JP2865323B2 - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JP2865323B2 JP2865323B2 JP1244306A JP24430689A JP2865323B2 JP 2865323 B2 JP2865323 B2 JP 2865323B2 JP 1244306 A JP1244306 A JP 1244306A JP 24430689 A JP24430689 A JP 24430689A JP 2865323 B2 JP2865323 B2 JP 2865323B2
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- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136254—Checking; Testing
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は液晶表示のための駆動用ICを直接液晶表示パ
ネルに実装する液晶表示装置に関する。
ネルに実装する液晶表示装置に関する。
（ロ）従来の技術 近年、液晶表示装置に於ては、大面積化及び画素の微
細化が進められている。例えば、1984年１月２日発行の
雑誌「日経エレクトロニクス」の記事「文書と画像表示
をねらうフラットパネルディスプレイ」に開示されてい
る様に、大面積化及び画素の微細化が可能なアクティブ
マトリクス型の液晶表示装置が実用化されている。
細化が進められている。例えば、1984年１月２日発行の
雑誌「日経エレクトロニクス」の記事「文書と画像表示
をねらうフラットパネルディスプレイ」に開示されてい
る様に、大面積化及び画素の微細化が可能なアクティブ
マトリクス型の液晶表示装置が実用化されている。
このようなアクティブマトリクス型の液晶表示素子の
大面積化及び画素の微細化に伴って、液晶パネルとこれ
を駆動するための駆動ICとの接続端子が多数必要にな
り、端子接続構造が繁雑になる不都合があった。
大面積化及び画素の微細化に伴って、液晶パネルとこれ
を駆動するための駆動ICとの接続端子が多数必要にな
り、端子接続構造が繁雑になる不都合があった。
この為、液晶セルをなすガラス製の一方の基板に液晶
表示の為の複数の駆動用IC…を直接実装することによっ
て、これらの端子接続構造を省略したチップオンガラス
方式の液晶表示装置が開発されている（特開昭50−1599
93号公報）。
表示の為の複数の駆動用IC…を直接実装することによっ
て、これらの端子接続構造を省略したチップオンガラス
方式の液晶表示装置が開発されている（特開昭50−1599
93号公報）。
第６図にチップオンガラス方式を採用するための液晶
セルの平面図を示す。
セルの平面図を示す。
同図に於て、10はマトリクス配置された各電極毎に薄
膜トランジスタを結合した構成の大面積のTFTアレイ電
極基板、９は対向電極を備えた小面積（表示領域よりや
や広い）の対向電極基板であり、これら両基板９、10間
に液晶が充填されている。
膜トランジスタを結合した構成の大面積のTFTアレイ電
極基板、９は対向電極を備えた小面積（表示領域よりや
や広い）の対向電極基板であり、これら両基板９、10間
に液晶が充填されている。
上記TFTアレイ電極基板10の右下領域に対向電極基板
９が位置し、このTFTアレイ電極基板10の上領域、及び
左領域には夫々表示信号給電用の駆動IC、及び走査信号
給電用の駆動ICが実装される区域が確保されている。即
ち、この場合、TFTアレイ電極基板10の上領域の３区画
夫々には上記駆動ICの出力端子に結合されるべき表示信
号給電端子パッド１、１、１…が備えられ、さらにTFT
アレイ電極基板10の左領域には上記駆動ICの出力端子に
結合されるべき表示信号給電端子パッド５、５、５…が
備えられている。尚、上記TFTアレイ電極基板10の対向
電極基板９のさらに下端領域には、上記表示信号給電端
子パッド１、１、１…につながって液晶セル中を縦断し
てきた表示信号線の端子２、２、２…が配列されて、上
記TFTアレイ電極基板10の対向電極基板９のさらに右端
領域には、上記表示信号給電端子パッド５、５、５…に
つながって液晶セル中を縦断してきた表示信号線の端子
６、６、６…が配列されている。
９が位置し、このTFTアレイ電極基板10の上領域、及び
左領域には夫々表示信号給電用の駆動IC、及び走査信号
