JP2630284B2 - 不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバ、バイアス回路及びバイアス方法 - Google Patents

不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバ、バイアス回路及びバイアス方法

Info

Publication number
JP2630284B2
JP2630284B2 JP32398594A JP32398594A JP2630284B2 JP 2630284 B2 JP2630284 B2 JP 2630284B2 JP 32398594 A JP32398594 A JP 32398594A JP 32398594 A JP32398594 A JP 32398594A JP 2630284 B2 JP2630284 B2 JP 2630284B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
signal
bias circuit
phase
bias
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP32398594A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0831191A (ja
Inventor
パスカッチ ルイージ
マリア ゴラ カーラ
マッカローネ マルコ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
Original Assignee
ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA filed Critical ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
Publication of JPH0831191A publication Critical patent/JPH0831191A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2630284B2 publication Critical patent/JP2630284B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は不揮発性メモリのメモリ
線デコーダドライバに関するものであり、ここでのメモ
リ線はメモリの行又は列を意味する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、行及び/又は列のデコー
ダドライバは、関連する行又は列のアドレスをコード化
して選択信号及びアドレス信号に基づいて、関連する行
又は列を駆動する。
【0003】他の不揮発性メモリと同様に、前述のタイ
プのドライバは低消費電力と高速読出しの相反する要求
を提起する。
【0004】実際に、メモリアレイにおける行と列がア
ドレッシングされる速度(読出しフェーズ全体の速度)
は、行又は列の静電容量を充電する電流の増加に伴って
増加し、そしてその結果消費電力も増加する。
【0005】以下の説明は、行及び列のデコーダドライ
バの両方に適用されるが、ここでは説明を簡単にするた
めに行のデコーダドライバについて説明することとす
る。問題点を明確に理解するためにまず図1に示すよう
な典型的な行のドライバを説明し、ここで参照番号1は
ドライバ全体を示す。
【0006】図1において、ドライバ1はアドレッシン
グするための行のアドレスを符号化するための3入力
(信号A,B,C)を有するNAND回路2と、NAN
D回路2の出力と接続点4の間に挿入され、かつ選択信
号Piが供給されるゲート端子を有する選択用トランジ
スタ3と、接続点4に接続する入力とドライブされる行
に関係するワードラインWLに接続された出力7を有す
る最終インバータ5と、供給ラインVPCと接続点4の
間に挿入され、かつ電圧制御信号V1が供給されるゲー
ト端子を有するPチャネルプルアップトランジスタ6と
を有する。
【0007】図1の回路において、プルアップトランジ
スタ6は、選択信号Piが例えばローに保持されている
とき、Piによってアドレッシングされた行の群の選択
を解除するために(また同じ選択信号Piは通常16全
て、他の行に供給される)最終インバータ5の入力のバ
イアスを保持するために必要とされる。この場合に、実
際には、信号Piはローに切り換わり選択用トランジス
タ3がオフとなり、プルアップトランジスタがない場合
にはインバータ5の入力は浮動(floating)の
ままとなる。一方、プルアップトランジスタ6は供給ラ
インVPCに接続点4を接続することを提供し、従って
インバータ5の入力を正確にバイアスすることも提供す
る。
【0008】現在、プルアップトランジスタ6は2つの
方法で駆動される。第1の周知の解決方法では、信号V
1は永久にオンを保持し、第2の周知の解決方法では信
号V1は関係する行が選択されたか選択されないかに従
って切り換わり、また特に図2に示すように関係する行
が選択されるとプルアップトランジスタ6はオフとな
る。
【0009】図2において(図1で同じ部分は同じ参照
番号を付してある)、プルアップトランジスタ6のゲー
ト端子はインバータ10の出力に接続され、インバータ
10の入力はインバータ5の入力接続点4に接続されて
いる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】前述の2つの解決方法
は次のような欠点を有する。実際に、両方共関連する行
が選択されなければ静的状態(アドレススイッチフェー
ズの終端(過渡スイッチ状態))では消費電力は0であ
るが、行の選択の過渡状態(入力A−Cとドライバの選
択信号Piが全てハイのとき行が選択される)の終端で
は違ったふるまいをする。第1の解決方法(プルアップ
トランジスタ6が常にオン)では、プルアップトランジ
スタ6(オン)、選択トランジスタ3とNAND回路2
を構成するNチャネルトランジスタ(図示なし)の間に
電流路が構成され、この電流路は、高速動作のためにド
ライバ素子のサイズが大きいので、低消費電力とはかけ
離れた結果をもたらす。
【0011】他方、第2の解決方法(図2の回路)にお
いて、選択過渡状態(接続点4がローである)に続い
て、プルアップトランジスタ6はオフとなり、静的状態
下で消費電力が0となる。しかし、この第2の解決方法
は設計の細心の注意が必要なフィードバック回路の使用
が必要となり、ドライバ1の供給電圧が大きく変動する
場合には動作上の問題を提起し、さらに構成が複雑であ
る。
【0012】本発明の目的はこれらの周知の方法の欠点
を解決するためのドライババイアス回路を提供すること
であり、特に過渡的な選択の間での高速スイッチングと
静的状態下での低消費電力の回路を提供することであ
る。
【0013】本発明は特許請求の範囲の第1項に記載の
ように不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバのた
めのバイアス回路を提供する。
【0014】
【課題を解決するための手段及び作用】実際に、本発明
によれば、プルアップトランジスタのバイアス電圧は、
アドレス選択の間は減少して、プルアップトランジスタ
の高い導電性を達成し、非選択となる行の最終インバー
タの入力を急速充電し、静的状態のもとでは、高いレベ
ルに維持されて、プルアップトランジスタを弱オン状態
に維持し、選択された行のドライバの消費電力が最小と
なるように、変調される。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図3において、バイアス回路は参照番号15によ
って全体を示されており、実際に単安定ステージ16、
レベルシフト回路17及び電圧変調ステージ18を有す
る。
【0016】特に、単安定ステージ16は、信号ATD
と信号ENNが各々供給される2つの入力20と入力2
1を有する。信号ATDは、バイアス回路15とドライ
バ1が一部を形成するメモリアレイ(図示しない)にお
ける最初の行アドレスの切換によりハイに切り換わり、
最後の行アドレスの切換えによりローに戻る論理信号
(図4にも示す)である。信号ENNは、ローの時のみ
バイアス回路15の動作を可能にする反転されたイネー
ブル信号である。
【0017】入力20と入力21はNOR回路22と接
続され、NOR回路22の出力はインバータ23の入力
と接続され、かつNOR回路の出力と接地との間に挿入
されたキャパシタ24と接続されている。インバータ2
3はNOR回路25の第1のの入力と接続され、NOR
回路25の第2の入力は回路の入力20と接続されてい
る。NOR回路25の出力(論理信号INと表記する)
は、電圧VDD(これは図示していないが単安定ステー
ジ16に供給する)が供給され、かつ電圧VPCが供給
される行ドライバの論理回路をインタフェースするため
に設けたレベルシフト回路17の入力27に接続され
る。レベルシフト回路17は、OUT信号と、OUT信
号に対して反転したOUTN信号と表される2つの出力
28と出力29を各々有する。特に、次の表に示すよう
に、入力27におけるIN信号がローのときOUT信号
はOVとなり(かつOUTN信号がVPCとなる)、I
N信号がハイとなるときOUT信号はVPCとなる(か
つOUTN信号がOVとなる)。
【0018】
【表1】
【0019】電圧変調ステージ18は5つのトランジス
タM1〜M5を有し、トランジスタM1はPチャネルト
ランジスタであり、トランジスタM2〜M5はNチャネ
ルトランジスタである。
【0020】特に、トランジスタM1は供給ラインVP
Cに接続されるドレイン端子と、回路15の入力33を
示すと共に信号DE(対応されるプルアップトランジス
タ6を不動作にするため)が供給されるゲート端子と、
図1の回路1のプルアップトランジスタ6のバイアス電
圧V1を供給する回路15の出力接続点34に接続され
るソース端子とを有する。
【0021】トランジスタM2は、供給ラインVPCに
接続されたドレイン端子と、レベルシフト回路17の出
力28に接続されたゲート端子と、接続点34に接続さ
れたソース端子とを有する。トランジスタM3は、接続
点34に接続されたドレイン端子と、レベルシフト回路
17の出力29に接続されたゲート端子と、接続点35
に接続されたソース端子を有する。トランジスタM4
は、接続点35に接続されたドレイン端子と、バイアス
ライン36(例えば1.9V)に接続されたゲート端子
と、接地されているソース端子を有する。トランジスタ
M5は、接続点34に接続されたドレイン端子と、バイ
アスライン36に接続されたゲート端子と、接地されて
いるソース端子とを有する。
【0022】トランジスタM1−M5は全て同じ大きさ
ではない。特に、トランジスタM4及びM5は実質的に
長く、かつ次に示す理由でトランジスタM2及びM3に
比べてかなりの抵抗値を有する。
【0023】電圧変調ステージ18はまた接続点35と
接地の間に挿入されたキャパシタ37を有する。
【0024】図3の回路は以下のように動作する(図4
を参照して)。トランジスタM4及びM5は常にオンで
あり、かつ回路の通常動作の間信号DEはハイ(トラン
ジスタM1がオフとなるように)であり、信号ENNは
ローである。
【0025】静的状態下で、信号ATDはローとなり、
従ってNOR回路22の出力がハイ、インバータ23の
出力がロー、信号INがハイ、OUT信号がVPCで、
OUTN信号はOVで、その結果としてトランジスタM
2はオンに、トランジスタM3はオフになる。前述の状
態で、キャパシタ37はトランジスタM4によって接地
点に短絡され、トランジスタM2,M5は抵抗分割器と
して動作し、2つのトランジスタのサイズが異なり、従
って等価抵抗が異なるため、接続点34は次の式による
電圧V1を与える。
【0026】V1=VPC−VTM2
【0027】ここで、VTM2はトランジスタM2の閾
値電圧(図4に示す)である。
【0028】前述の状態で、バイアス回路15に接続さ
れたプルアップトランジスタ6は弱くオンに切り換わ
り、従って静的状態下で選択された行のプルアップトラ
ンジスタ6の電流消費が最小(約10μA)になる。選
択されない行に関して、プルアップトランジスタ6は、
弱いけれども十分な量だけオンに切換わり、各最終イン
バータ5の入力に、プルアップトランジスタの部分での
電力消費なしでハイのバイアス状態を維持する。
【0029】アドレスが切り換わるとき、信号ATDは
単安定ステージ16を活性化するパルス(図4)を与え
る。特に、ハイに切り換わった信号ATDによってNO
R回路25が切り換わり、IN信号がローに切り換わ
り、レベルシフト回路17が切り換わり、OUT信号が
ローに切り換わり、OUTN信号がハイ(VPC)に切
り換わり、かつトランジスタM3がオンに切り換わる。
接続点34がもはや供給ラインVPCに関係しないの
で、電荷が接続点34に接続されたプルアップトランジ
スタ6のゲート領域とキャパシタ37(初期には充電さ
れていない)の容量C1との間に割り当てられる。実際
の回路はプルアップトランジスタのゲート領域の静電容
量がトランジスタM3を介してキャパシタ37に直列に
接続されて静電容量分割器を形成する(このフェーズに
おいて、トランジスタM4及びM5はそれら高い等価抵
抗によって実際上効果がないのである)。
【0030】結果として、接続点34における電圧V1
は次の式によって所定のレベルに下がる。
【0031】 V1=VPC×Cpu/(Cpu+C1)
【0032】ここで、Cpuはプルアップトランジスタ
6のゲート領域のキャパシタンスであり、従って接続点
34に接続された全てのプルアップトランジスタによっ
て増加した電流による導電を行い、最終インバータ5の
入力を急激に充電することができる。
【0033】単安定ステージはATD信号が0に切り換
わった後短時間に切り換わる。実際に、ATD信号が切
り換わると、トランジスタM3がオフに切り換わり、キ
ャパシタ24が充電を始め、その終了時に信号INがス
イッチングしてトランジスタM3がオフになり、トラン
ジスタM2がオンになり、静的状態に復帰する。ここ
で、V1がV1に復帰し、キャパシタ37はトランジ
スタM4を介して接地点に放電する。ATD信号に関連
して単安定ステージ16のスイッチングにおける遅延
は、選択されない行の最終インバータの全ての入力を正
確に充電することを提供する。
【0034】通常ハイであるDE信号は、当該信号がロ
ーに切り換わった時、接続点34に接続された全てのプ
ルアップトランジスタを同時にオフに切り換えるための
信号である(例えば、セクタ又はメモリアレイでのワー
ドライン全てがアドレッシングされるとき、プルアップ
トランジスタの導電(ローではあるが)による消費電力
を削減することは、トランジスタの数が多いので重要で
ある。
【0035】ハイであるとき、活性化信号は電圧V1の
接地を提供し、この場合に、単安定ステージ16の出力
INはローであり、出力OUT及びOUTNは各々ロー
とハイとなり、トランジスタM2はオフに、トランジス
タM3はオンに切り換わり、そしてその結果選択過渡状
態に類似した状態となる。ただし、この場合フェーズが
大変長く、かつキャパシタ37とプルアップトランジス
タのゲート容量を放電するトランジスタM4及びM5の
効果がより顕著となる。
【0036】本発明に係る効果は前述の説明から明らか
である。まず、消費電力と速度という関係で最適な実施
を提供するものである。実際に、選択された行における
静的な消費電力は弱くオンに切り換わるプルアップトラ
ンジスタに基づいてかなり減少され、そのため周知のド
ライバと比較して小型のプルアップトランジスタを作成
することが可能である。更に面積の削減に加え、更にバ
イアス電圧を変調することによりスピードを落とすこと
なく消費電力の削減を提供し、プルアップトランジスタ
は非選択の過渡状態でインバータの入力を急速に充電す
るために大きい電流を流すことを可能とする。
【0037】第2に、前述の解決方法は簡単であり、従
来の図2の回路に必要であったドライバの構成を変更し
ないで、多くの数のドライバをバイアスするための切り
離された回路として簡単に実現され得る。全体として、
ドライバと関連するバイアス回路の構成は大変簡単とな
る。
【0038】最後に、本発明は行デコーダ供給電圧に独
立であるので、かなりワイドな供給電圧レンジ内で動作
する装置に適用することができる。
【0039】当業者であれば本発明の技術思想から離れ
ることなくここで開示したような回路から変形例を作る
ことができる。特に、列ドライバも同様に簡単に提供で
き、単安定ステージ及び電圧変調ステージの構成は前述
して開示されたことに基づいて変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】行デコーダドライバの周知のタイプを示す図で
ある。
【図2】周知のバイアス回路を特徴化した同じドライバ
を示す図である。
【図3】本発明に係るバイアス回路を示す図である。
【図4】図3の2つの電圧量の波形を示す図である。
【符号の説明】
1 ドライバ 6 プルアップトランジスタ 15 バイアス回路 18 電圧変調ステージ M1〜M5 トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 カーラ マリア ゴラ イタリー国, サン ジョバンニ セス ト 20099 ビア ベッカーリア, 5 番地 (72)発明者 マルコ マッカローネ イタリー国, パレストロ 27030 ビ ア フォルネース, 8番地

Claims (13)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 不揮発性メモリのメモリ線デコーダドラ
    イバ(1)におけるバイアス回路(15)であって、前
    記ドライバ(1)は最終ドライバ手段(5)と、第1の
    基準ポテンシャル線(VPC)と前記最終ドライバ手段
    (5)の入力(4)の間に接続されたプルアップトラン
    ジスタ手段(6)とを有し、前記ドライバ手段(5)が
    過渡的な選択フェーズと非選択フェーズの間を切換え、
    かつ前記過渡的なフェーズの間に挿入された静的フェー
    ズの間は定常状態を維持するように設計され、前記バイ
    アス回路(15)は前記プルアップトランジスタ手段
    (6)における可変バイアス信号(V1)を生成する生
    成手段(18)を含むバイアス回路(15)において、 前記生成手段(18)は、少なくとも前記静的フェーズ
    の間の前記トランジスタ手段(6)の弱オン切換状態に
    対応する第1のレベルと、前記過渡的非選択フェーズの
    間の前記トランジスタ手段の高いオン切換状態に対応す
    る第2のレベルとの間で、前記バイアス信号(V1)を
    切り換えるスイッチング手段(M1〜M5)を有するこ
    とを特徴とするバイアス回路。
  2. 【請求項2】 アドレスフェーズ信号(ATD)が供給
    される入力(20)を有し、前記生成手段(18)にお
    けるスイッチ信号(IN)を生成するように設計される
    前記バイアス回路が単安定ステージ(16)を有する請
    求項1に記載のバイアス回路。
  3. 【請求項3】 前記単安定ステージ(16)は前記アド
    レスフェーズ信号(ATD)より長い継続時間であっ
    て、前記アドレスフェーズ信号(ATD)によって活性
    化されるスイッチ信号(IN)を生成する手段(22〜
    25)を含む請求項2に記載のバイアス回路。
  4. 【請求項4】 前記単安定ステージ(16)は論理回路
    を有する請求項3に記載のバイアス回路。
  5. 【請求項5】 前記単安定ステージ(16)は、前記バ
    イアス信号(V1)が前記第1及び第2のレベルとの間
    で切り換わるイネーブル状態と、前記バイアス信号が前
    記トランジスタ手段(6)のフルオン状態に相当するデ
    イネーブル状態との間で、前記単安定ステージと前記バ
    イアス回路(15)とを切り換えるためのイネーブル信
    号(ENN)が供給される第2の入力(21)を有する
    請求項3又は請求項4のいずれか1項に記載のバイアス
    回路。
  6. 【請求項6】 前記単安定ステージ(16)と前記生成
    手段(18)との間に挿入されるレベルシフト手段(1
    7)を有する請求項2〜5のいずれか1項に記載のバイ
    アス回路。
  7. 【請求項7】 前記スイッチ手段(M1〜M5)は、前
    記第1の基準ポテンシャル線(VPC)と出力接続点
    (34)との間に挿入される第1のスイッチ手段(M
    2)と、前記出力接続点と信号レベルスイッチ接続点
    (35)との間に挿入される第2のスイッチ手段(M
    3)とを有し、前記第1及び第2のスイッチ手段(M
    2,M3)は前記スイッチ信号によってプッシュプル制
    御され、 容量手段(37)が、前記信号レベルスイッチ接続点
    (35)と第2の基準ポテンシャル線との間に挿入さ
    れ、 放電手段(M4)が、前記信号レベルスイッチ接続点
    (35)と前記第2の基準ポテンシャル線との間に挿入
    され、 前記静的フェーズの間は前記第1の基準ポテンシャル線
    に近い電位に前記出力接続点(34)を接続すると共に
    前記放電手段(M4)に前記容量手段(37)を接続さ
    せ、前記過渡的なフェーズの間は前記容量手段に前記出
    力接続点(34)を接続させる請求項2〜6のいずれか
    1項に記載のバイアス回路。
  8. 【請求項8】 前記第1及び第2のスイッチ手段(M
    2,M3)と前記放電手段(M4)は各々第1、第2及
    び第3のMOS形トランジスタを有し、前記第3のMO
    S形トランジスタは前記第1及び第2のMOS形トラン
    ジスタよりサイズが長い請求項7に記載のバイアス回
    路。
  9. 【請求項9】 前記スイッチ手段は前記出力接続点(3
    4)と前記第2の基準ポテンシャル線との間に挿入され
    る第4のMOS形トランジスタ(M5)を有し、前記第
    4のMOS形トランジスタは前記第1及び第2のMOS
    形トランジスタ(M2,M3)よりサイズが長く、前記
    第3及び第4のMOS形トランジスタ(M4,M5)は
    第3の基準ポテンシャル線(36)に接続されるゲート
    端子を有する請求項8に記載のバイアス回路。
  10. 【請求項10】 前記スイッチ手段は前記第1の基準ポ
    テンシャル線(VPC)と前記出力接続点(34)との
    間に挿入された第5のMOS形トランジスタ(M1)を
    有する請求項7〜9のいずれか1項に記載のバイアス回
    路。
  11. 【請求項11】 前記第1、第2、第3及び第4のMO
    S形トランジスタ(M2−M5)はNチャネルトランジ
    スタであり、前記第5のトランジスタ(M1)はPチャ
    ネルトランジスタである請求項9又は請求項10に記載
    のバイアス回路。
  12. 【請求項12】 最終ドライバ手段(5)と、第1の基
    準ポテンシャル線(VPC)と前記ドライバ手段の入力
    (4)との間に接続されたプルアップトランジスタ手段
    (6)とを含み、前記最終ドライバ手段(5)が過渡的
    な選択及び非選択フェーズの間で切り換わり、かつ前記
    過渡的なフェーズの間に挿入される静的フェーズの間は
    定常状態を維持するように設計される、不揮発性メモリ
    におけるメモリ線デコーダドライバ(1)において、 前記プルアップトランジスタ手段(6)における可変バ
    イアス信号(V1)を生成する生成手段(18)を含む
    バイアス回路(15)を有し、 前記生成手段(18)は、少なくとも前記静的フェーズ
    の間の前記トランジスタ手段(6)の弱オン切換状態に
    対応する第1のレベルと、前記過渡的非選択フェーズの
    間の前記トランジスタ手段の高いオン切換状態に対応す
    る第2のレベルとの間で、前記バイアス信号(V1)を
    切り換えるスイッチング手段(M1〜M5)を有するこ
    とを特徴とする不揮発性メモリにおけるメモリ線デコー
    ダドライバ。
  13. 【請求項13】 前記最終ドライバ手段(5)と、第1
    の基準ポテンシャル線(VPC)と前記ドライバ手段の
    入力(4)との間に接続されたプルアップトランジスタ
    手段(6)とを含み、前記最終ドライバ手段(5)は過
    渡的な選択及び非選択フェーズの間で切り換わり、かつ
    前記過渡的なフェーズの間に挿入される静的フェーズの
    間は定常状態を維持するように設計され、不揮発性メモ
    リにおけるメモリ線デコーダドライバ(1)をバイアス
    する方法であって、前記プルアップトランジスタ手段に
    可変バイアス信号を生成する生成ステップを含む前記バ
    イアス方法において、 前記生成ステップが、少なくとも前記静的フェーズの間
    の前記トランジスタ手段の弱オン切換状態に相当する第
    1のレベルと、前記過渡的な非選択フェーズの間の前記
    トランジスタ手段の高いオン切換状態に相当する第2の
    レベルとの間で、前記バイアス信号(V1)を切り換え
    るステップを含むことを特徴とするバイアス方法。
JP32398594A 1993-12-02 1994-12-02 不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバ、バイアス回路及びバイアス方法 Expired - Fee Related JP2630284B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP93830489A EP0662690B1 (en) 1993-12-02 1993-12-02 Bias circuit for a memory line decoder driver of non-volatile memories
IT93830489.6 1993-12-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0831191A JPH0831191A (ja) 1996-02-02
JP2630284B2 true JP2630284B2 (ja) 1997-07-16

Family

ID=8215269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32398594A Expired - Fee Related JP2630284B2 (ja) 1993-12-02 1994-12-02 不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバ、バイアス回路及びバイアス方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5499217A (ja)
EP (1) EP0662690B1 (ja)
JP (1) JP2630284B2 (ja)
DE (1) DE69318842T2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CZ297910B6 (cs) * 1995-06-07 2007-04-25 Intel Corporation Napetový spínací obvod
AU1332097A (en) * 1995-12-20 1997-07-14 Intel Corporation A negative voltage switch architecture for a nonvolatile memory
DE69624785T2 (de) * 1996-02-05 2003-07-17 St Microelectronics Srl Treiberschaltung für den Treiber eines Speicherleitungsdekodierer
US5715199A (en) * 1996-12-23 1998-02-03 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Back bias voltage generating circuit
US5940333A (en) * 1998-07-08 1999-08-17 Advanced Micro Devices, Inc. Recursive voltage boosting technique
US6072723A (en) * 1999-05-06 2000-06-06 Intel Corporation Method and apparatus for providing redundancy in non-volatile memory devices
US7509569B2 (en) * 2003-03-31 2009-03-24 Ricoh Co., Ltd. Action stickers for nested collections
DE102005004338B4 (de) * 2004-02-04 2009-04-09 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon Phasenänderungs-Speicherbauelement und zugehöriges Programmierverfahren

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4692638A (en) * 1984-07-02 1987-09-08 Texas Instruments Incorporated CMOS/NMOS decoder and high-level driver circuit
JPS62232795A (ja) * 1986-04-02 1987-10-13 Mitsubishi Electric Corp Mos型メモリ回路
JP2560020B2 (ja) * 1987-02-18 1996-12-04 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
US4820941A (en) * 1988-02-01 1989-04-11 Texas Instruments Incorporated Decoder driver circuit for programming high-capacitance lines

Also Published As

Publication number Publication date
EP0662690B1 (en) 1998-05-27
DE69318842T2 (de) 1998-12-24
DE69318842D1 (de) 1998-07-02
EP0662690A1 (en) 1995-07-12
JPH0831191A (ja) 1996-02-02
US5499217A (en) 1996-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10972101B2 (en) Level shifters, memory systems, and level shifting methods
JP2565104B2 (ja) 仮想接地型半導体記憶装置
US10818368B2 (en) Level shifter circuit having two-domain level shifting capability
JP4262678B2 (ja) メモリマトリクスの複数の横列に対して同時書き込みを行うデバイス
US6044020A (en) Nonvolatile semiconductor memory device with a row decoder circuit
KR100190839B1 (ko) 반도체메모리장치
US20050141306A1 (en) Memory device
US6646918B2 (en) Semiconductor level shifter circuit
JP2630284B2 (ja) 不揮発性メモリのメモリ線デコーダドライバ、バイアス回路及びバイアス方法
JPH10261941A (ja) 遅延回路および半導体記憶装置
KR950000029B1 (ko) 기생용량에 의해 야기된 오동작을 방지하기 위한 eprom의 디코더 회로
US4878201A (en) Semiconductor memory device having an improved timing signal generator for the column selection circuit
JPH026159B2 (ja)
JP2007220218A (ja) 半導体記憶装置およびその制御方法
JP2511910B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6020396A (ja) 信号入力回路
US5239237A (en) Control circuit having outputs with differing rise and fall times
JPH04259995A (ja) 書き込み電圧発生回路
EP0798742B1 (en) Driver device for selection lines for a multiplexer, to be used in a wide range of supply voltages, particularly for non-volatile memories
KR100408687B1 (ko) 워드라인 구동 회로
KR100214506B1 (ko) 워드라인 구동회로
JPH023191A (ja) 不揮発性メモリ回路装置
JP2001057098A (ja) Eprom書き込み回路
JPS6019595B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH10283789A (ja) デコーダ回路

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19970304

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees