JP2801746B2 - 光情報記録再生装置及び二重回折格子 - Google Patents
光情報記録再生装置及び二重回折格子Info
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- JP2801746B2 JP2801746B2 JP2172964A JP17296490A JP2801746B2 JP 2801746 B2 JP2801746 B2 JP 2801746B2 JP 2172964 A JP2172964 A JP 2172964A JP 17296490 A JP17296490 A JP 17296490A JP 2801746 B2 JP2801746 B2 JP 2801746B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光情報記録媒体を用いて情報の記録等を行
うと共に、トラッキングサーボやフォーカスサーボを行
う光情報記録再生装置及び二重回折格子に関する。
うと共に、トラッキングサーボやフォーカスサーボを行
う光情報記録再生装置及び二重回折格子に関する。
従来の技術 従来、光情報記録再生装置において、光の光束分離手
段に回折格子を用いたものとしては、まず、第一の従来
例として特開昭61−230634号公報に開示されているもの
がある。すなわち、第36図に示すように、半導体レーザ
1から出射されたレーザ光はコリメートレンズ2で平行
化され、偏光ビームスプリッタ3に入射する。この場
合、その入射光の偏光方向は偏光ビームスプリッタ3の
溝と平行方向の状態となるようにしてあるため、回折し
て1/4波長板4に入射し円偏光波となり、対物レンズ5
により集光され光情報記録媒体としての光ディスク6に
照射され、これにより情報の記録等が行われる。また、
その光ディスク6からの反射光は前記1/4波長板4で直
線偏光波に変換され、これにより偏光ビームスプリッタ
3を透過して信号検出光学系7に導かれ臨界角回折格子
8に入射する。この場合、その入射光は2回の臨界角回
折と全反射を生じ回折光となって4分割された受光素子
9に入射し、これによりそれら分割された受光素子9で
検出されることにより情報の再生や、フォーカスエラー
信号、トラックエラー信号の検出が行われる。
段に回折格子を用いたものとしては、まず、第一の従来
例として特開昭61−230634号公報に開示されているもの
がある。すなわち、第36図に示すように、半導体レーザ
1から出射されたレーザ光はコリメートレンズ2で平行
化され、偏光ビームスプリッタ3に入射する。この場
合、その入射光の偏光方向は偏光ビームスプリッタ3の
溝と平行方向の状態となるようにしてあるため、回折し
て1/4波長板4に入射し円偏光波となり、対物レンズ5
により集光され光情報記録媒体としての光ディスク6に
照射され、これにより情報の記録等が行われる。また、
その光ディスク6からの反射光は前記1/4波長板4で直
線偏光波に変換され、これにより偏光ビームスプリッタ
3を透過して信号検出光学系7に導かれ臨界角回折格子
8に入射する。この場合、その入射光は2回の臨界角回
折と全反射を生じ回折光となって4分割された受光素子
9に入射し、これによりそれら分割された受光素子9で
検出されることにより情報の再生や、フォーカスエラー
信号、トラックエラー信号の検出が行われる。
次に、第二の従来例として、第37図に示すように、デ
ュアル型回折格子10を用いたものがある。すなわち、半
導体レーザ11からの出射光はコリメートレンズ12により
平行化された後、2枚の整形プリズム13を介して、ビー
ムスプリッタ14により反射された対物レンズ15により集
光され光磁気ディスク16に照射されることにより情報の
記録等が行われる。また、この光磁気ディスク16からの
反射光は、前記ビームスプリッタ14を透過して信号検出
光学系17に導かれ、集光レンズ18により集光されデュア
ル型回折格子10の両面に形成された回折格子10aを透過
又は回折する。このうち、透過してそのまま直進した0
次光Tは4分割受光素子19aに導かれ、一方、回折され
た1次光Kは2分割受光素子19bに導かれる。これによ
り、再生信号となる光磁気信号は0次光Tと1次光Kと
の光量差により検出され、また、フォーカスエラー信号
は非点収差法により0次光Tを用いて検出され、トラッ
クエラー信号はプシュプル法等により1次光Kを用いて
検出される。
ュアル型回折格子10を用いたものがある。すなわち、半
導体レーザ11からの出射光はコリメートレンズ12により
平行化された後、2枚の整形プリズム13を介して、ビー
ムスプリッタ14により反射された対物レンズ15により集
光され光磁気ディスク16に照射されることにより情報の
記録等が行われる。また、この光磁気ディスク16からの
反射光は、前記ビームスプリッタ14を透過して信号検出
光学系17に導かれ、集光レンズ18により集光されデュア
ル型回折格子10の両面に形成された回折格子10aを透過
又は回折する。このうち、透過してそのまま直進した0
次光Tは4分割受光素子19aに導かれ、一方、回折され
た1次光Kは2分割受光素子19bに導かれる。これによ
り、再生信号となる光磁気信号は0次光Tと1次光Kと
の光量差により検出され、また、フォーカスエラー信号
は非点収差法により0次光Tを用いて検出され、トラッ
クエラー信号はプシュプル法等により1次光Kを用いて
検出される。
次に、第三の従来例について説明する。レーザ光源と
しての半導体レーザから出射された光は、コリメートレ
ンズにより平行化された後、その平行光は光路分離手段
により反射され、対物レンズにより集光されて光情報記
録媒体としての光磁気ディスクの表面に照射され、これ
により情報の記録が行われる。また、その光磁気ディス
クからの反射光は、光路分離手段を通過して信号検出光
学系内に導かれ受光素子に検出され、これにより情報の
再生や、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の
検出を行っている。
しての半導体レーザから出射された光は、コリメートレ
ンズにより平行化された後、その平行光は光路分離手段
により反射され、対物レンズにより集光されて光情報記
録媒体としての光磁気ディスクの表面に照射され、これ
により情報の記録が行われる。また、その光磁気ディス
クからの反射光は、光路分離手段を通過して信号検出光
学系内に導かれ受光素子に検出され、これにより情報の
再生や、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の
検出を行っている。
第四の従来例を第38図に基づいて説明する。半導体レ
ーザ20から出射した光は、光束分離素子21の一面に形成
された回折格子22により反射され、コリメートレンズ23
により平行化された後、対物レンズ24により集光されて
光磁気ディスク25の表面に照射され、これにより情報の
記録が行われる。また、光磁気ディスク25からの反射光
は、対物レンズ24、コリメートレンズ23を順次透過した
後、光束分離素子21の回折格子22を透過することにより
0次光Tと1次光Kとに分離され、その裏面に形成され
た全反射面26により反射された後、再び、回折格子22を
透過して外部に出射される。これにより0次光Tと1次
光Kとは互いに光路長が異なる状態とされ、半導体レー
ザ20と同一面内に配設された2個の受光素子27にそれぞ
れ導かれることによって各種信号の検出を行うことがで
きる。
ーザ20から出射した光は、光束分離素子21の一面に形成
された回折格子22により反射され、コリメートレンズ23
により平行化された後、対物レンズ24により集光されて
光磁気ディスク25の表面に照射され、これにより情報の
記録が行われる。また、光磁気ディスク25からの反射光
は、対物レンズ24、コリメートレンズ23を順次透過した
後、光束分離素子21の回折格子22を透過することにより
0次光Tと1次光Kとに分離され、その裏面に形成され
た全反射面26により反射された後、再び、回折格子22を
透過して外部に出射される。これにより0次光Tと1次
光Kとは互いに光路長が異なる状態とされ、半導体レー
ザ20と同一面内に配設された2個の受光素子27にそれぞ
れ導かれることによって各種信号の検出を行うことがで
きる。
発明が解決しようとする課題 まず、第一の問題点について述べる。第36図に示すよ
うな第一の従来例の場合、光情報記録媒体に追記型の光
ディスクやCDを適用することは可能であるが、光磁気信
号の検出機能がないので、書換え可能な光ディスクヘッ
ドとしては使用することができない。
うな第一の従来例の場合、光情報記録媒体に追記型の光
ディスクやCDを適用することは可能であるが、光磁気信
号の検出機能がないので、書換え可能な光ディスクヘッ
ドとしては使用することができない。
次に、第二の問題点について述べる。第37図に示すよ
うな第二の従来例の場合、デュアル型回折格子を用いて
おりこれを通過して形成された0次光Tと1次光Kの出
射方向をほぼ同一方向に向けることができるため、信号
検出光学系17のある程度のスペースの省略化を図ること
は可能であるが、しかし、装置全体としてみた場合、ビ
ームスプリッタ14や集光レンズ18等の光学部品が残り十
分な小型化、軽量化を図ることができないという問題が
ある。
うな第二の従来例の場合、デュアル型回折格子を用いて
おりこれを通過して形成された0次光Tと1次光Kの出
射方向をほぼ同一方向に向けることができるため、信号
検出光学系17のある程度のスペースの省略化を図ること
は可能であるが、しかし、装置全体としてみた場合、ビ
ームスプリッタ14や集光レンズ18等の光学部品が残り十
分な小型化、軽量化を図ることができないという問題が
ある。
次に、第三の問題点について述べる。第三の従来例の
場合、レーザ光源から出射された出射光と光磁気ディス
クからの反射光との光束を分離するために、光路分離手
段を用いている。この光束分離手段としては、一般的に
ビームスプリッタ等のプリズムを用いたものが多い。し
かし、近年、アクセス時間の短縮を図るために、光ピッ
クアップ光学系の小型、軽量化が重要な課題となってき
ている。このような課題を解決するための一つの手段と
して、前述したような光束分離手段として、表裏両面に
回折格子の形成されたデュアル回折格子を用いたものが
ある。このデュアル回折格子を用いることにより、光ピ
ックアップ光学系全体の部品点数の削減やスペースの省
略化を図り、シーク移動の高速化を図っている。
場合、レーザ光源から出射された出射光と光磁気ディス
クからの反射光との光束を分離するために、光路分離手
段を用いている。この光束分離手段としては、一般的に
ビームスプリッタ等のプリズムを用いたものが多い。し
かし、近年、アクセス時間の短縮を図るために、光ピッ
クアップ光学系の小型、軽量化が重要な課題となってき
ている。このような課題を解決するための一つの手段と
して、前述したような光束分離手段として、表裏両面に
回折格子の形成されたデュアル回折格子を用いたものが
ある。このデュアル回折格子を用いることにより、光ピ
ックアップ光学系全体の部品点数の削減やスペースの省
略化を図り、シーク移動の高速化を図っている。
しかし、そのようなデュアル型回折格子に形成される
回折格子は、その性質上、波長変動の影響を受けやす
く、しかも、その回折格子の形成された面が脆く格子形
状がくずれやすい。このためそのような回折格子を用い
ることにより、反射、透過、回折した波面の精度が劣化
して集光スポットが大きくなり、その結果、正確な情報
の記録、再生等を行うことができないという問題が生じ
る。
回折格子は、その性質上、波長変動の影響を受けやす
く、しかも、その回折格子の形成された面が脆く格子形
状がくずれやすい。このためそのような回折格子を用い
ることにより、反射、透過、回折した波面の精度が劣化
して集光スポットが大きくなり、その結果、正確な情報
の記録、再生等を行うことができないという問題が生じ
る。
次に、第四の問題点について述べる。第37図に示すよ
うな第二の従来例の場合、光学系全体のレイアウトが、
出射光学系Aと信号検出光学系Bとに分けられているた
め全体として部品点数が多くなり、その結果コストがか
かるという問題がある。
うな第二の従来例の場合、光学系全体のレイアウトが、
出射光学系Aと信号検出光学系Bとに分けられているた
め全体として部品点数が多くなり、その結果コストがか
かるという問題がある。
次に、第五の問題点について述べる。第38図に示すよ
うな第四の従来例の場合、半導体レーザ20と受光素子27
とを一体化しており、しかも、1枚の回折格子22で、2
枚の回折格子の場合と同じように波長変動に対して回折
角変動が小さくなるようになっている。しかし、光磁気
ディスク25への照射光とその光磁気ディスク25からの反
射光との分離が光路分離素子21の基板28の板厚によって
決まるため、発光点と受光点の間隔やフォーカス感度に
対して設計の自由度が狭くなり、しかも、調整、組付
け、作製がきびしくなるという問題がある。また、この
場合、回折格子22表面の反射により光利用効率が低下す
るという問題がある。
うな第四の従来例の場合、半導体レーザ20と受光素子27
とを一体化しており、しかも、1枚の回折格子22で、2
枚の回折格子の場合と同じように波長変動に対して回折
角変動が小さくなるようになっている。しかし、光磁気
ディスク25への照射光とその光磁気ディスク25からの反
射光との分離が光路分離素子21の基板28の板厚によって
決まるため、発光点と受光点の間隔やフォーカス感度に
対して設計の自由度が狭くなり、しかも、調整、組付
け、作製がきびしくなるという問題がある。また、この
場合、回折格子22表面の反射により光利用効率が低下す
るという問題がある。
次に、第六の問題点について述べる。第38図に示すよ
うな第四の従来例の場合、回折格子22と全反射面26とを
有する光束分離素子21を配設したことにより、光学系の
部品点数が削減され、スペースの省略化を図ることがで
きる。しかし、この場合、透過光T及び回折光Kを検出
する2個の受光素子27は、半導体レーザ20を挟んだ両側
の位置に配設された形で1つの基板上に実装されてい
る。このためその実装の際に、それら2つの受光素子27
と半導体レーザ20との位置決め、すなわち、微調整を行
うことに困難を極める。また、この場合、半導体レーザ
20と受光素子27とは実装基板29からの距離が異なるた
め、別個に高さ調整用の装置が必要となる。このように
受光素子27は、半導体レーザ20を挟んだ両側に配置され
ているため、その組付け調整が面倒で手間がかかるとい
う問題がある。
うな第四の従来例の場合、回折格子22と全反射面26とを
有する光束分離素子21を配設したことにより、光学系の
部品点数が削減され、スペースの省略化を図ることがで
きる。しかし、この場合、透過光T及び回折光Kを検出
する2個の受光素子27は、半導体レーザ20を挟んだ両側
の位置に配設された形で1つの基板上に実装されてい
る。このためその実装の際に、それら2つの受光素子27
と半導体レーザ20との位置決め、すなわち、微調整を行
うことに困難を極める。また、この場合、半導体レーザ
20と受光素子27とは実装基板29からの距離が異なるた
め、別個に高さ調整用の装置が必要となる。このように
受光素子27は、半導体レーザ20を挟んだ両側に配置され
ているため、その組付け調整が面倒で手間がかかるとい
う問題がある。
課題を解決するための手段 請求項1記載の発明では、レーザ光源から出射された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反
射光を検出することにより情報用の再生信号やトラック
エラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報
記録再生装置において、前記レーザ光源より出射された
出射光が前記対物レンズに向かう間の光路上に半反射膜
を有する第一回折部材を設け、前記光情報記録媒体から
の反射光が前記第一回折部材を通過した光路上に第二回
折部材を配設し、前記第一回折部材と前記第二回折部材
とを通過することにより分離して得られた透過光と回折
光とをそれぞれ検出する受光素子を設けた。
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反
射光を検出することにより情報用の再生信号やトラック
エラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報
記録再生装置において、前記レーザ光源より出射された
出射光が前記対物レンズに向かう間の光路上に半反射膜
を有する第一回折部材を設け、前記光情報記録媒体から
の反射光が前記第一回折部材を通過した光路上に第二回
折部材を配設し、前記第一回折部材と前記第二回折部材
とを通過することにより分離して得られた透過光と回折
光とをそれぞれ検出する受光素子を設けた。
請求項2記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化し、この平行化され
た光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射
し情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの
反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラッ
クエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情
報記録再生装置において、前記レーザ光源から出射され
た光の光路側に位置する面に入射した光の一部を反射さ
せる半反射膜を有する表面回折格子が形成されこの面と
相対する側の面に裏面回折格子の形成された光束分離手
段を設け、前記裏面回折格子の形成された側の光路上に
前記受光素子を配設した。
光をコリメートレンズにより平行化し、この平行化され
た光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射
し情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの
反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラッ
クエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情
報記録再生装置において、前記レーザ光源から出射され
た光の光路側に位置する面に入射した光の一部を反射さ
せる半反射膜を有する表面回折格子が形成されこの面と
相対する側の面に裏面回折格子の形成された光束分離手
段を設け、前記裏面回折格子の形成された側の光路上に
前記受光素子を配設した。
請求項3記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化し、この平行化され
た光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射
して情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体から
の反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラ
ックエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光
情報記録再生装置において、前記レーザ光源から出射さ
れた光の光路側に位置する面に入射した光の一部を反射
させる半反射膜を有する回折格子が形成されこの面と相
