JP3017738B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、例えば光ディスクに対して情報の記録あ
るいは再生を行う光ディスク装置に関する。

（従来の技術） 周知のように、例えば半導体レーザより出力されるレ
ーザ光によって、光ディスクに情報を記録したり、光デ
ィスクに記録されている情報を読出すディスク装置が種
々開発されている。

このような光ディスク装置においては、新しい光ディ
スクに情報の書込みあるいは読出しを行なうに先だっ
て、例えばその光ディスクの製造時に記録されたアドレ
ス情報としてのブロック番号、トラック番号、セクタ番
号等からなるブロックヘッダＡ（フォーマットデータ）
の良否を判定するため、フォーマットチェックが実施さ
れるのが通常である。

このようなフォーマットチェックは、予め記録されて
いるアドレス情報と光ディスクの全面にわたって読取
り、アドレス情報が正しく記録されているか否かをチェ
ックするものである。そして、このフォーマットチェッ
クは新しい光ディスクに対して、通常１回だけ行い、正
しく読取れなかったアドレス情報を欠陥情報として取扱
えるようにユーザ領域の内側あるいは外側の所定位置に
記録するものである。

しかし、追記型の光ディスクのフォーマットチェック
に際し、次のような問題点がある。例えば、フロッピー
ディスクや磁気ディスク等のように自由に読み書きでき
る記録媒体においてフォーマットチェックを行なう場合
は、アドレス情報の妥当性はもちろん、データ記録領域
にデータを書込んだ後に再生してチェックすることによ
り、当該データ記録領域が正常に書込み、あるいは再生
が可能か否かを検査するようになっている。

ところが、追記型の光ディスクの場合は、ユーザのデ
ータ記録領域にデータを記録することはできない。した
がって、再生によりアドレス情報を読出して、その妥当
性のチェックのみを行なっているのが現状である。

つまり、データ記録領域のチェックは実質上行われて
いなかったため、データ記録領域に欠陥があると正常に
記録あるいは再生ができないという欠点があった。

（発明が解決しようとする問題点） この発明は、上記したように、例えば追記型の光ディ
スクのフォーマットチェックにおいてはデータ記録領域
のチェックは実質上行われていなかったため、データ記
録領域に欠陥がある場合等、例示した追記型を含む光デ
ィスクのアドレス情報とデータ記録領域に欠陥があると
正常に記録あるいは再生ができないという欠点を解消す
るためになされたもので、フォーマットチェック時に光
ディスクのアドレス情報の正当性と共に、データ記録領
域に欠陥があることを確実に検出し、正常に記録あるい
は再生ができる光ディスク装置を提供することを目的と
する。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） この発明の光ディスク装置は、ヘッダ領域とデータ記
録領域とを含むブロック単位で記録される光ディスクで
あって、当該ヘッダ領域とデータ領域が連続して配置さ
れた光ディスクにデータを記録する光ディスク装置にお
いて、上記データ記録領域にデータが記録されるレベル
より弱い光ビームを照射する集光手段と、この集光手段
により光ビームが照射された前記ブロック毎のヘッダ領
域からアドレス情報を読み取る読取手段と、この読取手
段で読取られたアドレス情報から前記ブロック毎のヘッ
ダ領域における欠陥を検知する第１の検知手段と、この
第１の検知手段による検知に連続するように、前記集光
手段により照射される光ビームの前記光ディスク上での
焦点状態を示す焦点誤差信号により前記ブロック毎のデ
ータ記録領域における欠陥を検知する第２の検知手段
と、この第２の検知手段と前記第１の検知手段とにより
検知された欠陥の検知結果を、この欠陥が検知されたヘ
ッダ領域またはデータ記録領域を含む当該ブロックを前
記読取手段による前記アドレス情報と関連付けて、欠陥
情報として一時的に順次記憶する記憶手段と、前記光デ
ィスク上の複数のブロックの全領域に対して、前記第
１、第２の検知手段による欠陥の検知が完了した後に、
前記記憶手段に一時的に順次記憶された前記全ブロック
の前記欠陥情報を、前記光ディスク上の所定保守領域に
記録する制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とす
る。

