JPS63223515A - 面形状測定装置 - Google Patents

面形状測定装置

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JPS63223515A
JPS63223515A JP62058309A JP5830987A JPS63223515A JP S63223515 A JPS63223515 A JP S63223515A JP 62058309 A JP62058309 A JP 62058309A JP 5830987 A JP5830987 A JP 5830987A JP S63223515 A JPS63223515 A JP S63223515A
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measured
probe
curved surface
slide
angle
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JP62058309A
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English (en)
Inventor
Koji Narumi
廣治 鳴海
Keiji Watanabe
渡辺 啓治
Kotaro Hosaka
光太郎 保坂
Makoto Higomura
肥後村 誠
Sekinori Yamamoto
山本 碩徳
Tetsushi Nose
哲志 野瀬
Yukichi Niwa
丹羽 雄吉
Mitsutoshi Owada
大和田 光俊
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Original Assignee
Canon Inc
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、面形状測定装置に関し、特に非球面レンズ等
の非球面形状を高速且つ高精度に測定する面形状測定装
置に関する。
とりわけ、本発明は光プローブ等の非接触プローブを被
検面に投射して被検面からの反射光の検知センサ上への
投射状態にもとづいて被検面の形状を測定する際に好適
である。
〔従来技術〕
従来、非球面レンズ等の面形状測定方法としては、被測
定物をX−Y座標系で移動せしめ、接触式プローブによ
り被測定物表面を走査し、プローブの移動量により被測
定物の形状を求める方法が一般に行われていた。
一方、非接触式プローブによる面形状測定法としては、
特開昭61−17907号公報、特開昭61−1790
8号公報に示される様に、合焦状態判別光学系と、この
光学系を被測定物の被検面にフォーカシングせしめる移
動手段を設け、この移動手段の移動量から被測定物の面
形状を測定する方法がある。
上述の接触式プローブを用い、被測定物をX−Y座標系
で移動し走査する場合、被測定物が開角の大きいレンズ
等である時は、プローブの走査による被測定物表面の傾
き角が大きい為に測定が困難になっていた。又、測長の
ストロークを大きくとらなければならないという問題点
も生じていた。また接触式プローブで被測定物を走査し
たとき、被測定物に傷が付くという問題点があった。
光プローブ等の非接触式プローブを使用する方法は、上
述の接触式プローブを使用する方法による被測定物の損
傷を防ぐことが出来、この種の測定方法として極めて有
用である。
しかしながら、非接触式或いは接触式に限らず、従来の
測定装置では前述の如く測長のストロークが大きいとい
う欠点と共に、被測定物を測定台に取付ける際に被測定
物の肉厚を考慮した面倒なセツティングを行う必要があ
った。この為に、測定時間が全体として長くかかり、高
速測定を行うことは困難であった。
〔発明の概要〕
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであ
り、測長ストロークが短くて済み、且つ高速測定が可能
な面形状測定装置を提供することを目的としている。
又、本発明は高精度に面形状データを得ることが出来る
面形状測定装置を提供することを更なる目的としている
上記目的を達成する為に、本発明に係る面形状測定装置
は、被測定物を支持する支持部材と前記被測定物の被検
曲面に沿ってプローブを旋回走査する為の旋回手段と前
記プローブ又は被測定物の旋回角θを計測する手段と前
記プローブの被検曲面に対するγ方向への相対位置の変
化量を検出する手段とを有し、前記被検曲面の曲率中心
を座標原点とする極座標系γ−θによってスケールを設
定し、前記被検曲面の面形状を測定することを特徴とし
ている。
本発明の更なる特徴は下記実施例より明らかになるであ
ろう。
面レンズおよび非球面レンズの形状測定装置を示す概略
構成図である。
第1図において、旋回軸受2およびエンコーダ3および
不図示の旋回モータが定盤lに固着されている。旋回軸
受2と、レンズの曲率中心と旋回軸21とを一致させる
為のR合せガイド6に固着された旋回軸21との間は空
気静圧軸受方式により構成される。また、定盤lに固着
された旋回ガイド4と、R合せガイド6に固着された旋
回スライド5との間も空気静圧案内方式により構成され
る。旋回軸21は不図示のスチールベルトによって不図
示の旋回モータに接続される。以上により、R合せガイ
ド6を旋回軸21のまわりに回転させる旋回軸駆動機構
が構成される。
割出軸受8および割出モータ9がR合せスライド7に固
着され、割出軸受8と割出軸22との間が空気静圧軸受
方式で構成される。非球面レンズ等の被測定物30は、
その光軸が割出軸22と一致するように不図示のチャッ
ク割出軸22により固着される。以上により、被測定物
30をその光軸のまわりに回転させる為の被測定物30
の割出機構を構成する。
R合せガイド6とR合せスライド7との間は空気静圧案
内方式で構成され、R合せガイド6に対して、R合せス
ライド7を摺動することにより、被測定物30の曲率中
心を旋回軸21に一致せしめるためのR合せ機構を構成
する。定盤lに固着された粗動ガイドlOと粗動スライ
ド11との間は、空気静圧案内方式で構成される。粗動
ガイド10に固着された粗動モータ12と粗動スライド
11とは、回転直進変換機構であるところのボールネジ
または台形ねじ等によるねじ12’  により連結され
る。粗動スライド11に固着された粗動格子スケール1
3と粗動ガイドlOに固着された格子ピッチ読取装置1
4とにより、粗動スライド11の移動量を測定する。
粗動スライド11に固着された微動ガイド15と微動ス
ライド16との間は空気静圧案内方式で構成される。リ
ニアモータで構成される微動モータ17は粗動スライド
11に固着され、そのスライド部を微動ガイド15を嵌
通させて微動スライド16に固着する。
オートフォーカス顕微鏡20が微動スライド16に固着
され、オートフォーカス顕微鏡20に固着された微動格
子スケール18と、粗動スライド11に固着された格子
ピッチ読取装置19とにより、オートフォーカス顕微鏡
20の移動量を測定する。さらに定盤lは不図示の除振
台に固着され外部振動の影響を除去している。
第2図はオートフォーカス顕微鏡20の内部構成を示す
概略構成図であり、特開昭61−17907号公報で本
件出願人が開示した三次元形状測定系と同一のものであ
る。
従って、ここでは詳細な説明は省略し、この光学系の機
能を簡単に述べることにする。
第2図に示すオートフォーカス顕微鏡20では、合焦状
態判別光学系42により被測定物30の対物レンズ41
に対する合焦状態を検出し、その合焦状態により微動モ
ータ17を駆動し、オートフォーカス顕微鏡20を移動
せしめることにより、常時、被測定物30の表面と対物
レンズ41の光軸とが交わる点、即ち被測定点に対物レ
ンズ41の焦点位置をロックする様なオートフォーカシ
ング機構を備える。また、同時に傾斜角測定光学系43
により被測定点における被測定物30の表面の傾斜角を
測定する。このときの傾斜角は旋回軸21の回りに矢印
(θ)で示される旋回方向への傾斜角として測定される
本実施例によれば、合焦状態判別光学系42による被測
定物30の被検面への光プローブの投射を、光プローブ
の中心光線が光軸に対して傾く様な状態で入射、即ち被
検面へ斜入射させている。この傾きは第2図の紙面内で
生じており、被検面からの反射ビームのずれ方向は紙面
内に存する。
一方、被測定物30は旋回軸21の回りに旋回させられ
るため、光プローブは被測定物30の被検面上を紙面と
直交する方向に走査されることになる。
球面又は非球面レンズ等の被測定物30は、その周方向
に沿った形状は一定であり、被検面上の被測定点に於い
て第2図に示す旋回方向と直交する方向の傾斜角は零と
見なされる。
従って、第2図に示す様に、合焦状態判別光学系42の
反射ビームのずれ方向と被測定物30の旋回方向とを大
略直交、望ましくは90±20″ の関係になる様に構
成することにより、被測定物30の被検面の傾斜による
反射ビームの微小なずれや傾斜角測定用のビームとの干
渉を無くすことが出来、合焦状態判別光学系42が被検
面の光軸方向の高さく位置)を正確に検知し得る。従っ
て、合焦状態判別の精度を格段に向上させることが出来
る。
尚、第2図に於いて、合焦状態判別光学系42において
、80は光源であり、100はコリメーターレンズであ
り、120はナイフェツジであり、140は偏光ビーム
スプリッタ−であり、160はノ1−フミラーであり、
180は1/4波長板であり、241は対物レンズであ
り、220はバンドパスフィルターであり、240はレ
ンズであり、244は光学的センサである。
傾斜角測定光学系43において、280は光源であり、
300及び320はレンズであり、340は偏光ビーム
スプリッタ−であり、360はバンドパスフィルターで
あり、45は光学的センサである。尚、この光学系43
においてはハーフミラ−160、l/4波長板tSO及
び対物レンズ41は光学系42と共用されている。
第3図に第1図および第2図に示す測定装置の制御系ブ
ロック図を示す。オートフォーカス顕微鏡20の内部に
設置された合焦状態判別光学系42のセンサ44の出力
信号が、合焦状態検出器50に入力されて第4図および
第5図に示す合焦状態信号と光量信号とに処理される(
特開昭61−017907号公報参照)。つまり、被測
定物30の被検面上の被測定点が第2図における対物レ
ンズ41の焦点位置にあるときの合焦状態信号は第4図
のa点となり、被検面上の被測定点の対物レンズ41の
焦点位置からのずれに従い、a点近傍において合焦状態
信号はリニアに変化する。そのとき、センサ44で受光
される光の総量を示す光量信号は第5図に示す様な変化
を呈する。依って、第4図と第5図とから解るように、
センサ44で受光される光の光量レベルの、ある値以上
をもって合焦状態検出可能領域が決定される。
合焦状態検出器50により生成された合焦状態信号およ
び光量信号はサーボドライバ52および制御コンピュー
タ60に入力される。さらに、サーボドライバ52の出
力は微動モータ17に接続され、微動スライド16.オ
ートフォーカス顕微鏡20.被測定物309合焦合焦状
態信号0.サーボドライバ52、微動モータ17により
オートフォーカシングサーボ機構ループが形成される。
オートフォーカス顕微鏡20の内部に設置された傾斜角
測定光学系43のセンサ45の出力信号が傾斜角検出器
51に入力され、被測定点の旋回方向への傾斜角として
処理される(特開昭61−017907号公報参照)。
さらに、傾斜角検出器51によって処理された傾斜角信
号は制御コンピュータ60に入力される。
格子ピッチ読取装置19の出力信号は、微動スライド移
動量検出器53に入力され微動スライド16の移動量と
して信号処理される。さらに、微動スライド16の移動
量はサーボドライバ52および制御コンピュータ60に
入力される。このとき、微動スライド16.微動格子ス
ケール18.格子ピッチ読取装置19.微動スライド移
動量検出器53.サーボドライバ52.微動モータ17
によりオートフォーカス顕微鏡20の位置決めサーボ機
構ループが形成される。
制御コンピュータ60からの指令により、粗動モータド
ライバ54が駆動され、粗動モータドライバ54に接続
された粗動モータ12が回転することにより、ねじ12
’  により連結された粗動スライド11が移動する。
粗動ガイド10に固着された格子ピッチ読取装置14の
、粗動格子スケール13の目盛を読取った出力信号は粗
動スライド移動量検出器55に入力され、粗動スライド
11の移動量として信号処理され制御コンピュータ60
に入力される。