給電用の駆動ICが実装される区域が確保されている。即
ち、この場合、TFTアレイ電極基板10の上領域の３区画
夫々には上記駆動ICの出力端子に結合されるべき表示信
号給電端子パッド１、１、１…が備えられ、さらにTFT
アレイ電極基板10の左領域には上記駆動ICの出力端子に
結合されるべき表示信号給電端子パッド５、５、５…が
備えられている。尚、上記TFTアレイ電極基板10の対向
電極基板９のさらに下端領域には、上記表示信号給電端
子パッド１、１、１…につながって液晶セル中を縦断し
てきた表示信号線の端子２、２、２…が配列されて、上
記TFTアレイ電極基板10の対向電極基板９のさらに右端
領域には、上記表示信号給電端子パッド５、５、５…に
つながって液晶セル中を縦断してきた表示信号線の端子
６、６、６…が配列されている。
しかしながらこの様なチップオンガラス方式を採用し
た液晶表示装置に於ては、駆動用ICに不良がなくても液
晶パネルの表示機構に不良がある場合は、パネルばかり
か、このパネルのガラス基板に実装されている複数の良
品の駆動用ICまでも破棄しなければならない。このた
め、この種液晶表示装置の製造コスト高を来し、更には
製造歩留りの低下を招く惧れがあった。
た液晶表示装置に於ては、駆動用ICに不良がなくても液
晶パネルの表示機構に不良がある場合は、パネルばかり
か、このパネルのガラス基板に実装されている複数の良
品の駆動用ICまでも破棄しなければならない。このた
め、この種液晶表示装置の製造コスト高を来し、更には
製造歩留りの低下を招く惧れがあった。
（ハ）発明が解決しようとする課題 本発明は上述の点に鑑みてなされたものであって、駆
動用IC実装前の液晶パネルの表示不良検査を可能とした
液晶表示装置を提供するものである。
動用IC実装前の液晶パネルの表示不良検査を可能とした
液晶表示装置を提供するものである。
（ニ）課題を解決するための手段 本発明の液晶表示装置は、駆動用ICを直接実装するた
めの端子群を表示部周辺領域に備えた画素電極基板と、
前記端子群を短絡し、駆動信号を供給して表示試験を行
うためのダミー配線と、前記端子群及びダミー配線を覆
い、表示試験後に前記各端子間に存在するダミー配線部
分を除去するための開口部を有する絶縁膜とを具備した
ことをその要旨とする。
めの端子群を表示部周辺領域に備えた画素電極基板と、
前記端子群を短絡し、駆動信号を供給して表示試験を行
うためのダミー配線と、前記端子群及びダミー配線を覆
い、表示試験後に前記各端子間に存在するダミー配線部
分を除去するための開口部を有する絶縁膜とを具備した
ことをその要旨とする。
（ホ）作用 本発明によれば、駆動ICを実装する前にダミー配線に
駆動信号を供給して表示試験を行い、該試験後にダミー
配線を排除することにより、駆動用IC実装前の液晶パネ
ルの表示不良検査が可能となる。
駆動信号を供給して表示試験を行い、該試験後にダミー
配線を排除することにより、駆動用IC実装前の液晶パネ
ルの表示不良検査が可能となる。
（ヘ）実施例 本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図及び第２図は本発明の一実施例の液晶表示装置
に用いるパネル基板の平面図であり、駆動用IC実装前の
状態を示している。同図の実施例では、第６図の従来装
置同様に、図示の簡素化のために液晶セルを縦断する９
本の表示信号線とこれを横断する９本の走査信号線とを
備えて81画素を構成するアクティブマトリクス型液晶表
示装置を示している。
に用いるパネル基板の平面図であり、駆動用IC実装前の
状態を示している。同図の実施例では、第６図の従来装
置同様に、図示の簡素化のために液晶セルを縦断する９
本の表示信号線とこれを横断する９本の走査信号線とを
備えて81画素を構成するアクティブマトリクス型液晶表
示装置を示している。
第１図に於て、第６図の従来装置と同様の部分には第
６図と同じ符号を付している。即ち、10はTFTアレイ電
極基板、９は対向電極基板であって、該TFTアレイ電極
基板10には、第６図同様に表示信号給電端子パッド１、
１、１…とこれにつながる表示信号線の端子２、２、２
…と走査信号給電端子パッド５、５、５…とこれにつな
がる走査信号線の端子６、６、６…が備えられている。
６図と同じ符号を付している。即ち、10はTFTアレイ電
極基板、９は対向電極基板であって、該TFTアレイ電極
基板10には、第６図同様に表示信号給電端子パッド１、
１、１…とこれにつながる表示信号線の端子２、２、２
…と走査信号給電端子パッド５、５、５…とこれにつな
がる走査信号線の端子６、６、６…が備えられている。
第１図の本発明の液晶表示装置が第６図の従来装置を
異なるところは、上記TFTアレイ電極基板10を縦断する
表示信号線の下端子２、２、２…上に全ての端子２、
２、２…と結合してこれらを短絡させる為の表示信号ダ
ミー配線３を設けると共に、上記TFTアレイ電極基板10
を縦断する走査信号線の右端子６、６、６上に全ての端
子６、６、６…と結合してこれらを短絡させる為の走査
信号ダミー配線７を設けた点にある。
異なるところは、上記TFTアレイ電極基板10を縦断する
表示信号線の下端子２、２、２…上に全ての端子２、
２、２…と結合してこれらを短絡させる為の表示信号ダ
ミー配線３を設けると共に、上記TFTアレイ電極基板10
を縦断する走査信号線の右端子６、６、６上に全ての端
子６、６、６…と結合してこれらを短絡させる為の走査
信号ダミー配線７を設けた点にある。
即ち、表示信号ダミー配線３はその右端に端子試験パ
ッド４を備え、このパッド４に試験的に供給される表示
信号が全ての表示信号線に印加されることになり、同じ
く走査信号ダミー配線７はその下端に試験パッド８を備
え、このパッド８に試験的に供給される走査信号が全て
の走査信号線に印加され、全画素をON状態とする構成と
なっている。
ッド４を備え、このパッド４に試験的に供給される表示
信号が全ての表示信号線に印加されることになり、同じ
く走査信号ダミー配線７はその下端に試験パッド８を備
え、このパッド８に試験的に供給される走査信号が全て
の走査信号線に印加され、全画素をON状態とする構成と
なっている。
尚、これらダミー配線３、７は、例えば液晶セル組立
て前で、TFTアレイ電極基板10完成後に、該基板10上の
端子２…,6…上に、例えばスクリーン印刷を用いて導電
塗料をパターン塗布することで形成でき、排除はこの導
電塗料の溶剤でパターンを洗い流すことで行われる。
て前で、TFTアレイ電極基板10完成後に、該基板10上の
端子２…,6…上に、例えばスクリーン印刷を用いて導電
塗料をパターン塗布することで形成でき、排除はこの導
電塗料の溶剤でパターンを洗い流すことで行われる。
以上のパネル構成によって、上記TFTアレイ電極基板1
0の表示領域外に駆動用ICを実装する前に、上記表示信
号ダミー配線３の試験パッド４に表示信号を印加すると
共に走査信号ダミー配線７の試験パッド８に走査信号を
印加することによって、全画素に対しての表示試験を行
い、表示不良であるかどうかを検査する。
0の表示領域外に駆動用ICを実装する前に、上記表示信
号ダミー配線３の試験パッド４に表示信号を印加すると
共に走査信号ダミー配線７の試験パッド８に走査信号を
印加することによって、全画素に対しての表示試験を行
い、表示不良であるかどうかを検査する。
この検査に基づき、表示不良と判定された液晶セルは
駆動用IC実装前に破棄あるいは修復工程に回される。
駆動用IC実装前に破棄あるいは修復工程に回される。
この結果、良品の液晶セルに対してのみ上記表示信号
ダミー配線３、走査信号ダミー配線７を排除し、第２図
に示すように駆動用IC11、12を実装する。即ち、第１図
の上記表示信号給電端子パッド１、１、１…に表示信号
駆動用IC11の端子が結合され、さらに走査信号給電端子
パッド５、５、５…に走査信号駆動用IC12が結合され
る。
ダミー配線３、走査信号ダミー配線７を排除し、第２図
に示すように駆動用IC11、12を実装する。即ち、第１図
の上記表示信号給電端子パッド１、１、１…に表示信号
駆動用IC11の端子が結合され、さらに走査信号給電端子
パッド５、５、５…に走査信号駆動用IC12が結合され
る。
本発明の他の実施例装置の駆動用IC実装前の平面図を
第３図に示し、そのＡ−Ａ′線の断面図を第４図に示
す。さらに同装置の駆動用IC実装後の平面図を第５図に
示す。
第３図に示し、そのＡ−Ａ′線の断面図を第４図に示
す。さらに同装置の駆動用IC実装後の平面図を第５図に
示す。
これらの図の本発明装置が第１図及び第２図の本発明
実施例装置と異なるところは、表示信号ダミー配線３を
表示信号線の端子２、２、２…と一体にパターン形成
し、一方走査信号ダミー配線７を走査信号線の端子６、
６、６…と一体にパターン形成した点にある。
実施例装置と異なるところは、表示信号ダミー配線３を
表示信号線の端子２、２、２…と一体にパターン形成
し、一方走査信号ダミー配線７を走査信号線の端子６、
６、６…と一体にパターン形成した点にある。
この場合の走査信号ダミー配線７は、第４図に示す如
く、各走査信号線の端子６、６、６…間の渡り部分のみ
が外気に露出する様に、TFTアレイ電極基板10の表面絶
縁保護膜15に開口14が形成されており、エッチング液中
に走査信号線の端子６、６、６…を浸漬することによっ
て、上記開口14部の走査信号ダミー配線７部分が溶解さ
れる。このことは表示信号ダミー配線３についても同様
である。
く、各走査信号線の端子６、６、６…間の渡り部分のみ
が外気に露出する様に、TFTアレイ電極基板10の表面絶
縁保護膜15に開口14が形成されており、エッチング液中
に走査信号線の端子６、６、６…を浸漬することによっ
て、上記開口14部の走査信号ダミー配線７部分が溶解さ
れる。このことは表示信号ダミー配線３についても同様
である。
従って、表示試験の後に、液晶セルの走査信号ダミー
配線７が存在する右辺部と表示信号ダミー配線３が存在
する下辺部とをエッチング処理するだけで簡単にしかも
確実に両ダミー配線３、７を排除できる。従って、第５
図に示す如く表示信号線の端子２、２、２…及び走査信
号線の端子６、６、６…が夫々独立されたTFTアレイ電
極基板10に必要な数の表示信号駆動用IC11と走査信号駆
動用IC12とができる。
配線７が存在する右辺部と表示信号ダミー配線３が存在
する下辺部とをエッチング処理するだけで簡単にしかも
確実に両ダミー配線３、７を排除できる。従って、第５
図に示す如く表示信号線の端子２、２、２…及び走査信
号線の端子６、６、６…が夫々独立されたTFTアレイ電
極基板10に必要な数の表示信号駆動用IC11と走査信号駆
動用IC12とができる。
以上の各実施例に於ては、ダミー配線３、７の排除方
法として、導電性塗料の洗い流し処理、あるいは選択エ
ッチング処理を例示したが、本発明はこれらの排除処理
に限定されるものでない。例えば、ダミー配線３、７を
レーザービームで切断できる。又、ダミー配線３、７は
そのままでこれに結合されている全端子２、２、２…そ
のものをレーザービームで切除することでも実質的にダ
ミー配線３、７を排除できる。又、レーザービームの代
わりにTFTアレイ電極基板10のガラススクライブによっ
て、ダミー配線３、７が存在する基板端部を基板ごと切
り取ることも可能である。
法として、導電性塗料の洗い流し処理、あるいは選択エ
ッチング処理を例示したが、本発明はこれらの排除処理
に限定されるものでない。例えば、ダミー配線３、７を
レーザービームで切断できる。又、ダミー配線３、７は
そのままでこれに結合されている全端子２、２、２…そ
のものをレーザービームで切除することでも実質的にダ
ミー配線３、７を排除できる。又、レーザービームの代
わりにTFTアレイ電極基板10のガラススクライブによっ
て、ダミー配線３、７が存在する基板端部を基板ごと切
り取ることも可能である。
（ト）発明の効果 本発明の液晶表示装置にあっては、駆動用IC実装前の
液晶パネルの表示試験が可能となる上に、その後のダミ
ー配線の除去作業も簡単に行うことができる。
液晶パネルの表示試験が可能となる上に、その後のダミ
ー配線の除去作業も簡単に行うことができる。
第１図は本発明の液晶表示装置の駆動用IC実装前の一実
施例の平面図、第２図は第１図の本発明装置の駆動用IC
実装状態での平面図、第３図及び第４図は本発明装置の
駆動用IC実装前の他の実施例の平面図及びそのＡ−Ａ′
線の断面図、第５図は第３図の本発明装置の駆動用IC実
装状態の平面図、第６図は従来装置の平面図である。 １……表示信号給電端子パッド、２……表示信号線の端
子、３……表示信号ダミー配線、４……試験パッド、５
……走査信号給電端子パッド、６……走査信号線の端
子、７……走査信号ダミー配線、９……対向電極基板、
10……TFTアレイ電極基板、11……表示信号駆動用IC、1
2……走査信号駆動用IC。
施例の平面図、第２図は第１図の本発明装置の駆動用IC
実装状態での平面図、第３図及び第４図は本発明装置の
駆動用IC実装前の他の実施例の平面図及びそのＡ−Ａ′
線の断面図、第５図は第３図の本発明装置の駆動用IC実
装状態の平面図、第６図は従来装置の平面図である。 １……表示信号給電端子パッド、２……表示信号線の端
子、３……表示信号ダミー配線、４……試験パッド、５
……走査信号給電端子パッド、６……走査信号線の端
子、７……走査信号ダミー配線、９……対向電極基板、
