JP3050306B2 - 回路分割ａｔｇ部分回路処理方式、回路分割ａｔｇ部分回路処理方法及びこれが書き込まれた記憶媒体 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回路を部分回路に
分割し、分割された部分回路内の故障パタンに基づい
て、故障を検出するためのテストパタンを自動生成する
回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＡＴＧ（Automatic Test Generation：
自動テスト生成）とは、回路内にて発生する可能性があ
る故障を定義し、定義された故障を検出するためのテス
トパタンを、プログラムを用いて自動生成する手法であ
る。

【０００３】まず、回路内にて定義された故障を検出す
るためのランダムパタンを生成し、生成されたランダム
パタンを用いて、回路内にて定義された全ての故障に対
して故障シミュレーションを行う。

【０００４】次に、故障シミュレーションによって検出
された故障のパタンをテストパタンとして採用し、検出
された故障はそれ以降は故障検出の対象としないように
するランダムテストパタン生成を行う。

【０００５】ランダムテストパタン生成にて検出される
故障の数が少なくなった後、回路構成を参照しながらテ
ストパタンを自動的に生成するＡＴＧ処理によってテス
トパタンを生成する。ここでも、検出された故障はそれ
以降は故障検出の対象としないようにする。

【０００６】ここで、上述したようなテストパタンの生
成においては、目標とする故障検出率（後述）を予め設
定し、故障検出率が設定した値に達した場合に処理を終
了する方法と、目標とする故障検出率を設定しない方法
とがある。

【０００７】上述した故障検出率の算出方法において
は、例えば以下に示すような方法がある。

【０００８】（１）（故障検出率）＝（検出された故障
の数）／（故障数全体） （２）（故障検出率）＝（検出された故障の数）／
｛（全故障数）−（検出不可能と判定された故障の
数）｝ （３）（故障検出率）＝｛（検出された故障の数）＋
（検出不可能と判定された故障の数）｝／（全故障数） ここで、上述したＡＴＧ処理においては、その処理に莫
大な時間がかかる。そこで、処理時間を短縮させるため
の方法の一つとして分散処理がある。

【０００９】回路分割分散処理ＡＴＧは、ＡＴＧ処理を
分散して行う方法の一つであり、回路をいくつかの部分
回路に分割し、分割された部分回路毎にＡＴＧを行うも
のである。

【００１０】部分回路の分割方法は、それぞれの部分回
路を独立に処理することが可能となる（処理する順序を
任意に入れ替えられる）ような方法であればどのような
分割方法でも良い。

【００１１】例えば、全ての出力端子をいくつかのグル
ープに分け、１つのグループの出力端子に関係する素子
の全てを一つの部分回路とするという方法がある。しか
しながらこの方法では、複数の出力端子に影響を与える
素子は複数の部分回路に重複して含まれる可能性があ
る。この場合、複数の部分回路に重複して含まれる素子
の入力または出力に定義された故障は、複数の部分回路
に重複して含まれることとなってしまう。

【００１２】他の回路分割の方法でも同様に、複数の部
分回路に同じ故障が重複して含まれることがある。部分
回路の数は、用いるＣＰＵの数よりも多くなるように分
ける。複数のＣＰＵに部分回路のＡＴＧ処理を割り当
て、ＡＴＧ処理が終了したＣＰＵに次の部分回路のＡＴ
Ｇ処理を割り当てていく。

【００１３】図６は、従来の回路分割ＡＴＧ部分回路処
理方式の一構成例を示すブロック図である。

【００１４】本従来例は図６に示すように、乱数を用い
てランダムパタンを発生させ、発生したランダムパタン
とＡＴＧ処理を行う回路に含まれる全ての素子及びそれ
らの素子間の接続に関する情報である入力回路情報１と
ＡＴＧ処理を行う回路において定義することが可能な故
障に関する情報である入力故障情報２とに基づいて、回
路内の故障を検出するための故障シミュレーションを行
い、該故障シミュレーションによって検出された故障に
基づいて、回路内の故障を検出するためのテストパタン
を生成し、生成されたテストパタンをパタン１２として
出力するとともに、故障シミュレーションにおいて検出
されなかった故障に関する情報を未検出故障情報４とし
て出力するランダムテストパタン生成手段３と、入力回
路情報１に基づいて、ＡＴＧ処理を行う回路を分割し、
部分回路を生成するとともに、生成された部分回路とラ
ンダムテストパタン生成手段３から出力された未検出故
障情報４とに基づいて、部分回路にて検出可能な故障情
報を生成し、部分回路情報及び故障情報６として出力す
る部分回路作成手段５と、部分回路作成手段５から出力
された部分回路情報及び故障情報６に基づいて、回路内
の故障を検出するためのテストパタンを自動生成し、生
成したテストパタンをパタン１２として出力するととも
に、テストパタンの生成に用いられなかった故障情報を
未検出故障情報４または出力未検出故障情報１５として
出力するＡＴＧ手段１０と、ランダムテストパタン生成
手段３及びＡＴＧ手段１０にて生成されたテストパタン
１２をマージし、出力パタン１４として出力するパタン
マージ手段１３とから構成されている。なお、ＡＴＧ手
段１０においては、故障検出率が指定した値に達してい
ない場合にてテストパタンの生成に用いられていない故
障に関する情報が未検出故障情報４として出力され、故
障検出率が指定した値に達した場合にてテストパタンの
生成に用いられていない故障に関する情報が出力未検出
故障情報１５として出力される。

【００１５】以下に、上記のように構成された回路分割
ＡＴＧ部分回路処理方式におけるテストパタン生成処理
について説明する。

【００１６】図７は、図６に示した回路分割ＡＴＧ部分
回路処理方式におけるテストパタン生成処理を説明する
ためのフローチャートである。

【００１７】まず、ランダムテストパタン生成手段２に
おいて、乱数を用いてランダムパタンが生成され、生成
されたランダムパタンと入力故障情報２として格納され
ている故障のうちまだ検出されていない全ての故障の情
報とを用いて故障を検出するための故障シミュレーショ
ンが行われ、故障シミュレーションによって検出された
故障のパタンがテストパタンとして採用される（ステッ
プＳ１０１）。なお、検出された故障はそれ以降のパタ
ン生成の対象から除外される。