制御コンピュータ60からの指令により、旋回軸モータ
ドライバ56が駆動され、旋回軸モータドライバ56に
接続された不図示の旋回モータが回転する。このとき不
図示のスチールベルトにより旋回モータに接続された旋
回軸21が回転し、被測定物30が旋回軸21を中心に
旋回される。
エンコーダ3からの信号は旋回角検出器57に入力され
、旋回軸21の回転角、つまり被測定物30の旋回軸2
1を中心とする旋回角θとして信号処理され、制御コン
ピュータ60に入力される。
制御コンピュータ60からの指令により、割出軸モータ
ドライバ58が駆動され、割出軸モータドライバ58に
接続された割出軸モータ9が回転する。
これにより、被測定物30が割出軸を中心に一定角度回
転し、被測定断面の割出が行われる。
操作盤59には、不図示の合焦状態表示、光量表示、傾
斜角表示、微動スライド移動量表示、粗動スライド移動
量表示、旋回角表示等の各表示、およびオートフォーカ
シングサーボ機構とオートフォーカス顕微鏡位置決めサ
ーボ機構との切替えスイッチ、微動スライド駆動スイッ
チ、粗動スライド駆動スイッチ、旋回軸駆動スイッチ、
割出軸駆動スイッチ、測定開始/停止スイッチ等の各制
御スイッチを備え、制御コンピュータ60と接続するこ
とにより、マン・マシンインターフェイスが行われる。
制御コンピュータ60はデータ処理コンピュータ61と
接続され、制御コンピュータ60から出力される被測定
物30の合焦状態、傾斜角および微動スライド移動量、
粗動スライド移動量、旋回角の各測定データがデータ処
理コンピュータ61に入力される。さらに、データ処理
コンピュータ61から出力される測定旋回範囲、測定点
数、旋回スピード等被測定物30に対する測定条件デー
タが制御コンピュータ60に入力される。
データ処理コンピュータ61により入力された上述の各
測定データは、被測定物30の被検面の形状データに処
理変換され、ディスク62.プロッタ63゜プリンタ6
4等に出力される。
次に本実施例における、非球面レンズの形状測定法につ
き以下説明する。
第6図は本発明方法の一実施例を示す為の説明図で、測
定機構部と制御部とをブロック図の形態で示した。
第6図の測定機構部は、第1図を上から見た上面図であ
る。本測定装置は第6図に示すように、上述のオートフ
ォーカシングサーボ機構により、被測定物30の被測定
点に対物レンズ41の焦点位置をロックし、被測定物3
0の曲率中心(旋回軸21)のまわりに被測定物30を
旋回して、被測定物30の稜線を走査し、旋回角θおよ
び旋回軸21から被測定点までの距離rにより、被測定
物30の断面形状を測定する極座標r−θ方式による測
定装置である。
さらに割出軸22のまわりに被測定物30を回転して多
断面測定を行い、被測定物30の表面形状の測定を行っ
ている。
まず、微動ガイド15と微動スライド16との間に設け
られた不図示の近接センサの動作位置に微動スライド1
6をおき、微動スライド移動量検出器53の出力を0に
リセットする。また、第1図に示す粗動ガイド10と粗
動スライド11との間に設けられた不図示の近接センサ
の動作位置に粗動スライド11をおき、この状態での対
物レンズ41の焦点位置と旋回軸21との距離が微動ス
ライド移動量検出器53の出力と粗動スライド移動量検
出器55の出力との和に等しくなるように粗動スライド
移動量検出器55の出力をプリセットする。
つまり、対物レンズ41の焦点位置が旋回軸21と一致
する状態における微動スライド移動量検出器53の出力
と粗動スライド検出器55の出力との和が0となるよう
にキャリブレーションされたことになる。
次に被測定物30の軸、即ちレンズの光軸と割出軸22
が一致するように、被測定物30を不図示のチャック機
構により割出軸22に固着する。
次に微動スライド移動量検出器53の出力と、粗動スラ
イド移動量検出器55の出力との和が被測定物30の曲
率半径R(設計値)となるように、粗動スライド11お
よび微動スライド16を駆動する。このとき微動スライ
ド16は位置決めサーボ機構で駆動されているものとす
る。次に、R合せスライド7を駆動し、第4.5図に示
されるオートフォーカス顕微鏡20の合焦状態検出可能
領域まで、オートフォーカス顕微鏡20に被測定物30
の被測定面を接近させる。この状態において、位置決め
サーボ機構ループからオートフォーカシングサーボ機構
ループへの切替えを行う。これにより、被測定点が対物
レンズ41の略焦点位置にロックされたことになる。こ
こで微動スライド移動量検出器53の出力と粗動スライ
ド移動量検出器55の出力との和が被測定物30の曲率
半径RとなるようにR合せスライド7を微調整駆動する
以上述べた様な方法で、測定原点をレンズ等の被測定物
30の曲率中心とし、この曲率中心上の原点に対してR
−θ座標系を形成するべく被測定物30とオートフォー
カス顕微鏡20をプリセットすることにより、従来のX
−Y座標系にもとづく測定方式の如く被測定物30の肉
厚等を考慮することなく、被測定物30の曲率中心と旋
回軸21とを容易に一致させることが出来る。
又、オートフォーカス顕微鏡20の光プローブは、被測
定物30の被検曲面を旋回走査して被検面の凸凹を検知
する為、光プローブのストロークは非球面のベース曲面
(曲率半径R)からのずれ量分だけとなり、測長ストロ
ークの短縮化を図ることが出来る。
又、測定装置の各機構も簡便な構成で済み、駆動機構の
移動量も小さい為に小型の測定装置となっている。
ここで、オートフォーカス顕微鏡20の位置決めサーボ
機構ループから、オートフォーカシングサーボ機構ルー
プへの切替え過程について詳述する。被測定物30の被
検面上の被測定点が対物レンズ41の焦点位置にあると
きは、被測定点からの反射ビームは合焦状態判別光学系
42のCCD等から成るセンサ44の中心にスポット像
を結ぶ(特開昭61−017907号公報参照)。従っ
て、センサ44のビデオ信号を不図示のオシロスコープ
モニタによって観察することにより、合焦状態検出可能
領域に被測定点を移動することができるのである。つま
り、センサ44のビデオ信号がセンサ44の中心付近に
存在する状態において合焦状態検出可能領域の検出がな
されたことになるのである。この状態において切替えス
イッチにより、位置決めサーボ機構ループからオートフ
ォーカシングサーボ機構ループへの切替えを行うことで
自動的に被測定点が対物レンズ41の焦点位置にロック
されることになるのである。
次に不図示の旋回モータを駆動し、旋回軸を回転して被
測定物30を旋回する。これによりオートフォーカス顕
微鏡20による光プローブが被測定物30の稜線を走査
し、被検面からの反射ビームを検出することによりレン
ズ頂点を含む断面形状が測定される。さらに割出軸22
を駆動して被測定物30を軸中心に回転し、走査稜線を
変えて同様に測定することにより、被測定物30の表面
形状が放射状に測定される。
さて、上述のように測定中、あるいはその他いかなる場
合においても、微動スライド16がオートフォーカシン
グサーボ機構ループにより駆動されているとき、被測定
点に傷、ゴミ等が存在して合焦状態判別光学系42の被
測定点からの反射ビームが散乱を受けると、対物レンズ
41に入射する光量が極端に減少し、センサ44に到達
する光量が減少する。従って、合焦状態判別光学系42
の動作が不能な状態に陥ることとなり、オートフォーカ
シングサーボ機構ループが切断され、微動スライド16
のコントロールが不能となってしまう。従って、オート
フォーカス顕微鏡20が被測定物30に衝突する等、危
険な事態の発生が予測される。従って、測定中において
は旋回走査により被測定点に傷、ゴミ等の存在しない状
態になったとしても、そのまま測定を続行することがで
きず、測定が中断してしまう。これらの異常事態に対処
するため本実施例の装置では以下の安全対策が講じられ
ているのである。つまり、微動スライド16がオートフ
ォーカシングサーボ機構ループにより駆動されていると
き、傷、ゴミ等を含めて何らかの影響により、第4図と
第5図に示す合焦状態判別可能領域を外れたとき、自動
的に位置決めサーボ機構ループに切替え、オートフォー
カス顕微鏡20をその位置にロックする。これにより、
オートフォーカス顕微鏡20が被測定物30に衝突する
という危険を防止しているのである。また、測定中に被
測定点が傷、ゴミ等を通過するときを考えると、第7図
に示すように、旋回走査により傷、ゴミ等を通過する間
