JP2870598B2 - ２進値をサンプル値に割り当てる方法と装置 - Google Patents
２進値をサンプル値に割り当てる方法と装置Info
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は、１サンプリング期間を超える長さの最小ラ
ンレングス（a minimum run length）を標準的に持つと
ころの記号の２進パターン（a binary pattern of mark
s）を記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連
のサンプル値に２進値を割り当てる方法に関する。また
本発明は更に、そのような方法を実行するための検出
器、及びそのような検出器を含む光ディスクプレーヤー
にも関する。
ンレングス（a minimum run length）を標準的に持つと
ころの記号の２進パターン（a binary pattern of mark
s）を記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連
のサンプル値に２進値を割り当てる方法に関する。また
本発明は更に、そのような方法を実行するための検出
器、及びそのような検出器を含む光ディスクプレーヤー
にも関する。
（背景技術） 記載された方法は「ビット検出（bit detection）」
として規定でき、特に光記録担体（optical record car
rier）から情報を読み取るために使用できる。既知のそ
のような適用の実例は音声記録とデータ記録のコンパク
トディスク（CD）システムである。CDおよび他の光記録
システムは、ジー・ブーウィス（G.Bouwhuis）等の「光
ディスクシステムの原理（Principles of Optical Disc
System）」、英国のブリストルのアダム ヒルガー（A
dam Hilger,Bristol,UK）発行、（ISBN 0−85274−785
−３）に記載されている。CDシステムにおいては、例え
ば、３サンプルの最小ランレングスは８対14変調（EFM;
Eight−to−Fourteen Modulation）システムによって保
証されている。しかし他の多くの最小ランレングス変調
システムもまた知られている。
として規定でき、特に光記録担体（optical record car
rier）から情報を読み取るために使用できる。既知のそ
のような適用の実例は音声記録とデータ記録のコンパク
トディスク（CD）システムである。CDおよび他の光記録
システムは、ジー・ブーウィス（G.Bouwhuis）等の「光
ディスクシステムの原理（Principles of Optical Disc
System）」、英国のブリストルのアダム ヒルガー（A
dam Hilger,Bristol,UK）発行、（ISBN 0−85274−785
−３）に記載されている。CDシステムにおいては、例え
ば、３サンプルの最小ランレングスは８対14変調（EFM;
Eight−to−Fourteen Modulation）システムによって保
証されている。しかし他の多くの最小ランレングス変調
システムもまた知られている。
例えば読み取り中の光効果（optical effects）のた
めに、読み取り装置（CDプレーヤー）によって記録担体
から読み取られた情報に妨害が導入されることがある。
そのような妨害が良好な近似で線形（linear）および
（準［quasi−］）定常（stationary）として考慮され
ることは上の参考文献から既知である。そのような妨害
のある場合に、そしてもし雑音が付随する役割（subord
inatepart）を演じるなら（CDプレーヤーでそうである
ように）、記録されたデータシーケンスは固定線形等化
器としきい値検出器の通常の組合せによって信頼性をも
って復元できることが知られている。光記録装置で使用
されるしきい値検出器は例えば米国特許第4,499,570号
に開示されている。
めに、読み取り装置（CDプレーヤー）によって記録担体
から読み取られた情報に妨害が導入されることがある。
そのような妨害が良好な近似で線形（linear）および
（準［quasi−］）定常（stationary）として考慮され
ることは上の参考文献から既知である。そのような妨害
のある場合に、そしてもし雑音が付随する役割（subord
inatepart）を演じるなら（CDプレーヤーでそうである
ように）、記録されたデータシーケンスは固定線形等化
器としきい値検出器の通常の組合せによって信頼性をも
って復元できることが知られている。光記録装置で使用
されるしきい値検出器は例えば米国特許第4,499,570号
に開示されている。
適当に製造されたCD記録は何らの著しい付加的妨害を
導入しない。しかし、実際には系統的に短か過ぎるかあ
るいは長過ぎるピット（pit）（特にマスタリングプロ
セス［mastering process］における不完全なエッチン
グの結果として）を有するディスクが存在することが見
いだされている。極端な場合に、このことは零の最小ラ
ンレングスが３サンプル期間の公称EFM値に対して殆ど
２サンプル期間だけ増大されるか減少される結果とな
り、そして１のランレングスに対しても同様である。こ
の不完全性の非定常性（あるいは、観点によっては非線
形でさえある）のために、固定（従って時間不変）線形
等化器はこの妨害を有効に抑圧することは本質的にでき
ない。
導入しない。しかし、実際には系統的に短か過ぎるかあ
るいは長過ぎるピット（pit）（特にマスタリングプロ
セス［mastering process］における不完全なエッチン
グの結果として）を有するディスクが存在することが見
いだされている。極端な場合に、このことは零の最小ラ
ンレングスが３サンプル期間の公称EFM値に対して殆ど
２サンプル期間だけ増大されるか減少される結果とな
り、そして１のランレングスに対しても同様である。こ
の不完全性の非定常性（あるいは、観点によっては非線
形でさえある）のために、固定（従って時間不変）線形
等化器はこの妨害を有効に抑圧することは本質的にでき
ない。
従ってたとえ極端な状態においてもある決定マージン
（decision margin）がしきい値検出器に残されるよう
に等化器を妥協させかつ設計することが通例である。こ
のマージンは小さいから、例えば回転速度、集束および
クロック発生のようなマイナーな妨害でさえも決定エラ
ーに導くであろう。これらのエラーはCDプレーヤーのエ
ラー訂正システムの能力の一部分を要求し、これは例え
ば引っ掻き（scratch）や指跡（finger marks）の効果
をもはや減少できない。
（decision margin）がしきい値検出器に残されるよう
に等化器を妥協させかつ設計することが通例である。こ
のマージンは小さいから、例えば回転速度、集束および
クロック発生のようなマイナーな妨害でさえも決定エラ
ーに導くであろう。これらのエラーはCDプレーヤーのエ
ラー訂正システムの能力の一部分を要求し、これは例え
ば引っ掻き（scratch）や指跡（finger marks）の効果
をもはや減少できない。
不完全に製造されたコンパクトディスク記録の場合と
同様に、系統的エラー（systematic error）はまた書き
込み可能な記録システムの分野の問題であり、ここで記
録は注意深く監視された工場環境よりもむしろ大多数の
個別のレコーダでなされる。
同様に、系統的エラー（systematic error）はまた書き
込み可能な記録システムの分野の問題であり、ここで記
録は注意深く監視された工場環境よりもむしろ大多数の
個別のレコーダでなされる。
（発明の開示） 本発明の目的は既知のシステムよりも良好な決定マー
ジンをもって、系統的エラーの存在の下で説明された種
類の一連のサンプルに２進値を正しく割り当てることを
可能にすることである。
ジンをもって、系統的エラーの存在の下で説明された種
類の一連のサンプルに２進値を正しく割り当てることを
可能にすることである。
冒頭に述べたような方法は本発明によれば、上記パタ
ーンが、上記記録担体上の記号を系統的に短か過ぎるも
の又は長過ぎるものにそれぞれさせるところの、第１の
タイプ又は第２のタイプの系統的なエラーのどちらを招
き易いかを判定することを含んで成り、また所与の各サ
ンプルに対して：当該サンプルを含む複数の連続するサ
ンプルの値を結合して、１個又はそれ以上の数の結合さ
れたサンプル値を生成し；当該結合されたサンプル値又
は各結合されたサンプル値を、或るしきい値と比較し；
系統的なエラーがもしあれば、それがどちらのタイプで
あるかに依存するやり方で、そのような比較を１回又は
それ以上の回数だけ行った結果に応じて、上記所与のサ
ンプルに２進値を割り当てる；ことを、更に含んで成
る。結合されたサンプル値を使用する場合の全決定マー
ジンは個別の各サンプルに対するものよりずっと大きく
できる。このことは最小ランレングス特性を有するパタ
ーンで生じる隣接値間の相関から生じている。所与の記
録に存在する系統的エラーの１タイプで情報と結合され
る場合、ビット検出は系統的エラーに実質的に免疫性が
あるようにでき、従って後の段のエラー訂正能力はより
少ない予測可能エラーに対して維持できる。
ーンが、上記記録担体上の記号を系統的に短か過ぎるも
の又は長過ぎるものにそれぞれさせるところの、第１の
タイプ又は第２のタイプの系統的なエラーのどちらを招
き易いかを判定することを含んで成り、また所与の各サ
ンプルに対して：当該サンプルを含む複数の連続するサ
ンプルの値を結合して、１個又はそれ以上の数の結合さ
れたサンプル値を生成し；当該結合されたサンプル値又
は各結合されたサンプル値を、或るしきい値と比較し；
系統的なエラーがもしあれば、それがどちらのタイプで
あるかに依存するやり方で、そのような比較を１回又は
それ以上の回数だけ行った結果に応じて、上記所与のサ
ンプルに２進値を割り当てる；ことを、更に含んで成
る。結合されたサンプル値を使用する場合の全決定マー
ジンは個別の各サンプルに対するものよりずっと大きく
できる。このことは最小ランレングス特性を有するパタ
ーンで生じる隣接値間の相関から生じている。所与の記
録に存在する系統的エラーの１タイプで情報と結合され
る場合、ビット検出は系統的エラーに実質的に免疫性が
あるようにでき、従って後の段のエラー訂正能力はより
少ない予測可能エラーに対して維持できる。
