JPH0214426A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH0214426A JPH0214426A JP16391988A JP16391988A JPH0214426A JP H0214426 A JPH0214426 A JP H0214426A JP 16391988 A JP16391988 A JP 16391988A JP 16391988 A JP16391988 A JP 16391988A JP H0214426 A JPH0214426 A JP H0214426A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error signal
- defect
- signal
- focus error
- focusing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 65
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 27
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- QFTYEBTUFIFTHD-UHFFFAOYSA-N 1-[6,7-dimethoxy-1-[1-(6-methoxynaphthalen-2-yl)ethyl]-3,4-dihydro-1H-isoquinolin-2-yl]-2-piperidin-1-ylethanone Chemical compound C1=CC2=CC(OC)=CC=C2C=C1C(C)C(C1=CC(OC)=C(OC)C=C1CC1)N1C(=O)CN1CCCCC1 QFTYEBTUFIFTHD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000725101 Clea Species 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、例えば光ディスクに対して情報の記録ある
いは再生を行う光ディスク装置に関する。
いは再生を行う光ディスク装置に関する。
(従来の技術)
周知のように、例えば半導体レーザより出力されるレー
ザ光によって、光ディスクに情報を記録したり、光ディ
スクに記録されている情報を読出すディスク装置が種々
開発されている。
ザ光によって、光ディスクに情報を記録したり、光ディ
スクに記録されている情報を読出すディスク装置が種々
開発されている。
このような光ディスク装置においては、新しい光ディス
クに情報の書込みあるいは読出しを行なうに先だって、
例えばその光ディスクの製造時に記録されたアドレス情
報としてのブロック番号、トラック番号、セクタ番号等
からなるブロックヘッダA(フォーマットデータ)の良
否を判定するため、フォーマットチエツクが実施される
のが通常である。
クに情報の書込みあるいは読出しを行なうに先だって、
例えばその光ディスクの製造時に記録されたアドレス情
報としてのブロック番号、トラック番号、セクタ番号等
からなるブロックヘッダA(フォーマットデータ)の良
否を判定するため、フォーマットチエツクが実施される
のが通常である。
このようなフオ・−マッドチエツクは、予め記録されて
いるアドレス情報を光ディスクの全面にわたって読取り
、アドレス情報が正しく記録されているか否かをチエツ
クするものである。そして、このフォーマットチエツク
は新しい光ディスクに対して、通常1回だけ行い、正し
く読取れなかったアドレス情報を欠陥情報として取扱え
るようにユーザ領域の内側あるいは外側の所定位置に記
録するものである。
いるアドレス情報を光ディスクの全面にわたって読取り
、アドレス情報が正しく記録されているか否かをチエツ
クするものである。そして、このフォーマットチエツク
は新しい光ディスクに対して、通常1回だけ行い、正し
く読取れなかったアドレス情報を欠陥情報として取扱え
るようにユーザ領域の内側あるいは外側の所定位置に記
録するものである。
しかし、追記型の光ディスクのフォーマットチエツクに
際し、次のような問題点がある。例えば、フロッピーデ
ィスクや磁気ディスク等のように自由に読み書きできる
記録媒体においてフォーマットチエツクを行なう場合は
、アドレス情報の妥当性はもちろん、データ記録領域に
データを書込んだ後に再生してチエツクすることにより
、当該データ記録領域が正常に書込み、あるいは再生が
可能か否かを検査するようになっている。
際し、次のような問題点がある。例えば、フロッピーデ
ィスクや磁気ディスク等のように自由に読み書きできる
記録媒体においてフォーマットチエツクを行なう場合は
、アドレス情報の妥当性はもちろん、データ記録領域に
データを書込んだ後に再生してチエツクすることにより
、当該データ記録領域が正常に書込み、あるいは再生が
可能か否かを検査するようになっている。
ところが、追記型の光ディスクの場合は、ユーザのデー
タ記録領域にデータを記録することはできない。したが
って、再生によりアドレス情報を読出して、その妥当性
のチエツクのみを行なっているのが現状である。
タ記録領域にデータを記録することはできない。したが
