求めるようにしたの
で、第5および第6正弦信号の間には位相誤差が存在せ
ず、第1正弦信号および第2正弦信号の間の位相誤差す
なわち第3正弦信号および第4正弦信号の間の位相誤差
は、第5および第6正弦信号の振幅に吸収されるが、第
5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5および
第6正弦信号の比が補正されるから、検出器から得られ
る信号状態が悪い場合でも、また、温度変化等による信
号の変動が生じた場合でも検出器の信号状態に影響され
ることなく、高い精度で位置を測定できる。
よび第2正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測
定し、測定した第1および第2正弦信号の最大値および
最小値に基づいて第1および第2正弦信号の振幅および
オフセットを求め、求めた振幅およびオフセットに基づ
いて第1および第2正弦信号を正規化して第3および第
4正弦信号を発生し、第3の正弦信号から第4の正弦信
号を減算して第5の正弦信号を発生し、第3および第4
正弦信号を加算して第6の正弦信号を発生し、第5およ
び第6の正弦信号のそれぞれの最大値および最小値を測
定し、測定した第5および第6正弦信号の最大値および
最小値を使用して求められた第5および第6正弦信号の
振幅の比に基づいて第5および第6正弦信号の比を補正
し、得られた補正値から位置情報を求めるようにしたの
で、第5および第6正弦信号の間には位相誤差が存在せ
ず、第1正弦信号および第2正弦信号の間の位相誤差す
なわち第3正弦信号および第4正弦信号の間の位相誤差
は、第5および第6正弦信号の振幅に吸収されるが、第
5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて第5および
第6正弦信号の比が補正されるから、検出器から得られ
る信号状態が悪い場合でも、また、温度変化等による信
号の変動が生じた場合でも検出器の信号状態に影響され
ることなく、高い精度で位置を測定できる。
【図1】本発明の位置測定装置の一実施例の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】図1の最大最小測定回路の一構成例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図3】図1の補正回路10の一構成例を示すブロック
図である。
図である。
【図4】従来の位置測定装置の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
1 検出器 2 アンプ 3 波形整形器 4 カウンタ回路 5 加減算回路 6 最大最小測定回路 7 処理回路 10 補正回路 11 マルチプレクサ 12 A/Dコンバータ 13 比較回路 14 記憶部 15 レファレンス電位変更回路 16 増幅度変更回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 5/00 - 5/62
Claims (1)
- 【請求項1】 検出器より位置変化に応じて得られる位
相の90゜異なる第1および第2の正弦信号を処理し
て、位置情報を得る位置測定装置において、 前記第1および第2正弦信号のそれぞれの最大値および
最小値を測定する第1最大最小測定手段と、 前記第1最大最小測定手段によって測定された前記第1
および第2正弦信号の最大値および最小値に基づいて前
記第1および第2正弦信号の振幅およびオフセットを求
める第1処理手段と、 前記第1処理手段によって求められた振幅およびオフセ
ットに基づいて前記第1および第2正弦信号を正規化し
て第3および第4正弦信号を発生させる補正手段と、 前記第3の正弦信号から前記第4の正弦信号を減算して
第5の正弦信号を発生するとともに、前記第3および第
4正弦信号を加算して第6の正弦信号を発生する加減算
手段と、 前記第5および第6の正弦信号のそれぞれの最大値およ
び最小値を測定する第2最大最小測定手段と、 前記第2最大最小測定手段によって測定された前記第5
および第6正弦信号の最大値および最小値を使用して求
めた前記第5および第6正弦信号の振幅の比に基づいて
前記第5および第6正弦信号の比を補正し、得られた補
正値から位置情報を求める第2処理手段とを備えること
を特徴とする位置測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15432093A JP3208932B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15432093A JP3208932B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06341854A JPH06341854A (ja) | 1994-12-13 |
JP3208932B2 true JP3208932B2 (ja) | 2001-09-17 |
Family
ID=15581561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15432093A Expired - Fee Related JP3208932B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 位置測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3208932B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-01 JP JP15432093A patent/JP3208932B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06341854A (ja) | 1994-12-13 |
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