JP3055322B2 - 円形容器内面検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は例えばコンベアなどで搬
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、容器の
変形・異物・ゴミ・傷などを検出する画像処理装置とし
ての円形容器内面検査装置に関する。なお以下各図にお
いて同一の符号は同一もしくは相当部分を示す。

【０００２】

【従来の技術】図２は一例としてビール用アルミ缶の容
器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同図
（Ａ）は缶容器の上面（画像）図、同図（Ｂ）は側断面
図である。そして１０２は容器、１０１はこの容器１０
２を上方から照らすリング状の照明器、１０３は口部の
高輝度部、１０４は底部の高輝度部である。このように
リング照明器１０１を用いて容器１０２の内面に光線を
照射することにより、容器内面の口部と底部に夫々１０
３，１０４のような高輝度部が発生する。特に缶などの
ように容器内面に金属光沢のある場合は顕著である。

【０００３】図３（Ｂ）は容器１０２の上面画像（図３
（Ａ））に対する走査線Ｑ−Ｑ１上の濃度変化を示した
ものであるが、濃度変化の特徴よりＷ１〜Ｗ５の５つの
領域に分類される。第１の領域Ｗ１は口部高輝度部１０
３であり、第２の領域Ｗ２は濃度変化が比較的小さい容
器側面上中部であり、第３の領域Ｗ３は図２で述べた照
明１０１による光線があまり届かないため、他の領域よ
り暗い容器側面下部であり、第４の領域Ｗ４は底部高輝
度部１０４であり、第５の領域Ｗ５は底部である。

【０００４】従来はこれらの領域Ｗ１〜Ｗ５にそれぞれ
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
（黒点）や白汚れ（白点）の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
（アナログ濃淡画像信号）をＡ／Ｄ変換してなる８ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で２値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス，負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。

【０００５】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号Ｐ（Ｘ，Ｙ）についての着目点
（座標値Ｘ＝ｉ，Ｙ＝ｊ）における値Ｐ（ｉ，ｊ）と、
この着目点よりＸ方向走査線上の前，後に夫々所定の微
小のα画素，β画素だけ離れた点における値Ｐ（ｉ−
α，ｊ），Ｐ（ｉ＋β，ｊ）との間に、 Ｐ（ｉ，ｊ）−Ｐ（ｉ−α，ｊ）＞ＴＨ１ であっ
て且つ、 Ｐ（ｉ＋β，ｊ）−Ｐ（ｉ，ｊ）＞ＴＨ１ の関係
があれば、 （但しＴＨ１は所定のしきい値（正値）とする）着目点
における不良検出のための二値化関数値ＰＤ（ｉ，ｊ）
＝１としてこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以
外の場合はＰＤ（ｉ，ｊ）＝０としてこの着目点を正常
の点とするものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし以上のような手
法は微小な黒点のような不良には有利であるものの容器
のヘコミの場合は局所的なコントラストが得られず検出
が困難であった。そこで本発明はこの問題を解消できる
円形容器内面検査装置を提供することを課題とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の円形容器内面検査装置は軸対称の円形
容器の前記軸方向からこの円形容器の内面側を照明した
うえ、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の
照明面を撮像し、この撮像された画像を解析して前記円
形容器の変形や汚れを検査する円形容器内面検査装置に
おいて、フレームメモリ１などに格納された円形容器の
内面の画像を走査するための複数本の放射状の走査線
を、画像の中心を通り、かつ、該画像の最外周を両端と
するものとして求める手段(処理領域決定回路１８Ａな
ど)と、前記円形容器の内面の画像を（放射アドレス発
生器４などを介し）放射状の走査線で順次走査し、この
放射状走査線上の１又は所定の複数の画素間隔で並ぶ画
素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射状走
査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃度と
の各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素の走
査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比較
し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査線
の他の対についても順次行い、前記しきい値より大きい
前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良で
あると判定する手段（不良検出回路１２，不良検出判定
回路１３など）を備えたものとする。