有利に使用できる連続サンプルの数は、記録されたパ
ターンのランレングス特性および例えば光ディスクプレ
ーヤーの集束された放射線スポットの直径のような読み
取りデバイスの応答性に依存しよう。CDシステムにおい
て、３連続サンプルの使用は実質的な利益を可能にし、
一方、簡単な装置しか要求しないことが見いだされてい
る。
ターンのランレングス特性および例えば光ディスクプレ
ーヤーの集束された放射線スポットの直径のような読み
取りデバイスの応答性に依存しよう。CDシステムにおい
て、３連続サンプルの使用は実質的な利益を可能にし、
一方、簡単な装置しか要求しないことが見いだされてい
る。
１サンプル毎に３個の引き続くサンプル値が使用され
る経済的に有利な一実施例では、この方法は、所与の各
サンプルに対して ａ）上記所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプ
ル値のうちの１つと結合させること、 ｂ）該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
こと、及び ｃ）該比較の結果に依存して、次のうちのどちらか、す
なわち：（ｉ）上記所与のサンプルに２進値を割り当て
ること；又は（ii）上記所与のサンプルの値を、上記２
つの隣接するサンプル値のうちのもう一方と結合させ
て、もう１つ別の結合された値を生成し；該もう１つ別
の結合された値を上記しきい値と比較し；該比較の結果
に依存して上記所与のサンプルに２進値を割り当てるこ
と；のどちらか、を含んで成る。各比較で２サンプル値
以上を取り扱う必要性を回避することにより、この実施
例は特に簡単な装置を許容する。
る経済的に有利な一実施例では、この方法は、所与の各
サンプルに対して ａ）上記所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプ
ル値のうちの１つと結合させること、 ｂ）該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
こと、及び ｃ）該比較の結果に依存して、次のうちのどちらか、す
なわち：（ｉ）上記所与のサンプルに２進値を割り当て
ること；又は（ii）上記所与のサンプルの値を、上記２
つの隣接するサンプル値のうちのもう一方と結合させ
て、もう１つ別の結合された値を生成し；該もう１つ別
の結合された値を上記しきい値と比較し；該比較の結果
に依存して上記所与のサンプルに２進値を割り当てるこ
と；のどちらか、を含んで成る。各比較で２サンプル値
以上を取り扱う必要性を回避することにより、この実施
例は特に簡単な装置を許容する。
２つの可能な組合せのどちらが正しい２進値を規定
し、従ってステップ（ｃ）（ii）が必要ではないと予測
することが原理的に可能である。しかし実際にはもし双
方の組合せがたとえ厳密に必要とされない場合にも各サ
ンプルに行われるなら装置はより簡単になろう。従っ
て、本発明の方法の一実施例では、上記２つの隣接する
サンプル値の各々が上記所与のサンプルの値と結合させ
られ、その結合した値の各々は上記しきい値と比較さ
れ、これら２つの比較結果が論理的に結合させられて、
上記所与のサンプルに割り当てられる２進値を生成す
る。この論理的結合は、単純な論理積（AND）又は論理
和（OR）演算であって、それは２つの比較結果のうちの
どちらが決定を行うものかということから、自動的に正
しい２進値を推論するように選択することができる。
し、従ってステップ（ｃ）（ii）が必要ではないと予測
することが原理的に可能である。しかし実際にはもし双
方の組合せがたとえ厳密に必要とされない場合にも各サ
ンプルに行われるなら装置はより簡単になろう。従っ
て、本発明の方法の一実施例では、上記２つの隣接する
サンプル値の各々が上記所与のサンプルの値と結合させ
られ、その結合した値の各々は上記しきい値と比較さ
れ、これら２つの比較結果が論理的に結合させられて、
上記所与のサンプルに割り当てられる２進値を生成す
る。この論理的結合は、単純な論理積（AND）又は論理
和（OR）演算であって、それは２つの比較結果のうちの
どちらが決定を行うものかということから、自動的に正
しい２進値を推論するように選択することができる。
このような一実施例では、上記２つの比較結果から２
進値を生成するために用いられる論理演算は、どちらの
タイプの系統的なエラーが存在するかに依存するのであ
る。この演算は、例えば一方の場合にORとなり、他方の
場合にANDとなるであろう。事実、２つの異なる方法が
双方のタイプの系統的エラーを許容するために与えられ
ている。要求された方法は連続的に決定できるか、ある
いは例えば双方の方法を用いて適応的に得られたしきい
値の比較により所与の記録の開始時にのみ決定できる。
単一プロセスで生成された記録（工場でプレスされた予
備記録されたCDのような）において、系統的エラーは全
記録担体にわたって一定に維持されるようである。
進値を生成するために用いられる論理演算は、どちらの
タイプの系統的なエラーが存在するかに依存するのであ
る。この演算は、例えば一方の場合にORとなり、他方の
場合にANDとなるであろう。事実、２つの異なる方法が
双方のタイプの系統的エラーを許容するために与えられ
ている。要求された方法は連続的に決定できるか、ある
いは例えば双方の方法を用いて適応的に得られたしきい
値の比較により所与の記録の開始時にのみ決定できる。
単一プロセスで生成された記録（工場でプレスされた予
備記録されたCDのような）において、系統的エラーは全
記録担体にわたって一定に維持されるようである。
経済的に有利な一実施例では、所与のサンプル値の各
々が、上記一連のサンプル値のうちのその次のサンプル
値と結合させられ、その結合した値は上記しきい値と比
較され、また、そのような各比較の結果を、少なくとも
１サンプリング期間だけは記憶して置いて、その次の所
与のサンプルのための２進値を定めるのに用いられる比
較結果を形成する。そのような一実施例において、各比
較結果が２つの所与のサンプルに使用できるから、２つ
のしきい値比較を実行する必要はない。
々が、上記一連のサンプル値のうちのその次のサンプル
値と結合させられ、その結合した値は上記しきい値と比
較され、また、そのような各比較の結果を、少なくとも
１サンプリング期間だけは記憶して置いて、その次の所
与のサンプルのための２進値を定めるのに用いられる比
較結果を形成する。そのような一実施例において、各比
較結果が２つの所与のサンプルに使用できるから、２つ
のしきい値比較を実行する必要はない。
本発明は更に、１サンプリング期間を超える長さの最
小ランレングスを標準的に持つところの記号の２進パタ
ーンを記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連
のサンプル値に２進値を割り当てる検出器であって、上
記パターンが、上記記録担体上の記号を系統的に短か過
ぎるもの又は長過ぎるものにそれぞれさせるところの、
第１のタイプ又は第２のタイプの系統的なエラーのどち
らを招き易いかを判定するための手段を有して成り、ま
た、所与のサンプルの値を含む複数の連続するサンプル
の値を結合して、１個又は複数個の結合されたサンプル
値を生成するための手段と；当該の結合されたサンプル
値又は各結合されたサンプル値を、或るしきい値と比較
するための手段と;1回又はそれ以上の回数のそのような
比較結果に応じて、系統的なエラーがもしあれば、それ
がどちらのタイプであるかに依存するやり方で、上記所
与のサンプルに２進値を割り当てるための手段と；を更
に有して成ることを特徴とする検出器を提供する。
小ランレングスを標準的に持つところの記号の２進パタ
ーンを記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連
のサンプル値に２進値を割り当てる検出器であって、上
記パターンが、上記記録担体上の記号を系統的に短か過
ぎるもの又は長過ぎるものにそれぞれさせるところの、
第１のタイプ又は第２のタイプの系統的なエラーのどち
らを招き易いかを判定するための手段を有して成り、ま
た、所与のサンプルの値を含む複数の連続するサンプル
の値を結合して、１個又は複数個の結合されたサンプル
値を生成するための手段と；当該の結合されたサンプル
値又は各結合されたサンプル値を、或るしきい値と比較
するための手段と;1回又はそれ以上の回数のそのような
比較結果に応じて、系統的なエラーがもしあれば、それ
がどちらのタイプであるかに依存するやり方で、上記所
与のサンプルに２進値を割り当てるための手段と；を更
に有して成ることを特徴とする検出器を提供する。
経済的に有利な一実施例では、該検出器は以下の諸手
段、すなわち − 各所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプル
値のうちの１つと結合させるための手段と、 − 該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
ための手段と、 − 該比較の結果に応じて、（ｉ）上記所与のサンプル
に２進値を割り当てるための手段、又は（ii）上記所与
のサンプルの値を、上記２つの隣接するサンプル値のう
ちのもう一方と結合させて、もう１つ別の結合された値
を生成し；該もう１つ別の結合された値を上記しきい値
と比較し；該比較の結果に依存して上記所与のサンプル
に２進値を割り当てるための手段、のどちらかと、を有
して成るであろう。
段、すなわち − 各所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプル
値のうちの１つと結合させるための手段と、 − 該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
ための手段と、 − 該比較の結果に応じて、（ｉ）上記所与のサンプル
に２進値を割り当てるための手段、又は（ii）上記所与
のサンプルの値を、上記２つの隣接するサンプル値のう
ちのもう一方と結合させて、もう１つ別の結合された値
を生成し；該もう１つ別の結合された値を上記しきい値
と比較し；該比較の結果に依存して上記所与のサンプル
に２進値を割り当てるための手段、のどちらかと、を有
して成るであろう。
上記検出器は、上記２つの隣接するサンプル値の各々
を上記所与のサンプルの値と結合するための手段と；そ
の結合した値の各々を上記しきい値と比較するための手
段と；それら２つの比較結果を論理的に結合して、上記
所与のサンプルに割り当てられる２進値を生成するため
の手段と；を有して成るであろう。
を上記所与のサンプルの値と結合するための手段と；そ
の結合した値の各々を上記しきい値と比較するための手
段と；それら２つの比較結果を論理的に結合して、上記
所与のサンプルに割り当てられる２進値を生成するため
の手段と；を有して成るであろう。
上記２つの比較結果から２進値を生成するために用い
られる論理的結合手段は、どちらのタイプの系統的なエ
ラーが存在するかを判定するための手段により制御され
るであろう。そのような検出器は、系統的なエラーに遭
遇すると、検出方法をそのタイプに自動的に適応させる
ようにすることができる。そのような検出器では、上記
しきい値は、以前に割り当てられた２進値をフィードバ
ックすることにより適応的に定められることができ、ま
た、どちらのタイプの系統的なエラーが存在するかを判
定する手段が、所要の論理演算を定めるために上記しき
い値に応答するであろう。所与の記録に対して最小しき
い値を与える検出方法を選択することは、どのタイプの
系統的エラーが存在するかを決定する１つの技術であ
る。
られる論理的結合手段は、どちらのタイプの系統的なエ
ラーが存在するかを判定するための手段により制御され
るであろう。そのような検出器は、系統的なエラーに遭
遇すると、検出方法をそのタイプに自動的に適応させる
ようにすることができる。そのような検出器では、上記
しきい値は、以前に割り当てられた２進値をフィードバ
ックすることにより適応的に定められることができ、ま
た、どちらのタイプの系統的なエラーが存在するかを判
定する手段が、所要の論理演算を定めるために上記しき
い値に応答するであろう。所与の記録に対して最小しき
い値を与える検出方法を選択することは、どのタイプの
系統的エラーが存在するかを決定する１つの技術であ
る。
上記検出器は、所与のサンプル値の各々を、上記一連
のサンプル値のうちのその次のサンプル値と結合するた
めの手段と；その結合した値を上記しきい値と比較する
ための手段と；そのような各比較の結果を、少なくとも
１サンプリング期間だけは記憶して置いて、その次の所
与のサンプルのための２進値を定めるのに用いられる比
較結果を形成するための手段と；を有して成るあろう。
そのような検出器に要求されたハードウエアーは既知の
検出器に要求されるものより非常に小さいであろう。
のサンプル値のうちのその次のサンプル値と結合するた
めの手段と；その結合した値を上記しきい値と比較する
ための手段と；そのような各比較の結果を、少なくとも
１サンプリング期間だけは記憶して置いて、その次の所
与のサンプルのための２進値を定めるのに用いられる比
較結果を形成するための手段と；を有して成るあろう。
そのような検出器に要求されたハードウエアーは既知の
検出器に要求されるものより非常に小さいであろう。
本発明は上述の発明に従う検出器を含む光ディスクプ
レーヤーをさらに備えている。そのようなプレーヤーは
たとえ不完全に製造されたディスクの場合に記号の長さ
の系統的エラーから影響を受けても、CDのような光ディ
スクからの情報の信頼性ありかつ雑音の無い再生を許容
する。
レーヤーをさらに備えている。そのようなプレーヤーは
たとえ不完全に製造されたディスクの場合に記号の長さ
の系統的エラーから影響を受けても、CDのような光ディ
スクからの情報の信頼性ありかつ雑音の無い再生を許容
する。
添付図面を参照し、実例によって本発明の実施例を説
明する。
明する。
（実施例） 第１図において、２進値データAkのストリームは光コ
ンパクトディスクのような記録担体10に記録され、引き
続いて入力ストリームAkの理想的に正確なコピーである
データストリームAk′を発生するよう記録担体10から読
み取られる。しかし記録・再生プロセスは出力データ
Ak′にエラーを導入するいくつかのステップを含んでい
る。
ンパクトディスクのような記録担体10に記録され、引き
続いて入力ストリームAkの理想的に正確なコピーである
データストリームAk′を発生するよう記録担体10から読
み取られる。しかし記録・再生プロセスは出力データ
Ak′にエラーを導入するいくつかのステップを含んでい
る。
掻き込みプロセス12は２進関数ｓ（ｔ）（ここでｔは
トラックに沿う距離を表している）として、あるいは記
号が相対的に移動する読み取りヘッデにより引き続いて
読み取られる場合には経過時間を表す記録担体上の記号
のパターンを発生する。書き込みプロセス12は現在利用
可能なコンパクトディスクのような記録の大量複製（ma
ss replication）のエッチングおよびスタンピング（st
amping）プロセスを含み、あるいは例えば最初に述べら
れた参考文献（ブーウィス等の）の第６章に記載された
ようなアブラティブな磁気光学技術あるいは位相変化技
術（ablative,magneto−optical or phase−change tec
hnique）により直接記録を具えるであろう。
トラックに沿う距離を表している）として、あるいは記
号が相対的に移動する読み取りヘッデにより引き続いて
読み取られる場合には経過時間を表す記録担体上の記号
のパターンを発生する。書き込みプロセス12は現在利用
可能なコンパクトディスクのような記録の大量複製（ma
ss replication）のエッチングおよびスタンピング（st
amping）プロセスを含み、あるいは例えば最初に述べら
れた参考文献（ブーウィス等の）の第６章に記載された
ようなアブラティブな磁気光学技術あるいは位相変化技
術（ablative,magneto−optical or phase−change tec
hnique）により直接記録を具えるであろう。
第２（ａ）図はサンプリング期間のスケールあるいは
シンボル間隔kTに対する、記録担体上に記録されるパタ
ーンｓ（ｔ）を示し、ここでｋは整数、Ｔは各シンボル
間隔の長さである。パターンｓ（ｔ）は例えばコンパク
トディスクの反射層の「ピット（pits）」（ｓ＝０）お
よび「ランド（lands）」（ｓ＝１）のパターンを表す
であろう。このパターンは使用されたEFM符号化により
支配されたように3Tの１あるいは零の最小ランレングス
を有している。このように第２（ａ）図の20と参照され
たランドと22と参照されたピット22は公称的にはパター
ンで見いだすべき最短ランドとピットである。
シンボル間隔kTに対する、記録担体上に記録されるパタ
ーンｓ（ｔ）を示し、ここでｋは整数、Ｔは各シンボル
間隔の長さである。パターンｓ（ｔ）は例えばコンパク
トディスクの反射層の「ピット（pits）」（ｓ＝０）お
よび「ランド（lands）」（ｓ＝１）のパターンを表す
であろう。このパターンは使用されたEFM符号化により
支配されたように3Tの１あるいは零の最小ランレングス
を有している。このように第２（ａ）図の20と参照され
たランドと22と参照されたピット22は公称的にはパター
ンで見いだすべき最短ランドとピットである。
しかし、書き込みプロセス12は関数ｓ（ｔ）の１およ
び零の長さの系統的エラーＥを導入できる。これは第２
（ｂ）図に例示され、ここで同じビットシーケンスAkは
第２（ａ）図と同様であるがＥ＝0.85によって記録さ
れ、各ピットが双方の方向で0.85Tだけ延長されるよう
選ばれた標記（notation）を意味している。従って最短
ランド20の長さは第２（ｂ）図で1.3Tにしかならない。
び零の長さの系統的エラーＥを導入できる。これは第２
（ｂ）図に例示され、ここで同じビットシーケンスAkは
第２（ａ）図と同様であるがＥ＝0.85によって記録さ
れ、各ピットが双方の方向で0.85Tだけ延長されるよう
選ばれた標記（notation）を意味している。従って最短
ランド20の長さは第２（ｂ）図で1.3Tにしかならない。
エラーＥは例えばコンパクトディスクのマスタリング
プロセス（mastering process）の段階のオーバーエッ
チングあるいはアンダーエッチングから生じるであろ
う。この説明の目的の取り決め（convention）を確立す
るために、エラーＥが正（長すぎる零）である記録は
「オーバーエッチされた（over−etched）」と規定さ
れ、そしてＥが負である記録は「アンダーエッチされた
（under−etched）」と規定され、それはエラーの実際
の原因がどうであってもそう呼ばれる。所与の記録の間
にエラーＥが少なくとも近似的に一定に留まるらしいこ
とは明らかであろう。
プロセス（mastering process）の段階のオーバーエッ
チングあるいはアンダーエッチングから生じるであろ
う。この説明の目的の取り決め（convention）を確立す
るために、エラーＥが正（長すぎる零）である記録は
「オーバーエッチされた（over−etched）」と規定さ
れ、そしてＥが負である記録は「アンダーエッチされた
（under−etched）」と規定され、それはエラーの実際
の原因がどうであってもそう呼ばれる。所与の記録の間
にエラーＥが少なくとも近似的に一定に留まるらしいこ
とは明らかであろう。
担体10からのパターンｓ（ｔ）の読み取りにおいて、
完全な矩形波形ｓ（ｔ）は丸くなり、かつ信号ｒ（ｔ）
を生成する読み取りプロセスにより歪まされる。この読
み取りプロセスはチャネルインパルス応答（CIR:Channe
l Impulse Response）24と26におけるランダム雑音ｎ
（ｔ）の付加により第１図でモデル化されている。CIR
は（例えば）有限の直径を有する集束された放射線スポ
ットによる担体10上の記号ｓ（ｔ）の読み取りを主とし
て表している。雑音ｎ（ｔ）は例えば塵埃とスクラッ
チ、および集束、トラッキングとタイミングエラーによ
るランダム効果を表している。
完全な矩形波形ｓ（ｔ）は丸くなり、かつ信号ｒ（ｔ）
を生成する読み取りプロセスにより歪まされる。この読
み取りプロセスはチャネルインパルス応答（CIR:Channe
l Impulse Response）24と26におけるランダム雑音ｎ
（ｔ）の付加により第１図でモデル化されている。CIR
は（例えば）有限の直径を有する集束された放射線スポ
ットによる担体10上の記号ｓ（ｔ）の読み取りを主とし
て表している。雑音ｎ（ｔ）は例えば塵埃とスクラッ
チ、および集束、トラッキングとタイミングエラーによ
るランダム効果を表している。
信号ｒ（ｔ）は帯域外雑音を除くため通常（28で）フ