って、再生によりアドレス情報を読出して、その妥当性
のチエツクのみを行なっているのが現状である。
つまり、データ記録領域のチエツクは実質上行われてい
なか9たため、データ記録領域に欠陥があると正常に記
録あるいは再生ができないという欠点があった。
なか9たため、データ記録領域に欠陥があると正常に記
録あるいは再生ができないという欠点があった。
(発明が解決しようとする問題点)
この発明は、上記したように、例えば追記型の光ディス
クのフォーマットチエツクにおいてはデータ記録領域の
チエツクは実質上行われていなかったため、データ記録
紙域に欠陥があると正常に記録あるいは再生ができない
という欠点を解消するためになされたもので、フォーマ
ットチエツク時に光ディスクのデータ記録領域に欠陥が
あることを確実に検出し、正常に記録あるいは再生がで
きる光ディスク装置を提供することを目的とする。
クのフォーマットチエツクにおいてはデータ記録領域の
チエツクは実質上行われていなかったため、データ記録
紙域に欠陥があると正常に記録あるいは再生ができない
という欠点を解消するためになされたもので、フォーマ
ットチエツク時に光ディスクのデータ記録領域に欠陥が
あることを確実に検出し、正常に記録あるいは再生がで
きる光ディスク装置を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
この発明の光ディスク装置は、記録媒体上に光ビームを
照射する集光手段と、この集光手段により照射される光
ビームの前記記録媒体上での焦点状態を示す焦点誤差信
号を発生する第1の処理手段と、この第1の処理手段か
ら発生される焦点誤差信号に応じて前記集光手段をその
光軸方向に移動し、前記集光手段によって照射される光
ビームを前記記録媒体上で合焦点状態に維持する制御手
段と、この制御手段による制御状態において、前記第1
の処理手段から発生される焦点誤差信号により前記記録
媒体の欠陥検出の処理を行なう第2の処理手段とを備え
たことを特徴とする。
照射する集光手段と、この集光手段により照射される光
ビームの前記記録媒体上での焦点状態を示す焦点誤差信
号を発生する第1の処理手段と、この第1の処理手段か
ら発生される焦点誤差信号に応じて前記集光手段をその
光軸方向に移動し、前記集光手段によって照射される光
ビームを前記記録媒体上で合焦点状態に維持する制御手
段と、この制御手段による制御状態において、前記第1
の処理手段から発生される焦点誤差信号により前記記録
媒体の欠陥検出の処理を行なう第2の処理手段とを備え
たことを特徴とする。
(作用)
この発明は、集光手段により記録媒体上に光を照射し、
この記録媒体からの光を検出して焦点誤差信号を得、こ
の焦点誤差信号に応じて上記集光手段を光軸方向に移動
させることにより合焦点状態にし、この合焦点状態にお
いて上記焦点誤差信号の麦化を検出することにより上記
記録媒体の欠陥を検出するようにしたものである。
この記録媒体からの光を検出して焦点誤差信号を得、こ
の焦点誤差信号に応じて上記集光手段を光軸方向に移動
させることにより合焦点状態にし、この合焦点状態にお
いて上記焦点誤差信号の麦化を検出することにより上記
記録媒体の欠陥を検出するようにしたものである。
(実施例)
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第1図は、ディスク装置を示すものである。光ディスク
(記録媒体)1の表面には、スパイラル状に溝(記録ト
ラック)が形成されており、この光ディスク1は、モー
タ2によって例えば一定の速度で回転される。このモー
タ2は、モータ制御回路18によって制御されている。
(記録媒体)1の表面には、スパイラル状に溝(記録ト
ラック)が形成されており、この光ディスク1は、モー
タ2によって例えば一定の速度で回転される。このモー
タ2は、モータ制御回路18によって制御されている。
上記光ディスク1は、第2図に示すように、たとえばガ
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された基
板の表面にテルルあるいはビスマスなどの金属被膜層つ
まり記録膜がドーナツ型にコーティングされており、そ
の金属被膜層の中心部近傍には切欠部つまり基準位置マ
ーク40が設けられている。
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された基
板の表面にテルルあるいはビスマスなどの金属被膜層つ
まり記録膜がドーナツ型にコーティングされており、そ
の金属被膜層の中心部近傍には切欠部つまり基準位置マ
ーク40が設けられている。
また、光ディスク1上は、第2図に示すように基準マー
ク40を「0」として「0〜255」の256セクタに
分割されている。上記光ディスク1上には可変長の情報
が複数のブロックにわたりて記録されるようになってお
り、光ディスク1上には36000 トラックに30万
のブロックが形成されるようになっている。
ク40を「0」として「0〜255」の256セクタに
分割されている。上記光ディスク1上には可変長の情報
が複数のブロックにわたりて記録されるようになってお
り、光ディスク1上には36000 トラックに30万
のブロックが形成されるようになっている。
なお、上記光ディスク1における1ブロツクのセクタ数
