JP2715770B2 - 時定数検出回路及び時定数調整回路 - Google Patents
時定数検出回路及び時定数調整回路Info
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- JP2715770B2 JP2715770B2 JP3357891A JP35789191A JP2715770B2 JP 2715770 B2 JP2715770 B2 JP 2715770B2 JP 3357891 A JP3357891 A JP 3357891A JP 35789191 A JP35789191 A JP 35789191A JP 2715770 B2 JP2715770 B2 JP 2715770B2
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩ内部に組み込ま
れる例えばＲＣ型アクティブフィルタのように抵抗とコ
ンデンサを構成要素に含む回路の時定数のばらつきを検
出する時定数検出回路及びその時定数のばらつきを調整
する時定数調整回路に関する。
れる例えばＲＣ型アクティブフィルタのように抵抗とコ
ンデンサを構成要素に含む回路の時定数のばらつきを検
出する時定数検出回路及びその時定数のばらつきを調整
する時定数調整回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、モノリシックＬＳＩに
は、例えばＲＣ型アクティブフィルタのように抵抗とコ
ンデンサを構成要素に含む回路が組み込まれるが、この
とき問題となるのは素子値の絶対値の誤差が極めて大き
いということである。
は、例えばＲＣ型アクティブフィルタのように抵抗とコ
ンデンサを構成要素に含む回路が組み込まれるが、この
とき問題となるのは素子値の絶対値の誤差が極めて大き
いということである。
【０００３】即ち、抵抗やコンデンサの素子値の誤差
は、同一チップ内での相対的な比較では１％以下と極め
て少ないのに対し絶対値としての誤差は個別部品に比べ
て２０％〜４０％と桁外れに大きい。
は、同一チップ内での相対的な比較では１％以下と極め
て少ないのに対し絶対値としての誤差は個別部品に比べ
て２０％〜４０％と桁外れに大きい。
【０００４】従って、これらの抵抗やコンデンサを用い
てアクティブフィルタ等を構成すると、例えば素子値の
ばらつきが±３０％であればカットオフ周波数のばらつ
きは−４０％〜＋１００％にも達し、カットオフ周波数
が大きくばらつくことになり、精度の要求されるフィル
タ等を作成することは非常に困難である。
てアクティブフィルタ等を構成すると、例えば素子値の
ばらつきが±３０％であればカットオフ周波数のばらつ
きは−４０％〜＋１００％にも達し、カットオフ周波数
が大きくばらつくことになり、精度の要求されるフィル
タ等を作成することは非常に困難である。
【０００５】以上のことから、近年では、モノリシック
ＬＳＩに組み込むフィルタは、ＲＣ型アクティブフィル
タとして構成するのではなく、スイッチトキャパシタフ
ィルタ型の回路で構成するようにしている。
ＬＳＩに組み込むフィルタは、ＲＣ型アクティブフィル
タとして構成するのではなく、スイッチトキャパシタフ
ィルタ型の回路で構成するようにしている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、スイッチトキ
ャパシタフィルタ型の回路は、サンプル値系であるの
で、その前後に必ずエイリアジング防止フィルタとスム
ージングフィルタとが必要であるが、これらのフィルタ
だけはどうしてもＲＣ型のアクティブフィルタで構成せ
ざるを得ない。従って、上述したようなカットオフ周波
数のばらつきが避けられず、設計上の大きな問題となっ
ている。
ャパシタフィルタ型の回路は、サンプル値系であるの
で、その前後に必ずエイリアジング防止フィルタとスム
ージングフィルタとが必要であるが、これらのフィルタ
だけはどうしてもＲＣ型のアクティブフィルタで構成せ
ざるを得ない。従って、上述したようなカットオフ周波
数のばらつきが避けられず、設計上の大きな問題となっ
ている。
【０００７】本発明の目的は、ＬＳＩ内部に形成した抵
抗やコンデンサの素子値の相対的な誤差が極めて少ない
点に着目し、素子値のずれをＲＣ回路の時定数の形で検
出できる時定数検出回路及びその検出結果に基づき素子
値の微調節を可能にする時定数調整回路を提供すること
にある。
抗やコンデンサの素子値の相対的な誤差が極めて少ない
点に着目し、素子値のずれをＲＣ回路の時定数の形で検
出できる時定数検出回路及びその検出結果に基づき素子
値の微調節を可能にする時定数調整回路を提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の時定数検出回路及び時定数調整回路は次の
