JPH11265980A - 集積回路の故障検証方法 - Google Patents
集積回路の故障検証方法Info
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- JPH11265980A JPH11265980A JP10067187A JP6718798A JPH11265980A JP H11265980 A JPH11265980 A JP H11265980A JP 10067187 A JP10067187 A JP 10067187A JP 6718798 A JP6718798 A JP 6718798A JP H11265980 A JPH11265980 A JP H11265980A
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- Japan
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- failure
- fault
- test pattern
- hyper
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】無駄な処理時間を省き、効果的に故障検証を行
うことができる集積回路の故障検証方法を提供する。 【解決手段】回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確
認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパタ
ーンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基
づく順番に検証を行う。分散故障検証では、信号遷移の
割合が並列する各処理において均等になるように対象故
障を分割、最終的に全体の故障検出率を算出する。また
故障検出を行なう前に検証時に発生するイベイトを発生
しやすいハイパー故障を考慮する。
うことができる集積回路の故障検証方法を提供する。 【解決手段】回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確
認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパタ
ーンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基
づく順番に検証を行う。分散故障検証では、信号遷移の
割合が並列する各処理において均等になるように対象故
障を分割、最終的に全体の故障検出率を算出する。また
故障検出を行なう前に検証時に発生するイベイトを発生
しやすいハイパー故障を考慮する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、集積回路の効率
的な故障検証方法に関するものである。
的な故障検証方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】集積回路の製造プロセスにおいて、例え
ばマスクに微細な異物が付着すると、その付着部分でパ
ターンブリッジ等の不良が生じ得る。このような不良は
一般に、集積回路の検査工程で、所定のテストパターン
を用いて入出力信号を調べることにより検出される。
ばマスクに微細な異物が付着すると、その付着部分でパ
ターンブリッジ等の不良が生じ得る。このような不良は
一般に、集積回路の検査工程で、所定のテストパターン
を用いて入出力信号を調べることにより検出される。
【0003】しかし、高度の集積回路にあっては、コス
トに見合う検査時間の制限から、実行するテストパター
ンの数も限られる。そこで、いかに短時間で効率的に集
積回路の不良(以下、故障という)を検出するかが重要
である。そこで、あるテストパターンで集積回路の故障
をどの程度の確率で検出できるか、すなわち故障検出率
の評価を行うことが必要になる。このような故障検出率
の評価をこの発明では故障検証ということにする。
トに見合う検査時間の制限から、実行するテストパター
ンの数も限られる。そこで、いかに短時間で効率的に集
積回路の不良(以下、故障という)を検出するかが重要
である。そこで、あるテストパターンで集積回路の故障
をどの程度の確率で検出できるか、すなわち故障検出率
の評価を行うことが必要になる。このような故障検出率
の評価をこの発明では故障検証ということにする。
【0004】具体的な方法としては、図16に示すよう
にネットリスト700とテストパターン701を検査機
または故障検出器702に入力し、集積回路に予め人為
的に故障状態を作っておき、その故障が正常に検出され
るか否かを調べて(故障シミュレーション)、結果70
3を出力する。また、故障シミュレーションを基盤とし
た技術として、テストパターンを回路図等の情報に基づ
いて自動的に生成する自動テストパターン生成装置(A
TPG)も良く知られている。
にネットリスト700とテストパターン701を検査機
または故障検出器702に入力し、集積回路に予め人為
的に故障状態を作っておき、その故障が正常に検出され
るか否かを調べて(故障シミュレーション)、結果70
3を出力する。また、故障シミュレーションを基盤とし
た技術として、テストパターンを回路図等の情報に基づ
いて自動的に生成する自動テストパターン生成装置(A
TPG)も良く知られている。
【0005】故障検出率の高いテストパターンとは、言
い替えると回路を制御しやすく、かつ、回路の検証対象
箇所に対する信号の状態が出力端子まで伝わり、観測で
きるテストパターンである。回路の制御のしやすさを確
認する手法の一つに信号の遷移確認検証(トグルチェッ
ク)がある。これは、回路の検証対象箇所に対する信号
の状態が、ある時間にHレベルなのかLレベルなのか、
また信号が変化したのか等を確認するものであり、論理
検証に匹敵する処理速度で、故障検証に比べてかなり高
速に処理することができる。
い替えると回路を制御しやすく、かつ、回路の検証対象
箇所に対する信号の状態が出力端子まで伝わり、観測で
きるテストパターンである。回路の制御のしやすさを確
認する手法の一つに信号の遷移確認検証(トグルチェッ
ク)がある。これは、回路の検証対象箇所に対する信号
の状態が、ある時間にHレベルなのかLレベルなのか、
また信号が変化したのか等を確認するものであり、論理
検証に匹敵する処理速度で、故障検証に比べてかなり高
速に処理することができる。
【0006】一方、従来から、故障検証を高速に行う方
法として分散故障検証方法が運用されている。この手法
では、全ての故障を複数に分割し、これらの複数の故障
集合について、複数の故障検出器を用いて並列に故障検
証を行い、それぞれの故障検出結果をまとめて全体の故
障検出率を算出する。
法として分散故障検証方法が運用されている。この手法
では、全ての故障を複数に分割し、これらの複数の故障
集合について、複数の故障検出器を用いて並列に故障検
証を行い、それぞれの故障検出結果をまとめて全体の故
障検出率を算出する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】故障検証においてそれ
ぞれの故障に対する検出できるかの検証時間は、一律で
はなく、故障検出のされやすさや検証時に発生するイベ
ント量によって大きく異なる。故障検証においては、検
出される可能性の高いテストパターンあるいは検出され
やすい故障を先に処理し、イベント発生等により処理時
間のかかる故障は、後で処理する方が効果的であるが、
従来の故障検証では処理の順番は考慮されていない。
ぞれの故障に対する検出できるかの検証時間は、一律で
はなく、故障検出のされやすさや検証時に発生するイベ
ント量によって大きく異なる。故障検証においては、検
出される可能性の高いテストパターンあるいは検出され
やすい故障を先に処理し、イベント発生等により処理時
間のかかる故障は、後で処理する方が効果的であるが、
従来の故障検証では処理の順番は考慮されていない。
【0008】具体的にスキャン設計におけるスキャンラ
イン上のフリップフロップのピンあるいは、システムク
ロック、セット、リセット関連のピン、さらには信号不
定状態を発生するトライステートセルのコントロールピ
ン等は、そこに設定した故障が回路の広範囲に影響を及
ぼし、通常の検証対象箇所に設定した故障に比べて、検
証時に多くのイベントを発生する可能性がある。こうい
う故障をこの発明ではハイパー故障とよぶ事にする。検
証時に発生するイベントの発生量が多くなると故障検出
器のハードウェアへの負担から処理時間の低下を招く
が、従来の故障検証ではイベントの発生量が多くなる故
障への処理前での対策がなされていない。
イン上のフリップフロップのピンあるいは、システムク
ロック、セット、リセット関連のピン、さらには信号不
定状態を発生するトライステートセルのコントロールピ
ン等は、そこに設定した故障が回路の広範囲に影響を及
ぼし、通常の検証対象箇所に設定した故障に比べて、検
証時に多くのイベントを発生する可能性がある。こうい
う故障をこの発明ではハイパー故障とよぶ事にする。検
証時に発生するイベントの発生量が多くなると故障検出
器のハードウェアへの負担から処理時間の低下を招く
が、従来の故障検証ではイベントの発生量が多くなる故
障への処理前での対策がなされていない。
【0009】一方、分散故障検証では、あり得る全ての
故障を複数の故障検出機で並列に処理するため、全体の
故障検証時間は、並列する故障検証の内、最も遅い処理
に律束される。分散故障検証が最も効果的なのは、分散
する故障検証のそれぞれの処理時間が同じになる場合で
ある。つまり、分散故障検証では、検証時間のかかる故
障が分散する故障の集合に偏っている場合には、効果が
著しく低下する。
故障を複数の故障検出機で並列に処理するため、全体の
故障検証時間は、並列する故障検証の内、最も遅い処理
に律束される。分散故障検証が最も効果的なのは、分散
する故障検証のそれぞれの処理時間が同じになる場合で
ある。つまり、分散故障検証では、検証時間のかかる故
障が分散する故障の集合に偏っている場合には、効果が
著しく低下する。
【0010】そこでこの発明は、上記従来の問題点を解
決するもので、無駄な処理時間を省き、効果的に故障検
証を行うことができる集積回路の故障検証方法を提供す
ることを目的とする。
決するもので、無駄な処理時間を省き、効果的に故障検
証を行うことができる集積回路の故障検証方法を提供す
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の集積回路
の故障検証方法は、回路の検証対象箇所に対する信号の
遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テス
トパターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づ
けに基づく順番に検証を行うことを特徴とするものであ
る。
の故障検証方法は、回路の検証対象箇所に対する信号の
遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テス
トパターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づ
けに基づく順番に検証を行うことを特徴とするものであ
る。
【0012】請求項1記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、あり得る全ての故障に対して、故障検出のされ
やすさを知るために、通常の故障検証の前に信号の遷移
確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて故障検証を行
なうテストパターンもしくは検証対象箇所を順位付け
し、順位づけに基づいて順番に検証を行うので、無駄な
テストパターンを流したり、無駄な故障検証を行うこと
なく、無駄な処理時間を省いて効果的に故障検証を行う
ことができる。
よれば、あり得る全ての故障に対して、故障検出のされ
やすさを知るために、通常の故障検証の前に信号の遷移
確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて故障検証を行
なうテストパターンもしくは検証対象箇所を順位付け
し、順位づけに基づいて順番に検証を行うので、無駄な
テストパターンを流したり、無駄な故障検証を行うこと
なく、無駄な処理時間を省いて効果的に故障検証を行う
ことができる。
【0013】請求項2記載の集積回路の故障検証方法
は、回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を
行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもし
くは検証対象箇所を順位付けし、信号遷移の割合が均等
になるように検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に
処理するとともに、各処理において順位付けに基づいて
処理を行うことを特徴とするものである。
は、回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を
行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもし
くは検証対象箇所を順位付けし、信号遷移の割合が均等
になるように検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に
処理するとともに、各処理において順位付けに基づいて
処理を行うことを特徴とするものである。
【0014】請求項2記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、信号遷移の割合が均等になるように検証対象箇
所を等分し、最終的に全体の故障検出率を算出すること
により、分散故障検証における並列する処理の処理時間
を均等にすることが可能になるので、効果的な分散故障
検証を行うことができる。請求項3記載の集積回路の故
障検証方法は、回路の検証対象箇所の中で、検証時に発
生するイベント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、
順位づけに基づいて順番に検証を行う特徴とするもので
ある。
よれば、信号遷移の割合が均等になるように検証対象箇
所を等分し、最終的に全体の故障検出率を算出すること
により、分散故障検証における並列する処理の処理時間
を均等にすることが可能になるので、効果的な分散故障
検証を行うことができる。請求項3記載の集積回路の故
障検証方法は、回路の検証対象箇所の中で、検証時に発
生するイベント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、
順位づけに基づいて順番に検証を行う特徴とするもので
ある。
【0015】請求項3記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、検証時に発生するイベント量を前もって考慮す
るために、あり得る全ての故障の中で、経験的に分かっ
ているイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮して
順位付けし、順位づけに基づいて順番に検証を行う。こ
のように、通常の故障検証の前に、検証時にイベントを
発生しやすいハイパー故障を考慮し、故障検証を行うテ
ストパターンもしくは検証対象故障を順位付けすること
により、無駄なテストパターンを流したり、無駄な故障
検証を行うことなく、効果的に故障検証を行うことがで
きる。
よれば、検証時に発生するイベント量を前もって考慮す
るために、あり得る全ての故障の中で、経験的に分かっ
ているイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮して
順位付けし、順位づけに基づいて順番に検証を行う。こ
のように、通常の故障検証の前に、検証時にイベントを
発生しやすいハイパー故障を考慮し、故障検証を行うテ
ストパターンもしくは検証対象故障を順位付けすること
により、無駄なテストパターンを流したり、無駄な故障
検証を行うことなく、効果的に故障検証を行うことがで
きる。
【0016】請求項4記載の集積回路の故障検証方法
は、回路の検証対象箇所の中で、検証時に発生するイベ
ント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、検証時にイ
ベントを発生しやすいハイパー故障が均等になるように
検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に処理するとと
もに、各処理において順位付けに基づいて処理を行うこ
とを特徴とするものである。
は、回路の検証対象箇所の中で、検証時に発生するイベ
ント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、検証時にイ
ベントを発生しやすいハイパー故障が均等になるように
検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に処理するとと
もに、各処理において順位付けに基づいて処理を行うこ
とを特徴とするものである。
【0017】請求項4記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、ハイパー故障を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出することにより、分散故障検証における並列
する処理の処理時間を均等にすることが可能となり、効
果的な分散故障検証を行うことができる。請求項5記載
の集積回路の故障検証方法は、回路の検証対象箇所の中
で、検証時にイベントを発生しやすいハイパー故障を加
味し、かつ回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認
検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパター
ンまた検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づく順
番に検証を行うことを特徴とするものである。
よれば、ハイパー故障を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出することにより、分散故障検証における並列
する処理の処理時間を均等にすることが可能となり、効
果的な分散故障検証を行うことができる。請求項5記載
の集積回路の故障検証方法は、回路の検証対象箇所の中
で、検証時にイベントを発生しやすいハイパー故障を加
味し、かつ回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認
検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパター
ンまた検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づく順
番に検証を行うことを特徴とするものである。
【0018】請求項5記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、あり得る全ての故障の中で、経験的に分かって
いるイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮し、故
障検出のされやすさの確認として信号の遷移確認検証を
行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもし
くは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づいて順
番に検証を行う。すなわち、故障検証を行う前に信号遷
移検証を実施し、また検証時に発生するイベント量を考
慮することにより故障検証を行う順番を決定するので、
請求項1と同様な効果がある。
よれば、あり得る全ての故障の中で、経験的に分かって
いるイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮し、故
障検出のされやすさの確認として信号の遷移確認検証を
行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもし
くは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づいて順
番に検証を行う。すなわち、故障検証を行う前に信号遷
移検証を実施し、また検証時に発生するイベント量を考
慮することにより故障検証を行う順番を決定するので、
請求項1と同様な効果がある。
【0019】請求項6記載の集積回路の故障検証方法
は、回路の検証対象箇所の中で、検証時にイベントを発
生しやすいハイパー故障を加味し、回路の検証対象箇所
に対する信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に
応じて検証テストパターンまた検証対象箇所を順位付け
し、ハイパー故障および信号遷移の割合が均等になるよ
うに検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に処理する
とともに、各処理において順位付けに基づいて処理を行
うことを特徴とするものである。
は、回路の検証対象箇所の中で、検証時にイベントを発
生しやすいハイパー故障を加味し、回路の検証対象箇所
に対する信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に
応じて検証テストパターンまた検証対象箇所を順位付け
し、ハイパー故障および信号遷移の割合が均等になるよ
うに検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に処理する
とともに、各処理において順位付けに基づいて処理を行
うことを特徴とするものである。
【0020】請求項6記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、分散故障検証として信号遷移の割合が均等にな
るように検証対象箇所を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出するので、請求項2と同様な効果がある。
よれば、分散故障検証として信号遷移の割合が均等にな
るように検証対象箇所を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出するので、請求項2と同様な効果がある。
【0021】
【発明の実施形態】この発明の請求項1に対応する第1
の実施の形態を図1から図4に基づいて説明する。従
来、ネットリストとテストパターンを故障検証装置に入
力することにより、疑似的に回路中に故障を設定し、故
障検証を行っていくが、対象故障の処理順番は意識され
ていない。この発明では、まずネットリスト105を故
障検出器106に取り込み、故障検証の前処理にて故障
リスト107を生成する。この故障リスト107より遷
移情報データベースの基本データを生成する。
の実施の形態を図1から図4に基づいて説明する。従
来、ネットリストとテストパターンを故障検証装置に入
力することにより、疑似的に回路中に故障を設定し、故
障検証を行っていくが、対象故障の処理順番は意識され
ていない。この発明では、まずネットリスト105を故
障検出器106に取り込み、故障検証の前処理にて故障
リスト107を生成する。この故障リスト107より遷
移情報データベースの基本データを生成する。
【0022】遷移データベースは、図2に示す形式であ
り、まず検証対象箇所(故障ノード名)と等価故障の情
報が書き込まれる。さらにテストパターンを流して、信
号遷移検証を行った後、信号レベルH、L、Z(ハイイ
ンピーダンス)、X(不定)の遷移状態が各故障で何回
起こったかの回数が書き込まれる。最後に故障検証を行
って、どのテストパターンで検出出来たかの情報が書き
込まれる。
り、まず検証対象箇所(故障ノード名)と等価故障の情
報が書き込まれる。さらにテストパターンを流して、信
号遷移検証を行った後、信号レベルH、L、Z(ハイイ
ンピーダンス)、X(不定)の遷移状態が各故障で何回
起こったかの回数が書き込まれる。最後に故障検証を行
って、どのテストパターンで検出出来たかの情報が書き
込まれる。
【0023】図1に示すように故障検証の前にネットリ
スト100とテストパターン1(101)を用いて信号
遷移検証102を行う。信号遷移検証102により得ら
れたデータは、前述の遷移情報データベース108に書
き込まれる。さらにテストパターン2(103)をもつ
場合は、再び信号遷移検証104を行い、遷移情報デー
タベース108に書き込む。次に遷移情報データベース
108を解析するデータベース解析109を行なうこと
により、それぞれのテストパターンにおける各ノードの
遷移の割合を導く。
スト100とテストパターン1(101)を用いて信号
遷移検証102を行う。信号遷移検証102により得ら
れたデータは、前述の遷移情報データベース108に書
き込まれる。さらにテストパターン2(103)をもつ
場合は、再び信号遷移検証104を行い、遷移情報デー
タベース108に書き込む。次に遷移情報データベース
108を解析するデータベース解析109を行なうこと
により、それぞれのテストパターンにおける各ノードの
遷移の割合を導く。
【0024】具体的なデータベース解析108の内容
は、まず全ての故障から故障検証の対象となる等価故障
を考慮し、代表故障を選択する。この代表故障は、等価
故障のどれでもよい。次にどのテストパターンを先に処
理するかの選択を行う。選択の基準は、トグルしている
故障数とトグル回数により行う。図3に例を示す。テス
トパターン1(101)およびテストパターン2(10
3)がある場合、トグル故障数は、テストパターン1
(101)、テストパターン2(103)の順に大き
く、テストパターン1>テストパターン2であり、大き
い順番で処理を行う。トグル故障数が同じ場合は、全代
表故障のトグル回数の合計が大きい順、例えばテストパ
ターン1>テストパターン2であれば、その順に優先的
に処理を行う。テストパターンの選択が終われば、遷移
の割合が高い程、早く故障検証を行うように処理順番を
考慮し、故障リスト1(110)を生成する。図4に例
を示すが、トグル回数は、故障1、2の順であり、この
順番で故障リストを生成する。
は、まず全ての故障から故障検証の対象となる等価故障
を考慮し、代表故障を選択する。この代表故障は、等価
故障のどれでもよい。次にどのテストパターンを先に処
理するかの選択を行う。選択の基準は、トグルしている
故障数とトグル回数により行う。図3に例を示す。テス
トパターン1(101)およびテストパターン2(10
3)がある場合、トグル故障数は、テストパターン1
(101)、テストパターン2(103)の順に大き
く、テストパターン1>テストパターン2であり、大き
い順番で処理を行う。トグル故障数が同じ場合は、全代
表故障のトグル回数の合計が大きい順、例えばテストパ
ターン1>テストパターン2であれば、その順に優先的
に処理を行う。テストパターンの選択が終われば、遷移
の割合が高い程、早く故障検証を行うように処理順番を
考慮し、故障リスト1(110)を生成する。図4に例
を示すが、トグル回数は、故障1、2の順であり、この
順番で故障リストを生成する。
【0025】この例では、2つのテストパターン1(1
01)およびテストパターン2(103)を持つが、テ
ストパターン1(101)の方が遷移の割合が多い場合
であり、このパターンが優先的に処理される。ネットリ
スト100、テストパターン1(101)と故障リスト
1(110)を故障検出器111に入力し、故障検証を
行う。故障検証の結果を検出情報書き込み112により
再び遷移情報データベース108に書き込む。
01)およびテストパターン2(103)を持つが、テ
ストパターン1(101)の方が遷移の割合が多い場合
であり、このパターンが優先的に処理される。ネットリ
スト100、テストパターン1(101)と故障リスト
1(110)を故障検出器111に入力し、故障検証を
行う。故障検証の結果を検出情報書き込み112により
再び遷移情報データベース108に書き込む。
【0026】再びデータベース解析113を行い、テス
トパターン1(101)での未検出故障における遷移の
割合から故障リスト2(114)を生成する。この故障
リスト2(114)とテストパターン2(103)とネ
ットリスト100を故障検出器115に入力し、故障検
証を行う。この例では、2つのテストパターンを用いた
場合であるが、さらに複数のテストパターンを検証する
場合は、同じ処理を繰り返す。信号遷移検証104にお
いて全く遷移しない故障については、故障検証を行わな
い。従来、未検出となる故障は、長時間かけての故障検
証の後、未検出である事が判明していたが、この手法で
は無駄な故障検証を行う事なく処理できる。また、信号
遷移検証104を行う事により、効果的なテストパター
ンを優先的に処理でき、かつ検出率の向上に寄与する対
象の故障を早く故障検証することでき、無駄な処理を省
き、処理時間の短縮に大きな効果が得られる。
トパターン1(101)での未検出故障における遷移の
割合から故障リスト2(114)を生成する。この故障
リスト2(114)とテストパターン2(103)とネ
ットリスト100を故障検出器115に入力し、故障検
証を行う。この例では、2つのテストパターンを用いた
場合であるが、さらに複数のテストパターンを検証する
場合は、同じ処理を繰り返す。信号遷移検証104にお
いて全く遷移しない故障については、故障検証を行わな
い。従来、未検出となる故障は、長時間かけての故障検
証の後、未検出である事が判明していたが、この手法で
は無駄な故障検証を行う事なく処理できる。また、信号
遷移検証104を行う事により、効果的なテストパター
ンを優先的に処理でき、かつ検出率の向上に寄与する対
象の故障を早く故障検証することでき、無駄な処理を省
き、処理時間の短縮に大きな効果が得られる。
【0027】この発明の請求項2に対応する第2の実施
の形態を図5および図6に基づいて説明する。請求項2
に記載の発明は、請求項1に記載の発明を分散故障検証
に適用した場合である。図5は図1と同様、2つのテス
トパターンを用いた故障検証の例であり、図1の故障リ
スト1(110)以降の手法を示す。図5の故障リスト
1(110)を信号遷移の割合がほぼ同じになるように
処理対象の故障を振り分ける故障分割502を行なう。
図6に故障分割の方法を示す。信号遷移回数が大きい順
に並べられた故障リスト600(110)を分割リスト
601、602のように分割する。図5において、この
手法で故障を分割し、故障リスト1A(503)、故障
リスト1B(504)を生成する。2つ故障検出器50
7、508にそれぞれ故障リスト1A、故障リスト1B
とネットリスト100、テストパターン1(101)を
入力して故障検証を行う。2つの故障検証は同時に並列
に行われ、それぞれの処理においては順位付けに基づい
て処理を行い、全ての処理が終了した時点で結果の集計
509を行い、全体の故障検出率を算出する。全体の故
障検証の時間は2つの故障検証の遅い方に律束される。
処理時間のかかる対象故障が片寄って存在している場
合、分散故障検証の効果が著しく低下する。ところがこ
の発明では、事前に信号遷移検証を行う事により、信号
遷移がほぼ同じになるように処理対象故障を振り分けた
ため、2つの故障検証時間がほぼ同じになり、分散故障
検証において最大の効果が得られる。
の形態を図5および図6に基づいて説明する。請求項2
に記載の発明は、請求項1に記載の発明を分散故障検証
に適用した場合である。図5は図1と同様、2つのテス
トパターンを用いた故障検証の例であり、図1の故障リ
スト1(110)以降の手法を示す。図5の故障リスト
1(110)を信号遷移の割合がほぼ同じになるように
処理対象の故障を振り分ける故障分割502を行なう。
図6に故障分割の方法を示す。信号遷移回数が大きい順
に並べられた故障リスト600(110)を分割リスト
601、602のように分割する。図5において、この
手法で故障を分割し、故障リスト1A(503)、故障
リスト1B(504)を生成する。2つ故障検出器50
7、508にそれぞれ故障リスト1A、故障リスト1B
とネットリスト100、テストパターン1(101)を
入力して故障検証を行う。2つの故障検証は同時に並列
に行われ、それぞれの処理においては順位付けに基づい
て処理を行い、全ての処理が終了した時点で結果の集計
509を行い、全体の故障検出率を算出する。全体の故
障検証の時間は2つの故障検証の遅い方に律束される。
処理時間のかかる対象故障が片寄って存在している場
合、分散故障検証の効果が著しく低下する。ところがこ
の発明では、事前に信号遷移検証を行う事により、信号
遷移がほぼ同じになるように処理対象故障を振り分けた
ため、2つの故障検証時間がほぼ同じになり、分散故障
検証において最大の効果が得られる。
【0028】続いてデータベース解析113を行い、テ
ストパターン1での未検出故障に対して、故障リスト2
(114)を生成する。信号遷移の割合から対象故障を
振り分ける故障分割512を行い、故障リスト2A(5
13)、故障リスト2B(514)を生成する。これら
のリストとネットリスト100、テストパターン2(1
03)をそれぞれ2つの故障検出器516、517に入
力し、並列故障検証を行い、結果の集計518を行う。
ストパターン1での未検出故障に対して、故障リスト2
(114)を生成する。信号遷移の割合から対象故障を
振り分ける故障分割512を行い、故障リスト2A(5
13)、故障リスト2B(514)を生成する。これら
のリストとネットリスト100、テストパターン2(1
03)をそれぞれ2つの故障検出器516、517に入
力し、並列故障検証を行い、結果の集計518を行う。
【0029】なおこの例では、2つのテストパターンを
用いた場合であるが、さらに複数のテストパターンを検
証する場合は同じ処理を繰り返す。この発明の請求項3
に対応する第3の実施の形態を図7から図9に基づいて
説明する。従来、ネットリストとテストパターンを故障
検証装置に入力することにより、疑似的に回路中に故障
を設定し、故障検証を行っていたが、対象故障の処理順
番は意識されていない。この発明では、ネットリストか
らハイパー故障およびハイパー故障となりやすい故障を
特定し、故障検証の処理順番付けを行う。
用いた場合であるが、さらに複数のテストパターンを検
証する場合は同じ処理を繰り返す。この発明の請求項3
に対応する第3の実施の形態を図7から図9に基づいて
説明する。従来、ネットリストとテストパターンを故障
検証装置に入力することにより、疑似的に回路中に故障
を設定し、故障検証を行っていたが、対象故障の処理順
番は意識されていない。この発明では、ネットリストか
らハイパー故障およびハイパー故障となりやすい故障を
特定し、故障検証の処理順番付けを行う。
【0030】図7において、まずネットリスト105を
故障検出器106に取り込み、故障検証の前処理にて故
障リスト107を生成する。また故障検証の前処理によ
り生成した故障辞書での等価故障の情報103とネット
リストを作るために使用しているライブラリ122を考
慮することにより、故障リスト107を実際に故障検証
を行う順番にリストの並べ変え121を行う。具体的な
リストの並べ変え121の内容は、まず全ての故障から
故障検証対象となる等価故障を考慮し、代表故障を選択
する。この代表故障は、等価故障のどれでもよい。次に
ハイパー故障及びハイパー故障になる可能性の高い故障
を特定し、順番付けを行う。ここでハイパー故障の定義
は図8に示す通りである。すなわちハイパー故障は、ス
キャン設計を行っている場合のスキャンライン上のセル
の端子である。また、ハイパー故障になる可能性のある
故障としてトライステートセルのコントロール端子、ス
キャンセル以外のフリップフロップのクロック端子、セ
ットおよびリセット端子である。故障検証の順番は、ハ
イパー故障を後にする。また、同じハイパー故障であれ
ば、等価故障が多いほうがイベント発生の可能性が高
く、故障検証の順番を遅くする。以上のリストの並べ変
えにより故障リスト123を生成する。故障リスト12
3の例を図9に示す。処理順番としては、大きくくくる
とハイパー故障と関係ない故障(故障1、2、3、
4)、ハイパー故障になる可能性のある故障(故障h
a、hb、hc、hd)、ハイパー故障(故障he、h
f、hg)の順になる。同じグループ内においては、等
価故障数が多くなるほど処理順番が遅くなる。例えば、
故障1、2、3、4においては、順次故障が多いとき故
障4>故障3>故障2>故障1となり、最も等価故障の
多い故障4が後に処理される。ハイパー故障に関しては
スキャンライン上での前後関係により、同一ライン上で
最も前に存在する故障hgの方が発生するイベント量が
多くなるということ(故障hg→故障hf→故障he)
で後に処理する。生成した故障リスト123、ネットリ
スト105及びテストパターン1(101)を故障検出
器111に取り込み、故障検証を行う。ハイパー故障及
びハイパー故障になる可能性のある故障は論理検証によ
り動作不良の確認が容易でもあり、故障検証を行わない
ことも可能である。(上記のアンダーラインを図に対応
して加えましたが、ご検討ください。) 従来、ハイパー故障に関しては故障検証を行う途中で認
識されて故障検証対象リストから外されたり、そのまま
長時間かけて故障検証されていたが、この発明に示すよ
うに故障検証を行う前にハイパー故障を考慮することに
より、無駄な処理を省き、効果的な故障検証を行うこと
が可能になる。
故障検出器106に取り込み、故障検証の前処理にて故
障リスト107を生成する。また故障検証の前処理によ
り生成した故障辞書での等価故障の情報103とネット
リストを作るために使用しているライブラリ122を考
慮することにより、故障リスト107を実際に故障検証
を行う順番にリストの並べ変え121を行う。具体的な
リストの並べ変え121の内容は、まず全ての故障から
故障検証対象となる等価故障を考慮し、代表故障を選択
する。この代表故障は、等価故障のどれでもよい。次に
ハイパー故障及びハイパー故障になる可能性の高い故障
を特定し、順番付けを行う。ここでハイパー故障の定義
は図8に示す通りである。すなわちハイパー故障は、ス
キャン設計を行っている場合のスキャンライン上のセル
の端子である。また、ハイパー故障になる可能性のある
故障としてトライステートセルのコントロール端子、ス
キャンセル以外のフリップフロップのクロック端子、セ
ットおよびリセット端子である。故障検証の順番は、ハ
イパー故障を後にする。また、同じハイパー故障であれ
ば、等価故障が多いほうがイベント発生の可能性が高
く、故障検証の順番を遅くする。以上のリストの並べ変
えにより故障リスト123を生成する。故障リスト12
3の例を図9に示す。処理順番としては、大きくくくる
とハイパー故障と関係ない故障(故障1、2、3、
4)、ハイパー故障になる可能性のある故障(故障h
a、hb、hc、hd)、ハイパー故障(故障he、h
f、hg)の順になる。同じグループ内においては、等
価故障数が多くなるほど処理順番が遅くなる。例えば、
故障1、2、3、4においては、順次故障が多いとき故
障4>故障3>故障2>故障1となり、最も等価故障の
多い故障4が後に処理される。ハイパー故障に関しては
スキャンライン上での前後関係により、同一ライン上で
最も前に存在する故障hgの方が発生するイベント量が
多くなるということ(故障hg→故障hf→故障he)
で後に処理する。生成した故障リスト123、ネットリ
スト105及びテストパターン1(101)を故障検出
器111に取り込み、故障検証を行う。ハイパー故障及
びハイパー故障になる可能性のある故障は論理検証によ
り動作不良の確認が容易でもあり、故障検証を行わない
ことも可能である。(上記のアンダーラインを図に対応
して加えましたが、ご検討ください。) 従来、ハイパー故障に関しては故障検証を行う途中で認
識されて故障検証対象リストから外されたり、そのまま
長時間かけて故障検証されていたが、この発明に示すよ
うに故障検証を行う前にハイパー故障を考慮することに
より、無駄な処理を省き、効果的な故障検証を行うこと
が可能になる。
【0031】この発明の請求項4に対応する第4の実施
の形態を図10および図11に基づいて説明する。すな
わち、第4の実施の形態は、第3の実施の形態を分散故
障検証に適用した場合である。図10では図7の故障検
出器108の故障リスト123の作成以降の手法を示
す。図10において故障リスト123を故障分割401
で分割する。図11に図9で例として挙げた故障リスト
123の分割の方法を示す。502、503は分割リス
トである。分割する際には、ハイパー故障の割合がほぼ
同じになるように処理対象の故障を振り分け、また、振
り分けられた各々の故障集合においては、ハイパー故障
の処理順番が遅くなるように処理順番を考慮して図9の
順位付けに基づき、故障リスト1A(402)、故障リ
スト1B(403)を生成する。2つ故障検出器40
6、407にそれぞれ故障リスト1A(402)、故障
リスト1B(403)とネットリスト100、テストパ
ターン101を入力して故障検証を行う。2つの故障検
証は同時に並列に行われ、全ての処理が終了した時点で
結果の集計408を行い、全体の故障検出率を算出す
る。全体の故障検証の時間は2つの故障検証の遅い方に
律束される。処理時間のかかる対象故障が片寄って存在
している場合、分散故障検証の効果が著しく低下する。
ところがこの発明では、処理時間がかかり、全体の故障
検証時間に大きく影響を与えるハイパー故障の確認を事
前に行うことにより、ハイパー故障がほぼ同じになるよ
うに処理対象故障を振り分け且つ、等価故障数を考慮し
た分割も加味することにより、2つの故障検証時間がほ
ぼ同じになり、分散故障検証において最大の効果が得ら
れる。
の形態を図10および図11に基づいて説明する。すな
わち、第4の実施の形態は、第3の実施の形態を分散故
障検証に適用した場合である。図10では図7の故障検
出器108の故障リスト123の作成以降の手法を示
す。図10において故障リスト123を故障分割401
で分割する。図11に図9で例として挙げた故障リスト
123の分割の方法を示す。502、503は分割リス
トである。分割する際には、ハイパー故障の割合がほぼ
同じになるように処理対象の故障を振り分け、また、振
り分けられた各々の故障集合においては、ハイパー故障
の処理順番が遅くなるように処理順番を考慮して図9の
順位付けに基づき、故障リスト1A(402)、故障リ
スト1B(403)を生成する。2つ故障検出器40
6、407にそれぞれ故障リスト1A(402)、故障
リスト1B(403)とネットリスト100、テストパ
ターン101を入力して故障検証を行う。2つの故障検
証は同時に並列に行われ、全ての処理が終了した時点で
結果の集計408を行い、全体の故障検出率を算出す
る。全体の故障検証の時間は2つの故障検証の遅い方に
律束される。処理時間のかかる対象故障が片寄って存在
している場合、分散故障検証の効果が著しく低下する。
ところがこの発明では、処理時間がかかり、全体の故障
検証時間に大きく影響を与えるハイパー故障の確認を事
前に行うことにより、ハイパー故障がほぼ同じになるよ
うに処理対象故障を振り分け且つ、等価故障数を考慮し
た分割も加味することにより、2つの故障検証時間がほ
ぼ同じになり、分散故障検証において最大の効果が得ら
れる。
【0032】この発明の請求項5に対応する第5の実施
の形態を図12から図14に基づいて説明する。従来、
ネットリストとテストパターンを故障検証装置に入力す
ることにより、疑似的に回路中に故障を設定し、故障検
証を行っていくが、対象故障の処理順番は意識されてい
ない。この発明では、まずネットリストからハイパー故
障故障及びハイパー故障となりやすい故障を特定する。
ここでハイパー故障の定義は第3の実施の形態の図8に
示すものと同様である。すなわちハイパー故障は、スキ
ャン設計を行っている場合のスキャンライン上のセルの
端子である。また、ハイパー故障になる可能性のある故
障としてトライステートセルのコントロール端子、スキ
ャンセル以外のフリップフロップのクロック端子、セッ
ト、およびリセット端子である。故障検証の順番は、ハ
イパー故障を後にする。また、同じハイパー故障であれ
ば、等価故障が多いほうがイベント発生の可能性が高
く、故障検証の順番を遅くする。図12において、まず
ネットリスト100を故障検出器106に取り込み、故
障検証の前処理にて故障リスト107を生成する。さら
にネットリスト100を作るために使用しているライブ
ラリ140を考慮し、ハイパー故障及びハイパー故障に
なる可能性の高い故障を特定し(141)、順番付けを
行い、遷移情報データベース142の基本データを生成
する。
の形態を図12から図14に基づいて説明する。従来、
ネットリストとテストパターンを故障検証装置に入力す
ることにより、疑似的に回路中に故障を設定し、故障検
証を行っていくが、対象故障の処理順番は意識されてい
ない。この発明では、まずネットリストからハイパー故
障故障及びハイパー故障となりやすい故障を特定する。
ここでハイパー故障の定義は第3の実施の形態の図8に
示すものと同様である。すなわちハイパー故障は、スキ
ャン設計を行っている場合のスキャンライン上のセルの
端子である。また、ハイパー故障になる可能性のある故
障としてトライステートセルのコントロール端子、スキ
ャンセル以外のフリップフロップのクロック端子、セッ
ト、およびリセット端子である。故障検証の順番は、ハ
イパー故障を後にする。また、同じハイパー故障であれ
ば、等価故障が多いほうがイベント発生の可能性が高
く、故障検証の順番を遅くする。図12において、まず
ネットリスト100を故障検出器106に取り込み、故
障検証の前処理にて故障リスト107を生成する。さら
にネットリスト100を作るために使用しているライブ
ラリ140を考慮し、ハイパー故障及びハイパー故障に
なる可能性の高い故障を特定し(141)、順番付けを
行い、遷移情報データベース142の基本データを生成
する。
【0033】また、故障検証の前にネットリスト100
とテストパターン1(101)を用いて信号遷移検証1
02を行う。信号遷移検証102により得られたデータ
は、前述の遷移情報データベース142に書き込まれ
る。図13に遷移情報データベースの形式を示す。遷移
情報データベースは、検証対象箇所(ノード名)、テス
トパターン名、遷移情報、等価故障を示す等価情報、対
象ノードが検出されたかどうかの故障検出情報及びハイ
パー故障かどうかの情報からなる。遷移情報には、テス
トパターンを流して、信号遷移検証を行った後、信号
1、0、Z(ハイインピーダンス)、X(不定)の遷移
状態が各故障で何回起こったかの回数が書き込まれる。
さらにテストパターン2(103)をもつ場合は、再び
信号遷移検証を行い(104)、遷移情報データベース
142に書き込む。次に遷移情報データベース142を
解析する(144)。具体的なデータベース解析144
の内容は、まず全ての故障から故障検証の対象となる等