はたとえば内側で40セクタになり、外側では20セク
タになるようになっている。上記ブロックの開始位置に
は、ブロック番号、トラック番号、セクタ番号などから
なるアドレス情報としてのブロックヘッダAがたとえば
光ディスク1の製造時に記録されるようになっている。
はたとえば内側で40セクタになり、外側では20セク
タになるようになっている。上記ブロックの開始位置に
は、ブロック番号、トラック番号、セクタ番号などから
なるアドレス情報としてのブロックヘッダAがたとえば
光ディスク1の製造時に記録されるようになっている。
そして、第3図に示すように、このブロックヘッダAに
続いてデータを記録することができるデータ記録領域B
か設けられている。
続いてデータを記録することができるデータ記録領域B
か設けられている。
また、光ディスク1における各ブロックがセクタの切換
位置で終了しない場合、ブロックギャップを設け、各ブ
ロックが必ずセクタの切換位置から始まるようになって
いる。
位置で終了しない場合、ブロックギャップを設け、各ブ
ロックが必ずセクタの切換位置から始まるようになって
いる。
上記光ディスク1に対する情報の記録再生は、光学ヘッ
ド3によって行われる。この光学ヘッド3は、リニアモ
ータの可動部を溝数する駆動コイル13に固定されてお
り、この駆動コイル13はリニアモータ制御回路17に
接続されている。
ド3によって行われる。この光学ヘッド3は、リニアモ
ータの可動部を溝数する駆動コイル13に固定されてお
り、この駆動コイル13はリニアモータ制御回路17に
接続されている。
このリニアモータ制御回路17には、リニアモータ位置
検出器26が接続されており、このリニアモータ位置検
出器26は、光学ヘッド3に設けられた光学スケール2
5を検出することにより、現在位置信号を出力するよう
になっている。
検出器26が接続されており、このリニアモータ位置検
出器26は、光学ヘッド3に設けられた光学スケール2
5を検出することにより、現在位置信号を出力するよう
になっている。
また、リニアモータの固定部には、図示しない永久磁石
が設けられており、前記駆動コイル13がりニアモータ
制御回路17によって励磁されることにより、光学ヘッ
ド3は、光ディスク1の半径方向に移動されるようにな
っている。
が設けられており、前記駆動コイル13がりニアモータ
制御回路17によって励磁されることにより、光学ヘッ
ド3は、光ディスク1の半径方向に移動されるようにな
っている。
前記光学ヘッド3には、対物レンズ6が図示しないワイ
ヤあるいは板ばねによって保持されており、この対物レ
ンズ6は、駆動コイル5によってフォーカシング方向(
レンズの光軸方向)に移動され、駆動コイル4によって
トラッキング方向(レンズの光軸と直交方向)に移動可
能に配設されている。
ヤあるいは板ばねによって保持されており、この対物レ
ンズ6は、駆動コイル5によってフォーカシング方向(
レンズの光軸方向)に移動され、駆動コイル4によって
トラッキング方向(レンズの光軸と直交方向)に移動可
能に配設されている。
また、レーザ制御回路14によって駆動される半導体レ
ーザ9より発生されたレーザ光は、コリメータレンズ1
1a1ハーフプリズム11b1対物レンズ6を介して光
ディスク1上に照射され、この光ディスク1からの反射
光は、対物レンズ6、ハーフプリズムllbを介してハ
ーフプリズム11cに導かれ、このハーフプリズム11
Cによって分光された一方は、集光レンズ10を介して
一対のトラッキング位置センサ8に導かれる。
ーザ9より発生されたレーザ光は、コリメータレンズ1
1a1ハーフプリズム11b1対物レンズ6を介して光
ディスク1上に照射され、この光ディスク1からの反射
光は、対物レンズ6、ハーフプリズムllbを介してハ
ーフプリズム11cに導かれ、このハーフプリズム11
Cによって分光された一方は、集光レンズ10を介して
一対のトラッキング位置センサ8に導かれる。
また、前記ハーフプリズムllcによって分光された他
方は、集光レンズ11d、ナイフェツジ12を介して一
対のフォーカス位置センサ7に導かれる。
方は、集光レンズ11d、ナイフェツジ12を介して一
対のフォーカス位置センサ7に導かれる。
前記トラッキング位置センサ8の出力信号は、差動増幅
器OPIを介してトラッキング制御回路16に供給され
る。このトラッキング制御回路16より出力されるトラ
ッキング誤差信号は、リニアモータ制御回路17に供給
されるとともに、前記トラッキング方向の駆動コイル4
に供給され、レーザ光が光ディスク1上の所定のトラッ
クにトラッキングされるように制御される。また、上記
トラッキング誤差信号はA/D変換器21を介してパス
ライン20へ送られ、CPU23で取込むことができる
ようになっている。
器OPIを介してトラッキング制御回路16に供給され
る。このトラッキング制御回路16より出力されるトラ
ッキング誤差信号は、リニアモータ制御回路17に供給
されるとともに、前記トラッキング方向の駆動コイル4
に供給され、レーザ光が光ディスク1上の所定のトラッ
クにトラッキングされるように制御される。また、上記
トラッキング誤差信号はA/D変換器21を介してパス
ライン20へ送られ、CPU23で取込むことができる
ようになっている。