【００１８】なお、ステップＳ１０１における処理にお
いては、部分回路作成前に回路全体に対して行っても良
いし、部分回路作成後にそれぞれの部分回路に対して行
っても良い。本従来例においては、部分回路作成前に回
路全体に対して行っている。また、ランダムテストパタ
ン生成処理においては、検出しやすい故障が検出される
傾向があるため、この方法でどれだけの故障を検出でき
るかがその回路の回路構成が故障を検出しやすいかどう
かの指標となる。

【００１９】ステップＳ１０１において生成されたテス
トパタンはパタン１２として出力され、また、ステップ
Ｓ１０１における故障シミュレーションにて検出されな
かった故障は引き続きテストパタンの生成に用いられる
ために未検出故障情報４として出力される。

【００２０】次に、部分回路作成手段５において、入力
回路情報１に基づいて、ＡＴＧ処理を行う回路が、ＣＰ
Ｕの数以上に分割され、それにより部分回路が生成され
るとともに、生成された部分回路と未検出故障情報４と
に基づいて、部分回路にて検出可能な故障情報が生成さ
れ、部分回路情報及び故障情報６として出力される（ス
テップＳ１０２）。

【００２１】ステップＳ１０２にて部分回路作成手段５
から出力された部分回路情報及び故障情報６は、回路内
のＣＰＵのうち空いているＣＰＵのＡＴＧ手段１０に渡
され、ＡＴＧ手段１０において、部分回路情報及び故障
情報６に基づいて、回路内の故障を検出するためのテス
トパタンが自動生成される（ステップＳ１０３）。

【００２２】ステップＳ１０３において生成されたテス
トパタンはパタン１２として出力され、また、ステップ
Ｓ１０３においてテストパタン生成に用いられなかった
故障、すなわち、検出されなかった故障は引き続きテス
トパタンの生成に用いられるために未検出故障情報４と
して出力される。

【００２３】その後、上述した一連の処理において検出
された故障が、予め設定された目標故障検出率を満たす
ような値となっているかどうかが判断され（ステップＳ
１０４）、目標故障検出率を満たすような値であると判
断された場合、パタンマージ手段１３において、ランダ
ムテストパタン生成手段３及びＡＴＧ手段１０にて生成
されたテストパタン１２がマージされ、出力パタン１４
として出力されるとともに、ＡＴＧ手段１０から、テス
トパタンの生成に用いられていない故障に関する情報が
出力未検出故障情報１５として出力される（ステップＳ
１０５）。

【００２４】一方、ステップＳ１０４において、目標故
障検出率を満たすような値ではないと判断された場合、
全ての部分回路についての処理が終了したかどうかが判
断され（ステップＳ１０６）、全ての部分回路について
の処理が終了したと判断された場合、ステップＳ１０５
における処理に移り、また、全ての部分回路についての
処理が終了していないと判断された場合、ステップＳ１
０２における処理に戻る。

【００２５】

【発明が解決しようとする課題】検出困難な故障を検出
することは、多大な時間を費やすことになる。例えば、
１Ｍゲートを有する回路において、全体の故障検出に１
０数時間費やされるのに対して、その中の１つの検出困
難な故障を検出するのに数時間もの時間が費やされてし
まう場合がある。

【００２６】そのため、上述したような従来の回路分割
ＡＴＧ部分回路処理方式においては、回路内において、
検出することが困難な故障が局所的に存在する場合、該
故障を有する部分回路が早い順番にて処理されると、後
に処理される部分回路内に容易に検出できる故障が存在
した場合に、容易に検出できる故障を検出するまでの時
間が必要以上に費やされてしまうという問題点がある。

【００２７】また、検出することが困難な故障を検出し
なくても目標故障検出率に到達できるような場合におい
ても、それらの故障を検出するための処理が行われるた
め、目標故障検出率に到達するために必要以上の時間を
費やしてしまうという問題点がある。

【００２８】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、テストパタ
ン生成処理に費やす時間を短縮することができる回路分
割ＡＴＧ部分回路処理方式を提供することを目的とす
る。

【００２９】

【課題を解決しようとする手段】上記目的を達成するた
めに本発明は、乱数を用いてランダムパタンを発生させ
るとともに、発生したランダムパタンを用いて回路内の
故障を検出し、検出された故障に基づいて、回路内の故
障を検出するためのテストパタンを生成するランダムテ
ストパタン生成手段と、回路を分割することにより部分
回路を作成するとともに、作成された部分回路にて検出
可能な故障情報を生成する部分回路作成手段と、該部分
回路作成手段にて作成された部分回路及び故障情報に基
づいて、部分回路内の故障を検出するためのテストパタ
ンを自動生成するＡＴＧ手段と、前記ランダムテストパ
タン生成手段及び前記ＡＴＧ手段にて生成されたテスト
パタンをマージし、出力パタンとして出力するパタンマ
ージ手段とを有してなる回路分割ＡＴＧ部分回路処理装
置において、前記部分回路作成手段にて作成された部分
回路及び故障情報に基づいて、部分回路内の故障の数が
所定の値よりも大きな場合、該部分回路における故障情
報を後回しリストとして出力する故障検出困難回路判定
手段を有し、前記ＡＴＧ手段は、前記故障検出困難回路
判定手段から後回しリストとして出力された部分回路に
おける故障情報以外の故障情報に基づいて前記テストパ
タンを生成した後、前記後回しリストとして出力された
部分回路における故障情報に基づいて前記テストパタン
を生成することを特徴とする。

【００３０】また、前記所定の値は、前記ランダムテス
トパタン生成手段によって検出された故障の数の、回路
全体にて定義される故障の数に対する割合に基づいて設
定されることを特徴とする。

【００３１】また、前記故障検出困難回路判定手段から
後回しリストとして出力された部分回路における故障情
報を格納する後回しリスト格納手段を有することを特徴
とする。

【００３２】また、前記故障検出困難回路判定手段から
後回しリストとして出力された部分回路における故障情
報以外の故障情報に基づいたテストパタンの生成が前記
ＡＴＧ手段にて行われた後、前記後回しリストとして出
力された部分回路における故障情報を前記後回しリスト
格納手段から抽出し、前記ＡＴＧ手段に対して出力する
故障検出困難回路処理手段を有することを特徴とする。

【００３３】また、前記故障検出困難回路処理手段は、
前記後回しリスト格納手段に格納された部分回路のう
ち、故障数が少ない部分回路における故障情報から順に
前記ＡＴＧ手段に対して出力することを特徴とする。

