JP2949372B2 - 材料ストリップ上のパターンの検査装置及び検査方法並びに材料ストリップ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、制御手段と請求項１及び９の序文に記載さ
れた装置とから成り、光電等の手段によって材料ストリ
ップ上に形成されたパターンを検査するための方法及び
装置、並びに材料ストリップに関するものである。

従来、材料ストリップ上に印刷され、光電セル等の光
学装置によって検出可能な複数の制御マーク（パター
ン）を利用して、搬送中の材料ストリップに対する処理
作業を制御することは知られている。この場合、材料ス
トリップ上に形成される前記パターンは、通常、地の色
とコントラストを成すカラートーンで印刷される。した
がって、検出手段によって前記パターンの正確な位置を
検出することができるので、材料ストリップの現在の位
置が特定される。前記パターンは、磁気的に検出可能な
材料によって形成したり、穴、折り目、スロット等の機
械的な手段によって検出可能なパターンを補助的に利用
することによって形成したりすることもできる。

そして、材料ストリップの正確な位置を検出すること
によって、材料ストリップに複数の色の印刷を施すこと
ができ、かつ、画像の位置を調整することができる。該
画像は複数の色から成り、該各色はそれぞれの処理装置
によって材料ストリップ上に印刷される。前記各処理装
置は、前工程の処理装置によって他の色が印刷された画
像上に所定の色を印刷する。その結果、異なる色が正確
な位置で互いに重ねられた複数の色の画像を、材料スト
リップ上に形成することができる。

また、本検査装置及び検査方法は、あらかじめ前印刷
が施された材料ストリップ上の特定の位置に特定の印刷
パターンを形成する場合、又は、印刷されたパターンと
折曲げを容易にする折り目パターンとを互いに重ね合わ
せる場合にも、材料ストリップの正確な位置を検出する
ために利用される。

さらに、前記検査装置又は検査方法は、例えば、包装
機等において包材ストリップを正確にパターンの長さだ
け前進させ、すべての包装容器において同じ位置に印刷
パターンが形成されるようにするため、及び、前記折り
目パターンを包装機の形成装置と確実に同期させ、あら
かじめ設定された折り目位置に沿って包材の折曲げが行
われるようにするためにも利用される。このように、材
料ストリップを製造するためには、穴抜き、開口、折り
目の追加等と同様に材料ストリップの正確な位置を知る
ことが必要である。

ところで、センサによって検出可能なパターンを前記
材料ストリップに形成して、材料ストリップの正確な位
置を特定することは、周知である。EP−Ａ−0131241に
おいては、検出方向に連続する暗領域及び明領域を有す
る二つのグループを備えたバーコードのようなパターン
が使用される。この場合、対応する検出器に対する一方
のグループの暗領域及び／又は明領域の位置は、対応す
る他の検出器に対する他方のグループの暗領域及び／又
は明領域の位置に異なるように設定される。そして、前
記各検出器は、暗領域及び／又は明領域が存在するかど
うかを検出し、検出結果に基づいて出力信号を発生させ
る。すなわち、第１の検出器は、暗領域及び／又は明領
域の検出に伴って第２の検出器を作動させ、続いて、該
第２の検出器は、暗領域及び／又は明領域が存在するか
どうかを検出する。そして、比較器は、第２の検出器の
出力信号とあらかじめ設定された信号シーケンスとを比
較し、前記出力信号のシーケンスとあらかじめ設定され
た信号シーケンスとが等しい場合、起動信号を出力し、
該起動信号によって、材料ストリップの正確な位置を必
要とする前記各処理装置を起動する。

しかしながら、前記パターンは、通常、材料ストリッ
プの模様の全体的な外観を損なってしまう。したがっ
て、制御パターンを、既に施されている模様の範囲内、
又は、基本的に制御パターンのみから成る微小な余白面
上に収めることが望ましい。ところが、このような方法
においては、パターン検出要素が、制御パターンだけで
なく模様の部分もすべて検出して登録してしまい、その
結果、模様及び制御パターンの暗領域及び／又は明領域
に基づいて、第２の検出器から多数の出力信号が送られ
てしまうという問題があった。該出力信号は実時間処理
内で比較される必要があるので、模様の暗領域及び／又
は明領域に基づくシーケンスとあらかじめ設定された信
号シーケンスとの一致性を誤って認識することによっ
て、御信号が検出される可能性が高くなる。その結果、
材料ストリップの位置が誤って検出され、次工程の処理
装置が誤情報を受け取り、模様又は材料ストリップを破
損してしまう。