ィルタされ、次に30で各シンボル間隔Ｔでサンプルさ
れ、かつ一連のサンプル値akを生成するために等化器32
に通過される。等化器はCIR24を補償してシンボル間干
渉を減少するために設計されたサンプルドデータフィル
タ（sampled−datafilter）である。そのような等化器
の設計は例えばジェー・プロアキス（J.Proakis）の
本、「ディジタル通信（Digital Communication）」、
（マグロ社［McGraw−Hill］）、ニューヨーク、1983年
に記載されている。
ィルタされ、次に30で各シンボル間隔Ｔでサンプルさ
れ、かつ一連のサンプル値akを生成するために等化器32
に通過される。等化器はCIR24を補償してシンボル間干
渉を減少するために設計されたサンプルドデータフィル
タ（sampled−datafilter）である。そのような等化器
の設計は例えばジェー・プロアキス（J.Proakis）の
本、「ディジタル通信（Digital Communication）」、
（マグロ社［McGraw−Hill］）、ニューヨーク、1983年
に記載されている。
サンプルakは出力データAk′を発生するためビット検
出器34により使用される。米国特許出願第4,499,570号
に記載されたような既知の装置では、ビット検出器34は
akとしきい値ｕを比較する単なるしきい値比較器であ
る。データストリームは名目上直流無しであるから、し
きい値ｕは既知の検出器のように大多数のシンボル間隔
にわたりAk′を積分することにより導くのが便利であ
る。
出器34により使用される。米国特許出願第4,499,570号
に記載されたような既知の装置では、ビット検出器34は
akとしきい値ｕを比較する単なるしきい値比較器であ
る。データストリームは名目上直流無しであるから、し
きい値ｕは既知の検出器のように大多数のシンボル間隔
にわたりAk′を積分することにより導くのが便利であ
る。
第３図（ａ）図は無雑音（ｎ（ｔ）＝０）で完全に記
録された（Ｅ＝０）担体から復元されるakの値を示す
「散乱プロット（scatter plot）」である。−１から＋
１のスケールで（符号は直流無しであるから）、円
（「０」）とクロス（「×」）は指定のビット値Akがそ
れぞれ０と１であるサンプルakを表している。akの分布
が純粋に２進でないことが分かろう。このことは読み取
りに使用された放射線スポットが事実シンボル間隔Ｔよ
り大きい直径を有しているからである。コンパクトディ
スクシステムにおいて、例えばＴはトラックに沿う0.3
ミクロンを表し、そしてレーザースポット直径は公称１
ミクロンである。従って特に最小ランレングスピットあ
るいはランド内で、ｓ（ｔ）の遷移の近くで取られたサ
ンプル値は−１あるいは＋１には位置せず、しきい値ｕ
に非常に近い。
録された（Ｅ＝０）担体から復元されるakの値を示す
「散乱プロット（scatter plot）」である。−１から＋
１のスケールで（符号は直流無しであるから）、円
（「０」）とクロス（「×」）は指定のビット値Akがそ
れぞれ０と１であるサンプルakを表している。akの分布
が純粋に２進でないことが分かろう。このことは読み取
りに使用された放射線スポットが事実シンボル間隔Ｔよ
り大きい直径を有しているからである。コンパクトディ
スクシステムにおいて、例えばＴはトラックに沿う0.3
ミクロンを表し、そしてレーザースポット直径は公称１
ミクロンである。従って特に最小ランレングスピットあ
るいはランド内で、ｓ（ｔ）の遷移の近くで取られたサ
ンプル値は−１あるいは＋１には位置せず、しきい値ｕ
に非常に近い。
しかし、システムはしきい値ｕの周りで明確な決定マ
ージンＭを残すよう設計されている。マージンＭはラン
ダム雑音ｎ（ｔ）の大部分が検出エラーを生じることな
くう吸収できるほど十分広い。換言すれば、そうでない
雑音が２進値Ak′＝１に間違って割り当てられることに
より最も右の円38がしきい値ｕの近くに移動する余地が
存在する。
ージンＭを残すよう設計されている。マージンＭはラン
ダム雑音ｎ（ｔ）の大部分が検出エラーを生じることな
くう吸収できるほど十分広い。換言すれば、そうでない
雑音が２進値Ak′＝１に間違って割り当てられることに
より最も右の円38がしきい値ｕの近くに移動する余地が
存在する。
第３（ｂ）図は第２（ｂ）図に示された（Ｅ＝0.85）
ような間違って「オーバーエッチされた」パターンｓ
（ｔ）から生じる類似の散乱プロットである。Ｅ＝０に
対する円とクロスの分布ak（第３（ａ）図）が対称的で
あるけれども、Ｅ＝0.85に対する分布は大いに対称的で
ある。と言うのは、ｓ（ｔ）の最短ランド（１の）が非
常に短くなり、相対的に大きい放射線スポットを用いて
かろうじて検出可能になるからである。しきい値ｕは円
とクロスの間でなお区別されるが、しかし決定マージン
Ｍが著しく減少されることを示すように調整できる。そ
のような小さいマージンＭによって、検出器はランダム
雑音ｎ（ｔ）に応じて更にエラーを決定しやすくなり、
従って引き続く復号化段で与えられたエラー訂正能力は
（例えばクロッキングエラーやトラッキングエラーのよ
うな）相対的にマイナーなエラーを訂正するのに大いに
使用され、かつこのように記録担体上の指跡、スクラッ
チ等により生じたエラーを余り対処できないであろう。
直接記録技術（一度だけ書き込むかあるいは消去可能
な）において、決定マージンはしばしば工場生産CDより
ずっと小さく、従って系統的エラーはそのようなシステ
ムでより大きな問題にさえなることに注意すべきであ
る。
ような間違って「オーバーエッチされた」パターンｓ
（ｔ）から生じる類似の散乱プロットである。Ｅ＝０に
対する円とクロスの分布ak（第３（ａ）図）が対称的で
あるけれども、Ｅ＝0.85に対する分布は大いに対称的で
ある。と言うのは、ｓ（ｔ）の最短ランド（１の）が非
常に短くなり、相対的に大きい放射線スポットを用いて
かろうじて検出可能になるからである。しきい値ｕは円
とクロスの間でなお区別されるが、しかし決定マージン
Ｍが著しく減少されることを示すように調整できる。そ
のような小さいマージンＭによって、検出器はランダム
雑音ｎ（ｔ）に応じて更にエラーを決定しやすくなり、
従って引き続く復号化段で与えられたエラー訂正能力は
（例えばクロッキングエラーやトラッキングエラーのよ
うな）相対的にマイナーなエラーを訂正するのに大いに
使用され、かつこのように記録担体上の指跡、スクラッ
チ等により生じたエラーを余り対処できないであろう。
直接記録技術（一度だけ書き込むかあるいは消去可能
な）において、決定マージンはしばしば工場生産CDより
ずっと小さく、従って系統的エラーはそのようなシステ
ムでより大きな問題にさえなることに注意すべきであ
る。
各サンプルＫに割り当てるべき２進値Ak′を決定する
ためにサンプルakおよび２つの隣接サンプルak-1とak+1
を使用する方法を具体化するよう実施例が記載されてい
る。この方法はＴより大きい最小ランレングスにより連
続サンプル間に相関が存在する事実に依存している。例
えば、ある組合せ（Ak-1,AkAk+1）、すなわち（0,1,0）
と（1,0,1）が簡単に起こらないことが知られている。
そのような情報は決定マージンを改善するために使用で
きる。
ためにサンプルakおよび２つの隣接サンプルak-1とak+1
を使用する方法を具体化するよう実施例が記載されてい
る。この方法はＴより大きい最小ランレングスにより連
続サンプル間に相関が存在する事実に依存している。例
えば、ある組合せ（Ak-1,AkAk+1）、すなわち（0,1,0）
と（1,0,1）が簡単に起こらないことが知られている。
そのような情報は決定マージンを改善するために使用で
きる。
３つのサンプル値（ak-1,ak,ak+1）は３次元（３−
Ｄ）空間中の点の座標として可視化できる。虚のしきい
値面（imaginary threshold surface）はその空間を２
つの容積に分割し、かつビット値Ak′は面のどちらの側
に所与のサンプル点（ak-1,ak ak+1）が落ちたかに依存
して割り当てることができる。このような技術は利用可
能な３つの値を使用する最良可能な決定マージンを達成
するが、しかし要求される複雑な計算は３−Ｄ技術を低
価格な装置に採用するには高価にする。それ故、本発明
による方法の経済的な実施例は各ステップで使用された
丁度２つのサンプルによる２つのステップを使用してい
る。この実施例は存在する系統的エラーのタイプに依存
して第４図あるいは第５図に例示されている。
Ｄ）空間中の点の座標として可視化できる。虚のしきい
値面（imaginary threshold surface）はその空間を２
つの容積に分割し、かつビット値Ak′は面のどちらの側
に所与のサンプル点（ak-1,ak ak+1）が落ちたかに依存
して割り当てることができる。このような技術は利用可
能な３つの値を使用する最良可能な決定マージンを達成
するが、しかし要求される複雑な計算は３−Ｄ技術を低
価格な装置に採用するには高価にする。それ故、本発明
による方法の経済的な実施例は各ステップで使用された
丁度２つのサンプルによる２つのステップを使用してい
る。この実施例は存在する系統的エラーのタイプに依存
して第４図あるいは第５図に例示されている。
Ｅが正である（「オーバーエッチされた」ケース）場
合に使用するのに適当な第４図の方法において、第１比
較42は最初の２つのサンプル値ak-1とakの算術和と、し
きい値ｕ′（これは＋１と−１よりはむしろ＋２と−２
との間で変化しよう）とを比較する。もしこの和がｕ′
より大きいなら、２進値Ak′＝１はブロック46でサンプ
ルＫに割り当てられる。もし最初の和がｕ′より大きく
ないなら、第２比較44は第２の２つのサンプル値akとa
k+1の和とｕ′とを比較する。もし第２の和がｕ′より
大きいなら、サンプルｋに対してビットＡ′ｋ＝１がブ
ロック46に割り当てられる。もし２つの和のいずれも
ｕ′より大きいなら、値Ak′＝０がブロック48のサンプ
ルｋに割り当てられる。値Ak′に割り当てられた後、サ
ンプルｋに対する方法は終わり、その後でｋは増大さ
れ、そして次のサンプルに対してこの方法が繰り返され
る。
合に使用するのに適当な第４図の方法において、第１比
較42は最初の２つのサンプル値ak-1とakの算術和と、し
きい値ｕ′（これは＋１と−１よりはむしろ＋２と−２
との間で変化しよう）とを比較する。もしこの和がｕ′
より大きいなら、２進値Ak′＝１はブロック46でサンプ