【００３４】また、前記ＡＴＧ手段は、故障検出が予め
決められた目標故障検出率に達した場合に故障検出処理
を終了することを特徴とする。

【００３５】また、前記部分回路作成手段は、前記回路
を回路内のＣＰＵの数以上の部分回路に分割することを
特徴とする。

【００３６】また、乱数を用いて発生したランダムパタ
ンを用いて回路内の故障を検出し、検出された故障に基
づいて、回路内の故障を検出するためのテストパタンを
生成する第１の処理と、回路を分割することにより部分
回路を作成するとともに、作成された部分回路にて検出
可能な故障情報を生成する第２の処理と、該第２の処理
にて作成された部分回路及び故障情報に基づいて、部分
回路内の故障を検出するためのテストパタンを自動生成
する第３の処理と、前記第１及び第３の処理にて生成さ
れたテストパタンをマージし、出力パタンとして出力す
る第４の処理とを有してなる回路分割ＡＴＧ部分回路処
理方法において、前記第２の処理にて作成された部分回
路及び故障情報に基づいて、部分回路内の故障の数が所
定の値よりも大きな場合、該部分回路における故障情報
を後回しリストとして出力する第５の処理を有し、前記
第３の処理は、後回しリストとして出力された部分回路
における故障情報以外の故障情報に基づいて前記テスト
パタンを生成した後、前記後回しリストとして出力され
た部分回路における故障情報に基づいて前記テストパタ
ンを生成することを特徴とする。

【００３７】また、前記所定の値は、前記ランダムテス
トパタン生成手段によって検出された故障の数の、回路
全体にて定義される故障の数に対する割合に基づいて設
定することを特徴とする。

【００３８】また、前記第３の処理における前記後回し
リストとして出力された部分回路の故障情報に基づいた
前記テストパタンの生成は、前記部分回路内の故障数が
少ないものから行うことを特徴とする。

【００３９】また、前記第３の処理における故障検出が
予め決められた目標故障検出率に達した場合に故障検出
処理を終了することを特徴とする。

【００４０】また、前記第３の処理における前記後回し
リストとして出力された部分回路の故障情報に基づいた
前記テストパタンの生成は、前記部分回路における故障
を複数のブロックに分割して行うことを特徴とする。

【００４１】また、コンピュータの処理プログラムが書
き込まれた記憶媒体において、前記回路分割ＡＴＧ部分
回路処理方法が書き込まれたことを特徴とする。

【００４２】（作用）上記のように構成された本発明に
おいては、部分回路作成手段にて作成された部分回路及
び故障情報に基づいて、部分回路内の故障の数が所定の
値よりも大きな場合、該部分回路における故障情報が後
回しリストとして出力され、ＡＴＧ手段において、後回
しリストとして出力された部分回路における故障情報以
外の故障情報に基づいてテストパタンが生成された後、
後回しリストとして出力された部分回路における故障情
報に基づいてテストパタンが生成される。

【００４３】このように、故障検出が困難な回路構成を
有する部分回路が後回しリストとされ、処理の順番が後
回しになる。それにより、故障検出が困難な回路構成を
有する部分回路で処理されるはずであった故障が、故障
検出が容易な回路構成を有する部分回路にも重複して含
まれていた場合、故障検出が容易な回路構成を有する部
分回路にて先に処理が行われ、故障が検出される。

【００４４】故障検出が容易な回路構成を有する部分回
路にて該故障が先に検出されれば、一度検出された故障
はそれ以降はテストパタン生成の対象から除外されるた
め、後回しになった、故障検出が困難な回路構成を有す
る困難回路では処理されなくなり、回路分割分散ＡＴＧ
全体として、その分の処理時間が短縮されることにな
る。

【００４５】また、目標故障検出率が１００％よりも小
さな場合においては、故障検出が困難な回路構成を有す
る部分回路における故障検出処理を全く行う前に目標故
障検出率が達成されれば、故障検出が困難な回路構成を
有する部分回路における故障検出処理を全く行う必要が
なくなることになり、その場合、故障検出が困難な回路
構成を有する部分回路における故障検出処理に要する処
理時間を削除することができる。例えば、目標故障検出
率を９５％とした場合、残りの５％に検出困難な故障が
含まれていて、故障検出困難な回路構成を有する部分回
路における故障検出処理を行う前にその目標故障検出率
が達成されれば、故障検出が困難な回路構成を有する部
分回路における故障検出処理を全く行う必要がなくな
る。

【００４６】通常、ランダムテストパタン生成において
大半の故障が検出される。一度検出された故障はそれ以
降はテストパタン生成の対象から除外されるので、ラン
ダムテストパタン生成終了後には、回路全体の故障のう
ちの大半がテストパタン生成の対象から除外されてい
る。また、ランダムテストパタン生成においては、生成
されるパタンがランダムパタンであるが故に、検出しや
すい故障が検出される傾向にある。このことを利用し、
ランダムテストパタン生成をある程度行った後で、まだ
検出されていない故障が多く残る部分回路は、故障を検
出しにくい回路構成になっていると判断し、故障検出困
難な部分回路とみなして後回しリストの対象にする。

