JP2541966B2 - 面形状測定装置 - Google Patents

面形状測定装置

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JP2541966B2 JP62058311A JP5831187A JP2541966B2 JP 2541966 B2 JP2541966 B2 JP 2541966B2 JP 62058311 A JP62058311 A JP 62058311A JP 5831187 A JP5831187 A JP 5831187A JP 2541966 B2 JP2541966 B2 JP 2541966B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、面形状測定装置に関し、特に非球面レンズ
等の非球面形状を高速且つ高精度に測定する面形状測定
装置に関する。
とりわけ、本発明は光プローブ等の非接触プローブを
被検面に投射して被検面からの反射光の検知センサ上へ
の投射状態にもとづいて被検面の形状を測定する際に好
適である。
〔従来技術〕
従来、非球面レンズ等の面形状測定方法としては、被
測定物をX−Y座標系で移動せしめ、接触式プローブに
より被測定物表面を走査し、プローブの移動量により被
測定物の形状を求める方法が一般に行われていた。
一方、非接触式プローブによる面形状測定法として
は、特開昭61−17907号公報,特開昭61−17908号公報に
示される様に、合焦状態判別光学系と、この光学系を非
測定物の被検面にフオーカシングせしめる移動手段を設
け、この移動手段の移動量から被測定物の面形状を測定
する方法がある。
上述の接触式プローブを用い、被測定物をX−Y座標
系で移動し走査する場合、被測定物が開角の大きいレン
ズ等である時は、プローブの走査による被測定物表面の
傾き角が大きい為に測定が困難になっていた。又、測長
のストロークを大きくとらなければならないという問題
点も生じていた。また接触式プローブで被測定物を走査
したとき、被測定物に傷が付くという問題点があった。
光プローブ等の非接触式プローブを使用する方法は、
上述の接触式プローブを使用する方法による被測定物の
損傷を防ぐことが出来、この種の測定方法として極めて
有用である。
しかしながら、従来の測定方式では、接触式や非接触
式等のプローブの種類に依らず、測長手段のみを使用し
て被検面の形状を測定していた為、被検面の微細な凹凸
に対する形状は表現することが不可能で、高分解能な測
定装置とは云えなかった。
又、非接触式プローブを利用する測定装置は、前述の
特開昭61−17907号公報や特開昭61−17908号公報に示す
様に、合焦状態判別光学系の移動量を測定手段で求めて
面形状を測定するのが一般的である。
従って、測長精度は光プローブの被検面へのフオーカ
シングの精度に依存し、微細な凹凸へのフオーカシング
が追従出来ない場合は面形状の測定精度が劣化する。
[発明の概要] 本発明は、上記従来例の問題点に鑑みてなされたもの
であり、被検面に対して光束を照射し且つ該被検面から
の反射光を検出することにより被検面の基準球面からの
ずれに起因する被検面との対向方向に沿った相対的な位
置変化に対応する信号を出力する光学検出手段と、該光
学検出手段からの信号にもとづいて被検面に対する前記
光学検出手段の光学部材の相対的な位置を制御する制御
手段と、前記制御手段による相対的な位置の制御量を検
出する変化量検出手段と、前記被検面の曲率中心を通る
軸を中心として前記対向方向に交差する方向に前記光学
検出手段と被検面とを相対回転させる駆動手段と、該駆
動手段による相対回転の際の前記変化量検出手段を用い
た検出の結果と前記光学検出手段を用いた検出の結果と
の和に基づいて被検面の非球面情報測定を実行する測定
手段とを有することを特徴とする。
本発明の更なる特徴は下記実施例より明らかになるで
あろう。
〔実施例〕
第1図は本発明に係る測定装置の一実施例を示し、球
面レンズおよび非球面レンズの形状測定装置を示す概略
構成図である。
第1図において、旋回軸受2およびエンコーダ3およ
び不図示の旋回モータが定盤1に固着されている。旋回
軸受2と、レンズの曲率中心と旋回軸21とを一致させる
為のR合せガイド6に固着された旋回軸21との間は空気