ルＫに割り当てられる。もし最初の和がｕ′より大きく
ないなら、第２比較44は第２の２つのサンプル値akとa
k+1の和とｕ′とを比較する。もし第２の和がｕ′より
大きいなら、サンプルｋに対してビットＡ′ｋ＝１がブ
ロック46に割り当てられる。もし２つの和のいずれも
ｕ′より大きいなら、値Ak′＝０がブロック48のサンプ
ルｋに割り当てられる。値Ak′に割り当てられた後、サ
ンプルｋに対する方法は終わり、その後でｋは増大さ
れ、そして次のサンプルに対してこの方法が繰り返され
る。
比較42と44を実行する順序は重要でないことが分か
る。たとえ理論上どの比較が直接所要のビット値Ak′に
なるかを予告できても（実際に０−１遷移あるいは１−
０遷移のいずれかが期待されるかに依存して）、実際に
すべてのサンプルに対して双方の比較を実行しかつ要求
に応じてその結果を結合することは簡単であり、従って Ak′＝（ak-1＋ak）＞ｕ′あるいは （ak＋ak+1）＞ｕ′ となる。これは第４図のブロック42−48全体の効果であ
る。
る。たとえ理論上どの比較が直接所要のビット値Ak′に
なるかを予告できても（実際に０−１遷移あるいは１−
０遷移のいずれかが期待されるかに依存して）、実際に
すべてのサンプルに対して双方の比較を実行しかつ要求
に応じてその結果を結合することは簡単であり、従って Ak′＝（ak-1＋ak）＞ｕ′あるいは （ak＋ak+1）＞ｕ′ となる。これは第４図のブロック42−48全体の効果であ
る。
系統的エラーＥが負である場合（「アンダーエッチさ
れた」ケース）に使用される第５図の方法は第４図と非
常に類似しているが、ただし異なるしきい値ｕ″が使用
され、かつ第４図のブロック42から48に対応するブロッ
ク52から58は再配列され、従って全体の結果は Ak′＝（ak-1＋ak）＞ｕ″および （ak＋ak+1）＞ｕ″ となる。
れた」ケース）に使用される第５図の方法は第４図と非
常に類似しているが、ただし異なるしきい値ｕ″が使用
され、かつ第４図のブロック42から48に対応するブロッ
ク52から58は再配列され、従って全体の結果は Ak′＝（ak-1＋ak）＞ｕ″および （ak＋ak+1）＞ｕ″ となる。
第６（ａ）図と第６（ｂ）図は第４図と第５図のそれ
ぞれの方法の２つの比較42/52と44/54の作用を例示する
２次元（２−Ｄ）散乱プロットである。第６（ａ）図に
おいて、水平座標はakであり、垂直座標はak-1である。
円（Ak＝０）とクロス（Ak＝１）の散乱は今や２次元で
あるが、水平軸上の２−Ｄ散乱プロットの投影は第３図
（ａ）図に示された１次元散乱プロットを再生すること
が分かる。第６（ａ）図と第６（ｂ）図の散乱プロット
はこのように完全にエッチされた記録（Ｅ＝０）に対応
する。各プロットにおいて、クロスと円の４つのマージ
ナル群は同定され、かつその各々は特定の群を生じる３
つのサンプル値（ak-1,ak ak+1）でラベルされる。予期
されるように、これらのマージナル群はakが記録信号ｓ
（ｔ）の遷移の次ぎにあるところのものである。
ぞれの方法の２つの比較42/52と44/54の作用を例示する
２次元（２−Ｄ）散乱プロットである。第６（ａ）図に
おいて、水平座標はakであり、垂直座標はak-1である。
円（Ak＝０）とクロス（Ak＝１）の散乱は今や２次元で
あるが、水平軸上の２−Ｄ散乱プロットの投影は第３図
（ａ）図に示された１次元散乱プロットを再生すること
が分かる。第６（ａ）図と第６（ｂ）図の散乱プロット
はこのように完全にエッチされた記録（Ｅ＝０）に対応
する。各プロットにおいて、クロスと円の４つのマージ
ナル群は同定され、かつその各々は特定の群を生じる３
つのサンプル値（ak-1,ak ak+1）でラベルされる。予期
されるように、これらのマージナル群はakが記録信号ｓ
（ｔ）の遷移の次ぎにあるところのものである。
しきい値ｕと既知の単一しきい値の決定マージンＭは
従って第６（ａ）図のように示される。「オア」検出法
（第４図）の２次元比較42に対する決定しきい値は式a
k-1＋ak＝ｕ′を有する対角線IVである。「アンド」検
出法（第５図）の比較52に対する決定しきい値は式ak-1
＋ak＝ｕ″を有する線Ｖである。CDチャネルが線形位相
チャネルであるから、第６（ａ）図と第６（ｂ）図に示
されたような散乱プロットは線ak＝ak-1とakak+1それぞ
れに対して高い程度の鏡面対称を有している。決定線IV
とＶはそれらの線に垂直であり、従ってそれらは最良の
決定マージンを提供する。
従って第６（ａ）図のように示される。「オア」検出法
（第４図）の２次元比較42に対する決定しきい値は式a
k-1＋ak＝ｕ′を有する対角線IVである。「アンド」検
出法（第５図）の比較52に対する決定しきい値は式ak-1
＋ak＝ｕ″を有する線Ｖである。CDチャネルが線形位相
チャネルであるから、第６（ａ）図と第６（ｂ）図に示
されたような散乱プロットは線ak＝ak-1とakak+1それぞ
れに対して高い程度の鏡面対称を有している。決定線IV
とＶはそれらの線に垂直であり、従ってそれらは最良の
決定マージンを提供する。
まず「オア」法（第４図）に集中すると、新しい決定
線IVの周りにクロス（Ak＝１）のみが存在することが分
かる。従って、もし比較42が（ak-1＋ak）がｕ′より大
きいことを示すなら、Ak′＝１は第６（ａ）図に示され
た新しい決定マージンＭ′により与えられたある確実性
をもって割り当てることができ、これはＥ＝０による記
録に対して古いマージンＭよりあまり大きくない。
線IVの周りにクロス（Ak＝１）のみが存在することが分
かる。従って、もし比較42が（ak-1＋ak）がｕ′より大
きいことを示すなら、Ak′＝１は第６（ａ）図に示され
た新しい決定マージンＭ′により与えられたある確実性
をもって割り当てることができ、これはＥ＝０による記
録に対して古いマージンＭよりあまり大きくない。
もし（ak-1＋ak）がｕ′より大きくないなら（線IVよ
り低い）、どの値Ak′がサンプルｋに割り当てるべきか
明らかでない。これはシーケンス（0,1,1）に対応する
クロスの群が線IVの下にあるからである。しかし、第４
図の方法の第２比較44の作用を例示する第６（ｂ）図に
おいて、クロスの同じ（0,1,1）群が比較の決定線IVの
上に明らかに存在することが分かる。従って、第２比較
44において、クロスの（0,1,1）群は新しい決定マージ
ンＭ′により円から区別できる。従ってすべてのケース
において、２つの比較42あるいは44の１つあるいは他の
もののいずれかは決定マージンＭ′によりサンプルｋに
対して値Ak′を生じるであろう。
り低い）、どの値Ak′がサンプルｋに割り当てるべきか
明らかでない。これはシーケンス（0,1,1）に対応する
クロスの群が線IVの下にあるからである。しかし、第４
図の方法の第２比較44の作用を例示する第６（ｂ）図に
おいて、クロスの同じ（0,1,1）群が比較の決定線IVの
上に明らかに存在することが分かる。従って、第２比較
44において、クロスの（0,1,1）群は新しい決定マージ
ンＭ′により円から区別できる。従ってすべてのケース
において、２つの比較42あるいは44の１つあるいは他の
もののいずれかは決定マージンＭ′によりサンプルｋに
対して値Ak′を生じるであろう。
「アンド」法（第５図）の動作は丁度説明した「オ
ア」法と類似しており、これについて以下に説明する。
もし第５図の方法の第１比較52がak-1＋akがしきい値
ｕ″より少ない、換言すれば値の対が第６（ａ）図の線
Ｖより低い点に対応することを表すなら、値Ak′＝０が
割り当てられる。もしこの点が線の上にあるなら、値
Ak′は円の（1,0,0）群がその線より上にあるという理
由でまだ決定されない。第２比較54は第６（ｂ）図に例
示されたように実行される。第２の比較に対して、（1,
0,0）群は明らかに線の下にあり、従って双方の比較52
と54の後で、Ak′の値は第６（ａ）図と第６（ｂ）図に
示されたようにマージンＭ″により決定できる。
ア」法と類似しており、これについて以下に説明する。
もし第５図の方法の第１比較52がak-1＋akがしきい値
ｕ″より少ない、換言すれば値の対が第６（ａ）図の線
Ｖより低い点に対応することを表すなら、値Ak′＝０が
割り当てられる。もしこの点が線の上にあるなら、値
Ak′は円の（1,0,0）群がその線より上にあるという理
由でまだ決定されない。第２比較54は第６（ｂ）図に例
示されたように実行される。第２の比較に対して、（1,
0,0）群は明らかに線の下にあり、従って双方の比較52
と54の後で、Ak′の値は第６（ａ）図と第６（ｂ）図に
示されたようにマージンＭ″により決定できる。
系統的エラーＥ＝０である第６（ａ）図と第６（ｂ）
図から分かるように、「オア」法と「アンド」法をそれ
ぞれ用いて得られた新しい決定マージンＭ′とＭ″は等
しく、かつ既知の検出器で得られた古いマージンＭより
僅かばかり大きい。従ってこれらの方法はＥ＝０である
理想的記録の既知の方法より殆ど利点を有していない。
図から分かるように、「オア」法と「アンド」法をそれ
ぞれ用いて得られた新しい決定マージンＭ′とＭ″は等
しく、かつ既知の検出器で得られた古いマージンＭより
僅かばかり大きい。従ってこれらの方法はＥ＝０である
理想的記録の既知の方法より殆ど利点を有していない。
しかし、著しい系統的エラーを持つ記録に対しては状
態が変わる。第６（ａ）図の64と65で示されたように、
最適しきい値ｕ′とｕ″はＥが変化するにつれて変化す
る。しきい値ｕ′とｕ″の双方は系統的エラーＥが正に
なるにつれて一層正になり、そしてＥが負になるにつれ
て双方とも一層負になる。さらに重要なことは、決定マ
ージンM,M′およびＭ″もまた変化することである。こ
れは第６図と同様な２つの２次元散乱プロットを示す第
７（ａ）図と第７（ｂ）図に例示されるが、しかしＥ＝
0.85である間違って「オーバーエッチされた」ケースは
別である。
態が変わる。第６（ａ）図の64と65で示されたように、
最適しきい値ｕ′とｕ″はＥが変化するにつれて変化す
る。しきい値ｕ′とｕ″の双方は系統的エラーＥが正に
なるにつれて一層正になり、そしてＥが負になるにつれ
て双方とも一層負になる。さらに重要なことは、決定マ
ージンM,M′およびＭ″もまた変化することである。こ
れは第６図と同様な２つの２次元散乱プロットを示す第
７（ａ）図と第７（ｂ）図に例示されるが、しかしＥ＝