対する側の面に全反射面の形成された光束分離手段を設
け、前記レーザ光源の設けられた側の光路上に前記受光
素子を配設した。
光をコリメートレンズにより平行化し、この平行化され
た光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射
して情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体から
の反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラ
ックエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光
情報記録再生装置において、前記レーザ光源から出射さ
れた光の光路側に位置する面に入射した光の一部を反射
させる半反射膜を有する回折格子が形成されこの面と相
対する側の面に全反射面の形成された光束分離手段を設
け、前記レーザ光源の設けられた側の光路上に前記受光
素子を配設した。
請求項4記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化し、その平行光を対
物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射すること
により情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体か
らの反射光を信号検出光学系内の受光素子に導くことに
より情報の再生や、フォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前
記レーザ光源から出射された光の光路上に、片面に第一
回折部材の形成された半反射性の第一基板とこの第一基
板の前記第一回折部材の形成された側の面とスペーサを
介して対向配置された側の面に第二回折部材の形成され
た透過性の第二基板とよりなる二重回折格子素子を配設
した。
光をコリメートレンズにより平行化し、その平行光を対
物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射すること
により情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体か
らの反射光を信号検出光学系内の受光素子に導くことに
より情報の再生や、フォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前
記レーザ光源から出射された光の光路上に、片面に第一
回折部材の形成された半反射性の第一基板とこの第一基
板の前記第一回折部材の形成された側の面とスペーサを
介して対向配置された側の面に第二回折部材の形成され
た透過性の第二基板とよりなる二重回折格子素子を配設
した。
請求項5記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射することにより
情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反
射光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フ
ォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上にくさび状をなす非平行基板の一面に半反射膜
を有する回折格子が形成され他面に全反射面が形成され
た光束分離手段を配設し、この光束分離手段により反射
された光が前記コリメートレンズを透過した前記レーザ
光源側の光路上に前記光情報記録媒体からの反射光を検
出する2個の受光素子を配設した。
光をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射することにより
情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反
射光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フ
ォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上にくさび状をなす非平行基板の一面に半反射膜
を有する回折格子が形成され他面に全反射面が形成され
た光束分離手段を配設し、この光束分離手段により反射
された光が前記コリメートレンズを透過した前記レーザ
光源側の光路上に前記光情報記録媒体からの反射光を検
出する2個の受光素子を配設した。
請求項6記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射することにより
情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反
射光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フ
ォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上に非平行基板の一面に半反射膜を有する回折格
子が形成され他面にウェッジプリズム形状をなす全反射
面が形成された光束分離手段を配設し、この光束分離手
段により反射された光が前記コリメートレンズを透過し
た前記レーザ光源側の光路上に前記光情報記録媒体から
の反射光を検出する2個の受光素子を2組配設した。
光をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射することにより
情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反
射光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フ
ォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上に非平行基板の一面に半反射膜を有する回折格
子が形成され他面にウェッジプリズム形状をなす全反射
面が形成された光束分離手段を配設し、この光束分離手
段により反射された光が前記コリメートレンズを透過し
た前記レーザ光源側の光路上に前記光情報記録媒体から
の反射光を検出する2個の受光素子を2組配設した。
請求項7記載の発明では、レーザ光源から出射された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射す
ることにより情報の記録を行うと共に、前記光情報記録
媒体からの反射光を検出して情報の再生や、トラックエ
ラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記
録再生装置において、前記レーザ光源より出射された光
が前記対物レンズに向かう間の光路上に基板の一面に回
折格子が形成されその一部表面に半反射膜を有し他面に
全反射面が形成された光束分離手段を配設し、この光束
分離手段により回折されて進む1次光の光路上に第1受
光素子を配設し、前記光束分離手段により屈折されて進
む0次光の光路上に第2受光素子を配設した。
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射す
ることにより情報の記録を行うと共に、前記光情報記録
媒体からの反射光を検出して情報の再生や、トラックエ
ラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記
録再生装置において、前記レーザ光源より出射された光
が前記対物レンズに向かう間の光路上に基板の一面に回
折格子が形成されその一部表面に半反射膜を有し他面に
全反射面が形成された光束分離手段を配設し、この光束
分離手段により回折されて進む1次光の光路上に第1受
光素子を配設し、前記光束分離手段により屈折されて進
む0次光の光路上に第2受光素子を配設した。
請求項8記載の発明では、上述した請求項7記載の発
明の構成において、レーザ光源より出射された光が光束
分離手段に向かう間の光路上にコリメートレンズを配設
した。
明の構成において、レーザ光源より出射された光が光束
分離手段に向かう間の光路上にコリメートレンズを配設
した。
請求項9記載の発明では、レーザ光源から出射された
出射光をコリメートレンズを介して対物レンズにより集
光して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録
を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出
して情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前
記出射光が前記コリメートレンズを通過して前記対物レ
ンズに向かう間の光路上に基板の一面に回折格子が形成
されその表面に半反射膜を有し他面に全反射面が形成さ
れたくさび状の光束分離手段を配設し、前記出射光が前
記半反射膜により反射されて得られた1本の主ビームと
前記半反射膜を透過して得られた2本の副ビームとが前
記光情報記録媒体に導かれるようにくさび状をした前記
光束分離手段のくさび角を設定した。
出射光をコリメートレンズを介して対物レンズにより集
光して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録
を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出
して情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前
記出射光が前記コリメートレンズを通過して前記対物レ
ンズに向かう間の光路上に基板の一面に回折格子が形成
されその表面に半反射膜を有し他面に全反射面が形成さ
れたくさび状の光束分離手段を配設し、前記出射光が前
記半反射膜により反射されて得られた1本の主ビームと
前記半反射膜を透過して得られた2本の副ビームとが前
記光情報記録媒体に導かれるようにくさび状をした前記
光束分離手段のくさび角を設定した。
請求項10記載の発明では、上述した請求項9記載の発
明の構成において、光情報記録媒体により反射された主
ビーム及び副ビームのうち、前記主ビームを受光する2
つの3分割受光素子を設け、前記副ビームを受光する2
つの無分割受光素子を設けた。
明の構成において、光情報記録媒体により反射された主
ビーム及び副ビームのうち、前記主ビームを受光する2
つの3分割受光素子を設け、前記副ビームを受光する2
つの無分割受光素子を設けた。
請求項11記載の発明では、レーザ光源から出射された
光をコリメートレンズにより平行化した後、対物レンズ
により集光して光情報記録媒体の表面に照射し情報の記
録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受
光素子により検出してフォーカスエラー信号、トラック
エラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、
前記レーザ光源から出射された光が前記コリメートレン
ズに向かう間の光路上に、透過型回折格子とこの透過型
回折格子に一定角度をなして配設された高反射面とを有
する光束分離手段を設けた。
光をコリメートレンズにより平行化した後、対物レンズ
により集光して光情報記録媒体の表面に照射し情報の記
録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受
光素子により検出してフォーカスエラー信号、トラック
エラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、
前記レーザ光源から出射された光が前記コリメートレン
ズに向かう間の光路上に、透過型回折格子とこの透過型
回折格子に一定角度をなして配設された高反射面とを有
する光束分離手段を設けた。
請求項12記載の発明では、片面に第一回折部材の形成
された半反射性の第一基板と、この第一基板の前記第一
回折部材の形成された側の面とスペーサを介して対向配
置された側の面に第一回折部材の形成された透過性の第
二基板とよりなる二重回折格子を設けた。
された半反射性の第一基板と、この第一基板の前記第一
回折部材の形成された側の面とスペーサを介して対向配
置された側の面に第一回折部材の形成された透過性の第
二基板とよりなる二重回折格子を設けた。
作用 請求項1記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光は、第一回折部材に形成された半反射膜により反射
された後、光情報記録媒体により反射され再び第一回折
部材に導かれ、第一回折部材と第二回折部材とを通過す
ることにより透過光と回折光とに分離され、これら分離
された2つの光が受光素子に検出されることによって、
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号を検出することができる。
た光は、第一回折部材に形成された半反射膜により反射
された後、光情報記録媒体により反射され再び第一回折
部材に導かれ、第一回折部材と第二回折部材とを通過す
ることにより透過光と回折光とに分離され、これら分離
された2つの光が受光素子に検出されることによって、
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号を検出することができる。
請求項2記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光は、光束分離手段の表面回折格子に形成された半反
射膜により反射された後、光情報記録媒体により反射さ
れ再び表面回折格子に導かれ、さらに、裏面回折格子を
通過することによりほぼ同一方向に出射方向をもつ0次
光と1次光とに分離されほぼ同一方向に出射され、これ
ら分離された2つの光は受光素子に検出されることによ
って、情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカス
エラー信号を検出することができる。
た光は、光束分離手段の表面回折格子に形成された半反
射膜により反射された後、光情報記録媒体により反射さ
れ再び表面回折格子に導かれ、さらに、裏面回折格子を
通過することによりほぼ同一方向に出射方向をもつ0次
光と1次光とに分離されほぼ同一方向に出射され、これ
ら分離された2つの光は受光素子に検出されることによ
って、情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカス
エラー信号を検出することができる。
請求項3記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光は、光束分離手段の表面回折格子に形成された半反
射膜により反射された後、光情報記録媒体により反射さ
れ再び表面回折格子に導かれ、さらに、全反射面により
反射され再び表面回折格子を通過してレーザ光源と同一
面内に配置された受光素子に検出されることによって、
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号を検出することができる。
た光は、光束分離手段の表面回折格子に形成された半反
射膜により反射された後、光情報記録媒体により反射さ
れ再び表面回折格子に導かれ、さらに、全反射面により
反射され再び表面回折格子を通過してレーザ光源と同一
面内に配置された受光素子に検出されることによって、
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号を検出することができる。
請求項4記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光は、二重回折格子素子の半反射性の第一基板により
反射され、コリメートレンズにより平行化され光情報記
録媒体により反射された後、再び二重回折格子素子に導
かれ、その第一基板の第一回折部材により透過光と回折
光との2つの光に分離され、ともにスペーサを通過した
後、透過光は第二基板の第二回折格子をそのまま透過し
回折光はその第二回折格子によりさらに回折され各々分
離された状態で二重回折格子を通過し、信号検出光学系
内に導かれることにより、情報の再生や、フォーカスエ
ラー信号、トラックエラー信号の検出を行うことができ
る。
た光は、二重回折格子素子の半反射性の第一基板により
反射され、コリメートレンズにより平行化され光情報記
録媒体により反射された後、再び二重回折格子素子に導
かれ、その第一基板の第一回折部材により透過光と回折
光との2つの光に分離され、ともにスペーサを通過した
後、透過光は第二基板の第二回折格子をそのまま透過し
回折光はその第二回折格子によりさらに回折され各々分
離された状態で二重回折格子を通過し、信号検出光学系
内に導かれることにより、情報の再生や、フォーカスエ
ラー信号、トラックエラー信号の検出を行うことができ
る。
請求項5記載の発明により、回折格子と全反射面とが
非平行な基板の両面に形成された光束分離手段を用いて
0次光と1次光とをスポット分離しているので光学系全
体のレイアウトの設計が容易となり、しかも、その光束
分離手段はコリメータレンズと対物レンズとの間に配設
されているので平行化された光が回折格子に入射するよ
うになり、これにより高性能な偏光分離を行うことがで
きるため光利用効率も上げることができる。
非平行な基板の両面に形成された光束分離手段を用いて
0次光と1次光とをスポット分離しているので光学系全
体のレイアウトの設計が容易となり、しかも、その光束
分離手段はコリメータレンズと対物レンズとの間に配設
されているので平行化された光が回折格子に入射するよ
うになり、これにより高性能な偏光分離を行うことがで
きるため光利用効率も上げることができる。
請求項6記載の発明により、全反射面をウェッジプリ
ズム形状とし、2個の受光素子を2組配設したことによ
ってダブルナイフエッジ法を用いてフォーカスエラー信
号の検出を行うことが可能となり、これにより組付け精
度を従来よりも一段とゆるくすることができ、常に安定
した信号の検出を行うことができる。
ズム形状とし、2個の受光素子を2組配設したことによ
ってダブルナイフエッジ法を用いてフォーカスエラー信
号の検出を行うことが可能となり、これにより組付け精
度を従来よりも一段とゆるくすることができ、常に安定
した信号の検出を行うことができる。
請求項7記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光は、光束分離手段の半反射膜により反射されて光情
報記録媒体に導かれこれにより情報の記録を行うと共
に、その光情報記録媒体からの反射光は光束分離手段の
半反射膜を透過して0次光と1次光とに分離され、これ
ら0次光と1次光とは半反射膜以外の領域の回折格子を
透過して外部に出射され第1、第2の受光素子にそれぞ
れ導かれることにより情報の再生や信号の検出を行うこ
とができ、これにより、光束分離手段の回折格子により
分離された0次光と1次光とが全反射面により反射され
外部に出射する際には、回折格子における半反射膜以外
の透過領域を通過することになるため、従来に比べ一段
と光利用効率を上げることができる。
た光は、光束分離手段の半反射膜により反射されて光情
報記録媒体に導かれこれにより情報の記録を行うと共
に、その光情報記録媒体からの反射光は光束分離手段の
半反射膜を透過して0次光と1次光とに分離され、これ
ら0次光と1次光とは半反射膜以外の領域の回折格子を
透過して外部に出射され第1、第2の受光素子にそれぞ
れ導かれることにより情報の再生や信号の検出を行うこ
とができ、これにより、光束分離手段の回折格子により
分離された0次光と1次光とが全反射面により反射され