【０００８】また請求項２の円形容器内面検査装置は、
軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円形容器の内面
側を照明したうえ、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこ
の円形容器の照明面を撮像し、この撮像された画像を解
析して前記円形容器の変形や汚れを検査する円形容器内
面検査装置において、この円形容器底部の画像を差分
し、この差分画像のエッジを基準として前記画像の中心
を算定する手段(新たな画像エッジ検出回路１４など)と
前記円形容器の内面の画像を前記算定手段により求めた
画像の中心を通る複数本の放射状の走査線で順次走査
し、この放射状走査線上の１又は所定の複数の画素間隔
で並ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ
放射状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素
の濃度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応
画素の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫
々比較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状
走査線の他の対についても順次行い、前記しきい値より
大きい前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面
不良であると判定する手段（不良検出回路１２，不良検
出判定回路１３など）を備えたものとする。

【０００９】

【作用】軸対称の円形容器（１０２など）の前記軸方向
から（リング照明器１０１などを介し）この円形容器の
内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介し、この軸方向
からこの円形容器の照明面を撮像し、画像を解析する
際、容器内面の濃淡分布が図３に示したように、同心円
上に発生することに着目し画像の中心Ｏを中心として画
像走査を放射状に行い、図３では放射走査線Ｑ−Ｑ１を
上の画像の濃度変化を走査した後、放射走査線Ｑ’−Ｑ
１’上の濃度変化を走査し、両走査線上の対応する座標
（アドレス）にある画素同士の濃淡差（濃度差）を逐次
求め、この各濃淡差を予め設定される所定のしきい値Ｔ
ＨＰと比較する。例えば図３（Ａ）のようなヘコミ１０
５がある場合は走査線Ｑ’−Ｑ１’の濃淡変化は図３
（Ｃ）のようになる。そこで図３（Ｂ）と図３（Ｃ）の
濃淡差を画素の配列順に逐次求めて行くと、ヘコミ１０
５による変化部分がしきい値ＴＨＰを越えるため不良と
して検知できる。

【００１０】そうして、請求項１に関わる発明では、円
形容器の固定２値画像からこの画像の最外周を両端とす
るように放射走査線を求め、これにより容器外の画像を
走査する必要を無くしているので、無駄な走査を行わず
に処理時間を短縮することができる。また、請求項２に
関わる発明では、図３の底部高輝度部１０４の周辺に発
生する容器内面の画像を差分し、差分画像のエッジを基
準として容器中心点Ｏを推定し、この中心点Ｏをすべて
の放射走査線が通過するように各放射走査線を正確に位
置補正しているので、容器位置ズレの影響を減ずること
が可能になる。

【００１１】以上のように本発明では円形容器画像の中
心から放射線状に画像走査を行い、それにより得られた
画素列の濃淡変化を検査することにより、容器のヘコミ
が検出できるほか、黒点不良についても検査が可能とな
る。

【００１２】

【実施例】図１は本発明の１実施例としてのハードウェ
アのブロック図である。同図においてＰＯは図外のＴＶ
カメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信号をＡ
／Ｄ変換してなる（例えば８ｂｉｔ）の濃淡画像信号、
１はこの多値濃淡画像信号ＰＯを入力し、多値画面デー
タとして記憶するフレームメモリ、３はこのフレームメ
モリに対するラスタアドレスを発生するラスタアドレス
発生器である。

【００１３】４は放射状に画像走査を行うためにフレー
ムメモリ１に対してアドレス発生を行う放射アドレス発
生器、２は図３（Ｂ）に示したようなリング状のウィン
ドウ別のマスクパターンが格納されているウィンドウメ
モリ、５はこのウィンドウメモリ２に対し発生器３と同
様にラスタアドレスを発生するラスタアドレス発生器、
６は同じくこのウィンドウメモリ２に対し発生器４と同
様に放射状走査のためのアドレス発生を行う放射アドレ
ス発生器である。そしてこれら発生器３，５と４，６と
の切替によるラスタアドレスと放射アドレスの発生切替
が可能である。

【００１４】７はウィンドウゲート回路であり、多値濃
淡信号ＰＯまたはフレームメモリ１より読み出された画
像信号１ａをウィンドウメモリ２からのマスクパターン
データでマスクし、指定されたウィンドウ領域のみの画
像信号ＰＯまたはフレームメモリ１から読み出された画
像信号１ａを通過させる回路である。８，１４は画像エ
ッジ検出回路で、画像のエッジ、具体的にはリング状の
高輝度部の外端（外周点）と内端（内周点）を検出する
機能を持ち、この場合、入力した画像信号を対象画像の
位置検出や円形性検査のための所定のしきい値で２値化
したうえ、画像エッジとしてのこの２値化信号の立上り
点の座標と立下り点の座標とを自身内のメモリに格納す
る。９はこの画像エッジ検出回路８によって検出された
外周点または内周点の座標値に対し円形性検査を行う回
路である。

【００１５】１５は対象画像に対して正しい位置にウィ
ンドウが発生するように、画像エッジ検出回路１４が最
新の多値濃淡画像信号ＰＯを入力して検出した現実の対
象画像の中心の位置と予め設定されているウィンドウの
中心の位置とのズレを検出する回路である。１０はフレ
ームメモリ１のラスタ走査によってフレームメモリ１か
ら読出された画像信号１ａをウィンドウゲート回路７を
介して入力し、黒点などの汚れ不良画素を検出するため
の不良検出回路、１１はこの検出された不良画素を集計
して不良の判定を行う不良検出判定回路である。

【００１６】１２は後述のようにフレームメモリ１の放
射状の走査によってフレームメモリ１から読み出された
画像信号１ａをウィンドウゲート回路７を介して入力
し、ヘコミ不良画素を検出するための不良検出回路、１
３はこの検出された不良画素を集計して不良の判定を行
う不良検出判定回路である。また１９は円形度判定回路
９，不良検出判定回路１１および１３の判定結果を入力
し総合的な判定を行う回路、２０はこの総合判定回路１
９の出力判定信号によって良否の出力を行う出力回路で
ある。

【００１７】次に１６はウィンドウゲート回路７を通過
した多値画像信号ＰＯを用いて対象画像のＸ方向投影回
路パターンを求めるＸ投影回路、１７は同じく対象画像
のＹ方向投影パターンを求めるＹ投影回路、１８はこの
２つの投影回路１６，１７の出力データを用いて他の容
器画像と連接していない対象容器画像の領域のみを求め
る回路である。

【００１８】即ち検査すべき円形容器が所定の位置を通
過すると、ストロボ発光またはシャッタによる露光制限
により、容器上部より静止化された被検査画像を取り込
む。この取り込み期間にＸ投影回路１６，Ｙ投影回路１
７に画像が送られ、投影の特徴を得る。固定２値画像の
投影算出の場合は、投影回路１６，１７は２値化の機能
を備える。

【００１９】図４は容器の固定２値画像２０１を用いて
そのＸ方向投影量２０３とＹ方向投影量２０４より容器
の外接矩形（つまり斜線部の処理領域）を検出する方法
を示すが、容器が搬送路上を連接したりしながら移動し
てくる場合は、別途処理領域決定回路１８によって連接
分離の処理を行って処理領域２０２を決定する。なおこ
の連接分離は例えば本出願人の先願になる特願平３−２
４９９４６号に述べた処理によって行うことができる。

【００２０】図５は図１の不良検出回路１２の構成の実
施例を示す。前述のように放射アドレス発生器４より、
フレームメモリ１の容器内面画像に対し放射アドレスを
発生し、ある放射走査線Ｋ（なおここでＫおよび以下に
記すＫ＋１，Ｋ＋２，Ｋ＋３は順次、所定の等間隔（等
角度）で並ぶ放射走査線の番号を示すものとする。）を
走査する場合、この走査線上の各画素の濃度データが走
査順にＦｉＦｏ（先入先出メモリ）２１−１に蓄積され
る。次の走査線Ｋ＋１を走査する際には走査線Ｋ＋１上
のデータはＦｉＦｏ２１−１に蓄積されると同時に先の
走査線上Ｋ上のデータはＦｉＦｏ２１−２に移動して蓄
積される。同様に次の走査線Ｋ＋２を走査する際には、
この走査線Ｋ＋２上のデータはＦｉＦｏ２１−１に、先
の走査線Ｋ＋１上のデータはＦｉＦｏ２１−２に移動し
て、同じく先の走査線Ｋ上のデータはＦｉＦｏ２１−３
に移動して、夫々蓄積される。

【００２１】このようにして次の走査線Ｋ＋３を走査す
る際には、この走査線Ｋ＋３上のデータはＦｉＦｏ２１
−１に送り込まれると同時にＦｉＦｏ２１−１，２１−
２，２１−３のデータは順送りに押出され、ＦｉＦｏ２
１−３から走査線Ｋ上のデータが減算器２４の一方の入
力として与えられる。他方、走査線Ｋ＋３上のデータは
減算器２４の他方の入力としても与えられるので、結
局、減算器２４では走査線Ｋ上とＫ＋３上との夫々対応
する座標（アドレス）の画素の濃度データが１対づつ順
送りに比較演算される。この減算器２４の出力（濃度
差）は絶対値変換回路２４によって、その絶対値が求め
られ、さらに比較器２６によって、走査のアドレスごと
（従って前記の画素の対ごと）に、次に述べるしきい値
テーブル２３から与えられるしきい値ＴＨＰと比較され
る。ここで放射アドレス発生器４からは走査線上を１画
素進むごとに１パルスがカウンタ２７へ送られ、そのカ
ウンタ値は各走査線上での画素のアドレスを示し、該ア
ドレスをしきい値テーブル２３のアドレス入力とするこ
とにより、次の図６で述べるように各画素位置に応じた
しきい値ＴＨＰを比較器２６に与えることができる。

【００２２】図６は走査線（この例ではＱ−Ｑ１）上の
画素の濃度変化と画素のアドレス別のしきい値ＴＨＰ
（ＴＨＰ１〜ＴＨＰ４）の設定例とを対比したものであ
る。即ち濃淡変化の大きな部分には大きなしきい値ＴＨ
Ｐ１，ＴＨＰ３を与え、濃淡変化の小さな部分には小さ
なしきい値ＴＨＰ２，ＴＨＰ４を与える。図７は図３
（Ｂ），（Ｃ）の夫々対応するアドレスの画素同士の濃
度差の絶対値と図６のしきい値（破線）との関係を走査
線を横軸にして、かつ図６と横軸が対応するように示し
たものである。この図７に示すようにヘコミ１０５部分
の濃度差の絶対値はこの部分のしきい値ＴＨＰ２より大
きく不良として検出される。

【００２３】図８は請求項１に関わる発明の実施例とし
ての処理領域決定回路の構成図である。この処理領域決
定回路１８Ａは図１の回路１６，１７，１８に替えて設
けられる。この処理領域決定回路１８Ａにおいて、固定
２値化回路３１はフレームメモリ１からラスタ走査によ
って取出される水平ライン上の多値画像信号１ａを円形
容器の口部高輝度部１０３が切出されるように所定のし
きい値で２値化する。画像変化点検出回路３２はこの２
値化回路３１から出力される２値化画像信号３１ａの変
化点（つまり立上がり点とを下がり点）を検出し、ラッ
チ信号を第１立上がり点メモリ３３および最終立下がり
点メモリ３４に与える。

【００２４】これにより第１立上がり点メモリ３３は２
値化画像信号３１ａの最初の立上がり点のＸアドレスを
記憶し、最終立下がり点メモリ３４は２値化画像信号３
１ａの最終の立下がり点のＸアドレスを記憶する。この
ような水平走査がＹアドレス順に行われることによって
メモリ３３と３４には夫々Ｙアドレス順に、第１立上が
り点と最終立下がり点のＸアドレスが格納される。