また、前記フォーカス位置センサ7からは、レーザ光の
フォーカス点に関する信号が出力され、この信号は差動
増幅器OP2を介して、フォーカシング制御回路15に
供給される。このフォーカシング制御回路15の出力信
号は、フォーカス誤差信号検知回路33へ供給される一
方、フォーカシング駆動コイル5に供給され、レーザ光
が光ディスク1上で常時ジャストフォーカス(合焦点)
となるように制御される。
フォーカス点に関する信号が出力され、この信号は差動
増幅器OP2を介して、フォーカシング制御回路15に
供給される。このフォーカシング制御回路15の出力信
号は、フォーカス誤差信号検知回路33へ供給される一
方、フォーカシング駆動コイル5に供給され、レーザ光
が光ディスク1上で常時ジャストフォーカス(合焦点)
となるように制御される。
上記のようにフォーカシング、トラッキングを行った状
態でのトラッキング位置センサ8の出力の和信号は、ト
ラック上に形成されたピット(記録情報)の凹凸が反映
されている。この信号は、映像回路19に供給され、こ
の映像回路19において2値化されて変復調回路29へ
送られる。そして、この変復調回路29で復調された画
像情報、アドレス情報としてのブロックヘッダ情報(ト
ラツク番号、ブロック番号、セクタ番号等)はエラー検
知訂正回路30へ送られるとともに、アドレス検知回路
32へ送られる。エラー検知訂正回路30では、送られ
てきた画像情報にエラーがあるか否かを検査し、もしエ
ラーがあったら訂正して順次データバッファ28に格納
していく。また、アドレス検知回路32は、ブロックヘ
ッダ情報を検知してパスライン20を介してCPU23
へ送出する。CPU23は、このアドレス検知回路32
からのブロックヘッダ情報を受取ってその正当性を検査
する。
態でのトラッキング位置センサ8の出力の和信号は、ト
ラック上に形成されたピット(記録情報)の凹凸が反映
されている。この信号は、映像回路19に供給され、こ
の映像回路19において2値化されて変復調回路29へ
送られる。そして、この変復調回路29で復調された画
像情報、アドレス情報としてのブロックヘッダ情報(ト
ラツク番号、ブロック番号、セクタ番号等)はエラー検
知訂正回路30へ送られるとともに、アドレス検知回路
32へ送られる。エラー検知訂正回路30では、送られ
てきた画像情報にエラーがあるか否かを検査し、もしエ
ラーがあったら訂正して順次データバッファ28に格納
していく。また、アドレス検知回路32は、ブロックヘ
ッダ情報を検知してパスライン20を介してCPU23
へ送出する。CPU23は、このアドレス検知回路32
からのブロックヘッダ情報を受取ってその正当性を検査
する。
また、インタフェース回路31は、例えばコンピュータ
等のホストと情報の送受を行なうものである。
等のホストと情報の送受を行なうものである。
また、上記トラッキング制御回路16は、上記CPU2
3からD/A変換器22を介して供給されるトラックジ
ャンプ信号に応じて対物レンズ6を移動させ、1トラッ
ク分ビーム光を移動させるようになっている。
3からD/A変換器22を介して供給されるトラックジ
ャンプ信号に応じて対物レンズ6を移動させ、1トラッ
ク分ビーム光を移動させるようになっている。
上記レーザ制御回路14、フォーカシング制御、回路1
5、トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回路
17、モータ制御回路18、映像回路19等は、パスラ
イン20を介してCPU23によって制御されるように
なっており、このCP02Bはメモリ24に記憶された
プログラムによって所定の動作を行うようになっている
。また、上記メモリ24は処理データを一時的に記憶す
るバッファとしても用いられるようになっている。
5、トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回路
17、モータ制御回路18、映像回路19等は、パスラ
イン20を介してCPU23によって制御されるように
なっており、このCP02Bはメモリ24に記憶された
プログラムによって所定の動作を行うようになっている
。また、上記メモリ24は処理データを一時的に記憶す
るバッファとしても用いられるようになっている。
また、このディスク装置には、フォーカシング制御回路
15、トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回
路17とCPO23との間で情報の授受を行うために用
いられるA/D変換器21、D/A変換器22が設けら
れている。
15、トラッキング制御回路16、リニアモータ制御回
路17とCPO23との間で情報の授受を行うために用
いられるA/D変換器21、D/A変換器22が設けら
れている。
上記トラッキング制御回路16は、差動増幅器OPIか
ら供給されるトラッキング誤差信号を、CPU23から
供給されるゲイン切換信号に応じて、記録時と再生時と
で異なったゲインで増幅し、位相補償を行なった後さら
に増幅して駆動回路(図示しない)に供給する。これに
より、駆動回路は供給される信号に応じて駆動コイル4
を駆動することにより、トラッキングを行うようになっ
ている。
ら供給されるトラッキング誤差信号を、CPU23から
供給されるゲイン切換信号に応じて、記録時と再生時と