外部に出射する際には、回折格子における半反射膜以外
の透過領域を通過することになるため、従来に比べ一段
と光利用効率を上げることができる。
請求項8記載の発明により、レーザ光源から出射され
た光をコリメータレンズを通過させた後に光束分離手段
に導くようにしたので、出射光のうち平行光のみが回折
格子に入射するため高性能な偏光分離を行うことがで
き、これにより光利用効率もさらに一段と上げることが
できる。
た光をコリメータレンズを通過させた後に光束分離手段
に導くようにしたので、出射光のうち平行光のみが回折
格子に入射するため高性能な偏光分離を行うことがで
き、これにより光利用効率もさらに一段と上げることが
できる。
請求項9記載の発明により、出射光が光束分離手段の
回折格子の表面に形成された半反射膜に入射した光のう
ち、その半反射膜による反射光を主ビームとしまた透過
光を副ビームとしているため3ビームトラッキングを行
うことが可能となり、これにより光情報記録媒体に光磁
気ディスクやCD等を用いた各種装置に本装置を対応させ
ることができるため、その応用範囲を従来に比べ一段と
広げることができる。
回折格子の表面に形成された半反射膜に入射した光のう
ち、その半反射膜による反射光を主ビームとしまた透過
光を副ビームとしているため3ビームトラッキングを行
うことが可能となり、これにより光情報記録媒体に光磁
気ディスクやCD等を用いた各種装置に本装置を対応させ
ることができるため、その応用範囲を従来に比べ一段と
広げることができる。
請求項10記載の発明により、光情報記録媒体により反
射された主ビーム及び副ビームを各々の受光素子により
全て無駄なく受光させているため、光利用効率を従来に
比べ一段と向上させることができる。
射された主ビーム及び副ビームを各々の受光素子により
全て無駄なく受光させているため、光利用効率を従来に
比べ一段と向上させることができる。
請求項11記載の発明により、透過型回折格子とこれに
一定角度をなして配設された高反射面とを有する光束分
離手段を設けたことにより、この光束分離手段により分
離される透過光と反射光との光路を変えることができる
ため、従来のようにレーザ光源を挟んだ両側に受光素子
を設ける必要がなくなり、これにより、レーザ光源用の
基板と受光素子用の基板とを別個に作成して実装するこ
とができるため、従来に比べ組付け調整が簡素化され作
業効率を上げることが可能となる。
一定角度をなして配設された高反射面とを有する光束分
離手段を設けたことにより、この光束分離手段により分
離される透過光と反射光との光路を変えることができる
ため、従来のようにレーザ光源を挟んだ両側に受光素子
を設ける必要がなくなり、これにより、レーザ光源用の
基板と受光素子用の基板とを別個に作成して実装するこ
とができるため、従来に比べ組付け調整が簡素化され作
業効率を上げることが可能となる。
請求項12記載の発明により、第一回折部材と第二回折
格子とを互いに向かい合せて構成したことによって回折
格子面が内側に密閉される形となり、これにより格子形
状が安定ししかも2つの回折格子が近接しているため、
波長変動による1次光のシフト変動を受けにくくするこ
とができる。
格子とを互いに向かい合せて構成したことによって回折
格子面が内側に密閉される形となり、これにより格子形
状が安定ししかも2つの回折格子が近接しているため、
波長変動による1次光のシフト変動を受けにくくするこ
とができる。
実施例 請求項1,2記載の発明の一実施例を第1図ないし第5
図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第一の問題
点及び第二の問題点に対処したものである。
図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第一の問題
点及び第二の問題点に対処したものである。
レーザ光源としての半導体レーザ30から出射された光
の光路上には、光束分離手段としてのデュアル型回折格
子31が配設されている。このデュアル型回折格子31に
は、前記半導体レーザ30側に位置する面に入射した光の
一部を反射させる半反射膜32を表層部分に有する第一回
折部材としての表面回折格子33が形成されており、この
表面回折格子33と相対する側の面には第二回折部材とし
ての裏面回折格子34が形成されている。これら表裏両面
に形成された回折格子33,34は、偏光方向により回折効
率が変化するようになっている。また、前記表面回折格
子33の形成された側の光路上には、コリメートレンズ3
5、対物レンズ36、光情報記録媒体としての光磁気ディ
スク37が順次配設されている。さらに、前記裏面回折格
子34の形成された側の光路上には、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号等を検出する受光素子38が配設
されている。このような構成において、半導体レーザ30
から出射された光は、表面回折格子33上の半反射膜32に
より反射される。この半反射膜32は、光磁気ディスク37
に所望の光パワーが照射されるようになっている。その
反射された光は、コリメートレンズ35により平行光とな
る。この平行光は単なる反射光であり、表面回折格子33
の回折光ではないので収差は生じず、従って表面回折格
子33の形状も特に曲線形状や変調ピッチ化する必要はな
い。その平行光は、対物レンズ36により集光されスポッ
トの状態で光磁気ディスク37の表面に照射される。そし
て、その照射された光は、カー効果により、光磁気ディ
スク37上の情報信号に応じて偏光方向が傾けられた状態
で反射され、再び、コリメートレンズ35へと戻り、この
コリメートレンズ35より収束光となって表面回折格子33
に入射される。この場合、デュアル型回折格子31は、そ
の表裏両面に形成された回折格子33,34が光磁気ディス
ク37からの反射光に対してブラック角となるように配置
されている。すなわち、第5図に示すように、表裏両面
に形成された回折格子33,34は半導体レーザ30からの光
の偏光方向に対して45゜をなすような向きに形成されて
いる。そして、この表面回折格子33に入射した光は透過
光Tと回折光Kに分離された後、裏面回折格子34に入射
する。この裏面回折格子34は透過型の回折格子であり、
その格子方向は表面回折格子33と同じである。すなわ
ち、表面回折格子33の透過光(0次光)は裏面回折格子
34でもそのまま透過して0次光となり、表面回折格子33
の回折光(1次光)は裏面回折格子34でも回折され1次
光Kとなる。このようにして0次光Tと1次光Kとの2
つの光に分離された光は、受光素子38により受光される
ことによって、それら0次光Tと1次光Kとの光強度差
から光情報信号や、フォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号を検出することができる。
の光路上には、光束分離手段としてのデュアル型回折格
子31が配設されている。このデュアル型回折格子31に
は、前記半導体レーザ30側に位置する面に入射した光の
一部を反射させる半反射膜32を表層部分に有する第一回
折部材としての表面回折格子33が形成されており、この
表面回折格子33と相対する側の面には第二回折部材とし
ての裏面回折格子34が形成されている。これら表裏両面
に形成された回折格子33,34は、偏光方向により回折効
率が変化するようになっている。また、前記表面回折格
子33の形成された側の光路上には、コリメートレンズ3
5、対物レンズ36、光情報記録媒体としての光磁気ディ
スク37が順次配設されている。さらに、前記裏面回折格
子34の形成された側の光路上には、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号等を検出する受光素子38が配設
されている。このような構成において、半導体レーザ30
から出射された光は、表面回折格子33上の半反射膜32に
より反射される。この半反射膜32は、光磁気ディスク37
に所望の光パワーが照射されるようになっている。その
反射された光は、コリメートレンズ35により平行光とな
る。この平行光は単なる反射光であり、表面回折格子33
の回折光ではないので収差は生じず、従って表面回折格
子33の形状も特に曲線形状や変調ピッチ化する必要はな
い。その平行光は、対物レンズ36により集光されスポッ
トの状態で光磁気ディスク37の表面に照射される。そし
て、その照射された光は、カー効果により、光磁気ディ
スク37上の情報信号に応じて偏光方向が傾けられた状態
で反射され、再び、コリメートレンズ35へと戻り、この
コリメートレンズ35より収束光となって表面回折格子33
に入射される。この場合、デュアル型回折格子31は、そ
の表裏両面に形成された回折格子33,34が光磁気ディス
ク37からの反射光に対してブラック角となるように配置
されている。すなわち、第5図に示すように、表裏両面
に形成された回折格子33,34は半導体レーザ30からの光
の偏光方向に対して45゜をなすような向きに形成されて
いる。そして、この表面回折格子33に入射した光は透過
光Tと回折光Kに分離された後、裏面回折格子34に入射
する。この裏面回折格子34は透過型の回折格子であり、
その格子方向は表面回折格子33と同じである。すなわ
ち、表面回折格子33の透過光(0次光)は裏面回折格子
34でもそのまま透過して0次光となり、表面回折格子33
の回折光(1次光)は裏面回折格子34でも回折され1次
光Kとなる。このようにして0次光Tと1次光Kとの2
つの光に分離された光は、受光素子38により受光される
ことによって、それら0次光Tと1次光Kとの光強度差
から光情報信号や、フォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号を検出することができる。
この場合、そのフォーカスエラー信号の検出方法とし
ては、まず、第一に、第4図(a)に示すように、0次
光Tを用いた平行平板による非点収差法、第二に、第4
図(b)に示すように、表面回折格子33及び裏面回折格
子34を変調ピッチ化し1次光Kを用いた非点収差法、第
三に、第4図(c)に示すように、0次光Tと1次光K
との間に存在する光路差を利用したビームサイズ法等が
ある。また、トラックエラー信号の検出方法としては、
プシュプル法により行う場合は2分割された受光素子38
により検出を行い、サンプルサーボ方式により行う場合
は反射光強度を受光素子38で受光することにより検出す
ることができる。
ては、まず、第一に、第4図(a)に示すように、0次
光Tを用いた平行平板による非点収差法、第二に、第4
図(b)に示すように、表面回折格子33及び裏面回折格
子34を変調ピッチ化し1次光Kを用いた非点収差法、第
三に、第4図(c)に示すように、0次光Tと1次光K
との間に存在する光路差を利用したビームサイズ法等が
ある。また、トラックエラー信号の検出方法としては、
プシュプル法により行う場合は2分割された受光素子38
により検出を行い、サンプルサーボ方式により行う場合
は反射光強度を受光素子38で受光することにより検出す
ることができる。
上述したように、デュアル型回折格子31を設け光を2
回通過させるようにしたことにより、波長変動に対する
スポットの位置ずれを小さくすることが可能となり、ま
た、一方の表面回折格子33の一面に半反射性の半反射膜
32を形成したことにより、単にデュアル型回折格子31を
設けるだけで、出射光学系と信号検出光学系との光束分
離を行わせることができ、これにより光学部品点数を大
幅に削減することができるため、装置全体の構成を小
型、軽量化することができると共に低コスト化すること
ができるものである。
回通過させるようにしたことにより、波長変動に対する
スポットの位置ずれを小さくすることが可能となり、ま
た、一方の表面回折格子33の一面に半反射性の半反射膜
32を形成したことにより、単にデュアル型回折格子31を
設けるだけで、出射光学系と信号検出光学系との光束分
離を行わせることができ、これにより光学部品点数を大
幅に削減することができるため、装置全体の構成を小
型、軽量化することができると共に低コスト化すること
ができるものである。
次に、請求項1,3記載の発明の一実施例を第6図に基
づいて説明する。なお、本実施例は、第一の問題点及び
第二の問題点に対処したものである。また、請求項2記
載の発明と同一部分については同一符号を用いる。
づいて説明する。なお、本実施例は、第一の問題点及び
第二の問題点に対処したものである。また、請求項2記
載の発明と同一部分については同一符号を用いる。
光束分離手段としての片面回折格子39は、半導体レー
ザ30側に位置する面に偏光方向により回折効率が変化す
る第一回折部材としての回折格子40が形成されており、
この回折格子40と相対する側の面には第二回折部材とし
ての全反射面41が形成されている。前記回折格子40に
は、光磁気ディスク37に所望の光パワーが照射されるよ
うな一定の反射率をもつ半反射膜42が形成されている。
また、受光素子38は、回折格子40の形成された側の半導
体レーザ30と一体化して構成されている。なお、片面回
折格子39は、光磁気ディスク37からの反射光に対してブ
ラック角となるように配設されている。
ザ30側に位置する面に偏光方向により回折効率が変化す
る第一回折部材としての回折格子40が形成されており、
この回折格子40と相対する側の面には第二回折部材とし
ての全反射面41が形成されている。前記回折格子40に
は、光磁気ディスク37に所望の光パワーが照射されるよ
うな一定の反射率をもつ半反射膜42が形成されている。
また、受光素子38は、回折格子40の形成された側の半導
体レーザ30と一体化して構成されている。なお、片面回
折格子39は、光磁気ディスク37からの反射光に対してブ
ラック角となるように配設されている。
このような構成において、半導体レーザ30から出射さ
れた光は回折格子40上の半反射膜42により反射され、コ
リメートレンズ35により平行光となり、対物レンズ36に
より集光されて光磁気ディスク37面上に照射され情報信
号の読取りが行われる。そして、この光磁気ディスク37
からの反射光は、再び、回折格子40に戻り、その入射し
た光は0次光Tと1次光Kとに分離され、裏面に形成さ
れた全反射面41により反射された後、再び、回折格子40
を通過して、半導体レーザ30と一体化構成された受光素
子38により検出され、これにより、情報信号の再生や、
フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出が行
われる。なお、これらの信号の検出方法については、前
述した請求項2記載の発明の中で述べたので、ここでの
説明は省略する。
れた光は回折格子40上の半反射膜42により反射され、コ
リメートレンズ35により平行光となり、対物レンズ36に
より集光されて光磁気ディスク37面上に照射され情報信
号の読取りが行われる。そして、この光磁気ディスク37
からの反射光は、再び、回折格子40に戻り、その入射し
た光は0次光Tと1次光Kとに分離され、裏面に形成さ
れた全反射面41により反射された後、再び、回折格子40
を通過して、半導体レーザ30と一体化構成された受光素
子38により検出され、これにより、情報信号の再生や、
フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出が行
われる。なお、これらの信号の検出方法については、前
述した請求項2記載の発明の中で述べたので、ここでの
説明は省略する。
従って、本実施例のように、回折格子40を片面のみに
形成することによって、その回折格子40の作製及びその
取扱いが一層容易となり、また、裏面に形成された全反
射面41により光を出射光学系に戻すようにしたので半導
体レーザ30と受光素子38とを一体化させて構成すること
ができ、これにより部品点数を削減して一段と小型化し
た装置を得ることができる。
形成することによって、その回折格子40の作製及びその
取扱いが一層容易となり、また、裏面に形成された全反
射面41により光を出射光学系に戻すようにしたので半導
体レーザ30と受光素子38とを一体化させて構成すること
ができ、これにより部品点数を削減して一段と小型化し
た装置を得ることができる。
次に、請求項1,4,12記載の発明の第一の実施例を第7
図及び第8図に基づいて説明する。なお、本実施例は、
第三の問題点に対処したものである。
図及び第8図に基づいて説明する。なお、本実施例は、
第三の問題点に対処したものである。
レーザ光源としての半導体レーザ43から出射された光
の光路上には、二重回折格子素子としてのデュアル型回
折格子44が形成されている。このデュアル型回折格子44
は、第8図に示すように、片面に第一回折部材としての
第一回折格子45aの形成された半反射性の第一基板45
と、この第一基板45の前記第一回折格子45aの形成され
た側の面とスペーサ46を介して対向配置された側の面に
第二回折部材としての第二回折格子47aの形成された透
過性の第二基板47とよりなっている。また、前記デュア
ル型回折格子44の前記第一基板45側に位置してコリメー
トレンズ48、対物レンズ49が順次配設され、さらに、そ
の対物レンズ49に対向した位置には光情報記録媒体とし
ての光磁気ディスク50が配設されている。さらに、前記
デュアル型回折格子44の前記第二基板47側に位置した信
号検出光学系51内には、受光素子としての4分割受光素
子52a、2分割受光素子52bが配設されている。
の光路上には、二重回折格子素子としてのデュアル型回
折格子44が形成されている。このデュアル型回折格子44
は、第8図に示すように、片面に第一回折部材としての
第一回折格子45aの形成された半反射性の第一基板45
と、この第一基板45の前記第一回折格子45aの形成され
た側の面とスペーサ46を介して対向配置された側の面に
第二回折部材としての第二回折格子47aの形成された透
過性の第二基板47とよりなっている。また、前記デュア
ル型回折格子44の前記第一基板45側に位置してコリメー
トレンズ48、対物レンズ49が順次配設され、さらに、そ
の対物レンズ49に対向した位置には光情報記録媒体とし
ての光磁気ディスク50が配設されている。さらに、前記
デュアル型回折格子44の前記第二基板47側に位置した信
号検出光学系51内には、受光素子としての4分割受光素
子52a、2分割受光素子52bが配設されている。
なお、前記デュアル型回折格子44において、前記第一
基板45の前記第一回折格子45aの形成されていない入射
光側に位置する面45bは、高精度の半反射性の研磨面に
仕上げられており、反射波面が乱れるようなことはな
く、また、前記第二基板47の第二回折格子47aの形成さ
れていない出射光側の面47bは無反射コート等により乱
反射を防ぐように構成されている。
基板45の前記第一回折格子45aの形成されていない入射
光側に位置する面45bは、高精度の半反射性の研磨面に
仕上げられており、反射波面が乱れるようなことはな
く、また、前記第二基板47の第二回折格子47aの形成さ
れていない出射光側の面47bは無反射コート等により乱
反射を防ぐように構成されている。
このような構成において、半導体レーザ43から出射さ
れた発散光Aは、デュアル型回折格子44の半反射性の第
一基板45の表面により反射されてコリメートレンズ48に
より平行化された後、さらに、その平行光は対物レンズ
49により集光されて光磁気ディスク50の表面に照射さ
れ、これにより情報の記録が行われる。また、その光磁
気ディスク50からの反射光は、対物レンズ49、コリメー
トレンズ48を順次介して、再びデュアル型回折格子44に
導かれる。このデュアル型回折格子44に入射した反射光
は、第8図に示すように、第一基板45の第一回折格子45
aにより透過光(0次光)Tと回折光(1次光)Kとに
分離される(P点)。そして、その0次光Tはスペーサ
46を通過して第二基板47に形成された第二回折格子47a
をそのまま透過していき(Q点)、一方、1次光Kはス
ペーサ46を通過して第二基板47に形成された第二回折格
子47aによりさらに回折されて進んでいく(R点)。
れた発散光Aは、デュアル型回折格子44の半反射性の第
一基板45の表面により反射されてコリメートレンズ48に
より平行化された後、さらに、その平行光は対物レンズ
49により集光されて光磁気ディスク50の表面に照射さ
れ、これにより情報の記録が行われる。また、その光磁
気ディスク50からの反射光は、対物レンズ49、コリメー
トレンズ48を順次介して、再びデュアル型回折格子44に
導かれる。このデュアル型回折格子44に入射した反射光
は、第8図に示すように、第一基板45の第一回折格子45
aにより透過光(0次光)Tと回折光(1次光)Kとに
分離される(P点)。そして、その0次光Tはスペーサ
46を通過して第二基板47に形成された第二回折格子47a
をそのまま透過していき(Q点)、一方、1次光Kはス
ペーサ46を通過して第二基板47に形成された第二回折格
子47aによりさらに回折されて進んでいく(R点)。
その後、このようにして信号検出光学系51内に導かれ
た0次光Tと1次光Kのうち、0次光Tはデュアル型回
折格子44の基板の厚さが比較的厚いため非点収差を発生
した状態となりこれにより4分割受光素子52aを用いて
非点収差法によりフォーカスエラー信号を検出すること
ができる。また、1次光Tも同様に非点収差を発生した
状態となるが、この場合には回折格子の作用によりその
非点収差を打ち消すことにより2分割受光素子52bを用
いてプシュプル法によりトラックエラー信号を検出する
ことができる。さらに、微小ピッチをなした第一回折格
子45a、第二回折格子47aの偏光分離特性により4分割受
光素子52a、2分割受光素子52bにそれぞれ検出された両
光束の強度を比較することにより光磁気信号を検出する
ことができる。
た0次光Tと1次光Kのうち、0次光Tはデュアル型回
折格子44の基板の厚さが比較的厚いため非点収差を発生
した状態となりこれにより4分割受光素子52aを用いて
非点収差法によりフォーカスエラー信号を検出すること
ができる。また、1次光Tも同様に非点収差を発生した
状態となるが、この場合には回折格子の作用によりその
非点収差を打ち消すことにより2分割受光素子52bを用
いてプシュプル法によりトラックエラー信号を検出する
ことができる。さらに、微小ピッチをなした第一回折格
子45a、第二回折格子47aの偏光分離特性により4分割受
光素子52a、2分割受光素子52bにそれぞれ検出された両
光束の強度を比較することにより光磁気信号を検出する
ことができる。
上述したように、半反射性の面45bと内部に二枚の回
折格子45a、47aをもったデュアル型回折格子44を用いて
0次光Tと1次光Kとのいずれか片方のみに非点収差を
発生させるようにしたので、回折格子は内側で密閉され
た状態となって格子形状が安定となり、また、2つの回
折格子が近接した状態で配置されているため波長変動に
よる1次光のシフト変動を受けにくいものとなり、これ
により、常に安定した信頼性の高い信号検出を行うこと
ができる。また、デュアル型回折格子44の一面を半反射
性の面45bとしたことにより、高精度のビームスプリッ
タ機能を持ち合わせることができるので、これにより光
学系の部品点数を削減して小型、軽量化を図ることがで
きると共に、高速シーク移動が可能となりアクセス時間
の短縮を一段と図ることができる。
折格子45a、47aをもったデュアル型回折格子44を用いて
0次光Tと1次光Kとのいずれか片方のみに非点収差を
発生させるようにしたので、回折格子は内側で密閉され
た状態となって格子形状が安定となり、また、2つの回
折格子が近接した状態で配置されているため波長変動に
よる1次光のシフト変動を受けにくいものとなり、これ
により、常に安定した信頼性の高い信号検出を行うこと
ができる。また、デュアル型回折格子44の一面を半反射
性の面45bとしたことにより、高精度のビームスプリッ
タ機能を持ち合わせることができるので、これにより光
学系の部品点数を削減して小型、軽量化を図ることがで
きると共に、高速シーク移動が可能となりアクセス時間
の短縮を一段と図ることができる。
次に、請求項1,4,12記載の発明の第二の実施例を第9
図に基づいて説明する。なお、本実施例も、第三の問題
点に対処したものである。
図に基づいて説明する。なお、本実施例も、第三の問題
点に対処したものである。
ここでは、半導体レーザ43とデュアル型回折格子44と
の間の光路上に、コリメートレンズ48を配設し、また、
デュアル型回折格子44の第二基板47側に位置して集光レ
ンズ53を配設したものである。これにより、半導体レー
ザ43から出射された光は、コリメートレンズ48より平行
化された状態でデュアル型回折格子44に入射することに
なり、また、光磁気ディスク50からの反射光も平行光束
の状態でデュアル型回折格子44に入射することになる。
このためデュアル型回折格子44を通過した光のうち、0
次光Tは非点収差を発生しないため2分割受光素子52b
を用いてトラックエラー信号を検出することができ、一
方、1次光Kは回折格子により非点収差を持たせること
ができるため4分割受光素子52aを用いてフォーカスエ
ラー信号を検出することができる。なお、光磁気信号は
前述した内容と同様にして検出を行うことができる。
の間の光路上に、コリメートレンズ48を配設し、また、
デュアル型回折格子44の第二基板47側に位置して集光レ
ンズ53を配設したものである。これにより、半導体レー
ザ43から出射された光は、コリメートレンズ48より平行
化された状態でデュアル型回折格子44に入射することに
なり、また、光磁気ディスク50からの反射光も平行光束
の状態でデュアル型回折格子44に入射することになる。
このためデュアル型回折格子44を通過した光のうち、0
次光Tは非点収差を発生しないため2分割受光素子52b
を用いてトラックエラー信号を検出することができ、一
方、1次光Kは回折格子により非点収差を持たせること
ができるため4分割受光素子52aを用いてフォーカスエ
ラー信号を検出することができる。なお、光磁気信号は
前述した内容と同様にして検出を行うことができる。
次に、請求項1,4,12記載の発明の第三の実施例を第10
図に基づいて説明する。なお、本実施例も、第三の問題
点に対処したものである。
図に基づいて説明する。なお、本実施例も、第三の問題
点に対処したものである。
ここでは、第二の実施例(第9図参照)におけるデュ
アル型回折格子44と集光レンズ53との間に、シリンドリ
カルレンズ54を配設したものである。これにより、紙面
に平行な方向から見た第11図(a)に示すように、デュ
アル型回折格子44が1次光Kを紙面方向で集光し、その
集光点Bと凹状のシリンドリカルレンズ54の焦点が一致
する時には、そのシリンドリカルレンズ54を通過した1
次光Kは非点収差をもたない。なお、第11図(b)は信
号検出光学系51を紙面に垂直な方向からみた時の様子を
示したものである。従って、その非点収差をもたない1
次光Kを2分割受光素子52bに検出させることによりト
ラックエラー信号を検出することができ、また、0次光
Tはシリンドリカルレンズ54により非点収差をもつの
で、4分割受光素子52aを用いてフォーカスエラー信号
を検出することができる。
アル型回折格子44と集光レンズ53との間に、シリンドリ
カルレンズ54を配設したものである。これにより、紙面
に平行な方向から見た第11図(a)に示すように、デュ
アル型回折格子44が1次光Kを紙面方向で集光し、その
集光点Bと凹状のシリンドリカルレンズ54の焦点が一致
する時には、そのシリンドリカルレンズ54を通過した1
次光Kは非点収差をもたない。なお、第11図(b)は信
号検出光学系51を紙面に垂直な方向からみた時の様子を
示したものである。従って、その非点収差をもたない1
次光Kを2分割受光素子52bに検出させることによりト
ラックエラー信号を検出することができ、また、0次光
Tはシリンドリカルレンズ54により非点収差をもつの
で、4分割受光素子52aを用いてフォーカスエラー信号
を検出することができる。
次に、請求項1,5,6記載の発明の第一の実施例を第12
図ないし第14図に基づいて説明する。なお、本実施例
は、第四の問題点及び第五の問題点に対処したものであ
る。
図ないし第14図に基づいて説明する。なお、本実施例
は、第四の問題点及び第五の問題点に対処したものであ
る。
まず、本装置の全体構成を第12図に基づいて述べる。
レーザ光源としての半導体レーザ55から出射された光が
コリメートレンズ56を透過した光の光路上には、くさび
状をした非平行基板57からなる光束分離手段としてのプ
リズム58が配設されている。その非平行基板57の一面に
は第13図に示すような変調ピッチ化された第一回折部材
としての回折格子59が形成されており、その他面には第
二回折部材としての全反射面60が形成されている。前記
回折格子59の表面には半反射膜としてのコーティング層
59aが形成されている。なお、平面に対する回折格子5
9、全反射面60のなす角をそれぞれα、βとすると、β
−αをくさび角度として表わすことができる。
レーザ光源としての半導体レーザ55から出射された光が
コリメートレンズ56を透過した光の光路上には、くさび
状をした非平行基板57からなる光束分離手段としてのプ
リズム58が配設されている。その非平行基板57の一面に
は第13図に示すような変調ピッチ化された第一回折部材
としての回折格子59が形成されており、その他面には第
二回折部材としての全反射面60が形成されている。前記
回折格子59の表面には半反射膜としてのコーティング層
59aが形成されている。なお、平面に対する回折格子5
9、全反射面60のなす角をそれぞれα、βとすると、β
−αをくさび角度として表わすことができる。
また、そのプリズム58の回折格子59の形成された面側
に位置して、対物レンズ61が配設されている。この対物
レンズ61に近接した位置には光情報記録媒体としての光
磁気ディスク62が設けられている。一方、前記半導体レ
ーザ55の設けられた光学系63側の光路上には、前記光磁
気ディスク62からの反射光を検出する受光素子64,65が
同一面内に2個配設されている。
に位置して、対物レンズ61が配設されている。この対物
レンズ61に近接した位置には光情報記録媒体としての光
磁気ディスク62が設けられている。一方、前記半導体レ
ーザ55の設けられた光学系63側の光路上には、前記光磁
気ディスク62からの反射光を検出する受光素子64,65が
同一面内に2個配設されている。
このような構成において、半導体レーザ55から出射さ
れた光は、コリメートレンズ56により平行光となり、プ
リズム58の偏光方向によって回折効率が変化する回折格
子59へと導かれる。この回折格子59には、第14図に示す
ような偏光依存性と光磁気ディスク62に適切な光パワー
を照射するために所望の反射率をもつようにコーティン
グ層59aが形成されているわけであるが、このコーティ
ング層59aによりコリメートレンズ56からの平行光は一
部が反射されて対物レンズ61方向へと進んでいく。一
方、反射せずにそのまま透過した平行光は、回折格子59
により0次光Tと1次光Kとに分離されて全反射面60の
方向へと進んでいく。この全反射面60は回折格子59と平
行ではなくてくさび型になっているため、ここで反射さ
れた光はコーティング層59aで反射された光とは平行に
ならず異なる方向へ進んでいき分離された光となるため
悪影響を及ぼすようなこともない。その後、対物レンズ
61へと進んだコーティング層59aからの反射光は光磁気
ディスク62の面上に照射され、これにより情報の記録を
行うことができる。
れた光は、コリメートレンズ56により平行光となり、プ
リズム58の偏光方向によって回折効率が変化する回折格
子59へと導かれる。この回折格子59には、第14図に示す
ような偏光依存性と光磁気ディスク62に適切な光パワー
を照射するために所望の反射率をもつようにコーティン
グ層59aが形成されているわけであるが、このコーティ
ング層59aによりコリメートレンズ56からの平行光は一
部が反射されて対物レンズ61方向へと進んでいく。一
方、反射せずにそのまま透過した平行光は、回折格子59
により0次光Tと1次光Kとに分離されて全反射面60の
方向へと進んでいく。この全反射面60は回折格子59と平
行ではなくてくさび型になっているため、ここで反射さ
れた光はコーティング層59aで反射された光とは平行に
ならず異なる方向へ進んでいき分離された光となるため
悪影響を及ぼすようなこともない。その後、対物レンズ
61へと進んだコーティング層59aからの反射光は光磁気
ディスク62の面上に照射され、これにより情報の記録を
行うことができる。
また、光磁気ディスク62からの反射光は、その記録さ
れた情報の信号を読取り、カー効果により偏光方向が回
転された状態となっており、再び、回折格子59へと導か
れる。この回折格子59によりその反射光は、0次光Tと
1次光Kとに分離され、その裏面の全反射面60により反
射されて再び回折格子59を通過して外部へ出射される。
この時、0次光Tと1次光Kとは、半導体レーザ55から
出射された平行光とは異なる角度をもって回折格子59か
ら出射される。
れた情報の信号を読取り、カー効果により偏光方向が回
転された状態となっており、再び、回折格子59へと導か
れる。この回折格子59によりその反射光は、0次光Tと
1次光Kとに分離され、その裏面の全反射面60により反
射されて再び回折格子59を通過して外部へ出射される。
この時、0次光Tと1次光Kとは、半導体レーザ55から
出射された平行光とは異なる角度をもって回折格子59か
ら出射される。
そして、それら0次光Tと1次光Kとは、コリメート
レンズ56を通過し、受光素子64,65に検出される。この
場合、1次光Kは、2回回折格子59を通過するため、波
長変動による回折角度ずれはほぼキャンセルできること
になる。また、回折格子59は変調ピッチ化されているた
め1次光Kに非点収差を発生することができ、これによ
りその1次光Kを一方の受光素子65に導くことによりフ
ォーカスエラー信号を検出することができる。一方、0
次光Tには、非点収差は発生しないので、この光を片方
の受光素子64に導くことによりプシュプル法を用いて安
定したトラッキングエラー信号の検出を行うことができ
る。さらに、それら2つの受光素子64,65により検出さ
れる信号の強度差を求めることによって光磁気信号の検
出を行い、これにより情報の再生を行うができる。
レンズ56を通過し、受光素子64,65に検出される。この
場合、1次光Kは、2回回折格子59を通過するため、波
長変動による回折角度ずれはほぼキャンセルできること
になる。また、回折格子59は変調ピッチ化されているた
め1次光Kに非点収差を発生することができ、これによ
りその1次光Kを一方の受光素子65に導くことによりフ
ォーカスエラー信号を検出することができる。一方、0
次光Tには、非点収差は発生しないので、この光を片方
の受光素子64に導くことによりプシュプル法を用いて安
定したトラッキングエラー信号の検出を行うことができ
る。さらに、それら2つの受光素子64,65により検出さ
れる信号の強度差を求めることによって光磁気信号の検
出を行い、これにより情報の再生を行うができる。
上述したように、半導体レーザ55から出射された光の
偏光方向は、回折格子59の格子方向と45度ずらしておく
ことにより、従来、必要とされたλ/2板を省くことがで
き、これにより部品点数を削減することができる。ま
た、プリズム58のくさび角度により0次光Tと1次光K
とのスポット間隔を任意に設定することができ、しか
も、フォーカス感度は変調ピッチの程度により決まるの
で、これにより設計の自由度が大きくなり各々の部品の
最適設計が可能となり、小型で高感度な光磁気ヘッドを
実現することができるものである。
偏光方向は、回折格子59の格子方向と45度ずらしておく
ことにより、従来、必要とされたλ/2板を省くことがで
き、これにより部品点数を削減することができる。ま
た、プリズム58のくさび角度により0次光Tと1次光K
とのスポット間隔を任意に設定することができ、しか
も、フォーカス感度は変調ピッチの程度により決まるの
で、これにより設計の自由度が大きくなり各々の部品の
最適設計が可能となり、小型で高感度な光磁気ヘッドを
実現することができるものである。
次に、請求項1,5,6記載の発明の第二の実施例を第15
図ないし第17図に基づいて説明する。なお、本実施例
は、第4の問題点及び第五の問題点に対処したものであ
る。これは、上述した第一の実施例において、受光素子
64,65の配設位置を変えたものであり、その他の構成に
ついては何ら変わるところはない。
図ないし第17図に基づいて説明する。なお、本実施例
は、第4の問題点及び第五の問題点に対処したものであ
る。これは、上述した第一の実施例において、受光素子
64,65の配設位置を変えたものであり、その他の構成に
ついては何ら変わるところはない。
第16図は、受光素子64,65をコリメートレンズ56側か
ら見たものであり、それぞれ3分割された形状になって
いる。また、この場合、受光素子64,65は、光軸方向に
前後にずらした状態で配設されている。このため、ここ
でのフォーカスエラー信号は、非点収差法ではなくビー
ムサイズ法により検出を行うことになる。
ら見たものであり、それぞれ3分割された形状になって
いる。また、この場合、受光素子64,65は、光軸方向に
前後にずらした状態で配設されている。このため、ここ
でのフォーカスエラー信号は、非点収差法ではなくビー
ムサイズ法により検出を行うことになる。
このような方式により信号の検出を行うことによっ
て、組立て、位置調整の公差を大きくとることができる
ため、これにより組付け調整が容易となり、一層の量産
化を図ることが可能となる。また、本実施例の場合、非
点収差を必要としないため、グレーティング59のピッチ
は等ピッチに形成することができるため、その分、グレ
ーティング59の作製を容易にすることができる。
て、組立て、位置調整の公差を大きくとることができる
ため、これにより組付け調整が容易となり、一層の量産
化を図ることが可能となる。また、本実施例の場合、非
点収差を必要としないため、グレーティング59のピッチ
は等ピッチに形成することができるため、その分、グレ
ーティング59の作製を容易にすることができる。
次に、請求項1,5,6記載の発明の第三の実施例を第18
図及び第19図に基づいて説明する。なお、本実施例も、
第四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
図及び第19図に基づいて説明する。なお、本実施例も、
第四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
これは、第一の実施例(第12図参照)において、光束
分離手段の形状を変えたものである。すなわち、光束分
離手段としてのプリズム58には、その非平行基板57の一
面に偏光分離用のグレーティング59が形成され他面に全
反射面60が形成されているが、本実施例においては、そ
の全反射面60の形状は平面ではなく、第18図に示すよう
にウェッジプリズム形状に形成されている。
分離手段の形状を変えたものである。すなわち、光束分
離手段としてのプリズム58には、その非平行基板57の一
面に偏光分離用のグレーティング59が形成され他面に全
反射面60が形成されているが、本実施例においては、そ
の全反射面60の形状は平面ではなく、第18図に示すよう
にウェッジプリズム形状に形成されている。
このため、光学系全体のレイアウトを第12図と同じに
すれば、コリメートレンズ56側から見た受光光学系は、
第19図に示すように、2分割受光素子66,67,68,69を計
4個用いて構成されることになる。すなわち、この場
合、0次光T又は1次光Kによってできる2つのスポッ
トを用いてダブルナイフエッジ法によりフォーカスエラ
ー信号Foの検出を行い、また、他の2つのスポット(1
つでもよい)を用いてプシュプル法によりトラックエラ
ー信号Trの検出を行うようにする。さらに、光磁気信号
Moは、0次光Tと1次光Kとの光強度差により検出する
ことができる。従って、このような方法により信号検出
を行うことにより、2分割受光素子66,67,68,69が全て
同一面内に配設されるので一体化して形成することがで
き、しかも、ダブルナイフエッジ法を用いてフォーカス
エラー信号の検出を行うことにより非点収差法に比べ
て、波長変動の影響を小さくすることができるという利
点がある。
すれば、コリメートレンズ56側から見た受光光学系は、
第19図に示すように、2分割受光素子66,67,68,69を計
4個用いて構成されることになる。すなわち、この場
合、0次光T又は1次光Kによってできる2つのスポッ
トを用いてダブルナイフエッジ法によりフォーカスエラ
ー信号Foの検出を行い、また、他の2つのスポット(1
つでもよい)を用いてプシュプル法によりトラックエラ
ー信号Trの検出を行うようにする。さらに、光磁気信号
Moは、0次光Tと1次光Kとの光強度差により検出する
ことができる。従って、このような方法により信号検出
を行うことにより、2分割受光素子66,67,68,69が全て
同一面内に配設されるので一体化して形成することがで
き、しかも、ダブルナイフエッジ法を用いてフォーカス
エラー信号の検出を行うことにより非点収差法に比べ
て、波長変動の影響を小さくすることができるという利
点がある。
次に、請求項1,7,8記載の発明の一実施例を第20図な
いし第22図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第
四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
いし第22図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第
四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
レーザ光源としての半導体レーザ70から出射された光
の光路上には、基板としての平行基板71の一面に回折格
子(第一回折格子)としての透過型回折格子72が形成さ
れ、他面に第二回折格子としての全反射面73が形成され
た光束分離手段としての光束分離素子74が配設されてい
る。前記透過型回折格子72の中央の一部には、半反射膜
としての半透過型回折格子75が形成されている。また、
その半透過型回折格子75により反射された光の光路上に
は、対物レンズ76を介して、光情報記録媒体としての光
磁気ディスク77が配設されている。さらに、その光磁気
ディスク77により反射された光が前記光束分離素子74に
より回折されて進む1次光Kの光路上には第1受光素子
78が配設されており、また、前記光束分離素子74により
屈折されて進む0次光Tの光路上には第2受光素子79が
配設されている。
の光路上には、基板としての平行基板71の一面に回折格
子(第一回折格子)としての透過型回折格子72が形成さ
れ、他面に第二回折格子としての全反射面73が形成され
た光束分離手段としての光束分離素子74が配設されてい
る。前記透過型回折格子72の中央の一部には、半反射膜
としての半透過型回折格子75が形成されている。また、
その半透過型回折格子75により反射された光の光路上に
は、対物レンズ76を介して、光情報記録媒体としての光
磁気ディスク77が配設されている。さらに、その光磁気
ディスク77により反射された光が前記光束分離素子74に
より回折されて進む1次光Kの光路上には第1受光素子
78が配設されており、また、前記光束分離素子74により
屈折されて進む0次光Tの光路上には第2受光素子79が
配設されている。
このような構成において、半導体レーザ70から出射さ
れた光は、拡散光として光束分離素子74の方向へと進ん
でいく。この光束分離素子74に入射した光は、その一部
が反射率の高い半透過型回折格子75により反射され、対
物レンズ76により集光されて光磁気ディスク77の面上に
照射され、これにより情報の記録等が行われる。
れた光は、拡散光として光束分離素子74の方向へと進ん
でいく。この光束分離素子74に入射した光は、その一部
が反射率の高い半透過型回折格子75により反射され、対
物レンズ76により集光されて光磁気ディスク77の面上に
照射され、これにより情報の記録等が行われる。
また、その光磁気ディスク77からの反射光は、その記
録された情報の信号を読取ることによってカー効果によ
りその信号に応じた偏光の回転を受けた状態となり、再
度、光束分離素子74の半透過型回折格子75に導かれる。
そして、この半透過型回折格子75を透過することによっ
て光は0次光Tと1次光Kとに分離され、その裏面の全
反射面73により各々別個に反射される。その後、1次光
Kは透過型回折格子72を透過して外部に出射されて第1
受光素子78に導かれ、一方、0次光Tは別の場所に位置
する透過型回折格子72を透過して外部に出射されること
により第2受光素子79に導かれる。
録された情報の信号を読取ることによってカー効果によ
りその信号に応じた偏光の回転を受けた状態となり、再
度、光束分離素子74の半透過型回折格子75に導かれる。
そして、この半透過型回折格子75を透過することによっ
て光は0次光Tと1次光Kとに分離され、その裏面の全
反射面73により各々別個に反射される。その後、1次光
Kは透過型回折格子72を透過して外部に出射されて第1
受光素子78に導かれ、一方、0次光Tは別の場所に位置
する透過型回折格子72を透過して外部に出射されること
により第2受光素子79に導かれる。
この場合、第1受光素子78及び第2受光素子79は、第
22図(a)(b)に示すように、それぞれ3分割されて
おり、フォーカスエラー信号はビームサイズ法を用い
て、トラックエラー信号はプルシュプル法を用いてそれ
ぞれ検出を行うことができる。また、光磁気信号の検出
は、それら第1受光素子78と第2受光素子79とによりそ
れぞれ検出される信号出力の差分を求めることによって
検出することができる。ただし、そのような方法により
光磁気信号を検出する場合には、第21図(a)に示すよ
うに、半導体レーザ70から出射される光の偏光方向と格
子方向とは45゜をなすように調整しておく必要がある。
22図(a)(b)に示すように、それぞれ3分割されて
おり、フォーカスエラー信号はビームサイズ法を用い
て、トラックエラー信号はプルシュプル法を用いてそれ
ぞれ検出を行うことができる。また、光磁気信号の検出
は、それら第1受光素子78と第2受光素子79とによりそ
れぞれ検出される信号出力の差分を求めることによって
検出することができる。ただし、そのような方法により
光磁気信号を検出する場合には、第21図(a)に示すよ
うに、半導体レーザ70から出射される光の偏光方向と格
子方向とは45゜をなすように調整しておく必要がある。
従って、上述したように光束分離素子74に半透過型回
折格子75と透過型回折格子72を形成したことによって、
光磁気ディスク77からの反射光がその光束分離素子74の
半透過型回折格子75に入射して得られる0次光Tと1次
光Kが全反射面73により反射され外部に出射する時の回
折格子は透過型回折格子72であるため、これにより従来
よりも一段と光利用効率を上げることができ、しかも、
小型で軽量、低コストな光ヘッドを得ることができる。
折格子75と透過型回折格子72を形成したことによって、
光磁気ディスク77からの反射光がその光束分離素子74の
半透過型回折格子75に入射して得られる0次光Tと1次
光Kが全反射面73により反射され外部に出射する時の回
折格子は透過型回折格子72であるため、これにより従来
よりも一段と光利用効率を上げることができ、しかも、
小型で軽量、低コストな光ヘッドを得ることができる。
また、上述したような構成において、半導体レーザ70
より出射された光が光束分離素子74に向かう間の光路上
に、図示しないコリメートレンズを配設することによっ
て、半導体レーザ70から出射された光はコリメートレン
ズを通過した後に光束分離素子74に導かれることにな
り、これにより、出射光のうち平行光のみが半透過型回
折格子75に入射するため高性能な偏光分離を行うことが
でき、光利用効率をさらに一段と上げることが可能とな
る。
より出射された光が光束分離素子74に向かう間の光路上
に、図示しないコリメートレンズを配設することによっ
て、半導体レーザ70から出射された光はコリメートレン
ズを通過した後に光束分離素子74に導かれることにな
り、これにより、出射光のうち平行光のみが半透過型回
折格子75に入射するため高性能な偏光分離を行うことが
でき、光利用効率をさらに一段と上げることが可能とな
る。
次に、第1受光素子78及び第2受光素子79を用いて信
号検出を行う変形例について述べる。まず、その第一の
変形例として、フォーカスエラー信号の検出に非点収差
法を用いた場合について述べる。第23図(a)(b)は
その構成を示したものである。この場合、第23図(a)
の0次光Tを検出する第2受光素子79は4分割の形状と
し、光束分離素子74の厚さ、傾き、屈折率を適当に変え
ることにより0次光Tに非点収差を発生させ、その4分
割された第2受光素子79を最適位置に配することによ
り、非点収差法を用いてフォーカスエラー信号の検出を
行うことができる。一方、1次光Kを検出する第1受光
素子78は2分割の形状とすることによって、プシュプル
法を用いてトラックエラー信号の検出を行うことができ
る。
号検出を行う変形例について述べる。まず、その第一の
変形例として、フォーカスエラー信号の検出に非点収差
法を用いた場合について述べる。第23図(a)(b)は
その構成を示したものである。この場合、第23図(a)
の0次光Tを検出する第2受光素子79は4分割の形状と
し、光束分離素子74の厚さ、傾き、屈折率を適当に変え
ることにより0次光Tに非点収差を発生させ、その4分
割された第2受光素子79を最適位置に配することによ
り、非点収差法を用いてフォーカスエラー信号の検出を
行うことができる。一方、1次光Kを検出する第1受光
素子78は2分割の形状とすることによって、プシュプル
法を用いてトラックエラー信号の検出を行うことができ
る。
また、第二の変形例として、他のもう一つの非点収差
法を用いてフォーカスエラー信号の検出を行う方法につ
いて述べる。半透過型回折格子75又は透過型回折格子72
の少なくとも一方を変調ピッチ化することにより、今度
は1次光K側に非点収差を発生させる方法である。この
場合、フォーカス感度を最適化するのが格子ピッチの変
調度であるため、上述した第一の変形例の非点収差法に
比べて設計の自由度をより一層大きくとることができ
る。
法を用いてフォーカスエラー信号の検出を行う方法につ
いて述べる。半透過型回折格子75又は透過型回折格子72
の少なくとも一方を変調ピッチ化することにより、今度
は1次光K側に非点収差を発生させる方法である。この
場合、フォーカス感度を最適化するのが格子ピッチの変
調度であるため、上述した第一の変形例の非点収差法に
比べて設計の自由度をより一層大きくとることができ
る。
なお、フォーカスエラー信号の検出は、ビームサイズ
法、非点収差法のどちらでも利用することができ、ま
た、トラックエラー信号の検出は、上述したようなコン
ティニュアス方式の他に、サンプルサーボ方式でも検出
することができる。また、0次光Tのみが通過する片方
の領域に設けられた透過型回折格子72は単に0次光Tが
透過するだけなので、作製上問題がなければ別に設けな
くても性能上の問題は起こらない。さらに、ここでの光
束分離素子74の基板は平行平板としたが、第1受光素子
78と第2受光素子79との間隔を適正化するために、図示
しないウェッジプリズムのような形状にしても同様な効
果を得ることができる。
法、非点収差法のどちらでも利用することができ、ま
た、トラックエラー信号の検出は、上述したようなコン
ティニュアス方式の他に、サンプルサーボ方式でも検出
することができる。また、0次光Tのみが通過する片方
の領域に設けられた透過型回折格子72は単に0次光Tが
透過するだけなので、作製上問題がなければ別に設けな
くても性能上の問題は起こらない。さらに、ここでの光
束分離素子74の基板は平行平板としたが、第1受光素子
78と第2受光素子79との間隔を適正化するために、図示
しないウェッジプリズムのような形状にしても同様な効
果を得ることができる。
次に、請求項1,9,10記載の発明の一実施例を第25図な
いし第29図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第
四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
いし第29図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第
四の問題点及び第五の問題点に対処したものである。
レーザ光源としての半導体レーザ80から出射された出
射光aがコリメートレンズ81を通過して対物レンズ82に
向かう間の光路上には、基板83の一面に回折格子(第一
回折部材)としての偏光分離回折格子84が形成され、他
面に第二回折部材としての全反射面85が形成されたくさ
び状の光束分離手段としての光束分離素子86が配設され
ている。前記偏光分離回折格子84の表面には、半反射膜
87が形成されている。また、この半反射膜87により反射
された光の光路上には、集光レンズ82を介して、光情報
記録媒体としての光ディスク88が配設されている。
射光aがコリメートレンズ81を通過して対物レンズ82に
向かう間の光路上には、基板83の一面に回折格子(第一
回折部材)としての偏光分離回折格子84が形成され、他
面に第二回折部材としての全反射面85が形成されたくさ
び状の光束分離手段としての光束分離素子86が配設され
ている。前記偏光分離回折格子84の表面には、半反射膜
87が形成されている。また、この半反射膜87により反射
された光の光路上には、集光レンズ82を介して、光情報
記録媒体としての光ディスク88が配設されている。
この場合、前記半反射膜87により反射されて得られた
1本の反射光89と前記半反射膜87を透過して得られた2
本の透過光90,91a,b(第26図参照)とが前記光ディスク
88に導かれるようにくさび状をした前記光束分離素子86
のくさび角θを設定した。ただし、くさび角θは、偏光
分離回折格子84の形成された側の面の水平面となす角を
α、全反射面85の形成された側の面の水平面となす角を
βとすると、θ=α−βとして表わすことができる。
1本の反射光89と前記半反射膜87を透過して得られた2
本の透過光90,91a,b(第26図参照)とが前記光ディスク
88に導かれるようにくさび状をした前記光束分離素子86
のくさび角θを設定した。ただし、くさび角θは、偏光
分離回折格子84の形成された側の面の水平面となす角を
α、全反射面85の形成された側の面の水平面となす角を
βとすると、θ=α−βとして表わすことができる。
また、第27図〜第29図に示すように、前記光ディスク
88により反射された反射光(主ビーム)89及び透過光
(副ビーム)91a,91bのうち、前記反射光89を受光する
2つの3分割受光素子92,93及び前記透過光91a,91bを受
光する2つの無分割受光素子94,95を、前記コリメート
レンズ81の前記半導体レーザ80側の光路上に配設した。
88により反射された反射光(主ビーム)89及び透過光
(副ビーム)91a,91bのうち、前記反射光89を受光する
2つの3分割受光素子92,93及び前記透過光91a,91bを受
光する2つの無分割受光素子94,95を、前記コリメート
レンズ81の前記半導体レーザ80側の光路上に配設した。
このような構成において、半導体レーザ80から出射さ
れた出射光aは、コリメートレンズ81により平行光とな
り、くさび状をした光束分離手段86の偏光分離回折格子
84が形成された側の面に入射する。この時、出射光a
は、偏光分離回折格子84の格子方向(紙面垂直方向)と
45゜をなす直線偏光とすると、まず、第26図に示すよう
に、その出射光aは半反射膜87により一部が反射され、
反射光89(以下、主ビーム89と呼ぶ)として光ディスク
88の表面に照射され、また、半反射膜87を透過した透過
光90(以下、副ビーム90と呼ぶ)は、偏光分離回折格子
84で2つに分離され、0次光91a(透過光)と1次光91b
(回折光)とに分離される。
れた出射光aは、コリメートレンズ81により平行光とな
り、くさび状をした光束分離手段86の偏光分離回折格子
84が形成された側の面に入射する。この時、出射光a
は、偏光分離回折格子84の格子方向(紙面垂直方向)と
45゜をなす直線偏光とすると、まず、第26図に示すよう
に、その出射光aは半反射膜87により一部が反射され、
反射光89(以下、主ビーム89と呼ぶ)として光ディスク
88の表面に照射され、また、半反射膜87を透過した透過
光90(以下、副ビーム90と呼ぶ)は、偏光分離回折格子
84で2つに分離され、0次光91a(透過光)と1次光91b
(回折光)とに分離される。
そして、0次光91aは、全反射面85で反射され、再び
偏光分離回折格子84を透過する。この時、全反射面85が
偏光分離回折格子84の形成された側の面とくさび角θだ
けずれていることから、その0次光91aは主ビーム89と
は平行にならず、ある所望の角度をもって対物レンズ82
の方向へ向かう。一方、1次光91bは、偏光分離回折格
子84により回折された後、全反射面85で反射され、再び
偏光分離回折格子84で回折される。この場合にも、全反
射面85がくさび角θをもっているため、2回目に偏光分
離回折格子84を通る時の入射角は大きくなり、それに合
わせて回折角も大きくなることから、その1次光91bも
主ビーム89とは平行にならず、ある所望の角度をもって
対物レンズ82に向かうことになる。従って、このように
して得られた1本の主ビーム29(反射光)と2本の副ビ
ーム90(0次光91aと1次光91b)とは、対物レンズ82に
より集光されて3つのスポットを形成し光ディスク88の
表面に照射されることになり、これにより、情報の記録
を行うことができると共に3ビームトラッキング方式が
可能となる。
偏光分離回折格子84を透過する。この時、全反射面85が
偏光分離回折格子84の形成された側の面とくさび角θだ
けずれていることから、その0次光91aは主ビーム89と
は平行にならず、ある所望の角度をもって対物レンズ82
の方向へ向かう。一方、1次光91bは、偏光分離回折格
子84により回折された後、全反射面85で反射され、再び
偏光分離回折格子84で回折される。この場合にも、全反
射面85がくさび角θをもっているため、2回目に偏光分
離回折格子84を通る時の入射角は大きくなり、それに合
わせて回折角も大きくなることから、その1次光91bも
主ビーム89とは平行にならず、ある所望の角度をもって
対物レンズ82に向かうことになる。従って、このように
して得られた1本の主ビーム29(反射光)と2本の副ビ
ーム90(0次光91aと1次光91b)とは、対物レンズ82に
より集光されて3つのスポットを形成し光ディスク88の
表面に照射されることになり、これにより、情報の記録
を行うことができると共に3ビームトラッキング方式が
可能となる。
また、光ディスク88により反射された3ビーム(1本
の主ビーム89、2本の副ビーム91a,91b)は、対物レン
ズ82を通過して、再び光束分離素子86の半反射膜87に入
射する。このうち、2本の副ビーム91a,91bは、その半
反射膜87により反射され、コリメートレンズ81により集
光され、第28図に示すような2つの無分割受光素子94,9
5にそれぞれ受光され、これによりその光強度差からト
ラックエラー信号Trを検出することができる。
の主ビーム89、2本の副ビーム91a,91b)は、対物レン
ズ82を通過して、再び光束分離素子86の半反射膜87に入
射する。このうち、2本の副ビーム91a,91bは、その半
反射膜87により反射され、コリメートレンズ81により集
光され、第28図に示すような2つの無分割受光素子94,9
5にそれぞれ受光され、これによりその光強度差からト
ラックエラー信号Trを検出することができる。
一方、光ディスク88により反射された1本の主ビーム
89は、第27図に示すように、半反射膜87を透過し(一部
は反射される)、偏光分離回折格子84により透過光89a
と回折光89bとにその偏光方向により分離される。その
透過光89aは、全反射面85で全反射された後、再度偏光
分離回折格子84を透過して3分割受光素子92,93の方向
に向かう。この場合、その透過光89aはくさび形をした
面による反射により出射光aの光軸a0とは平行になら
ず、所定の角度をもってコリメートレンズ81に入射しこ
れにより集光されて一方の3分割受光素子92に検出され
る。また、回折光89bは、全反射面85で反射された後、
再び偏光分離回折格子84に向かうが、この時、くさび形
の面による反射のためその偏光分離回折格子84への入射
角は1回目より角度が小さくなり、その結果、回折角も
小さくなって出射される。この場合にも、その回折光89
bは出射光aの光軸とは平行にならず、所定の角度をも
ってコリメートレンズ81に入射しこれにより集光されて
他方の3分割受光素子93に検出される。従って、このよ
うに主ビーム89は、透過光89aと回折光89bとに分離され
るため、その光強度差から光磁気信号Moを検出すること
ができ、これにより光ディスク88に記録された情報の再
生を行うことができる。
89は、第27図に示すように、半反射膜87を透過し(一部
は反射される)、偏光分離回折格子84により透過光89a
と回折光89bとにその偏光方向により分離される。その
透過光89aは、全反射面85で全反射された後、再度偏光
分離回折格子84を透過して3分割受光素子92,93の方向
に向かう。この場合、その透過光89aはくさび形をした
面による反射により出射光aの光軸a0とは平行になら
ず、所定の角度をもってコリメートレンズ81に入射しこ
れにより集光されて一方の3分割受光素子92に検出され
る。また、回折光89bは、全反射面85で反射された後、
再び偏光分離回折格子84に向かうが、この時、くさび形
の面による反射のためその偏光分離回折格子84への入射
角は1回目より角度が小さくなり、その結果、回折角も
小さくなって出射される。この場合にも、その回折光89
bは出射光aの光軸とは平行にならず、所定の角度をも
ってコリメートレンズ81に入射しこれにより集光されて
他方の3分割受光素子93に検出される。従って、このよ
うに主ビーム89は、透過光89aと回折光89bとに分離され
るため、その光強度差から光磁気信号Moを検出すること
ができ、これにより光ディスク88に記録された情報の再
生を行うことができる。
また、第29図は、これまで述べてきた無分割受光素子
94,95及び2つの3分割受光素子92,93の位置関係を示し
たものである。この場合、主ビーム89は、光軸a0の方向
に対して前後にずらして配置され互いに焦点距離の異な
る2つの3分割受光素子92,93により検出されることか
ら、フォーカスエラー信号Foをビームサイズ法を用いて
検出することができる。
94,95及び2つの3分割受光素子92,93の位置関係を示し
たものである。この場合、主ビーム89は、光軸a0の方向
に対して前後にずらして配置され互いに焦点距離の異な
る2つの3分割受光素子92,93により検出されることか
ら、フォーカスエラー信号Foをビームサイズ法を用いて
検出することができる。
上述したように、主ビーム89を3分割受光素子92,93
に検出させ、副ビーム90を無分割受光素子94,95に検出
させることによって、光磁気信号Mo、フォーカスエラー
信号Fo、トラックエラー信号Trを検出することが可能と
なり、さらに、この場合、トラックエラー信号Trの検出
方法としては、3ビーム法、プシュプル法、サンプルサ
ーボ法を採用することができ、これにより多種の光ディ
スク88に対応させることが可能となる。
に検出させ、副ビーム90を無分割受光素子94,95に検出
させることによって、光磁気信号Mo、フォーカスエラー
信号Fo、トラックエラー信号Trを検出することが可能と
なり、さらに、この場合、トラックエラー信号Trの検出
方法としては、3ビーム法、プシュプル法、サンプルサ
ーボ法を採用することができ、これにより多種の光ディ
スク88に対応させることが可能となる。
また、光束分離素子86をクサビ形状にしたことにより
3ビーム化が可能となり、これにより3ビームトラッキ
ング法が可能となるため、CDや追記形光ディスク、さら
には、光磁気ディスクの各メディアに対してコンパチブ
ルで、しかも、小型化、軽量化された光ピックアップを
得ることができるものである。
3ビーム化が可能となり、これにより3ビームトラッキ
ング法が可能となるため、CDや追記形光ディスク、さら
には、光磁気ディスクの各メディアに対してコンパチブ
ルで、しかも、小型化、軽量化された光ピックアップを
得ることができるものである。
次に、請求項1,11記載の発明の一実施例を第30図ない
し第34図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第六
の問題点に対処したものである。また、従来技術(第38
図参照)と同一部分についての説明は省略する。
し第34図に基づいて説明する。なお、本実施例は、第六
の問題点に対処したものである。また、従来技術(第38
図参照)と同一部分についての説明は省略する。
光束分離手段としての光束分離素子96は、第31図に示
すように、第一回折部材としての透過型回折格子97とこ
の透過型回折格子97に一定角度(くさび角)Δθをなし
て配設された第二回折部材としての高反射面98とを有し
ている。この光束分離素子96は、レーザ光源としての半
導体レーザ99から出射された光がコリメートレンズ100
に向かう間の光路上に位置して設けられている。
すように、第一回折部材としての透過型回折格子97とこ
の透過型回折格子97に一定角度(くさび角)Δθをなし
て配設された第二回折部材としての高反射面98とを有し
ている。この光束分離素子96は、レーザ光源としての半
導体レーザ99から出射された光がコリメートレンズ100
に向かう間の光路上に位置して設けられている。
このような構成において、光磁気ディスク101からの
反射光は、対物レンズ102、コリメートレンズ100を順次
介した後、光束分離手段96の透過型回折格子97に入射
し、透過光Tと回折光Kとに分離される。その透過光T
は、高反射面98により反射され、透過型回折格子97を再
び透過し、これにより2回とも透過した光となる。一
方、その回折光Kは、高反射面98により反射され、透過
型回折格子97により再び回折され、これにより2回とも
回折した光となる。
反射光は、対物レンズ102、コリメートレンズ100を順次
介した後、光束分離手段96の透過型回折格子97に入射
し、透過光Tと回折光Kとに分離される。その透過光T
は、高反射面98により反射され、透過型回折格子97を再
び透過し、これにより2回とも透過した光となる。一
方、その回折光Kは、高反射面98により反射され、透過
型回折格子97により再び回折され、これにより2回とも
回折した光となる。
この場合、回折光Kの回折条件式は、次のようになる
(第32図参照)。
(第32図参照)。
sinθi+sinθ0=λ/Λ …(1) sin(θ0−2Δθ)+sinθ1 …(2) なお、 θi:入射角、 θ0:1回回折角 Δθ:くさび角、θ1:2回回折角 λ:波長、 Λ:回折格子のピッチ ここで、θ1を求めると、 となる。
ここで、回折軸ずれ角ψd、透過軸ずれ角度ψtをそ
れぞれ、次のように定義する。
れぞれ、次のように定義する。
ψd=入射角−2回回折角 =θi−θ1 …(4) ψt=2Δθ …(5) そして、これら(4)、(5)式を用いて、2回とも
回折された回折光Kと2回とも透過した透過光Tとの角
度差(分離角)ψsを求めると、 ψs=ψd−ψt=θi−θ1−2Δθ …(6) となる。
回折された回折光Kと2回とも透過した透過光Tとの角
度差(分離角)ψsを求めると、 ψs=ψd−ψt=θi−θ1−2Δθ …(6) となる。
従って、このようなことから、第30図に示すように、
2個の受光素子103,104を半導体レーザ99の隣りに近接
して配置させることができるので、半導体レーザ用の基
板と受光素子用の基板とを別個に作成することが可能と
なる。従って、これにより、半導体レーザ99と受光素子
103,104とは別個に実装することができるため組付け調
整が容易となる。
2個の受光素子103,104を半導体レーザ99の隣りに近接
して配置させることができるので、半導体レーザ用の基
板と受光素子用の基板とを別個に作成することが可能と
なる。従って、これにより、半導体レーザ99と受光素子
103,104とは別個に実装することができるため組付け調
整が容易となる。
この場合、受光素子103,104の形状としては、第33図
に示すように、一方を4分割受光面105とし他方を2分
割受光面106とすることができる。この場合、2分割受
光面106によりプシュプル法を用いてトラックエラー信
号を検出することができ、また、4分割受光面105から
は非点収差法によりフォーカスエラー信号を検出するこ
とができる。なお、サンプルサーボトラッキングの場合
には、2分割受光面は無分割としてよい。また、第34図
(a)の受光面は、ビームサイズ法によるフォーカスエ
ラー信号検出のためのものである。また、プシュプル法
でトラックエラー信号を検出する時は、第34図(b)に
示すように、破線部で左右に分割線107を加えることに
より、左右の光量差により検出することができる。な
お、サンプルサーボトラッキングの場合にはその分割線
107は不要である。
に示すように、一方を4分割受光面105とし他方を2分
割受光面106とすることができる。この場合、2分割受
光面106によりプシュプル法を用いてトラックエラー信
号を検出することができ、また、4分割受光面105から
は非点収差法によりフォーカスエラー信号を検出するこ
とができる。なお、サンプルサーボトラッキングの場合
には、2分割受光面は無分割としてよい。また、第34図
(a)の受光面は、ビームサイズ法によるフォーカスエ
ラー信号検出のためのものである。また、プシュプル法
でトラックエラー信号を検出する時は、第34図(b)に
示すように、破線部で左右に分割線107を加えることに
より、左右の光量差により検出することができる。な
お、サンプルサーボトラッキングの場合にはその分割線
107は不要である。
次に、本実施例の変形例を第35図に示す。前述した実
施例は、第31図に示したように、光束分離手段96を構成
する透過型回折格子97と高反射面98とは分離されていた
が、ここでは、一定角度Δθを有するくさび108の片面
に透過型回折格子97を形成し、その他面に高反射面98を
形成するようにしたものである。このように形成しても
同様な効果を得ることができる。
施例は、第31図に示したように、光束分離手段96を構成
する透過型回折格子97と高反射面98とは分離されていた
が、ここでは、一定角度Δθを有するくさび108の片面
に透過型回折格子97を形成し、その他面に高反射面98を
形成するようにしたものである。このように形成しても
同様な効果を得ることができる。
発明の効果 請求項1記載の発明は、レーザ光源から出射された光
を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し情
報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射
光を検出することにより情報用の再生信号やトラックエ
ラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記
録再生装置において、レーザ光源より出射された出射光
が対物レンズに向かう間の光路上に半反射膜を有する第
一回折部材を設け、光情報記録媒体からの反射光が第一
回折部材を通過した光路上に第二回折部材を配設し、前
記第一回折部材と前記第二回折部材とを通過することに
より分離して得られた透過光と回折光とをそれぞれ検出
する受光素子を設けたので、スペースの省略化を図り出
射光学系と信号検出光学系とを一体化して構成すること
ができ、これにより装置全体の部品点数を削減して小型
で軽量、しかも、安価な装置を得ることができるもので
ある。
を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し情
報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射
光を検出することにより情報用の再生信号やトラックエ
ラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記
録再生装置において、レーザ光源より出射された出射光
が対物レンズに向かう間の光路上に半反射膜を有する第
一回折部材を設け、光情報記録媒体からの反射光が第一
回折部材を通過した光路上に第二回折部材を配設し、前
記第一回折部材と前記第二回折部材とを通過することに
より分離して得られた透過光と回折光とをそれぞれ検出
する受光素子を設けたので、スペースの省略化を図り出
射光学系と信号検出光学系とを一体化して構成すること
ができ、これにより装置全体の部品点数を削減して小型
で軽量、しかも、安価な装置を得ることができるもので
ある。
請求項2記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化し、この平行化された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反
射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラック
エラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報
記録再生装置において、レーザ光源から出射された光の
光路上に半反射膜を有する表面回折格子及び裏面回折格
子の形成された光束分離手段を配設したので、スペース
の省略化を図り出射光学系と信号検出光学系とを一体化
して構成することができ、これにより、装置全体の部品
点数を削減して小型で軽量、しかも、安価な装置を得る
ことができるものである。
をコリメートレンズにより平行化し、この平行化された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反
射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラック
エラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報
記録再生装置において、レーザ光源から出射された光の
光路上に半反射膜を有する表面回折格子及び裏面回折格
子の形成された光束分離手段を配設したので、スペース
の省略化を図り出射光学系と信号検出光学系とを一体化
して構成することができ、これにより、装置全体の部品
点数を削減して小型で軽量、しかも、安価な装置を得る
ことができるものである。
請求項3記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化し、この平行化された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
て情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの
反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラッ
クエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情
報記録再生装置において、レーザ光源から出射された光
の光路上に半反射膜を有する回折格子及び全反射面の形
成された光束分離手段を配設したので、片面のみの回折
格子を作製すればよいためその作製作業や取扱いが非常
に容易となり、また、レーザ光源と受光素子とを一体化
して構成させることもできるため部品点数の大幅な削減
が図れ、これにより組付け作業を簡素化でき一段と小型
化、軽量化した装置を得ることができるものである。
をコリメートレンズにより平行化し、この平行化された
光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射し
て情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体からの
反射光を受光素子に導くことにより情報の再生やトラッ
クエラー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情
報記録再生装置において、レーザ光源から出射された光
の光路上に半反射膜を有する回折格子及び全反射面の形
成された光束分離手段を配設したので、片面のみの回折
格子を作製すればよいためその作製作業や取扱いが非常
に容易となり、また、レーザ光源と受光素子とを一体化
して構成させることもできるため部品点数の大幅な削減
が図れ、これにより組付け作業を簡素化でき一段と小型
化、軽量化した装置を得ることができるものである。
請求項4記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化し、その平行光を対物
レンズにより集光して光情報記録媒体に照射することに
より情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体から
の反射光を信号検出光学系内の受光素子に導くことによ
り情報の再生や、フォーカスエラー信号、トラックエラ
ー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、レー
ザ光源から出射された光の光路上に、片面に第一回折格
子の形成された半反射性の第一基板とこの第一基板の前
記第一回折格子の形成された側の面とスペーサを介して
対向配置された側の面に第二回折格子の形成された透過
性の第二基板とよりなる二重回折格子素子を配設したの
で、この二重回折格子素子を用いて透過光と回折光との
いずれか片方に非点収差を発生させてフォーカスエラー
信号の検出を行うことにより波長変動の影響を受けない
常に安定した信号検出を行うことができ、また、二重回
折格子素子は回折格子面が近接して配置されており、波
長変動による1次光のシフト変動の影響を受けにくくな
っているため、従来よりも信頼性の高い信号検出を行う
ことができるものである。
をコリメートレンズにより平行化し、その平行光を対物
レンズにより集光して光情報記録媒体に照射することに
より情報の記録を行うと共に、その光情報記録媒体から
の反射光を信号検出光学系内の受光素子に導くことによ
り情報の再生や、フォーカスエラー信号、トラックエラ
ー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、レー
ザ光源から出射された光の光路上に、片面に第一回折格
子の形成された半反射性の第一基板とこの第一基板の前
記第一回折格子の形成された側の面とスペーサを介して
対向配置された側の面に第二回折格子の形成された透過
性の第二基板とよりなる二重回折格子素子を配設したの
で、この二重回折格子素子を用いて透過光と回折光との
いずれか片方に非点収差を発生させてフォーカスエラー
信号の検出を行うことにより波長変動の影響を受けない
常に安定した信号検出を行うことができ、また、二重回
折格子素子は回折格子面が近接して配置されており、波
長変動による1次光のシフト変動の影響を受けにくくな
っているため、従来よりも信頼性の高い信号検出を行う
ことができるものである。
請求項5記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射することにより情
報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射
光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フォ
ーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置にお
いて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間の
光路上にくさび状をなす非平行基板の一面に半反射膜を
有する回折格子が形成され他面に全反射面が形成された
光束分離手段を配設し、この光束分離手段により反射さ
れた光が前記コリメートレンズを透過した前記レーザ光
源側の光路上に前記光情報記録媒体からの反射光を検出
する2個の受光素子を配設したので、そのような回折格
子と全反射面とが非平行な基板の両面に形成された光束
分離手段を用いて0次光と1次光とをスポット分離して
いるため光学系全体のレイアウトの設計が容易となり、
しかも、その光束分離手段はコリメートレンズと対物レ
ンズとの間に配設されているので平行化された光が回折
格子に入射するようになり、これにより、高性能な偏光
分離を行うことができるため光利用効率を一層高めるこ
とができるものである。
をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射することにより情
報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射
光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フォ
ーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置にお
いて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間の
光路上にくさび状をなす非平行基板の一面に半反射膜を
有する回折格子が形成され他面に全反射面が形成された
光束分離手段を配設し、この光束分離手段により反射さ
れた光が前記コリメートレンズを透過した前記レーザ光
源側の光路上に前記光情報記録媒体からの反射光を検出
する2個の受光素子を配設したので、そのような回折格
子と全反射面とが非平行な基板の両面に形成された光束
分離手段を用いて0次光と1次光とをスポット分離して
いるため光学系全体のレイアウトの設計が容易となり、
しかも、その光束分離手段はコリメートレンズと対物レ
ンズとの間に配設されているので平行化された光が回折
格子に入射するようになり、これにより、高性能な偏光
分離を行うことができるため光利用効率を一層高めるこ
とができるものである。
請求項6記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射することにより情
報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射
光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フォ
ーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置にお
いて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間の
光路上に非平行基板の一面に半反射膜を有する回折格子
が形成され他面にウェッジプリズム形状をなす全反射面
が形成された光束分離手段を配設し、この光束分離手段
により反射された光が前記コリメートレンズを透過した
前記半導体レーザ側の光路上に前記光情報記録媒体から
の反射光を検出する2個の受光素子を2組配設したの
で、そのように全反射面をウェッジプリズム形状とし2
個の受光素子を2組配設したことによって、ダブルナイ
フエッジ法を用いてフォーカスエラー信号の検出を行う
ことが可能となり、これにより、組付け精度を従来より
も一段とゆるくすることができ、常に安定した信号の検
出を行うことができるものである。
をコリメートレンズにより平行化し、その後対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射することにより情
報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射
光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フォ
ーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置にお
いて、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間の
光路上に非平行基板の一面に半反射膜を有する回折格子
が形成され他面にウェッジプリズム形状をなす全反射面
が形成された光束分離手段を配設し、この光束分離手段
により反射された光が前記コリメートレンズを透過した
前記半導体レーザ側の光路上に前記光情報記録媒体から
の反射光を検出する2個の受光素子を2組配設したの
で、そのように全反射面をウェッジプリズム形状とし2
個の受光素子を2組配設したことによって、ダブルナイ
フエッジ法を用いてフォーカスエラー信号の検出を行う
ことが可能となり、これにより、組付け精度を従来より
も一段とゆるくすることができ、常に安定した信号の検
出を行うことができるものである。
請求項7記載の発明は、レーザ光源から出射された光
を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射する
ことにより情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒
体からの反射光を検出して情報の再生や、トラックエラ
ー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録
再生装置において、前記レーザ光源より出射された光が
前記対物レンズに向かう間の光路上に基板の一面に回折
格子が形成されその一部表面に半透過層を有し他面に全
反射面が形成された光束分離手段を配設し、この光束分
離手段により回折されて進む1次光の光路上に第1受光
素子を配設し、前記光束分離手段により屈折されて進む
0次光の光路上に第2受光素子を配設したので、光束分
離手段の回折格子により分離された0次光と1次光とが
全反射面により反射され外部に出射する際には、回折格
子における半透過層以外の透過領域を通過することにな
るため、これにより従来に比べ一段と光利用効率を上げ
ることができるものである。
を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照射する
ことにより情報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒
体からの反射光を検出して情報の再生や、トラックエラ
ー信号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録
再生装置において、前記レーザ光源より出射された光が
前記対物レンズに向かう間の光路上に基板の一面に回折
格子が形成されその一部表面に半透過層を有し他面に全
反射面が形成された光束分離手段を配設し、この光束分
離手段により回折されて進む1次光の光路上に第1受光
素子を配設し、前記光束分離手段により屈折されて進む
0次光の光路上に第2受光素子を配設したので、光束分
離手段の回折格子により分離された0次光と1次光とが
全反射面により反射され外部に出射する際には、回折格
子における半透過層以外の透過領域を通過することにな
るため、これにより従来に比べ一段と光利用効率を上げ
ることができるものである。
請求項8記載の発明は、上述したような請求項7記載
の発明の構成において、さらに、レーザ光源より出射さ
れた光が光束分離手段に向かう間の光路上にコリメート
レンズを配設したので、出射光のうち平行光のみが回折
格子に入射するため高性能な偏光分離を行うことが可能
となり、これにより光利用効率をさらに一段と上げるこ
とができるものである。
の発明の構成において、さらに、レーザ光源より出射さ
れた光が光束分離手段に向かう間の光路上にコリメート
レンズを配設したので、出射光のうち平行光のみが回折
格子に入射するため高性能な偏光分離を行うことが可能
となり、これにより光利用効率をさらに一段と上げるこ
とができるものである。
請求項9記載の発明は、レーザ光源から出射された出
射光をコリメートレンズを介して対物レンズにより集光
して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録を
行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出し
て情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラ
ー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前記
出射光が前記コリメートレンズを通過して前記対物レン
ズに向かう間の光路上に基板の一面に回折格子が形成さ
れその表面に半反射膜を有し他面に全反射面が形成され
たくさび状の光束分離手段を配設し、前記出射光が前記
半反射膜により反射されて得られた1本の主ビームと前
記半反射膜を透過して得られた2本の副ビームとが前記
光情報記録媒体に導かれるようにくさび状をした前記光
束分離手段のくさび角を設定したので、出射光が光束分
離手段の回折格子の表面に形成された半反射膜に入射し
た光のうち、その半反射膜による反射光を主ビームとし
又透過光を副ビームとしているため、3ビームトラッキ
ングを行うことが可能となり、これにより光情報記録媒
体に光磁気ディスクやCD等を用いた各種装置に本装置を
対応させることが可能となり、その応用範囲を従来に比
べ一段と広げることができるものである。
射光をコリメートレンズを介して対物レンズにより集光
して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録を
行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出し
て情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラ
ー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前記
出射光が前記コリメートレンズを通過して前記対物レン
ズに向かう間の光路上に基板の一面に回折格子が形成さ
れその表面に半反射膜を有し他面に全反射面が形成され
たくさび状の光束分離手段を配設し、前記出射光が前記
半反射膜により反射されて得られた1本の主ビームと前
記半反射膜を透過して得られた2本の副ビームとが前記
光情報記録媒体に導かれるようにくさび状をした前記光
束分離手段のくさび角を設定したので、出射光が光束分
離手段の回折格子の表面に形成された半反射膜に入射し
た光のうち、その半反射膜による反射光を主ビームとし
又透過光を副ビームとしているため、3ビームトラッキ
ングを行うことが可能となり、これにより光情報記録媒
体に光磁気ディスクやCD等を用いた各種装置に本装置を
対応させることが可能となり、その応用範囲を従来に比
べ一段と広げることができるものである。
請求項10記載の発明は、上述したような請求項9記載
の発明の構成において、さらに、光情報記録媒体により
反射された主ビーム及び副ビームのうち、主ビームを受
光する2つの3分割受光素子を設け、副ビームを受光す
る2つの無分割受光素子を設けたので、光情報記録媒体
により反射された主ビーム及び副ビームを各々の受光素
子により全て無駄なく受光させているため、従来に比べ
光利用効率を一段と向上させることができるものであ
る。
の発明の構成において、さらに、光情報記録媒体により
反射された主ビーム及び副ビームのうち、主ビームを受
光する2つの3分割受光素子を設け、副ビームを受光す
る2つの無分割受光素子を設けたので、光情報記録媒体
により反射された主ビーム及び副ビームを各々の受光素
子により全て無駄なく受光させているため、従来に比べ
光利用効率を一段と向上させることができるものであ
る。
請求項11記載の発明は、レーザ光源から出射された光
をコリメートレンズにより平行化した後、対物レンズに
より集光して光情報記録媒体の表面に照射し情報の記録
を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受光
素子により検出してフォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、透
過型回折格子とこの透過型回折格子に一定角度をなして
配設された高反射面とを有する光束分離手段を設けたこ
とにより、この光束分離手段により分離される透過光と
反射光との光路を変えることができるため、従来のよう
にレーザ光源を挟んだ両側に受光素子を設ける必要がな
くなり、これにより、レーザ光源用の基板と受光素子用
の基板とを別個に作成して実装することができるため、
従来に比べ組付け調整が簡素化され作業効率を上げるこ
とができるものである。
をコリメートレンズにより平行化した後、対物レンズに
より集光して光情報記録媒体の表面に照射し情報の記録
を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受光
素子により検出してフォーカスエラー信号、トラックエ
ラー信号の検出を行う光情報記録再生装置において、透
過型回折格子とこの透過型回折格子に一定角度をなして
配設された高反射面とを有する光束分離手段を設けたこ
とにより、この光束分離手段により分離される透過光と
反射光との光路を変えることができるため、従来のよう
にレーザ光源を挟んだ両側に受光素子を設ける必要がな
くなり、これにより、レーザ光源用の基板と受光素子用
の基板とを別個に作成して実装することができるため、
従来に比べ組付け調整が簡素化され作業効率を上げるこ
とができるものである。
請求項12記載の発明は、片面に第一回折格子の形成さ
れた半反射性の第一基板とこの第一基板の前記第一回折
格子の形成された側の面とスペーサを介して対向配置さ
れた側の面に第二回折格子の形成された透過性の第二基
板とよりなる二重回折格子素子を設けたので、第一回折
格子及び第二回折格子の格子面が互いに向かい合い密閉
した状態となり、しかも、格子形状が安定してそれら2
つの回折格子が近接しているため、波長変動による1次
光のシフト変動を受けにくいものとすることができ、ま
た、回折格子の形成された外側の一面を半透過面とした
ことにより、高精度のビームスプリッタ機能をもち、光
情報記録再生装置に応用することができ、これにより、
部品点数を一段と削減して小型化、軽量化した装置を得
ることができるものである。
れた半反射性の第一基板とこの第一基板の前記第一回折
格子の形成された側の面とスペーサを介して対向配置さ
れた側の面に第二回折格子の形成された透過性の第二基
板とよりなる二重回折格子素子を設けたので、第一回折
格子及び第二回折格子の格子面が互いに向かい合い密閉
した状態となり、しかも、格子形状が安定してそれら2
つの回折格子が近接しているため、波長変動による1次
光のシフト変動を受けにくいものとすることができ、ま
た、回折格子の形成された外側の一面を半透過面とした
ことにより、高精度のビームスプリッタ機能をもち、光
情報記録再生装置に応用することができ、これにより、
部品点数を一段と削減して小型化、軽量化した装置を得
ることができるものである。
第1図は請求項1,2記載の発明の一実施例を示す構成
図、第2図はデュアル型回折格子の様子を示す構成図、
第3図はレーザ光源の後方からデュアル型回折格子の方
向をみた説明図、第4図は受光素子によりフォーカスエ
ラー信号を検出する原理を示す説明図、第5図は高密度
回折格子の回折効率の偏光依存性を示す波形図、第6図
は請求項1,3記載の発明の一実施例を示す構成図、第7
図は請求項1,4,12記載の発明の第一の実施例を示す構成
図、第8図はそのデュアル型回折格子に入射して分離さ
れる光の光路状態を示す側面図、第9図は請求項1,4,12
記載の発明の第二の実施例を示す構成図、第10図は請求
項1,4,12記載の発明の第三の実施例を示す構成図、第11
図は信号検出光学系内のシリンドルカルレンズの配設状
態を示す説明図、第12図は請求項1,5,6記載の発明の第
一の実施例を示す構成図、第13図はその変調化された回
折格子の様子を示す正面図、第14図は回折格子の偏光依
存性を示す特性図、第15図は請求項1,5,6記載の発明の
第二の実施例を示す構成図、第16図はその受光素子の配
設状態の様子を示す正面図、第17図は等ピッチの回折格
子の様子を示す正面図、第18図は請求項1,5,6記載の発
明の第三の実施例である光束分離手段の様子を示す斜視
図、第19図はその受光素子の配設状態の様子を示す正面
図、第20図は請求項1,7,8記載の発明の一実施例を示す
構成図、第21図はその回折格子の様子を示す説明図、第
22図は受光素子の表面形状の様子を示す説明図、第23図
及び第24図はその受光素子の変形例を示す正面図、第25
図は請求項1,9,10記載の発明の一実施例を示す構成図、
第26図は出射光光束分離手段内における進行経路を示す
光路図、第27図は光情報記録媒体からの戻り光の光束分
離手段内における進行経路を示す光路図、第28図は無分
割及び3分割受光素子に接続された配線回路の様子を示
す回路図、第29図は無分割及び3分割受光素子の光路上
における配設位置の関係を示す光路図、第30図は請求項
1,11記載の発明の一実施例を示す構成図、第31図はその
光束分離手段を示す側面図、第32図は各種回折角の様子
を示す説明図、第33図は受光素子の正面図、第34図はそ
の受光素子の変形例を示す側面図、第35図は光束分離手
段の変形例を示す正面図、第36図は第一の従来例を示す
構成図、第37図は第二の従来例を示す構成図、第38図は
第四の従来例を示す構成図である。 30……レーザ高源、32……半反射膜、33……表面回折格
子、34……裏面回折格子、35……コリメートレンズ、36
……対物レンズ、37……光情報記録媒体、38……受光素
子、40……回折格子、41……全反射面、42……半反射
膜、43……レーザ光源、45……第一基板、45a……第一
回折格子、47……第二基板、47a……第二回折格子、48
……コリメートレンズ、49……対物レンズ、50……光情
報記録媒体、51……信号検出光学系、52a,52b……受光
素子、55……レーザ光源、56……コリメートレンズ、57
……非平行基板、58……光束分離手段、59……回折格
子、59a……半反射膜、60……全反射面、61……対物レ
ンズ、62……光情報記録媒体、64,65……受光素子、70
……レーザ光源、71……基板、72……回折格子、73……
全反射面、74……光束分離手段、75……半透過層、76…
…対物レンズ、77……光情報記録媒体、78……第1受光
素子、79……第2受光素子、80……レーザ光源、81……
コリメートレンズ、82……対物レンズ、83……基板、84
……回折格子、85……全反射面、86……光束分離手段、
87……半反射膜、92,93……3分割受光素子、94,95……
無分割受光素子、96……光束分離手段、97……透過型回
折格子、98……高反射面、99……レーザ光源、100……
コリメートレンズ、101……光情報記録媒体、102……対
物レンズ、103,104……受光素子
図、第2図はデュアル型回折格子の様子を示す構成図、
第3図はレーザ光源の後方からデュアル型回折格子の方
向をみた説明図、第4図は受光素子によりフォーカスエ
ラー信号を検出する原理を示す説明図、第5図は高密度
回折格子の回折効率の偏光依存性を示す波形図、第6図
は請求項1,3記載の発明の一実施例を示す構成図、第7
図は請求項1,4,12記載の発明の第一の実施例を示す構成
図、第8図はそのデュアル型回折格子に入射して分離さ
れる光の光路状態を示す側面図、第9図は請求項1,4,12
記載の発明の第二の実施例を示す構成図、第10図は請求
項1,4,12記載の発明の第三の実施例を示す構成図、第11
図は信号検出光学系内のシリンドルカルレンズの配設状
態を示す説明図、第12図は請求項1,5,6記載の発明の第
一の実施例を示す構成図、第13図はその変調化された回
折格子の様子を示す正面図、第14図は回折格子の偏光依
存性を示す特性図、第15図は請求項1,5,6記載の発明の
第二の実施例を示す構成図、第16図はその受光素子の配
設状態の様子を示す正面図、第17図は等ピッチの回折格
子の様子を示す正面図、第18図は請求項1,5,6記載の発
明の第三の実施例である光束分離手段の様子を示す斜視
図、第19図はその受光素子の配設状態の様子を示す正面
図、第20図は請求項1,7,8記載の発明の一実施例を示す
構成図、第21図はその回折格子の様子を示す説明図、第
22図は受光素子の表面形状の様子を示す説明図、第23図
及び第24図はその受光素子の変形例を示す正面図、第25
図は請求項1,9,10記載の発明の一実施例を示す構成図、
第26図は出射光光束分離手段内における進行経路を示す
光路図、第27図は光情報記録媒体からの戻り光の光束分
離手段内における進行経路を示す光路図、第28図は無分
割及び3分割受光素子に接続された配線回路の様子を示
す回路図、第29図は無分割及び3分割受光素子の光路上
における配設位置の関係を示す光路図、第30図は請求項
1,11記載の発明の一実施例を示す構成図、第31図はその
光束分離手段を示す側面図、第32図は各種回折角の様子
を示す説明図、第33図は受光素子の正面図、第34図はそ
の受光素子の変形例を示す側面図、第35図は光束分離手
段の変形例を示す正面図、第36図は第一の従来例を示す
構成図、第37図は第二の従来例を示す構成図、第38図は
第四の従来例を示す構成図である。 30……レーザ高源、32……半反射膜、33……表面回折格
子、34……裏面回折格子、35……コリメートレンズ、36
……対物レンズ、37……光情報記録媒体、38……受光素
子、40……回折格子、41……全反射面、42……半反射
膜、43……レーザ光源、45……第一基板、45a……第一
回折格子、47……第二基板、47a……第二回折格子、48
……コリメートレンズ、49……対物レンズ、50……光情
報記録媒体、51……信号検出光学系、52a,52b……受光
素子、55……レーザ光源、56……コリメートレンズ、57
……非平行基板、58……光束分離手段、59……回折格
子、59a……半反射膜、60……全反射面、61……対物レ
ンズ、62……光情報記録媒体、64,65……受光素子、70
……レーザ光源、71……基板、72……回折格子、73……
全反射面、74……光束分離手段、75……半透過層、76…
…対物レンズ、77……光情報記録媒体、78……第1受光
素子、79……第2受光素子、80……レーザ光源、81……
コリメートレンズ、82……対物レンズ、83……基板、84
……回折格子、85……全反射面、86……光束分離手段、
87……半反射膜、92,93……3分割受光素子、94,95……
無分割受光素子、96……光束分離手段、97……透過型回
折格子、98……高反射面、99……レーザ光源、100……
コリメートレンズ、101……光情報記録媒体、102……対
物レンズ、103,104……受光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願平1−304414 (32)優先日 平1(1989)11月22日 (33)優先権主張国 日本(JP) (31)優先権主張番号 特願平1−337773 (32)優先日 平1(1989)12月26日 (33)優先権主張国 日本(JP) (31)優先権主張番号 特願平2−18623 (32)優先日 平2(1990)1月29日 (33)優先権主張国 日本(JP) (56)参考文献 特開 昭63−228431(JP,A) 特開 昭63−167431(JP,A) 特開 昭62−103857(JP,A) 特開 昭64−4926(JP,A) 特開 昭64−86337(JP,A) 特開 平1−253843(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 7/135
Claims (12)
- 【請求項1】レーザ光源から出射された光を対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射し情報の記録を行
うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を検出する
ことにより情報用の再生信号やトラックエラー信号、フ
ォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記レーザ光源より出射された出射光が前記対
物レンズに向かう間の光路上に半反射膜を有する第一回
折部材を設け、前記光情報記録媒体からの反射光が前記
第一回折部材を通過した光路上に第二回折部材を配設
し、前記第一回折部材と前記第二回折部材とを通過する
ことにより分離して得られた透過光と回折光とをそれぞ
れ検出する受光素子を設けたことを特徴とする光情報記
録再生装置。 - 【請求項2】レーザ光源から出射された光をコリメート
レンズにより平行化し、この平行化された光を対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射し情報の記録を
行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受光素
子に導くことにより情報の再生やトラックエラー信号、
フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置
において、前記レーザ光源から出射された光の光路側に
位置する面に入射した光の一部を反射させる半反射膜を
有する表面回折格子が形成されこの面と相対する側の面
に裏面回折格子の形成された光束分離手段を設け、前記
裏面回折格子の形成された側の光路上に前記受光素子を
配設したことを特徴とする光情報記録再生装置。 - 【請求項3】レーザ光源から出射された光をコリメート
レンズにより平行化し、この平行化された光を対物レン
ズにより集光して光情報記録媒体に照射して情報の記録
を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を受光
素子に導くことにより情報の再生やトラックエラー信
号、フォーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生
装置において、前記レーザ光源から出射された光の光路
側に位置する面に入射した光の一部を反射させる半反射
膜を有する回折格子が形成されこの面と相対する側の面
に全反射面の形成された光束分離手段を設け、前記レー
ザ光源の設けられた側の光路上に前記受光素子を配設し
たことを特徴とする光情報記録再生装置。 - 【請求項4】レーザ光源から出射された光をコリメート
レンズにより平行化し、その平行光を対物レンズにより
集光して光情報記録媒体に照射することにより情報の記
録を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光を信
号検出光学系内の受光素子に導くことにより情報の再生
や、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出
を行う光情報記録再生装置において、前記レーザ光源か
ら出射された光の光路上に、片面に第一回折部材の形成
された半反射性の第一基板とこの第一基板の前記第一回
折部材の形成された側の面とスペーサを介して対向配置
された側の面に第二回折部材の形成された透過性の第二
基板とよりなる二重回折格子素子を配設したことを特徴
とする光情報記録再生装置。 - 【請求項5】レーザ光源から出射された光をコリメート
レンズにより平行化し、その後対物レンズにより集光し
て光情報記録媒体に照射することにより情報の記録を行
うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出して
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前記コ
リメートレンズと前記対物レンズとの間の光路上にくさ
び状をなす非平行基板の一面に半反射膜を有する回折格
子が形成され他面に全反射面が形成された光束分離手段
を配設し、この光束分離手段により反射された光が前記
コリメートレンズを透過した前記レーザ光源側の光路上
に前記光情報記録媒体からの反射光を検出する2個の受
光素子を配設したことを特徴とする光情報記録再生装
置。 - 【請求項6】レーザ光源から出射された光をコリメート
レンズにより平行化し、その後対物レンズにより集光し
て光情報記録媒体に照射することにより情報の記録を行
うと共に、前記光情報記録媒体からの反射光を検出して
情報の再生や、トラックエラー信号、フォーカスエラー
信号の検出を行う光情報記録再生装置において、前記コ
リメートレンズと前記対物レンズとの間の光路上に非平
行基板の一面に半反射膜を有する回折格子が形成され他
面にウェッジプリズム形状をなす全反射面が形成された
光束分離手段を配設し、この光束分離手段により反射さ
れた光が前記コリメートレンズを透過した前記レーザ光
源側の光路上に前記光情報記録媒体からの反射光を検出
する2個の受光素子を2組配設したことを特徴とする光
情報記録再生装置。 - 【請求項7】レーザ光源から出射された光を対物レンズ
により集光して光情報記録媒体に照射することにより情
報の記録を行うと共に、前記光情報記録媒体からの反射
光を検出して情報の再生や、トラックエラー信号、フォ
ーカスエラー信号の検出を行う光情報記録再生装置にお
いて、前記レーザ光源より出射された光が前記対物レン
ズに向かう間の光路上に基板の一面に回折格子が形成さ
れその一部表面に半反射膜を有し他面に全反射面が形成
された光束分離手段を配設し、この光束分離手段により
回折されて進む1次光の光路上に第1受光素子を配設
し、前記光束分離手段により屈折されて進む0次光の光
路上に第2受光素子を配設したことを特徴とする光情報
記録再生装置。 - 【請求項8】レーザ光源より出射された光が光束分離手
段に向かう間の光路上にコリメートレンズを配設したこ
とを特徴とする請求項7記載の光情報記録再生装置。 - 【請求項9】レーザ光源から出射された出射光をコリメ
ートレンズを介して対物レンズにより集光して光情報記
録媒体に照射することにより情報の記録を行うと共に、
前記光情報記録媒体からの反射光を検出して情報の再生
や、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号の検出
を行う光情報記録再生装置において、前記出射光が前記
コリメートレンズを通過して前記対物レンズに向かう間
の光路上に基板の一面に回折格子が形成されその表面に
半反射膜を有し他面に全反射面が形成されたくさび状の
光束分離手段を配設し、前記出射光が前記半反射膜によ
り反射されて得られた1本の主ビームと前記半反射膜を
透過して得られた2本の副ビームとが前記光情報記録媒
体に導かれるようにくさび状をした前記光束分離手段の
くさび角を設定したことを特徴とする光情報記録再生装
置。 - 【請求項10】光情報記録媒体により反射された主ビー
ム及び副ビームのうち、前記主ビームを受光する2つの
3分割受光素子を設け、前記副ビームを受光する2つの
無分割受光素子を設けたことを特徴とする請求項9記載
の光情報記録再生装置。 - 【請求項11】レーザ光源から出射された光をコリメー
トレンズにより平行化した後、対物レンズにより集光し
て光情報記録媒体の表面に照射し情報の記録を行うと共
に、その光情報記録媒体からの反射光を受光素子により
検出してフォーカスエラー信号、トラックエラー信号の
検出を行う光情報記録再生装置において、前記レーザ光
源から出射された光が前記コリメートレンズに向かう間
の光路上に、透過型回折格子とこの透過型回折格子に一
定角度をなして配設された高反射面とを有する光束分離
手段を設けたことを特徴とする光情報記録再生装置。 - 【請求項12】片面に第一回折部材の形成された半透過
性の第一基板と、この第一基板の前記第一回折部材の形
成された側の面とスペーサを介して対向配置された側の
面に第二回折部材の形成された透過性の第二基板とより
なることを特徴とする二重回折格子素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/561,782 US5101389A (en) | 1989-08-04 | 1990-08-02 | Optical information recording/reproducing apparatus |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20257089 | 1989-08-04 | ||
JP1-202570 | 1989-08-04 | ||
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JP23509489 | 1989-09-11 | ||
JP1-304410 | 1989-11-22 | ||
JP1-304414 | 1989-11-22 | ||
JP30441089 | 1989-11-22 | ||
JP30441489 | 1989-11-22 | ||
JP33777389 | 1989-12-26 | ||
JP1-337773 | 1989-12-26 | ||
JP1862390 | 1990-01-29 | ||
JP2-18623 | 1990-01-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03250437A JPH03250437A (ja) | 1991-11-08 |
JP2801746B2 true JP2801746B2 (ja) | 1998-09-21 |
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ID=27548803
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2172964A Expired - Fee Related JP2801746B2 (ja) | 1989-08-04 | 1990-06-29 | 光情報記録再生装置及び二重回折格子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2801746B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP3303250B2 (ja) * | 1994-11-10 | 2002-07-15 | 株式会社リコー | 変位測定装置および光ピックアップ |
KR970002945A (ko) * | 1995-06-26 | 1997-01-28 | 김광호 | 2중 초점 광픽업 |
KR100200848B1 (ko) * | 1995-06-26 | 1999-06-15 | 윤종용 | 2중 초점 형성방법 및 이를 이용한 광픽업 |
JP3290631B2 (ja) | 1998-10-02 | 2002-06-10 | キヤノン株式会社 | 光学ユニット、光学ユニットの製造方法、光学ユニットを用いた光学系、光学ユニットを用いた露光装置及びこの露光装置を用いたデバイスの製造方法 |
JP2002062417A (ja) | 2000-06-07 | 2002-02-28 | Canon Inc | 回折光学素子、該回折光学素子を有する光学系及び光学機器、回折光学素子の製造方法、回折光学素子製造用の金型 |
JP5558768B2 (ja) * | 2008-10-24 | 2014-07-23 | キヤノン株式会社 | 測定装置、光源装置、干渉測定装置、露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP7319106B2 (ja) * | 2019-06-28 | 2023-08-01 | 株式会社ミツトヨ | 格子部品およびその製造方法 |
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JPH0727653B2 (ja) * | 1986-12-29 | 1995-03-29 | 松下電器産業株式会社 | 光ピツクアツプ装置 |
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JPH073700B2 (ja) * | 1987-06-29 | 1995-01-18 | 三菱電機株式会社 | 光学式ヘッド装置 |
JP2701849B2 (ja) * | 1987-09-28 | 1998-01-21 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 光ピックアップ装置 |
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-
1990
- 1990-06-29 JP JP2172964A patent/JP2801746B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH03250437A (ja) | 1991-11-08 |
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