また、制御パターンは、模様が光学的に損なわれるの
を回避するとともに誤信号が検出されるのを防止するた
めに、できるだけ小さくする必要がある。

さらに、包装産業においては、模様を制御パターンか
ら独立させ、材料ストリップの模様を、例えば、その模
様単独で検出することが要求されている。

本発明の目的は、例えば、材料ストリップの正確な位
置を検出するために、材料ストリップ上に形成されたパ
ターンを正確にかつ確実に検査するための装置及び方法
を提供することである。

本発明の他の目的は、制御装置の寸法を大きくするこ
となく、検査装置の信頼性を向上させることである。

本発明の更に他の目的は、材料ストリップの模様を損
なう恐れがある付加的な制御パターンを使用することな
く、材料ストリップの正確な位置を検出するための装置
及び方法を提供することである。

本発明の更に他の目的は、制御パターンの位置から独
立させて配設され、各検出器の出力を相乗効果的に使用
することによって前記装置及び方法の信頼性を向上させ
ることである。

本発明の特徴は、請求項１、９、15及び23に記載され
る。

本発明においては、少なくとも二つの検出器からの出
力信号を使用し、該出力信号をあらかじめ設定された方
法で組み合わせて出力信号のシーケンスを形成する。こ
の場合、一方の検出器が暗領域又は明領域の縁部を検出
すると、他方の検出器によって出力信号が比較器に書き
込まれるようになっている。そして、該比較器によって
前記出力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号
シーケンスとが比較される。この場合、前記出力信号は
暗領域及び／又は明領域に関する情報から成る。

そのために、二つの検出器からの出力信号は、比較器
において組み合わされて使用され、一方の検出器によっ
て暗領域が検出されると、信号（例えば、「１」）が比
較器に書き込まれ、明領域が検出されると、他の信号
（例えば、「０」）が比較器に書き込まれる。そして、
組合せによって得られた出力信号のシーケンスとあらか
じめ設定された信号シーケンスとが一致すると、一つ以
上のアクチュエータが起動される。

また、前記動作を行うために、一方の検出器の出力信
号は比較器に対するクロック入力として使用され、該ク
ロック入力によって、前記比較器のデータ入力がイネー
ブルにされ、他方の検出器の出力信号が比較器に書き込
まれる（又はその逆が行われる）。この場合、クロック
入力は、暗領域及び／又は明領域のいずれかの縁部が検
出されるとアクティブになる。そして、システムの信頼
性を向上させるために、前記クロック入力を出力信号の
シーケンスのための出力信号として使用することもでき
る。この場合、前記出力信号のシーケンスは、明領域か
ら暗領域へ、及び暗領域から明領域への移行に基づいて
発生させられ、あらかじめ設定された信号シーケンスと
比較される。したがって、比較器は一つ以上の検出器か
ら多数の出力信号を受けるので、材料ストリップの模様
内の暗領域及び明領域による、制御パターンのシーケン
スと等しいシーケンスを検出することによって、目的の
制御パターンを検出したと誤認して誤信号を検出するこ
とを一層防止することができる。その後、比較器は、出
力信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケ
ンスとが等しい場合に、出力信号を出力する。そして、
該出力信号によって、異なる処理装置の一つ以上のアク
チュエータが起動される。前記クロック入力は、搬送中
の材料ストリップに対応する検出器によって供給するこ
ともできる。例えば、同じ大きさの白と黒の領域の連
続、材料ストリップの搬送に使用されるローラの回転等
の手段を利用することができる。

前記比較器は、前記制御パターンの検出に伴って各検
出器から送られる情報を実際の長さ分格納するシフトレ
ジスタから成り、出力信号とあらかじめ設定された信号
シーケンスとが等しい場合、比較器の出力信号がイネー
ブルにされる。

本発明の検査方法においては、材料ストリップ上で必
要とされるパターンの領域を拡大することなく、正パタ
ーンと誤パターンとをより正確に区別するために、多量
の信号、好ましくは、バイナリ信号を処理することがで
きるようになっている。