で異なったゲインで増幅し、位相補償を行なった後さら
に増幅して駆動回路(図示しない)に供給する。これに
より、駆動回路は供給される信号に応じて駆動コイル4
を駆動することにより、トラッキングを行うようになっ
ている。
上記レーザ制御回路14は、CPU23あるいは変復調
回路29から供給される信号に応じて半導体レーザ9を
駆動するもので、弱光度の発光により情報の再生を行い
、記録パルスに応じた強光度の発光により情報の記録を
行うものである。
回路29から供給される信号に応じて半導体レーザ9を
駆動するもので、弱光度の発光により情報の再生を行い
、記録パルスに応じた強光度の発光により情報の記録を
行うものである。
上記フォーカス誤差検知回路33は、第4図に示スよう
に、コンパレータとしての演算増幅器OP3、Dタイプ
のフリップフロップFFおよび抵抗R1〜R3によって
構成されている。そして、コンパレータOP3の反転入
力には上記フォーカシング制御回路15からのフォーカ
ス誤差信号(焦点誤差信号)FSUBが、非反転入力に
は抵抗R1とR2とにより分割生成された比較電圧が人
力されるようになっている。この比較電圧としては、上
記抵抗R1とR2とにより、フォーカス誤差信号の上方
側のレベルを検知する第1の比較電圧thl、下方側の
レベルを検知する第2の比較電圧th2が生成される。
に、コンパレータとしての演算増幅器OP3、Dタイプ
のフリップフロップFFおよび抵抗R1〜R3によって
構成されている。そして、コンパレータOP3の反転入
力には上記フォーカシング制御回路15からのフォーカ
ス誤差信号(焦点誤差信号)FSUBが、非反転入力に
は抵抗R1とR2とにより分割生成された比較電圧が人
力されるようになっている。この比較電圧としては、上
記抵抗R1とR2とにより、フォーカス誤差信号の上方
側のレベルを検知する第1の比較電圧thl、下方側の
レベルを検知する第2の比較電圧th2が生成される。
また、上記比較電圧thl、th2は、例えば、フォー
カス誤差信号FSUBが、光ディスク1上の1μmの凹
凸に対し±1vの電圧を出力する特性を有するものであ
れば±0.5vの電圧を出力するように調整されている
。フリップフロップFFは、CPU23からのCLEA
R信号によりリセットされ、コンパレータOP3が出力
するパルスの変化のエツジでセットされるようになって
いる。そしてセラI・された信号が欠陥信号FERRと
してCPO23へ送出されるようになっている。
カス誤差信号FSUBが、光ディスク1上の1μmの凹
凸に対し±1vの電圧を出力する特性を有するものであ
れば±0.5vの電圧を出力するように調整されている
。フリップフロップFFは、CPU23からのCLEA
R信号によりリセットされ、コンパレータOP3が出力
するパルスの変化のエツジでセットされるようになって
いる。そしてセラI・された信号が欠陥信号FERRと
してCPO23へ送出されるようになっている。
次に、このような構成においてフォーマットチエツク動
作を説明する。たとえば今、光学ヘッド3を最内周から
最外周側に向かって移動を開始するとともに、CPU2
3からレーザ制御回路14を駆動することにより、半導
体レーザ9から弱強度のレーザ光束が発生される。
作を説明する。たとえば今、光学ヘッド3を最内周から
最外周側に向かって移動を開始するとともに、CPU2
3からレーザ制御回路14を駆動することにより、半導
体レーザ9から弱強度のレーザ光束が発生される。
これにより、レーザ光はコリメータレンズ11aによっ
て平行光束に変換され、ハーフプリズム11bで反射さ
れて対物レンズ6に入射され、この対物レンズ6によっ
て先ディスク1の記録膜に向けて集束される。
て平行光束に変換され、ハーフプリズム11bで反射さ
れて対物レンズ6に入射され、この対物レンズ6によっ
て先ディスク1の記録膜に向けて集束される。
そして、先ディスク1からの反射光は、対物レンズ6、
ハーフプリズム11bを介して、11−フプリズム11
cに導かれる。このノ)−フプリズム11cに導かれ
た光は、ハーフプリズムllcを通過して集光レンズ1
0を介して光検出器8上に照射されるとともに、ハーフ
プリズムllcで反射して集光レンズlidを介して光
検出器7上に照射される。
ハーフプリズム11bを介して、11−フプリズム11
cに導かれる。このノ)−フプリズム11cに導かれ
た光は、ハーフプリズムllcを通過して集光レンズ1
0を介して光検出器8上に照射されるとともに、ハーフ
プリズムllcで反射して集光レンズlidを介して光
検出器7上に照射される。
これにより、上記光検出器8から、その照射光量に対応
した2つの検出信号が出力され、それらの差がOPIで
とられ、その差(トラックキング誤差信号)に応じてト
ラッキング制御回路15がトラッキング(トラックずれ
)補正を行う。
した2つの検出信号が出力され、それらの差がOPIで
とられ、その差(トラックキング誤差信号)に応じてト
ラッキング制御回路15がトラッキング(トラックずれ
)補正を行う。
また、光検出器7から、その照射光量に対応した2つの
検出信号が出力され、それらの差がOF2でとられ、そ
の差(フォーカス誤差信号)に応じてフォーカス制御回
路15がフォーカシング(焦点ぼけ)補正を行う。
