JP2874402B2 - 円形容器内面検査装置 - Google Patents
円形容器内面検査装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばコンベアなどで搬
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、異物・
ゴミ・傷などを検出する画像処理装置としての円形容器
内面検査装置に関する。なお以下各図において同一の符
号は同一もしくは相当部分を示す。
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、異物・
ゴミ・傷などを検出する画像処理装置としての円形容器
内面検査装置に関する。なお以下各図において同一の符
号は同一もしくは相当部分を示す。
【0002】
【従来の技術】図12は一例としてビール用アルミ缶の
容器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同
図(A)は缶容器の上面(画像)図、同図(B)は側断
面図である。そして102は容器、101はこの容器1
02を上方から照らすリング状の照明器、103は口部
の高輝度部、104は底部の高輝度部である。このよう
にリング照明器101を用いて容器102の内面に光線
を照射することにより、容器内部の口部と底部に夫々1
03,104のような高輝度部が発生する。特に缶など
のように容器内部に金属光沢のある場合は顕著である。
容器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同
図(A)は缶容器の上面(画像)図、同図(B)は側断
面図である。そして102は容器、101はこの容器1
02を上方から照らすリング状の照明器、103は口部
の高輝度部、104は底部の高輝度部である。このよう
にリング照明器101を用いて容器102の内面に光線
を照射することにより、容器内部の口部と底部に夫々1
03,104のような高輝度部が発生する。特に缶など
のように容器内部に金属光沢のある場合は顕著である。
【0003】図13(B)は容器102の上面画像(図
13(A))に対する走査線Q−Q1上の濃度変化を示
したものであるが、濃度変化の特徴よりW1〜W5の5
つの領域に分類される。第1の領域W1は口部高輝度部
103であり、第2の領域W2は濃度変化が比較的小さ
い容器側面上中部であり、第3の領域W3は図12で述
べた照明101による光線があまり届かないため、他の
領域より暗い容器側面下部であり、第4の領域W4は底
部高輝度部104であり、第5の領域W5は底部であ
る。
13(A))に対する走査線Q−Q1上の濃度変化を示
したものであるが、濃度変化の特徴よりW1〜W5の5
つの領域に分類される。第1の領域W1は口部高輝度部
103であり、第2の領域W2は濃度変化が比較的小さ
い容器側面上中部であり、第3の領域W3は図12で述
べた照明101による光線があまり届かないため、他の
領域より暗い容器側面下部であり、第4の領域W4は底
部高輝度部104であり、第5の領域W5は底部であ
る。
【0004】従来はこれらの領域W1〜W5にそれぞれ
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
(黒点)や白汚れ(白点)の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
(アナログ濃淡画像信号)をA/D変換してなる8ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で2値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス,負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
(黒点)や白汚れ(白点)の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
(アナログ濃淡画像信号)をA/D変換してなる8ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で2値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス,負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。
【0005】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号P(x,y)についての着目点
(座標値x=i,y=j)における値P(i,j)と、
この着目点よりx方向走査線上の前,後に夫々所定の微
小のα画素,β画素だけ離れた点における値P(i−
α,j)、P(i+β,j)との間に、P(i,j)−
P(i−α,j)>TH1 であって且つ、P(i+
β,j)−P(i,j)>TH1 の関係があれば、
(但しTH1は所定のしきい値(正値)とする)着目点
における不良検出のための二値化関数値PD(i,j)
=1としてこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以
外の場合はPD(i,j)=0としてこの着目点を正常
の点とするものである。
信号を微分してなる信号P(x,y)についての着目点
(座標値x=i,y=j)における値P(i,j)と、
この着目点よりx方向走査線上の前,後に夫々所定の微
小のα画素,β画素だけ離れた点における値P(i−
α,j)、P(i+β,j)との間に、P(i,j)−
P(i−α,j)>TH1 であって且つ、P(i+
β,j)−P(i,j)>TH1 の関係があれば、
(但しTH1は所定のしきい値(正値)とする)着目点
における不良検出のための二値化関数値PD(i,j)
=1としてこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以
外の場合はPD(i,j)=0としてこの着目点を正常
の点とするものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述した
欠陥判別方法では容器内面の光学的特性により与えるべ
きしきい値TH1の最適値は変化する。従って従来手法
においては図13のウィンドウW1〜W5のように多く
の(この場合5つの)同心円状ウィンドウが必要である
と同時に、このウィンドウ別に異なるしきい値TH1
(さらには座標値α,β)を与える必要があり、ラスタ
走査を用いた場合、無駄走査時間が大きく、欠陥検査の
高速化のための支障となっていた。そこで本発明はこの
問題を解消できる円形容器内面検査装置を提供すること
を課題とする。
欠陥判別方法では容器内面の光学的特性により与えるべ
きしきい値TH1の最適値は変化する。従って従来手法
においては図13のウィンドウW1〜W5のように多く
の(この場合5つの)同心円状ウィンドウが必要である
と同時に、このウィンドウ別に異なるしきい値TH1
(さらには座標値α,β)を与える必要があり、ラスタ
走査を用いた場合、無駄走査時間が大きく、欠陥検査の
高速化のための支障となっていた。そこで本発明はこの
問題を解消できる円形容器内面検査装置を提供すること
を課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の円形容器内面検査装置は、所定の方向
(水平方向など)に相互に連接し得る軸対称の円形容器
(102など)の前記軸方向から(リング照明器101
などを介し)この円形容器の内面側を照明したうえ、T
Vカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照明面を
撮像し、不良検査手段(不良検出回路7、不良検出判定
回路12など)を介しこの撮像された画像を解析して前
記円形容器の内面の黒汚れおよび白汚れを検査する円形
容器内面検査装置において、前記撮像の画面走査によっ
て得られる画像信号(多値濃淡画像信号POなど)を前
記円形容器の口部高輝度部(103など)の2値画像を
得るように2値化し、この2値化画像信号を前記連接方
向に垂直な方向(Y方向など)に投影する手段(Y投影
回路10など)と、この投影に基づく投影画素量を差分
して差分投影画素量を求め、前記円形容器の内側から外
側(口部側)に向けて前記差分投影画素量を調べ、該画
素量が最初に負になる点(減少開始点PDなど)までの
区間内でこの差分投影画素量が所定のしきい値を越える
点(最大差分投影点ΔPMなど)を検出し、この検出点
の座標値に所定の補正値(βなど)を加算した座標値を
用いて前記連接の領域を分離する手段(処理領域決定回
路14など)を備えたものとする。
めに、請求項1の円形容器内面検査装置は、所定の方向
(水平方向など)に相互に連接し得る軸対称の円形容器
(102など)の前記軸方向から(リング照明器101
などを介し)この円形容器の内面側を照明したうえ、T
Vカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照明面を
撮像し、不良検査手段(不良検出回路7、不良検出判定
回路12など)を介しこの撮像された画像を解析して前
記円形容器の内面の黒汚れおよび白汚れを検査する円形
容器内面検査装置において、前記撮像の画面走査によっ
て得られる画像信号(多値濃淡画像信号POなど)を前
記円形容器の口部高輝度部(103など)の2値画像を
得るように2値化し、この2値化画像信号を前記連接方
向に垂直な方向(Y方向など)に投影する手段(Y投影
回路10など)と、この投影に基づく投影画素量を差分
して差分投影画素量を求め、前記円形容器の内側から外
側(口部側)に向けて前記差分投影画素量を調べ、該画
素量が最初に負になる点(減少開始点PDなど)までの
区間内でこの差分投影画素量が所定のしきい値を越える
点(最大差分投影点ΔPMなど)を検出し、この検出点
の座標値に所定の補正値(βなど)を加算した座標値を
用いて前記連接の領域を分離する手段(処理領域決定回
路14など)を備えたものとする。
【0008】
【作用】高輝度部を2値化により切り出し、この切り出
しパターンの円形性を検査することにより、容器の変
形、へこみ等のほか、付着したゴミ等の高輝度部の黒点
も併せ検出し得るようにして不良検出の高精度化を行
う。そして同一のウィンドウ領域でこの円形性検査と従
来の不良検査手段による黒点,白点の検査とを並行して
実行する。これによりウィンドウ領域数を減じ処理を高
速化する。なおこの円形性検査に先立ち円形容器の位置
を特定するこめに、容器の口部高輝度部の容器連接の影
響のない領域の2値化画像信号の同一走査ライン上での
最初の立上り点と最後の立下り点との中点座標の平均値
を用いる。また検査領域を連接容器の領域から分離する
ために、容器の連接方向と垂直な方向への前記口部高輝
度部の2値画像の投影量を求め、さらに投影量の差分値
を容器の内部から外部へ向けて探索し、連接点を検出す
る。
しパターンの円形性を検査することにより、容器の変
形、へこみ等のほか、付着したゴミ等の高輝度部の黒点
も併せ検出し得るようにして不良検出の高精度化を行
う。そして同一のウィンドウ領域でこの円形性検査と従
来の不良検査手段による黒点,白点の検査とを並行して
実行する。これによりウィンドウ領域数を減じ処理を高
速化する。なおこの円形性検査に先立ち円形容器の位置
を特定するこめに、容器の口部高輝度部の容器連接の影
響のない領域の2値化画像信号の同一走査ライン上での
最初の立上り点と最後の立下り点との中点座標の平均値
を用いる。また検査領域を連接容器の領域から分離する
ために、容器の連接方向と垂直な方向への前記口部高輝
度部の2値画像の投影量を求め、さらに投影量の差分値
を容器の内部から外部へ向けて探索し、連接点を検出す
る。
【0009】
【実施例】以下図1ないし図21に基づいて本発明の実
施例を説明する。図1は本発明の一実施例としてのハー
ドウェアのブロック図である。同図においてPOは図外
のTVカメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信
号をAD変換してなる多値(例えば8ビット)の濃淡画
像信号、1はこの多値濃淡画像信号POを入力し、多値
画面データとして記憶するフレームメモリ、3はこのフ
レームメモリに対するアドレス発生回路である。2はウ
ィンドウ別のマスクパターンが格納されているウィンド
ウメモリ、4はこのウィンドウメモリに対するアドレス
発生回路である。5はウィンドウゲート回路で、多値濃
淡画像信号POまたはフレームメモリ1から読出された
画像信号1aをウィンドウメモリ2からのマスクパター
ンデータ2aでマスクし、指定されたウィンドウ領域の
みの画像信号POまたは1aを通過させる回路である。
施例を説明する。図1は本発明の一実施例としてのハー
ドウェアのブロック図である。同図においてPOは図外
のTVカメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信
号をAD変換してなる多値(例えば8ビット)の濃淡画
像信号、1はこの多値濃淡画像信号POを入力し、多値
画面データとして記憶するフレームメモリ、3はこのフ
レームメモリに対するアドレス発生回路である。2はウ
ィンドウ別のマスクパターンが格納されているウィンド
ウメモリ、4はこのウィンドウメモリに対するアドレス
発生回路である。5はウィンドウゲート回路で、多値濃
淡画像信号POまたはフレームメモリ1から読出された
画像信号1aをウィンドウメモリ2からのマスクパター
ンデータ2aでマスクし、指定されたウィンドウ領域の
みの画像信号POまたは1aを通過させる回路である。
【0010】18は多値濃淡画像信号POまたはフレー
ムメモリ画像信号1aを切替え選択する画像入力切替ス
イッチであり、このスイッチ18は後述の位置ズレ量決
定回路13を動作させるために、最新の多値濃淡画像信
号POを該信号POのフレームメモリ1への入力と並行
して画像エッジ検出回路6へ与える役割を持つ。17は
画像出力切替スイッチで、ウィンドウゲート回路5を通
過した画像入力切替スイッチ18の出力画像信号を画像
エッジ検出回路6または不良検出回路7へ切替えて与え
るスイッチである。画像エッジ検出回路6は画像のエッ
ジ、具体的にはリング状の高輝度部の外端(外周点)と
内端(内周点)を検出する機能を持ち、この場合、後述
のように入力した画像信号を対象画像の位置検出や円形
性検査等のための所定のしきい値で2値化したうえ、画
像エッジとしてのこの2値化信号の立上り点の座標と立
下り点の座標とを自身内のメモリ(図8で後述する6A
〜6D)に格納する。11はこの画像エッジ検出回路6
によって検出された外周点または内周点の座標値に対し
後述のように円形性検査を行う回路である。
ムメモリ画像信号1aを切替え選択する画像入力切替ス
イッチであり、このスイッチ18は後述の位置ズレ量決
定回路13を動作させるために、最新の多値濃淡画像信
号POを該信号POのフレームメモリ1への入力と並行
して画像エッジ検出回路6へ与える役割を持つ。17は
画像出力切替スイッチで、ウィンドウゲート回路5を通
過した画像入力切替スイッチ18の出力画像信号を画像
エッジ検出回路6または不良検出回路7へ切替えて与え
るスイッチである。画像エッジ検出回路6は画像のエッ
ジ、具体的にはリング状の高輝度部の外端(外周点)と
内端(内周点)を検出する機能を持ち、この場合、後述
のように入力した画像信号を対象画像の位置検出や円形
性検査等のための所定のしきい値で2値化したうえ、画
像エッジとしてのこの2値化信号の立上り点の座標と立
下り点の座標とを自身内のメモリ(図8で後述する6A
〜6D)に格納する。11はこの画像エッジ検出回路6
によって検出された外周点または内周点の座標値に対し
後述のように円形性検査を行う回路である。
【0011】13は対象画像に対して正しい位置にウィ
ンドウが発生するように、画像エッジ検出回路6が最新
の多値画像信号POを入力して検出した現実の対象画像
の中心の位置と予め設定されているウィンドウの中心の
位置とのズレを検出する回路である。7は従来の技術で
述べた微分法などで不良個所(黒点,白点など)を検出
し面積などを計数する不良検出回路、12はこの回路7
の検出結果を設定値と比較して良否を判定する不良検出
判定回路である。9はウィンドウゲート回路5を通過し
た多値画像信号POを用いて対象画像のX方向投影パタ
ーンを求めるX投影回路、10は同じく対象画像のY方
向投影パターンを求めるY投影回路、14はこの2つの
投影回路9,10の出力データを用いて他の容器画像と
連接していない対象容器画像の領域のみを求める回路で
ある。また15は高輝度部判定回路11および不良検出
判定回路12の判定結果を入力し総合的な判定を行う回
路、16はこの総合判定回路15の出力判定信号によっ
て良否の出力を行う出力回路である。
ンドウが発生するように、画像エッジ検出回路6が最新
の多値画像信号POを入力して検出した現実の対象画像
の中心の位置と予め設定されているウィンドウの中心の
位置とのズレを検出する回路である。7は従来の技術で
述べた微分法などで不良個所(黒点,白点など)を検出
し面積などを計数する不良検出回路、12はこの回路7
の検出結果を設定値と比較して良否を判定する不良検出
判定回路である。9はウィンドウゲート回路5を通過し
た多値画像信号POを用いて対象画像のX方向投影パタ
ーンを求めるX投影回路、10は同じく対象画像のY方
向投影パターンを求めるY投影回路、14はこの2つの
投影回路9,10の出力データを用いて他の容器画像と
連接していない対象容器画像の領域のみを求める回路で
ある。また15は高輝度部判定回路11および不良検出
判定回路12の判定結果を入力し総合的な判定を行う回
路、16はこの総合判定回路15の出力判定信号によっ
て良否の出力を行う出力回路である。
【0012】最初に画像エッジ検出回路6による対象画
像の位置検出動作について説明する。図14は画像エッ
ジ検出回路6にて高輝度部を2値化した画像である。な
お同図において201はマスクパターン、102−2は
対象の容器102(102−1)に連接している容器で
ある。即ちこの場合、底部高輝度部104は図1のウィ
ンドウゲート回路5を介しマスクパターン201により
マスクされているものとする。このような2値画像にお
いて走査方向にA0,B0のような最初の立上がり点と
A1,B1のような最後の立下がり点を検出すると図1
4の太線部の座標点が得られる。しかし容器の連接があ
る場合はEの領域で座標点が不正確となってしまう。従
ってこの領域Eに含まれない前記太線部の座標点を水平
走査線で結ぶ線分のうち、なるべく長い線分A0−A
1,B0−B1附近の線分に着目して容器の位置検出を
行う必要がある。
像の位置検出動作について説明する。図14は画像エッ
ジ検出回路6にて高輝度部を2値化した画像である。な
お同図において201はマスクパターン、102−2は
対象の容器102(102−1)に連接している容器で
ある。即ちこの場合、底部高輝度部104は図1のウィ
ンドウゲート回路5を介しマスクパターン201により
マスクされているものとする。このような2値画像にお
いて走査方向にA0,B0のような最初の立上がり点と
A1,B1のような最後の立下がり点を検出すると図1
4の太線部の座標点が得られる。しかし容器の連接があ
る場合はEの領域で座標点が不正確となってしまう。従
ってこの領域Eに含まれない前記太線部の座標点を水平
走査線で結ぶ線分のうち、なるべく長い線分A0−A
1,B0−B1附近の線分に着目して容器の位置検出を
行う必要がある。
【0013】図15は図14で述べた線分A0−A1,
B0−B1附近の領域Eに含まれない同様な線分A01
−A11,…,A04−A14よりそれぞれの中点MA
(MA1…MA4)を求め、同様に線分B01−B1
1,…,B04−B14よりそれぞれの中点MB(MB
1…MB4)を求め、この中点MA1…MA4,MB1
…MB4の平均値を算出して容器中心の水平走査方向に
対する位置(X座標)を求めることを示したものであ
る。なおこの場合、容器中心のY座標は例えば図1のX
投影回路9によって求められたX方向投影パターンの
(上下の)両端の座標の平均値を求めることによって得
られる。
B0−B1附近の領域Eに含まれない同様な線分A01
−A11,…,A04−A14よりそれぞれの中点MA
(MA1…MA4)を求め、同様に線分B01−B1
1,…,B04−B14よりそれぞれの中点MB(MB
1…MB4)を求め、この中点MA1…MA4,MB1
…MB4の平均値を算出して容器中心の水平走査方向に
対する位置(X座標)を求めることを示したものであ
る。なおこの場合、容器中心のY座標は例えば図1のX
投影回路9によって求められたX方向投影パターンの
(上下の)両端の座標の平均値を求めることによって得
られる。
【0014】図16は画像をフレームメモリ1aに入力
した後の処理として、走査方向を垂直(Y)方向に変え
前記と同様の方法にて位置検出を行った例である。即ち
容器の搬送方向が左右(X)方向であれば、上下(Y)
方向の走査に対しては容器が連接することがなく、図1
4のEに相当する領域を配慮する必要がなくなる。な
お、図15では直接、多値濃淡画像信号POを利用し得
るのに対して、図16の場合にはフレームメモリ1から
の画像信号1aを使用する必要があるため処理時間が遅
れ、対象画像の位置検出が不正確となる惧れがあるが、
図16の走査領域を局部に限定すれば、この遅れ時間を
最小限度に留めることができる。
した後の処理として、走査方向を垂直(Y)方向に変え
前記と同様の方法にて位置検出を行った例である。即ち
容器の搬送方向が左右(X)方向であれば、上下(Y)
方向の走査に対しては容器が連接することがなく、図1
4のEに相当する領域を配慮する必要がなくなる。な
お、図15では直接、多値濃淡画像信号POを利用し得
るのに対して、図16の場合にはフレームメモリ1から
の画像信号1aを使用する必要があるため処理時間が遅
れ、対象画像の位置検出が不正確となる惧れがあるが、
図16の走査領域を局部に限定すれば、この遅れ時間を
最小限度に留めることができる。
【0015】図17は高輝度部に着目した容器の位置検
出方法の他の例の説明図である。この例は同図(B)の
ようにカメラ203により斜め上部より容器102を撮
像したものであり、この場合、同図(A)のように口部
高輝度部103が2値画像として観測される。この検出
画像において同一水平走査ライン上での最初の立上がり
座標点A01…A04及び最後の立下がり点A11…A
14を求め、各線分A01−A11,…,A04−A1
4の中点の平均値MAを求めて水平方向の容器の位置を
特定し、さらにこの線分長がある設定値以下となる、限
界ラインLを求めて垂直方向の容器の位置(上端)20
4を特定するものである。このような位置検出方法は容
器の上端を予め位置決め用の点に選んだ場合に適用する
ことができる。
出方法の他の例の説明図である。この例は同図(B)の
ようにカメラ203により斜め上部より容器102を撮
像したものであり、この場合、同図(A)のように口部
高輝度部103が2値画像として観測される。この検出
画像において同一水平走査ライン上での最初の立上がり
座標点A01…A04及び最後の立下がり点A11…A
14を求め、各線分A01−A11,…,A04−A1
4の中点の平均値MAを求めて水平方向の容器の位置を
特定し、さらにこの線分長がある設定値以下となる、限
界ラインLを求めて垂直方向の容器の位置(上端)20
4を特定するものである。このような位置検出方法は容
器の上端を予め位置決め用の点に選んだ場合に適用する
ことができる。
【0016】次に容器が連接した際の処理領域の決定動
作について述べる。図1の処理領域決定回路14はX投
影回路9とY投影回路10の情報を基にこの処理領域決
定のための演算をおこてう。図18はこの処理領域決定
の従来の手法を示したもので、同図(A)は容器全体が
2値化されるようなしきい値による2値画像である。な
おここで102−1は検査対象の容器、102−2は該
容器102−1に連接した容器である。この場合、容器
は水平方向に連接している。
作について述べる。図1の処理領域決定回路14はX投
影回路9とY投影回路10の情報を基にこの処理領域決
定のための演算をおこてう。図18はこの処理領域決定
の従来の手法を示したもので、同図(A)は容器全体が
2値化されるようなしきい値による2値画像である。な
おここで102−1は検査対象の容器、102−2は該
容器102−1に連接した容器である。この場合、容器
は水平方向に連接している。
【0017】図18(B)は同図(A)の画像の垂直方
向の投影画素量を算出したものであり、同図(C)は、
さらにその投影量(投影画素量)を差分したものであ
る。図18のような比較的明瞭なパターンにおいては図
18(C)の変化点より右側連接点PAおよび左側連接
点PBが検出され、連接した容器の分離が行われる。
向の投影画素量を算出したものであり、同図(C)は、
さらにその投影量(投影画素量)を差分したものであ
る。図18のような比較的明瞭なパターンにおいては図
18(C)の変化点より右側連接点PAおよび左側連接
点PBが検出され、連接した容器の分離が行われる。
【0018】図19は図18と同様な従来手法の説明図
で、連接箇所の検出が困難となる場合を示している。即
ち実際の検査画像においては図19(A)のように連接
した容器の一部分だけが2値画像として検出される場合
があり、投影パターンが同図(B)のようになり、差分
投影パターンが同図(C)のようになって容器の分離が
困難となる。
で、連接箇所の検出が困難となる場合を示している。即
ち実際の検査画像においては図19(A)のように連接
した容器の一部分だけが2値画像として検出される場合
があり、投影パターンが同図(B)のようになり、差分
投影パターンが同図(C)のようになって容器の分離が
困難となる。
【0019】図20は容器連接時の本発明に基づく処理
領域決定手法の説明図である。即ちこの場合、Y投影回
路10により先ず口部高輝度部103をリング状の検査
画像として検出するためのしきい値を設定し、多値濃淡
画像信号POを2値化して図20(A)のような2値画
像を得たのち、ごき2値画像について、その連接方向
(水平,X方向)に垂直なY方向の投影を算出して同図
(B)のような投影パターンを得る。次に処理領域決定
回路14は、図20(C)の矢印301のように対象容
器102−1の中央部より口部の方向へ図20(B)の
投影量(投影画素量)についての差分を演算し、同図
(C)のような差分投影パターンを得る。そして以下の
ように連接点を求める。
領域決定手法の説明図である。即ちこの場合、Y投影回
路10により先ず口部高輝度部103をリング状の検査
画像として検出するためのしきい値を設定し、多値濃淡
画像信号POを2値化して図20(A)のような2値画
像を得たのち、ごき2値画像について、その連接方向
(水平,X方向)に垂直なY方向の投影を算出して同図
(B)のような投影パターンを得る。次に処理領域決定
回路14は、図20(C)の矢印301のように対象容
器102−1の中央部より口部の方向へ図20(B)の
投影量(投影画素量)についての差分を演算し、同図
(C)のような差分投影パターンを得る。そして以下の
ように連接点を求める。
【0020】即ち右側連接点PAを求めるには、図20
(C)において容器側面の或る点P1より口部方向へ探
索を行い、この図の差分投影パターンのグラフが最初に
減少に転じる点(差分減少開始点と呼ぶ)PDまでの区
間における差分投影量が最大値となる点(最大差分投影
点という)ΔPMを求める。
(C)において容器側面の或る点P1より口部方向へ探
索を行い、この図の差分投影パターンのグラフが最初に
減少に転じる点(差分減少開始点と呼ぶ)PDまでの区
間における差分投影量が最大値となる点(最大差分投影
点という)ΔPMを求める。
【0021】図21は図20(C)の点ΔPMの附近の
拡大図である。図21においてPMは口部高輝度部10
3における最大の投影量となる点(便宜上最大投影点と
いう)であり、ΔPMはこのこの最大投影点PMに相関
して次のように求まるPMの極く近傍の点である。即ち
対象容器102−1の中心より右(X)方向に取った画
素番号をk、画素番号kの位置の投影画素量をTkと
し、このTK と画素番号値が4画素分右方向に離れた点
の投影画素量TK+4との差分 ΔTK =TK+4 −TK を求めて差分投影パターンを得るものとすれば、ΔTK
のピークとなる点ΔPMは最大投影点PMの4画素内側
の点として定まる。本発明ではこの最大差分投影点ΔP
Mに所定の補正量βを加えた点を右側連接点PAとしこ
れを容器の連接を分離し処理領域を決定する座標とす
る。このように予め最大差分投影点ΔPMを求める理由
は、容器に対する照明の明るさによって口部高輝度10
3のリング状の幅が変動し、最大投影点PMはこの変動
の影響を受け易いのに対し、最大差分投影点ΔPMは安
定した座標点として検出されるためである。本発明では
以上のように、口部高輝度部103を利用して容器の内
部より口部方向へ連接点の探索を行うため、容器の連接
による影響を小さくすることができる。
拡大図である。図21においてPMは口部高輝度部10
3における最大の投影量となる点(便宜上最大投影点と
いう)であり、ΔPMはこのこの最大投影点PMに相関
して次のように求まるPMの極く近傍の点である。即ち
対象容器102−1の中心より右(X)方向に取った画
素番号をk、画素番号kの位置の投影画素量をTkと
し、このTK と画素番号値が4画素分右方向に離れた点
の投影画素量TK+4との差分 ΔTK =TK+4 −TK を求めて差分投影パターンを得るものとすれば、ΔTK
のピークとなる点ΔPMは最大投影点PMの4画素内側
の点として定まる。本発明ではこの最大差分投影点ΔP
Mに所定の補正量βを加えた点を右側連接点PAとしこ
れを容器の連接を分離し処理領域を決定する座標とす
る。このように予め最大差分投影点ΔPMを求める理由
は、容器に対する照明の明るさによって口部高輝度10
3のリング状の幅が変動し、最大投影点PMはこの変動
の影響を受け易いのに対し、最大差分投影点ΔPMは安
定した座標点として検出されるためである。本発明では
以上のように、口部高輝度部103を利用して容器の内
部より口部方向へ連接点の探索を行うため、容器の連接
による影響を小さくすることができる。
【0022】図4は容器内面に欠陥を持つ缶容器を上面
から観測した場合に高輝度部に表れる欠陥の影響を示す
図で、同図(A)は上面図、同図(B)は側断面図であ
る。容器102の口部に111のようなゴミが付着した
場合は同図(A)のように口部高輝度部103において
も円周のカケとなって検出される。また側面部に大きな
ヘコミ112がある場合は底部高輝度部104のゆがみ
として検知できる場合があり、一般にヘコミの場合はゴ
ミ付着等と異なりコントラスト差が小さいため、底部高
輝度部104の円形性検査により、ヘコミ112を検出
する方法は非常に有効である。
から観測した場合に高輝度部に表れる欠陥の影響を示す
図で、同図(A)は上面図、同図(B)は側断面図であ
る。容器102の口部に111のようなゴミが付着した
場合は同図(A)のように口部高輝度部103において
も円周のカケとなって検出される。また側面部に大きな
ヘコミ112がある場合は底部高輝度部104のゆがみ
として検知できる場合があり、一般にヘコミの場合はゴ
ミ付着等と異なりコントラスト差が小さいため、底部高
輝度部104の円形性検査により、ヘコミ112を検出
する方法は非常に有効である。
【0023】図5は高輝度部判定回路11による具体的
な円形性検出方法の説明図である。この図は良品容器の
高輝度部の外周点の座標の立上り側をx0j,立下り側
をx1j(但しj=1,2,──、つまりjはこの各点
の属する水平走査ラインの相対的なy座標値に相当する
パラメータである。)として表現したものである。最初
に良品容器の座標変化量xk+1 −xk を各々算出し、こ
の許容範囲を与える最大値(後述のmax(a,b))
および最小値(後述のmin(a,b))を夫々許容値
テーブルTBとしての後述(図6)の最大値テーブルT
B1,最小値テーブルTB2に記憶しておく。但しここ
でkは0jまたは1jである。この際、上端及び下端の
数ラインは画像の安定度が低いので除外するか若しくは
非常に大きな許容値を与える必要があるが、良品の座標
変化量よりxk+1 −x k の許容範囲を次のように定め
る。 min(a,b)−α<xk+1 −xk <max(a,b)+α ここでmax(a,b)は次に示すa,bの値のうちの
何れか大きい方の値としての最大値を意味し、min
(a,b)は同じくa,bの値のうちの何れか小さい方
の値としての最小値を意味するものである。 a=xk −xk-1 b=xk+2 −xk+1 またαはデジタル画像に変換した際の量子化誤差等を考
慮した検出感度を緩和するための固定値である。なお
a,bの与え方として a=xk-1 −xk-2 b=xk+3 −xk+2 とし、2ライン分の許容幅を持たせることも可能であ
る。
な円形性検出方法の説明図である。この図は良品容器の
高輝度部の外周点の座標の立上り側をx0j,立下り側
をx1j(但しj=1,2,──、つまりjはこの各点
の属する水平走査ラインの相対的なy座標値に相当する
パラメータである。)として表現したものである。最初
に良品容器の座標変化量xk+1 −xk を各々算出し、こ
の許容範囲を与える最大値(後述のmax(a,b))
および最小値(後述のmin(a,b))を夫々許容値
テーブルTBとしての後述(図6)の最大値テーブルT
B1,最小値テーブルTB2に記憶しておく。但しここ
でkは0jまたは1jである。この際、上端及び下端の
数ラインは画像の安定度が低いので除外するか若しくは
非常に大きな許容値を与える必要があるが、良品の座標
変化量よりxk+1 −x k の許容範囲を次のように定め
る。 min(a,b)−α<xk+1 −xk <max(a,b)+α ここでmax(a,b)は次に示すa,bの値のうちの
何れか大きい方の値としての最大値を意味し、min
(a,b)は同じくa,bの値のうちの何れか小さい方
の値としての最小値を意味するものである。 a=xk −xk-1 b=xk+2 −xk+1 またαはデジタル画像に変換した際の量子化誤差等を考
慮した検出感度を緩和するための固定値である。なお
a,bの与え方として a=xk-1 −xk-2 b=xk+3 −xk+2 とし、2ライン分の許容幅を持たせることも可能であ
る。
【0024】以上により高輝度部判定回路11では良品
容器の各ラインにおける許容値を図6に示す最大値テー
ブルTB1および最小値テーブルTB2として記憶して
おき、検査画像の座標変化量とこのテーブルTB1,T
B2内の許容値とを遂一比較して円形性の検査を行う。
なお予め記憶した良品容器の走査ライン数と検査画像の
走査ライン数が不一致である対策として、容器上端及び
下端より容器中央まで順番に前記の比較を行い、ライン
数の過不足は変化量の小さい中央部附近にて行う。即ち
良品学習時の許容値テーブルのライン数が少ない場合は
そのまま中央ラインの許容値をひきつづき用いて比較を
行う(図6参照)。なお図6においては上円と下円につ
いては同一の処理を2回行うものとして許容値テーブル
は1/2円周分のみ記憶する方式としている。
容器の各ラインにおける許容値を図6に示す最大値テー
ブルTB1および最小値テーブルTB2として記憶して
おき、検査画像の座標変化量とこのテーブルTB1,T
B2内の許容値とを遂一比較して円形性の検査を行う。
なお予め記憶した良品容器の走査ライン数と検査画像の
走査ライン数が不一致である対策として、容器上端及び
下端より容器中央まで順番に前記の比較を行い、ライン
数の過不足は変化量の小さい中央部附近にて行う。即ち
良品学習時の許容値テーブルのライン数が少ない場合は
そのまま中央ラインの許容値をひきつづき用いて比較を
行う(図6参照)。なお図6においては上円と下円につ
いては同一の処理を2回行うものとして許容値テーブル
は1/2円周分のみ記憶する方式としている。
【0025】前記は外周点の検査方法であったが、次に
内周点の検査方法について説明する。図7は高輝度部内
周の座標点の検出方法の説明図で、同図(A)は缶容器
の上面画像、同図(B)は同図(A)の走査線Q−Q1
上の濃淡画像信号の高輝度部を2値化した信号の変化を
示す。同図(B)の二値化信号の最初の立下り点121
に着目すると同図(A)の太線部121aのような座標
が検出される。内周点の座標はD−D1の区間であるの
で座標の変化量が反転するラインとしてD,D1をそれ
ぞれ求め内周の左半円の座標が求まる。同様にして最後
の立上り点122を検出することにより内周の右半円を
求め、以下は外周点と同様の方法で円形性の検査を行
う。
内周点の検査方法について説明する。図7は高輝度部内
周の座標点の検出方法の説明図で、同図(A)は缶容器
の上面画像、同図(B)は同図(A)の走査線Q−Q1
上の濃淡画像信号の高輝度部を2値化した信号の変化を
示す。同図(B)の二値化信号の最初の立下り点121
に着目すると同図(A)の太線部121aのような座標
が検出される。内周点の座標はD−D1の区間であるの
で座標の変化量が反転するラインとしてD,D1をそれ
ぞれ求め内周の左半円の座標が求まる。同様にして最後
の立上り点122を検出することにより内周の右半円を
求め、以下は外周点と同様の方法で円形性の検査を行
う。
【0026】図8は図1の画像エッジ検出回路6の構成
をさらに詳しく示したものである。図8において6Aは
最初の立上り点を記憶するメモリ、6Bは最初の立下り
点を記憶するメモリ、6Cは最後の立上り点を記憶する
メモリ、6Dは最後の立下り点を記憶するメモリであ
る。このメモリ6Aと6Dのデータから外周検出を行う
ことができ、同じくメモリ6Bと6Cのデータから内周
検出を行うことができる。
をさらに詳しく示したものである。図8において6Aは
最初の立上り点を記憶するメモリ、6Bは最初の立下り
点を記憶するメモリ、6Cは最後の立上り点を記憶する
メモリ、6Dは最後の立下り点を記憶するメモリであ
る。このメモリ6Aと6Dのデータから外周検出を行う
ことができ、同じくメモリ6Bと6Cのデータから内周
検出を行うことができる。
【0027】本発明では、上述のような高輝度部内,外
周の円形性検査を行う際、容器の変形,へこみのほか高
輝度部へのゴミ付着等も検出できて不良検出精度が高ま
るので円形性検査と従来の不良検出回路による黒点,白
点の検査を並行実施することでウィンドウの数を削減す
ることができる。図3は本発明に基づくウィンドウの実
施例を示すもので、この図は図13(B)に対応する。
即ち図3においては図13の口部高輝度部103を含む
ウィンドウW1とこの隣接ウィンドウW2とを合わせて
新たな1つのウィンドウWN1とし、同じく図13の底
部高輝度部104を含むウィンドウW4とこれに隣接す
るウィンドウW3とを合わせて新たな他の1つのウィン
ドウWN2とし、さらに図13の底面中央部のウィンド
ウW5に対応する新符号のウィンドウWN3を合わせ3
つのウィンドウ領域WN1,WN2,WN3に区分して
領域数を減らすことができる。
周の円形性検査を行う際、容器の変形,へこみのほか高
輝度部へのゴミ付着等も検出できて不良検出精度が高ま
るので円形性検査と従来の不良検出回路による黒点,白
点の検査を並行実施することでウィンドウの数を削減す
ることができる。図3は本発明に基づくウィンドウの実
施例を示すもので、この図は図13(B)に対応する。
即ち図3においては図13の口部高輝度部103を含む
ウィンドウW1とこの隣接ウィンドウW2とを合わせて
新たな1つのウィンドウWN1とし、同じく図13の底
部高輝度部104を含むウィンドウW4とこれに隣接す
るウィンドウW3とを合わせて新たな他の1つのウィン
ドウWN2とし、さらに図13の底面中央部のウィンド
ウW5に対応する新符号のウィンドウWN3を合わせ3
つのウィンドウ領域WN1,WN2,WN3に区分して
領域数を減らすことができる。
【0028】図9は図1の動作手順を示すフローチャー
トである。次に図9を用いて図1の動作を説明する。な
お以下S1〜S13の符号は図9中のステップを示す。
まず画像出力切替スイッチ17を画像エッジ検出回路6
側に切替えると共に、画像入力切替スイッチ18をスル
ー側、つまり画像エッジ検出回路6が直接、多値画像信
号POを入力する側に切替え(S1)、対象画像の位置
ズレ検出を行う(S2)。また同時にX投影回路9,Y
投影回路10,処理領域決定回路14を介して、処理領
域の決定を行う(S3)。即ちステップS2では図1の
位置ズレ量決定回路13を介して容器画像の位置ズレ量
Δx,Δyを求め、正しい位置にウィンドウが発生でき
るように画像アドレス発生回路3へ平行位置ズレに関す
る補正量を与える。またステップS3では処理領域決定
回路14にて容器画像が他の容器画像に連接した際の分
離を行い、走査領域が連接する容器画像を含まないよう
走査範囲を切取る。
トである。次に図9を用いて図1の動作を説明する。な
お以下S1〜S13の符号は図9中のステップを示す。
まず画像出力切替スイッチ17を画像エッジ検出回路6
側に切替えると共に、画像入力切替スイッチ18をスル
ー側、つまり画像エッジ検出回路6が直接、多値画像信
号POを入力する側に切替え(S1)、対象画像の位置
ズレ検出を行う(S2)。また同時にX投影回路9,Y
投影回路10,処理領域決定回路14を介して、処理領
域の決定を行う(S3)。即ちステップS2では図1の
位置ズレ量決定回路13を介して容器画像の位置ズレ量
Δx,Δyを求め、正しい位置にウィンドウが発生でき
るように画像アドレス発生回路3へ平行位置ズレに関す
る補正量を与える。またステップS3では処理領域決定
回路14にて容器画像が他の容器画像に連接した際の分
離を行い、走査領域が連接する容器画像を含まないよう
走査範囲を切取る。
【0029】次に画像入力切替スイッチ18をフレーム
メモリ1側に切替え(S4)、フレームメモリ1の濃淡
画像データ1aを基に以下の良否判定処理を行うように
する。先ず対象缶の検査対象ウィンドウ領域を口部高輝
度部103を含むウィンドウWN1の領域とし、他のウ
ィンドウ領域WN2,WN3をマスクする(S5)。そ
して全てのウィンドウについての検査が終了するまでは
(S5A,分岐N)、ステップS6へ進む。ステップS
6では画像出力切替スイッチ17を不良検出回路7側に
切換え、不良検出回路7,不良検出判定回路12を介し
て、不良検出処理を行う(S7)。ここで不良検出回路
7は微分法などの手法により黒汚れ,白汚れを検出して
不良画素数を計測し、不良検出判定回路12はこの計測
された不良画素数を所定値と比較して良否の判別を行い
後述のステップで総合判定回路15へ出力を行う。
メモリ1側に切替え(S4)、フレームメモリ1の濃淡
画像データ1aを基に以下の良否判定処理を行うように
する。先ず対象缶の検査対象ウィンドウ領域を口部高輝
度部103を含むウィンドウWN1の領域とし、他のウ
ィンドウ領域WN2,WN3をマスクする(S5)。そ
して全てのウィンドウについての検査が終了するまでは
(S5A,分岐N)、ステップS6へ進む。ステップS
6では画像出力切替スイッチ17を不良検出回路7側に
切換え、不良検出回路7,不良検出判定回路12を介し
て、不良検出処理を行う(S7)。ここで不良検出回路
7は微分法などの手法により黒汚れ,白汚れを検出して
不良画素数を計測し、不良検出判定回路12はこの計測
された不良画素数を所定値と比較して良否の判別を行い
後述のステップで総合判定回路15へ出力を行う。
【0030】次に画像出力切替スイッチ17を画像エッ
ジ検出回路6側に切換えてこの画像エッジ検出回路6を
再び動作させ、前述のように高輝度部の2値化を行って
前述した方法による外周,内周の座標点や外周円,内周
円の面積の計測を行い(S9)、高輝度部判定回路11
を介し円形性検査及び基準面積値との比較を行って良否
を判定し、後述のステップで総合判定回路15に判定結
果の出力を行う。総合判定回路15では高輝度部判定回
路11,不良検出判定回路12の何れかの判定が不良で
あれば(S10→S11,分岐Y)、出力回路16へ不
良品出力を指示する(S12)。他方、前記ステップS
11で良品であれば、再びステップS5へ戻り次の検査
対象領域を底部高輝度部104を含むウィンドウ領域W
N2とし、他の領域WN1,WN3をマスクして以下ス
テップS12までの手順を繰返す。このようにしてウィ
ンドウWN3までの全てのウィンドウについての検査が
終了したら(S5A,分岐Y)、総合判定回路15を介
し出力回路16へ良品出力を指示させる(S13)。
ジ検出回路6側に切換えてこの画像エッジ検出回路6を
再び動作させ、前述のように高輝度部の2値化を行って
前述した方法による外周,内周の座標点や外周円,内周
円の面積の計測を行い(S9)、高輝度部判定回路11
を介し円形性検査及び基準面積値との比較を行って良否
を判定し、後述のステップで総合判定回路15に判定結
果の出力を行う。総合判定回路15では高輝度部判定回
路11,不良検出判定回路12の何れかの判定が不良で
あれば(S10→S11,分岐Y)、出力回路16へ不
良品出力を指示する(S12)。他方、前記ステップS
11で良品であれば、再びステップS5へ戻り次の検査
対象領域を底部高輝度部104を含むウィンドウ領域W
N2とし、他の領域WN1,WN3をマスクして以下ス
テップS12までの手順を繰返す。このようにしてウィ
ンドウWN3までの全てのウィンドウについての検査が
終了したら(S5A,分岐Y)、総合判定回路15を介
し出力回路16へ良品出力を指示させる(S13)。
【0031】図2は図1の処理の高速化を計ったブロッ
ク回路図である。図2においては、図1の画像入力切替
スイッチ18を省略すると共にウィンドウ回路5を新た
な回路5Aとし、また画像エッジ検出回路6に相当する
回路を6−1,6−2と2つ設け、この一方の画像エッ
ジ検出回路6−2は多値画像信号POを(ウィンドウゲ
ート回路5Aを介し)直接入力してその検出結果を位置
ズレ量決定回路13に与えるようにし、さらに図1の画
像出力切換スイッチ17を省略して、フレームメモリの
出力画像信号1aを(ウィンドウゲート回路5Aを介
し)他方の画像エッジ検出回路6−1と不良検出回路7
とに並列に与えるようにし、高輝度判定回路11の処理
と不良検出回路11の処理とを同時に並行して実行させ
るようにしたものである。
ク回路図である。図2においては、図1の画像入力切替
スイッチ18を省略すると共にウィンドウ回路5を新た
な回路5Aとし、また画像エッジ検出回路6に相当する
回路を6−1,6−2と2つ設け、この一方の画像エッ
ジ検出回路6−2は多値画像信号POを(ウィンドウゲ
ート回路5Aを介し)直接入力してその検出結果を位置
ズレ量決定回路13に与えるようにし、さらに図1の画
像出力切換スイッチ17を省略して、フレームメモリの
出力画像信号1aを(ウィンドウゲート回路5Aを介
し)他方の画像エッジ検出回路6−1と不良検出回路7
とに並列に与えるようにし、高輝度判定回路11の処理
と不良検出回路11の処理とを同時に並行して実行させ
るようにしたものである。
【0032】図10は図2の動作手順を示すフローチャ
ートで図9の手順よりスイッチ17,18の切替手順S
1,S4,S6,S8が省略されているほか、ステップ
S7の不良検出処理とステップS9の高輝度部の処理と
が並列化されている。
ートで図9の手順よりスイッチ17,18の切替手順S
1,S4,S6,S8が省略されているほか、ステップ
S7の不良検出処理とステップS9の高輝度部の処理と
が並列化されている。
【0033】図11は缶容器の底面形状が異なる場合の
底部高輝度部の説明図で、同図(A)は上面(画像)
図、同図(B)は側断面図である。この例では底部高輝
度部104は104−1,104−2と2つ発生してい
る。このように缶底部の形状により底部高輝度部はいく
つかの同心円状に発生することがある。このような場合
は底部領域を適当に分割し、ウィンドウを増やすことに
より対応する。図9,図10のステップS5はそのため
の条件分岐である。また底部領域は走査領域として小さ
いためウィンドウを多少増やしても処理の高速性を維持
することができる。
底部高輝度部の説明図で、同図(A)は上面(画像)
図、同図(B)は側断面図である。この例では底部高輝
度部104は104−1,104−2と2つ発生してい
る。このように缶底部の形状により底部高輝度部はいく
つかの同心円状に発生することがある。このような場合
は底部領域を適当に分割し、ウィンドウを増やすことに
より対応する。図9,図10のステップS5はそのため
の条件分岐である。また底部領域は走査領域として小さ
いためウィンドウを多少増やしても処理の高速性を維持
することができる。
【0034】
【発明の効果】本発明によれば、容器の口部高輝度部の
2値画像についての走査ライン上の最初の立上り点と最
後の立下り点との中点座標から容器の位置を特定し、さ
らに容器の連接方向と垂直な方向への前記口部高輝度部
の2値画像の投影量を求めてこの投影量の差分値を容器
の内側から外側へ向けて探索し、所定の条件で連接点を
検出して検出領域を連接容器の領域から分離したのち、
容器内面の高輝度部の円形性検査を行うことにしたの
で、この検査により缶容器の変形、へこみのほか高輝度
部へのゴミ付着等も検出でき検査精度を高めることがで
きる。従ってこの円形性検査と従来の不良検査手段によ
る黒点,白点の検査とを並行して実行することにより一
度に走査するウィンドウ領域の大きさを拡大し(換言す
ればウィンドウの数を削減し)、処理を高速化すること
ができる。
2値画像についての走査ライン上の最初の立上り点と最
後の立下り点との中点座標から容器の位置を特定し、さ
らに容器の連接方向と垂直な方向への前記口部高輝度部
の2値画像の投影量を求めてこの投影量の差分値を容器
の内側から外側へ向けて探索し、所定の条件で連接点を
検出して検出領域を連接容器の領域から分離したのち、
容器内面の高輝度部の円形性検査を行うことにしたの
で、この検査により缶容器の変形、へこみのほか高輝度
部へのゴミ付着等も検出でき検査精度を高めることがで
きる。従ってこの円形性検査と従来の不良検査手段によ
る黒点,白点の検査とを並行して実行することにより一
度に走査するウィンドウ領域の大きさを拡大し(換言す
ればウィンドウの数を削減し)、処理を高速化すること
ができる。
【図1】本発明の第1の実施例としてのハードウェア構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図2】本発明の第2の実施例としてのハードウェア構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図3】円形容器内面の濃度変化と本発明に基づくウィ
ンドウ分割との関係を示す図
ンドウ分割との関係を示す図
【図4】容器内面の不良による高輝度部への影響を示す
図
図
【図5】円形性検査のための高輝度部外周点を示す図
【図6】円形性判定の説明図
【図7】高輝度部内周点の検出方法の説明図
【図8】画像エッジ検出回路の細部構成を示すブロック
図
図
【図9】図1の動作手順を示すフローチャート
【図10】図2の動作手順を示すフローチャート
【図11】円形容器の底面形状が異なる場合の容器内面
の高輝度部を示す図
の高輝度部を示す図
【図12】円形容器内面の高輝度部を示す図
【図13】円形容器内面の濃度変化と従来のウィンドウ
分割との関係を示す図
分割との関係を示す図
【図14】本発明の第1の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図
置検出方法の説明図
【図15】図14を補足する細部説明図
【図16】本発明の第2の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図
置検出方法の説明図
【図17】本発明の第3の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図
置検出方法の説明図
【図18】従来の容器連接点の検出方法の説明図
【図19】図18の検出方法では連接点が検出できない
例を示す図
例を示す図
【図20】本発明に基づく連接点の検出方法の説明図
【図21】図20の部分拡大図
PO 多値濃淡画像信号 1 フレームメモリ 1a フレームメモリ出力画像信号 2 ウィンドウメモリ 2a マスクパターンデータ 3 画像アドレス発生回路 4 ウィンドウアドレス発生回路 5 ウィンドウゲート回路 5A ウィンドウゲート回路 6 画像エッジ検出回路 6−1 画像エッジ検出回路 6−2 画像エッジ検出回路 6A 最初の立上り点メモリ 6B 最初の立下り点メモリ 6C 最後の立上り点メモリ 6D 最後の立下り点メモリ 7 不良検出回路 9 X投影回路 10 Y投影回路 11 高輝度部判定回路 12 不良検出判定回路 13 位置ズレ量決定回路 14 処理領域決定回路 15 総合判定回路 16 出力回路 17 画像出力切替スイッチ 18 画像入力切替スイッチ WN1 ウィンドウ WN2 ウィンドウ WN3 ウィンドウ 101 リング照明器 102(102−1,102−2) 容器 102−1 対象容器 102−2 連接容器 103 口部高輝度部 104 底部高輝度部 104−1 底部高輝度部 104−2 底部高輝度部 x01−x0j 外周点 x11〜x1j 外周点 TB(TB1,TB2)許容値テーブル TB1 最大値テーブル TB2 最小値テーブル 201 マスクパターン A0 最初の立上り点 B0 最初の立上り点 A1 最後の立下り点 B1 最後の立下り点 MA(MA1〜MA4) 中点 MB(MB1〜MB4) 中点 203 カメラ 204 上端位置 L 限界ライン PA 右側連接点 PB 左側連接点 PD 差分減少開始点 ΔPM 最大差分投影点 PM 最大投影点 β 補正量
Claims (1)
- 【請求項1】所定の方向に相互に連接し得る軸対称の円
形容器の前記軸方向からこの円形容器の内面側を照明し
たうえ、TVカメラを介しこの軸方向からこの円形容器
の照明面を撮像し、不良検査手段を介しこの撮像された
画像を解析して前記円形容器の内面の黒汚れおよび白汚
れを検査する円形容器内面検査装置において、 前記撮像の画面走査によって得られる画像信号を前記円
形容器の口部高輝度部の2値画像を得るように2値化
し、この2値化画像信号を前記連接方向に垂直な方向に
投影する手段と、この投影に基づく投影画素量を差分し
て差分投影画素量を求め、前記円形容器の内側から外側
に向けて前記差分投影画素量を調べ、該画素量が最初に
負になる点までの区間内でこの差分投影画素量が所定の
しきい値を越える点を検出し、この検出点の座標値に所
定の補正値を加算した座標値を用いて前記連接の領域を
分離する手段を備えたことを特徴とする円形容器内面検
査装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3249946A JP2874402B2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 円形容器内面検査装置 |
EP97106885A EP0791822A3 (en) | 1991-07-15 | 1992-07-15 | A cylindrical Containers inner surface tester |
US07/914,332 US5233199A (en) | 1991-07-15 | 1992-07-15 | Cylindrical container's inner surface tester |
EP19920112088 EP0523664A3 (en) | 1991-07-15 | 1992-07-15 | A cylindrical container's inner surface tester |
US08/157,908 US5412203A (en) | 1991-07-15 | 1993-11-24 | Cylindrical container inner surface tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3249946A JP2874402B2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 円形容器内面検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0587738A JPH0587738A (ja) | 1993-04-06 |
JP2874402B2 true JP2874402B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=17200535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3249946A Expired - Fee Related JP2874402B2 (ja) | 1991-07-15 | 1991-09-30 | 円形容器内面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2874402B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6760489B1 (en) | 1998-04-06 | 2004-07-06 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for image data interpolation and medium on which image data interpolation program is recorded |
-
1991
- 1991-09-30 JP JP3249946A patent/JP2874402B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0587738A (ja) | 1993-04-06 |
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