10……TFTアレイ電極基板、11……表示信号駆動用IC、1
2……走査信号駆動用IC。
Claims (1)
- 【請求項１】駆動用ICを直接実装するための端子群を表
示部周辺領域に備えた画素電極基板と、前記端子群を短
絡し、駆動信号を供給して表示試験を行うためのダミー
配線と、前記端子群及びダミー配線を覆い、表示試験後
に前記各端子間に存在するダミー配線部分を除去するた
めの開口部を有する絶縁膜とを具備したことを特徴とす
る液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1244306A JP2865323B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1244306A JP2865323B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03107127A JPH03107127A (ja) | 1991-05-07 |
| JP2865323B2 true JP2865323B2 (ja) | 1999-03-08 |
Family
ID=17116778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1244306A Expired - Fee Related JP2865323B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2865323B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100264236B1 (ko) * | 1992-11-23 | 2000-08-16 | 윤종용 | 액정표시패널 |
| US5467210A (en) * | 1993-02-16 | 1995-11-14 | Casio Computer Co., Ltd. | Arrangement of bonding IC chip to liquid crystal display device |
| US5517344A (en) * | 1994-05-20 | 1996-05-14 | Prime View Hk Limited | System for protection of drive circuits formed on a substrate of a liquid crystal display |
| JP3963974B2 (ja) | 1995-12-20 | 2007-08-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶電気光学装置 |
| KR100462378B1 (ko) * | 1997-12-22 | 2005-06-07 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시소자 및 그의 콘택저항 측정방법 |
| JP2002263950A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-17 | Daido Steel Co Ltd | 長尺材の切断方法および切断装置 |
| WO2007034599A1 (ja) | 2005-09-26 | 2007-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示装置 |
| KR20070103990A (ko) * | 2006-04-21 | 2007-10-25 | 삼성전자주식회사 | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 |
| CN104991358B (zh) * | 2015-07-21 | 2018-07-13 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置 |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP1244306A patent/JP2865323B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03107127A (ja) | 1991-05-07 |
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