JP2589072B2 - デイスク再生装置 - Google Patents
デイスク再生装置Info
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- JP2589072B2 JP2589072B2 JP21463286A JP21463286A JP2589072B2 JP 2589072 B2 JP2589072 B2 JP 2589072B2 JP 21463286 A JP21463286 A JP 21463286A JP 21463286 A JP21463286 A JP 21463286A JP 2589072 B2 JP2589072 B2 JP 2589072B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本発明はディスクに記録された情報を光学的に読み取
る装置、例えばコンパクトディスクプレーヤ（以下CDプ
レーヤと称する）に関するものである。
る装置、例えばコンパクトディスクプレーヤ（以下CDプ
レーヤと称する）に関するものである。
（ロ） 従来の技術 従来、CDプレーヤの情報読み取り方式として、半導体
レーザから出射されるビームを回折格子を用いて分割
し、その０次回折光を情報再生及びフォーカシング制御
に用い、１次回折光をトラッキング制御に用いる所謂３
ビーム方式のディスク再生装置が周知である。斯かるデ
ィスク再生装置では再生時において１次回折光が０次回
折光より常に先行しており、そのためディスク面に傷等
の欠損が存在する場合は先づ先行する１次回折光にその
影響が及び、トラッキングエラー信号に乱れが生じる。
レーザから出射されるビームを回折格子を用いて分割
し、その０次回折光を情報再生及びフォーカシング制御
に用い、１次回折光をトラッキング制御に用いる所謂３
ビーム方式のディスク再生装置が周知である。斯かるデ
ィスク再生装置では再生時において１次回折光が０次回
折光より常に先行しており、そのためディスク面に傷等
の欠損が存在する場合は先づ先行する１次回折光にその
影響が及び、トラッキングエラー信号に乱れが生じる。
従来の３ビーム方式のディスク再生装置では斯かるド
ラッキングエラー信号を乱れを検出してディスクの欠損
を判別し、トラッキングエラー信号を補正する方式があ
ったが（特開昭60−29944号公報参照）、斯かる方式で
は検出時にすでにトラッキングエラー信号が乱れている
為、欠損部分を通過する際にトラッキング制御ができな
い場合が生ずる惧れがあった。
ラッキングエラー信号を乱れを検出してディスクの欠損
を判別し、トラッキングエラー信号を補正する方式があ
ったが（特開昭60−29944号公報参照）、斯かる方式で
は検出時にすでにトラッキングエラー信号が乱れている
為、欠損部分を通過する際にトラッキング制御ができな
い場合が生ずる惧れがあった。
（ハ） 発明が解決しようとする問題点 本発明は欠損部を有するディスクを再生した場合に、
トラッキング制御或いはフォーカシング制御が困難とな
るという問題点を解決せんとするものである。
トラッキング制御或いはフォーカシング制御が困難とな
るという問題点を解決せんとするものである。
（ニ） 問題点を解決するための手段 上記問題点に鑑み本発明は光源からの出射光を分割す
る回折格子と、該回折格子により分割された分割光をデ
ィスク面に導く光学系と、該光学系により導かれ、前記
ディスクにより透過若しくは反射された分割光の内、情
報再生、トラッキング制御及びフォーカシング制御を行
なう分割光より先行する分割光を受光する光電素子と、
該光電素子から送出される信号を判別して前記ディスク
の欠損を指標する指標信号を送出する欠損判別手段とを
有する構成とした。
る回折格子と、該回折格子により分割された分割光をデ
ィスク面に導く光学系と、該光学系により導かれ、前記
ディスクにより透過若しくは反射された分割光の内、情
報再生、トラッキング制御及びフォーカシング制御を行
なう分割光より先行する分割光を受光する光電素子と、
該光電素子から送出される信号を判別して前記ディスク
の欠損を指標する指標信号を送出する欠損判別手段とを
有する構成とした。
（ホ） 作用 ディスクに欠損が存在する場合にはその影響は情報再
生、トラッキング制御、及びフォーカシング制御用の分
割光よりも先行する分割光に及び、そしてこの分割光を
受光する光電素子から送出される信号に変動が生じ、こ
の変動を欠損判別手段が判別して指標信号を送出してト
ラッキング制御等の補正が行なわれる。即ちディスクに
存在する欠損が情報再生信号、トラッキングエラー信
号、フォーカスエラー信号に影響を及ぼす前にこれら各
信号に補正がなされる。
生、トラッキング制御、及びフォーカシング制御用の分
割光よりも先行する分割光に及び、そしてこの分割光を
受光する光電素子から送出される信号に変動が生じ、こ
の変動を欠損判別手段が判別して指標信号を送出してト
ラッキング制御等の補正が行なわれる。即ちディスクに
存在する欠損が情報再生信号、トラッキングエラー信
号、フォーカスエラー信号に影響を及ぼす前にこれら各
信号に補正がなされる。
（ヘ） 実施例 第１図において、レーザーダイオード（１）から出射
された光は回折格子（２）を通過して複数の回折光に分
割され、更にコリメータレンズ（３）を通過することに
より平行光にされる。斯様に平行光にされた回折光はビ
ームスプリッタ（４）により光路が90゜変更され、対物
レンズ（５）によりディスク（Ｄ）上に焦点集中され
る。ディスク（Ｄ）上に焦点集中された回折光はディス
ク（Ｄ）により反射され、ビームスプリッタ（４）を通
過した後収束レンズ（６）及びシリンドリカルレンズ
（７）を透過して非点収差光とされ、受光素子（８）に
受光される。
された光は回折格子（２）を通過して複数の回折光に分
割され、更にコリメータレンズ（３）を通過することに
より平行光にされる。斯様に平行光にされた回折光はビ
ームスプリッタ（４）により光路が90゜変更され、対物
レンズ（５）によりディスク（Ｄ）上に焦点集中され
る。ディスク（Ｄ）上に焦点集中された回折光はディス
ク（Ｄ）により反射され、ビームスプリッタ（４）を通
過した後収束レンズ（６）及びシリンドリカルレンズ
（７）を透過して非点収差光とされ、受光素子（８）に
受光される。
ディスク（Ｄ）上においては上記回折光の内０次回折
光（L0）、１次回折光（L1）（L1′）、２次回折光
（L2）（L2′）が通常、第２図に示す如く照射されてい
る。即ち０次回折光（L0）はピット（９）…の列で形成
されるトラックの略中央に位置し、２つの１次回折光
（L1）（L1′）はそれぞれその一部が略均等にトラック
に懸かかっている。また２次回折光（L2）（L2′）は隣
り合う２つのトラックの間に位置すると共に０次回折光
（L0）及び１次回折光（L1）（L1′）を挾んでいる。
光（L0）、１次回折光（L1）（L1′）、２次回折光
（L2）（L2′）が通常、第２図に示す如く照射されてい
る。即ち０次回折光（L0）はピット（９）…の列で形成
されるトラックの略中央に位置し、２つの１次回折光
（L1）（L1′）はそれぞれその一部が略均等にトラック
に懸かかっている。また２次回折光（L2）（L2′）は隣
り合う２つのトラックの間に位置すると共に０次回折光
（L0）及び１次回折光（L1）（L1′）を挾んでいる。
ところで前記した受光素子（８）は４分割フォトセン
サ（10）、及び４つのフォトセンサ（12a）（12b）（13
a）（13b）により構成されており、ディスク面における
上記各回折光の反射光の内、０次回折光（L0）は４分割
フォトセンサ（10）に、１次回折光（L1）（L1′）はフ
ォトセンサ（12a）（12b）に、２次回折光（L2）
（L2′）はフォトセンサ（13a）（13b）に各々受光され
る。そして、４分割フォトセンサ（10）では入射光の非
点収差を利用してフォーカスエラー信号（FE）が形成さ
れると共に、各センサの和成分により情報信号（RF）が
形成され（特公昭60−48949号公報参照）、フォトセン
サ（12a）（12b）では各々のセンサから出力される信号
レベルを加算器（11）で加算して、トラッキングエラー
信号（TR）が形成される。
サ（10）、及び４つのフォトセンサ（12a）（12b）（13
a）（13b）により構成されており、ディスク面における
上記各回折光の反射光の内、０次回折光（L0）は４分割
フォトセンサ（10）に、１次回折光（L1）（L1′）はフ
ォトセンサ（12a）（12b）に、２次回折光（L2）
（L2′）はフォトセンサ（13a）（13b）に各々受光され
る。そして、４分割フォトセンサ（10）では入射光の非
点収差を利用してフォーカスエラー信号（FE）が形成さ
れると共に、各センサの和成分により情報信号（RF）が
形成され（特公昭60−48949号公報参照）、フォトセン
サ（12a）（12b）では各々のセンサから出力される信号
レベルを加算器（11）で加算して、トラッキングエラー
信号（TR）が形成される。
第３図はディスクの欠損を検出した場合にトラッキン
グエラー信号を補正する回路を示す図である。
グエラー信号を補正する回路を示す図である。
フォトセンサ（12a）（12b）より出力される信号は加
算器（11）により演算され、この演算出力はサーボ系の
周波数特定を決定する位相補償回路（14）及びスイッチ
（15）を経てピックアップ駆動回路（16）に印加され
る。そしてこのピックアップ駆動回路（16）から出力さ
れる信号がトラッキングコイル（17）に印加されトラッ
キング制御が行なわれる。（18）は低域ホールド回路
で、トラッキングエラー信号（TR）の低域成分を保持す
る。
算器（11）により演算され、この演算出力はサーボ系の
周波数特定を決定する位相補償回路（14）及びスイッチ
（15）を経てピックアップ駆動回路（16）に印加され
る。そしてこのピックアップ駆動回路（16）から出力さ
れる信号がトラッキングコイル（17）に印加されトラッ
キング制御が行なわれる。（18）は低域ホールド回路
で、トラッキングエラー信号（TR）の低域成分を保持す
る。
フォトセンサ（13a）から出力される信号はコンパレ
ータ（19）により２値化され、更にローパスフィルター
（20）によりノイズが除去され、インバータ（21）を経
てフリップフロップ（22）のセット入力端子に印加され
る。また、フォトセンサ（13b）から出力される信号は
同様にコンパレータ（23）により２値化された後、ロー
パスフィルター（24）によりノイズが除去され、更に微
分回路（25）により微分された後フリップフロップ（2
2）のリセット入力端子に印加される。前記微分回路（2
5）は信号の立上り時のみトリガパルスを印加してフリ
ップフロップ（22）をリセットする。またフリップフロ
ップ（22）の出力端子はスイッチ（15）に接続され、斯
かるスイッチ（15）はＨレベルが印加された時開放され
る。
ータ（19）により２値化され、更にローパスフィルター
（20）によりノイズが除去され、インバータ（21）を経
てフリップフロップ（22）のセット入力端子に印加され
る。また、フォトセンサ（13b）から出力される信号は
同様にコンパレータ（23）により２値化された後、ロー
パスフィルター（24）によりノイズが除去され、更に微
分回路（25）により微分された後フリップフロップ（2
2）のリセット入力端子に印加される。前記微分回路（2
5）は信号の立上り時のみトリガパルスを印加してフリ
ップフロップ（22）をリセットする。またフリップフロ
ップ（22）の出力端子はスイッチ（15）に接続され、斯
かるスイッチ（15）はＨレベルが印加された時開放され
る。
さて、上述した様に２次回折光（L2）（L2′）は隣接
トラック間に位置するため、これら回折光（L2）
（L2′）は通常再生時にはディスク（Ｄ）により常に全
反射され、これらの反射光を受光するフォトセンサ（13
a）（13b）からはＨレベルの信号が出力されている。こ
の為フリップフロップ（22）のセット入力端子にはイン
バータ（21）を介してＬレベルの信号が印加されており
フリップフロップ（22）はセットされておらず、出力端
子からはＬレベルの信号が出力されている。従ってスイ
ッチ（15）は閉成されており通常のトラッキング制御が
行なわれている。
トラック間に位置するため、これら回折光（L2）
（L2′）は通常再生時にはディスク（Ｄ）により常に全
反射され、これらの反射光を受光するフォトセンサ（13
a）（13b）からはＨレベルの信号が出力されている。こ
の為フリップフロップ（22）のセット入力端子にはイン
バータ（21）を介してＬレベルの信号が印加されており
フリップフロップ（22）はセットされておらず、出力端
子からはＬレベルの信号が出力されている。従ってスイ
ッチ（15）は閉成されており通常のトラッキング制御が
行なわれている。
今、第２図に示す様に再生位置がディスクの欠損部
（26）に至ったとする。すると、先づ再生位置において
他の回折光より先行している２次回折光（L2）が欠損部
（26）に達し、斯かる２次回折光（L2）が欠損部により
乱反射される。斯様に２次回折光（L2）が乱反射される
と、この２次回折光（L2）を受光するフォトセンサ（13
a）の出力レベルが低下し、以ってフォトセンサ（13a）
からはＬレベルの信号が出力される。フォトセンサ（13
a）からの出力信号がＬレベルに反転すると、それに応
答してインバータ（21）からの出力信号がＨレベルに反
転し、この信号の立上がりに応答してフリップフロップ
（22）がセットされ、フリップフロップ（22）からの出
力がＨレベルに反転する。従って、スイッチ（15）にＨ
レベルの信号が印加され、スイッチ（15）が開放され
る。
（26）に至ったとする。すると、先づ再生位置において
他の回折光より先行している２次回折光（L2）が欠損部
（26）に達し、斯かる２次回折光（L2）が欠損部により
乱反射される。斯様に２次回折光（L2）が乱反射される
と、この２次回折光（L2）を受光するフォトセンサ（13
a）の出力レベルが低下し、以ってフォトセンサ（13a）
からはＬレベルの信号が出力される。フォトセンサ（13
a）からの出力信号がＬレベルに反転すると、それに応
答してインバータ（21）からの出力信号がＨレベルに反
転し、この信号の立上がりに応答してフリップフロップ
（22）がセットされ、フリップフロップ（22）からの出
力がＨレベルに反転する。従って、スイッチ（15）にＨ
レベルの信号が印加され、スイッチ（15）が開放され
る。
スイッチ（15）が開放されると、ピックアップ駆動回
路（16）にはもはや位相補償回路（14）からトラッキン
グエラー信号（TR）が印加されず、代わりに低域ホール
ド回路（18）からスイッチ（15）開放時のトラッキング
エラー信号（TR）の低域成分である所定のレベル信号が
印加される。従ってトラッキングコイル（17）には所定
のレベル電圧が印加され、上記各回折光は所定の位置、
即ち欠損部（26）に到達した時の位置に固定される。
路（16）にはもはや位相補償回路（14）からトラッキン
グエラー信号（TR）が印加されず、代わりに低域ホール
ド回路（18）からスイッチ（15）開放時のトラッキング
エラー信号（TR）の低域成分である所定のレベル信号が
印加される。従ってトラッキングコイル（17）には所定
のレベル電圧が印加され、上記各回折光は所定の位置、
即ち欠損部（26）に到達した時の位置に固定される。
更に上記２次回折光（L2）に続いて１次回折光
（L1）、０次回折光（L0）、１次回折光（L1′）が順次
欠損部（26）に達するが、斯かる回折光はフリップフロ
ップ（22）の動作に関与しないので、スイッチ（15）は
開放状態を保ち各々の回折光は上記位置に保たれる。
（L1）、０次回折光（L0）、１次回折光（L1′）が順次
欠損部（26）に達するが、斯かる回折光はフリップフロ
ップ（22）の動作に関与しないので、スイッチ（15）は
開放状態を保ち各々の回折光は上記位置に保たれる。
また、上記各回折光に続いて２次回折光（L2′）が欠
損部（26）に達し、フォトセンサ（13b）からの出力信
号がＬレベルに反転するが、斯かる信号はＨレベルから
Ｌレベルへの反転であるため微分回路（25）からはトリ
ガパルスが出力されない。従ってフリップフロップ（2
2）はリセットされない。
損部（26）に達し、フォトセンサ（13b）からの出力信
号がＬレベルに反転するが、斯かる信号はＨレベルから
Ｌレベルへの反転であるため微分回路（25）からはトリ
ガパルスが出力されない。従ってフリップフロップ（2
2）はリセットされない。
この様に上記各回折光が欠損部（26）通過時にはスイ
ッチ（15）は開放されており、各回折光は欠損部到達時
のトラック位置を保つ。
ッチ（15）は開放されており、各回折光は欠損部到達時
のトラック位置を保つ。
さて、ディスクの回転に伴って２次回折光（L2′）
が、先行する回折光（L2）（L1）（L0）（L1′）に続い
て欠損部（26）から抜け出すと、２次回折光（L2′）が
ディスク（Ｄ）により全反射され、フォトセンサ（13
b）の出力がＬレベルからＨレベルに反転する。すると
これと同時に微分回路（25）から信号の立上りを示すト
リガパルスがフリップフロップ（22）に印加され、フリ
ップフロップ（22）はリセットされる。斯様にフリップ
フロップ（22）がリセットされると、フリップフロップ
の出力信号がＬレベルに反転し、以ってスイッチ（15）
が閉成される。この様にしてビックアップ駆動回路（1
6）にはトラッキングエラー信号（TR）が印加され、通
常のトラッキング制御に復帰する。
が、先行する回折光（L2）（L1）（L0）（L1′）に続い
て欠損部（26）から抜け出すと、２次回折光（L2′）が
ディスク（Ｄ）により全反射され、フォトセンサ（13
b）の出力がＬレベルからＨレベルに反転する。すると
これと同時に微分回路（25）から信号の立上りを示すト
リガパルスがフリップフロップ（22）に印加され、フリ
ップフロップ（22）はリセットされる。斯様にフリップ
フロップ（22）がリセットされると、フリップフロップ
の出力信号がＬレベルに反転し、以ってスイッチ（15）
が閉成される。この様にしてビックアップ駆動回路（1
6）にはトラッキングエラー信号（TR）が印加され、通
常のトラッキング制御に復帰する。
以上の様に本実施例では情報読取り及びフォーカス制
御用の０次回折光及びトラッキング制御用の１次回折光
がディスクの欠損部に達する前に２次回折光によりディ
スクの欠損を検出してトラッキングエラー信号を補正す
るので、ディスクの欠損によりトラッキング制御が乱れ
ることはない。また２次回折光により欠損部の長さを判
別することができ、即ち２つの２次回折光の内、先行す
る方の回折光により欠損の始まりが検出され、他方の回
折光により欠損の終わりが検出されるので、欠損の大き
さに関係なく確実にトラッキングエラー信号を補正する
ことができる。
御用の０次回折光及びトラッキング制御用の１次回折光
がディスクの欠損部に達する前に２次回折光によりディ
スクの欠損を検出してトラッキングエラー信号を補正す
るので、ディスクの欠損によりトラッキング制御が乱れ
ることはない。また２次回折光により欠損部の長さを判
別することができ、即ち２つの２次回折光の内、先行す
る方の回折光により欠損の始まりが検出され、他方の回
折光により欠損の終わりが検出されるので、欠損の大き
さに関係なく確実にトラッキングエラー信号を補正する
ことができる。
尚、上記実施例では欠損検出時にトラッキングエラー
信号を補正する構成としたが、フォーカスエラー信号及
び情報信号に対する補正にも利用できることは言うまで
もない。また、トラッキングエラー信号の補正方法は当
該実施例の方法に限定されず、例えばサーボ系の周波数
特性を制御する方法としても良い。
信号を補正する構成としたが、フォーカスエラー信号及
び情報信号に対する補正にも利用できることは言うまで
もない。また、トラッキングエラー信号の補正方法は当
該実施例の方法に限定されず、例えばサーボ系の周波数
特性を制御する方法としても良い。
更に、本実施例では３ビーム方式のディスク再生装置
について述べたが、これに限定されず、例えば１つのビ
ームによって情報再生、フォーカシング制御、トラッキ
ング制御を行なう１ビーム方式のディスク再生装置にも
適用できる。この場合、０次回折光により情報再生、フ
ォーカス制御、トラッキング制御を行ない、１次回折光
で欠損検出を行なうと良い。
について述べたが、これに限定されず、例えば１つのビ
ームによって情報再生、フォーカシング制御、トラッキ
ング制御を行なう１ビーム方式のディスク再生装置にも
適用できる。この場合、０次回折光により情報再生、フ
ォーカス制御、トラッキング制御を行ない、１次回折光
で欠損検出を行なうと良い。
（ト） 発明の効果 本発明に依れば情報再生、トラッキング制御、及びフ
ォーカシング制御を行なう光がディスクの欠損部に達す
る前に前記欠損部を検出して指標信号が送出されるの
で、斯かる指標信号によって情報再生、トラッキング制
御、フォーカシング制御等を補正することにより、欠損
部によって誤動作等が起こることがなく、安定した再生
動作を実現することができる。
ォーカシング制御を行なう光がディスクの欠損部に達す
る前に前記欠損部を検出して指標信号が送出されるの
で、斯かる指標信号によって情報再生、トラッキング制
御、フォーカシング制御等を補正することにより、欠損
部によって誤動作等が起こることがなく、安定した再生
動作を実現することができる。
図は何れも本発明の一実施例を示す図である。第１図は
光学系を示す図、第２図はディスク面における各回折光
の位置及び夫々の回折光が受光されるフォトセンサとの
関係を示す図、第３図は欠損に対する補正を行なうため
の回路構成を示す図である。 （１）……レーザダイオード（光源）、（２）……回折
格子、（８）……受光素子（光電素子）、（21），（2
2），及び（25）……インバータ，フリップフロップ，
及び微分回路（欠損判別手段）。
光学系を示す図、第２図はディスク面における各回折光
の位置及び夫々の回折光が受光されるフォトセンサとの
関係を示す図、第３図は欠損に対する補正を行なうため
の回路構成を示す図である。 （１）……レーザダイオード（光源）、（２）……回折
格子、（８）……受光素子（光電素子）、（21），（2
2），及び（25）……インバータ，フリップフロップ，
及び微分回路（欠損判別手段）。
Claims (1)
- 【請求項１】光源から出射光を分割する回折格子と、 該回折格子より分割された０次回折光、１次回折光及び
２次回折光をディスク面に導く光学系と、 前記光学系より導かれ、前記ディスクより透過若しくは
反射された各回折光の内、情報再生及びフォーカシング
制御に用いる０次回折光を受光する第１の光電素子と、 前記光学系より導かれ、前記ディスクより透過若しくは
反射された各回折光の内、前記０次回折光に対して先行
及び後続すると共にトラッキング制御に用いる１次回折
光を受光する第２の光電素子と、 前記光学系より導かれ、前記ディスクより透過若しくは
反射された各回折光の内、前記１次回折光に対して先行
及び後続する２次回折光を受光する２つの第３の光電素
子と、 前記第２の光電素子から送出される信号に基づいてサー
ボ系の周波数特性を決定する位相補償手段と、 前記位相補償手段が出力する信号に基づいてピックアッ
プのトラッキング制御を行うピックアップ駆動手段と、 前記位相補償手段からの信号をピックアップ駆動手段へ
導く経路中に設けられ、位相補償手段からの信号の通過
及び阻止を行うスイッチ手段と、 前記１次回折光に対して先行する２次回折光がディスク
上の欠損部に到達した際に、該先行する２次回折光を受
光する第３の光電素子からの信号の変化に基づいて前記
スイッチング手段を制御し、前記移送補償手段からピッ
クアップ駆動手段へ導かれる信号を阻止すると共に、 さらに前記１次回折光に対して後続する２次回折光がデ
ィスク上の欠損部を通過した後に、該後続する２次回折
光を受光する第３の光電素子からの信号の変化に基づい
て前記スイッチ手段を制御し、前記移送補償手段からピ
ックアップ駆動手段へ導かれる信号を通過させる欠損検
出制御手段 とを有することを特徴とするディスク再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21463286A JP2589072B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | デイスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21463286A JP2589072B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | デイスク再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6370927A JPS6370927A (ja) | 1988-03-31 |
| JP2589072B2 true JP2589072B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=16658953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21463286A Expired - Fee Related JP2589072B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | デイスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2589072B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01155524A (ja) * | 1987-12-11 | 1989-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式ディスク再生装置 |
| JP2794836B2 (ja) * | 1989-10-12 | 1998-09-10 | ソニー株式会社 | 情報記録および／または再生装置 |
| JPH04195823A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 傷検出を行うサーボ装置 |
-
1986
- 1986-09-11 JP JP21463286A patent/JP2589072B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
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| JPS6370927A (ja) | 1988-03-31 |
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