価故障を考慮し、代表故障を選択する。この代表故障
は、等価故障のどれでもよい。次にハイパー故障及びハ
イパー故障になる可能性の高い故障に対して、順番付け
を行う。次にどのテストパターンを先に処理するかの選
択を行う。選択の基準は、トグルしている故障数とトグ
ル回数により行う。その一例は図3と同様である。テス
トパターン1(101)、テストパターン2(103)
がある場合、トグル故障数は、テストパターン1、テス
トパターン2の順であり、この順番で処理を行う。トグ
ル故障数が同じ場合は、全代表故障のトグル回数の合計
が大きい順に優先的に処理を行う。テストパターンの選
択が終われば、遷移の割合が高い程、早く故障検証を行
うように処理順番を考慮し、故障リスト1(145)を
生成する。図14に故障リストの例を示す。処理順番と
しては、大きくくくるとハイパー故障と関係ない故障
(故障1、2、3、4)、ハイパー故障になる可能性の
ある故障(故障ha、hb、hc、hd)、ハイパー故
障(故障he、hf、hg)の順になる。ハイパー故障
になる可能性のある故障においては、等価故障数が多く
なるほど処理順番が遅くなる。例えば、故障hb、hc
においては、故障hc>故障hbのとき、等価故障の多
い故障hcが後に処理される。ハイパー故障に関しては
スキャンライン上での前後関係により、故障hg→故障
hf→故障heとするとき、同一ライン上で最も前に存
在する故障hgの方が発生するイベント量が多くなると
いう事で後に処理する。ハイパー故障と関係無い故障に
ついてはトグル回数が多い方が先に処理される。例えば
故障1、2、3、4に関しては故障1>故障2>故障3
>故障4のとき、トグル回数の最も多い故障1が先に処
理される。
とテストパターン1(101)を用いて信号遷移検証1
02を行う。信号遷移検証102により得られたデータ
は、前述の遷移情報データベース142に書き込まれ
る。図13に遷移情報データベースの形式を示す。遷移
情報データベースは、検証対象箇所(ノード名)、テス
トパターン名、遷移情報、等価故障を示す等価情報、対
象ノードが検出されたかどうかの故障検出情報及びハイ
パー故障かどうかの情報からなる。遷移情報には、テス
トパターンを流して、信号遷移検証を行った後、信号
1、0、Z(ハイインピーダンス)、X(不定)の遷移
状態が各故障で何回起こったかの回数が書き込まれる。
さらにテストパターン2(103)をもつ場合は、再び
信号遷移検証を行い(104)、遷移情報データベース
142に書き込む。次に遷移情報データベース142を
解析する(144)。具体的なデータベース解析144
の内容は、まず全ての故障から故障検証の対象となる等
価故障を考慮し、代表故障を選択する。この代表故障
は、等価故障のどれでもよい。次にハイパー故障及びハ
イパー故障になる可能性の高い故障に対して、順番付け
を行う。次にどのテストパターンを先に処理するかの選
択を行う。選択の基準は、トグルしている故障数とトグ
ル回数により行う。その一例は図3と同様である。テス
トパターン1(101)、テストパターン2(103)
がある場合、トグル故障数は、テストパターン1、テス
トパターン2の順であり、この順番で処理を行う。トグ
ル故障数が同じ場合は、全代表故障のトグル回数の合計
が大きい順に優先的に処理を行う。テストパターンの選
択が終われば、遷移の割合が高い程、早く故障検証を行
うように処理順番を考慮し、故障リスト1(145)を
生成する。図14に故障リストの例を示す。処理順番と
しては、大きくくくるとハイパー故障と関係ない故障
(故障1、2、3、4)、ハイパー故障になる可能性の
ある故障(故障ha、hb、hc、hd)、ハイパー故
障(故障he、hf、hg)の順になる。ハイパー故障
になる可能性のある故障においては、等価故障数が多く
なるほど処理順番が遅くなる。例えば、故障hb、hc
においては、故障hc>故障hbのとき、等価故障の多
い故障hcが後に処理される。ハイパー故障に関しては
スキャンライン上での前後関係により、故障hg→故障
hf→故障heとするとき、同一ライン上で最も前に存
在する故障hgの方が発生するイベント量が多くなると
いう事で後に処理する。ハイパー故障と関係無い故障に
ついてはトグル回数が多い方が先に処理される。例えば
故障1、2、3、4に関しては故障1>故障2>故障3
>故障4のとき、トグル回数の最も多い故障1が先に処
理される。
【0034】この例では、2つのテストパターン1(1
01)、テストパターン2(103)を持つが、テスト
パターン1(101)の方が遷移の割合が多い場合であ
り、このパターンが優先的に処理される。ネットリスト
100、テストパターン1(101)と故障リスト1
(145)を故障検出器146に入力し、故障検証1を
行う。故障検証1の結果を再び遷移情報データベース1
42に書き込み147を行い、データベース解析148
を行い、テストパターン1での未検出故障における遷移
の割合から故障リスト2(149)を生成する。この故
障リスト2(149)とテストパターン2(103)と
ネットリスト100を故障検出器116に入力し、故障
検証2を行う。
01)、テストパターン2(103)を持つが、テスト
パターン1(101)の方が遷移の割合が多い場合であ
り、このパターンが優先的に処理される。ネットリスト
100、テストパターン1(101)と故障リスト1
(145)を故障検出器146に入力し、故障検証1を
行う。故障検証1の結果を再び遷移情報データベース1
42に書き込み147を行い、データベース解析148
を行い、テストパターン1での未検出故障における遷移
の割合から故障リスト2(149)を生成する。この故
障リスト2(149)とテストパターン2(103)と
ネットリスト100を故障検出器116に入力し、故障
検証2を行う。
【0035】この例では、2つのテストパターンを用い
た場合であるが、さらに複数のテストパターンを検証す
る場合は、同じ処理を繰り返す。ハイパー故障及びハイ
パー故障になる可能性のある故障は論理検証により動作
不良の確認が容易でもあり、故障検証を行わないことも
可能である。従来、ハイパー故障に関しては故障検証を
行う途中で認識されて故障検証対象リストから外された
り、そのまま長時間かけて故障検証されていたが、この
発明に示すように故障検証を行う前にハイパー故障を考
慮することにより、無駄な処理を省くことができる。ま
た、信号遷移検証102、104において全く遷移しな
い故障については、故障検証を行わない。従来、未検出
となる故障は、長時間かけての故障検証の後、未検出で
あることが判明していたが、この手法では無駄な故障検
証を行うことなく処理できる。また、信号遷移検証10
2、104を行うことにより、効果的なテストパターン
を優先的に処理でき、かつ検出率向上に寄与する対象故
障を早く故障検証することでき、無駄な処理を省き、処
理時間の短縮に大きな効果が得られる。
た場合であるが、さらに複数のテストパターンを検証す
る場合は、同じ処理を繰り返す。ハイパー故障及びハイ
パー故障になる可能性のある故障は論理検証により動作
不良の確認が容易でもあり、故障検証を行わないことも
可能である。従来、ハイパー故障に関しては故障検証を
行う途中で認識されて故障検証対象リストから外された
り、そのまま長時間かけて故障検証されていたが、この
発明に示すように故障検証を行う前にハイパー故障を考
慮することにより、無駄な処理を省くことができる。ま
た、信号遷移検証102、104において全く遷移しな
い故障については、故障検証を行わない。従来、未検出
となる故障は、長時間かけての故障検証の後、未検出で
あることが判明していたが、この手法では無駄な故障検
証を行うことなく処理できる。また、信号遷移検証10
2、104を行うことにより、効果的なテストパターン
を優先的に処理でき、かつ検出率向上に寄与する対象故
障を早く故障検証することでき、無駄な処理を省き、処
理時間の短縮に大きな効果が得られる。
【0036】この発明の請求項6に対応する第6の実施
の形態を図15に基づいて説明する。第6の実施の形態
は、第5の実施の形態を分散故障検証に適用した場合で
ある。図15では図12と同様、2つのテストパターン
を用いた故障検証の例であり、図12の故障リスト14
5の作成以降の手法を示す。図15において故障リスト
145を分割する(151)。この故障リストの分割方
法は、図11に示す方法と同様であり、図14に示した
故障リストを分割する。すなわち分割する際には、ハイ
パー故障の割合及び信号遷移の割合がほぼ同じになるよ
うに処理対象の故障を振り分け、また、振り分けられた
各々の故障集合においては、ハイパー故障の処理順番が
遅くなり、ハイパー故障と関係無い故障については、信
号遷移回数が大きい順に並べられ、故障リスト1A(1
52)、故障リスト1B(153)を生成する。2つ故
障検出器154、155にそれぞれ故障リスト1A(1
52)、故障リスト1B(153)とネットリスト10
0、テストパターン1(101)を入力して故障検証を
行う。2つの故障検証は同時に並列に行われ、全ての処
理が終了した時点で結果の集計156を行い、全体の故
障検出率を算出する。全体の故障検証の時間は2つの故
障検証の遅い方に律速される。処理時間のかかる対象故
障が片寄って存在している場合、分散故障検証の効果が
著しく低下する。ところがこの発明では、処理時間がか
かり、全体の故障検証時間に大きく影響を与えるハイパ
ー故障の確認を事前に行い、かつ信号遷移検証を行うこ
とにより、ハイパー故障及び信号遷移がほぼ同じになる
ように処理対象故障を振り分けたため、2つの故障検証
時間がほぼ同じになり、分散故障検証において最大の効
果が得られる。
の形態を図15に基づいて説明する。第6の実施の形態
は、第5の実施の形態を分散故障検証に適用した場合で
ある。図15では図12と同様、2つのテストパターン
を用いた故障検証の例であり、図12の故障リスト14
5の作成以降の手法を示す。図15において故障リスト
145を分割する(151)。この故障リストの分割方
法は、図11に示す方法と同様であり、図14に示した
故障リストを分割する。すなわち分割する際には、ハイ
パー故障の割合及び信号遷移の割合がほぼ同じになるよ
うに処理対象の故障を振り分け、また、振り分けられた
各々の故障集合においては、ハイパー故障の処理順番が
遅くなり、ハイパー故障と関係無い故障については、信
号遷移回数が大きい順に並べられ、故障リスト1A(1
52)、故障リスト1B(153)を生成する。2つ故
障検出器154、155にそれぞれ故障リスト1A(1
52)、故障リスト1B(153)とネットリスト10
0、テストパターン1(101)を入力して故障検証を
行う。2つの故障検証は同時に並列に行われ、全ての処
理が終了した時点で結果の集計156を行い、全体の故
障検出率を算出する。全体の故障検証の時間は2つの故
障検証の遅い方に律速される。処理時間のかかる対象故
障が片寄って存在している場合、分散故障検証の効果が
著しく低下する。ところがこの発明では、処理時間がか
かり、全体の故障検証時間に大きく影響を与えるハイパ
ー故障の確認を事前に行い、かつ信号遷移検証を行うこ
とにより、ハイパー故障及び信号遷移がほぼ同じになる
ように処理対象故障を振り分けたため、2つの故障検証
時間がほぼ同じになり、分散故障検証において最大の効
果が得られる。
【0037】続いてデータベース解析157を行い、テ
ストパターン1(101)での未検出故障に対して、故
障リスト2(158)を生成する。ハイパー故障及び信
号遷移の割合から対象故障の故障分割1(159)を行
い、故障リスト2A(160)、故障リスト2B(16
1)を生成する。これらのリストとネットリスト10
0、テストパターン2(103)をそれぞれ2つの故障
検出器162、163に入力し、並列故障検証を行い、
結果の集計164を行う。
ストパターン1(101)での未検出故障に対して、故
障リスト2(158)を生成する。ハイパー故障及び信
号遷移の割合から対象故障の故障分割1(159)を行
い、故障リスト2A(160)、故障リスト2B(16
1)を生成する。これらのリストとネットリスト10
0、テストパターン2(103)をそれぞれ2つの故障
検出器162、163に入力し、並列故障検証を行い、
結果の集計164を行う。
【0038】なおこの例では、2つのテストパターンを
用いた場合であるが、さらに複数のテストパターンを検
証する場合は同じ処理を繰り返す。またこの発明による
手法は、自動テストパターン生成装置(ATPG)にお
いても適用可能である。
用いた場合であるが、さらに複数のテストパターンを検
証する場合は同じ処理を繰り返す。またこの発明による
手法は、自動テストパターン生成装置(ATPG)にお
いても適用可能である。
【0039】
【発明の効果】請求項1記載の集積回路の故障検証方法
によれば、あり得る全ての故障に対して、故障検出のさ
れやすさを知るために、通常の故障検証の前に信号の遷
移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて故障検証を
行なうテストパターンもしくは検証対象箇所を順位付け
し、順位づけに基づいて順番に検証を行うので、無駄な
テストパターンを流したり、無駄な故障検証を行うこと
なく、無駄な処理時間を省いて効果的に故障検証を行う
ことができる。
によれば、あり得る全ての故障に対して、故障検出のさ
れやすさを知るために、通常の故障検証の前に信号の遷
移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて故障検証を
行なうテストパターンもしくは検証対象箇所を順位付け
し、順位づけに基づいて順番に検証を行うので、無駄な
テストパターンを流したり、無駄な故障検証を行うこと
なく、無駄な処理時間を省いて効果的に故障検証を行う
ことができる。
【0040】請求項2記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、信号遷移の割合が均等になるように検証対象箇
所を等分し、最終的に全体の故障検出率を算出すること
により、分散故障検証における並列する処理の処理時間
を均等にすることが可能になるので、効果的な分散故障
検証を行うことができる。請求項3記載の集積回路の故
障検証方法によれば、検証時に発生するイベント量を前
もって考慮するために、あり得る全ての故障の中で、経
験的に分かっているイベントを発生しやすいハイパー故
障を考慮して順位付けし、順位づけに基づいて順番に検
証を行う。このように、通常の故障検証の前に、検証時
にイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮し、故障
検証を行うテストパターンもしくは検証対象故障を順位
付けすることにより、無駄なテストパターンを流した
り、無駄な故障検証を行うことなく、効果的に故障検証
を行うことができる。
よれば、信号遷移の割合が均等になるように検証対象箇
所を等分し、最終的に全体の故障検出率を算出すること
により、分散故障検証における並列する処理の処理時間
を均等にすることが可能になるので、効果的な分散故障
検証を行うことができる。請求項3記載の集積回路の故
障検証方法によれば、検証時に発生するイベント量を前
もって考慮するために、あり得る全ての故障の中で、経
験的に分かっているイベントを発生しやすいハイパー故
障を考慮して順位付けし、順位づけに基づいて順番に検
証を行う。このように、通常の故障検証の前に、検証時
にイベントを発生しやすいハイパー故障を考慮し、故障
検証を行うテストパターンもしくは検証対象故障を順位
付けすることにより、無駄なテストパターンを流した
り、無駄な故障検証を行うことなく、効果的に故障検証
を行うことができる。
【0041】請求項4記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、ハイパー故障を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出することにより、分散故障検証における並列
する処理の処理時間を均等にすることが可能となり、効
果的な分散故障検証を行うことができる。請求項5記載
の集積回路の故障検証方法によれば、あり得る全ての故
障の中で、経験的に分かっているイベントを発生しやす
いハイパー故障を考慮し、故障検出のされやすさの確認
として信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応
じて検証テストパターンもしくは検証対象箇所を順位付
けし、順位づけに基づいて順番に検証を行なう。すなわ
ち、故障検証を行う前に信号遷移検証を実施し、また検
証時に発生するイベント量を考慮することにより故障検
証を行う順番を決定するので、請求項1と同様な効果が
ある。
よれば、ハイパー故障を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出することにより、分散故障検証における並列
する処理の処理時間を均等にすることが可能となり、効
果的な分散故障検証を行うことができる。請求項5記載
の集積回路の故障検証方法によれば、あり得る全ての故
障の中で、経験的に分かっているイベントを発生しやす
いハイパー故障を考慮し、故障検出のされやすさの確認
として信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応
じて検証テストパターンもしくは検証対象箇所を順位付
けし、順位づけに基づいて順番に検証を行なう。すなわ
ち、故障検証を行う前に信号遷移検証を実施し、また検
証時に発生するイベント量を考慮することにより故障検
証を行う順番を決定するので、請求項1と同様な効果が
ある。
【0042】請求項6記載の集積回路の故障検証方法に
よれば、分散故障検証として信号遷移の割合が均等にな
るように検証対象箇所を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出するので、請求項2と同様な効果がある。
よれば、分散故障検証として信号遷移の割合が均等にな
るように検証対象箇所を等分し、最終的に全体の故障検
出率を算出するので、請求項2と同様な効果がある。
【図1】この発明の請求項1に対応した第1の実施の形
態に示した信号遷移検証を行う故障検証方法を説明する
説明図である。
態に示した信号遷移検証を行う故障検証方法を説明する
説明図である。
【図2】請求項1および請求項2において使用する遷移
情報データベースの形式を説明する説明図である。
情報データベースの形式を説明する説明図である。
【図3】請求項1および請求項2において、複数のテス
トパターンを用いた場合に、どのテストパターンを先に
処理するかの選択方法を説明する説明図である。
トパターンを用いた場合に、どのテストパターンを先に
処理するかの選択方法を説明する説明図である。
【図4】請求項1および請求項2においてに示した信号
遷移を考慮した故障リスト例の説明図である。
遷移を考慮した故障リスト例の説明図である。
【図5】請求項2に対応した第2の実施の形態に示した