検出信号が出力され、それらの差がOF2でとられ、そ
の差(フォーカス誤差信号)に応じてフォーカス制御回
路15がフォーカシング(焦点ぼけ)補正を行う。
このようにして、光学ヘッド3が合焦点、合トラック状
態にされた後、光ディスク1に記録されているアドレス
情報の読取が開始される。
態にされた後、光ディスク1に記録されているアドレス
情報の読取が開始される。
すなイ〕ち、トラッキング位置センサ8から出力される
、光ディスク1のトラック上に記録されたブロックヘッ
ダ部分の凹凸が反映された信号が映像回路19に供給さ
れ、この映像回路19により2値化されて変復調回路2
9へ送られる。そして、変復調回路29で復調された後
アドレス検知回路32へ送られ、アドレス検知回路32
においてブロックヘッダに記録されている情報に誤りが
ないか否かが調べられる。もし、このアドレス検知回路
32でブロックヘッダの誤りが検知されたら、その旨の
情報がCPU23へ送られ、メモリ24に順次記憶され
るようになっている。
、光ディスク1のトラック上に記録されたブロックヘッ
ダ部分の凹凸が反映された信号が映像回路19に供給さ
れ、この映像回路19により2値化されて変復調回路2
9へ送られる。そして、変復調回路29で復調された後
アドレス検知回路32へ送られ、アドレス検知回路32
においてブロックヘッダに記録されている情報に誤りが
ないか否かが調べられる。もし、このアドレス検知回路
32でブロックヘッダの誤りが検知されたら、その旨の
情報がCPU23へ送られ、メモリ24に順次記憶され
るようになっている。
一方、OF2からのフォーカス誤差信号はフォーカシン
グ制御回路15を介してフォーカス誤差検知回路33、
つまりコンパレータOP3の反転入力端子に供給される
。また、コンパレータOP3の非反転入力端子には、上
述した比較電圧が供給されており、常時上記側入力が比
較されている状態にある。ここで、光ディスク1のトラ
ックのデータ記録領域に欠陥、つまり微細な突起や凹み
、あるいは異物の付着等がなければ、その領域を再生し
ている際のフォーカス誤差信号は平坦な信号を出力する
ものであるが、上記のような欠陥があると瞬間的にフォ
ーカスがぼけるために、例えば第5図(a)に示すよう
な、上方(プラス方向)へ変化する信号が出力される。
グ制御回路15を介してフォーカス誤差検知回路33、
つまりコンパレータOP3の反転入力端子に供給される
。また、コンパレータOP3の非反転入力端子には、上
述した比較電圧が供給されており、常時上記側入力が比
較されている状態にある。ここで、光ディスク1のトラ
ックのデータ記録領域に欠陥、つまり微細な突起や凹み
、あるいは異物の付着等がなければ、その領域を再生し
ている際のフォーカス誤差信号は平坦な信号を出力する
ものであるが、上記のような欠陥があると瞬間的にフォ
ーカスがぼけるために、例えば第5図(a)に示すよう
な、上方(プラス方向)へ変化する信号が出力される。
この光ディスク1の欠陥に基づくフォーカス誤差信号F
SUBがコンパレータOP3に入力されると、その出力
には、同図(b)に示すような比較電圧thlよりプラ
ス方向へ突出した部分の幅を持ったパルス信号が出力さ
れる。このことは、フォーカス誤差信号FSUBとして
、下方(マイナス方向)へ変化する信号が得られた場合
も同様で、この場合は、比較電圧th2よりマイナス方
向へ突出した部分の幅を持った、上記パルス信号とは逆
位相のパルス信号が出力される。これらの信号が変化す
るエツジにより、フリップフロップFFがセットされ(
同図(c)参照) 欠陥信号FERRが出力される。そ
して、この欠陥信号FERRを受取ったCPU23は、
その時のブロックヘッダ情報と関連付けてその旨を表わ
す情報をメモリ24に記憶した後、CLEAR信号を出
力してフリップフロップFFをリセットしく同図(d)
参照)、次のブロックのチエツクに移行する。
SUBがコンパレータOP3に入力されると、その出力
には、同図(b)に示すような比較電圧thlよりプラ
ス方向へ突出した部分の幅を持ったパルス信号が出力さ
れる。このことは、フォーカス誤差信号FSUBとして
、下方(マイナス方向)へ変化する信号が得られた場合
も同様で、この場合は、比較電圧th2よりマイナス方
向へ突出した部分の幅を持った、上記パルス信号とは逆
位相のパルス信号が出力される。これらの信号が変化す
るエツジにより、フリップフロップFFがセットされ(
同図(c)参照) 欠陥信号FERRが出力される。そ
して、この欠陥信号FERRを受取ったCPU23は、
その時のブロックヘッダ情報と関連付けてその旨を表わ
す情報をメモリ24に記憶した後、CLEAR信号を出
力してフリップフロップFFをリセットしく同図(d)
参照)、次のブロックのチエツクに移行する。
以上のように、ブロックヘッダを再生してその正当性を
チエツクすると並行して、そのブロックのデータ記録領
域の欠陥の有無をチエツクし、これらに異常があったら
その欠陥に関する情報をメモリ24に順次記憶していく
。そして、最内周から最外周までの全領域についてチエ
ツクが完了したら、上記メモリ24に記憶した欠陥情報
を、光ディスク1の外周部あるいは内周部のユーザ領域
以外の領域に設けられる保守用のトラックに書込み、フ
ォーマットチエツクの処理を終了する。
チエツクすると並行して、そのブロックのデータ記録領