如き構成を有する。即ち、第１発明の時定数検出回路
は、ＬＳＩ内部に回路の一部として組み込まれる時定数
検出回路であって； この時定数検出回路は、スイッチ
トキャパシタ回路で構成される擬似抵抗と通常の抵抗と
の直列回路からなり印加される一定直流電圧を分圧出力
する抵抗分圧回路と； 前記抵抗分圧回路の分圧電圧を
平滑して出力する平滑用のコンデンサと； を備えたこ
とを特徴とするものである。
に、本発明の時定数検出回路及び時定数調整回路は次の
如き構成を有する。即ち、第１発明の時定数検出回路
は、ＬＳＩ内部に回路の一部として組み込まれる時定数
検出回路であって； この時定数検出回路は、スイッチ
トキャパシタ回路で構成される擬似抵抗と通常の抵抗と
の直列回路からなり印加される一定直流電圧を分圧出力
する抵抗分圧回路と； 前記抵抗分圧回路の分圧電圧を
平滑して出力する平滑用のコンデンサと； を備えたこ
とを特徴とするものである。
【０００９】また、第２発明の時定数調整回路は、ＬＳ
Ｉ内部に回路の一部として組み込まれる時定数調整回路
であって； この時定数調整回路は、第１発明の時定数
検出回路と； 前記時定数検出回路の出力電圧の範囲を
判定しその範囲に応じた制御信号を出力する判定回路
と； 抵抗とコンデンサを構成要素に含む回路に設けら
れ前記制御信号を受けて対応する抵抗やコンデンサの値
を変更する手段と； を備えたことを特徴とするもので
ある。
Ｉ内部に回路の一部として組み込まれる時定数調整回路
であって； この時定数調整回路は、第１発明の時定数
検出回路と； 前記時定数検出回路の出力電圧の範囲を
判定しその範囲に応じた制御信号を出力する判定回路
と； 抵抗とコンデンサを構成要素に含む回路に設けら
れ前記制御信号を受けて対応する抵抗やコンデンサの値
を変更する手段と； を備えたことを特徴とするもので
ある。
【００１０】
【作用】次に、前記の如く構成される本発明の時定数検
出回路及び時定数調整回路の作用を説明する。まず、第
１発明の時定数検出回路では、スイッチトキャパシタ回
路は、周知のように種々の構成態様があるが、一般に、
コンデンサとこのコンデンサの充放電を周期Ｔ秒で行わ
せる複数のアナログスイッチとで構成され、このコンデ
ンサの容量値をＣとすると、擬似抵抗の抵抗値Ｒp は、
Ｒp ＝Ｔ／Ｃとなる。この擬似抵抗Ｒp と通常の抵抗と
の直列回路で一定電圧を分圧し、これを平滑用コンデン
サで平滑化する。このとき、この平滑化した電圧は時定
数τ＝１／ＲＣで一意的に定まる。
出回路及び時定数調整回路の作用を説明する。まず、第
１発明の時定数検出回路では、スイッチトキャパシタ回
路は、周知のように種々の構成態様があるが、一般に、
コンデンサとこのコンデンサの充放電を周期Ｔ秒で行わ
せる複数のアナログスイッチとで構成され、このコンデ
ンサの容量値をＣとすると、擬似抵抗の抵抗値Ｒp は、
Ｒp ＝Ｔ／Ｃとなる。この擬似抵抗Ｒp と通常の抵抗と
の直列回路で一定電圧を分圧し、これを平滑用コンデン
サで平滑化する。このとき、この平滑化した電圧は時定
数τ＝１／ＲＣで一意的に定まる。
【００１１】つまり、本回路は、ＬＳＩ内部に形成した
抵抗やコンデンサの素子値のずれを時定数τのずれとし
て検出できるのである。同一チップ内での相対的な誤差
は極めて少ないので、抵抗やコンデンサを含む回路にお
ける特性のずれを推定するデータとして利用できる。
抵抗やコンデンサの素子値のずれを時定数τのずれとし
て検出できるのである。同一チップ内での相対的な誤差
は極めて少ないので、抵抗やコンデンサを含む回路にお
ける特性のずれを推定するデータとして利用できる。
【００１２】次に、第２発明の時定数調整回路では、前
記時定数検出回路の出力電圧の範囲を判定し、その範囲
に応じて対象とする回路の対応する抵抗やコンデンサの
値を変更し、微調整する。
記時定数検出回路の出力電圧の範囲を判定し、その範囲
に応じて対象とする回路の対応する抵抗やコンデンサの
値を変更し、微調整する。
【００１３】つまり、ＬＳＩ内部に所望のＲＣ型アクテ
ィブフィルタを構成した場合、その回路のカットオフ周
波数を自動的に調整できるのである。
ィブフィルタを構成した場合、その回路のカットオフ周
波数を自動的に調整できるのである。
【００１４】
【実施例】図１は、本発明の第１実施例に係る時定数検
出回路を示す。この第１実施例回路では、通常抵抗４と
擬似抵抗６との直列回路が抵抗分圧回路を構成するが、
通常抵抗４を直流電源側に、擬似抵抗６をアース側に設
け、両抵抗の接続点（出力端７）とアース間に平滑用の
コンデンサ５を設けてある。なお、直流電源は、当該Ｌ
ＳＩの電源を利用しても良く、また別の直流電源であっ
ても良い。
出回路を示す。この第１実施例回路では、通常抵抗４と
擬似抵抗６との直列回路が抵抗分圧回路を構成するが、
通常抵抗４を直流電源側に、擬似抵抗６をアース側に設
け、両抵抗の接続点（出力端７）とアース間に平滑用の
コンデンサ５を設けてある。なお、直流電源は、当該Ｌ
ＳＩの電源を利用しても良く、また別の直流電源であっ
ても良い。
【００１５】擬似抵抗６は、本実施例では、並列形のス
イッチトキャパシタ回路で構成してある。即ち、一端が
アースされた充放電用のコンデンサ２と、このコンデン
サ２の他端とアース間に設けられるアナログスイッチ１
と、コンデンサ２の他端と当該抵抗分圧回路の出力端７
との間に設けたアナログスイッチ３とで構成される。
イッチトキャパシタ回路で構成してある。即ち、一端が
アースされた充放電用のコンデンサ２と、このコンデン
サ２の他端とアース間に設けられるアナログスイッチ１
と、コンデンサ２の他端と当該抵抗分圧回路の出力端７
との間に設けたアナログスイッチ３とで構成される。
【００１６】このスイッチトキャパシタ回路では、アナ
ログスイッチ１と同３が開閉制御信号φA と同φB に従
って周期Ｔ秒で交互に排他的にオンオフし、コンデンサ
２の充放電が制御されるが、コンデンサ２の容量値を
Ｃ、コンデンサ５の端子電圧（当該抵抗分圧回路の出力
分圧電圧）をＶOUT とすると、コンデンサ２の作用によ
り、Ｉ＝Ｃ・ＶOUT ／Ｔ［Ａ］で表される電流Ｉが、ア
ナログスイッチ３が閉成している期間に出力端７からコ
ンデンサ５を通ってアースに等価的に流れると考えられ
る。
ログスイッチ１と同３が開閉制御信号φA と同φB に従
って周期Ｔ秒で交互に排他的にオンオフし、コンデンサ
２の充放電が制御されるが、コンデンサ２の容量値を
Ｃ、コンデンサ５の端子電圧（当該抵抗分圧回路の出力
分圧電圧）をＶOUT とすると、コンデンサ２の作用によ
り、Ｉ＝Ｃ・ＶOUT ／Ｔ［Ａ］で表される電流Ｉが、ア
ナログスイッチ３が閉成している期間に出力端７からコ
ンデンサ５を通ってアースに等価的に流れると考えられ
る。
【００１７】従って、擬似抵抗６の抵抗値Ｒp は、Ｒp
＝Ｔ／Ｃ［Ω］で表される。
＝Ｔ／Ｃ［Ω］で表される。
【００１８】これにより、コンデンサ５で平滑化されて
出力端７に現れる出力電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝Ｖdd・
（Ｔ／Ｃ）／（Ｔ／（Ｃ＋Ｒ））［Ｖ］となる。なお、
Ｖddは直流電源の電圧、Ｒは通常抵抗４の抵抗値であ
る。そして、時定数τ（τ＝１／ＲＣ）を用いて整理す
ると、ＶOUT ＝Ｖdd・τ／（τ＋（１／Ｔ））［Ｖ］と
なる。
出力端７に現れる出力電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝Ｖdd・
（Ｔ／Ｃ）／（Ｔ／（Ｃ＋Ｒ））［Ｖ］となる。なお、
Ｖddは直流電源の電圧、Ｒは通常抵抗４の抵抗値であ
る。そして、時定数τ（τ＝１／ＲＣ）を用いて整理す
ると、ＶOUT ＝Ｖdd・τ／（τ＋（１／Ｔ））［Ｖ］と
なる。
【００１９】つまり、出力平均電圧ＶOUT は、通常抵抗
４とコンデンサ２とで生成される時定数τによって一意
的に定まり、このＶOUT を測定すれば時定数τを推定で
きることとなる。時定数を検出できたのである。
４とコンデンサ２とで生成される時定数τによって一意
的に定まり、このＶOUT を測定すれば時定数τを推定で
きることとなる。時定数を検出できたのである。
【００２０】次に、図２は、本発明の第２実施例に係る
時定数検出回路を示す。この第２実施例回路では、通常
抵抗４と擬似抵抗６の位置を入れ替えて、直流電源側に
擬似抵抗６を、アース側に通常抵抗４を設けたものであ
る。
時定数検出回路を示す。この第２実施例回路では、通常
抵抗４と擬似抵抗６の位置を入れ替えて、直流電源側に
擬似抵抗６を、アース側に通常抵抗４を設けたものであ
る。
【００２１】この第２実施例回路では、Ｉ＝Ｃ・（Ｖdd
−ＶOUT ）／Ｔ［Ａ］なる電流Ｉが直流電源（Ｖdd）か
ら出力端７の向きに等価的に流れると考えられる。
−ＶOUT ）／Ｔ［Ａ］なる電流Ｉが直流電源（Ｖdd）か
ら出力端７の向きに等価的に流れると考えられる。
【００２２】従って、出力電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝Ｖdd
・Ｒ／（（Ｔ／Ｃ）＋Ｒ）［Ｖ］となり、時定数τを用
いてＶOUT ＝Ｖdd・（１／Ｔ）／（τ＋（１／Ｔ））
［Ｖ］となる。第１実施例回路と同様に時定数を検出で
きることが解る。
・Ｒ／（（Ｔ／Ｃ）＋Ｒ）［Ｖ］となり、時定数τを用
いてＶOUT ＝Ｖdd・（１／Ｔ）／（τ＋（１／Ｔ））
［Ｖ］となる。第１実施例回路と同様に時定数を検出で
きることが解る。
【００２３】次に、図３は、以上説明した時定数検出回
路を用いて時定数を調整する時定数調整回路の一例を示
す。図３において、３４はＲＣ型のアクティブフィルタ
である。このアクティブフィルタはＬＳＩ内部に構成さ