静圧軸受式により構成される。また、定盤1に固着され
た旋回ガイド4と、R合せガイド6に固着された旋回ス
イライド5との間も空気静圧案内式により構成される。
旋回軸21は不図示のスチールベルトによって不図示の旋
回モータに接続される。以上により、R合せガイド6を
旋回軸21のまわりに回転させる旋回軸駆動機構が構成さ
れる。
割出軸受8および割出モータ9がR合せスライド7に
固着され、割出軸受8と割出軸22との間が空気静圧軸受
方式で構成される。非球面レンズ等の被測定物30は、そ
の光軸が割出軸22と一致するように不図示のチヤツク割
出軸22により固着される。以上により、被測定物30をそ
の光軸のまわりに回転させる為の被測定物30の割出機構
を構成する。
R合せガイド6とR合せスライド7との間は空気静圧
案内方式で構成され、R合せガイド6に対して、R合せ
スライド7を摺動することにより、被測定物30の曲率中
心を旋回軸21に一致せしめる為のR合せ機構を構成す
る。定盤1に固着された粗動ガイド10との粗動スライド
11との間は、空気静圧案内方式で構成される。粗動ガイ
ド10に固着された粗動モータ12と粗動スライド11とは、
回転直進変換機構であるところのボールネジまたは台形
ねじ等によるねじ12′により連結される。粗動スライド
11に固着された粗動格子スケール13と粗動ガイド10に固
着された格子ピツチ読取装置14とにより、粗動スライド
11の移動量を測定する。
粗動スライド11に固着された微動ガイド15と微動スラ
イド16との間は空気静圧案内方式で構成される。リニア
モータで構成される微動モータ17は粗動スライド11に固
着され、そのスライド部を微動ガイド15を嵌通させて微
動スライド16に固着する。
オートフオーカス顕微鏡20が微動スライド16に固着さ
れ、オートフオーカス顕微鏡20に固着された微動格子ス
ケール18と、粗動スライド11に固着された格子ピツチ読
取装置19とにより、オートフオーカス顕微鏡20の移動量
を測定する。さらに定盤1は不図示の除振台に固着され
外部振動の影響を除去している。
第2図はオートフオーカス顕微鏡20の内部構成を示す
概略構成図であり、特開昭61−17907号公報で本件出願
人が開示した三次元形状測定系と同一のものである。
従って、ここでは詳細な説明は省略し、この光学系の
機能を簡単に述べることにする。
第2図に示すオートフオーカス顕微鏡20では、合焦状
態判別光学系42により被測定物30の対物レンズ41に対す
る合焦状態を検出し、その合焦状態により微動モータ17
を駆動し、オートフオーカス顕微鏡20を移動せしめるこ
とにより、常時、被測定物30の表面と対物レンズ41の光
軸とが交わる点、即ち被測定点に対物レンズ41の焦点位
置をロツクする様なオートフオーカシング機構を備え
る。又、同時に傾斜角測定光学系43により被測定点にお
ける被測定物30の表面の傾斜角を測定する。このときの
傾斜角は旋回軸21の回りに矢印(θ)で示される旋回方
向への傾斜角として測定される。
本実施例によれば、合焦状態判別光学系42による被測
定物30の被検面への光プローブの投射を、光プローブの
中心光線が光軸に対して傾く様な状態で入射、即ち被検
面へ斜入射させている。この傾きは第2図の紙面内で生
じており、被検面からの反射ビームのずれ方向は紙面内
に存する。
一方、被測定物30は旋回軸21の回りに旋回させられる
為、光プローブは被測定物30の被検面上を紙面と直交す
る方向に走査されることになる。
球面又は非球面レンズ等の被測定物30は、その周方向
に沿った形状は一定であり、被検面上の被測定点に於い
て第2図に示す旋回方向と直交する方向の傾斜角は零と
見なされる。
従って、第2図に示す様に、合焦状態判別光学系42の
反射ビームのずれ方向と被測定物30の旋回方向とを大略
直交、望ましくは90±20°の関係になる様に構成するこ
とにより、被測定物30の被検面の傾斜による反射ビーム
の微小なずれや傾斜角測定用のビームとの干渉を無くす
ことが出来、合焦状態判別光学系42が被検面の光軸方向
の高さ(位置)を正確に検知し得る。従って、合焦状態
判別の精度を格段に向上させることが出来る。
尚、第2図に於いて、合焦状態判別光学系42におい
て、80は光源であり、100はコリメーターレンズであ
り、120はナイフエツジであり、140は偏光ビームスプリ
ツターであり、160はハーフミラーであり、180は1/4波
長板であり、241は対物レンズであり、220はバンドパス
フイルターであり、240はレンズであり、244は光学的セ
ンサである。
傾斜角測定光学系43において、280は光源であり、300
及び320はレンズであり、340は偏光ビームスプリツター
であり、360はバンドバスフイルターであり、45は光学
的センサである。尚、この光学系43においてはハーフミ
ラー160、1/4波長板180及び対物レンズ41は光学系42と
共用されている。
第3図に第1図及び第2図に示す測定装置の制御系ブ
ロツク図を示す。オートフオーカス顕微鏡20の内部に設
置された合焦状態判別光学系42のセンサ44の出力信号
が、合焦状態検出器50に入力されて第4図および第5図
に示す合焦状態信号と光量信号とに処理される(特開昭
61−017907号公報参照)。つまり、被測定物30の被検面
上の被測定点が第2図における対物レンズ41の焦点位置
にあるときの合焦状態信号は第4図のa点となり、被検
面上の被測定点の対物レンズ41の焦点位置からのずれに
従い、a点近傍において合焦状態信号はリニアに変化す
る。そのとき、センサ44で受光される光の総量を示す光
量信号は第5図に示す様な変化を呈する。依って、第4
図と第5図とから解る様に、センサ44で受容される光の
光量レベルの、ある値以上をもって合焦状態検出可能領
域が決定される。
合焦状態検出器50により生成された合焦状態信号およ
び光量信号はサーボドライバ52および制御コンピユータ
60に入力される。さらに、サーボドライバ52の出力は微
動モータ17に接続され、微動スライド16,オートフオー
カス顕微鏡20,被測定物30,合焦状態検出器50,サーボド
ライバ52,微動モータ17によりオートフオーカシングサ
ーボ機構ループが形成される。
オートフオーカス顕微鏡20の内部に設置された傾斜角
測定光学系43のセンサ45の出力信号が傾斜角検出器51に
入力され、被測定点の旋回方向への傾斜角として処理さ
れる(特開昭61−017907号公報参照)。さらに、傾斜角
検出器51によって処理された傾斜角信号は制御コンピュ
ータ60に入力される。
格子ピツチ読取装置19の出力信号は、微動スライド移
動量検出器53に入力され微動スライド16の移動量として
信号処理される。さらに、微動スイラド16の移動量はサ
ーボドライバ52および制御コンピユータ60に入力され
る。このとき、微動スライド16,微動格子スケール18,格
子ピツチ読取装置19,微動スライド移動量検出器53,サー
ボドライバ52,微動モータ17によりオートフオーカス顕
微鏡20の位置決めサーボ機構ループが形成される。
制御コンピユータ60からの指令により、粗動モータド
ライバ54が駆動され、粗動モータドライバ54に接続され
た粗動モータ12が回転することにより、ねじ12′により
連結された粗動スライド11が移動する。
粗動ガイド10に固着された格子ピツチ読取装置14の、
粗動格子スケール13の目盛を読取った出力信号は粗動ス
ライド移動量検出器55に入力され、粗動スライド11の移
動量として信号処理され制御コンピユータ60に入力され
る。
制御コンピユータ60からの指令により、旋回軸モータ
ドライバ56が駆動され、旋回軸モータドライバ56に接続
された不図示の旋回モータが回転する。このとき不図示
のスチールベルトにより旋回モータに接続された旋回軸
21が回転し、被測定物30が旋回軸21を中心に旋回され
る。
エンコーダ3からの信号は旋回角検出器57に入力さ
れ、旋回軸21の回転角、つまり被測定物30の旋回軸21を
中心とする旋回角θとして信号処理され、制御コンピユ
ータ60に入力される。
制御コンピユータ60からの指令により、割出軸モータ
ドライバ58が駆動され、割出軸モータドライバ58に接続
された割出軸モータ9が回転する。これにより、被測定
物30が割出軸を中心に一定角度回転し、被測定断面の割
出が行われる。
操作盤59には、不図示の合焦状態表示,光量表示,傾
斜角表示,微動スライド移動量表示,粗動スライド移動
量表示,旋回角表示等の各表示、およびオートフオーカ
シングサーボ機構とオートフオーカス顕微鏡位置決めサ
ーボ機構との切替えスイツチ,微動スライド駆動スイツ
チ,粗動スライド駆動スイツチ,旋回軸駆動スイツチ,
割出軸駆動スイツチ,測定開始/停止スイツチ等の各制
御スイツチを備え、制御コンピユータ60と接続すること
により、マン・マシンインターフエイスが行われる。
制御コンピユータ60はデータ処理コンピユータ61と接
続され、制御コンピユータ60から出力される被測定物30
の合焦状態,傾斜角および微動スライド移動量,粗動ス
ライド移動量,旋回角の各測定データがデータ処理コン
ピユータ61に入力される。さらに、データ処理コンピユ
ータ61から出力される測定旋回範囲,測定点数,旋回ス
ピード等被測定物30に対する測定条件データが制御コン
ピユータ60に入力される。
データ処理コンピユータ61により入力された上述の各
測定データは、被測定物30の被検面の形状データに処理
変換され、デイスク62,プロツタ63,プリンタ64等に出力
される。
次に本実施例における、非球面レンズの形状測定法に
つき以下説明する。
第6図は本発明方法の一実施例を示す為の説明図で、
測定機構部と制御部とをブロツク図の形態で示した。
第6図の測定機構部は、第1図を上から見た上面図で
ある。本測定装置は第6図に示すように、上述のオート
フオーカシングサーボ機構により、被測定物30の被測定
点に対物レンズ41の焦点位置をロツクし、被測定物30の
曲率中心(旋回軸21)のまわりに被測定物30を旋回し
て、被測定物30の稜線を走査し、旋回角θおよび旋回軸
21から被測定点までの距離rにより、被測定物30の断面
形状を測定する曲座標r−θ方式による測定装置であ
る。さらに割出軸22のまわりに被測定物30を回転して多
断面測定を行い、被測定物30の表面形状の測定を行って
いる。
まず、微動ガイド15と微動スライド16との間に設けら
れた不図示の近接センサの動作位置に微動スイラド16を
おき、微動スライド移動量検出器53の出力を0にリセツ
トする。また、第1図に示す粗動ガイド10と粗動スライ
ド11との間に設けられた不図示の近接センサの動作位置
に粗動スライド11をおき、この状態での対物レンズ41の
焦点位置と旋回軸21との距離が微動スライド移動量検出
器53の出力と粗動スライド移動量検出器55の出力との和
に等しくなるように粗動スライド移動量検出器55の出力
をプリセツトする。つまり、対物レンズ41の焦点位置が
旋回軸21と一致する状態における微動スライド移動量検
出器53の出力と粗動スライド検出器55の出力と和が0と
なるようにキヤリブレーシヨンされたことになる。
次に被測定物30の軸、即ちレンズの光軸と割出軸22が
一致するように、被測定物30を不図示のチヤツク機構に
より割出軸22に固着する。
次に微動スライド移動量検出器53の出力と、粗動スラ
イド移動量検出器55の出力との和が被測定物30の曲率半
径R(設計値)となるように、粗動スライド11および微
動スライド16を駆動する。このとき微動スライド16は位
置決めサーボ機構で駆動されているものとする。次に、
R合せスライド7を駆動し、第4,5図に示されるオート
フオーカス顕微鏡20の合焦状態検出可能領域まで、オー
トフオーカス顕微鏡20に被測定物30の被測定面を接近さ
せる。この状態において、位置決めサーボ機構ループか
らオートフオーカシングサーボ機構ループへの切替えを
行う。これにより、被測定点が対物レンズ41の略焦点位
置にロツクされたことになる。ここで微動スライド移動
量検出器53の出力と粗動スライド移動量検出器55の出力
との和が被測定物30の曲率半径RとなるようにR合せス
ライド7を微調整駆動する。
以上述べた様な方法で、測定原点をレンズ等の被測定
物30の曲率中心とし、この曲率中心上の原点に対してR
−θ座標系を形成するべく被測定物30とオートフオーカ
ス顕微鏡20をプリセツトすることにより、従来のX−Y
座標系にもとづく測定方式の如く被測定物30の肉厚等を
考慮することなく、被測定物30の曲率中心と旋回軸21と
を容易に一致させることが出来る。
又、オートフオーカス顕微鏡20の光プローブは、被測
定物30の被検曲面を旋回走査して被検面の凸凹を検知す
る為、光プローブのストロークは非球面のベース曲面
(曲率半径R)からのずれ量分だけとなり、測長ストロ
ークの短縮化を図ることが出来る。
又、測定装置の各機構も簡便な構成で済み、駆動機構
の移動量も小さい為に小型の測定装置となっている。
ここで、オートフオーカス顕微鏡20の位置決めサーボ
機構ループから、オートフオーカシングサーボ機構ルー
プへの切替え過程について詳述する。被測定物30の被検
面上の被測定点が対物レンズ41の焦点位置にあるとき
は、被測定点からの反射ビームは合焦状態判別光学系42
のCCD等から成るセンサ44の中心にスポツト像を結ぶ
(特開昭61−017907号公報参照)。従って、センサ44の
ビデオ信号を不図示のオシロスコープモニタによって観
察することにより、合焦状態検出可能領域に被測定点を
移動することができるのである。つまり、センサ44のビ
デオ信号がセンサ44の中心付近に存在する状態において
合焦状態検出可能領域の検出がなされたことになるので
ある。この状態において切替えスイツチにより、位置決
めサーボ機構ループからオートフオーカシングサーボ機
構ループへの切替えを行うことで自動的に被測定点が対
物レンズ41の焦点位置にロツクされることになるのであ
る。
次に不図示の旋回モータを駆動し、旋回軸を回転して
被測定物30を旋回する。これによりオートフオーカス顕
微鏡20による光プローブ被測定物30の稜線を走査し、被
検面からの反射ビームを検出することによりレンズ頂点
を含む断面形状が測定される。さらに割出軸22を駆動し
て被測定物30を軸中心に回転し、走査稜線を変えて同様
に測定することにより、被測定物30の表面形状が放射状
に測定される。
さて、上述のように測定中、あるいはその他いかなる
場合においても、微動スライド16がオートフオーカシン
グサーボ機構ループにより駆動されているとき、被測定
点に傷,ゴミ等が存在して合焦状態判別光学系42の被測
定点からの反射ビームが散乱を受けると、対物レンズ41
に入射する光量が極端に減少し、センサ44に到達する光
量が減少する。従って、合焦状態判別光学系42の動作が
不能な状態に陥ることとなり、オートフオーカシングサ
ーボ機構ループが切断され、微動スライド16のコントロ
ールが不能となってしまう。従って、オートフオーカス
顕微鏡20が被測定物30に衝突する等、危険な事態の発生
が予測される。従って、測定中においては旋回走査によ
り被測定点に傷,コミ等の存在しない状態になったとし
ても、そのまま測定を続行することができず、測定が中
断してしまう。これらの異常事態に対処するため本実施
例の装置では以下の安全対策が講じられているのであ
る。つまり、微動スライド16がオートフオーカシングサ
ーボ機構ループにより駆動されているとき、傷,ゴミ等
を含めて何らかの影響により、第4図と第5図に示す合
焦状態判別可能領域を外れたとき、自動的に位置決めサ
ーボ機構ループに切替え、オートフオーカス顕微鏡20を
その位置にロツクする。これにより、オートフオーカス
顕微鏡20が被測定物30に衝突するという危険を防止して
いるのである。また、測定中に被測定点が傷,ゴミ等を
通過するときを考えると、第7図に示すように、旋回走
査により傷,ゴミ等を通過する間、対物レンズ41の焦点
位置は傷,ゴミ等を通過する直前の位置bにロツクされ
る。ここで、微小走査範囲Δθにおいては、被測定点の
割出軸22の方向への変位Δrは微小であるといえる。従
って、微小な傷,ゴミ等によりオートフオーカシングサ
ーボ機構のコントロールが不能になり、位置決めサーボ
機構ループに切替えられたとしても、走査により傷,ゴ
ミ等を通した時点で被検面は再び合焦状態判別可能領域
に復し、これを検知することにより自動的にオートフオ
ーカシングサーボ機構ループに復帰することにより、対
物エンズ41の焦点位置はcからdに変位し、測定が続行
されるのである。以上のフローチヤートを参考の為第8
図に示す。
次に本実施例における面形状のデータ処理法について
説明する。
第6図において、制御コンピユータ60の指令により、
旋回軸21は速度V¥0で定速駆動され、被測定物30の稜
線がオートフオーカス顕微鏡20の光プローブにより一定
速度で走査される。このとき制御コンピユータ60により
測定旋回角θが出力され、比較器68のAに入力され
る。さらに旋回角検出器57の出力が比較器68のBに入力
される。ここで、制御コンピユータ60により設定された
測定旋回角θと、旋回角θ現在値とが一致すると
き、比較器68からA=B信号が出力される。さらに、A
=B信号により、合焦状態検出器50の出力である合焦状
態信号と微動スライド移動量検出器53の出力である微動
スライド移動量、傾斜角検出器51の出力である傾斜角が
ラツチ65,66,67によりそれぞれラツチされる。ラツチさ
れた各データは制御コンピユータ60を介して、データ処
理コンピユータ61に伝送される。これを多数の測定旋回
角について順次行うことにより、被測定物30の一断面デ
ータの取得が行われる。これらのデータは、データ処理
コンピユータ61により処理され、一断面形状データに加
工される。
次に測定データの形状データへの処理法について説明
する。前述の様に初期状態で対物レンズ41の焦点位置と
旋回軸21とが一致する状態での微動スライド移動量検出
器53の出力と粗動スライド移動量検出器55の出力との和
が0にキヤリブレーシヨンされている。又、合焦状態検
出器50の出力は被測定点の対物レンズ41の焦点からのず
れ量となる。したがって、合焦状態検出器50の出力、微
動スライド移動量検出器53の出力、および粗動スライド
移動量検出器55の出力の総和は第6図における旋回軸21
(被測定物30の曲率中心)と被測定点との距離rにほか
ならない。さらに、被測定物30の曲率半径をR(一般的
には被測定物30の頂点におけるr)とし、δ=R−rの
データ処理を行うことにより、非球面量δが求められ
る。ただし、測定中においては粗動スライド11はエアー
ダウン方式によりロツクされているので実際のrとして
は、合焦状態検出器50の出力と微動スライド移動量検出
器53の出力との和をもって非球面量δの計算を行ってい
る。同時に傾斜角検出器51の出力として、被測定点の傾
斜角αが測定されるが、これは第6図に示す角度αであ
り、被測定点の旋回方向への接線が被測定物30と同一の
曲率中心をもつ球面の対物レンズ44の光軸と交差する点
における接平面となす角度である。
以上により、被測定点の位置情報として不図示の割出
角(被測定物30の割出軸22の回りの回転角と旋回角θお
よび被測定点情報として非球面量δと傾斜角αにより、
被測定物30の表面形状データが構成される。さらにこれ
らはデータ処理コンピユータ61により、デイスク62への
フアイリングとともに、プロツタ63およびプリンタ64へ
の出力によって被測定物30の表面形状が出力され、マン
・マシンインターフエイスが確立する。
以上述べた様に測定データを面形状データに変換する
際、合焦状態検出器50の出力と微動スライド移動量検出
器53の出力を双方利用することにより、第1図に示す装
置の如く光プローブを被検面にフエーカツシングさせる
機構が大型で、オートフオーカスサーボが追従出来ない
様な場合にも、常時精確に被検面の形状データを得るこ
とが出来る。
又、上述の如く傾斜角のデータを傾斜角測定系を介し
て得ることにより、被検面の被測定点の位置と傾きを知
ることが出来、更に詳しい面形状の表現を行える。
さて本測定装置における光プローブの走査形態につい
て説明する。本測定装置は、被測定物30を旋回させる旋
回手段および被測定物30を自転させる割出手段を備えて
いるので、その走査形態として第9図,第10図,第11図
に示す各走査形態が可能である。なお、第9図,第10
図,第11図は被測定物30をその頂点側より見た図であ
り、各図の円中心が被測定物30の頂点である。
第9図に示す放射走査を実現するためには、上述のよ
うに割出軸22を駆動して、第9図の断面a−a′の方向
と旋回方向とが一致するように合せる。次に測定旋回角
毎にデータを取得しながら断面a−a′を走査する。同
様に割出軸22を駆動して断面b′−bの方向と旋回方向
とが一致するように合せ、測定旋回角毎にデータを取得
しながら断面b′−bを走査する。このようにして、各
断面a−a′,b′−b,c−c′,d′−d,e−e′,f′−f,
g−g′,h′−hの8断面を走査し、データを取得する
のである。このときのサンプリング点数は1000点/断面
となっている。
次に第10図に示す輪帯走査について第12図を参照しつ
つ説明する。第12図の機構部分も第6図同様第1図を上
方から見た図である。旋回軸21を駆動して、割出軸22と
対物レンズ41の光軸とがなす角をnθに合わせる。次に
制御コンピユータ60の指令により割出軸モータードライ
バ58を駆動し、割出軸モーター9を定速駆動する。この
とき割出軸22に設置された不図示のロータリーエンコー
ダからの信号が割出角検出器69に入力され、割出角検出
器69の出力として割出角が出力され、比較器68の入力B
に接続される。さらに制御コンピユータ60により測定割
出角が出力され、比較器68の入力Aに接続される。この
ときA=B信号、つまり測定割出角と割出角現在値とが
一致するタイミングにおいて合焦状態検出器50の出力、
微動スライド移動量検出器53の出力および傾斜角検出器
51の出力がそれぞれラツチされ、測定割出角における非
球面量δ,傾斜角αとして測定される。同様の測定を割
出角0°から360°について行うことにより1輪帯の測
定を完了する。さらに上述の測定旋回角0,θ,2θ…nθ
について行うことによりn本の輪帯についての測定を完
了し、被測定物30の面形状の測定が行われたことにな
る。
次に第11図に示すスパイラル走査について第13図を参
照しつつ説明する。第13図の機構部分も第6図同様第1
図を上方から見た図である。測定は被測定物30の頂点よ
り開始する。まず、制御コンピユータ60の指令により、
割出軸モータードライバ58と旋回軸モータードライバ56
とを駆動し、各ドライバに接続された割出軸22と旋回軸
21とをそれぞれ定速駆動する。このとき割出軸22に設置
された不図示のロータリーエンコーダからの信号が割出
角検出器69に入力され、割出角検出器69の出力として割
出角が出力され、比較器68の入力Bに接続される。さら
に制御コンピユータ60により測定割出角が出力され、比
較器68の入力Aに接続される。このときA=B信号、つ
まり測定割出角と割出角現在値とが一致するタイミング
において合焦状態検出器50の出力、微動スライド移動量
検出器53の出力および傾斜角検出器51の出力がそれぞれ
ラツチされ、測定割出角における非球面量δ,傾斜角α
として測定される。同様の測定を旋回角0°からθまで
行うことにより被測定物30の面形状がスパイラル状に連
続して測定される。
以上示した様に、旋回手段と割出し手段を備えたこと
により、簡便な機構で被検面全体の形状を測定出来、且
つ光プローブの走査形態を所望の形態として測定するこ
とが可能となる。この為、測定の高速化,自動化はもち
ろんのこと、測定形態の自由度も増え、任意の面形状デ
ータを抽出することが出来る。
第14図は本発明の非球面レンズ形状測定装置の第2の
実施例を示す概略構成図である。本実施例においては、
プローブ側が旋回する点が、被測定物側が旋回する第1
図に示した第1の実施例と異なる。第14図に於いて、旋
回スライド5は粗動ガイド10に固着され、R合せガイド
6は定盤1に固着されている。旋回軸21上に曲率中心を
もつ被測定物30の表面に対物レンズ41の焦点位置をロツ
クし、旋回軸21のまわりにオートフオーカス顕微鏡20を
含むプローブ側全体を旋回することにより被測定物30の
表面を走査して、第1実施例と同様に被測定物30の表面
形状を測定する。
上記実施例においては、微動スライド16および粗動ス
ライド11の各移動量を測定する測長手段として、格子干
渉方式を用いているが、レーザー干渉方式を用いて実現
することもできる。
以上の示した如き実施例の非球面レンズの面形状測定
装置によれば、曲率,開角,非球面量等の測定範囲にお
いて、広い領域に亘っての測定を可能とし、高精度にて
微小スポツトによる非球面レンズ形状測定を高速に行う
ことができる。同時に被測定物表面の傾斜角測定をも行
い得るので、非球面レンズ形状に関する正確な情報を短
時間のうちに得ることができる。
さらに、本測定装置によれば、被測定物としてガラス
レンズ,プラスチツクレンズ、モールド用金型等種々の
材質に対して、接触プローブ方式にみられたような傷の
付着等の考慮が不要となる。
〔発明の効果〕
以上、本発明の係る面形状測定装置は、変化量検出手
段を用いた検出の結果と光学検出手段を用いた検出の結
果との和に基づいて被検面の非球面情報を測定する様に
している為、被検面の微細な凹凸も精度良く検出可能
で、より詳細な非球面データを得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る測定装置の一実施例を示す概略構
成図。 第2図は第1図に示すオートフオーカス顕微鏡の内部を
示す概略構成図。 第3図は第1図に示す測定装置の制御系ブロツク図。 第4図は被測定点位置と合焦状態信号、およびセンサで
受光される光量レベルとの関係を示す為の説明図。 第5図は本発明の測定方法の1実施例を示すための説明
図。 第6図は被検出面上にゴミや傷が存在する場合の測定手
順を示す説明図。 第7図はオートフォーカシングサーボ機構ループと位置
決めサーボ機構ループとの切り換え方法を示すフローチ
ャート図。 第8図乃至第10図は被検面を走査する光プローブの走査
形態を示す模式図。 第11図は第9図に示す走査形態で走査する場合の測定方
法を示すための説明図。 第12図は第10図に示す走査形態で走査する場合の測定方
法を示すための説明図。 第13図は本発明に係る測定装置の他の実施例を示す概略
構成図。 1……定盤、2……旋回軸受 3……エンコーダ、4……旋回ガイド 5……旋回スライド、6……R合せガイド 7……R合せスライド、8……割出軸受 9……割出軸モーター、10……粗動ガイド 11……粗動スライド、12……粗動モータ 12′……ねじ、13……微動格子スケール 14……格子ピツチ読取装置 15……微動ガイド 16……微動スライド 17……微動モーター 18……微動格子スケール 19……格子ピツチ読取装置 20……オートフオーカス顕微鏡 30……被測定物 41……対物レンズ 42……合焦状態判別光学系 43……傾斜角測定光学系 44,45……センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 肥後村 誠 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 山本 碩徳 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 野瀬 哲志 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 丹羽 雄吉 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 大和田 光俊 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−157507(JP,A) 特開 昭61−271436(JP,A) 特開 昭60−104206(JP,A) 特開 昭58−173423(JP,A) 特開 昭58−173416(JP,A) 特開 昭60−97205(JP,A) 特開 昭61−17907(JP,A) 特開 昭61−17908(JP,A) 特開 昭50−103366(JP,A) 特開 昭58−47209(JP,A) 特公 平7−1166(JP,B2)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検面に対して光束を照射し且つ該被検面
    からの反射光を検出することにより被検面の基準球面か
    らのずれに起因する被検面との対向方向に沿った相対的
    な位置変化に対応する信号を出力する光学検出手段と、
    該光学検出手段からの信号にもとづいて被検面に対する
    前記光学検出手段の光学部材の相対的な位置を制御する
    制御手段と、前記制御手段による相対的な位置の制御量
    を検出する変化量検出手段と、前記被検面の曲率中心を
    通る軸を中心として前記対向方向に交差する方向に前記
    光学検出手段と被検面とを相対回転させる駆動手段と、
    該駆動手段による相対回転の際の前記変化量検出手段を
    用いた検出の結果と前記光学検出手段を用いた検出の結
    果との和に基づいて被検面の非球面情報測定を実行する
    測定手段とを有することを特徴とする面形状測定装置。
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JPS5847209A (ja) * 1981-09-15 1983-03-18 Anritsu Corp 表面形状測定装置
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