域の欠陥の有無をチエツクし、これらに異常があったら
その欠陥に関する情報をメモリ24に順次記憶していく
。そして、最内周から最外周までの全領域についてチエ
ツクが完了したら、上記メモリ24に記憶した欠陥情報
を、光ディスク1の外周部あるいは内周部のユーザ領域
以外の領域に設けられる保守用のトラックに書込み、フ
ォーマットチエツクの処理を終了する。
上記のようにして光ディスク1の保守用トラックに書込
まれた欠陥情報は、その光ディスク1が次に記録あるい
は再生される際に読出され、当該ブロックにアクセスが
あったときに、そのブロックに替えて、別途用意された
予備トラックにアクセスするように処理する、いわゆる
交替トラック処理が行われることになる。これにより、
欠陥をaするブロックを避けて情報の記録あるいは再生
がIIJ能となり、ユーザは、あたかも欠陥がない光デ
ィスク1のように取扱うことができる。
まれた欠陥情報は、その光ディスク1が次に記録あるい
は再生される際に読出され、当該ブロックにアクセスが
あったときに、そのブロックに替えて、別途用意された
予備トラックにアクセスするように処理する、いわゆる
交替トラック処理が行われることになる。これにより、
欠陥をaするブロックを避けて情報の記録あるいは再生
がIIJ能となり、ユーザは、あたかも欠陥がない光デ
ィスク1のように取扱うことができる。
上記したように、フォーマットチエツクにおいて、アド
レス情報の正当圧のチエツクの他に、データ記録領域を
再生している際のフォーカス誤差信号が所定のレベノ1
以外になった場合に、そのブロックに欠陥がある旨を検
知し、この検知結果である欠陥情報を、その光ディスク
の保守用トラックに書込むようにしたので、簡単な構成
であるにも拘らず、光ディスクの欠陥を検知することが
でき、さらに交替トラック処理を行なうことにより、あ
たかも欠陥がない光ディスクのように取扱うことができ
る。
レス情報の正当圧のチエツクの他に、データ記録領域を
再生している際のフォーカス誤差信号が所定のレベノ1
以外になった場合に、そのブロックに欠陥がある旨を検
知し、この検知結果である欠陥情報を、その光ディスク
の保守用トラックに書込むようにしたので、簡単な構成
であるにも拘らず、光ディスクの欠陥を検知することが
でき、さらに交替トラック処理を行なうことにより、あ
たかも欠陥がない光ディスクのように取扱うことができ
る。
[発明の効果]
以上詳述したようにこの発明によれば、フォーマットチ
エツク時に光ディスクのデータ記録領域に欠陥があるこ
とを確実に検出し、正常に記録あるいは再生ができる光
ディスク装置を提供できる。
エツク時に光ディスクのデータ記録領域に欠陥があるこ
とを確実に検出し、正常に記録あるいは再生ができる光
ディスク装置を提供できる。
図面はこの発明の一実施例を示すもので、第1図はディ
スク装置の構成図、第2図は光ディスクの構成を示す図
、第3図はブロックの構成を示す図、第4図は電気回路
の要部の構成を説明するためのブロック図、第5図は欠
陥検出時の各部のタイミング信号を示す図である。 1・・・光ディスク(記録媒体)、2・・・回転モータ
、3・・・光学ヘッド、4・・・駆動コイル、6・・・
対物レンズ(集光手段)、7・・・フォーカス位置セン
サ、8・・・トラッキング位置センサ、9・・・半導体
レーザ、OF2・・・差動増幅器(第1の処理手段)、
14・・・レーザ制御回路、15・・・フォーカシング
制御回路(制御手段)、19・・・映像回路、23・・
・CPU。 24・・・メモリ、 9・・・変復調回路、 2・・・アドレ ス検知回路、 3・・・フォーカス誤差信号検知回路 (第2の処理手段)
スク装置の構成図、第2図は光ディスクの構成を示す図
、第3図はブロックの構成を示す図、第4図は電気回路
の要部の構成を説明するためのブロック図、第5図は欠
陥検出時の各部のタイミング信号を示す図である。 1・・・光ディスク(記録媒体)、2・・・回転モータ
、3・・・光学ヘッド、4・・・駆動コイル、6・・・
対物レンズ(集光手段)、7・・・フォーカス位置セン
サ、8・・・トラッキング位置センサ、9・・・半導体
レーザ、OF2・・・差動増幅器(第1の処理手段)、
14・・・レーザ制御回路、15・・・フォーカシング
制御回路(制御手段)、19・・・映像回路、23・・
・CPU。 24・・・メモリ、 9・・・変復調回路、 2・・・アドレ ス検知回路、 3・・・フォーカス誤差信号検知回路 (第2の処理手段)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録媒体上に光ビームを照射する集光手段と、この集
光手段により照射される光ビームの前記記録媒体上での
焦点状態を示す焦点誤差信号を発生する第1の処理手段
と、 この第1の処理手段から発生される焦点誤差信号に応じ
て前記集光手段をその光軸方向に移動し、前記集光手段
によって照射される光ビームを前記記録媒体上で合焦点
状態に維持する制御手段と、この制御手段による制御状
態において、前記第1の処理手段から発生される焦点誤
差信号により前記記録媒体の欠陥検出の処理を行なう第