そして、本発明のパターン検査方法においては、前記
検査装置又は同様の機能を果たす他の検査装置が使用さ
れる。この場合、材料ストリップ上に形成され、前記検
査装置によって検出されるパターンは、それぞれ、機械
的、電気的、磁気的及び／又は光学的なセンサ及び検出
器によって検出可能な、機械的、電気的、磁気的及び／
又は光学的な特性を備える。

材料ストリップの暗領域及び／又は明領域は、画像、
デザイン又は配列構造の一部を構成するものであっても
よく、材料ストリップ上に特に配設された明確に独立し
た制御パターンである必要はない。しかしながら、明暗
の領域を検出する場合、最も信頼性が高くなるので、明
暗の領域から成るバーコードを使用することが好まし
い。パターンの一方のグループの暗領域及び明領域は、
それぞれ対応する各検出器について、他方のグループの
暗領域及び明領域に対して異なる位置に置くことができ
る。二つの検出器を互いに異なる位置に置くと、パター
ンの両グループを材料ストリップにおける同じ高さ上に
配設することができる。また、二つの検出器をパターン
に対して、かつ、互いに異なる位置に置くと、パターン
の両グループを完成した包装容器における頂部と底部と
に配設することができる。

なお、必要に応じて、第１の検出器から送られるパル
スと第２の検出器から送られる（他方の領域グループ
の）パルスとを比較器によって区別することもできる。
そのために、第１の検出器からのパルスをより高く（及
び／又は長く）したり、第１の検出器からのパルスの後
に短い二次的なパルス及び／又は正負（反転）のパルス
をそれぞれ発生させたりすることができる。

以下、本発明における特に効果の高い実施の形態につ
いて、添付の図面を参照しながら説明する。

第１図は制御パターン及び検査装置の構造を示す概念
図である。

第２図は制御パターンの好ましい寸法を示す図であ
る。

第３図は検出器の出力信号及び比較器において形成さ
れた信号シーケンスを示す図である。

第４図は第２図に関する他の実施の形態を示す図であ
る。

第５図は第２図に関する更に他の実施の形態を示す図
である。

第６図は互いに置換される制御パターンの二つのグル
ープを示す図である。

第７図は制御パターンとして使用される材料ストリッ
プ上の異なる模様を示す図である。

第８図は処理装置及び制御パターンの一方のグループ
を示す概念図である。

第１図の上部において、パターン１は、右側（第１の
グループ）に複数の明領域２^＊で区切られた複数の暗領
域２を、左側（第２のグループ）に複数の明領域３^＊で
区切られた複数の暗領域３を備える。暗領域２、３は複
数の接続領域４によって互いに接続され、材料ストリッ
プ上において、暗領域２、３は水平方向に、接続領域４
は垂直方向に配設され、互いに90〔゜〕の角度で交差す
る。そして、右側の暗領域２は幅ｘを、右側の明領域２
^＊は幅ｙを有し、左側の暗領域３は幅ａを、左側の明領
域３^＊は幅ｂをそれぞれ有する。また、右側の暗領域２
の縁部32と左側の暗領域３の縁部31とは距離ｄだけずら
される。このように、矢印ｖ方向に搬送される材料スト
リップの正確な位置を検出するための制御パターンとし
て使用されるバーコードが形成される。

前記制御パターンは、二つの検出器８、９によって検
出され、該検出器８、９は、それぞれ、暗領域３、２、
明領域３^＊、２^＊又は縁部31、32を検出すると、バイナ
リの出力信号を発生させる。そして、該出力信号は比較
器10に送られ、該比較器10は、出力信号のシーケンスと
あらかじめ設定された信号シーケンスとを比較する。そ
のために、各データ入力13、16は、それぞれ、クロック
入力12、15にクロックが入力されている間、イネーブル
にされる。これにより、検出器８、９がそれぞれイネー
ブルにされ、出力信号が比較器10に書き込まれ、出力信
号のシーケンスが形成される。

