JP2615450B2 - 光デイスクの記録消去方法 - Google Patents
光デイスクの記録消去方法Info
- Publication number
- JP2615450B2 JP2615450B2 JP61238364A JP23836486A JP2615450B2 JP 2615450 B2 JP2615450 B2 JP 2615450B2 JP 61238364 A JP61238364 A JP 61238364A JP 23836486 A JP23836486 A JP 23836486A JP 2615450 B2 JP2615450 B2 JP 2615450B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- erasing
- signal
- spot
- recording medium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザ光を光ディスク上に絞り、信号の記
録・再生および消去を可能とする光ディスクの記録再生
消去方法に関するものである。
録・再生および消去を可能とする光ディスクの記録再生
消去方法に関するものである。
従来の技術 信号を記録・再生および消去可能な光ディスクの記録
媒体としては、カルコゲン系の光記録材料がよく知られ
ている。未記録状態としては、結晶状態でありレーザス
ポットの照射で加熱急冷してアモルファス状態にするこ
とで、信号を記録する。また、加熱徐冷で再び結晶状態
となり、記録信号は消去される。
媒体としては、カルコゲン系の光記録材料がよく知られ
ている。未記録状態としては、結晶状態でありレーザス
ポットの照射で加熱急冷してアモルファス状態にするこ
とで、信号を記録する。また、加熱徐冷で再び結晶状態
となり、記録信号は消去される。
上記を可能とするディスク上のレーザ・スポット構成
として、第３図（特開昭56−153540号公報）または、第
４図（特開昭60−231928号公報）に記載のものが提案さ
れている。第３図のスポット１は、波形限界まで絞られ
た円形をしており、記録・再生に用いられる。スポット
２は長円形をしており消去に用いられる。第３図（Ｂ）
にこの２つのスポットが通過した時の照射部の温度変化
を示す。スポット１が通過すると照射部は急激に昇温し
溶融状態となり、その後急激に冷却され、この間でアモ
ルファス状態が形成される。スポット２が通過すると照
射部はゆるやかに昇温した後、ゆっくりと冷却され、こ
の間で結晶状態を形成する。また第４図のスポット１も
記録再生用で、スポット4,5は消去用である。第４図で
は特にスポット４を丸く、高パワーにして照射部を溶融
した後、スポット５を使って徐冷することにより、高効
率の消去を行なおうとするものである。
として、第３図（特開昭56−153540号公報）または、第
４図（特開昭60−231928号公報）に記載のものが提案さ
れている。第３図のスポット１は、波形限界まで絞られ
た円形をしており、記録・再生に用いられる。スポット
２は長円形をしており消去に用いられる。第３図（Ｂ）
にこの２つのスポットが通過した時の照射部の温度変化
を示す。スポット１が通過すると照射部は急激に昇温し
溶融状態となり、その後急激に冷却され、この間でアモ
ルファス状態が形成される。スポット２が通過すると照
射部はゆるやかに昇温した後、ゆっくりと冷却され、こ
の間で結晶状態を形成する。また第４図のスポット１も
記録再生用で、スポット4,5は消去用である。第４図で
は特にスポット４を丸く、高パワーにして照射部を溶融
した後、スポット５を使って徐冷することにより、高効
率の消去を行なおうとするものである。
また、第３図，第４図の構成で、消去後、直ちにスポ
ット１で新しい信号を記録する。即ち、同時消録が可能
となる。
ット１で新しい信号を記録する。即ち、同時消録が可能
となる。
発明が解決しようとする問題点 以上の消去スポット構成でもって、記録材料の記録・
消去は行なわれる。さらに、書き換え型の光ディスクに
は、多数回のくり返し記録・消去が可能であることが必
要である。レーザスポットを使って、記録材料の昇温・
冷却をくり返し行なう過程においては、照射するレーザ
光のパワー変動や、スポットの位置ずれ等の変動が生じ
る。これらの要素が、微かずつではあるが記録材料に蓄
積され、最終的には記録信号を劣化させる。
消去は行なわれる。さらに、書き換え型の光ディスクに
は、多数回のくり返し記録・消去が可能であることが必