【００４７】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。

【００４８】（第１の実施の形態）図１は、本発明の回
路分割ＡＴＧ部分回路処理方式の第１の実施の形態を示
すブロック図である。

【００４９】本形態は図１に示すように、乱数を用いて
ランダムパタンを発生させ、発生したランダムパタンと
ＡＴＧ処理を行う回路に含まれる全ての素子及びそれら
の素子間の接続に関する情報である入力回路情報１とＡ
ＴＧ処理を行う回路において定義することが可能な故障
に関する情報である入力故障情報２とに基づいて、回路
内の故障を検出するための故障シミュレーションを行
い、該故障シミュレーションによって検出された故障に
基づいて、回路内の故障を検出するためのテストパタン
を生成し、生成されたテストパタンをパタン１２として
出力するとともに、故障シミュレーションにおいて検出
されなかった故障に関する情報を未検出故障情報４とし
て出力するランダムテストパタン生成手段３と、入力回
路情報１に基づいて、ＡＴＧ処理を行う回路を分割し、
部分回路を生成するとともに、生成された部分回路とラ
ンダムテストパタン生成手段３から出力された未検出故
障情報４とに基づいて、部分回路にて検出可能な故障情
報を生成し、部分回路情報及び故障情報６として出力す
る部分回路作成手段５と、部分回路作成手段５から出力
された部分回路情報及び故障情報６に基づいて、部分回
路内の故障の数が所定の値よりも大きな場合あるいは部
分回路情報及び故障情報６に依存する値である場合に、
その部分回路における故障情報を後回しリストとして出
力するとともに、部分回路内の故障の数が所定の値以下
である場合あるいは部分回路情報及び故障情報６に依存
する値ではない場合に、その部分回路における故障情報
をそのまま出力する故障検出困難回路判定手段７と、故
障検出困難回路判定手段７から出力された後回しリスト
を格納する後回しリスト格納手段８と、部分回路作成手
段５から出力された部分回路情報及び故障情報６に基づ
いて、回路内の故障を検出するためのテストパタンを自
動生成し、生成したテストパタンをパタン１２として出
力するとともに、テストパタンの生成に用いられなかっ
た故障情報を未検出故障情報４または出力未検出故障情
報１５として出力するＡＴＧ手段１０と、後回しリスト
格納手段８に格納された後回しリストをＡＴＧ手段１０
に出力する故障検出困難回路処理手段９と、ランダムテ
ストパタン生成手段３及びＡＴＧ手段１０にて生成され
たテストパタン１２をマージし、出力パタン１４として
出力するパタンマージ手段１３とから構成されている。
なお、ＡＴＧ手段１０においては、故障検出率が指定し
た値に達していない場合にてテストパタンの生成に用い
られていない故障に関する情報が未検出故障情報４とし
て出力され、故障検出率が指定した値に達した場合にて
テストパタンの生成に用いられていない故障に関する情
報が出力未検出故障情報１５として出力される。また、
故障検出困難回路処理手段９は、ＡＴＧ手段１０におい
て、故障検出困難回路判定手段７にて後回しリストとし
て出力されなかった部分回路情報及び故障情報６に基づ
いてテストパタンが自動生成された後、故障検出率が予
め決められた故障検出率に達していない場合、後回しリ
スト格納手段８に格納された後回しリストをＡＴＧ手段
１０に対して出力する。

【００５０】以下に、上記のように構成された回路分割
ＡＴＧ部分回路処理方式におけるテストパタン生成処理
について説明する。

【００５１】図２は、図１に示した回路分割ＡＴＧ部分
回路処理方式におけるテストパタン生成処理を説明する
ためのフローチャートである。

【００５２】まず、ランダムテストパタン生成手段２に
おいて、乱数を用いてランダムパタンが生成され、生成
されたランダムパタンと入力故障情報２として格納され
ている故障のうちまだ検出されていない全ての故障の情
報とを用いて故障を検出するための故障シミュレーショ
ンが行われ、故障シミュレーションによって検出された
故障のパタンがテストパタンとして採用される（ステッ
プＳ１）。なお、検出された故障はそれ以降のパタン生
成の対象から除外される。

【００５３】なお、ステップＳ１における処理において
は、部分回路作成前に回路全体に対して行っても良い
し、部分回路作成後にそれぞれの部分回路に対して行っ
ても良い。本形態においては、部分回路作成前に回路全
体に対して行っている。また、ランダムテストパタン生
成処理においては、検出しやすい故障が検出される傾向
があるため、この方法でどれだけの故障を検出できるか
がその回路の回路構成が故障を検出しやすいかどうかの
指標となる。

【００５４】ステップＳ１において生成されたテストパ
タンはパタン１２として出力され、また、ステップＳ１
における故障シミュレーションにて検出されなかった故
障は引き続きテストパタンの生成に用いられるために未
検出故障情報４として出力される。

【００５５】次に、部分回路作成手段５において、入力
回路情報１に基づいて、ＡＴＧ処理を行う回路が、ＣＰ
Ｕの数以上に分割され、それにより部分回路が生成され
るとともに、生成された部分回路と未検出故障情報４と
に基づいて、部分回路にて検出可能な故障情報が生成さ
れ、部分回路情報及び故障情報６として出力される（ス
テップＳ２）。

【００５６】次に、故障検出困難回路判定手段７におい
て、部分回路作成手段５から出力された部分回路情報及
び故障情報６に基づいて、部分回路内の故障の数が所定
の値よりも大きいかどうかが判断される（ステップＳ
３）。

【００５７】ここで、部分回路内の故障の数が所定の値
よりも大きいかどうかを判断することによって、その部
分回路が故障検出困難な回路であるかどうかが判断され
るが、一般的に、故障検出困難な回路としては、入力さ
れたデータが複数のゲートに分岐され、出力において再
び１つのゲートに集められるようなものが挙げられ、分
岐された先でもさらに分岐されるというもの等は、故障
検出がさらに困難な回路として挙げられる。なお、故障
検出困難な回路であるかどうかを判断するための値にお
いては、予め決められていてもよいが、ランダムテスト
パタン生成手段３において検出された故障の数の、回路
全体にて定義される故障の数に対する割合に基づいて設
定される。

【００５８】ステップＳ３において部分回路内の故障の
数が所定の値よりも大きいと判断された場合は、故障検
出困難回路判定手段７において、その部分回路における
故障情報が後回しリストとして出力され、後回しリスト
格納手段８に格納される（ステップＳ４）。

【００５９】一方、ステップＳ３において部分回路内の
故障の数が所定の値以下であると判断された場合は、そ
の部分回路における故障情報が、回路内のＣＰＵのうち
空いているＣＰＵのＡＴＧ手段１０に渡され、ＡＴＧ手
段１０において、部分回路情報及び故障情報６に基づい
て、回路内の故障を検出するためのテストパタンが自動
生成される（ステップＳ５）。

【００６０】ステップＳ５において生成されたテストパ
タンはパタン１２として出力され、また、ステップＳ５
においてテストパタン生成に用いられなかった故障、す
なわち、検出されなかった故障は引き続きテストパタン
の生成に用いられるために未検出故障情報４として出力
される。

【００６１】その後、上述した一連の処理において検出
された故障の数が、予め設定された目標故障検出率を満
たすような値となっているかどうかが判断され（ステッ
プＳ６）、目標故障検出率を満たすような値であると判
断された場合、パタンマージ手段１３において、ランダ
ムテストパタン生成手段３及びＡＴＧ手段１０にて生成
されたテストパタン１２がマージされ、出力パタン１４
として出力されるとともに、ＡＴＧ手段１０から、テス
トパタンの生成に用いられていない故障に関する情報が
出力未検出故障情報１５として出力される（ステップＳ
７）。

【００６２】一方、ステップＳ６において、目標故障検
出率を満たすような値ではないと判断された場合、全て
の部分回路についての処理が終了したかどうかが判断さ
れ（ステップＳ８）、全ての部分回路についての処理が
終了していないと判断された場合、ステップＳ２におけ
る処理に戻る。

【００６３】一方、ステップＳ８において、全ての部分
回路についての処理が終了したと判断された場合、後回
しリスト格納手段８内に後回しリストが格納されている
かどうかが検出され（ステップＳ９）、後回しリストが
１つも格納されていない場合、ステップＳ７における処
理に移る。

【００６４】一方、ステップＳ９において、後回しリス
ト格納手段８内に後回しリストが格納されていることが
検出された場合、故障検出困難回路処理手段９によっ
て、後回しリスト格納手段８に格納された後回しリスト
（部分回路）が、故障数の少ないものから順にソートさ
れる（ステップＳ１０）。これは、ランダムテストパタ
ン生成後に残った故障数が部分回路の回路構成の故障検
出しやすさの指標になるためであり、このようにソート
することで、後回しになった部分回路が複数ある場合
に、その中で故障検出を最も行いやすい回路構成を有す
る回路から順に処理することができる。

【００６５】次に、故障検出困難回路処理手段９におい
て、未検出故障情報４内の回路全体の未検出故障リスト
から部分回路に対応する故障が選び出され、この故障の
数と、回路全体の故障検出率が目標故障検出率に達する
ために検出される必要のある故障数とが比較され、それ
により、部分回路の目標故障検出率（以下、部分回路目
標故障検出率と称する）が算出される（ステップＳ１
１）。

【００６６】次に、ＡＴＧ手段１０において、ステップ
Ｓ１１にて算出された部分回路目標故障検出率と、部分
回路作成手段５から出力された部分回路情報及び故障情
報６とに基づいて、回路内の故障を検出するためのテス
トパタンが自動生成される（ステップＳ１２）。

【００６７】ステップＳ１２において生成されたテスト
パタンはパタン１２として出力され、また、ステップＳ
５においてテストパタン生成に用いられなかった故障、
すなわち、検出されなかった故障は、未検出故障情報４
として出力される。

【００６８】その後、部分回路の故障検出率が、部分回
路目標故障検出率を満たしているかどうかが判断され
（ステップＳ１３）、部分回路目標故障検出率を満たし
ているを判断された場合、ステップＳ７における処理に
移る。

【００６９】一方、ステップＳ１３において、部分回路
目標故障検出率を満たしていないと判断された場合、後
回しリスト格納手段８に後回しリストが１つも格納され
ていないかどうかが判断され（ステップＳ１４）、後回
しリストが１つも格納されていないと判断された場合は
ステップＳ７における処理に移り、後回しリストが格納
されていると判断された場合はステップＳ１１における
処理に戻る。

【００７０】このように、ステップＳ１１〜Ｓ１４まで
の処理が、回路内におけるいずれかのＣＰＵのＡＴＧ手
段１０にてテストパタンの自動生成が終了する度に行わ
れ、いずれかの部分回路の故障検出率が部分回路目標故
障検出率に達するか、または、後回しリスト９に格納さ
れた後回しリスト（部分回路）がなくなるまで行われ
る。

【００７１】（第２の実施の形態）図３は、本発明の回
路分割ＡＴＧ部分回路処理方式の第２の実施の形態を示
すブロック図である。

【００７２】本形態は図３に示すように、第１の実施の
形態において示したものと比べて、部分回路作成手段５
にて部分回路を作成した後、ランダムテストパタン生成
手段３にてランダムテストパタンを生成する点のみが異
なり、その他の構成については、第１の実施の形態にお
いて示したものと同様である。

【００７３】本形態に示すようにランダムテストパタン
生成を部分回路作成後に行う場合においても、ランダム
テストパタン生成後に、ランダムテストパタン生成に用
いられなかった故障の数を故障検出困難な部分回路であ
るかどうかの指標にするという点において、ランダムテ
ストパタン生成を部分回路作成前に行う第１の実施の形
態に示したものと同じ効果が得られる。

【００７４】（第３の実施の形態）以下に、後回しリス
トの処理を故障分割で行う実施の形態について説明す
る。

【００７５】図４は、本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路
処理方法において後回しリストの処理を故障分割で行う
実施の形態を説明するためのフローチャートである。な
お、故障分割とは、一つの回路で処理する故障を同時に
全部与えず、故障をいくつかのグループに分けて一グル
ープずつ与える方法である。故障分割で分散処理を行う
場合は、複数のＣＰＵに同じ回路を与え、いくつかのグ
ループに分けた故障の１グループずつを違うＣＰＵに与
える。

【００７６】まず、ＡＴＧ処理を行う回路が、ＣＰＵの
数以上に分割され、それにより部分回路が生成されると
ともに、部分回路にて検出可能な故障情報が生成される
（ステップＳ２０１）。

【００７７】次に、乱数を用いてランダムパタンが生成
され、生成されたランダムパタンと入力故障情報として
記述されている故障のうちまだ検出されていない全ての
故障の情報とを用いて故障を検出するための故障シミュ
レーションが行われ、故障シミュレーションによって検
出された故障のパタンがテストパタンとして採用される
（ステップＳ２０２）。なお、検出された故障はそれ以
降のパタン生成の対象から除外される。

【００７８】次に、部分回路内の故障の数が所定の値よ
りも大きいかどうかが判断される（ステップＳ２０
３）。

【００７９】ここで、部分回路内の故障の数が所定の値
よりも大きいかどうかを判断することによって、その部
分回路が故障検出困難な回路であるかどうかが判断され
るが、一般的に、故障検出困難な回路としては、入力さ
れたデータが複数のゲートに分岐され、出力において再
び１つのゲートに集められるようなものが挙げられ、分
岐された先でもさらに分岐されるというもの等は、故障
検出がさらに困難な回路として挙げられる。なお、故障
検出困難な回路であるかどうかを判断するための値にお
いては、予め決められていてもよいが、ランダムテスト
パタン生成手段において検出された故障の数の、回路全
体にて定義される故障の数に対する割合に基づいて設定
される。

【００８０】ステップＳ２０３において部分回路内の故
障の数が所定の値よりも大きいと判断された場合は、そ
の部分回路における故障情報が後回しリストとして出力
され、後回しリスト格納手段に格納される（ステップＳ
２０４）。