この場合、検出器８は、暗領域３を検出すると、クロ
ック入力15にクロックが入力されている間、データ入力
16をイネーブルにする。この間、検出器９は明領域２^＊
を検出し、該明領域２^＊に対応する情報をデータ入力16
を介して比較器10に送る。また、検出器９は、暗領域２
の縁部32を検出すると、クロック入力12にクロックが入
力されている間、データ入力13をイネーブルにして、暗
領域３を検出する検出器８から情報を受ける。この動作
は、すべての暗領域２、３及び／又は明領域２^＊、３^＊
が検出され、対応する情報が比較器10に入力されるま
で、交互に行われる。そして、検出器８、９からの出力
信号のシーケンスとあらかじめ設定された信号シーケン
スとが等しい場合、出力17がアクティブになり、一つ又
は複数のアクチュエータ20に出力信号が送られる。前記
アクチュエータ20は、材料ストリップ、該材料ストリッ
プから形成される筒状体又は包装容器を加工する。

このように、比較器10において、前記検出器８の出力
信号及び検出器９の出力信号のいずれか一方、又は両方
によって、出力信号のシーケンスが形成されることが分
かる。

第２図に示すように、望ましいパターンは、各暗領域
２、３（例えば、黒領域）及び各明領域２^＊、３^＊（例
えば、白領域）を有する二つのグループから成り、ウェ
ブ（材料ストリップ）の移動方向ｖ（ｖ軸と平行）に対
して直角に引かれた中央線Ｍに対して左右対称に形成さ
れる。前記中央線Ｍは、第１のグループＩの中央の暗領
域３及び第２のグループIIの中央の明領域２^＊を横切る
が、ウェブ上には現れない。第２図において、前記中央
の暗領域３及び隣接する明領域３^＊は、それぞれ、前記
中央の明領域２^＊、隣接する各暗領域２、その次の明領
域２^＊、及び中央線Ｍの両側の各暗領域２の２倍の幅を
有する。すなわち、第１のグループＩの各暗領域３及び
明領域３^＊の各幅ａ、ｂは、第２のグループIIの各暗領
域２及び明領域２^＊の各幅ｘ、ｙの２倍である。

第３図は、出力信号のシーケンスの形成を示す。この
場合、暗領域及び明領域を検出すると、各検出器８、９
はバイナリの信号を発生させる。検出器８は、明領域か
ら暗領域への移行を検出すると、比較器10に信号「１」
を書き込み、検出器９も同様に、明領域から暗領域への
移行を検出すると、比較器10に信号「１」を書き込む。
また、検出器８は、暗領域から明領域への移行を検出す
ると、比較器10に信号「０」を書き込む。検出器９も同
様である。これにより、各検出器８、９の出力信号は、
あらかじめ設定された方法、すなわち、バーコードの形
状及びデザインに基づいてあらかじめ設定された「１」
及び「０」の配列で組み合わされる。例えば、第３図に
示す「11001101001100」のような配列である。この場
合、前記二つの検出器８、９によって比較器10に出力信
号が書き込まれるので、非常に小さいバーコード内に14
ビットから成る１シーケンスが形成される。したがっ
て、検出器及びパターンの数を多くして、あらかじめ設
定された出力信号のシーケンス内のビット数を増加させ
ることができるので、検査装置の信頼性を向上させるこ
とができる。

第４図は、他の出力信号のシーケンスの形成を示す。
この場合、各検出器８、９は各暗領域及び明領域を検出
するとバイナリの信号を発生させる。検出器８がクロッ
ク入力Ｃとしての「１」を受けると、検出器９の現在の
情報（その時点では「０」）が比較器10に送られる。ま
た、検出器９が同じくクロック入力Ｃとしての入力
「１」を受けると、検出器８の現在の情報（その時点で
は「１」）が比較器10に送られる。制御パターンとして
のバーコード全体の検出が終了すると、比較器10は、14
ビットに相当する入力「0110 0111 1001 10」を受け
たことになり、これは、11バイナリの出力信号よりも多
い。

バイナリの信号から成る前記出力信号のシーケンス
は、あらかじめ設定された信号シーケンスと比較され、
これにより、アクチュエータ20が起動される。通常、最
初の明領域から暗領域への移行は模様に近すぎる場合が
あるので、最初の「０」は使用されない。したがって、
比較器10は13ビットの情報を含むことになる。

前記方法から分かるように、単一の制御パターンから
与えられる情報は、13ビットまで拡大されるので、検出
方法の信頼性を向上させることができる。したがって、
既存のコードをより優れた方法で使用することができ
る。材料ストリップが１分間に約100〔ｍ〕の速度で搬
送される場合、検出器８、９としての光電セルは、約10
〔kHz〕の周波数で暗領域及び明領域の検出を行うこと
ができる。したがって、光電セルの「検出速度」は、前
記速度で進む材料ストリップ上のパターン１を読み取る
ために十分に高いので、各暗領域及び明領域の前記各幅
ａ、ｂ、ｘ、ｙを最小限の長さにすることができ、前記
検出装置及び検出方法を用いる際に、非常に小さいパタ
ーンを使用することができる。その結果、材料ストリッ
プ上に形成された模様の外観を光学的に損なうことがな
い。また、一方のグループにおける連続する暗領域３の
通常の幅ａは、同じグループにおける連続する明領域３
^＊の幅ｂとほぼ等しく、各幅ａ、ｂは、他方のグループ
における連続する各暗領域及び明領域の各幅ｘ、ｙの約
２倍である。そして、連続する暗領域の幅ｘは、連続す
る明領域の幅ｙとほぼ等しく、通常、１〜３〔mm〕であ
ることが望ましい。しかしながら、これより幅が小さい
場合又は大きい場合でも、光電セルとなる光源、材料ス
トリップに配設される磁気パターンの磁気密度等によっ
ては、検出可能である。

第４図において、出力信号のシーケンスを形成するた
めに、暗領域及び明領域の各縁部は、ストリップ30上に
おいて、対応する各検出器８、９に対し、一方の検出器
８、９が一方の縁部（例えば、第１のグループの縁部3
2）を検出した場合、他方の検出器８、９は、縁部では
なく他方のグループの暗領域又は明領域を検出するよう
に配設する必要がある。実験によれば、比較器10におい
て検査するビット数を増加させると、検査方法の信頼性
が向上することが分かった。

第５図に示される検査方法の他の実施の形態において
は、検出器８、９の両方の出力信号が使用される。した
がって、受け取られる出力信号のシーケンスは、「1011
0100 1011 0111 0100 1011 0100」となる。

このように、出力信号の使用方法によって、同じ制御
パターンを使用しても検査方法の信頼性を大幅に向上さ
せることができる。そして、暗領域２、３の検出又は正
（明領域から暗領域へ）の縁部の検出によって発生させ
られた出力信号は「１」で表され、明領域２^＊、３^＊の
検出又は負（暗領域から明領域へ）の縁部の検出によっ
て発生させられた出力信号は「０」で表される。

第６図に示す制御パターンの配列においては、各グル
ープの暗領域と明領域とが、対応する各検出器８、９に
対して、かつ、互いに異なる位置に置かれる。したがっ
て、制御パターンにおける異なるグループを、材料スト
リップ上の異なる位置に置くことができるので、材料ス
トリップ上のバーコードによって模様の光学的印象が損
なわれるのを防止することができる。

さらに、第７図に示すように、模様自体を検査方法に
使用することができる。この場合、特定の模様（白及び
黒の領域から成るものが望ましい）が前記検査方法にお
いて使用され、白及び黒の領域を有する各グループが、
対応する検出器に対して互いに異なる位置に置かれる。
したがって、各暗領域及び明領域は、材料ストリップ上
の画像、デザイン又は配列構造の一部になる。

第８図に示すように、検出器８は、複数の処理用のロ
ーラ31によって搬送される材料ストリップ上の暗領域及
び明領域を検出し、特定の速度で回転する前記ローラ31
の下方に配設される。そして、材料ストリップ30の搬送
速度は、ローラ31の回転速度を検出器９が測定すること
によって検出される。この場合、両検出器８、９の相互
作用によって、前記効果を達成することができる。な
お、検出器９を、処理ライン上の異なる複数の箇所に配
設することができるとともに、材料ストリップの搬送速
度によっては何らかの方法で既存のセンサ又は検出器を
代わりに使用することもできる。