また、この発明の光ディスク装置は、ヘッダ領域とデ
ータ記録領域とを含むブロック単位で記録される追記型
の光ディスクであって、当該ヘッダ領域とデータ領域が
連続して配置された追記型の光ディスクにデータを記録
する光ディスク装置において、上記データ記録領域にデ
ータが記録されるレベルより弱い光ビームを照射する集
光手段と、この集光手段により光ビームが照射された前
記ブロック毎のヘッダ領域からアドレス情報を読み取る
読取手段と、この読取手段で読取られたアドレス情報か
ら前記ブロック毎のヘッダ領域における欠陥を検知する
第１の検知手段と、この第１の検知手段による検知に連
続するように、前記集光手段により照射される光ビーム
の前記追記型の光ディスク上での焦点状態を示す焦点誤
差信号により前記ブロック毎のデータ記録領域における
欠陥を検知する第２の検知手段と、この第２の検知手段
と前記第１の検知手段とにより検知された欠陥の検知結
果を、この欠陥が検知されたヘッダ領域またはデータ記
録領域を含む当該ブロックを前記読取手段による前記ア
ドレス情報と関連付けて、欠陥情報として一時的に順次
記憶する記憶手段と、前記追記型の光ディスク上の複数
のブロックの全領域に対して、前記第１、第２の検知手
段による欠陥の検知が完了した後に、前記記憶手段に一
時的に順次記憶された前記全ブロックの前記欠陥情報
を、前記追記型の光ディスク上の所定保守領域に記録す
る制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする。

（作用） この発明は、ヘッダ領域とデータ記録領域とを含むブ
ロック単位で記録される光ディスクであって、当該ヘッ
ダ領域とデータ領域が連続して配置された光ディスクに
データを記録する光ディスク装置において、上記データ
記録領域にデータが記録されるレベルより弱い光ビーム
を照射し、この光ビームが照射された前記ブロック毎の
ヘッダ領域からアドレス情報を読み取り、この読取られ
たアドレス情報から前記ブロック毎のヘッダ領域におけ
る欠陥を検知し、この検知に連続するように、前記照射
される光ビームの前記光ディスク上での焦点状態を示す
焦点誤差信号により前記ブロック毎のデータ記録領域に
おける欠陥を検知し、検知された欠陥の検知結果を、こ
の欠陥が検知されたヘッダ領域またはデータ記録領域を
含む当該ブロックを前記アドレス情報と関連付けて欠陥
情報として一時的に順次記憶し、前記光ディスク上の複
数のブロックの全領域に対して、前記欠陥の検知が完了
した後に、前記一時的に順次記憶された前記全ブロック
の前記欠陥情報を、前記光ディスク上の所定保守領域に
記録するようにしたものである。

また、この発明は、ヘッダ領域とデータ記録領域とを
含むブロック単位で記録される追記型の光ディスクであ
って、当該ヘッダ領域とデータ領域が連続して配置され
た追記型の光ディスクにデータを記録する光ディスク装
置において、上記データ記録領域にデータが記録される
レベルより弱い光ビームを照射し、この光ビームが照射
された前記ブロック毎のヘッダ領域からアドレス情報の
読み取り、この読取られたアドレス情報から前記ブロッ
ク毎のヘッダ領域における欠陥を検知し、この検知に連
続するように、前記照射される光ビームの前記追記型の
光ディスク上での焦点状態を示す焦点誤差信号により前
記ブロック毎のデータ記録領域における欠陥を検知し、
検知された欠陥の検知結果を、この欠陥が検知されたヘ
ッダ領域またはデータ記録領域を含む当該ブロックを前
記アドレス情報と関連付けて欠陥情報として一時的に順
次記憶し、前記追記型の光ディスク上の複数のブロック
の全領域に対して、前記欠陥の検知が完了した後に、前
記一時的に順次記憶された前記全ブロックの前記欠陥情
報を、前記追記型の光ディスク上の所定保守領域に記録
するようにしたものである。

（実施例） 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説
明する。

第１図は、ディスク装置を示すものである。光ディス
ク（記録媒体）１の表面には、スパイラル状に溝（記録
トラック）が形成されており、この光ディスク１は、モ
ータ２によって例えば一定の速度で回転される。このモ
ータ２は、モータ制御回路18によって制御されている。

上記光ディスク１は、第２図に示すように、たとえば
ガラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された
基板の表面にテルルあるいはビスマスなどの金属被膜層
つまり記録膜がドーナツ型にコーティングされており、
その金属被膜層の中心部近傍には切欠部つまり基準位置
マーク40が設けられている。