【００８１】一方、ステップＳ２０３において部分回路
内の故障の数が所定の値以下であると判断された場合
は、故障に対するパタンの回路構成に基づいて、回路内
の故障を検出するためのテストパタンが自動生成される
（ステップＳ２０５）。

【００８２】その後、上述した一連の処理において検出
された故障の数が、予め設定された目標故障検出率を満
たすような値となっているかどうかが判断され（ステッ
プＳ２０６）、目標故障検出率を満たすような値である
と判断された場合、ステップＳ２０２及びステップＳ２
０５にて生成されたテストパターンがマージされる（ス
テップＳ２０７）。

【００８３】一方、ステップＳ２０６において、目標故
障検出率を満たすような値ではないと判断された場合、
全ての部分回路についての処理が終了したかどうかが判
断され（ステップＳ２０８）、全ての部分回路について
の処理が終了していないと判断された場合、ステップＳ
２０１における処理に戻る。

【００８４】一方、ステップＳ２０８において、全ての
部分回路についての処理が終了したと判断された場合、
後回しリスト格納手段内に後回しリストが格納されてい
るかどうかが検出され（ステップＳ２０９）、後回しリ
ストが１つも格納されていない場合、ステップＳ２０７
における処理に移る。

【００８５】一方、ステップＳ２０９において、後回し
リスト格納手段内に後回しリストが格納されていること
が検出された場合、後回しリスト格納手段に格納された
後回しリスト（部分回路）が、故障数の少ないものから
順にソートされる（ステップＳ２１０）。

【００８６】次に、１つの部分回路内の故障がいくつか
のグループにランダムに分割され（ステップＳＳ２１
１）、回路内の空いているＣＰＵに、分割された故障が
グループ毎に渡され、ＣＰＵそれぞれにおいてテストパ
タンの生成が行われる（ステップＳ２１２）。

【００８７】その後、上述した一連の処理において検出
された故障が、予め設定された目標故障検出率を満たす
ような値となっているかどうかが判断され（ステップＳ
２１３）、目標故障検出率を満たすような値であると判
断された場合、ステップＳ２０７における処理に移る。

【００８８】一方、ステップＳ２１３において、目標故
障検出率を満たすような値ではないと判断された場合、
分割された故障のうち、まだテストパタンの生成に用い
られていない故障があるかどうかが検出され（ステップ
Ｓ２１４）、テストパタンの生成に用いられていない故
障があることが検出された場合、ステップＳ２１２にお
ける処理に戻る。

【００８９】一方、ステップＳ２１４において、テスト
パタンの生成に用いられていない故障がないことが検出
された場合、後回しリスト格納手段内に後回しリストが
格納されているかどうかが検出され（ステップＳ２１
５）、後回しリストが１つも格納されていない場合、ス
テップＳ２０７における処理に移り、後回しリストが格
納されている場合、ステップＳ２１２における処理に戻
る。

【００９０】本形態に示したような、後回しリストの処
理を故障分割で行うものにおいては、以下に記載するよ
うな効果がある。

【００９１】回路分割による分散処理においては、同じ
故障を複数のＣＰＵで同時に扱うことが起り得るが、検
出困難な二つの回路で同時に同じ故障を処理すること
は、処理時間の無駄になる。

【００９２】後回しリストの処理においては、一つの故
障を検出するのにかかる時間が後回しにならない部分回
路で一つの故障を検出する時間に比べて大きいと考えら
れるため、このオーバーヘッドが非常に大きい。

【００９３】後回しリストを故障分割で処理することに
よって、全てのＣＰＵで同じ回路を処理し、異なるＣＰ
Ｕで同じ故障を扱うことがなくなる。つまり、異なるＣ
ＰＵで同じ故障を処理してしまうことによるオーバーヘ
ッドが避けられる。

【００９４】また、後回しリストの処理を故障分割で行
うものにおいては、検出困難回路が最後の回路である場
合に１つのＣＰＵだけでこれを処理させるよりも効率が
よいという効果もある。

【００９５】（第４の実施の形態）以下に、上述した実
施の形態において示した部分回路の作成方法について具
体例を挙げて詳細に説明する。

【００９６】図５は、本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路
処理方法における部分回路の作成方法の実施の一形態を
説明するためのフローチャートである。

【００９７】まず、ＡＴＧ処理を行う回路の情報及び該
回路の故障情報が読み込まれる（ステップＳ３０１）。

【００９８】次に、ＰＯ（Primary Output）側から順次
入力側のゲートをたどっていき、各ＰＯのそれぞれのコ
ーンに含まれるコーンの数がカウントされる（ステップ
Ｓ３０２）。ここで、コーンとは、ＰＯ側から順次入力
側のゲートをたどっていきＰＯ（Primary Input）まで
に得られるゲートの集合のことをいう。

【００９９】次に、各ＰＯのそれぞれのコーンに含まれ
るゲートの数に基づいて、ゲートの数が少ないものから
ＰＯが順次ソートされ、ＰＯリストが作成される（ステ
ップＳ３０３）。

【０１００】次に、最後にソートされたＰＯのコーンに
含まれるゲートの数が、後に作成される部分回路のゲー
ト数のしきい値として設定される（ステップＳ３０
４）。

【０１０１】その後、ランダムテストパタンが生成され
る（ステップＳ３０５）。

【０１０２】次に、ソートされた順にＰＯリストからＰ
Ｏが１つずつ取り出され（ステップＳ３０６）、そのＰ
Ｏのコーンに含まれるゲートのリストが作成される（ス
テップＳ３０７）。

【０１０３】次に、ステップＳ３０７にて作成されたリ
ストに基づいて、ステップＳ３０６にて取り出されたＰ
Ｏのコーンに含まれるゲートの数が部分回路の合計ゲー
ト数に加えられる（ステップＳ３０８）。

【０１０４】次に、ステップＳ３０８における、ゲート
数の合計が、ステップＳ３０４にて設定されたしきい値
を越えているかどうかが判断され（ステップＳ３０
９）、しきい値を越えていると判断された場合、その部
分回路内の故障リストが作成され（ステップＳ３１
０）、また、しきい値を越えていないと判断された場合
は、ステップＳ３０６における処理に戻る。

【０１０５】次に、ステップＳ３０７にて作成されたゲ
ートのリストと、ステップＳ３１０にて作成された故障
リストがリモートＣＰＵに送られる（ステップＳ３１
１）。

【０１０６】その後、リモートＣＰＵにおいて、ステッ
プＳ３１１にて送られてきたゲートのリストと故障リス
トとに基づいてＡＴＧ処理が行われる（ステップＳ３１
２）。

【０１０７】その後の処理においては、上述した実施の
形態において説明したものと同様であるため、ここでの
説明は省略する。

【０１０８】なお、リモートＣＰＵにおいてＡＴＧ処理
が終了すると、その旨の信号が部分回路作成手段に送ら
れ、ステップＳ３０６における処理に戻る。

【０１０９】なお、上述した回路分割ＡＴＧ部分回路処
理方法においては、ＲＯＭ等の、コンピュータの処理プ
ログラムが書き込まれる記憶媒体に書き込まれ、実施す
る際に該記憶媒体から読み出される。

【０１１０】

【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
分回路作成手段にて作成された部分回路及び故障情報に
基づいて、部分回路内の故障の数が所定の値よりも大き
な場合、該部分回路における故障情報が後回しリストと
して出力され、ＡＴＧ手段において、後回しリストとし
て出力された部分回路における故障情報以外の故障情報
に基づいてテストパタンが生成された後、後回しリスト
として出力された部分回路における故障情報に基づいて
テストパタンが生成される構成とし、故障検出が予め決
められた目標故障検出率に達した場合に故障検出処理を
終了するため、故障検出が困難な回路構成を有する部分
回路を処理する前に目標故障検出率に達した場合、故障
検出が困難な回路構成を有する部分回路の処理を行う必
要がなくなり、回路分割によるＡＴＧに要する処理時間
を大幅に削減することができる。

【０１１１】また、故障検出が困難な回路構成を有する
部分回路で処理されるはずであった故障が、故障検出が
容易な回路構成を有する部分回路にも重複して含まれて
いた場合、故障検出が容易な回路構成を有する部分回路
にて先に処理が行われ、故障が検出され、検出された故
障はそれ以降はテストパタン生成の対象から除外される
ため、後回しになった故障検出が困難な回路構成を有す
る困難回路では処理されなくなり、回路分割分散ＡＴＧ
全体として、その分の処理時間を短縮することができ
る。

【０１１２】また、後回しリストとされる部分回路にて
検出する必要のある故障数が、対応する未検出故障リス
トの全てであるとは限らないため、この部分回路で必要
な故障検出率を計算して指定することで、処理する故障
数を減らすことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式の第
１の実施の形態を示すブロック図である。

【図２】図１に示した回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式
におけるテストパタン生成処理を説明するためのフロー
チャートである。

【図３】本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式の第
２の実施の形態を示すブロック図である。

【図４】本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法にお
いて後回しリストの処理を故障分割で行う実施の形態を
説明するためのフローチャートである。

【図５】本発明の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法にお
ける部分回路の作成方法の実施の一形態を説明するため
のフローチャートである。

【図６】従来の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式の一構
成例を示すブロック図である。

【図７】図６に示した回路分割ＡＴＧ部分回路処理方式
におけるテストパタン生成処理を説明するためのフロー
チャートである。

【符号の説明】

１ 入力回路情報 ２ 入力故障情報 ３ ランダムテストパタン生成手段 ４ 未検出故障情報 ５ 部分回路作成手段 ６ 部分回路情報及び故障情報 ７ 故障検出困難回路判定手段 ８ 後回しリスト格納手段 ９ 故障検出困難回路処理手段 １０ ＡＴＧ手段 １２ パタン １３ パタンマージ手段 １４ 出力パタン １５ 出力未検出故障情報

Claims (20)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 乱数を用いてランダムパタンを発生させ
   るとともに、発生したランダムパタンを用いて回路内の
   故障を検出し、検出された故障に基づいて、回路内の故
   障を検出するためのテストパタンを生成するランダムテ
   ストパタン生成手段と、回路を分割することにより部分
   回路を作成するとともに、作成された部分回路にて検出
   可能な故障情報を生成する部分回路作成手段と、該部分
   回路作成手段にて作成された部分回路及び故障情報に基
   づいて、部分回路内の故障を検出するためのテストパタ
   ンを自動生成するＡＴＧ手段と、前記ランダムテストパ
   タン生成手段及び前記ＡＴＧ手段にて生成されたテスト
   パタンをマージし、出力パタンとして出力するパタンマ
   ージ手段とを有してなる回路分割ＡＴＧ部分回路処理装
   置において、 前記部分回路作成手段にて作成された部分回路及び故障
   情報に基づいて、部分回路内の故障の数が所定の値より
   も大きな場合、該部分回路における故障情報を後回しリ
   ストとして出力する故障検出困難回路判定手段を有し、 前記ＡＴＧ手段は、前記故障検出困難回路判定手段から
   後回しリストとして出力された部分回路における故障情
   報以外の故障情報に基づいて前記テストパタンを生成し
   た後、前記後回しリストとして出力された部分回路にお
   ける故障情報に基づいて前記テストパタンを生成するこ
   とを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の回路分割ＡＴＧ部分回
   路処理装置において、 前記所定の値は、前記ランダムテストパタン生成手段に
   よって検出された故障の数の、回路全体にて定義される
   故障の数に対する割合に基づいて設定されることを特徴
   とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理装置。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の回路分
   割ＡＴＧ部分回路処理装置において、 前記故障検出困難回路判定手段から後回しリストとして
   出力された部分回路における故障情報を格納する後回し
   リスト格納手段を有することを特徴とする回路分割ＡＴ
   Ｇ部分回路処理装置。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の回路分割ＡＴＧ部分回
   路処理装置において、 前記故障検出困難回路判定手段から後回しリストとして
   出力された部分回路における故障情報以外の故障情報に
   基づいたテストパタンの生成が前記ＡＴＧ手段にて行わ
   れた後、前記後回しリストとして出力された部分回路に
   おける故障情報を前記後回しリスト格納手段から抽出
   し、前記ＡＴＧ手段に対して出力する故障検出困難回路
   処理手段を有することを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分
   回路処理装置。
5. 【請求項５】 請求項４に記載の回路分割ＡＴＧ部分回
   路処理装置において、 前記故障検出困難回路処理手段は、前記後回しリスト格
   納手段に格納された部分回路のうち、故障数が少ない部
   分回路における故障情報から順に前記ＡＴＧ手段に対し
   て出力することを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処
   理装置。
6. 【請求項６】 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の
   回路分割ＡＴＧ部分回路処理装置において、 前記ＡＴＧ手段は、故障検出が予め決められた目標故障
   検出率に達した場合に故障検出処理を終了することを特
   徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理装置。
7. 【請求項７】 請求項１乃至６のいずれか１項に記載の
   回路分割ＡＴＧ部分回路処理装置において、 前記部分回路作成手段は、前記回路を回路内のＣＰＵの
   数以上の部分回路に分割することを特徴とする回路分割
   ＡＴＧ部分回路処理装置。
8. 【請求項８】 乱数を用いて発生したランダムパタンを
   用いて回路内の故障を検出し、検出された故障に基づい
   て、回路内の故障を検出するためのテストパタンを生成
   する第１の処理と、回路を分割することにより部分回路
   を作成するとともに、作成された部分回路にて検出可能
   な故障情報を生成する第２の処理と、該第２の処理にて
   作成された部分回路及び故障情報に基づいて、部分回路
   内の故障を検出するためのテストパタンを自動生成する
   第３の処理と、前記第１及び第３の処理にて生成された
   テストパタンをマージし、出力パタンとして出力する第
   ４の処理とを有してなる回路分割ＡＴＧ部分回路処理方
   法において、 前記第２の処理にて作成された部分回路及び故障情報に
   基づいて、部分回路内の故障の数が所定の値よりも大き
   な場合、該部分回路における故障情報を後回しリストと
   して出力する第５の処理を有し、 前記第３の処理は、後回しリストとして出力された部分
   回路における故障情報以外の故障情報に基づいて前記テ
   ストパタンを生成した後、前記後回しリストとして出力
   された部分回路における故障情報に基づいて前記テスト
   パタンを生成することを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分
   回路処理方法。
9. 【請求項９】 請求項８に記載の回路分割ＡＴＧ部分回
   路処理方法において、 前記所定の値は、前記ランダムテストパタン生成手段に
   よって検出された故障の数の、回路全体にて定義される
   故障の数に対する割合に基づいて設定することを特徴と
   する回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
10. 【請求項１０】 請求項８または請求項９に記載の回路
    分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記第３の処理における前記後回しリストとして出力さ
    れた部分回路の故障情報に基づいた前記テストパタンの
    生成は、前記部分回路内の故障数が少ないものから行う
    ことを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
11. 【請求項１１】 請求項８乃至１０のいずれか１項に記
    載の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記第３の処理における故障検出が予め決められた目標
    故障検出率に達した場合に故障検出処理を終了すること
    を特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
12. 【請求項１２】 請求項８乃至１１のいずれか１項に記
    載の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記第３の処理における前記後回しリストとして出力さ
    れた部分回路の故障情報に基づいた前記テストパタンの
    生成は、前記部分回路における故障を複数のブロックに
    分割して行うことを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路
    処理方法。
13. 【請求項１３】 乱数を用いてランダムパタンを発生さ
    せるとともに、発生したランダムパタンを用いて回路内
    の故障を検出し、検出された故障に基づいて 、回路内の
    故障を検出するためのテストパタンを生成するランダム
    テストパタン生成手段と、回路を分割することにより部
    分回路を作成するとともに、作成された部分回路にて検
    出可能な故障情報を生成する部分回路作成手段と、該部
    分回路作成手段にて作成された部分回路及び故障情報に
    基づいて、部分回路内の故障を検出するためのテストパ
    タンを自動生成するＡＴＧ手段と、前記ランダムテスト
    パタン生成手段及び前記ＡＴＧ手段にて生成されたテス
    トパタンをマージし、出力パタンとして出力するパタン
    マージ手段と、前記部分回路作成手段にて作成された部
    分回路及び故障情報に基づいて、部分回路内の故障の数
    が所定の値よりも大きな場合、該部分回路における故障
    情報を後回しリストとして出力する故障検出困難回路判
    定手段とを用いた回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法であ
    って、 前記ＡＴＧ手段にて、前記故障検出困難回路判定手段か
    ら後回しリストとして出力された部分回路における故障
    情報以外の故障情報に基づいて前記テストパタンを生成
    した後、前記後回しリストとして出力された部分回路に
    おける故障情報に基づいて前記テストパタンを生成する
    ことを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
14. 【請求項１４】 請求項１３に記載の回路分割ＡＴＧ部
    分回路処理方法において、 前記ランダムテストパタン生成手段によって検出された
    故障の数の、回路全体にて定義される故障の数に対する
    割合に基づいて前記所定の値を設定することを特徴とす
    る回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
15. 【請求項１５】 請求項１３または請求項１４に記載の
    回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記故障検出困難回路判定手段から後回しリストとして
    出力された部分回路における故障情報を一時格納するこ
    とを特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
16. 【請求項１６】 請求項１５に記載の回路分割ＡＴＧ部
    分回路処理方法において、 前記故障検出困難回路判定手段から後回しリストとして
    出力された部分回路における故障情報以外の故障情報に
    基づいたテストパタンの生成を前記ＡＴＧ手段 にて行っ
    た後、前記一時格納した部分回路における故障情報を抽
    出し、前記ＡＴＧ手段に対して出力することを特徴とす
    る回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
17. 【請求項１７】 請求項１６に記載の回路分割ＡＴＧ部
    分回路処理方法において、 前記故障検出困難回路処理手段にて、前記一時格納した
    部分回路のうち、故障数が少ない部分回路における故障
    情報から順に前記ＡＴＧ手段に対して出力することを特
    徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
18. 【請求項１８】 請求項１３乃至１７のいずれか１項に
    記載の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記ＡＴＧ手段にて、故障検出が予め決められた目標故
    障検出率に達した場合に故障検出処理を終了することを
    特徴とする回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法。
19. 【請求項１９】 請求項１３乃至１８のいずれか１項に
    記載の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法において、 前記部分回路作成手段にて、前記回路を回路内のＣＰＵ
    の数以上の部分回路に分割することを特徴とする回路分
    割ＡＴＧ部分回路処理方法。
20. 【請求項２０】 請求項８乃至１９のいずれか１項に記
    載の回路分割ＡＴＧ部分回路処理方法が書き込まれたこ
    とを特徴とする、コンピュータの処理プログラムが書き
    込まれた記憶媒体。