要である。レーザスポットを使って、記録材料の昇温・
冷却をくり返し行なう過程においては、照射するレーザ
光のパワー変動や、スポットの位置ずれ等の変動が生じ
る。これらの要素が、微かずつではあるが記録材料に蓄
積され、最終的には記録信号を劣化させる。
本発明は、記録材料への光照射条件を、通常時と劣化
開始時で変えることにより、記録材料のくり返し回数に
対する長寿命化を図ろうとするものである。
開始時で変えることにより、記録材料のくり返し回数に
対する長寿命化を図ろうとするものである。
問題点を解決するための手段 光ディスクをくり返し記録・消去を行っている過程に
おいて、記録信号の劣化が認められたならば、通常より
も高パワーの消去用レーザ光を照射、もしくは通常より
も高パワーで、かつ無変調の記録用レーザ光と、消去用
レーザ光を照射する。
おいて、記録信号の劣化が認められたならば、通常より
も高パワーの消去用レーザ光を照射、もしくは通常より
も高パワーで、かつ無変調の記録用レーザ光と、消去用
レーザ光を照射する。
作 用 光ディスクの記録信号劣化要素は、パワー変動や、ス
ポットずれに起因する材料の状態の不均一性である。こ
れらは、レーザ光の進行方向と垂直の方向に著しく分布
する。本発明のように、記録信号が劣化した時に高パワ
ーのレーザ光を照射することにより、記録材料の溶融部
の幅を信号を記録する時よりも広げる。溶融状態は、分
子の動きが活発となり、材料組成の均一化が図れる。こ
の結果、記録信号の振巾やノイズレベルの回復が図れ、
記録材料のくり返し寿命が向上する。
ポットずれに起因する材料の状態の不均一性である。こ
れらは、レーザ光の進行方向と垂直の方向に著しく分布
する。本発明のように、記録信号が劣化した時に高パワ
ーのレーザ光を照射することにより、記録材料の溶融部
の幅を信号を記録する時よりも広げる。溶融状態は、分
子の動きが活発となり、材料組成の均一化が図れる。こ
の結果、記録信号の振巾やノイズレベルの回復が図れ、
記録材料のくり返し寿命が向上する。
実施例 以下、図面を参照しながら本発明を詳細に説明する。
記録材料としては、前述のように加熱後の冷却条件によ
り、２つの状態を取るもの、即ち加熱急冷でアモルファ
ス状態となり、加熱徐冷で結晶状態が得られるものであ
る。例えば、カルコゲン化物薄膜、TeOx（０＜ｘ＜2.
0）を主成分とする薄膜をガラスや樹脂等の基板上に蒸
着，スパッタ等の基板上に形成したものを用いる。
記録材料としては、前述のように加熱後の冷却条件によ
り、２つの状態を取るもの、即ち加熱急冷でアモルファ
ス状態となり、加熱徐冷で結晶状態が得られるものであ
る。例えば、カルコゲン化物薄膜、TeOx（０＜ｘ＜2.
0）を主成分とする薄膜をガラスや樹脂等の基板上に蒸
着，スパッタ等の基板上に形成したものを用いる。
記録・消去には、第３図（Ａ）に示すようなスポット
を用いる。基板上には、レーザ光のガイドトラック３が
形成されており、これに添って各スポットは移動する。
第３図（Ｂ）に各スポットが通過した時の記録材料の温
度を示す。回転している光ディスク上に、レーザ光の波
長限界約１μｍまで絞った円形の記録・再生スポット１
のパワーを高くして照射すると、照射部の温度は急激に
上昇し、瞬時に材料のメルティング温度のTmを通過す
る。スポット１の通過後は、熱が基板へ拡散され照射部
は急激に冷却され、アモルファス状態となる。この状態
は結晶状態に比べ、光学定数が小さいために低い反射率
を示す。また、レーザ光の移動方向に長い長円形で、円
形スポットに比べパワー密度が低い消去スポット２が通
過すると、照射部の温度は、ゆるやかに上昇し、ゆるや
かに低下し、記録材料は結晶状態となる。この状態は光
学定数が大きいため、高い反射率を示す。
を用いる。基板上には、レーザ光のガイドトラック３が
形成されており、これに添って各スポットは移動する。
第３図（Ｂ）に各スポットが通過した時の記録材料の温
度を示す。回転している光ディスク上に、レーザ光の波
長限界約１μｍまで絞った円形の記録・再生スポット１
のパワーを高くして照射すると、照射部の温度は急激に
上昇し、瞬時に材料のメルティング温度のTmを通過す
る。スポット１の通過後は、熱が基板へ拡散され照射部
は急激に冷却され、アモルファス状態となる。この状態
は結晶状態に比べ、光学定数が小さいために低い反射率
を示す。また、レーザ光の移動方向に長い長円形で、円
形スポットに比べパワー密度が低い消去スポット２が通
過すると、照射部の温度は、ゆるやかに上昇し、ゆるや
かに低下し、記録材料は結晶状態となる。この状態は光
学定数が大きいため、高い反射率を示す。
このような２つの状態間の反射率の差を利用して、信
号の記録が行なわれる。円形のスポットの方が高密度で
信号が記録できることから、このスポットのパワーを変
調することで記録を行い、パワーを下げて照射すること
で記録信号の再生を行なう。また長円形のスポット２を
照射することで、消去を行なう。
号の記録が行なわれる。円形のスポットの方が高密度で
信号が記録できることから、このスポットのパワーを変
調することで記録を行い、パワーを下げて照射すること
で記録信号の再生を行なう。また長円形のスポット２を
照射することで、消去を行なう。
前記２つのスポットを交互に照射することで信号の書
き換えが行なえる。信号の記録・消去をくり返し行なっ
た時の信号の変化を第２図に示す。記録された信号の品
質は、C/N比で表示される。ここでＣは、記録部の信号
振巾、即ちアモルファス状態と結晶状態の反射率差に相
当し、Ｎは記録信号成分中に含まれるノイズレベルであ
り、記録ビット（アモルファス状態）の形状のバラツキ
や、各状態中での反射率分布等に相当する。もう一つ
は、消去率であり、記録時の信号振巾Ｃの値と消去した
時の消し残りの信号成分の差に相当するもので、この値
が大きい程、消去特性が良好である。第２図に示すよう
にC/N比と消去率は、くり返し回数に対して変化する。
くり返し回数105回程度までは、ほぼ同じC/N比および消
去率を示すが、105回を越えると急激にC/N比の低下と、
消去の低下が生じるという傾向にある。ただしここで使
用する条件は、ディスクの線速度5m/Sであり、記録スポ
ット径が0.9μm,記録パワーが7mW,消去スポットが長さ
８μm,巾１μm,パワーが12mWとした。C/N比や消去率の
変化は、前記のような条件を変えることで変化する。一
般に記録パワーおよび消去パワーが高い程、初期のC/N
比や消去率は良くなるが、くり返した時の劣化の開始点
が少ない回数となる。逆にパワーを低くすると、初期の
C/N比や消去は悪くなるが、くり返した時の劣化の開始
点は多数回の方へ移動する。これらの点から、必要とさ
れる信号品質に応じた最適な記録・消去パワーを選択し
たのが第２図で使用した条件である。
き換えが行なえる。信号の記録・消去をくり返し行なっ
た時の信号の変化を第２図に示す。記録された信号の品
質は、C/N比で表示される。ここでＣは、記録部の信号
振巾、即ちアモルファス状態と結晶状態の反射率差に相
当し、Ｎは記録信号成分中に含まれるノイズレベルであ
り、記録ビット（アモルファス状態）の形状のバラツキ
や、各状態中での反射率分布等に相当する。もう一つ
は、消去率であり、記録時の信号振巾Ｃの値と消去した
時の消し残りの信号成分の差に相当するもので、この値
が大きい程、消去特性が良好である。第２図に示すよう
にC/N比と消去率は、くり返し回数に対して変化する。
くり返し回数105回程度までは、ほぼ同じC/N比および消
去率を示すが、105回を越えると急激にC/N比の低下と、
消去の低下が生じるという傾向にある。ただしここで使
用する条件は、ディスクの線速度5m/Sであり、記録スポ
ット径が0.9μm,記録パワーが7mW,消去スポットが長さ
８μm,巾１μm,パワーが12mWとした。C/N比や消去率の
変化は、前記のような条件を変えることで変化する。一
般に記録パワーおよび消去パワーが高い程、初期のC/N
比や消去率は良くなるが、くり返した時の劣化の開始点
が少ない回数となる。逆にパワーを低くすると、初期の
C/N比や消去は悪くなるが、くり返した時の劣化の開始
点は多数回の方へ移動する。これらの点から、必要とさ
れる信号品質に応じた最適な記録・消去パワーを選択し
たのが第２図で使用した条件である。
記録・消去をくり返し行なった時の劣化は、光照射部
の記録材料の不均一性が徐々に蓄積されるためと考えら
れる。原因としては、照射するレーザ光の強度分野やパ
ワー変動、スポットのトラック方向のズレ等に起因する
記録材料の昇温状態における温度分布がある。特にレン
ズ系で絞られた光ビームは、ガウス分布曲線で示される
ような強度分布をしており、パワー密度はスポットの中
心が高く、中心から離れるにつれ低下する。このような
スポットをくり返しディスク上に照射すると、照射部は
トラックと垂直方向に材料の不均一性が生じる。
の記録材料の不均一性が徐々に蓄積されるためと考えら
れる。原因としては、照射するレーザ光の強度分野やパ
ワー変動、スポットのトラック方向のズレ等に起因する
記録材料の昇温状態における温度分布がある。特にレン
ズ系で絞られた光ビームは、ガウス分布曲線で示される
ような強度分布をしており、パワー密度はスポットの中
心が高く、中心から離れるにつれ低下する。このような
スポットをくり返しディスク上に照射すると、照射部は
トラックと垂直方向に材料の不均一性が生じる。
本発明においては、記録信号の劣化が生じたことが検
出されたならば、通常の信号記録時よりも高パワーで、
かつ無変調の記録スポット１と、消去スポット２を交互
に照射することで、記録信号状態の回復を図る。無変調
で高パワーの記録スポット１が通過すると、照射部は通
常の記録時よりも高温となり、記録材料の溶融する面積
が広がる。溶融状態では原子の動きが活発となり、ラン
ダム性が増す。この結果、溶融された部分の履歴は完全
に消されてしまい、材料状態や記録信号が初期の状態ま
で回復すると考えられる。このような、くり返しにより
劣化が生じた記録部に、本発明の処理を行なった時の結
果を第１図に示す。第２図と同様の条件下で記録パワー
8mW,消去パワー126mWとして、2MHzの信号の記録・消去
を行なうと、105回においてC/N比が初期の55dBに対し5
2.5dBと2.5dB下がり、消去率も初期の45.5dBから42dBと
3.5dB悪くなる。ここで、記録スポットのパワーを10mW
に高め、無変調で照射し、その後消去スポットを照射す
る処理を行なった後、再び元の記録条件に戻し信号記録
行なった結果、C/N比が54.8dB,消去率が45.0dBとほぼ初
期の記録および消去状態まで回復することができた。さ
らにくり返しを行なっていくと２×105回程度で再び105
回時のような信号状態となり、105回と同様の処理をす
ることで信号状態の回復が図れた。このような操作を10
6回まで105回ごとに行なった結果、106回の点でC/N比5
2.0dB,消去率が41dBとなり、本発明の処理を行った結果
C/N比53.5dB,消去率43.0dBとなった。これらの結果か
ら、記録信号の劣化が見られたならば、その都度本発明
の処理を行なうことで、光ディスクとしてのくり返し寿
命を10倍以上と長くすることが可能となる。
出されたならば、通常の信号記録時よりも高パワーで、
かつ無変調の記録スポット１と、消去スポット２を交互
に照射することで、記録信号状態の回復を図る。無変調
で高パワーの記録スポット１が通過すると、照射部は通
常の記録時よりも高温となり、記録材料の溶融する面積
が広がる。溶融状態では原子の動きが活発となり、ラン
ダム性が増す。この結果、溶融された部分の履歴は完全
に消されてしまい、材料状態や記録信号が初期の状態ま
で回復すると考えられる。このような、くり返しにより
劣化が生じた記録部に、本発明の処理を行なった時の結
果を第１図に示す。第２図と同様の条件下で記録パワー
8mW,消去パワー126mWとして、2MHzの信号の記録・消去
を行なうと、105回においてC/N比が初期の55dBに対し5
2.5dBと2.5dB下がり、消去率も初期の45.5dBから42dBと
3.5dB悪くなる。ここで、記録スポットのパワーを10mW
に高め、無変調で照射し、その後消去スポットを照射す
る処理を行なった後、再び元の記録条件に戻し信号記録
行なった結果、C/N比が54.8dB,消去率が45.0dBとほぼ初
期の記録および消去状態まで回復することができた。さ
らにくり返しを行なっていくと２×105回程度で再び105
回時のような信号状態となり、105回と同様の処理をす
ることで信号状態の回復が図れた。このような操作を10
6回まで105回ごとに行なった結果、106回の点でC/N比5
2.0dB,消去率が41dBとなり、本発明の処理を行った結果
C/N比53.5dB,消去率43.0dBとなった。これらの結果か
ら、記録信号の劣化が見られたならば、その都度本発明
の処理を行なうことで、光ディスクとしてのくり返し寿
命を10倍以上と長くすることが可能となる。
なお、前述の実験結果は、記録スポット，消去スポッ
トを一回だけ照射した場合であるが、さらに数回交互に
照射することで、C/N比，消去率の回復効果が増す。ま
た、消去率の回復がC/N比に比べて小さいが、これは消
去スポットのパワーを高めることで同等の値に近づける
ことができる。
トを一回だけ照射した場合であるが、さらに数回交互に
照射することで、C/N比，消去率の回復効果が増す。ま
た、消去率の回復がC/N比に比べて小さいが、これは消
去スポットのパワーを高めることで同等の値に近づける
ことができる。
本発明のような処理は、実際に光ディスク上に信号を
記録・消去している中で実行されねばならない。しか
し、C/Nや消去率をその都度測るのは、不可能である。
そこで、光ディスク上の、データ管理を行うディレクト
リー部や、各信号の記録開始部等に何回くり返し記録を
行なったかを管理する情報を記録しておくことで、一定
回数の記録・消去が行なわれたならばその都度本発明の
処理を行なう方法がある。
記録・消去している中で実行されねばならない。しか
し、C/Nや消去率をその都度測るのは、不可能である。
そこで、光ディスク上の、データ管理を行うディレクト
リー部や、各信号の記録開始部等に何回くり返し記録を
行なったかを管理する情報を記録しておくことで、一定
回数の記録・消去が行なわれたならばその都度本発明の
処理を行なう方法がある。
他の方法としては、一般的に光ディスク上に記録され
る信号には、原信号の他に、２重,3重のエラー訂正符号
を含んだ信号が記録され、再生時には、再生信号に含ま
れる読み取り誤りをエラー訂正符号を用いて補正する回
路処理を行ない原信号を作り出すという方法をとってい
るので、これを利用することが考えられる。すなわち、
この再生信号から原信号を作り出す過程の中に、エラー
訂正量の基準値を設け、基準値以上のエラー訂正量とな
った場合に、その領域についてのみ、本発明の処理を行
なえばよい。
る信号には、原信号の他に、２重,3重のエラー訂正符号
を含んだ信号が記録され、再生時には、再生信号に含ま
れる読み取り誤りをエラー訂正符号を用いて補正する回
路処理を行ない原信号を作り出すという方法をとってい
るので、これを利用することが考えられる。すなわち、
この再生信号から原信号を作り出す過程の中に、エラー
訂正量の基準値を設け、基準値以上のエラー訂正量とな
った場合に、その領域についてのみ、本発明の処理を行
なえばよい。
次に、本発明の他の実施例について説明する。記録し
た信号の消去に、２つのスポットを用いる方法があり、
その構成を第４図（Ａ）に示す。記録スポット１は前述
と同様である。円形の消去スポット４を先頭に、その直
後に長円形の消去スポット５を配置する。このような消
去スポット4,5が記録ビット上を通過すると、まず先頭
の円形スポット４により、照射部の温度は急激に上昇し
溶融状態となる。スポット４の通過後急冷されるが、そ
の直後に長円形の消去スポット５が照射されることで、
冷却過程の温度は、第４図（Ｂ）に示すように徐々に低
下し、照射部は結晶状態となる。その結果、信号の消去
が行なわれる。
た信号の消去に、２つのスポットを用いる方法があり、
その構成を第４図（Ａ）に示す。記録スポット１は前述
と同様である。円形の消去スポット４を先頭に、その直
後に長円形の消去スポット５を配置する。このような消
去スポット4,5が記録ビット上を通過すると、まず先頭
の円形スポット４により、照射部の温度は急激に上昇し
溶融状態となる。スポット４の通過後急冷されるが、そ
の直後に長円形の消去スポット５が照射されることで、
冷却過程の温度は、第４図（Ｂ）に示すように徐々に低
下し、照射部は結晶状態となる。その結果、信号の消去
が行なわれる。
この２つのスポットを用いた消去法は、先頭の円形ス
ポット４で、照射部を溶融するために、前述の長円スポ
ットのみの消去に比べ高い消去率を示すという特徴をも
つ。
ポット４で、照射部を溶融するために、前述の長円スポ
ットのみの消去に比べ高い消去率を示すという特徴をも
つ。
２つのスポットを用いた消去法についても、実施例１
と同様のくり返し実験を行い、C/N比および消去率の測
定を行なった。記録スポット１と円形の消去スポット４
のパワーは7mWと等しくし、長円形の消去スポット５を
パワーは8mwとした。この条件下で初期状態で得られたC
/Nが55.0dB,消去が52.0dBであり、105回でC/N比が52.0d
B,消去率が49.0dBとなった。ここで先頭の円形消去スポ
ット４のパワーを高め10mWとして消去のみを数回行なっ
た後、信号記録を行なうと、C/N比が54.5dB,消去率51dB
とほぼ初期状態の記録・消去レベルまで回復させること
ができた。実施例１と同様の過程で106回までくり返し
を行い、２スポットを使った消去法においても同様の現
象が見られた。以上のことから、２つのスポットを使っ
た消去法において、記録信号の劣化が見られたならば、
その都度先頭の円形消去スポット４のパワーを高くして
２つのスポットを照射する処理を行うことで、光ディス
クのくり返し寿命を長くすることができる。
と同様のくり返し実験を行い、C/N比および消去率の測
定を行なった。記録スポット１と円形の消去スポット４
のパワーは7mWと等しくし、長円形の消去スポット５を
パワーは8mwとした。この条件下で初期状態で得られたC
/Nが55.0dB,消去が52.0dBであり、105回でC/N比が52.0d
B,消去率が49.0dBとなった。ここで先頭の円形消去スポ
ット４のパワーを高め10mWとして消去のみを数回行なっ
た後、信号記録を行なうと、C/N比が54.5dB,消去率51dB
とほぼ初期状態の記録・消去レベルまで回復させること
ができた。実施例１と同様の過程で106回までくり返し
を行い、２スポットを使った消去法においても同様の現
象が見られた。以上のことから、２つのスポットを使っ
た消去法において、記録信号の劣化が見られたならば、
その都度先頭の円形消去スポット４のパワーを高くして
２つのスポットを照射する処理を行うことで、光ディス
クのくり返し寿命を長くすることができる。
発明の効果 本発明によれば、書き換え可能な光ディスクにおい
て、記録・消去をくり返し行なっている途中に、レーザ
光の照射条件を変えた処理を加えるという簡便な方法に
より、光ディスクのくり返し性能の向上を図ることがで
きる。
て、記録・消去をくり返し行なっている途中に、レーザ
光の照射条件を変えた処理を加えるという簡便な方法に
より、光ディスクのくり返し性能の向上を図ることがで
きる。
第１図は本発明の一実施例におけるくり返し特性を示す
グラフ、第２図は従来例におけるくり返し特性を示すグ
ラフ、第３図及び第４図は記録および消去スポットの配
置例を示す図である。
グラフ、第２図は従来例におけるくり返し特性を示すグ
ラフ、第３図及び第４図は記録および消去スポットの配
置例を示す図である。
Claims (3)
- 【請求項１】アモルファス状態と結晶状態間で可逆的な
状態変化を示す記録媒体上に、所定のパワーで変調され
た光ビームを照射することにより前記記録媒体の情報信
号を記録消去する方法であって、前記記録媒体からの再
生信号を情報信号に変換する過程で前記再生信号の品質
を識別し、前記識別結果が前記品質の劣化を判定した場
合に、前記所定のパワーよりも高く照射部を溶融するパ
ワーからなる第１の連続光を照射する照射処理を行い、
前記照射処理後に前記記録媒体を消去状態にする第２の
連続光を照射する消去処理を行い、前記消去処理後に前
記情報信号に従った所定のパワーで変調された光ビーム
を照射する記録を行うことを特徴とする光ディスクの記
録消去方法。 - 【請求項２】記録媒体に記録する際に、情報信号に繰返
し記録回数の情報を付加した信号を記録信号とし、前記
記録媒体からの再生信号に含まれる前記繰返し記録回数
の情報を識別し、前記繰返し記録回数が基準値である場
合に、連続光の照射処理を行うことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の光ディスクの記録消去方法。 - 【請求項３】記録媒体に記録する情報信号がエラー訂正
符号を含み、前記記録媒体からの再生信号を復調する際
に、前記復調過程で生じるエラー訂正量を検出し、前記
エラー訂正量が基準値以上である場合に、連続光の照射
処理を行うことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の光ディスクの記録消去方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61238364A JP2615450B2 (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | 光デイスクの記録消去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61238364A JP2615450B2 (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | 光デイスクの記録消去方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6394437A JPS6394437A (ja) | 1988-04-25 |
| JP2615450B2 true JP2615450B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=17029090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61238364A Expired - Lifetime JP2615450B2 (ja) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | 光デイスクの記録消去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2615450B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2562128B2 (ja) * | 1984-02-10 | 1996-12-11 | 富士通株式会社 | 光デイスク装置の消去回数管理方法 |
| JPS6116033A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 書換え可能光学的記録再生装置 |
| JPS61107551A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Canon Inc | 情報処理装置における情報消去方法 |
| JP2575119B2 (ja) * | 1986-07-15 | 1997-01-22 | 株式会社日立製作所 | 情報の記録・再生方法 |
-
1986
- 1986-10-07 JP JP61238364A patent/JP2615450B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6394437A (ja) | 1988-04-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0718831B1 (en) | Recording method for an optical information recording medium | |
| JP2697555B2 (ja) | 光情報記録媒体 | |
| JP3171103B2 (ja) | 光記録方法および光記録媒体 | |
| EP0991060A2 (en) | Optical information recording medium, optical information recording apparatus, and method of recording test signal on the same | |
| JP2719130B2 (ja) | 情報の記録・再生および書き換え方法とその装置 | |
| US6438085B1 (en) | Optical recording method | |
| JP2615450B2 (ja) | 光デイスクの記録消去方法 | |
| JPH0612670A (ja) | 記録媒体の初期化方法 | |
| JPS63304428A (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP3314565B2 (ja) | 光学情報記録媒体の記録・再生方法 | |
| JP3365441B2 (ja) | 光学的情報記録媒体 | |
| JP2823152B2 (ja) | 情報の記録再生方法 | |
| JP3455521B2 (ja) | 光記録方法 | |
| JP2537910B2 (ja) | 光学情報記録再生消去方法 | |
| JP2823153B2 (ja) | 情報の記録・再生および書き換え方法とその装置 | |
| JP2825013B2 (ja) | 情報の記録・再生および書き換え方法とその装置 | |
| JP3094740B2 (ja) | 光学的情報記録媒体およびその記録再生方法 | |
| JP2823154B2 (ja) | 情報の記録・再生および書き換え方法とその装置 | |
| JPH06103609A (ja) | 光記録媒体 | |
| JPH064867A (ja) | 光学情報記録方法と光学的情報記録再生装置 | |
| JPH03116529A (ja) | 情報の記録方法 | |
| JPH04278224A (ja) | 光ディスク初期化方法及び光ディスク記録方法 | |
| JPS63117325A (ja) | 情報の光学的記録方法 | |
| JPH0338656B2 (ja) | ||
| JPH0814892B2 (ja) | 光学的情報記録消去方法 |