0.85である間違って「オーバーエッチされた」ケースは
別である。
第７図において、Ak＝０を表す円はプロットの下左側
隅に限界され、一方、クロスはそれに向かって下向きか
つ左向きに広がっている。水平（ak）軸にすべての円と
クロスを投影することは第３（ｂ）図の１次元散乱プロ
ットを再生し、そして既知の検出器の決定マージンＭは
第７（ａ）図のak軸の次に示されている。
隅に限界され、一方、クロスはそれに向かって下向きか
つ左向きに広がっている。水平（ak）軸にすべての円と
クロスを投影することは第３（ｂ）図の１次元散乱プロ
ットを再生し、そして既知の検出器の決定マージンＭは
第７（ａ）図のak軸の次に示されている。
しかし、新しい「オア」法と「アンド」法の決定線IV
とＶがまた示されており、かつ「オア」法（第４図）に
より得られた決定マージンＭ′は今や古いマージンＭよ
りずっと大きいことが明らかに分かる。事実、正のＥに
対して、マージンＭ′は常に大きく、従って第４図の方
法は「オーバーエッチされた」コンパクトディスクを再
生する場合に実質的な利点を与える。
とＶがまた示されており、かつ「オア」法（第４図）に
より得られた決定マージンＭ′は今や古いマージンＭよ
りずっと大きいことが明らかに分かる。事実、正のＥに
対して、マージンＭ′は常に大きく、従って第４図の方
法は「オーバーエッチされた」コンパクトディスクを再
生する場合に実質的な利点を与える。
「アンダーエッチされた」ディスク（Ｅが負）に対し
て、第５図の方法はより大きな決定マーンＭ″を与え
る。と言うのは、その場合、円とクロスの散乱プロット
は第７図に示されたものと反対の態様で上向きかつ右向
きにバイアスされるからである。従って、もし最初に読
み取られる場合に系統的エラーの符号が決定できるな
ら、改善された決定マージンは適当な検出法を選択し使
用することにより得られる。正しい方法を自動的に選択
する技術は第９図と第10図とを参照して以下に説明され
よう。
て、第５図の方法はより大きな決定マーンＭ″を与え
る。と言うのは、その場合、円とクロスの散乱プロット
は第７図に示されたものと反対の態様で上向きかつ右向
きにバイアスされるからである。従って、もし最初に読
み取られる場合に系統的エラーの符号が決定できるな
ら、改善された決定マージンは適当な検出法を選択し使
用することにより得られる。正しい方法を自動的に選択
する技術は第９図と第10図とを参照して以下に説明され
よう。
第８図は第４図の「オア」法（Ｅが正の場合）を具体
化するのに適しているハードウエアービット検出器を示
している。サンプル値ak-1,ak,ak+1は入力70を通して
（第１図を参照して上に説明されたように）ディスク読
み取り装置から検出器に直列的に到着する。２つのアナ
ログ遅延回路71と72が入力70に直列に接続されている。
各回路71と72は１サンプル期間Ｔだけその入力信号を遅
延する。従って、値ak+1が入力70で各サンプルｋに利用
可能であるなら、値akとak-1は図面に示されたようにそ
れぞれ第１および第２遅延回路71と72の出力で利用可能
である。
化するのに適しているハードウエアービット検出器を示
している。サンプル値ak-1,ak,ak+1は入力70を通して
（第１図を参照して上に説明されたように）ディスク読
み取り装置から検出器に直列的に到着する。２つのアナ
ログ遅延回路71と72が入力70に直列に接続されている。
各回路71と72は１サンプル期間Ｔだけその入力信号を遅
延する。従って、値ak+1が入力70で各サンプルｋに利用
可能であるなら、値akとak-1は図面に示されたようにそ
れぞれ第１および第２遅延回路71と72の出力で利用可能
である。
第１和算回路73は入力70および第１遅延回路71から値
ak+1とakを受信し、かつ値ak＋ak+1を有する出力を生成
する。この値はこれまた現在のしきい値ｕ′を受信する
第１しきい値弁別回路（比較器）75にフィードされる。
第１しきい値弁別回路75の出力はこのように第４図のフ
ローチャートの第２比較44の結果を伝える。
ak+1とakを受信し、かつ値ak＋ak+1を有する出力を生成
する。この値はこれまた現在のしきい値ｕ′を受信する
第１しきい値弁別回路（比較器）75にフィードされる。
第１しきい値弁別回路75の出力はこのように第４図のフ
ローチャートの第２比較44の結果を伝える。
第２和算回路74は第１および第２遅延回路71および72
の出力からそれぞれ値akとak-1を受信し、値ak-1＋akを
有する出力を生成する。この値はこれまた現在のしきい
値ｕ′を受信する第２しきい値回路（比較器）76にフィ
ードされる。第２しきい値回路76はこのように第４図の
フローチャートの第１比較42の結果を運んでいる。
の出力からそれぞれ値akとak-1を受信し、値ak-1＋akを
有する出力を生成する。この値はこれまた現在のしきい
値ｕ′を受信する第２しきい値回路（比較器）76にフィ
ードされる。第２しきい値回路76はこのように第４図の
フローチャートの第１比較42の結果を運んでいる。
２つのしきい値回路75と76の出力はオアゲート77の第
１および第２入力にそれぞれフィードされ、オアゲート
77の出力78は各サンプルｋに割り当てられている２進値
Ak′を運んでいる。Ｅが負である場合（「アンダーエッ
チされた」）、第５図の「アンド」法はオアゲート77を
アンドゲートに変化することにより簡単に具体化でき
る。
１および第２入力にそれぞれフィードされ、オアゲート
77の出力78は各サンプルｋに割り当てられている２進値
Ak′を運んでいる。Ｅが負である場合（「アンダーエッ
チされた」）、第５図の「アンド」法はオアゲート77を
アンドゲートに変化することにより簡単に具体化でき
る。
積分器79は適応形式でしきい値回路75と76のしきい値
ｕ′を規定するために使用されている。各目的にはビッ
トシーケンスAk′はEFM符号化されたシーケンスAk（第
１図）が名目的に直流無しと言う理由で０と同じくらい
多くの１を含んでいる。積分器79は多数のサンプルにわ
たってAk′を平均するよう使用され、かつ出力シーケン
スAk′の１と０の間でバランスを維持することを要求さ
れたようにその出力でしきい値ｕ′を変化する。
ｕ′を規定するために使用されている。各目的にはビッ
トシーケンスAk′はEFM符号化されたシーケンスAk（第
１図）が名目的に直流無しと言う理由で０と同じくらい
多くの１を含んでいる。積分器79は多数のサンプルにわ
たってAk′を平均するよう使用され、かつ出力シーケン
スAk′の１と０の間でバランスを維持することを要求さ
れたようにその出力でしきい値ｕ′を変化する。
第９図は第４図と第５図の方法を選択し具体化できる
完全なビット検出器の一実施例を示している。第９図の
実施例はハードウエアー節約形態（hardware−saving f
eature）を組み込み、また系統的エラーＥの極性を決定
する手段も組み込んでいる。80,81,83,85,87および88と
して参照された部分は第８図の検出器の70,71,73等とし
て参照された部分に対応している。しかし、第８図の部
分72,74および76に対応する第２遅延回路、第２和算回
路あるいは第２しきい値回路は存在しない。これらの回
路は所与のサンプルｋに対する値ak-1とakが以前のサン
プルに対する値akとak+1と同じてあると言う理由で省略
できる。従って第８図において、第２しきい値回路76の
出力は単に第１しきい値回路75の出力の遅延された変形
である。
完全なビット検出器の一実施例を示している。第９図の
実施例はハードウエアー節約形態（hardware−saving f
eature）を組み込み、また系統的エラーＥの極性を決定
する手段も組み込んでいる。80,81,83,85,87および88と
して参照された部分は第８図の検出器の70,71,73等とし
て参照された部分に対応している。しかし、第８図の部
分72,74および76に対応する第２遅延回路、第２和算回
路あるいは第２しきい値回路は存在しない。これらの回
路は所与のサンプルｋに対する値ak-1とakが以前のサン
プルに対する値akとak+1と同じてあると言う理由で省略
できる。従って第８図において、第２しきい値回路76の
出力は単に第１しきい値回路75の出力の遅延された変形
である。
それ故、第９図において単一論理遅延ラッチ92は次の
サンプルの別の比較結果を形成するよう１サンプリング
期間Ｔの各比較結果を蓄積する単一しきい値回路85の出
力に接続されている。
サンプルの別の比較結果を形成するよう１サンプリング
期間Ｔの各比較結果を蓄積する単一しきい値回路85の出
力に接続されている。
アンドゲート94はオアゲート87の入力と並列に接続さ
れた第１および第２入力を有し、かつ出力95も有してい
る。オアゲート87の出力88あるいはアンドゲート94の出
力95のいずれかを出力ビットシーケンスAk′を運ぶ出力
98に接続するために制御回路96は電子スイッチ97を制御
する。第９図の検出器の「オア」法と「アンド」法の双
方を具体化することにより、制御回路96は２つの代案の
方法のどちらかが所与の記録中の系統的エラーＥを対処
するよう要求されていることを具体化するよう検出器を
形成できる。
れた第１および第２入力を有し、かつ出力95も有してい
る。オアゲート87の出力88あるいはアンドゲート94の出
力95のいずれかを出力ビットシーケンスAk′を運ぶ出力
98に接続するために制御回路96は電子スイッチ97を制御
する。第９図の検出器の「オア」法と「アンド」法の双
方を具体化することにより、制御回路96は２つの代案の
方法のどちらかが所与の記録中の系統的エラーＥを対処
するよう要求されていることを具体化するよう検出器を
形成できる。
制御回路96はスイッチ97の最良位置を選択するために
系統的エラーＥの極性の知識を明らかに必要とする。こ
のために種々の技術が可能である。１つの可能性大多数
のサンプルにわたってサンプル値akの符号の平均を計算
することである。
系統的エラーＥの極性の知識を明らかに必要とする。こ
のために種々の技術が可能である。１つの可能性大多数
のサンプルにわたってサンプル値akの符号の平均を計算
することである。
他方、第９図の検出器で具体化された技術は低い振幅
のしきい値ｕ′あるいはｕ″をそれぞれ有している検出
器の変形（すなわち、「オア」法あるいは「アンド」
法）を使用することである。これは検出器のオアおよび
アンド形の出力88と95にそれぞれ接続された２つの積分
器101と102を備えることにより達成される。動作上、
ｕ′とｕ″の値はこのように積分器の出力103と104で連
続的かつ並列に発生され、かつ制御回路96の一部分を形
成する振幅比較器106の入力に印加される。低い振幅し
きい値を与える方法はスイッチ97を動作することにより
制御回路96によって選択され、さらにスイッチ108はま
た示されたようにしきい値検出器85に適当なしきい値
ｕ′とｕ″を供給するよう備えられている。第６図に関
連して上に述べられたように、「オア」法と「アンド」
法の決定マージンＭ′とＭ″はＥ＝０である完全な記録
を再生する場合に実質的に等しい。従って系統的エラー
が１つのタイプあるいは他のタイプとして検出されるに
は小さ過ぎる場合になされる選択は任意に決定できる。
制御回路96の動作のシーケンスは第10図のフローチャー
トに例示されている。
のしきい値ｕ′あるいはｕ″をそれぞれ有している検出
器の変形（すなわち、「オア」法あるいは「アンド」
法）を使用することである。これは検出器のオアおよび
アンド形の出力88と95にそれぞれ接続された２つの積分
器101と102を備えることにより達成される。動作上、
ｕ′とｕ″の値はこのように積分器の出力103と104で連
続的かつ並列に発生され、かつ制御回路96の一部分を形
成する振幅比較器106の入力に印加される。低い振幅し
きい値を与える方法はスイッチ97を動作することにより
制御回路96によって選択され、さらにスイッチ108はま
た示されたようにしきい値検出器85に適当なしきい値
ｕ′とｕ″を供給するよう備えられている。第６図に関
連して上に述べられたように、「オア」法と「アンド」
法の決定マージンＭ′とＭ″はＥ＝０である完全な記録
を再生する場合に実質的に等しい。従って系統的エラー
が１つのタイプあるいは他のタイプとして検出されるに
は小さ過ぎる場合になされる選択は任意に決定できる。
制御回路96の動作のシーケンスは第10図のフローチャー
トに例示されている。
出力98に接続された１つの積分器のみを使用する代案
の一実施例において、制御回路96は双方の位置でスイッ
チ97により読み取られる新しい記録の小さい部分に配列
でき、かつその残りの記録のプレーバックに使用するし
きい値の最低振幅を与える位置を選択できる。１つの積
分器のみを使用することの欠点は、双方の変形の比較が
行えるように検出器の各変形を順次使用するためにプレ
ーバックを中断したり遅延したりすることが必要なこと
である。
の一実施例において、制御回路96は双方の位置でスイッ
チ97により読み取られる新しい記録の小さい部分に配列
でき、かつその残りの記録のプレーバックに使用するし
きい値の最低振幅を与える位置を選択できる。１つの積
分器のみを使用することの欠点は、双方の変形の比較が
行えるように検出器の各変形を順次使用するためにプレ
ーバックを中断したり遅延したりすることが必要なこと
である。
２つの積分器により第９図と第10図の実施例は第10図
のダッシュで示された流れ通路（flow path）110により
表示されたように、第10図に連続的あるいは少なくとも
周期的に示された動作シーケンスを具体化することによ
り系統的エラーＥの極性の変化に容易に適応できる。こ
れは例えば同じ記録担体の異なる部分の間でＥが著しく
変化する異なる時間あるいは異なる記録装置（例えば書
き込み／消去可能記録技術のような）で行われた記録を
再生する場合の欠点である。もしこの制御シーケンスが
連続的にあるいは任意の大きい頻度で具体化されるな
ら、ある程度のヒステリシスを２つのしきい値の比較に
組み込むことは有利であろう。さもなければ、Ｅが零に
非常に近くかつランダム変動により符号が揺動する場合
に、２つの方法の間の過剰スイッチング（excessive sw
itching）が起こるであろう。
のダッシュで示された流れ通路（flow path）110により
表示されたように、第10図に連続的あるいは少なくとも
周期的に示された動作シーケンスを具体化することによ
り系統的エラーＥの極性の変化に容易に適応できる。こ
れは例えば同じ記録担体の異なる部分の間でＥが著しく
変化する異なる時間あるいは異なる記録装置（例えば書
き込み／消去可能記録技術のような）で行われた記録を
再生する場合の欠点である。もしこの制御シーケンスが
連続的にあるいは任意の大きい頻度で具体化されるな
ら、ある程度のヒステリシスを２つのしきい値の比較に
組み込むことは有利であろう。さもなければ、Ｅが零に
非常に近くかつランダム変動により符号が揺動する場合
に、２つの方法の間の過剰スイッチング（excessive sw
itching）が起こるであろう。
なお別の代案は検出器の各方法を順次使用し、かつコ
ンパクトディスクシステムで使用されたように引き続く
復号回路により各ケースで検出されたエラーの割合を比
較する。
ンパクトディスクシステムで使用されたように引き続く
復号回路により各ケースで検出されたエラーの割合を比
較する。
当業者はここに説明された実施例が本発明の範囲内で
唯一可能なものとは認めないであろう。特にここで採用
された標記法と符号の取り決めは純粋に例示のためのも
のであり、信号の極性と意味は特定の適用では逆あるい
は交換できよう。例えばここで使用され「オーバーエッ
チされた」および「アンダーエッチされた」なる術語は
完全に交換可能である。と言うのは、典型的なマスタリ
ングプロセスにおいて、記録はその最終形式が固定され
る前には正の圧縮と負の圧縮の双方が存在するからであ
る。同様に、これらの術語のエッチングの参照は単に例
示であり、そしてどんなプロセスで記録が行われていて
も、それらは記録されたビットパターンのランレングス
の系統的エラーのすべてのソースを規定するために使用
されていることが評価されよう。さらに「記号のパター
ン（pattern of marks）」なる術語は任意の検出可能な
２進パターンを含んで構成されるべきであり、それは光
学的あるいは他の方法で検出可能であるかどうか、そし
て記号がCDシステムとして機械的形態であるかあるいは
例えば位相変化と磁気光学記録技術におけるような記録
担体の他のいくつかの性質の変動があるかどうかにかか
わらずそうである。
唯一可能なものとは認めないであろう。特にここで採用
された標記法と符号の取り決めは純粋に例示のためのも
のであり、信号の極性と意味は特定の適用では逆あるい
は交換できよう。例えばここで使用され「オーバーエッ
チされた」および「アンダーエッチされた」なる術語は
完全に交換可能である。と言うのは、典型的なマスタリ
ングプロセスにおいて、記録はその最終形式が固定され
る前には正の圧縮と負の圧縮の双方が存在するからであ
る。同様に、これらの術語のエッチングの参照は単に例
示であり、そしてどんなプロセスで記録が行われていて
も、それらは記録されたビットパターンのランレングス
の系統的エラーのすべてのソースを規定するために使用
されていることが評価されよう。さらに「記号のパター
ン（pattern of marks）」なる術語は任意の検出可能な
２進パターンを含んで構成されるべきであり、それは光
学的あるいは他の方法で検出可能であるかどうか、そし
て記号がCDシステムとして機械的形態であるかあるいは
例えば位相変化と磁気光学記録技術におけるような記録
担体の他のいくつかの性質の変動があるかどうかにかか
わらずそうである。
さらに、本発明の方法は３つの隣接サンプル以上の使
用に拡張できる。（たとえあるにせよ）得られた余分の
決定マージンは特定のパターンの最小ランレングスに依
存し、かつまたチャネルインパルス応答にも依存しよ
う。EFM符号化によるコンパクトディスクの場合には３
サンプル以上を使用する方法を拡張することにより得ら
れる利益は現在のチャネル特性では最小であると考えら
れている。
用に拡張できる。（たとえあるにせよ）得られた余分の
決定マージンは特定のパターンの最小ランレングスに依
存し、かつまたチャネルインパルス応答にも依存しよ
う。EFM符号化によるコンパクトディスクの場合には３
サンプル以上を使用する方法を拡張することにより得ら
れる利益は現在のチャネル特性では最小であると考えら
れている。
この開示からなお別の修正が当業者にとって明らかで
あろう。そのような修正は設計、製造およびビット検出
器、記録システムとその較正部品の使用で既知であり、
かつここで既に説明された特徴の代わりもしくはそれに
加えて使用される他の特徴を含んでいる。たとえ特徴の
特殊な組合せに対してクレームがこの出願で公式化され
ていても、本出願の開示の範囲がその明示的あるいは暗
示的あるいは一般化のいずれかで新奇な特徴あるいはこ
こで開示された特徴の新奇な組合せをまた含むことを理
解すべきであり、それが任意のクレームで現在特徴付け
られたものと同じ発明に関連しているかどうか、そして
本発明がそうであるように同じ技術的問題のいくつかあ
るいはすべてを軽減するかどうかにかかわらずそうであ
る。この出願は本発明の実施あるいはそれから導かれた
別の出願の実施の間にそのような特徴および／またはそ
のような特徴の組合せを新しいクレームが公式化するこ
とに注意を与えている。
あろう。そのような修正は設計、製造およびビット検出
器、記録システムとその較正部品の使用で既知であり、
かつここで既に説明された特徴の代わりもしくはそれに
加えて使用される他の特徴を含んでいる。たとえ特徴の
特殊な組合せに対してクレームがこの出願で公式化され
ていても、本出願の開示の範囲がその明示的あるいは暗
示的あるいは一般化のいずれかで新奇な特徴あるいはこ
こで開示された特徴の新奇な組合せをまた含むことを理
解すべきであり、それが任意のクレームで現在特徴付け
られたものと同じ発明に関連しているかどうか、そして
本発明がそうであるように同じ技術的問題のいくつかあ
るいはすべてを軽減するかどうかにかかわらずそうであ
る。この出願は本発明の実施あるいはそれから導かれた
別の出願の実施の間にそのような特徴および／またはそ
のような特徴の組合せを新しいクレームが公式化するこ
とに注意を与えている。
第１図は既知のビット検出器を使用するコンパクトディ
スクチャネルを略式に示し、 第２図は（ａ）完全に製造されたディスクと（ｂ）間違
って「オーバーエッチされた」ディスク上に記録された
記号のパターンを示し、 第３図は既知のビット検出器の決定マージンの「オーバ
ーエッチング」の効果を示し、 第４図と第５図は「オーバーエッチされた」と「アンダ