2の処理手段と を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63163919A JP3017738B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63163919A JP3017738B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0214426A true JPH0214426A (ja) | 1990-01-18 |
JP3017738B2 JP3017738B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=15783316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63163919A Expired - Fee Related JP3017738B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3017738B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5968828A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
JPS6275974A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-07 | Hitachi Ltd | 光デイスク |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP63163919A patent/JP3017738B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5968828A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
JPS6275974A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-07 | Hitachi Ltd | 光デイスク |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3017738B2 (ja) | 2000-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5289451A (en) | Optical information recording/reproduction apparatus including means for detecting the type of recording medium | |
JP2635610B2 (ja) | ディスク装置 | |
JPH0243256B2 (ja) | ||
JP3177116B2 (ja) | 光学的情報記録媒体および光学的記録再生装置 | |
KR950002395B1 (ko) | 광정보 처리장치용 트랙억세스장치 및 그 억세스방법 | |
JP4342930B2 (ja) | 光ディスク装置及びその制御方法及び記録媒体 | |
JP3017738B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
JP3212415B2 (ja) | 光記録装置の制御方法 | |
JPH0512675A (ja) | デイスク装置の信号処理回路 | |
JP2000105934A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
JP2788297B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2703269B2 (ja) | 情報記録再生装置 | |
JP2985233B2 (ja) | ディスク状記録媒体及び該ディスク状記録媒体の記録/再生装置 | |
JP2753073B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2801667B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
JP5421776B2 (ja) | 光ディスクシステムにおけるやや最適なジャンプによる改善されたフォーカス最適化ルーチンに関する方法、光ディスクシステム、及びコンピュータ読み出し可能な媒体 | |
JP2713999B2 (ja) | ディスク装置 | |
JP2695834B2 (ja) | 情報再生装置 | |
JP2000113467A (ja) | 光ディスク媒体および光ディスク装置 | |
JP3578998B2 (ja) | 光記録装置の制御方法 | |
JP4396707B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2008234831A (ja) | 書き替え型記録媒体 | |
JP2000251264A (ja) | ディスク装置 | |
JPH02183422A (ja) | 情報記録媒体のトラッキング制御装置 | |
JPH02183466A (ja) | 情報処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |