JPH05173164A - 液晶表示パネル - Google Patents
液晶表示パネルInfo
- Publication number
- JPH05173164A JPH05173164A JP3343426A JP34342691A JPH05173164A JP H05173164 A JPH05173164 A JP H05173164A JP 3343426 A JP3343426 A JP 3343426A JP 34342691 A JP34342691 A JP 34342691A JP H05173164 A JPH05173164 A JP H05173164A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- display panel
- crystal display
- inspection
- driver
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 表示領域周辺に平行で櫛状の入力端子を持た
ない液晶表示パネルにおいて、ＴＦＴやＭＩＭ等のスイ
ッチング素子の特性及びバスラインの欠陥検査、あるい
は液晶注入後のドライバ実装前の映像表示検査を容易に
行う検査用コンタクト領域を備えた液晶表示パネルを提
供する。 【構成】 表示領域の周辺に、ゲートバスライン及びド
レインバスラインに接続された各ゲート信号配線及びド
レイン信号配線上の一部に、検査用コンタクト領域を設
けた構造である。
ない液晶表示パネルにおいて、ＴＦＴやＭＩＭ等のスイ
ッチング素子の特性及びバスラインの欠陥検査、あるい
は液晶注入後のドライバ実装前の映像表示検査を容易に
行う検査用コンタクト領域を備えた液晶表示パネルを提
供する。 【構成】 表示領域の周辺に、ゲートバスライン及びド
レインバスラインに接続された各ゲート信号配線及びド
レイン信号配線上の一部に、検査用コンタクト領域を設
けた構造である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示パネルに関
し、特に、ドライバＩＣをＣＯＧ方式で実装、あるいは
スイッチング素子形成時に同時形成した液晶表示パネル
に関するものである。
し、特に、ドライバＩＣをＣＯＧ方式で実装、あるいは
スイッチング素子形成時に同時形成した液晶表示パネル
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶表示パネルは、図６に示す如
く、表示パネルの電極基板１上とこの電極基板１に対向
した対極基板２との間に液晶（略）を挟持しており、前
記電極基板１上の行及び列方向のそれぞれの方向に、互
いに平行な櫛歯状の複数の信号入力端子１３をもち、こ
の信号入力端子１３から走査信号と映像信号とを入力す
ることにより表示を得ていた。
く、表示パネルの電極基板１上とこの電極基板１に対向
した対極基板２との間に液晶（略）を挟持しており、前
記電極基板１上の行及び列方向のそれぞれの方向に、互
いに平行な櫛歯状の複数の信号入力端子１３をもち、こ
の信号入力端子１３から走査信号と映像信号とを入力す
ることにより表示を得ていた。
【０００３】この信号入力の手段として、以前はＦＰＣ
（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔＣｉｒｃｕｉｔ）によ
る接続が行われていたが、その後はＴＡＢ（Ｔａｐｅ
Ａｕｔｏｍａｄｅｄ Ｂｏｎｄｉｎｇ）による入力が主
流になっている。
（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔＣｉｒｃｕｉｔ）によ
る接続が行われていたが、その後はＴＡＢ（Ｔａｐｅ
Ａｕｔｏｍａｄｅｄ Ｂｏｎｄｉｎｇ）による入力が主
流になっている。
【０００４】さらに、最近の傾向として、ＣＯＧ（Ｃｈ
ｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）実装と呼ばれる方式が実用化
されてきた。
ｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）実装と呼ばれる方式が実用化
されてきた。
【０００５】ここで、ＣＯＧ実装について説明する。
【０００６】この方式は、液晶表示パネルを駆動させる
信号を供給する各ドライバＩＣ裏面に出ている複数のコ
ンタクト部と、それに対応し、あらかじめガラス基板上
に設けられたコンタクト部とを熱圧着で接続させる方式
である。
信号を供給する各ドライバＩＣ裏面に出ている複数のコ
ンタクト部と、それに対応し、あらかじめガラス基板上
に設けられたコンタクト部とを熱圧着で接続させる方式
である。
【０００７】図７にＣＯＧ実装した液晶表示パネルの平
面図を示し、図８に図７のＡ−Ａ’線に沿った液晶表示
パネルの断面図を示す。
面図を示し、図８に図７のＡ−Ａ’線に沿った液晶表示
パネルの断面図を示す。
【０００８】図７に示す如く、ガラス等の絶縁基板から
なり、その上にＴＦＴ（ＴｈｉｎＦｉｌｍ Ｔｒａｎｓ
ｉｓｔｏｒ）やＭＩＭ（Ｍｅｔａｌ Ｉｎｓｕｌａｔｏ
ｒＭｅｔａｌ）等のスイッチング素子を表示領域３に備
えた電極基板１と、それに対向し電極基板１よりも面積
の小さい対極基板２との間に液晶を挟持した液晶表示パ
ネルにおいて、表示領域３及び対極基板２の周辺の電極
基板１上には、複数のドライバＩＣ１１が信号配線５と
接続されている。図には、模式的に１つのＩＣについて
のみ示した。
なり、その上にＴＦＴ（ＴｈｉｎＦｉｌｍ Ｔｒａｎｓ
ｉｓｔｏｒ）やＭＩＭ（Ｍｅｔａｌ Ｉｎｓｕｌａｔｏ
ｒＭｅｔａｌ）等のスイッチング素子を表示領域３に備
えた電極基板１と、それに対向し電極基板１よりも面積
の小さい対極基板２との間に液晶を挟持した液晶表示パ
ネルにおいて、表示領域３及び対極基板２の周辺の電極
基板１上には、複数のドライバＩＣ１１が信号配線５と
接続されている。図には、模式的に１つのＩＣについて
のみ示した。
【０００９】図８に示す如く、対極基板２の周辺の電極
基板１上にあり、表示領域のドレインバスライン８に接
続された信号配線５の信号入力部１４と、ドライバＩＣ
１１に備えられているバンブ（コンタクト部）１２と
が、熱圧着によって接続されている。
基板１上にあり、表示領域のドレインバスライン８に接
続された信号配線５の信号入力部１４と、ドライバＩＣ
１１に備えられているバンブ（コンタクト部）１２と
が、熱圧着によって接続されている。
【００１０】図９に、図７の点線で囲んだドライバＩＣ
の付近の拡大図を示す。
の付近の拡大図を示す。
【００１１】図９に示す如く、ドライバＩＣ１１は、そ
の１つの面に、ＩＣへの信号入力部分及びＩＣからの信
号出力部分のコンタクト部となるバンブ１２を複数有し
ており、この各バンブ１２は、液晶表示パネルの電極基
板１上の表示領域３のドレインバスライン８に接続され
た信号入力部１４に対応している。ドライバＩＣのバン
ブのある面を下側に向けて、そのバンブに対応した信号
配線上の信号入力部に接続するいわゆるフェイスダウン
方式の熱圧着で接続している。
の１つの面に、ＩＣへの信号入力部分及びＩＣからの信
号出力部分のコンタクト部となるバンブ１２を複数有し
ており、この各バンブ１２は、液晶表示パネルの電極基
板１上の表示領域３のドレインバスライン８に接続され
た信号入力部１４に対応している。ドライバＩＣのバン
ブのある面を下側に向けて、そのバンブに対応した信号
配線上の信号入力部に接続するいわゆるフェイスダウン
方式の熱圧着で接続している。
【００１２】上述の如く、ドライバＩＣを電極基板上に
接続すると、そのＩＣのコンタクト部はＩＣ本体に覆わ
れてしまうので、外部から表面に露出しなくなる。
接続すると、そのＩＣのコンタクト部はＩＣ本体に覆わ
れてしまうので、外部から表面に露出しなくなる。
【００１３】そのため、外部から信号あるいは定電圧を
加えて各種検査を行う場合、不良が発生していても、ド
ライバＩＣ自身の不良なのか、あるいはＩＣと信号配線
とのコンタクト不良なのか、またはバスラインの断線不
良なのかを電気的に調べるためには、圧着したドライバ
ＩＣをわざわざ取り外さなければならないため、大変検
査の効率が悪いという欠点があった。
加えて各種検査を行う場合、不良が発生していても、ド
ライバＩＣ自身の不良なのか、あるいはＩＣと信号配線
とのコンタクト不良なのか、またはバスラインの断線不
良なのかを電気的に調べるためには、圧着したドライバ
ＩＣをわざわざ取り外さなければならないため、大変検
査の効率が悪いという欠点があった。
【００１４】また、何度もドライバＩＣを取り外しする
ことになれば、ドライバＩＣはもちろん、電極基板上の
信号入力部を壊してしまう恐れもあり、品質の低下ある
いはコストの増大を招くこととなる。
ことになれば、ドライバＩＣはもちろん、電極基板上の
信号入力部を壊してしまう恐れもあり、品質の低下ある
いはコストの増大を招くこととなる。
【００１５】また他の配線方式として、Ｐ−Ｓｉ（多結
晶シリコン）など移動度の大きい半導体材料で作られる
パネルにおいて、直接ガラス基板上にドライバＩＣをス
イッチング素子等と同時に形成する同時形成方式のもの
もあるが、この場合も上述のＣＯＧ方式と同様の欠点が
あった。
晶シリコン）など移動度の大きい半導体材料で作られる
パネルにおいて、直接ガラス基板上にドライバＩＣをス
イッチング素子等と同時に形成する同時形成方式のもの
もあるが、この場合も上述のＣＯＧ方式と同様の欠点が
あった。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の液晶表示パネ
ルは、上述の欠点に鑑みてなされたものであり、検査用
信号入力のための信号配線上に露出した検査用コンタク
ト領域を備えているため、この露出部分から液晶表示パ
ネルに外部からの信号を加え、表示領域における各バス
ラインの断線、ショ−ト検査やドライバＩＣ実装前の映
像確認検査を可能とするものである。
ルは、上述の欠点に鑑みてなされたものであり、検査用
信号入力のための信号配線上に露出した検査用コンタク
ト領域を備えているため、この露出部分から液晶表示パ
ネルに外部からの信号を加え、表示領域における各バス
ラインの断線、ショ−ト検査やドライバＩＣ実装前の映
像確認検査を可能とするものである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、絶縁基板上に表示電極をマトリクス状に配置したパ
ネルの表示領域周辺に、信号配線と、該信号配線に駆動
信号を供給するドライバＩＣとを備えた液晶表示パネル
において、前記表示領域の周辺に配線された信号配線
に、露出した検査用コンタクト領域を設けたものであ
る。
は、絶縁基板上に表示電極をマトリクス状に配置したパ
ネルの表示領域周辺に、信号配線と、該信号配線に駆動
信号を供給するドライバＩＣとを備えた液晶表示パネル
において、前記表示領域の周辺に配線された信号配線
に、露出した検査用コンタクト領域を設けたものであ
る。
【００１８】また、前記液晶表示パネルにおいて、前記
検査用コンタクト領域が、前記表示領域の周辺に配線さ
れた信号配線の両端に設けられているものである。
検査用コンタクト領域が、前記表示領域の周辺に配線さ
れた信号配線の両端に設けられているものである。
【００１９】さらに、前記液晶表示パネルにおいて、前
記検査用コンタクト領域が、前記表示領域と前記ドライ
バＩＣとの間の信号配線に設けられているものである。
記検査用コンタクト領域が、前記表示領域と前記ドライ
バＩＣとの間の信号配線に設けられているものである。
【００２０】さらにまた、前記液晶表示パネルにおい
て、前記検査用コンタクト領域が、前記信号配線の幅よ
りも大きい幅であるものである。
て、前記検査用コンタクト領域が、前記信号配線の幅よ
りも大きい幅であるものである。
【００２１】そのうえ、前記液晶表示パネルにおいて、
奇数番目の信号配線に設けた前記検査用コンタクト領域
は前記表示領域に近い位置にあり、他方の偶数番目の信
号配線に設けた前記検査用コンタクト領域は前記ドライ
バＩＣに近い位置にあるものである。
奇数番目の信号配線に設けた前記検査用コンタクト領域
は前記表示領域に近い位置にあり、他方の偶数番目の信
号配線に設けた前記検査用コンタクト領域は前記ドライ
バＩＣに近い位置にあるものである。
【００２２】
【作用】本発明によれば、表示領域のゲートバスライン
及びドレインバスラインに接続された信号配線の一部に
検査用コンタクト領域を設けることによって、ＣＯＧ実
装方式等のように信号配線とのコンタクト部が見えない
実装方式においても、前記両バスラインの断線及びショ
ート検査並びにドライバ実装前の映像確認検査を行うこ
とができる。
及びドレインバスラインに接続された信号配線の一部に
検査用コンタクト領域を設けることによって、ＣＯＧ実
装方式等のように信号配線とのコンタクト部が見えない
実装方式においても、前記両バスラインの断線及びショ
ート検査並びにドライバ実装前の映像確認検査を行うこ
とができる。
【００２３】
【実施例】以下に本発明をＣＯＧ実装方式に用いた実施
例を図に従って説明する。
例を図に従って説明する。
【００２４】図１に本発明の液晶表示パネルの外観図を
示し、図２に図１のＡ−Ａ’線に沿った断面図を示す。
示し、図２に図１のＡ−Ａ’線に沿った断面図を示す。
【００２５】図１に示す如く、ガラス等の絶縁基板から
なり、その上にＴＦＴ（ＴｈｉｎＦｉｌｍ Ｔｒａｎｓ
ｉｓｔｏｒ）やＭＩＭ（Ｍｅｔａｌ Ｉｎｓｕｌａｔｏ
ｒＭｅｔａｌ）等のスイッチング素子を表示領域３に備
えた電極基板１と、それに対向し電極基板１よりも面積
の小さい対極基板２との間に液晶（略）を挟持した液晶
表示パネルに、対極基板２の周辺の電極基板１上にある
配線領域４の信号配線５上に開口部６を設ける。その開
口部６には、表示領域３内の各ゲートバスライン７及び
各ドレインバスライン８に接続された検査用コンタクト
領域９を備えている。また開口部６の周辺には、ドライ
バＩＣ１１が配置されている。
なり、その上にＴＦＴ（ＴｈｉｎＦｉｌｍ Ｔｒａｎｓ
ｉｓｔｏｒ）やＭＩＭ（Ｍｅｔａｌ Ｉｎｓｕｌａｔｏ
ｒＭｅｔａｌ）等のスイッチング素子を表示領域３に備
えた電極基板１と、それに対向し電極基板１よりも面積
の小さい対極基板２との間に液晶（略）を挟持した液晶
表示パネルに、対極基板２の周辺の電極基板１上にある
配線領域４の信号配線５上に開口部６を設ける。その開
口部６には、表示領域３内の各ゲートバスライン７及び
各ドレインバスライン８に接続された検査用コンタクト
領域９を備えている。また開口部６の周辺には、ドライ
バＩＣ１１が配置されている。
【００２６】なお図中には、各バスラインは紙面の都合
上、十数本しか記載していないが、実際はいずれのバス
ラインとも数百本乃至千数百本程度である。
上、十数本しか記載していないが、実際はいずれのバス
ラインとも数百本乃至千数百本程度である。
【００２７】図２に示す如く、ガラス基板上の配線領域
４に信号配線５（図の場合ドレイン信号配線）を設け、
この信号配線５を絶縁膜１０で覆うが、表示領域周辺の
ドライバＩＣ１１と対極基板２との間の領域で、しかも
ゲート信号配線及びドレイン信号配線の各配線５上の一
部に、絶縁膜１０を除去して開口部６を設ける。そこか
ら前記検査用コンタクト領域９が露出している。
４に信号配線５（図の場合ドレイン信号配線）を設け、
この信号配線５を絶縁膜１０で覆うが、表示領域周辺の
ドライバＩＣ１１と対極基板２との間の領域で、しかも
ゲート信号配線及びドレイン信号配線の各配線５上の一
部に、絶縁膜１０を除去して開口部６を設ける。そこか
ら前記検査用コンタクト領域９が露出している。
【００２８】ドライバＩＣ１１は、配線領域４に絶縁膜
１０を除去した信号入力部１４に熱圧着で接続される。
１０を除去した信号入力部１４に熱圧着で接続される。
【００２９】ここで、検査用コンタクト領域の構造につ
いて説明する。
いて説明する。
【００３０】図３に、図１のＢ−Ｂ’線（ドレイン側）
に沿った検査用コンタクト領域の断面図を示し、図４
に、図１のＣ−Ｃ’線（ゲート側）に沿った検査用コン
タクト領域の断面図を示す。
に沿った検査用コンタクト領域の断面図を示し、図４
に、図１のＣ−Ｃ’線（ゲート側）に沿った検査用コン
タクト領域の断面図を示す。
【００３１】また、図５に、検査用コンタクト領域を拡
大した平面図を示す。
大した平面図を示す。
【００３２】図３及び図４に示す如く、検査用コンタク
ト領域９は、ゲート信号配線及びドレイン信号配線の各
信号配線５上の一部に接続しており、前記信号配線５上
の絶縁膜１０を除去した開口部６に設けられている。ま
た、互いに隣接する検査用コンタクト領域９同志が接触
することを防止するために、隣接する信号配線ごとに検
査用コンタクト領域９を設ける範囲内で、ある信号配線
の検査用コンタクト領域９は表示領域側に設け、それに
隣接する信号配線の検査用コンタクト領域９はドライバ
ＩＣ側に設ける。即ち、隣接する信号配線上の検査用コ
ンタクト領域９は互い違いの位置に設けられている。
ト領域９は、ゲート信号配線及びドレイン信号配線の各
信号配線５上の一部に接続しており、前記信号配線５上
の絶縁膜１０を除去した開口部６に設けられている。ま
た、互いに隣接する検査用コンタクト領域９同志が接触
することを防止するために、隣接する信号配線ごとに検
査用コンタクト領域９を設ける範囲内で、ある信号配線
の検査用コンタクト領域９は表示領域側に設け、それに
隣接する信号配線の検査用コンタクト領域９はドライバ
ＩＣ側に設ける。即ち、隣接する信号配線上の検査用コ
ンタクト領域９は互い違いの位置に設けられている。
【００３３】検査用コンタクト領域９の形状は、本実施
例では茸状にしているが、茸の傘の部分がないもの、あ