また、光ディスク１上は、第２図に示すように基準マ
ーク40を「０」として「０〜255」の256セクタに分割さ
れている。上記光ディスク１上には可変長の情報が複数
のブロックにわたって記録されるようになっており、光
ディスク１上には36000トラックに30万のブロックが形
成されるようになっている。

なお、上記光ディスク１における１ブロックのセクタ
数はたとえば内側で40セクタになり、外側では20セクタ
になるようになっている。上記ブロックの開始位置に
は、ブロック番号、トラック番号、セクタ番号などから
なるアドレス情報としてのブロックヘッダＡがたとえば
光ディスク１の製造時に記録されるようになっている。
そして、第３図に示すように、このブロックヘッダＡに
続いてデータを記録することができるデータ記録領域Ｂ
が設けられている。

また、光ディスク１における各ブロックがセクタの切
換位置で終了しない場合、ブロックギャップを設け、各
ブロックか必ずセクタの切換位置から始まるようになっ
ている。

上記光ディスク１に対する情報の記録再生は、光学ヘ
ッド３によって行われる。この光学ヘッド３は、リニア
モータの可動部を構成する駆動コイル13に固定されてお
り、この駆動コイル13はリニアモータ制御回路17に接続
されている。

このリニアモータ制御回路17には、リニアモータ位置
検出器26が接続されており、このリニアモータ位置検出
器26は、光学ヘッド３に設けられた光学スケール25を検
出することにより、現在位置信号を出力するようになっ
ている。

また、リニアモータの固定部には、図示しない永久磁
石が設けられており、前記駆動コイル13がリニアモータ
制御回路17によって励磁されることにより、光学ヘッド
３は、光ディスク１の半径方向に移動されるようになっ
ている。

前記光学ヘッド３には、対物レンズ６が図示しないワ
イヤあるいは板ばねによって保持されており、この対物
レンズ６は、駆動コイル５によってフォーカシング方向
（レンズの光軸方向）に移動され、駆動コイル４によっ
てトラッキング方向（レンズの光軸と直交方向）に移動
可能に配設されている。

また、レーザ制御回路14によって駆動される半導体レ
ーザ９より発生されたレーザ光は、コリメータレンズ11
a、ハーフプリズム11b、対物レンズ６を介して光ディス
ク１上に照射され、この光ディスク１からの反射光は、
対物レンズ６、ハーフプリズム11bを介してハーフプリ
ズム11cに導かれ、このハーフプリズム11cによって分光
された一方は、集光レンズ10を介して一対のトラッキン
グ位置センサ８に導かれる。

また、前記ハーフプリズム11cによって分光された他
方は、集光レンズ11d、ナイフエッジ12を介して一対の
フォーカス位置センサ７に導かれる。

前記トラッキング位置センサ８の出力信号は、差動増
幅器OP1を介してトラッキング制御回路16に供給され
る。このトラッキング制御回路16より出力されるトラッ
キング誤差信号は、リニアモータ制御回路17に供給され
るとともに、前記トラッキング方向の駆動コイル４に供
給され、レーザ光が光ディスク１上の所定のトラックに
トラッキングされるように制御される。また、上記トラ
ッキング誤差信号はA/D変換器21を介してバスライン20
へ送され、CPU23で取込むことができるようになってい
る。

また、前記フォーカス位置センサ７からは、レーザ光
のフォーカス点に関する信号が出力され、この信号は差
動増幅器OP2を介して、フォーカシング制御回路15に供
給される。このフォーカシング制御回路15の出力信号
は、フォーカス誤差信号検知回路33へ供給される一方、
フォーカシング駆動コイル５に供給され、レーザ光が光
ディスク１上で常時ジャストフォーカス（合焦点）とな
るように制御される。

上記のようにフォーカシング、トラッキングを行った
状態でのトラッキング位置センサ８の出力の和信号は、
トラック上に形成されたピット（記録情報）の凹凸が反
映されている。この信号は、映像回路19に供給され、こ
の映像回路19において２値化されて変復調回路29へ送ら
れる。そして、この変復調回路29で復調された画像情
報、アドレス情報としてのブロックヘッダ情報（トラッ
ク番号、ブロック番号、セクタ番号等）はエラー検知訂
正回路30へ送られるとともに、アドレス検知回路32へ送
られる。エラー検知訂正回路30では、送られてきた画像
情報にエラーがあるか否かを検査し、もしエラーがあっ
たら訂正して順次データバッファ28に格納していく。ま
た、アドレス検知回路32は、ブロックヘッダ情報を検知
してバスライン20を介してCPU23へ送出する。CPU23は、
このアドレス検知回路32からのブロックヘッダ情報を受
取ってその正当性を検査する。

また、インタフェース回路31は、例えばコンピュータ
等のホストと情報の送受を行なうものである。

また、上記トラッキング制御回路16は、上記CPU23か
らD/A変換器22を介して供給されるトラックジャンプ信
号に応じて対物レンズ６を移動させ、１トラック分ビー
ム光を移動させるようになっている。

上記レーザ制御回路14、フォーカシング制御回路15、
トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回路17、モ
ータ制御回路18、映像回路19等は、バスライン20を介し
てCPU23によって制御されるようになっており、このCPU
23はメモリ24に記憶されたプログラムによって所定の動
作を行うようになっている。また、上記メモリ24は処理
データを一時的に記憶するバッファとしても用いられる
ようになっている。

また、このディスク装置には、フォーカシング制御回
路15、トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回路
17とCPU23との間で情報の授受を行うために用いられるA
/D変換器21、D/A変換器22が設けられている。

上記トラッキング制御回路16は、差動増幅器OP1から
供給されるトラッキング誤差信号を、CPU23から供給さ
れるゲイン切換信号に応じて、記録時と再生時とで異な
ったゲインで増幅し、位相補償を行なった後さらに増幅
して駆動回路（図示しない）に供給する。これにより、
駆動回路は供給される信号に応じて駆動コイル４を駆動
することにより、トラッキングを行うようになってい
る。

上記レーザ制御回路14は、CPU23あるいは変復調回路2
9から供給される信号に応じて半導体レーザ９を駆動す
るもので、弱光度の発光により情報の再生を行い、記録
パルスに応じた強光度の発光により情報の記録を行うも
のである。

上記フォーカス誤差検知回路33は、第４図に示すよう
に、コンパレータとしての演算増幅器OP3、Ｄタイプの
フリップフロップFFおよび抵抗R1〜R3によって構成され
ている。そして、コンパレータOP3の反転入力には上記
フォーカシング制御回路15からのフォーカス誤差信号
（焦点誤差信号）FSUBが、非反転入力には抵抗R1とR2と
により分割生成された比較電圧が入力されるようになっ
ている。この比較電圧としては、上記抵抗R1とR2とによ
り、フォーカス誤差信号の上方側のレベルを検知する第
１の比較電圧th1、下方側のレベルを検知する第２の比
較電圧th2が生成される。また、上記比較電圧th1、th2
は、例えば、フォーカス誤差信号FSUBが、光ディスク１
上の１μｍの凹凸に対し±1Vの電圧を出力する特性を有
するものであれば±0.5Vの電圧を出力するように調整さ
れている。フリップフロップFFは、CPU23からのCLEAR信
号によりリセットされ、コンパレータOP3が出力するパ
ルスの変化のエッジでセットされるようになっている。
そしてセットされた信号が欠陥信号FERRとしてCPU23へ
送出されるようになっている。

次に、このような構成においてフォーマットチェック
動作を説明する。たとえば今、光学ヘッド３を最内周か
ら最外周側に向かって移動を開始するとともに、CPU23
からレーザ制御回路14を駆動することにより、半導体レ
ーザ９から弱強度のレーザ光束が発生される。

これにより、レーザ光はコリメータレンズ11aによっ
て平行光束に変換され、ハーフプリズム11bで反射され
て対物レンズ６に入射され、この対物レンズ６によって
光ディスク１の記録膜に向けて集束される。

そして、光ディスク１からの反射光は、対物レンズ
６、ハーフプリズム11bを介して、ハーフプリズム11cに
導かれる。このハーフプリズム11cに導かれた光は、ハ
ーフプリズム11cを通過して集光レンズ10を介して光検
出器８上に照射されるとともに、ハーフプリズム11cで
反射して集光レンズ11dを介して光検出器７上に照射さ
れる。

これにより、上記光検出器８から、その照射光量に対
応した２つの検出信号が出力され、それらの差がOP1で
とられ、その差（トラックキング誤差信号）に応じてト
ラッキング制御回路15がトラッキング（トラックずれ）
補正を行う。

また、光検出器７から、その照射光量に対応した２つ
の検出信号が出力され、それらの差がOP2でとられ、そ
の差（フォーカス誤差信号）に応じてフォーカス制御回
路15がフォーカスシング（焦点ぼけ）補正を行う。

このようにして、光学ヘッド３が合焦点、合トラック
状態にされた後、光ディスク１に記録されているアドレ
ス情報の読取が開始される。

すなわち、トラッキング位置センサ８から出力され
る、光ディスク１のトラック上に記録されたブロックヘ
ッダ部分の凹凸が反映された信号が映像回路19に供給さ
れ、この映像信号19により２値化されて変復調回路29へ
送られる。そして、変復調回路29で復調された後アドレ
ス検知回路32へ送られ、アドレス検知回路32においてブ
ロックヘッダに記録されている情報に誤りがないか否か
が調べられる。もし、このアドレス検知回路32でブロッ
クヘッダの誤りが検知されたら、その旨の情報がCPU23
へ送られ、メモリ24に順次記憶されるようになってい
る。

一方、OP2からのフォーカス誤差信号はフォーカシン
グ制御回路15を介してフォーカス誤差検知回路33、つま
りコンパレータOP3の反転入力端子に供給される。ま
た、コンパレータOP3の非反転入力端子には、上述した
比較電圧が供給されており、常時上記両入力が比較され
ている状態にある。ここで、光ディスク１のトラックの
データ記録領域に欠陥、つまり微細な突起や凹み、ある
いは異物の付着等がなければ、その領域を再生している
際のフォーカス誤差信号は平坦な信号を出力するもので
あるが、上記のような欠陥があると瞬間的にフォーカス
がぼけるために、例えば第５図（ａ）に示すような、上
方（プラス方向）へ変化する信号が出力される。この光
ディスク１の欠陥に基づくフォーカス誤差信号FSUBがコ
ンパレータOP3に入力されると、その出力には、同図
（ｂ）に示すような比較電圧th1よりプラス方向へ突出
した部分の幅を持ったパルス信号が出力される。このこ
とは、フォーカス誤差信号FSUBとして、下方（マイナス
方向）へ変化する信号が得られた場合も同様で、この場
合は、比較電圧th2よりマイナス方向へ突出した部分の
幅を持った、上記パルス信号とは逆位相のパルス信号が
出力される。これらの信号が変化するエッジにより、フ
リップフロップFFがセットされ（同図（ｃ）参照）、欠
陥信号FERRが出力される。そして、この欠陥信号FERRを
受取ったCPU23は、その時のブロックヘッダ情報と関連
付けてその旨を表わす情報をメモリ24に記憶した後、CL
EAR信号を出力してフリップフロップFFをリセットし
（同図（ｄ）参照）、次のブロックのチェックに移行す
る。

以上のように、ブロックヘッダを再生してその正当性
をチェックすると並行して、そのブロックのデータ記録
領域の欠陥の有無をチェックし、これらに異常があった
らその欠陥に関する情報をメモリ24に順次記憶してい
く。そして、最内周から最外周までの全領域についてチ
ェックが完了したら、上記メモリ24に記憶した欠陥情報
を、光ディスク１の外周部あるいは内周部のユーザ領域
以外の領域に設けられる保守用のトラックに書込み、フ
ォーマットチェックの処理を終了する。

上記のようにして光ディスク１の保守用トラックに書
込まれた欠陥情報は、その光ディスク１が次に記録ある
いは再生される際に読出され、当該ブロックにアクセス
があったときに、そのブロックに替えて、別途用意され
た予備トラックにアクセスするように処理する、いわゆ
る交替トラック処理が行われることになる。これによ
り、欠陥を有するブロックを避けて情報の記録あるいは
再生が可能となり、ユーザは、あたかも欠陥がない光デ
ィスク１のように取扱うことができる。

上記したように、フォーマットチェックにおいて、ア
ドレス情報の正当正のチェックの他に、データ記録領域
を再生している際のフォーカス誤差信号が所定のレベル
以外になった場合に、そのブロックに欠陥がある旨を検
知し、この検知結果である欠陥情報を、その光ディスク
の保守用トラックに書込むようにしたので、簡単な構成
であるにも拘らず、光ディスクの欠陥を検知することが
でき、さらに交替トラック処理を行なうことにより、あ
たかも欠陥がない光ディスクのように取扱うことができ
る。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、フォーマット
チェック時に光ディスクのアドレス情報の正当性と共
に、データ記録領域に欠陥があることを確実に検出し、
正常に記録あるいは再生ができる光ディスク装置を提供
できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第１図はディ
スク装置の構成図、第２図は光ディスクの構成を示す
図、第３図はブロックの構成を示す図、第４図は電気回
路の要部の構成を説明するためのブロック図、第５図は
欠陥検出時の各部のタイミング信号を示す図である。 １……光ディスク、２……回転モータ、３……光学ヘッ
ド、４……駆動コイル、６……対物レンズ（集光手
段）、７……フォーカス位置センサ、８……トラッキン
グ位置センサ、９……半導体レーザ、OP2……差動増幅
器、14……レーザ制御回路、15……フォーカシング制御
回路、19……映像回路、23……CPU（制御手段）、24…
…メモリ（記憶手段）、29……変復調回路（読取手
段）、32……アドレス検知回路（第１の検知手段）、33
……フォーカス誤差信号検知回路（第２の検知手段）。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−113137（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−688218（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−69865（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−58669（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−48662（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−271532（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−63168（ＪＰ，Ａ)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ヘッダ領域とデータ記録領域とを含むブロ
   ック単位で記録される光ディスクであって、当該ヘッダ
   領域とデータ領域が連続して配置された光ディスクにデ
   ータを記録する光ディスク装置において、 上記データ記録領域にデータが記録されるレベルより弱
   い光ビームを照射する集光手段と、 この集光手段により光ビームが照射された前記ブロック
   毎のヘッダ領域からアドレス情報を読み取る読取手段
   と、 この読取手段で読取られたアドレス情報から前記ブロッ
   ク毎のヘッダ領域における欠陥を検知する第１の検知手
   段と、 この第１の検知手段による検知に連続するように、前記
   集光手段により照射される光ビームの前記光ディスク上
   での焦点状態を示す焦点誤差信号により前記ブロック毎
   のデータ記録領域における欠陥を検知する第２の検知手
   段と、 この第２の検知手段と前記第１の検知手段とにより検知
   された欠陥の検知結果を、この欠陥が検知されたヘッダ
   領域またはデータ記録領域を含む当該ブロックを前記読
   取手段による前記アドレス情報と関連付けて、欠陥情報
   として一時的に順次記憶する記憶手段と、 前記光ディスク上の複数のブロックの全領域に対して、
   前記第１、第２の検知手段による欠陥の検知が完了した
   後に、前記記憶手段に一時的に順次記憶された前記全ブ
   ロックの前記欠陥情報を、前記光ディスク上の所定保守
   領域に記録する制御を行う制御手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】ヘッダ領域とデータ記録領域とを含むブロ
   ック単位で記録される追記型の光ディスクであって、当
   該ヘッダ領域とデータ領域が連続して配置された追記型
   の光ディスクにデータを記録する光ディスク装置におい
   て、 上記データ記録領域にデータが記録されるレベルより弱
   い光ビームを照射する集光手段と、 この集光手段により光ビームが照射された前記ブロック
   毎のヘッダ領域からアドレス情報を読み取る読取手段
   と、 この読取手段で読取られたアドレス情報から前記ブロッ
   ク毎のヘッダ領域における欠陥を検知する第１の検知手
   段と、 この第１の検知手段による検知に連続するように、前記
   集光手段により照射される光ビームの前記追記型の光デ
   ィスク上での焦点状態を示す焦点誤差信号により前記ブ
   ロック毎のデータ記録領域における欠陥を検知する第２
   の検知手段と、 この第２の検知手段と前記第１の検知手段とにより検知
   された欠陥の検知結果を、この欠陥が検知されたヘッダ
   領域またはデータ記録領域を含む当該ブロックを前記読
   取手段による前記アドレス情報と関連付けて、欠陥情報
   として一時的に順次記憶する記憶手段と、 前記追記型の光ディスク上の複数のブロックの全領域に
   対して、前記第１、第２の検知手段による欠陥の検知が
   完了した後に、前記記憶手段に一時的に順次記憶された
   前記全ブロックの前記欠陥情報を、前記追記型の光ディ
   スク上の所定保守領域に記録する制御を行う制御手段
   と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。