れ、入力端子３２から入力する信号について所定のカッ
トオフ周波数で以てろ波処理をし出力端子３３から送出
するが、このアクティブフィルタ３４のカットオフ周波
数を調節すべく時定数検出回路８と判定回路９とを当該
ＬＳＩに形成する。このとき、アクティブフィルタ３４
は若干の機能追加をして形成する。
路を用いて時定数を調整する時定数調整回路の一例を示
す。図３において、３４はＲＣ型のアクティブフィルタ
である。このアクティブフィルタはＬＳＩ内部に構成さ
れ、入力端子３２から入力する信号について所定のカッ
トオフ周波数で以てろ波処理をし出力端子３３から送出
するが、このアクティブフィルタ３４のカットオフ周波
数を調節すべく時定数検出回路８と判定回路９とを当該
ＬＳＩに形成する。このとき、アクティブフィルタ３４
は若干の機能追加をして形成する。
【００２４】判定回路９は、時定数検出回路８の出力端
７に現れる検出電圧（前記出力電圧ＶOUT)を受けて時定
数τがどの程度ずれているかを判断し、その判断結果を
示す複数本の制御信号１０をアクティブフィルタ３４の
制御入力端（φ1 〜φn)に与える。この判定回路９は、
Ａ／Ｄ変換器で構成しても良く、また複数の電圧比較器
と論理回路の組み合わせでも簡単に構成できる。
７に現れる検出電圧（前記出力電圧ＶOUT)を受けて時定
数τがどの程度ずれているかを判断し、その判断結果を
示す複数本の制御信号１０をアクティブフィルタ３４の
制御入力端（φ1 〜φn)に与える。この判定回路９は、
Ａ／Ｄ変換器で構成しても良く、また複数の電圧比較器
と論理回路の組み合わせでも簡単に構成できる。
【００２５】アクティブフィルタ３４は、制御信号１０
の内容に応じて抵抗値やコンデンサ値を変更する。これ
により、所定のカットオフ周波数に少しでも近づくよう
に自動的に調整される。これがアクティブフィルタ３４
に追加した機能の内容であるが、具体例を図４を参照し
て説明する。
の内容に応じて抵抗値やコンデンサ値を変更する。これ
により、所定のカットオフ周波数に少しでも近づくよう
に自動的に調整される。これがアクティブフィルタ３４
に追加した機能の内容であるが、具体例を図４を参照し
て説明する。
【００２６】図４は、２次ＲＣ型アクティブローパスフ
ィルタにおいてカットオフ周波数を微調整する場合の構
成例を示す。図４において、３１は主体をなす演算増幅
器であり、この演算増幅器３１の入力側に、本来的に必
要な抵抗（１３、１６）やコンデンサ（１９、２２）の
他に、短絡スイッチ（２３、２４、２７、２８）が並接
される抵抗（１１、１２、１４、１５）及び投入スイッ
チ（２５、２６、２９、３０）を備えたコンデンサ（１
７、１８、１９、２０、２１）を設け、これらのスイッ
チを４本（φ1 〜φ4 ）の制御信号１０によって開閉す
る。
ィルタにおいてカットオフ周波数を微調整する場合の構
成例を示す。図４において、３１は主体をなす演算増幅
器であり、この演算増幅器３１の入力側に、本来的に必
要な抵抗（１３、１６）やコンデンサ（１９、２２）の
他に、短絡スイッチ（２３、２４、２７、２８）が並接
される抵抗（１１、１２、１４、１５）及び投入スイッ
チ（２５、２６、２９、３０）を備えたコンデンサ（１
７、１８、１９、２０、２１）を設け、これらのスイッ
チを４本（φ1 〜φ4 ）の制御信号１０によって開閉す
る。
【００２７】図示例では、制御信号１０のφ1 でスイッ
チ（２５、２９）を開閉しコンデンサ（１７、２０）の
投入・離脱、φ2 でスイッチ（２６、３０）を開閉しコ
ンデンサ（１８、２１）の投入・離脱、φ3 でスイッチ
（２３、２７）を開閉し抵抗（１１、１４）の短絡・投
入、φ4 でスイッチ（２４、２８）を開閉し抵抗（１
２、１５）の短絡・投入を行うのである。
チ（２５、２９）を開閉しコンデンサ（１７、２０）の
投入・離脱、φ2 でスイッチ（２６、３０）を開閉しコ
ンデンサ（１８、２１）の投入・離脱、φ3 でスイッチ
（２３、２７）を開閉し抵抗（１１、１４）の短絡・投
入、φ4 でスイッチ（２４、２８）を開閉し抵抗（１
２、１５）の短絡・投入を行うのである。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の時定数検
出回路によれば、スイッチトキャパシタ回路で構成され
る擬似抵抗と通常抵抗の直列回路で一定直流電圧を分圧
し、その平均化電圧を出力するようにしたので、当該出
力電圧はスイッチトキャパシタ回路内のコンデンサと通
常抵抗で定まる時定数で一意的に決定でき、ＬＳＩ内部
に形成される抵抗やコンデンサの素子値のずれを時定数
のずれとして検出できる効果がある。
出回路によれば、スイッチトキャパシタ回路で構成され
る擬似抵抗と通常抵抗の直列回路で一定直流電圧を分圧
し、その平均化電圧を出力するようにしたので、当該出
力電圧はスイッチトキャパシタ回路内のコンデンサと通
常抵抗で定まる時定数で一意的に決定でき、ＬＳＩ内部
に形成される抵抗やコンデンサの素子値のずれを時定数
のずれとして検出できる効果がある。
【００２９】また、本発明の時定数調整回路によれば、
抵抗とコンデンサを構成要素に含む回路の時定数のずれ
を自動的に微調整でき、カットオフ周波数のばらつきの
少ないフィルタをＬＳＩに形成できる効果がある。
抵抗とコンデンサを構成要素に含む回路の時定数のずれ
を自動的に微調整でき、カットオフ周波数のばらつきの
少ないフィルタをＬＳＩに形成できる効果がある。
【図１】本発明の第１実施例に係る時定数検出回路の回
路図である。
路図である。
【図２】本発明の第２実施例に係る時定数検出回路の回
路図である。
路図である。
【図３】本発明の一実施例に係る時定数調整回路の構成
ブロック図である。
ブロック図である。
【図４】調整機能を備えたアクティブフィルタの構成例
である。
である。
１ アナログスイッチ ２ コンデンサ ３ アナログスイッチ ４ 抵抗 ５ コンデンサ ６ 擬似抵抗 ７ 出力端 ８ 時定数検出回路 ９ 判定回路 １０ 制御信号 １１〜１６ 抵抗 １７〜２２ コンデンサ ２３〜３０ アナログスイッチ ３１ 演算増幅器 ３４ アクティブフィルタ
Claims (2)
- 【請求項１】 ＬＳＩ内部に回路の一部として組み込ま
れる時定数検出回路であって； この時定数検出回路
は、スイッチトキャパシタ回路で構成される擬似抵抗と
通常の抵抗との直列回路からなり印加される一定直流電
圧を分圧出力する抵抗分圧回路と； 前記抵抗分圧回路
の分圧電圧を平滑して出力する平滑用のコンデンサと；
を備えたことを特徴とする時定数検出回路。 - 【請求項２】 ＬＳＩ内部に回路の一部として組み込ま
れる時定数調整回路であって； この時定数調整回路
は、請求項１に記載の時定数検出回路と； 前記時定数
検出回路の出力電圧の範囲を判定しその範囲に応じた制
御信号を出力する判定回路と； 抵抗とコンデンサを構
成要素に含む回路に設けられ前記制御信号を受けて対応
する抵抗やコンデンサの値を変更する手段と； を備え
たことを特徴とする時定数調整回路。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3357891A JP2715770B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 時定数検出回路及び時定数調整回路 |
| CA002085528A CA2085528C (en) | 1991-12-26 | 1992-12-16 | Time constant detecting circuit and time constant adjusting circuit |
| AU30265/92A AU654418B2 (en) | 1991-12-26 | 1992-12-17 | Time constant detecting circuit and time constant adjusting circuit |
| EP92311784A EP0549354B1 (en) | 1991-12-26 | 1992-12-24 | Time constant detecting circuit and time constant adjusting circuit |
| DE69219749T DE69219749T2 (de) | 1991-12-26 | 1992-12-24 | Zeit-konstante Detektionsschaltung und Zeit-konstante Regelungschaltung |
| CN92115244A CN1036096C (zh) | 1991-12-26 | 1992-12-25 | 时间常数检测电路和时间常数调整电路 |
| US07/997,500 US5466976A (en) | 1991-12-26 | 1992-12-28 | Time constant detecting circuit and time constant adjusting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3357891A JP2715770B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 時定数検出回路及び時定数調整回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05180881A JPH05180881A (ja) | 1993-07-23 |
| JP2715770B2 true JP2715770B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=18456470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3357891A Expired - Fee Related JP2715770B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 時定数検出回路及び時定数調整回路 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5466976A (ja) |
| EP (1) | EP0549354B1 (ja) |
| JP (1) | JP2715770B2 (ja) |
| CN (1) | CN1036096C (ja) |
| AU (1) | AU654418B2 (ja) |
| CA (1) | CA2085528C (ja) |
| DE (1) | DE69219749T2 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2822969B2 (ja) * | 1996-01-29 | 1998-11-11 | 日本電気株式会社 | 集積回路マスクパターンの検証方法 |
| ATE261599T1 (de) * | 1996-12-30 | 2004-03-15 | Datalogic Spa | Verfahren und vorrichtung zum messen und regulieren einer zeitkonstanten einer elektronischen schaltung, die teil eines optischen kodelesers ist |
| FI103744B1 (fi) * | 1997-10-15 | 1999-08-31 | Nokia Mobile Phones Ltd | Menetelmä ja järjestely aktiivisuotimen kalibroimiseksi |
| US6583662B1 (en) * | 1999-06-23 | 2003-06-24 | Globespanvirata, Inc. | Circuit and method for implementing an integrated continuous-time smoothing filter |
| AU2002349801A1 (en) * | 2001-11-07 | 2003-05-19 | Broadlight Ltd. | Burst mode limiter-amplifier |
| US6646498B2 (en) * | 2001-12-18 | 2003-11-11 | Texas Instruments Incorporated | High frequency tunable filter |
| JP2003258604A (ja) | 2002-03-06 | 2003-09-12 | Mitsubishi Electric Corp | フィルタを搭載した半導体集積回路 |
| US7212068B2 (en) * | 2004-04-02 | 2007-05-01 | Integration Associates Inc. | Tunable Sallen-Key filter stage and filter assembly |
| US7129712B1 (en) * | 2005-10-24 | 2006-10-31 | Sun Microsystems, Inc. | Attofarad capacitance measurement |
| US20070151655A1 (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-05 | Keller Michael A | Fabric with high stretch and retained extension |
| JP4844403B2 (ja) | 2007-01-19 | 2011-12-28 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
| US8054144B2 (en) * | 2008-07-02 | 2011-11-08 | Atmel Corporation | Mode switching RC network |
| CN101674686B (zh) * | 2008-09-09 | 2011-08-03 | 李淑秋 | 发热装置及其控温方法 |
| CN103580459A (zh) * | 2012-07-31 | 2014-02-12 | 无锡市葆灵电子科技有限公司 | 可集成的电源滤波器 |
| LU92212B1 (en) | 2013-06-11 | 2014-12-12 | Iee Sarl | Method for converting an analog signal into a digital signal |
| CN108627699A (zh) * | 2017-03-24 | 2018-10-09 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 检测装置与检测方法 |
| CN108566173A (zh) * | 2018-06-11 | 2018-09-21 | 杨俊杰 | 一种采用cmos工艺芯片内部的rc时间常数校正电路 |
| CN113812143A (zh) * | 2019-05-10 | 2021-12-17 | 索尼高级视觉传感股份公司 | 用于图像传感器像素的nmos比较器 |
| CN112363003B (zh) * | 2020-11-26 | 2023-07-04 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 自电容检测电路、触控芯片和电子设备 |
| CN112803895B (zh) * | 2020-12-31 | 2022-09-02 | 上海交通大学 | 一种基于开关电容的伪电阻矫正电路 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1228511A (ja) * | 1969-03-14 | 1971-04-15 | ||
| US4644304A (en) * | 1981-08-17 | 1987-02-17 | The Regents Of The University Of Calif. | Switched-capacitor pseudo-n-path filter |
| JPS58125909A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-27 | Nec Corp | スイツチドキヤパシタフイルタ |
| JPH063864B2 (ja) * | 1985-09-30 | 1994-01-12 | 株式会社東芝 | スイツチトキヤパシタ回路 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP3357891A patent/JP2715770B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-12-16 CA CA002085528A patent/CA2085528C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-17 AU AU30265/92A patent/AU654418B2/en not_active Ceased
- 1992-12-24 DE DE69219749T patent/DE69219749T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-24 EP EP92311784A patent/EP0549354B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-25 CN CN92115244A patent/CN1036096C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-28 US US07/997,500 patent/US5466976A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05180881A (ja) | 1993-07-23 |
| US5466976A (en) | 1995-11-14 |
| EP0549354B1 (en) | 1997-05-14 |
| EP0549354A3 (en) | 1993-11-24 |
| CA2085528A1 (en) | 1993-06-27 |
| DE69219749D1 (de) | 1997-06-19 |
| DE69219749T2 (de) | 1998-01-08 |
| CA2085528C (en) | 1996-12-03 |
| AU654418B2 (en) | 1994-11-03 |
| AU3026592A (en) | 1993-07-01 |
| CN1036096C (zh) | 1997-10-08 |
| EP0549354A2 (en) | 1993-06-30 |
| CN1077800A (zh) | 1993-10-27 |
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