、対物レンズ41の焦点位置は傷、ゴミ等を通過する直
前の位1bにロックされる。ここで、微小走査範囲Δθ
においては、被測定点の割出軸22の方向への変位Δr
は微小であるといえる。従って、微小な傷、ゴミ等によ
りオートフォーカシングサーボ機構のコントロールが不
能になり、位置決めサーボ機構ループに切替えられたと
しても、走査により傷、ゴミ等を通過した時点で被検面
は再び合焦状態判別可能領域に復し、これを検知するこ
とにより自動的にオートフォーカシングサーボ機構ルー
プに復帰することにより、対物レンズ41の焦点位置は
Cからdに変位し、測定が続行されるのである。以上の
フローチャートを参考の為第8図に示す。
次に本実施例における面形状のデータ処理法について説
明する。
第6図において、制御コンピュータ60の指令により、
旋回軸21は速度V¥Oで定速駆動され、被測定物30
の稜線がオートフォーカス顕微鏡20の光プローブによ
り一定速度で走査される。このとき制御コンピュータ6
0により測定旋回角θ。が出力され、比較器68のAに
入力される。さらに旋回角検出器57の出力が比較器6
8のBに入力される。
ここで、制御コンピュータ60により設定された測定旋
回角θ。と、旋回角θ。現在値とが一致するとき、比較
器68からA=B信号が出力される。さらに、A=B信
号により、合焦状態検出器50の出力である合焦状態信
号と微動スライド移動量検出器53の出力である微動ス
ライド移動量、傾斜角検出器51の出力である傾斜角が
ラッチ65.66、67によりそれぞれラッチされる。
ラッチされた各データは制御コンピュータ60を介して
、データ処理コンピュータ61に伝送される。これを多
数の測定旋回角について順次行うことにより、被測定物
30の一断面データの取得が行われる。これらのデータ
は、データ処理コンピュータ61により処理され、−断
面形状データに加工される。
次に測定データの形状データへの処理法について説明す
る。前述の様に初期状態で対物レンズ41の焦点位置と
旋回軸21とが一致する状態での微動スライド移動量検
出器53の出力と粗動スライド移動量検出器55の出力
との和がOにキャリブレーションされている。又、合焦
状態検出器50の出力は被測定点の対物レンズ41の焦
点からのずれ量となる。したがって、合焦状態検出器5
0の出力、微動スライド移動量検出器53の出力、およ
び粗動スライド移動量検出器55の出力の総和は第6図
における旋回軸21(被測定物30の曲率中心)と被測
定点との距離rにほかならない。さらに、被測定物30
の曲率半径をR(一般的には被測定物30の頂点におけ
るr)とし、δ=R−rのデータ処理を行うことにより
、非球面量δが求められる。ただし、測定中においては
粗動スライド11はエアーダウン方式によりロックされ
ているので実際のrとしては、合焦状態検出器50の出
力と微動スライド移動量検出器53の出力との和をもっ
て非球面量δの計算を行っている。同時に傾斜角検出器
51の出力として、被測定点の傾斜角αが測定されるが
、これは第6図に示す角度αであり、被測定点の旋回方
向への接線が被測定物30と同一の曲率中心をもつ球面
の対物レンズ44の光軸と交差する点における接平面と
なす角度である。
以上により、被測定点の位置情報として不図示の割出角
(被測定物30の割出軸22の回りの回転角と旋回角θ
および被測定点情報として非球面量δと傾斜角αにより
、被測定物30の表面形状データが構成される。さらに
これらはデータ処理コンピュータ61により、ディスク
62へのファイリングとともに、プロッタ63およびプ
リンタ64への出力によって被測定物30の表面形状が
出力され、マン・マシンインターフェイスが確立する。
以上述べたように測定データを面形状データに変換する
際、合焦状態検出器50の出力と微動スライド移動量検
出器53の出力を双方利用することにより、第1図に示
す装置の如(光プローブを被検面にフエーカツシングさ
せる機構が大型で、オートフォーカスサーボが追従出来
ない様な場合にも、常時精確に被検面の形状データを得
ることが出来る。
又、上述の如く傾斜角のデータを傾斜角測定系を介して
得ることにより、被検面の被測定点の位置と傾きを知る
ことが出来、更に詳しい面形状の表現を行える。
さて本測定装置における光プローブの走査形態について
説明する。本測定装置は、被測定物30を旋回させる旋
回手段および被測定物30を自転させる割出手段を備え
ているので、その走査形態として第9図、第1O図、第
11図に示す各走査形態が可能である。なお、第9図、
第1O図、第11図は被測定物30をその頂点側より見
た図であり、各図の円中心が被測定物30の頂点である
第9図に示す放射走査を実現するためには、上述のよう
に割出軸22を駆動して、第9図の断面a−a’  の
方向と旋回方向とが一致するように合せる。次に測定旋
回角毎にデータを取得しながら断面a−a’ を走査す
る。同様に割出軸22を駆動して断面b’ −bの方向
と旋回方向とが一致するように合せ、測定旋回角毎にデ
ータを取得しながら断面b’−bを走査する。このよう
にして、各断面a−a’ 、 b’ −b、 c−c’
 、 d’ −d、 e−e’ 。
f’ −f、 g−g’ 、 h’ −hの8断面を走
査し、データを取得するのである。このときのサンプリ
ング点数は1000点/断面となっている。
次に第1O図に示す輪帯走査について第12図を参照し
つつ説明する。第12図の機構部分も第6図同様第1図
を上方から見た図である。旋回軸21を駆動して、割出
軸22と対物レンズ41の光軸とがなす角をnθに合わ
せる。次に制御コンピュータ60の指令により割出軸モ
ータードライバ58を駆動し、割出軸モーター9を定速
駆動する。このとき割出軸22に設置された不図示のロ
ータリーエンコーダからの信号が割出角検出器69に入
力され、割出角検出器69の出力として割出角が出力さ
れ、比較器68の入力Bに接続される。さらに制御コン
ピュータ60により測定割出角が出力され、比較器68
の入力Aに接続される。このときA=B信号、つまり測
定割出角と割出用現在値とが一致するタイミングにおい
て合焦状態検出器50の出力、微動スライド移動量検出
器53の出力および傾斜角検出器51の出力がそれぞれ
ラッチされ、測定割出角における非球面量δl)]斜角
αとして測定される。同様の測定を割出角O0から36
0°について行うことにより1輪帯の測定を完了する。
さらに上述の測定を旋回角O1θ、2θnθについて行
うことによりn本の輪帯についての測定を完了し、被測
定物30の面形状の測定が行われたことになる。
次に第11図に示すスパイラル走査について第13図を
参照しつつ説明する。第13図の機構部分も第6図同様
第1図を上方から見た図である。測定は被測定物30の
頂点より開始する。まず、制御コンピュータ60の指令
により、割出軸モータードライバ58と旋回軸モーター
ドライバ56とを駆動し、各ドライバに接続された割出
軸22と旋回軸21とをそれぞれ定速駆動する。このと
き割出軸22に設置出力として盤側出角が出力され、比
較器68の入力Bに接続される。さらに制御コンピュー
タ60により測定割出角が出力され、比較器68の入力
Aに接続される。このときA=B信号、つまり測定割出
角と割出角現在値とが一致するタイミングにおいて合焦
状態検出器50の出力、微動スライド移動量検出器53
の出力および傾斜角検出器51の出力がそれぞれラッチ
され、測定割出角における非球面量δ、傾斜角αとして
測定される。同様の測定を旋回角0°からθまで行うこ
とにより被測定物30の面形状がスパイラル状に連続し
て測定される。
以上示した様に、旋回手段と割出し手段を備えたことに
より、簡便な機構で被検面全体の形状を測定出来、且つ
光プローブの走査形態を所望の形態として測定すること
が可能となる。この為、測定の高速化、自動化はもちろ
んのこと、測定形態の自由度も増え、任°意の面形状デ
ータを抽出することが出来る。
七を升士瀧士は 第14図は本発明の非球面レンズ形状測定装置の第2の
実施例を示す概略構成図である。本実施例においては、
プローブ側が旋回する点が、被測定物側が旋回する第1
図に示した第1の実施例と異なる。
第14図に於いて、旋回スライド5は粗動ガイドlOに
固着され、R合せガイド6は定盤lに固着されている。
旋回軸21上に曲率中心をもつ被測定物30の表面に対
物レンズ41の焦点位置をロックし、旋回軸21のまわ
りにオートフォーカス顕微鏡20を含むプローブ側全体
を旋回することにより被測定物30の表面を走査して、
第1実施例と同様に被測定物30の表面形状を測定する
上記実施例においては、微動スライド16および粗動ス
ライド11の各移動量を測定する測長手段として、格子
干渉方式を用いているが、レーザー干渉方式を用いて実
現することもできる。
以上の示した如き実施例の非球面レンズの面形状測定装
置によれば、曲率、開角、非球面量等の測定範囲におい
て、広い領域に亘っての測定を可能とし、高精度にて微
小スポットによる非球面レンズ形状測定を高速に行うこ
とができる。同時に被測定物表面の傾斜角測定をも行い
得るので、非球面レンズ形状に関する正確な情報を短時
間のうちに得ることができる。
さらに、本測定装置によれば、被測定物としてガラスレ
ンズ、プラスチックレンズ、モールド用金型等”種々の
材質に対して、接触プローブ方式にみられたような傷の
付着等の考慮が不要となる。
〔発明の効果〕
以上、本発明によれば、被検曲面の曲率中心を座標原点
とする極座標系γ−θによりスケールを設定し、プロー
ブを前記被検曲面に沿って旋回走査させ、前記スケール
にもとづいて被検曲面の面形状を測定することにより、
レンズ等の開角が大きい被測定物を測定する時にも測長
ストロークが短くて済み、装置の小型化、簡便化が図れ
る。また、精度の高い形状データを得ることも可能であ
る。
更に、被測定物をセツティングする時にその肉厚を考慮
する必要が無く、迅速な測定が行い得る。
また、プローブとして光プローブを用いれば、被検面を
傷付けることな(、高速測定を行うことも出来る。
また、光プローブ方式に於いて、合焦状態判別光学系に
加えて傾斜角測定光学系を設けることにより、更に高精
度に面形状を測定することが出来る。
従って、非球面レンズ等の面形状測定に極めて有効であ
り、高速且つ高精度にこの種の光学素子の形状測定を行
える測定装置を提供出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る測定装置の一実施例を示す概略構
成図。 第2図は第1図に示すオートフォーカス顕微鏡の内部を
示す概略構成図。 第3図は第1図に示す測定装置の制御系ブロック図。 第4図は被測定点位置と合焦状態信号との関係を示す為
の説明図。 第5図は被測定点位置とセンサで受光される光量レベル
との関係を示す為の説明図。 第6図は本発明の測定方法の一実施例を示す為の説明図
。 第7図は被検面上にゴミや傷が存する場合の測定手順を
示す説明図。 第8図はオートフォーカシングサーボ機構ループと位置
決めサーボ機構ループとの切り換え方法を示すフローチ
ャート図。 第9図乃至第11図は被検面を走査する光プローブの走
査形態を示す模式図。 第12図は第10図に示す走査形態で走査する場合の測
定方法を示す為の説明図。 第13図は第11図に示す走査形態で走査する場合の測
定方法を示す為の説明図。 第14図は本発明に係る測定装置の他の実施例を示す概
略構成図。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物を支持する支持部材と前記被測定物の被
    検曲面に沿ってプローブを旋回走査する為の旋回手段と
    前記プローブ又は被測定物の旋回角θを計測する手段と
    前記プローブの被検曲面に対するγ方向への相対位置の
    変化量を検出する手段とを有し、前記被検曲面の曲率中
    心を座標原点とする極座標系γ−θによってスケールを
    設定し、前記被検曲面の面形状を測定することを特徴と
    する面形状測定装置。
  2. (2)前記プローブが光プローブより成り、前記検出手
    段が光プローブの被検面への合焦状態を判別する合焦状
    態判別手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第
    (1)項記載の面形状測定装置。
JP62058309A 1987-03-13 1987-03-13 面形状測定装置 Pending JPS63223515A (ja)

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