信号遷移検証を用いた分散故障検証方法を説明する説明
図である。
信号遷移検証を用いた分散故障検証方法を説明する説明
図である。
【図6】請求項2に示した信号遷移を均等にするような
故障分割方法を説明する説明図である。
故障分割方法を説明する説明図である。
【図7】請求項3に対応する第3の実施の形態に示した
検証時にイベントを発生しやすいハイパー故障に着目し
た故障検証方法を説明する説明図である。
検証時にイベントを発生しやすいハイパー故障に着目し
た故障検証方法を説明する説明図である。
【図8】請求項3および請求項4において使用するハイ
パー故障の定義を説明する説明図である。
パー故障の定義を説明する説明図である。
【図9】請求項3および請求項4において示すハイパー
故障を考慮して生成する故障リスト例を説明する説明図
である。
故障を考慮して生成する故障リスト例を説明する説明図
である。
【図10】請求項4に対応する第4の実施の形態に示し
たハイパー故障を考慮する分散故障検証方法を説明する
説明図である。
たハイパー故障を考慮する分散故障検証方法を説明する
説明図である。
【図11】請求項4に示したハイパー故障を均等にする
故障分割方法を説明する説明図である。
故障分割方法を説明する説明図である。
【図12】請求項5に対応する第5の実施の形態に示し
た、ハイパー故障を考慮し、信号遷移検証を行う故障検
証方法の説明図である。
た、ハイパー故障を考慮し、信号遷移検証を行う故障検
証方法の説明図である。
【図13】請求項5および請求項6において遷移情報デ
ータベース形式の説明図である。
ータベース形式の説明図である。
【図14】請求項5および請求項6において示したハイ
パー故障と信号遷移を考慮した故障リスト例の説明図で
ある。
パー故障と信号遷移を考慮した故障リスト例の説明図で
ある。
【図15】請求項6に対応する第6の実施の形態に示し
た、ハイパー故障を考慮し、信号遷移検証を行う分散故
障検証方法の説明図である。
た、ハイパー故障を考慮し、信号遷移検証を行う分散故
障検証方法の説明図である。
【図16】従来の故障検証方法の説明図である。
100 ネットリスト 101 テストパターン1 102 信号遷移検証 103 テストパターン2 104 信号遷移検証 105 ネットリスト 106 故障検出器 107 故障リスト 108 遷移情報データベース 109 データベース解析 110 故障リスト1 111 故障検出器 112 検出情報書き込み 113 データベース解析 114 故障リスト2 115 故障検出器
Claims (6)
- 【請求項1】 回路の検証対象箇所に対する信号の遷移
確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパ
ターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに
基づく順番に検証を行うことを特徴とする集積回路の故
障検証方法。 - 【請求項2】 回路の検証対象箇所に対する信号の遷移
確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパ
ターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、信号遷移の
割合が均等になるように検証対象箇所を等分し、それぞ
れを並列に処理するとともに、各処理において順位付け
に基づいて処理を行うことを特徴とする集積回路の故障
検証方法。 - 【請求項3】 回路の検証対象箇所の中で、検証時に発
生するイベント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、
順位づけに基づいて順番に検証を行うことを特徴とする
集積回路の故障検証方法。 - 【請求項4】 回路の検証対象箇所の中で、検証時に発
生するイベント量に応じて検証対象箇所を順位付けし、
検証時にイベントを発生しやすいハイパー故障が均等に
なるように検証対象箇所を等分し、それぞれを並列に処
理するとともに、各処理において順位付けに基づいて処
理を行うことを特徴とする集積回路の故障検証方法。 - 【請求項5】 回路の検証対象箇所の中で、検証時にイ
ベントを発生しやすいハイパー故障を加味し、かつ回路
の検証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を行い、信
号遷移の割合に応じて検証テストパターンまた検証対象
箇所を順位付けし、順位づけに基づく順番に検証を行う
ことを特徴とする集積回路の故障検証方法。 - 【請求項6】 回路の検証対象箇所の中で、検証時にイ
ベントを発生しやすいハイパー故障を加味し、回路の検
証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を行い、信号遷
移の割合に応じて検証テストパターンまた検証対象箇所
を順位付けし、ハイパー故障および信号遷移の割合が均
等になるように検証対象箇所を等分し、それぞれを並列
に処理するとともに、各処理において順位付けに基づい
て処理を行うことを特徴とする集積回路の故障検証方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10067187A JPH11265980A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 集積回路の故障検証方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10067187A JPH11265980A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 集積回路の故障検証方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11265980A true JPH11265980A (ja) | 1999-09-28 |
Family
ID=13337655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10067187A Pending JPH11265980A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 集積回路の故障検証方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11265980A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6751767B1 (en) | 1999-09-29 | 2004-06-15 | Nec Electronics Corporation | Test pattern compression method, apparatus, system and storage medium |
KR100740178B1 (ko) * | 1999-10-29 | 2007-07-16 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 반도체 집적회로의 고장검사방법 및 레이아웃방법 |
US8990747B2 (en) | 2013-04-05 | 2015-03-24 | Fujitsu Semiconductor Limited | Logical Verification Apparatus and Method |
-
1998
- 1998-03-17 JP JP10067187A patent/JPH11265980A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6751767B1 (en) | 1999-09-29 | 2004-06-15 | Nec Electronics Corporation | Test pattern compression method, apparatus, system and storage medium |
KR100740178B1 (ko) * | 1999-10-29 | 2007-07-16 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 반도체 집적회로의 고장검사방법 및 레이아웃방법 |
US7441168B2 (en) | 1999-10-29 | 2008-10-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Fault detecting method and layout method for semiconductor integrated circuit |
US7594206B2 (en) | 1999-10-29 | 2009-09-22 | Panasonic Corporation | Fault detecting method and layout method for semiconductor integrated circuit |
US8990747B2 (en) | 2013-04-05 | 2015-03-24 | Fujitsu Semiconductor Limited | Logical Verification Apparatus and Method |
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