るいは、プローブカード等のコンタクトが多少困難にな
るが絶縁膜を除去した開口部のみで信号配線だけが露出
しているものでもよい。
例では茸状にしているが、茸の傘の部分がないもの、あ
るいは、プローブカード等のコンタクトが多少困難にな
るが絶縁膜を除去した開口部のみで信号配線だけが露出
しているものでもよい。
【００３４】また本実施例において、前記検査用コンタ
クト領域９を、１つのバスラインに対してその両端にそ
れぞれ１つずつ設けた場合を示したが、いずれか一方だ
けでもよい。
クト領域９を、１つのバスラインに対してその両端にそ
れぞれ１つずつ設けた場合を示したが、いずれか一方だ
けでもよい。
【００３５】図５に示す如く、この開口部６に設けた検
査用コンタクト領域９は、表示領域３のゲートバスライ
ン７とドレインバスライン８に接続されており、各検査
用コンタクト領域９間のピッチは画素ピッチと同じであ
り、また図３及び図４で説明した如く、隣接する信号配
線上の検査用コンタクト領域９は互い違いの位置に設け
られている。
査用コンタクト領域９は、表示領域３のゲートバスライ
ン７とドレインバスライン８に接続されており、各検査
用コンタクト領域９間のピッチは画素ピッチと同じであ
り、また図３及び図４で説明した如く、隣接する信号配
線上の検査用コンタクト領域９は互い違いの位置に設け
られている。
【００３６】この検査用コンタクト領域９の大きさは、
２００μｍ×１００μｍ程度であり、信号配線の幅より
も大きい幅であるが、検査用コンタクト領域９の大きさ
は、液晶表示パネルの画素の大きさや画素数に応じて変
わるものである。
２００μｍ×１００μｍ程度であり、信号配線の幅より
も大きい幅であるが、検査用コンタクト領域９の大きさ
は、液晶表示パネルの画素の大きさや画素数に応じて変
わるものである。
【００３７】ＣＯＧ実装方式では、ガラス基板上のドラ
イバＩＣとのコンタクト部は、ドライバＩＣの直下にな
るため、外部からプローブカード等を用いてコンタクト
させることができない。
イバＩＣとのコンタクト部は、ドライバＩＣの直下にな
るため、外部からプローブカード等を用いてコンタクト
させることができない。
【００３８】しかしながら、本発明の液晶表示パネルに
よれば、外部からプローブカード等を用いて検査用コン
タクト領域にコンタクトさせることができるので、ＣＯ
Ｇ実装方式であっても、液晶注入前の表示領域のバスラ
インの断線やショートの欠陥検査が容易にできる。
よれば、外部からプローブカード等を用いて検査用コン
タクト領域にコンタクトさせることができるので、ＣＯ
Ｇ実装方式であっても、液晶注入前の表示領域のバスラ
インの断線やショートの欠陥検査が容易にできる。
【００３９】また、液晶注入後のドライバＩＣを実装す
る前の映像表示検査も容易にできるため、ドライバＩＣ
を実装する以前に液晶表示パネルの良否が判定できる。
る前の映像表示検査も容易にできるため、ドライバＩＣ
を実装する以前に液晶表示パネルの良否が判定できる。
【００４０】上述の実施例では、ＣＯＧ実装方式の場合
について説明したが、さらに本発明は、直接ガラス基板
上にドライバＩＣをパネルと同時形成する方式について
も、信号配線が露出していないタイプの方式であるた
め、ＣＯＧ方式と同様に採用が可能である。
について説明したが、さらに本発明は、直接ガラス基板
上にドライバＩＣをパネルと同時形成する方式について
も、信号配線が露出していないタイプの方式であるた
め、ＣＯＧ方式と同様に採用が可能である。
【００４１】
【発明の効果】以上に詳述した如く、本発明によれば、
表示領域におけるバスラインの断線ショート検査を行う
ことにより、スイッチング素子を備えた基板作製工程が
終了した時点でデバイスの良否が判定できる。さらに、
ドライバＩＣ実装前の映像確認検査を行うことにより、
ドライバＩＣを実装する以前に液晶パネルの良否が判定
できるため、工程の効率化及びコストの低減が図れる。
表示領域におけるバスラインの断線ショート検査を行う
ことにより、スイッチング素子を備えた基板作製工程が
終了した時点でデバイスの良否が判定できる。さらに、
ドライバＩＣ実装前の映像確認検査を行うことにより、
ドライバＩＣを実装する以前に液晶パネルの良否が判定
できるため、工程の効率化及びコストの低減が図れる。
【図１】本発明による液晶表示パネルの平面図である。
【図２】本発明による液晶表示パネルの断面図である。
【図３】本発明による検査用コンタクト領域の拡大断面