【００２５】図９は図８の回路による放射状の走査線の
決定動作の説明図で、同図（Ｂ）には前記第１立上がり
点メモリ３３と最終立下がり点メモリ３４のデータ格納
状態の例が示されている。即ち第１立上がり点メモリ３
３には同図（Ａ）に示すリング状の口部高輝度部１０３
の外周の左半分の各水平走査ごと（つまりＹ座標ごと）
のＸ座標ＸＳ１，ＸＳ２，…ＸＳｎが格納され、最終立
下がり点メモリ３４には同じく口部高輝度部１０３の外
周の右半分の水平走査（Ｙ座標）ごとのＸ座標，ＸＥ
１，ＸＥ２，…ＸＥｎが格納されている。図９（Ａ）の
Ｌ（Ｌ１〜Ｌ３）は放射走査線を示す。ここでまず放射
走査線Ｌ１は、立上がり点メモリ３３より先頭Ｙアドレ
スのデータＸＳ１をリードし、立下がり点メモリ３４よ
り最終ＹアドレスのデータＸＥｎをリードし、この２点
間を結ぶ直線として決定される。同様に放射走査線Ｌ２
は夫々ＸＳ１，ＸＥｎに次ぐＹアドレスのデータＸＳ２
とＸＥｎ−１をリードし、この２点間を結ぶ直線として
決定される。以下走査線Ｌ３，…も同様な手順を繰返し
て決定される。

【００２６】このような放射走査線の決定処理は、図８
の走査関数決定回路３５によって行われる。この場合は
図１の放射アドレス発生器４はこの決定回路３５の出力
データを用いて各放射走査線Ｌ上の画素別の座標（アド
レス）を順次出力する。なお水平走査のみを行う場合
は、口部高輝度部の外周円の上部、下部付近にて走査線
が疎となるため、これを防ぎたい場合には図１０のよう
に走査方向を垂直方向に変更すればよく、これにより密
な放射走査線が得られる。

【００２７】なお、以上のように求めた放射走査線Ｌは
円形容器画像の中心点Ｏを必ず通過するとは限らないた
め、次に述べる別手段により中心点Ｏを求め、立上がり
点，立下がり点いずれかの１点と中心点Ｏを結ぶ直線と
して決定することも可能である。次に請求項２に関わる
発明の実施例としての円形容器中心Ｏの決定方法につい
て説明する。即ち図１の画像エッジ検出回路１４は前記
ではリング状の口部高輝度部を検出して対象画像の中心
位置を求めるものとしたが、放射走査線を用いる場合、
中心Ｏの精度を高めることが望ましいので、次に述べる
ように円形容器の底面の画像を利用して中心Ｏを求めて
もよい。

【００２８】円形容器側面と底面との境界付近は照明光
が到達し難いため、低輝度となるが、固定２重化レベル
で切り出せる程、周囲との濃淡差は大きくない。従って
安定に画像を検出する手段として差分を用いた２値化方
法が有効である。図１１（Ａ）は円形容器底面部の輝度
分布を模式的に表現したものであるが、この図は底面部
１１０，底部高輝度部１０４の周囲に底部低輝度部１１
１が発生している例を示している。また同図（Ｂ）は同
図（Ａ）のようにＹ側位置検出ウィンドウ１１２とＸ側
位置検出ウィンドウ１１３を画面の特定の位置に設定
し、該ウィンドウ内部の濃淡レベルの谷となる部分を後
述する谷検出２値化法を用いて検出し２値化した例を示
している。

【００２９】このようにして得られた図１１（Ｂ）の２
値画像の画像エッジをＸ方向，Ｙ方向についてそれぞれ
求め、このエッジとなるＸ，Ｙ座標によって定まる位置
基準点１１４を求め、この位置基準点の座標に所定のオ
フセット量を加算することにより容器中心位置Ｏを正確
に決定することができる。なお前述した谷検出２値化方
法は本出願人の先願になる特願平３−２６５１３４号に
谷を不良部として検出する方法が詳細に示されている
が、ここではその原理を簡単に説明する。

【００３０】図１２はこの谷検出２値化方法の原理説明
図で、同図（Ａ）は走査線（Ｙ＝ｊ）Ｑ−Ｑ１上の多値
濃淡画像信号ＰＯ（Ｘ，Ｙ）の例を示す。ここで５１は
通常部分における着目点、５２と５３は夫々この着目点
５１に対し走査線上で、前と後に画素数αだけ離れた背
景点としての通常部前方背景点と良品部後方背景点であ
る。

【００３１】同様に５４は谷部分における着目点、５５
と５６は夫々この着目点５４に対し走査線上で前と後に
画素数αだけ離れた背景点としての谷部前方背景点と谷
部後方背景点である。ここで着目点の座標をＸ＝ｉ，Ｙ
＝ｊとしたき、画像信号ＰＯの差分項（次式（１），
（２）の左辺）について、 ＰＯ（ｉ−α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ）＞ＴＨＤ────（１） であって且つ、 ＰＯ（ｉ＋α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ）＞ＴＨＤ────（２） （但しＴＨＤは所定のしきい値（正値）とする）の関係
があれば、着目点における谷検出のための２値化関数値
（谷二値化画像信号という）ＰＯＤ（ｉ，ｊ）＝１とし
て、この着目点を谷とするものであるが、図１２の通常
部分では、上記の式（２）が成立せず谷は検知されない
が、図１２の谷部分では上記（１），（２）が成立し、
谷を検知することができる。なお図１２（Ｂ）は同図
（Ａ）に対応する谷判定出力としての前記谷二値化画像
信号ＰＯＤ（Ｘ，ｊ）を示す。

【００３２】このようにして図１２（Ａ）の波形を小領
域に分割し、それら小領域ごとに（１），（２）式にお
ける画素数α，しきい値ＴＨＤの値を適宜与えることに
より最適な谷検出を行うことができる。図１３は図１の
フレームメモリ１およびラスタアドレス発生器３を除く
回路の機能をＣＰＵ４１がソフトウェアで果たす例を示
している。この場合、特にフレームメモリ１にアクセス
するハードウェアとしての放射アドレス発生回路４，６
が独立して存在しないため、ＣＰＵ４１の処理時間を短
縮することが重要である。このためには放射走査線の間
隔を適度に拡げたり、放射走査線上の演算対象とする画
素の間隔を適度に拡げることが有効である。

【００３３】

【発明の効果】本発明によれば、円形容器の画像をその
中心を通る放射走査線で走査し、所定間隔を持つ放射走
査線の対の上の対応する座標にある画素同士の濃度差を
求め、この濃度差の絶対値がこの座標に応じて予め定め
られたしきい値を越えたとき、ヘコミ不良と判別するよ
うにしたので、コントラストの低い円形容器側面の局所
的なヘコミを精度よく検出できる。とくに、請求項１に
関わる発明では、円形容器の固定２値画像からこの画像
の最外周を両端とするように放射走査線を求め、これに
より容器外の画像を走査する必要を無くしているので、
無駄な走査を行わずに処理時間を短縮することができ
る。また、請求項２に関わる発明では、底部高輝度部の
周辺に発生する容器内面の画像を差分し、差分画像のエ
ッジを基準として容器中心点Ｏを推定し、この中心点Ｏ
をすべての放射走査線が通過するように各放射走査線を
正確に位置補正しているので、容器位置ズレの影響を減
ずることが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例としてのハードウェア構成を
示すブロック図

【図２】円形容器内面の高輝度部を示す図

【図３】円形容器内面の放射走査線上の濃度変化と従来
のウィンドウ分割の説明図

【図４】本発明に基づく容器処理領域の決定方法の説明
図

【図５】図１の不良検出回路１２の一実施例としての構
成を示すブロック図

【図６】図５のしきい値テーブルによる放射走査線上の
しきい値の設定の実施例を示す図

【図７】図６を補足するための放射走査線上の濃度差絶
対値としきい値との対比図

【図８】請求項１に関わる発明の実施例としての図１の
処理領域決定回路に代わる回路の構成を示すブロック図

【図９】図８の放射走査線の決定方法の実施例を示す図

【図１０】図８と異なる放射走査線の決定方法の実施例
を示す図

【図１１】請求項２に関わる発明の実施例としての円形
容器中心検出方法の説明図

【図１２】図１２を補足するための谷検出二値化方法の
原理図

【図１３】図１の放射アドレス発生等をソフトウェアで
行う構成の実施例を示すブロック図

【符号の説明】

ＰＯ 多値濃淡画像信号 １ａ 多値濃淡画像信号 １ フレームメモリ ２ ウィンドウメモリ ３ ラスタアドレス発生器 ４ 放射アドレス発生器 ５ ラスタアドレス発生器 ６ 放射アドレス発生器 ７ ウィンドウゲート回路 ８ 画像エッジ検出回路 ９ 円形度判定回路 １０ 不良検出回路 １１ 不良検出判定回路 １２ 不良検出回路 １３ 不良検出判定回路 １４ 画像エッジ検出回路 １５ 位置ズレ量決定回路 １６ Ｘ投影回路 １７ Ｙ投影回路 １８ 処理領域決定回路 １８Ａ 処理領域決定回路 １９ 総合判定回路 ２０ 出力回路 ２１−１ ＦｉＦｏ ２１−２ ＦｉＦｏ ２１−３ ＦｉＦｏ ２３ しきい値テーブル ２４ 減算器 ２５ 絶対値変換回路 ２６ 比較器 ２７ カウンタ ＴＨＰ（ＴＨＰ１〜ＴＨＰ４） しきい値 ３１ 固定２値化回路 ３２ 画像変化点検出回路 ３３ 第１立上がり点メモリ ３４ 最終立下がり点メモリ ３５ 走査関数決定回路 Ｌ（Ｌ１〜Ｌ３） 放射走査線 ４１ ＣＰＵ ５１ 通常部着目点 ５２ 通常部前方背景点 ５３ 通常部後方背景点 ５４ 谷部着目点 ５５ 谷部前方背景点 ５６ 谷部後方背景点 ＰＯＤ 谷二値化画像信号 １０１ リング照明器 １０２ 容器 １０３ 口部高輝度部 １０４ 底部高輝度部 １０５ ヘコミ １１０ 底面部 １１１ 底部低輝度部 １１２ Ｙ側位置検出ウィンドウ １１３ Ｘ側位置検出ウィンドウ １１４ 位置基準点 Ｏ 容器中心 ２０１ 容器の固定２値化画像 ２０２ 処理領域 ２０３ Ｘ方向投影量 ２０４ Ｙ方向投影量

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円
   形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介しこの
   軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
   れた画像を解析して前記円形容器の変形や汚れを検査す
   る円形容器内面検査装置において、 前記円形容器の内面の画像を走査するための複数本の放
   射状の走査線を、前記画像の中心を通り、かつ、該画像
   の最外周を両端とするものとして求める手段と、 前記円形容器の内面の画像を前記放射状の走査線で順次
   走査し、 この放射状走査線上の１又は所定の複数の画素間隔で並
   ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射
   状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃
   度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素
   の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比
   較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査
   線の他の対についても順次行い、前記しきい値より大き
   い前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良
   であると判定する手段を備えたことを特徴とする円形容
   器内面検査装置。
2. 【請求項２】軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円
   形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介しこの
   軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
   れた画像を解析して前記円形容器の変形や汚れを検査す
   る円形容器内面検査装置において、 この円形容器底部の画像を差分し、この差分画像のエッ
   ジを基準として前記画像の中心を算定する手段と、 前記円形容器の内面の画像を前記算定手段により求めた
   画像の中心を通る複数本の放射状の走査線で順次走査
   し、 この放射状走査線上の１又は所定の複数の画素間隔で並
   ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射
   状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃
   度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素
   の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比
   較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査
   線の他の対についても順次行い、前記しきい値より大き
   い前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良
   であると判定する手段を備えたことを特徴とする円形容
   器内面検査装置。