Claims (22)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】材料ストリップ（30）上に形成され、検査
   方向（ｖ）に連続する暗領域及び明領域（２、２^＊、
   ３、３^＊）を有する複数のグループから成るパターン
   （１）の検査装置において、 対応する検出器（９）に対する一方のグループの各暗領
   域（２）及び／又は明領域（２^＊）の位置は、対応する
   他の検出器（８）に対する他方のグループの各暗領域
   （３）及び／又は明領域（３^＊）の位置と異なり、 前記検出器（８、９）は、暗領域及び／又は明領域
   （２、２^＊、３、３^＊）が存在するかどうかを検出し、
   検出結果に基づいてそれぞれ出力信号を発生させ、 該各出力信号は、比較器（10）にそれぞれ送られ、該比
   較器（10）においてあらかじめ設定された方法で組み合
   わせられることによって、前記各出力信号とは別の出力
   信号シーケンスを形成し、 前記比較器（10）は、前記出力信号シーケンスとあらか
   じめ設定された信号シーケンスとを比較し、 前記出力信号は、前記暗領域及び／又は明領域（２、２
   ^＊、３、３^＊）に関する情報から成ることを特徴とする
   パターンの検査装置。
2. 【請求項２】各検出器（８、９）は、前記各暗領域又は
   明領域（２、２^＊、３、３^＊）のいずれか一つの縁部の
   検出に伴って出力信号を比較器（10）に書き込むため
   に、他の検出器（８、９）をイネーブルにする請求項１
   に記載の検査装置。
3. 【請求項３】前記各検出器（８、９）の各クロック入力
   （12、15）は、他の検出器（８、９）の出力信号を比較
   器（10）に書き込むために、各データ入力（13、16）を
   イネーブルにするとともに、前記暗領域又は明領域
   （２、２^＊、３、３^＊）のいずれか一つの縁部の検出に
   伴ってアクティブにされる請求項２に記載の検査装置。
4. 【請求項４】前記各クロック入力（12、15）は、さら
   に、前記領域（２、２^＊、３、３^＊）の明から暗へ又は
   暗から明への移行に基づいて前記出力信号シーケンスを
   形成するために、出力信号としても使用される請求項３
   に記載の検査装置。
5. 【請求項５】前記比較器（10）は、前記出力信号シーケ
   ンスとあらかじめ設定された信号シーケンスとが等しい
   場合に出力信号を出力し、該出力信号は、ストリップの
   処理装置及び／又は包装装置における少なくとも一つの
   アクチュエータ（20）を起動する請求項１〜４のいずれ
   か１項に記載の検査装置。
6. 【請求項６】前記各クロック入力（12、15）は、前記材
   料ストリップ（30）の前記方向（ｖ）への搬送速度に対
   応させて、検出器（９）によって発生させられる請求項
   １〜５のいずれか１項に記載の検査装置。
7. 【請求項７】少なくとも前記二つの検出器（８、９）の
   各出力信号は、前記比較器（10）の一部であるか又は前
   記比較器（10）に接続される、単一のシフトレジスタに
   送られる請求項１〜６のいずれか１項に記載の検査装
   置。
8. 【請求項８】比較器（10）は、一方の検出器（８、９）
   の出力パルスと他方の検出器（８、９）の出力パルスと
   を区別する手段を備える請求項１〜７のいずれか１項に
   記載の検査装置。
9. 【請求項９】材料ストリップ（30）上に形成され、検査
   方向（ｖ）に連続する暗領域及び明領域（２、２^＊、
   ３、３^＊）を有する複数のグループから成るパターン
   （１）の検査方法において、 対応する検出器（９）に対する一方のグループの各暗領
   域（２）及び／又は明領域（２^＊）の位置を、対応する
   他の検出器（８）に対する他方のグループの各暗領域
   （３）及び／又は明領域（３^＊）の位置と異ならせ、 暗領域及び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）が存在
   するかどうかを検出し、 検出結果に基づいて各出力信号を発生させ、 前記暗領域及び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）に
   関する情報から成る一方の検出器（８、９）の出力信号
   と、他方の検出器（８、９）の出力信号とを、前記暗領
   域及び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）の検出に対
   応させて、あらかじめ設定された方法で組み合わせるこ
   とによって、前記各出力信号とは別の出力信号シーケン
   スを形成し、 該出力信号シーケンスとあらかじめ設定された信号シー
   ケンスとを比較することを特徴とするパターンの検査方
   法。
10. 【請求項１０】各検出器（８、９）は、前記暗領域又は
    明領域（２、２^＊、３、３^＊）の縁部の検出に対応させ
    て、他方の検出器（８、９）によって交互に作動させら
    れる請求項９に記載の検査方法。
11. 【請求項１１】前記暗領域又は明領域（２、２^＊、３、
    ３^＊）に関する情報から成る各検出器（８、９）の出力
    信号によって出力信号シーケンスを形成し、 前記各検出器（８、９）は、他方の検出器（８、９）が
    前記暗領域又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）の縁部を
    検出した後、前記他方の検出器（８、９）によって交互
    に作動させられる請求項10に記載の検査方法。
12. 【請求項１２】前記材料ストリップ（30）上に形成さ
    れ、機械的、電気的、磁気的及び／又は光学的な特性を
    有するパターン（１）を、機械的、電気的、磁気的及び
    ／又は光学的なセンサ又は検出器（８、９）によって検
    出する請求項９〜11のいずれか１項に記載の検査方法。
13. 【請求項１３】前記出力信号としてバイナリの信号が使
    用される請求項９〜12のいずれか１項に記載の検査方
    法。
14. 【請求項１４】暗領域（２、３）の検出、及び／又は明
    領域から暗領域への正の縁部の検出によって発生させら
    れた前記出力信号を「１」又は「０」で表し、明領域
    （２^＊、３^＊）の検出、及び／又は暗領域から明領域へ
    の負の縁部の検出によって発生させられた前記出力信号
    を「０」又は「１」で表す請求項13に記載の検査方法。
15. 【請求項１５】請求項１〜８のいずれか１項に記載の検
    査装置及び／又は請求項９〜14のいずれか１項に記載の
    検査方法において使用されるとともに、 前記暗領域及び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）
    は、材料ストリップ（30）上の画像、デザイン及び／又
    は配列構成の一部であることを特徴とする材料ストリッ
    プ（30）。
16. 【請求項１６】請求項１〜８のいずれか１項に記載の検
    査装置及び／又は請求項９〜14のいずれか１項に記載の
    検査方法において使用されるとともに、 前記暗領域及び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）は
    バーコードの一部であることを特徴とする材料ストリッ
    プ（30）。
17. 【請求項１７】二つのグループにおける前記各暗領域及
    び／又は明領域（２、２^＊、３、３^＊）は、前記材料ス
    トリップ（30）上において接続領域（４）によって接続
    される請求項15又は16に記載の材料ストリップ（30）。
18. 【請求項１８】前記一方のグループにおける前記暗領域
    及び／又は明領域（２、２^＊）は、前記材料ストリップ
    （30）上において、前記他方のグループの前記暗領域及
    び／又は明領域（３、３^＊）と異なる位置に置かれる請
    求項15又は16に記載の材料ストリップ（30）。
19. 【請求項１９】第１のグループの複数の暗領域（２）の
    幅（ｘ）は、同じグループの複数の明領域（２^＊）の幅
    （ｙ）とほぼ同じにされる請求項15〜18のいずれか１項
    に記載の材料ストリップ（30）。
20. 【請求項２０】第２のグループの複数の暗領域（３）の
    幅（ａ）は、第２のグループの複数の明領域（３^＊）の
    幅（ｂ）とほぼ同じにされ、幅（ａ、ｂ）は、前記第１
    のグループの複数の暗領域及び明領域（２、２^＊）の幅
    （ｘ、ｙ）のほぼ２倍にされる請求項19に記載の材料ス
    トリップ（30）。
21. 【請求項２１】前記パターン（１）は、暗領域（２、
    ３）及び明領域（２^＊、３^＊）を有する二つのグループ
    から成るとともに、前記各領域が数及び形状によって選
    択されて前記材料ストリップ（30）上に配設されること
    により、前記出力信号シーケンスを構成するために８バ
    イナリ以上の出力信号が発生させられる請求項15〜20の
    いずれか１項に記載の材料ストリップ（30）。
22. 【請求項２２】前記暗領域及び明領域（２、２^＊、３、
    ３^＊）の各縁部は、該各縁部に対応する検出器（８、
    ９）に対し、一方の検出器（８、９）が縁部を検出する
    ときに他方の検出器（８、９）は縁部を検出しないよう
    に、前記材料ストリップ（30）上に配設される請求項15
    〜21のいずれか１項に記載の材料ストリップ（30）。