ーエッチされた」ディスクをそれぞれ読み取るのに適し
ている本発明を用いる方法の２つの代案の部分を示すフ
ローチャートであり、 第６図は系統的エラーの無い場合の第４図と第５図の方
法の動作を例示し、 第７図はいかにして「オーバーエッチされた」ディスク
の場合に第４図の方法の使用によって得られる改善され
た決定マージンを示し、 第８図は本発明によるビット検出器の一部分の一実施例
を示し、 第９図は本発明によるビット検出器の一実施例を示し、 第10図は第９図の検出器の制御回路の動作を例示するフ
ローチャートである。 10……記録担体、12……書き込みプロセス 20……ランド、22……ピット 24……CIR、26……加算器 28……フィルタ、30……スイッチ 32……等化器、34……ビット検出器 38……最も右の円 42,52……第１比較ブロック 44,54……第２比較ブロック 46,56……ブロック、48,58……ブロック 64,65……Ｅの変化、70……入力 71,80……第１アナログ遅延回路 72,82……第２アナログ遅延回路 73,83……第１和算回路 74,84……第２和算回路 75,85……第１しきい値回路あるいは比較器 76,86……第２しきい値回路あるいは比較器 77,78……オアゲート、78,88……出力 79,89……積分器、92……論理遅延ラッチ 94……アンドゲート、95……出力 96……制御回路、97……電子スイッチ 98……出力、101,102……積分器 103,104……出力、106……振幅比較器 108……スイッチ、110……流れ通路
スクチャネルを略式に示し、 第２図は（ａ）完全に製造されたディスクと（ｂ）間違
って「オーバーエッチされた」ディスク上に記録された
記号のパターンを示し、 第３図は既知のビット検出器の決定マージンの「オーバ
ーエッチング」の効果を示し、 第４図と第５図は「オーバーエッチされた」と「アンダ
ーエッチされた」ディスクをそれぞれ読み取るのに適し
ている本発明を用いる方法の２つの代案の部分を示すフ
ローチャートであり、 第６図は系統的エラーの無い場合の第４図と第５図の方
法の動作を例示し、 第７図はいかにして「オーバーエッチされた」ディスク
の場合に第４図の方法の使用によって得られる改善され
た決定マージンを示し、 第８図は本発明によるビット検出器の一部分の一実施例
を示し、 第９図は本発明によるビット検出器の一実施例を示し、 第10図は第９図の検出器の制御回路の動作を例示するフ
ローチャートである。 10……記録担体、12……書き込みプロセス 20……ランド、22……ピット 24……CIR、26……加算器 28……フィルタ、30……スイッチ 32……等化器、34……ビット検出器 38……最も右の円 42,52……第１比較ブロック 44,54……第２比較ブロック 46,56……ブロック、48,58……ブロック 64,65……Ｅの変化、70……入力 71,80……第１アナログ遅延回路 72,82……第２アナログ遅延回路 73,83……第１和算回路 74,84……第２和算回路 75,85……第１しきい値回路あるいは比較器 76,86……第２しきい値回路あるいは比較器 77,78……オアゲート、78,88……出力 79,89……積分器、92……論理遅延ラッチ 94……アンドゲート、95……出力 96……制御回路、97……電子スイッチ 98……出力、101,102……積分器 103,104……出力、106……振幅比較器 108……スイッチ、110……流れ通路
Claims (14)
- 【請求項１】１サンプリング期間を超える長さの最小ラ
ンレングスを標準的に持つところの記号の２進パターン
を記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連のサ
ンプル値に２進値を割り当てる方法において、 上記パターンが、上記記録担体上の記号を系統的に短か
過ぎるもの又は長過ぎるものにそれぞれさせるところ
の、第１のタイプ又は第２のタイプの系統的なエラーの
どちらを招き易いかを判定することを、上記方法は含ん
で成り、また 所与の各サンプルに対して：当該サンプルを含む複数の
連続するサンプルの値を結合して、１個又はそれ以上の
数の結合されたサンプル値を生成し；当該結合されたサ
ンプル値又は各結合されたサンプル値を、或るしきい値
と比較し；系統的なエラーがもしあれば、それがどちら
のタイプであるかに依存するやり方で、そのような比較
を１回又はそれ以上の回数だけ行った結果に応じて、上
記所与のサンプルに２進値を割り当てる；ことを上記方
法は更に含んで成ることを特徴とする方法。 - 【請求項２】請求項１に記載の方法において、所与の各
サンプルに対して ａ）上記所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプ
ル値のうちの１つと結合させること、 ｂ）該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
こと、及び ｃ）該比較の結果に依存して、次のうちのどちらか、す
なわち： （ｉ） 上記所与のサンプルに２進値を割り当てるこ
と；又は （ii） 上記所与のサンプルの値を、上記２つの隣接す
るサンプル値のうちのもう一方と結合させて、もう１つ
別の結合された値を生成し；該もう１つ別の結合された
値を上記しきい値と比較し；該比較の結果に依存して上
記所与のサンプルに２進値を割り当てること；のどちら
か を、含んで成ることを特徴とする方法。 - 【請求項３】請求項２に記載の方法において、上記２つ
の隣接するサンプル値の各々が上記所与のサンプルの値
と結合させられ、その結合した値の各々は上記しきい値
と比較され、これら２つの比較結果が論理的に結合させ
られて、上記所与のサンプルに割り当てられる２進値を
生成することを特徴とする方法。 - 【請求項４】請求項３に記載の方法において、上記２つ
の比較結果から２進値を生成するために用いられる論理
演算は、どちらのタイプの系統的なエラーが存在する
か、すなわち系統的に長過ぎるエラーが存在するか又は
系統的に短か過ぎるエラーが存在するか、に依存するこ
とを特徴とする方法。 - 【請求項５】請求項２ないし４のうちのいずれか１項に
記載の方法において、所与のサンプル値の各々が、上記
一連のサンプル値のうちのその次のサンプル値と結合さ
せられ、その結合した値は上記しきい値と比較され、ま
た、そのような各比較の結果を、少なくとも１サンプリ
ング期間だけは記憶して置いて、その次の所与のサンプ
ルのための２進値を定めるのに用いられる比較結果を形
成することを特徴とする方法。 - 【請求項６】請求項１ないし５のうちのいずれか１項に
記載の方法において、結合したサンプル値の各々は、そ
こに結合させられたサンプル値の算術和であることを特
徴とする方法。 - 【請求項７】１サンプリング期間を超える長さの最小ラ
ンレングスを標準的に持つところの記号の２進パターン
を記録担体上で表す波形から周期的に取られる一連のサ
ンプル値に２進値を割り当てる検出器において、 該検出器は、上記パターンが、上記記録担体上の記号を
系統的に短か過ぎるもの又は長過ぎるものにそれぞれさ
せるところの、第１のタイプ又は第２のタイプの系統的
なエラーのどちらを招き易いかを判定するための手段を
有して成り、また 所与のサンプルの値を含む複数の連続するサンプルの値
を結合して、１個又は複数個の結合されたサンプル値を
生成するための手段と；当該の結合されたサンプル値又
は各結合されたサンプル値を、或るしきい値と比較する
ための手段と;1回又はそれ以上の回数のそのような比較
結果に応じて、系統的なエラーがもしあれば、それがど
ちらのタイプであるかに依存するやり方で、上記所与の
サンプルに２進値を割り当てるための手段と； を更に有して成ることを特徴とする検出器。 - 【請求項８】請求項７に記載の検出器において、以下の
諸手段、すなわち − 各所与のサンプルの値を、２つの隣接するサンプル
値のうちの１つと結合させるための手段と、 − 該結合した値を予め定められたしきい値と比較する
ための手段と、 − 該比較の結果に応じて、 （ｉ） 上記所与のサンプルに２進値を割り当てるため
の手段、又は （ii） 上記所与のサンプルの値を、上記２つの隣接す
るサンプル値のうちのもう一方と結合させて、もう１つ
別の結合された値を生成し；該もう１つ別の結合された
値を上記しきい値と比較し；該比較の結果に依存して上
記所与のサンプルに２進値を割り当てるための手段、の
どちらかと を有して成ることを特徴とする検出器。 - 【請求項９】請求項８に記載の検出器において、上記２
つの隣接するサンプル値の各々を上記所与のサンプルの
値と結合するための手段と；その結合した値の各々を上
記しきい値と比較するための手段と；それら２つの比較
結果を論理的に結合して、上記所与のサンプルに割り当
てられる２進値を生成するための手段と；を有して成る
ことを特徴とする検出器。 - 【請求項１０】請求項９に記載の検出器において、上記
２つの比較結果から２進値を生成するために用いられる
論理的結合手段は、どちらのタイプの系統的なエラーが
存在するかを判定するための手段により制御されること
を特徴とする検出器。 - 【請求項１１】請求項10に記載の検出器において、上記
しきい値は、以前に割り当てられた２進値をフィードバ
ックすることにより適応的に定められ、また、どちらの
タイプの系統的なエラーが存在するかを判定する手段
が、所要の論理演算を定めるために上記しきい値に応答
することを特徴とする検出器。 - 【請求項１２】請求項８ないし11のうちのいずれか１項
に記載の検出器において、所与のサンプル値の各々を、
上記一連のサンプル値のうちのその次のサンプル値と結
合するための手段と；その結合した値を上記しきい値と
比較するための手段と；そのような各比較の結果を、少
なくとも１サンプリング期間だけは記憶して置いて、そ
の次の所与のサンプルのための２進値を定めるのに用い
られる比較結果を形成するための手段と；を有して成る
ことを特徴とする検出器。 - 【請求項１３】請求項８ないし12のうちのいずれか１項
に記載の検出器において、所与のサンプルの値を隣接す
るサンプル値と結合させるための上記手段は、加算回路
を含むことを特徴とする検出器。 - 【請求項１４】請求項８ないし13のうちのいずれか１項
に記載の検出器を含む光ディスクプレーヤー。
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