図である。
図である。
【図４】本発明による検査用コンタクト領域の拡大断面
図である。
図である。
【図５】本発明による検査用コンタクト領域の拡大平面
図である。
図である。
【図６】従来の液晶表示パネルの平面図である。
【図７】従来のＣＯＧ実装方式を施した液晶表示パネル
の平面図である。
の平面図である。
【図８】従来のＣＯＧ実装方式を施した液晶表示パネル
の断面図である。
の断面図である。
【図９】液晶表示パネルのドライバＩＣ部の拡大平面図
である。
である。
１ 電極基板 ２ 対極基板 ３ 表示領域 ４ 配線領域 ５ 信号配線 ６ 開口部 ７ ゲートバスライン ８ ドレインバスライン ９ 検査用コンタクト領域 １０ 絶縁膜 １１ ドライバＩＣ １２ バンブ １３ 信号入力端子 １４ 信号入力部
Claims (5)
- 【請求項１】 絶縁基板上に表示電極をマトリクス状に
配置したパネルの表示領域周辺に、信号配線と、該信号
配線に駆動信号を供給するドライバＩＣとを備えた液晶
表示パネルにおいて、前記表示領域の周辺に配線された
信号配線に、露出した検査用コンタクト領域を設けたこ
とを特徴とする液晶表示パネル。 - 【請求項２】 請求項１の液晶表示パネルにおいて、前
記検査用コンタクト領域が、前記表示領域の周辺に配線
された信号配線の両端に設けられていることを特徴とす
る液晶表示パネル。 - 【請求項３】 請求項１及び２の液晶表示パネルにおい
て、前記検査用コンタクト領域が、前記表示領域と前記
ドライバＩＣとの間の信号配線に設けられていることを
特徴とする液晶表示パネル。 - 【請求項４】 請求項１及び２の液晶表示パネルにおい
て、前記検査用コンタクト領域が、前記信号配線の幅よ
りも大きい幅であることを特徴とする液晶表示パネル。 - 【請求項５】 請求項１及び２の液晶表示パネルにおい
て、奇数番目の信号配線に設けた前記検査用コンタクト
領域は前記表示領域に近い位置にあり、他方の偶数番目
の信号配線に設けた前記検査用コンタクト領域は前記ド
ライバＩＣに近い位置にあることを特徴とする液晶表示
パネル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3343426A JPH05173164A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | 液晶表示パネル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3343426A JPH05173164A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | 液晶表示パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05173164A true JPH05173164A (ja) | 1993-07-13 |
Family
ID=18361426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3343426A Pending JPH05173164A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | 液晶表示パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05173164A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06230749A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | G T C:Kk | 液晶ディスプレイ |
| WO1997032235A1 (fr) * | 1996-02-29 | 1997-09-04 | Citizen Watch Co., Ltd. | Structure d'electrodes de dispositif a cristaux liquides |
| JP2006038988A (ja) * | 2004-07-23 | 2006-02-09 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器、および実装構造体 |
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