JP2022107419A - 光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 本発明は、不良品を除きつつ、生産効率を高めることを課題とする。【解決手段】 光学フィルム１１ａと表面保護フィルムとセパレーターフィルムとを有する光学積層フィルム１ａを製造する過程で欠陥を検査する工程と、検出された前記欠陥に対応するマークを前記光学積層フィルム１ａに付ける工程と、を有し、前記光学積層フィルム１ａから表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥と、を区別し、前記剥離顕在化欠陥に対応する第１マーク７１を前記光学積層フィルム１ａに付け、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥に対応するマークであって前記第１マーク７１とはパターンの異なる第２マーク７２を前記光学積層フィルム１ａに付ける。【選択図】 図４

Description

本発明は、光学フィルムを含む光学積層フィルムの検査方法などに関する。

光学フィルムは、液晶表示装置や有機ＥＬ表示装置などの画像表示装置、偏光サングラスや調光窓などのような画像表示装置以外の用途など、様々な用途で用いられている。
このような光学フィルムは、前記画像表示装置の画面などの仕様に適合するように、所定の平面視形状のフィルム製品に加工される。また、光学フィルムを前記画像表示装置の画面などに貼り付けるために、光学フィルムの裏面には粘着剤層が設けられている場合がある。この場合、その粘着剤層を隠蔽するため、セパレーターフィルムが貼り付けられている。また、一般に、光学フィルムの表面には、製品を保護するため表面保護フィルムが貼り付けられている。
工業的生産過程では、長尺帯状の光学積層フィルム（表面保護フィルム／光学フィルム／セパレーターフィルム）を製造し、その光学積層フィルムから複数の枚葉状のフィルム製品を切り出すことによって、前記フィルム製品が得られる。

前記光学積層フィルムを製造する過程で、フィルムの欠陥検査が行われている。
例えば、特許文献１には、長尺帯状のフィルムを搬送する過程で、そのフィルムの欠陥箇所を光学的検査にて検出し、その欠陥部分に対し、幅方向両側の予め定める範囲にマーキングを施すことが開示されている。そして、前記検査済みのフィルムをカットして複数の製品を形成する。得られた複数の製品のうち、マークが付いている製品は、不良品として廃棄し、マークが付いていない製品は、正常品として出荷される。このようにして、不良な製品が出荷されないように品質管理を行っている。

特開２００１－３０５０７０号公報

ところで、前記マークが付いた製品の中には、正常品が含まれていることがある。例えば、前述の光学積層フィルムの製造過程で機械的に検査を行う際に、不良品を確実に排除するため、欠陥検出の基準（閾値）を高く設定することが多い。そうすると、本来欠陥を有さないと評価されるべき製品についても、前記高い基準によって欠陥を有するとしてマーキングされてしまうことがある。そのため、前記マークが付いた製品を一律に廃棄するよりも、その製品を再検査し、正常品と不良品に分けることが生産効率向上（いわゆる歩留まり向上）のため望ましい。
しかしながら、本発明者の研究によれば、前記光学積層フィルムからなる製品を外部から再検査する際、例えば光学フィルムに存する欠陥を検出できないことがある。前記再検査によって、本来不良品であったものが間違って正常品として出荷されることは回避しなければならない。

本発明の目的は、不良品を除きつつ、生産効率を向上できる光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法を提供することである。

本発明の光学積層フィルムの検査方法は、光学フィルムと前記光学フィルムの表面に貼り付けられた表面保護フィルムと前記光学フィルムの裏面に貼り付けられたセパレーターフィルムとを有する光学積層フィルムを製造する過程で、前記光学フィルムの欠陥を検査する検査工程と、前記検査により検出された欠陥に対応するマークを前記光学積層フィルムに付けるマーキング工程と、を有し、前記検査工程において、前記光学積層フィルムから前記表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥と、を区別し、前記マーキング工程において、前記剥離顕在化欠陥に対応する第１マークを前記光学積層フィルムに付け、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥に対応するマークであって前記第１マークとはパターンの異なる第２マークを前記光学積層フィルムに付ける。

本発明の好ましい検査方法は、前記第１マーク及び前記第２マークが、それぞれ、前記光学積層フィルムの搬送方向に沿って略直線状に並んだ２個以上のドットから構成されており、前記第１マークは、１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含み、前記第２マークは、前記１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含まない。
本発明の好ましい検査方法は、前記第１マーク及び前記第２マークが、それぞれ、前記光学積層フィルムの搬送方向に沿って略直線状に並んだ２個以上のドットから構成されており、前記第１マークを構成するドットと第２マークを構成するドットが異なる形状である。
本発明の好ましい検査方法は、前記剥離顕在化欠陥が、前記表面保護フィルム及び前記セパレーターフィルムを貼り付ける前から前記光学フィルムに生じていた欠陥である。
本発明の好ましい検査方法は、前記剥離顕在化欠陥が、前記光学積層フィルムから前記表面保護フィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、前記光学積層フィルムから前記セパレーターフィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、を含む。
本発明の好ましい検査方法は、前記表面保護フィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥に対応する第１マークのパターンと前記セパレーターフィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥に対応する第１マークのパターンが異なる。

本発明の別の局面によれば、フィルム製品の製造方法を提供する。
本発明のフィルム製品の製造方法は、上記いずれかのマーキング工程を行なった後、前記光学積層フィルムから複数のフィルム製品を切り出す工程と、得られた前記複数のフィルム製品をグループ分けする工程と、を有し、前記グループ分け工程において、前記第１マークが付いたフィルム製品を第１グループとし、前記第２マークが付いたフィルム製品を第２グループとし、前記第１マーク及び第２マークのいずれも付いていないフィルム製品を第３グループとする。

本発明の好ましい製造方法は、前記第１グループのフィルム製品を、不良品として扱い、前記第２グループのフィルム製品に対して再検査を行い、その再検査に合格したフィルム製品を正常品として扱う。

本発明の方法は、剥離顕在化欠陥に対応する第１マークを付け、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥に対応する第２マークであって第１マークとはパターンの異なる第２マークを付ける。前記第２マークの付いたフィルム製品は、フィルムを剥離しなくても欠陥を検査できるため、そのフィルム製品を再検査し、それらを正常品と不良品に分けることができる。本発明によれば、不良品が市場に提供されることを防止しつつ、フィルム製品の生産効率を向上できる。

光学積層フィルムの層構成の１つの例を示す側面図。 光学積層フィルムの層構成のもう１つの例を示す側面図。 本発明の検査方向及び製造方法を実施するシステムの概略側面図。 同システムを表面側から見た概略平面図。 前工程での欠陥の検出及び欠陥箇所の特定の手順を説明するための参考斜視図。 表面保護フィルムを剥離することによって検出できる欠陥に対応する第１マークの１つの例を示す平面図。 セパレーターフィルムを剥離することによって検出できる欠陥に対応する第１マークの１つの例を示す平面図。 剥離顕在化欠陥以外の欠陥に対応する第２マークの１つの例を示す平面図。 表面保護フィルムを剥離することによって検出できる欠陥に対応する第１マークの他の例を示す平面図。 第１マークに跨がって切断されたときの状態を示す参考平面図。 マークのパターンの設定方法を概念的に説明するための参考平面図。

本明細書において、用語の接頭に、第１、第２、第１－Ａ、第１－Ｂなどを付ける場合があるが、この第１などは、２種以上の用語を識別するためだけに付加したものであり、それらの用語の順序、優劣、形状などの特別な意味を持たない。また、本明細書において、「略」という表現は、本発明の技術分野で許容される範囲を含むことを意味する。

［光学積層フィルム］
光学積層フィルムは、光学フィルムと、前記光学フィルムの表面に貼り付けられた表面保護フィルムと、前記光学フィルムの裏面に貼り付けられたセパレーターフィルムとを有する。前記表面保護フィルムは、光学フィルムの表面に人力で剥離可能な状態で貼り付けられている。すなわち、前記表面保護フィルムを指先などで摘んで引き剥がすことにより、表面保護フィルムを光学フィルムから剥離することができる。前記表面保護フィルムは、通常、粘着剤層を介して光学フィルムに貼り付けられている。前記粘着剤層を有する場合には、光学フィルムと粘着剤層の層間で剥離し、表面保護フィルムは粘着剤層を伴って剥離される。なお、表面保護フィルムと光学フィルムが互いに接合し得る材質からなる場合には、前記表面保護フィルムは光学フィルムの表面に直接的に貼り付けられていてもよい。前記セパレーターフィルムは、粘着剤層を介して光学フィルムの裏面に人力で剥離可能な状態で貼り付けられている。すなわち、セパレーターフィルムを指先などで摘んで引き剥がすことにより、セパレーターフィルムを光学フィルムから剥離することができる。この場合、セパレーターフィルムと粘着剤層の層間で剥離し、粘着剤層が光学フィルムの裏面に積層されたままで、セパレーターフィルムのみが剥離される。

図１は、光学積層フィルムの１つの層構成例であり、図２は、光学積層フィルムのもう１つの層構成例である。
図１を参照して、光学積層フィルム１は、表面側から順に、表面保護フィルム１２と、粘着剤層１４と、光学フィルム１１と、粘着剤層１５と、セパレーターフィルム１３と、を有する。粘着剤層１４は、表面保護フィルム１２に対して強固に接着され、且つ、光学フィルム１１に対しては剥離可能に接着されている。粘着剤層１５は、光学フィルム１１に対して強固に接着され、且つ、セパレーターフィルム１３に対しては剥離可能に接着されている。光学フィルム１１は、光学機能フィルムを含んでいる。光学フィルム１１は、２層以上の光学機能フィルムを含んでいてもよく、或いは、１層の光学機能フィルムのみから構成されていてもよい。また、光学フィルム１１の表面又は／及び裏面に、反射防止処理などの任意の処理が施されていてもよい。例えば、光学フィルム１１の表面に、反射防止コーティングを施すことによって、反射防止層が形成されていてもよい。

図２を参照して、もう１つの光学積層フィルム１は、光学フィルム１１が２種以上の光学機能フィルムを有する。例えば、光学フィルム１１が、第１乃至第３の光学機能フィルム１１１，１１２，１１３を有する。第１の光学機能フィルム１１１としては、例えば、反射防止フィルムなどが挙げられ、第２の光学機能フィルム１１２としては、例えば、偏光フィルムなどが挙げられ、第３の光学機能フィルム１１３としては、例えば、位相差フィルムなどが挙げられる。前記光学フィルム１１（図示例では、第１の光学機能フィルム１１１）の表面には、上述と同様に、粘着剤層１４を介して表面保護フィルム１２が剥離可能に貼り付けられている。また、前記光学フィルム１１（図示例では、第３の光学機能フィルム１１３）の裏面には、上述と同様に、粘着剤層１５を介してセパレーターフィルム１３が剥離可能に貼り付けられている。図２では、第１乃至第３の光学機能フィルム１１１，１１２，１１３は、直接的に接着されているが、これらの層間に接着剤層（図示せず）を介在させて接着されていてもよい。
なお、光学積層フィルム１は、図１及び図２の層構成に限られず、様々に変更できる。

＜光学フィルム＞
上述のように、光学フィルム１１は、光学機能フィルムを含んでいる。前記光学機能フィルムとしては、偏光フィルム、位相差フィルム、反射防止フィルム、光拡散フィルム、輝度向上フィルム、光反射フィルム、保護フィルムなどが挙げられる。前記偏光フィルムは、特定の１つの方向に振動する光（偏光）を透過し、それ以外の方向に振動する光を遮断する性質を有するフィルムである。位相差フィルムは、光学異方性を示すフィルムであり、代表的には、例えば、アクリル系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、セルロース系樹脂などの延伸フィルムなどが挙げられる。前記保護フィルムとしては、好ましくは略等方性の無色透明なフィルムが用いられる。
例えば、図１に例示する光学積層フィルム１の光学フィルム１１は、表面側から順に、第１の保護フィルム１１４と、偏光フィルム１１５と、第２保護フィルム１１６と、を有する。

＜表面保護フィルム＞
前記表面保護フィルム１２は、光学フィルム１１の表面を保護するために貼り付けられている。表面保護フィルムは、通常、フィルム製品を使用する際などの適宜に剥離される。表面保護フィルムは、好ましくは、略等方性の無色透明なフィルムが用いられる。このような表面保護フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートなどのポリエステル系樹脂；トリアセチルセルロースなどのセルロース系樹脂；ポリカーボネート系樹脂；ポリメチルメタクリレートなどのアクリル系樹脂；ポリスチレンなどのスチレン系樹脂；ポリエチレン、環状若しくはノルボルネン構造を有するポリオレフィンなどのオレフィン系樹脂；塩化ビニル系樹脂；ナイロン６などのアミド系樹脂；イミド系樹脂；スルホン系樹脂；ビニルアルコール系樹脂；塩化ビニリデン系樹脂；ビニルブチラール系樹脂；アリレート系樹脂；ポリオキシメチレン系樹脂；などを主たる樹脂成分とする樹脂フィルムを用いることができる。前記樹脂フィルムは、２種以上の樹脂を含んでいてもよい。中でも、光学特性や寸法安定性に優れていることから、前記表面保護フィルムは、ポリエステル系フィルムを用いることが好ましい。前記ポリエステル系フィルムは、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレートなどのエステル結合を有する樹脂材料を主たる樹脂成分とするフィルムである。なお、前記表面保護フィルムには、帯電防止処理が施されていてもよい。
前記表面保護フィルムの厚みは、特に限定されず、例えば、１０μｍ～２００μｍであり、好ましくは２０μｍ～１５０μｍであり、より好ましくは３０μｍ～１００μｍである。

＜セパレーターフィルム＞
前記セパレーターフィルム１３は、粘着剤層１５の粘着力を隠蔽するために貼り付けられている。セパレーターフィルムは、通常、フィルム製品を使用する際などの適宜に剥離される。セパレーターフィルムは、特に限定されないが、通常、光学機能フィルム以外のフィルムが用いられる。セパレーターフィルムとしては、例えば、樹脂フィルム；紙；織布、不織布、網布などの多孔質フィルム；発泡樹脂フィルム；などが挙げられる。表面平滑性に優れていることから、セパレーターフィルムとしては、好ましくは樹脂フィルムが用いられ、より好ましくは略等方性の無色透明な樹脂フィルムが用いられる。前記樹脂フィルムは、上述のような樹脂を主たる樹脂成分とするフィルムなどが挙げられる。前記セパレーターフィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフイルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリウレタンフィルム、エチレン－酢酸ビニル共重合体フィルムなどを用いることができる。前記セパレーターフィルムの厚みは、特に限定されず、例えば、１０μｍ～２００μｍであり、好ましくは１５μｍ～１００μｍである。

＜粘着剤層＞
前記粘着剤層１４，１５は、常温で粘着性を有し、その粘着性が長期間持続するものである。粘着剤層は、公知の粘着剤によって構成される。前記粘着剤は、無色透明であり、例えば、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ウレタン系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、ポリビニルピロリドン系粘着剤、ポリアクリルアミド系粘着剤、セルロース系粘着剤などが挙げられる。前記粘着剤層の厚みは、特に限定されないが、例えば、０．５μｍ～５０μｍであり、好ましくは１μｍ～３０μｍである。

［光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法、並びにそれらを実施するシステム］
本発明の光学積層フィルムの検査方法は、光学積層フィルムを製造する過程で光学フィルムの欠陥を検査する検査工程と、前記検査により検出された欠陥に対応するマークを前記光学積層フィルムに付けるマーキング工程と、を有する。前記検査工程においては、前記光学積層フィルムから表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離することによって検出できる欠陥と、その欠陥以外の欠陥と、を検出し且つそれらを区別する。本明細書では、それらの欠陥を用語上で簡易に識別できるように、前記光学積層フィルムから表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離することによって検出できる欠陥を「剥離顕在化欠陥」と称し、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥を「不剥離欠陥」と称する。前記不剥離欠陥は、表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの双方を剥離しないで光学積層フィルムの状態で検出できる欠陥である。
前記マーキング工程においては、前記剥離顕在化欠陥に対応する第１マークを前記光学積層フィルムに付け、前記不剥離欠陥に対応するマークであって前記第１マークとはパターンの異なる第２マークを前記光学積層フィルムに付ける。

さらに、本発明のフィルム製品の製造方法は、前記検査方法に従いマーキング工程を行なった後の光学積層フィルム（各欠陥に対応して第１マーク及び第２マークが付けられた光学積層フィルム）を用い、その光学積層フィルムから複数の枚葉状のフィルム製品を切り出す工程と、得られた前記複数のフィルム製品をグループ分けする工程と、を有する。前記グループ分け工程においては、前記第１マークが付いたフィルム製品を第１グループとし、前記第２マークが付いたフィルム製品を第２グループとし、前記第１マーク及び第２マークのいずれも付いていないフィルム製品を第３グループとする。

図３及び図４は、本発明の方法を実施するシステム９の概略図である。ただし、図４では、表面保護フィルムは不図示である。
前記システム９は、光学フィルム１１ａを検査しつつその光学フィルム１１ａに表面保護フィルム１２ａなどを積層する工程及びマーキング工程を含む光学積層フィルム１ａの製造ゾーンと、前記光学積層フィルム１ａから複数のフィルム製品Ｆを取り出すフィルム製品Ｆの製造ゾーンと、マークの有無及び種別に応じて前記複数のフィルム製品Ｆをグループ分けするゾーンと、を有する。なお、前記システム９では、光学積層フィルム１ａの製造、フィルム製品Ｆの製造及びフィルム製品Ｆのグループ分けを１つのラインで一連に行う場合を例示しているが、これらを個別に行ってもよい。例えば、光学積層フィルム１ａの製造工程とフィルム製品Ｆの製造工程を、別工程（別のライン）で行ってもよい。或いは、フィルム製品Ｆの製造工程とフィルム製品Ｆのグループ分け工程を、別工程で行ってもよい。

具体的には、図３及び図４を参照して、前記システム９の光学積層フィルム１ａの製造ゾーンは、ガイドロールを有する搬送装置２１と、光学フィルム１１ａに表面保護フィルム１２ａ及びセパレーターフィルム１３ａを貼り合わせるニップロールを有する貼り合わせ部２２と、測長器２３と、読取り装置２４と、２つ以上の検査装置３１，…と、演算部及び記憶部を含む制御装置２５と、マーキング装置４と、を有する。
前記システム９のフィルム製品Ｆの製造ゾーンは、光学積層フィルム１ａ及びフィルム製品Ｆを搬送するコンベア５１，５２（搬送装置）と、光学積層フィルム１ａをカッティングする切断装置６と、切断残余部Ｒを回収する回収装置（図示せず）と、を有する。
なお、図示例では、１つの工程にて、検査後（検査装置の後）に光学フィルム１１ａに表面保護フィルム１２ａ及びセパレーターフィルム１３ａを連続して貼り合せているが、これに限定されない。例えば、１つの工程にて検査し、表面保護フィルム１２ａを光学フィルム１１ａに貼り合わせ、これとは別の工程にて検査し、セパレーターフィルム１３ａを光学フィルム１１ａに貼り合わせてもよい（図示せず）。

＜光学積層フィルムの製造ゾーン＞
光学積層フィルム１ａの製造ゾーンには、光学フィルム１１ａ、表面保護フィルム１２ａ及びセパレーターフィルム１３ａを搬送する搬送装置２１が設けられている。例えば、光学フィルム１１ａ、表面保護フィルム１２ａ及びセパレーターフィルム１３ａは、それぞれ、ロール状に巻かれた状態でセットされ、搬送装置２１にてライン上に搬送される。なお、光学フィルム１１ａは、通常、前工程において製造される。前工程は、図示しない。例えば、上述のように、光学フィルムが第１の保護フィルム１１４／偏光フィルム１１５／第２保護フィルム１１６を有する場合（図１参照）、前工程において、これらのフィルム１１４，１１５，１１６を製造し且つ積層することにより、光学フィルムが製造される。また、例えば、光学フィルムが第１の光学機能フィルム１１１／第２の光学機能フィルム１１２／第３の光学機能フィルム１１３を有する場合（図２参照）、前工程において、これらのフィルム１１１，１１２，１１３を製造し且つ積層することにより、光学フィルムが製造される。なお、図示例では、前工程で得られた光学フィルム１１ａをロール状に巻き取り、それをシステム９にセットしているが、前工程を前記システム９に組み込み、前工程で得られた光学フィルム１１ａを巻き取らずにシステム９に搬送してもよい。

前記搬送装置２１は、フィルムを搬送方向（長手方向）に搬送する。前記搬送装置２１は、光学フィルム１１ａ、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａに対応してそれぞれ設けられている。セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａは、光学フィルム１１ａの搬送に同期して搬送される。搬送されるセパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａは、貼り合わせ部２２にて光学フィルム１１ａの表裏面に貼り付けられる。

前記光学フィルム１１ａには、識別子１８が具備されている。前記識別子１８は、光学フィルム１１ａの長手方向の位置を特定する情報を含んでいる。必要に応じて、前記識別子１８に、光学フィルムの製造番号、識別子の付加日時などの任意の適切な情報を含ませてもよい。前記識別子１８は、例えば、二次元コードなどの機械的読み取り記号が用いられる。前記機械的読み取り記号などの識別子１８は、通常、光学フィルム１１ａの幅方向端部に印刷によって表される。前記印刷の方式は、特に限定されないが、例えば、インクジェット印刷、レーザー印刷などのオンデマンド印刷が用いられる。

前記測長器２３は、ロータリーエンコーダーを有し、光学フィルム１１ａの移動量を測定する。測定される光学フィルム１１ａの移動量は、制御装置２５に送られて記憶され、演算に供される。
前記読取り装置２４は、前記識別子１８を読み込み、それに含まれる情報を取得する。その識別子１８の情報（光学フィルム１１ａの長手方向の位置）は、制御装置２５に送られて記憶され、演算に供される。

前記検査装置３１，…は、光学フィルム１１ａに生じていた欠陥又は搬送途中で生じた欠陥を検出する装置である。前記検査装置３１，…は、それぞれ、撮像手段と、前記撮像手段に電気的に接続され且つ前記撮像手段で取得したフィルムの撮像画像に適宜の画像処理を施す画像処理手段（図示せず）と、光源（図示せず）と、を有する。検査装置３１，…は、後述する処理方式に従い、必要に応じて、偏光フィルタなどの他の部材又は機器をさらに有する。撮像手段としては、光学フィルムの幅方向に沿って撮像素子が直線状に配置されたラインセンサ、撮像素子がマトリックス状に配置されたエリアセンサなどを用いることができる。撮像手段の視野は、光学フィルムの有効幅（製品に使用される幅）以上とされている。画像処理手段は、撮像画像に２値化などの公知の画像処理を施すことにより、フィルムの欠陥に相当する画素領域を抽出する。そして、前記画像処理手段は、撮像画像における欠陥の位置（欠陥に相当する画素領域の座標）を特定する。

前記検査装置３１，…は、前記セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａの少なくとも一方が貼り付けられる前の光学フィルム１１ａに存在する欠陥を、少なくとも検出する。
前記検査装置により、例えば、光学フィルム１１ａなどに生じた異物混入、ピンホールなどの表面凹凸、輝点、塗工不良、気泡などの各種の欠陥を検出できる。これらの欠陥は、通常、前記表面保護フィルム１２ａ及び前記セパレーターフィルム１３ａを貼り付ける前から光学フィルム１１ａに生じていた欠陥である。前記検査装置３１，…の処理方式としては、例えば、反射検査、クロスニコル透過検査、透過検査、斜め透過検査などが挙げられる。

前記反射検査は、光源からの光をフィルム面に対して照射し、反射した光を撮像手段に受光させることによって、前記フィルムの表面の欠陥を検出する。前記クロスニコル透過検査は、光源からの可視光をフィルム面に対して垂直（又は斜め）に照射し、光学フィルム中の偏光フィルムの吸収軸に対して偏光フィルタの吸収軸が９０°付近になるようにして、撮像手段の直前に前記偏光フィルタを設置した状態で、前記偏光フィルムを透過した光を前記撮像手段に受光させることによって、光学フィルムに内在する欠陥を輝点として検出する。前記透過検査は、光源からの可視光をフィルムに対して垂直に照射し、フィルムを透過した光を撮像手段に受光させることによって、光学フィルムに内在する欠陥を影として検出する。前記斜め透過検査は、光源からの可視光をフィルム面に対して斜めに照射し、前記フィルムを透過した光を撮像手段に受光させることによって、光学フィルムに内在する欠陥を影として検出する。

図３及び図４では、例えば、４つの検査装置３１乃至３４（第１乃至第４検査装置３１乃至３４）が設けられている場合を例示している。
第１検査装置３１は、表面保護フィルム１２ａを貼り付ける前に配置されている。第１検査装置３１は、前記表面保護フィルム１２ａを貼り付ける前の、光学フィルム１１ａの表面のピンホールや塗工不良の有無を検査する。前記塗工不良は、白斑とも呼ばれる。第１検査装置３１の処理方式としては、例えば、反射検査が用いられる。前記ピンホールや塗工不良のような欠陥は、表面保護フィルム１２ａを光学フィルム１１ａの表面に付けた後には検出することが困難である。一方、前記ピンホールなどの欠陥は、光学積層フィルム１ａ（表面保護フィルム１２ａが光学フィルム１１ａに貼り付けられている状態）から表面保護フィルム１２ａを剥離して光学フィルム１１ａの表面を露出させると検出できるが、光学積層フィルム１ａからセパレーターフィルム１３ａのみを剥離しても検出できない。
かかるピンホールや塗工不良は、剥離顕在化欠陥に相当する。特に、表面に反射防止層又は反射防止フィルムが設けられている光学フィルム１１ａにあっては、表面保護フィルム１２ａを貼り付けた後には、その反射防止層又は反射防止フィルムの表面（すなわち光学フィルム１１ａの表面）に存在するピンホールを検出することがより困難である。

第２検査装置３２は、セパレーターフィルム１３ａを貼り付ける前に配置されている。第２検査装置３２は、前記セパレーターフィルム１３ａを貼り付ける前の、光学フィルム１１ａの輝点の有無を検査する。第２検査装置３２としては、例えば、クロスニコル透過検査が用いられる。前記輝点は、セパレーターフィルム１３ａを光学フィルム１１ａの裏面に貼り付けた後には検出することが困難であり、特に、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａを光学フィルム１１ａに貼り付けた後には検出することがより困難である。セパレーターフィルム１３ａなどが介在すると位相差がずれるので、光学フィルム１１ａの偏光フィルムに対する正確なクロスニコル検査ができないからである。一方、前記輝点による欠陥は、光学積層フィルム１ａ（表面保護フィルム１２ａが光学フィルム１１ａに貼り付けられている状態）から少なくともセパレーターフィルム１３ａを剥離すると検出できる。かかる輝点もまた、剥離顕在化欠陥に相当する。
以下、説明上、剥離顕在化欠陥の種類を識別する必要がある場合、（表面保護フィルム１２ａを貼り付けた状態では検出できず）表面保護フィルム１２ａを貼り付けた後、その表面保護フィルム１２ａを剥離することによって検出できる上述の剥離顕在化欠陥を「保護－剥離顕在化欠陥」と称し、（セパレーターフィルム１３ａを貼り付けた状態では検出できず）少なくともセパレーターフィルム１３ａを貼り付けた後、そのセパレーターフィルム１３ａを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥を「セパレーター－剥離顕在化欠陥」と称する。
図４において、便宜上、保護－剥離顕在化欠陥をプラス印で表し、セパレーター－剥離顕在化欠陥を星印で表し、不剥離欠陥をダイヤ印で表している（他の図も同様）。

第３検査装置３３は、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａを貼り付ける前に配置されている。第３検査装置３３は、光学フィルム１１ａの内部に入り込んでいる異物などの有無を検査する。第３検査装置３３の処理方式としては、例えば、透過検査が用いられる。
第４検査装置３４は、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａを貼り付ける前に配置されている。第４検査装置３４は、光学フィルム１１ａの内部に入り込んでいる異物などの有無を検査する。第４検査装置３４の処理方式としては、例えば、斜め透過検査が用いられる。
前記セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａを光学フィルム１１ａに貼り付けた後のフィルム（すなわち、光学積層フィルム１ａ）に対して前記透過検査及び斜め透過検査を行った場合、並びに、前記セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａのうち少なくとも一方を貼り付ける前の光学フィルム１１ａに対して前記透過検査及び斜め透過検査を行った場合のいずれでも、前記異物の有無は検出できる。かかる異物混入は、光学積層フィルム１ａの状態で検出できる欠陥であり、不剥離欠陥に相当する。
なお、このような不剥離欠陥を検出する検査装置（例えば、第３及び第４検査装置３３，３４）は、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａを貼り付けた後に配置されていてもよい。
なお、図３及び図４では、第１乃至第４検査装置３１乃至３４として、（光源などを図示せず）撮像手段のみを図示している。また、前記撮像手段などは、処理方式及び検査対象に応じて、光学フィルム１１ａの表面側に設けられる場合（例えば、第１検査装置３１など）もあれば、光学フィルム１１ａの裏面側に設けられる場合（例えば、第２検査装置３２）もある。

また、図示しない前工程においても、光学フィルム１１ａ又はその光学フィルム１１ａを構成する各フィルム（例えば、偏光フィルム、光学機能フィルムなど）を、適切な検査装置を用いて検査している。例えば、上述の反射検査、クロスニコル透過検査、透過検査、斜め透過検査などを前工程で適宜行なうことによって、光学フィルム１１ａの欠陥（剥離顕在化欠陥及び不剥離欠陥）が検出される。前工程で検出された欠陥は、その欠陥の種類（剥離顕在化欠陥及び不剥離欠陥）とその位置情報とが関連付けられた状態で、記憶部を有する演算装置に記憶される。なお、前工程における検査などについては後述する。

前記マーキング装置４は、各検査装置３１，…によって検出された欠陥の位置を視認するために、光学積層フィルム１ａにマークを付ける装置である。なお、前工程によって検出された欠陥についても、前記マーキング装置４によってマーク付けされる。本発明では、欠陥の位置だけでなく、欠陥の種類も視認できるように、パターンの異なるマークを光学積層フィルム１ａに付与する。前記視認は、人間の視覚で識別できることをいう。なお、マークの詳細は、後述する。
マーキング装置４は、セパレーターフィルム１３ａ及び表面保護フィルム１２ａの貼り合わせ部２２の下流側に配置されている。下流側は、光学積層フィルム１ａの搬送方向先頭側をいう。前記マーキング装置４は、例えば、フィルムの幅方向（幅方向は、搬送方向と直交する方向）の全体に亘って印字手段が設けられている。図４では、インクジェット印刷方式のマーキング装置を例示しており、この装置は、フィルムの幅方向に密に且つ等間隔に並んだ複数の印字ヘッド４１を有する。前記マーキング装置４によって、例えば、複数のドットを光学積層フィルム１ａに印刷できる。
図示例では、マーキング装置４は、光学積層フィルム１ａの表面側に配置されており、従って、表面保護フィルム１２ａの表面にマークを付けるようになっている。なお、マーキング装置４を光学積層フィルム１ａの裏面側に配置し、セパレーターフィルム１３ａの裏面にマークを付けるようにしてもよい。

図示例の前記検査装置３１，…の欠陥の検出及びその位置の特定、さらに、マーキング装置４によるマークの付与は、例えば、次のようにして行なわれる。検査装置３１，…は、欠陥を検出し、その欠陥の種類（剥離顕在化欠陥であるか、又は、不剥離欠陥であるか）と、その欠陥の位置（光学フィルム１１ａの幅方向のエッジから欠陥までの距離）と、を特定する。前記欠陥の位置は、撮像画像における欠陥に相当する画素領域の座標によって特定できる。例えば、第１検査装置３１は、保護－剥離顕在化欠陥の検出とその欠陥の位置とを特定し、第２検査装置３２は、セパレーター－剥離顕在化欠陥の検出とその欠陥の位置とを特定し、第３検査装置３３は、不剥離欠陥の検出とその欠陥の位置とを特定する。制御装置２５には、測長器２３から光学フィルム１１ａの搬送方向への移動量が入力されている。前記制御装置２５は、各検査装置３１，…によって特定された欠陥の位置と前記測長器２３で測定される光学フィルム１１ａの移動量とに基づいて、前記欠陥がマーキング装置４に到達するタイミングを算出する。制御装置２５は、その算出したタイミングでマーキング装置４を作動させる。マーキング装置４は、欠陥の種類に対応して、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）にマークを印刷する。例えば、第１検査装置３１で検出した欠陥である保護－剥離顕在化欠陥に対応して、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）に第１マークを印刷する。図４では、プラス印の近傍に表されている複数のドットの集合が第１マーク７１（保護－剥離顕在化欠陥に対応するマーク）である。

第２検査装置３２についても、上記と同様な手順で、欠陥（セパレーター－剥離顕在化欠陥）の検出及びその位置が特定される。そして、マーキング装置４は、前記セパレーター－剥離顕在化欠陥に対応して、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）に第１マーク７１を印刷する。図４では、星印の近傍に表されている複数のドットの集合が第１マーク７１（セパレーター－剥離顕在化欠陥に対応するマーク）である。
以下、説明上、保護－剥離顕在化欠陥に対応した第１マーク７１とセパレーター－剥離顕在化欠陥に対応した第１マーク７１を用語上で識別する必要があるときには、前者を「第１－Ａマーク７１Ａ」と称し、後者を「第１－Ｂマーク７１Ｂ」と称する。

第３検査装置３３及び第４検査装置３４についても、それぞれ上記と同様な手順で、欠陥（不剥離欠陥）の検出及びその位置が特定される。そして、マーキング装置４は、前記不剥離欠陥に対応して、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）に第２マークを印刷する。図４では、ダイヤ印の近傍に表されている複数のドットの集合が第２マーク７２（不剥離欠陥に対応するマーク）である。

また、前工程で検出された欠陥についても、上記マーキング装置４にて光学積層フィルム１ａにマークが付与される。具体的には、図５は、前工程における欠陥の検出及びその位置の特定の方法を概略的に示した参考図である。図５の参考図を参照して、前工程のフィルム検査を行なう検査装置Ｐ１は、光学フィルム１１Ｆ（又は光学フィルムを構成する各フィルム）の欠陥Ｄを検出して、撮像画像における欠陥Ｄの位置（欠陥Ｄに相当する画素領域の座標）を特定する。この情報は演算装置Ｐ２に入力される。他方、演算装置Ｐ２には、測長器Ｐ３から光学フィルム１１Ｆの搬送方向への移動量が入力されていると共に、読取り装置Ｐ４が読み取った識別子１８の情報（光学フィルム１１Ｆの長手方向の位置）が順次入力されている。このため、演算装置Ｐ２は、識別子１８を読み取った時点と、欠陥Ｄを検出した時点（撮像画像における欠陥に相当する画素領域の座標を特定した時点）との間に、光学フィルム１１Ｆがどれだけ搬送方向に移動しているかを把握することができる。この両時点間の光学フィルム１１Ｆの移動量と、撮像画像における欠陥に相当する画素領域の座標とに基づき、演算装置Ｐ２は、所定の識別子（図５の符号１８－Ｚで示す識別子）から欠陥Ｄまでの距離（光学フィルムの長手方向に沿った距離）Ｘ１を算出できる。また、演算装置Ｐ２は、撮像画像における欠陥に相当する画素領域の座標に基づき、光学フィルム１１Ｆの幅方向のエッジから欠陥までの距離（光学フィルムの幅方向に沿った距離）Ｙ１を算出できる。演算装置Ｐ２は、少なくとも、前記所定の識別子１８－Ｚの情報と、この識別子１８－Ｚを基準とした欠陥の位置情報（Ｘ１，Ｙ１）と、欠陥の種類と、を紐付けて記憶する。記憶された欠陥情報（以下、前工程の欠陥情報という）は、データーベース化されて演算装置Ｐ２の記憶部に記憶されていく。
上記システム９の制御装置２５は、読み取り装置２４によって識別子１８の情報を取得し、この情報に基づいて前記前工程の欠陥情報を取り出す。前記制御装置２５は、前工程の欠陥情報（前工程で得られた欠陥の位置情報及び欠陥の種類）と測長器２３で測定される光学フィルム１１ａの移動量とに基づいて、前記前工程での欠陥がマーキング装置４に到達するタイミングを算出する。制御装置２５は、その算出したタイミングでマーキング装置４を作動させる。マーキング装置４は、前工程で検出された欠陥の種類に対応して、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）にマークを印刷する。例えば、その前工程の欠陥情報が剥離顕在化欠陥である場合には、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）に第１マークを印刷し、不剥離欠陥である場合には、光学積層フィルム１ａの表面（又は裏面）に第２マークを印刷する。

＜各マークの詳細＞
図３、４、６乃至８を参照して、前記第１マーク７１と第２マーク７２は、パターンが異なっている。前記第１－Ａマーク７１Ａと第１－Ｂマーク７１Ｂは、パターンが同じでもよく（同じマーク）、或いは、パターンが異なっていてもよい。好ましくは、前記第１－Ａマーク７１Ａと第１－Ｂマーク７１Ｂは、パターンが異なっている。前記パターンは、模様を含む。パターンが異なるマークとは、例えば、対比するマークが平面視の図柄が異なる場合、対比するマークがそれぞれ複数の図柄から構成され、前記各図柄が同じであるが各図柄の配置が異なる場合；対比するマークがそれぞれ複数の図柄から構成され、前記各図柄から選ばれる少なくとも１つの図柄が異なり且つ各図柄の配置が同じ又は各図柄の配置が異なる場合；などが挙げられる。

前記マーク（第１マーク７１及び第２マーク７２）は、光学積層フィルム１ａの搬送方向に沿って略直線状に並んだ２個以上のドットから構成されていることが好ましい。このようなドットからなるマークは、インクジェット印刷機やレーザー印刷機などを有するマーキング装置４によって、光学積層フィルム１ａに容易に印刷できる。
前記２個以上のドットからなる第１マーク７１と第２マーク７２は、それらのドットの配置を異ならせることによって、互いにパターンが異なっている。前記２個以上のドットは、前述の複数の図柄に相当する。詳しくは、図示例では、第１マーク７１を構成するドットと第２マーク７２を構成するドットは、いずれも平面視で略円形状（同じ図柄）であるが、それらの配置が異なっている。従って、第１マーク７１と第２マーク７２は、互いにパターンが異なる。
なお、特に図示しないが、前記２個以上のドットからなる第１マーク７１と第２マーク７２は、それらのドットの形状を異ならせることによって、互いにパターンが異なっていてもよい。例えば、第１マーク７１を構成するドットを平面視略三角形状とし、第２マーク７２を構成するドットを平面視略Ｘ字状とする。このように異なる形状のドット（異なる図柄）からなる第１マーク７１と第２マーク７２は、互いにパターンが異なる。
また、２個以上のドットから構成されている第１－Ａマーク７１Ａと第１－Ｂマーク７１Ｂは、それらのドットの配置を異ならせることによって、互いにパターンが異なっている。図示例では、それらのドットは、いずれも平面視で略円形状であるが、その配置が異なっている。
なお、図示例では、いずれも平面視略円形状のドットを例示しているが、ドットの形状はこれに限定されない。例えば、略楕円状、略矩形状、略三角形状、略Ｘ字状などであってもよい。
第１マーク７１を構成するドットの数及び第２マーク７２を構成するドットの数は、２個以上であれば特に限定されない。ただし、それらの数が、余りに少ないと、両マークのパターンの相違を視認し難くなるおそれがあり、余りに多いと、光学積層フィルム１ａからフィルム製品Ｆを切り出す際に、欠陥のないフィルム製品Ｆに前記ドットが残存する蓋然性が高くなる。かかる観点から、第１マーク７１を構成するドットの数及び第２マーク７２を構成するドットの数は、それぞれ独立して、好ましくは３個以上１２個以下であり、より好ましくは４個以上１０個以下である。

また、前記ドット（マーク）は、例えば、黒色インキや赤色などの任意の着色インキなどを用いて表される。また、マーキング装置４がレーザー印刷方式の場合には、前記ドット（マーク）は、黒色トナーや赤色などの任意の着色トナーなどを用いて表される。マークを表すインキ又はトナーなどは、再検査後に、フィルムに損傷を加えることなく除去できるものが用いられる。

上述のように、第１マーク７１と第２マーク７２は、パターンが異なっている。例えば、複数のドットからなる前記第１マーク７１は、１個のドットの径よりも小さい間隔を有して前記搬送方向に並んだ２個以上のドットを含む。例えば、複数のドットからなる前記第２マーク７２は、１個のドットの径以上の間隔を有して前記搬送方向に並んだ２個以上のドットを含み、且つ、１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含まない。１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含むか、或いは、含まないかによって、第１マーク７１と第２マーク７２は、そのパターンの相違によって視認できる。つまり、第１マーク７１と第２マーク７２は、見分けることができる。
以下、１個のドットの径よりも小さい間隔を「小間隔」と称し、１個のドットの径以上の間隔を「大間隔」と称する。

図６は、保護－剥離顕在化欠陥に対応して表された第１－Ａマーク７１Ａ（第１マーク７１の１つ）の一例を示す平面図である。図７は、セパレーター－剥離顕在化欠陥に対応して表された第１－Ｂマーク７１Ｂ（第１マーク７１のもう１つ）の一例を示す平面図である。図８は、不剥離欠陥に対応して表された第２マーク７２の一例を示す平面図である。
図６に示すように、第１－Ａマーク７１Ａは、１つの保護－剥離顕在化欠陥に対して１箇所に付けられている。第１－Ｂマーク７１Ｂも同様に、１つのセパレーター－剥離顕在化欠陥に対して１箇所に付けられている（図７参照）。第２マーク７２も同様に、１つの不剥離欠陥に対して１箇所に付けられている（図８参照）。図６乃至図８において、各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２は、対応する欠陥を基準にして、幅方向一方側に配置されている。なお、各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２は、幅方向他方側（幅方向他方側は、前記幅方向一方側とは反対の側）に配置されていてもよい。例えば、図９に示すように、第１－Ａマーク７１Ａが、１つの保護－剥離顕在化欠陥の、幅方向他方側に付けられていてもよい。特に図示しないが、第１－Ｂマーク７１Ｂ及び第２マーク７２についても、図９と同様に、幅方向他方側に付けられていてもよい。
なお、図６乃至図９では、各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２は、紙面最上段のドット（最上段のドットに符号ｄ－１を示している）と紙面最下段のドット（最下段のドットに符号ｄ－２を示している）の略中間に欠陥が位置するように付けられているが、欠陥が前記最上段のドット寄り又は前記最下段のドット寄りに位置するように付けられていてもよい。また、図６乃至図９では、各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２は、対応する欠陥の近傍に付けられているが、各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２の一部分が、欠陥に重なっていてもよい。各マーク７１Ａ，７１Ｂ，７２は、欠陥の厳密な位置を指標するわけではなく、概ねマークの付近に欠陥が存在することが判る程度で、欠陥に対応して付けられるものである。

図６及び図７を参照して、第１－Ａマーク７１Ａ及び第１－Ｂマーク７１Ｂは、いずれも、小間隔ＳＷを有して搬送方向に並んだ２個以上のドットｄを含んでいる点で共通している。一方、第１－Ａマーク７１Ａは、大間隔を有して並んだ２個以上のドットｄを含まないが、第１－Ｂマーク７１Ｂは、大間隔ＬＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含んでいる点で相違している。従って、第１－Ａマーク７１Ａと第１－Ｂマーク７１Ｂは、そのパターンの相違を視認できる。
図示例では、第１－Ａマーク７１Ａは、小間隔ＳＷを有して搬送方向に並んだ８個のドットｄから構成されている。第１－Ｂマーク７１Ｂは、小間隔ＳＷを有して搬送方向に並んだ２個のドットｄを１つのユニットとし、大間隔ＬＷを有して並んだ２つ以上（図示例では３つ）の前記ユニットから構成されている。

図８を参照して、第２マーク７２は、大間隔ＬＷを有して搬送方向に並んだ２個以上のドットｄから構成されている。第２マーク７２は、小間隔を有して搬送方向に並んだ２個のドットを含まない。図示例では、第２マーク７２は、大間隔ＬＷを有して搬送方向に並んだ４個のドットｄから構成されている。

前記１個のドットｄの径は、ドットｄの直径である。ドットｄが平面視略円形状でない場合には、前記ドットｄの径は、円相当径とする。
第１マーク７１及び第２マーク７２を構成するそれぞれのドットｄの径は、同じであることが好ましい。
前記ドットｄの径の具体的寸法は、特に限定されないが、例えば、２ｍｍ～５ｍｍであり、好ましくは、２．５ｍｍ～４ｍｍである。

前記小間隔ＳＷは、ドットｄの径よりも小さい寸法である。前記小間隔ＳＷの具体的寸法は、例えば、２ｍｍ未満であり、好ましくは、１ｍｍ以下であり、より好ましくは、０．５ｍｍ以下である。前記小間隔ＳＷの下限は、零である。小間隔ＳＷが零の場合には、幅方向において隣り合うドットｄが実質的に接している状態である。
小間隔ＳＷを有するマークに関して、全ての小間隔ＳＷは、同じであることが好ましい。
前記大間隔ＬＷは、ドットｄの径と同じ寸法又はドットｄの径よりも大きい寸法である。前記大間隔ＬＷの具体的寸法は、例えば、２ｍｍ以上であり、好ましくは、２．５ｍｍ以上であり、より好ましくは、３ｍｍ以上である。前記大間隔ＬＷの上限は、特にないが、余りに大きいと、隣り合うドットｄが離れすぎるので、大間隔ＬＷは、現実的には８ｍｍ以下であり、好ましくは６ｍｍ以下である。
大間隔ＬＷを有するマークに関して、全ての大間隔ＬＷは、同じであることが好ましい。

第１マーク７１及び第２マーク７２が、上記好ましい小間隔ＳＷ及び大間隔ＬＷを有するドットｄの配置であることにより、次のような関係となる。
概念上、前記第２マーク７２の上に第１マーク７１を重ねると（つまり、複数のドットｄからなる第２マーク７２の上に、第１マーク７１の複数のドットｄを重ね印刷すると）、第２マーク７２が消失する。第２マーク７２上に第１マーク７１を重ねることによって表される概念上のマークは、小間隔ＳＷを有して搬送方向に並んだ２個以上のドットｄを含むようになる。このため、前記重ねることによって表される概念上のマークは、第２マーク７２にならず、第１マーク７１となる。よって、前記第１マーク７１と第２マーク７２は、第２マーク７２の上に第１マーク７１を重ねると、第２マーク７２が消失する関係にある。
このような関係にあるため、仮に剥離顕在化欠陥と不剥離欠陥が同じ位置に存在し、それぞれの欠陥に対応して第１マーク７１と第２マーク７２を印刷したとしても、光学積層フィルム１ａに第１マーク７１が明確に表されるようになる。後述するように、剥離顕在化欠陥を有するフィルム製品（第１マーク７１が付いたフィルム製品Ｆ）は、再検査対象とせず、一律に不良品として扱う。前述のように、第１マーク７１（第１マーク７１は剥離顕在化欠陥の存在を指標するマークである）が明確に表されることにより、剥離顕在化欠陥を有するフィルム製品を再検査対象から確実に除外できるようになる。

また、第１マーク７１を、小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含むものから構成し、第２マーク７２を、小間隔を有して並んだ２個以上のドットを含まないのものから構成することにより、次のような利点がある。
後述するように、フィルム製品は、光学積層フィルムから切り出される。この際、マークを跨いで切断されることが稀に生じ得る。マークを跨いで切断されると、その切断されたマークの一部が、切断線を境界として隣接する２つのフィルム製品の一方に付いたままとなり、且つ、その切断されたマークの残部が、前記製品のもう一方に付いたままとなる。マークは、欠陥の厳密な位置を指標するものではないので、前記一方の製品ともう一方の製品のどちらの方に、そのマークに対応する欠陥が存在しているのかを断定できない。それ故、前記一方の製品ともう一方の製品は、いずれもマークが付いた製品として扱う必要がある。また、マークに跨がって切断された場合、隣接する２つのフィルム製品の一方が第１マークの付いた製品で且つもう一方が第２マークの付いた製品であると、混同してグループ分けされることは避けなければならない。それ故、前記隣接する２つのフィルム製品は、同じマークが付いた製品であることを視認できるようにすることが望ましい。

図１０は、第１マーク７１に跨がって切断された場合の参考図である。第１マーク７１は、小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含んでいるので、その第１マーク７１に跨がって切断された場合には、前記切断線Ｃで隣接する２つのフィルム製品Ｆ－ａ，Ｆ－ｂのそれぞれに、小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄが付いた状態となる。また、図１０の破線で示す箇所で切断されたとしても、一方のフィルム製品Ｆ－ａには、小間隔ＳＷを有して並んだ１個のドットｄと１個未満のドットｄが付いた状態となる。このため、前記第１マーク７１を挟んで切断された場合、少なくとも小間隔ＳＷを目印として、隣接するフィルム製品Ｆ－ａ，Ｆ－ｂがいずれも第１マーク７１が付いた製品であると視認できる。
特に、小間隔ＳＷが非常に小さい場合、例えば、小間隔ＳＷが２ｍｍ未満、好ましくは１ｍｍ以下である場合には、切断線が小間隔ＳＷに重なることは非常に稀となる。このため、隣接するフィルム製品Ｆ－ａ，Ｆ－ｂのそれぞれで小間隔ＳＷが残存し、それを視認できる。

一方、第２マーク７２は、小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含まない。そのため、その第２マーク７２に跨がって切断された場合には、前記切断線で隣接する２つのフィルム製品Ｆのそれぞれには、小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄが存在しない。このため、前記第２マーク７２を挟んで切断された場合、少なくとも小間隔ＳＷが存在しないこと目印として、隣接するフィルム製品Ｆがいずれも第２マーク７２が付いた製品であると視認できる。
よって、マークを跨いで切断された場合でも、剥離顕在化欠陥を有する可能性があるフィルム製品Ｆを正常品として扱われることを確実に防止できる。

なお、第１マーク７１（第１－Ａマーク７１Ａ、第１－Ｂマーク７１Ｂ）及び第２マーク７２は、図６乃至図８に示すドットパターンに限定されず、適宜変更できる。前記ドットｄの数や配置を設定することにより、上記小間隔ＳＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含む第１マーク７１、及び、上記大間隔ＬＷを有して並んだ２個以上のドットｄを含む第２マーク７２を様々なパターンに設定できる。
例えば、図１１に示すように、光学積層フィルム１ａの搬送方向に沿って略直線状に且つ等間隔に並んだ複数のドット形成仮想部７８を想定したとする。複数のドット形成仮想部７８は略同形同大である。図１１の一点鎖線は、ドット形成仮想部７８を表している。ドット形成仮想部７８は、その形成仮想部７８を印刷するとドットｄを表示できる部位（つまり、インキなどで着色するとドットｄとなる部位）であって、あくまで概念上の部位である。隣接するドット形成仮想部７８の間隔は、上記小間隔ＳＷに相当する。なお、図１１では、ドット形成仮想部７８が等間隔で８個並んでいる場合を例示しているが、この数に限定されるわけではない。
前記複数のドット形成仮想部７８のうち互いに隣接する少なくとも２個のドット形成仮想部７８を選び、それらの形成仮想部７８を印刷することによって、第１マーク７１を構成できる。一方、前記複数のドット形成仮想部７８の中から互いに隣接しない少なくとも２個のドット形成仮想部７８のみを選び、それらの形成仮想部７８を印刷することによって、第２マーク７２を構成できる。例えば、図１１のドット形成仮想部７８のうち、紙面上側から第１番目、第２番目、第４番目、第５番目、第７番目及び第８番目のドット形成仮想部７８を印刷することにより、図７に示す第１－Ｂマーク７１Ｂとなる。また、図１１のドット形成仮想部７８のうち、紙面上側から第１番目、第３番目、第５番目及び第７番目のドット形成仮想部７８を印刷することにより、図８に示す第２マーク７２となる。

図４に戻って、欠陥を含む長尺帯状の光学積層フィルム１ａがマーキング装置４を通過すると、光学積層フィルム１ａに各欠陥に対応する各マーク７１，７２が付けられていく。

＜フィルム製品の製造ゾーン＞
前記システム９のフィルム製品の製造ゾーンにおいて、前記検査及び各マークが付いた光学積層フィルム１ａから複数のフィルム製品Ｆが切り出される。
図３及び図４を参照して、前記フィルム製品の製造ゾーンにおいて、コンベア５１，５２は、マーキング後の光学積層フィルム１ａを下流側へと搬送する。図示例では、エンドレス状のベルトを有するコンベア５１，５２を図示しているが、コンベア５１，５２はこれに限定されるわけではない。
切断装置６は、マーキング装置４の下流側に配置されている。前記切断装置６は、光学積層フィルム１ａからフィルム製品Ｆを切り出すための切断刃６１と、切断刃６１の刃先を受ける刃受けシート６２と、刃受けシート６２の裏面に配置された台座６３と、を有する（図３参照）。なお、図示例では、前記コンベア５１のベルトが刃受けシート６２を兼用しているが、前記刃受けシート６２と前記コンベア５１ベルトを別々に設けてもよい。搬送される長尺帯状の光学積層フィルム１ａに切断刃６１を押し当て、光学積層フィルム１ａを切断することにより、複数のフィルム製品Ｆを連続的に形成できる。通常、切断後、少なくとも光学積層フィルム１ａの幅方向両端部は、切断残余部Ｒ（いわゆる抜き滓）として回収される。切断残余部Ｒの回収方向を図３の白抜き矢印で示し、各フィルムの搬送方向を矢印で示している。なお、図示例では、切断残余部Ｒが両端部のみに生じる切断形式を例示している。この形式の場合、隣接するフィルム製品Ｆの隙間は切断刃６１の刃厚に略等しい。また、隣接するフィルム製品Ｆの間に切断残余部Ｒが生じる切断形式にて光学積層フィルム１ａを切断してもよい。この形式の場合には、隣接するフィルム製品Ｆの隙間が刃厚よりも十分に大きくなる。

得られるフィルム製品Ｆの層構成は、光学積層フィルム１ａの層構成と同様である。図示例では、平面視略矩形状（略長方形状又は略正方形状）のフィルム製品Ｆが切断装置６にて形成される場合を例示している。ただし、形成されるフィルム製品Ｆは、略矩形状（略長方形状）に限定されず、略三角形状、略六角形状などの略多角形状、略円形状、略楕円形状、これらの形状が組み合わされた異形状などであってもよい。本明細書において、略矩形状、略三角形状及び略多角形状の「略」は、例えば、角部が面取りされている形状、辺の一部が僅かに膨らむ又は窪んでいる形状、辺が若干湾曲している形状などが含まれる。また、略円形状及び略楕円形状の「略」は、例えば、周の一部が僅かに膨らむ又は窪んでいる形状、周の一部が若干直線又は斜線とされた形状などが含まれる。
さらに、図示例では、略矩形状のフィルム製品Ｆの１辺が搬送方向と略平行となるように、フィルム製品Ｆを切り出す場合を表しているが、略矩形状のフィルム製品Ｆの１辺が搬送方向に対して傾斜するように、フィルム製品Ｆを切り出してもよい。
図４に示すように、切断装置６の下流側に、第１マーク７１が付いたフィルム製品Ｆ、第２マーク７２が付いたフィルム製品Ｆ及びマークが付いていないフィルム製品Ｆが搬送されていく。なお、中には、第１マーク７１と第２マーク７２の双方が付いたフィルム製品Ｆもあるかもしれない。

＜フィルム製品のグループ分けするゾーン＞
グループ分けゾーンは、前記第１マーク７１が付いたフィルム製品Ｆを第１グループＧ１、前記第２マーク７２が付いたフィルム製品Ｆを第２グループＧ２、前記第１マーク７１及び第２マーク７２のいずれも付いていないフィルム製品Ｆを第３グループＧ３、にグループ分けする。グループ分けした各フィルム製品Ｆは集積してグループ毎に一纏めにする。なお、第１マーク７１及び第２マーク７２のいずれもが付いているフィルム製品Ｆは、第１グループＧ１とする。
グループ分けは、機械が行なってもよく、人が行なってもよく、或いは、人及び機械で行なってもよい。
例えば、図３及び図４に示すように、各フィルム製品Ｆが切断装置６の下流側へと搬送される過程に、撮像手段（カメラなど）、画像処理手段及び除去手段を有する選別装置８を配置する。選別装置８の撮像手段によってフィルム製品Ｆを撮像し、画像処理手段で前記撮像画像に適宜の画像処理を施すことにより、第１マーク７１が付いた製品Ｆ、第２マーク７２が付いた製品Ｆ、マークが付いていない製品Ｆを選別する。図示しない除去手段により、第１マーク７１が付いた製品Ｆ及び第２マーク７２が付いた製品Ｆを製造ラインから抜き出し、それぞれを第１グループＧ１と第２グループＧ２に分けて集積する。マークが付いていない製品Ｆは、そのまま製造ラインに残し、集積して第３グループＧ３とする。

なお、上述のように、第１マーク７１を、第１－Ａマーク７１Ａ及び第１－Ｂマーク７１Ｂの２種類に細分した場合には、前記第１グループＧ１をさらに２つのグループ（第１－Ａグループと第１－Ｂグループ）に分けることも可能である。
すなわち、前記第１－Ａマーク７１Ａが付いたフィルム製品Ｆを第１－Ａグループとし、前記第１－Ｂマーク７１Ｂが付いたフィルム製品Ｆを第１－Ｂグループとしてグループ分けしてもよい。
このように第１グループＧ１をさらに細分することにより、保護－剥離顕在化欠陥の発生割合とセパレーター－剥離顕在化欠陥の発生割合とをそれぞれ把握できる。このように前記２つの欠陥の発生割合を個別に把握することは、将来的に、生産効率の向上に寄与できる。

［正常品と不良品の判別及び取り扱い］
前記第３グループＧ３のフィルム製品Ｆは、正常品として扱う。
前記第１グループＧ１のフィルム製品Ｆは、不良品として扱う。
前記第２グループＧ２のフィルム製品Ｆは、再検査を行なう。再検査の結果、欠陥を有さないと判断されたフィルム製品Ｆは、正常品として扱い、欠陥を有すると判断されたフィルム製品Ｆは、不良品として扱う。
前記正常品は、必要に応じて適宜な処理を施した後に市場に提供される。前記不良品は、廃棄される、又は、材料リサイクルに供される。

本発明によれば、不良品が市場に提供されることなく、フィルム製品の生産効率を向上できる。
具体的には、マークが付いたフィルム製品のグループの中には、正常品（実際には欠陥無し）と不良品（実際に欠陥有り）が混在している可能性がある。特に、不良品を出荷対象から確実に除くため、欠陥検出の基準（閾値）を高く設定することが望ましいが、そうすると、前記マーク付きグループの中に正常品と不良品が混在する可能性が高くなる。よって、マークが付いたフィルム製品を一律に廃棄すると、正常品まで廃棄される可能性が高くなる。このため、マークが付いたフィルム製品を再検査し、その中から正常品を選別することにより、生産効率（歩留まり率）を向上できる。
しかし、上述のように、欠陥には剥離顕在化欠陥と不剥離欠陥が存在している。剥離顕在化欠陥は、表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離しなければ検出できない。不剥離欠陥は、フィルム製品の状態（光学積層フィルムの状態）でも検出できる。本発明者らは、このような欠陥の種類に着目し、フィルム製品を欠陥の種類に応じてグループ分けして再検査の適否を判断することにした。

前記第１グループＧ１のフィルム製品Ｆは、表面保護フィルム１２ａ及び／又はセパレーターフィルム１３ａを剥離しなければ再検査できない。仮に、表面保護フィルム１２ａなどを剥離して再検査した後には、その表面保護フィルム１２ａなどを元のように綺麗に貼り付けなければならないが、そのような作業は極めて困難である。このため、第１グループＧ１のフィルム製品Ｆは、一律に不良品として扱う。第１グループＧ１のフィルム製品Ｆを一律に不良品とすることにより、不良品が市場に提供されることを防止できる。他方、前記第２グループＧ２のフィルム製品Ｆは、フィルムを剥離せず、製品のままで欠陥の有無を再検査できる。再検査の結果、実際に欠陥を有さないフィルム製品Ｆを正常品として扱うことにより、生産効率を高めることができる。なお、第２グループＧ２のフィルム製品Ｆの再検査によって正常品となる製品には、第２マーク７２が表されている。それ故、その第２マーク７２を綺麗に消去した上で正常品として出荷する。このように本発明によれば、不良品を確実に除いてそれが市場に提供される可能性をほぼ零にすることができる上、フィルム製品の生産効率を高めることができる。
なお、再検査は、機械的に自動で行なってもよく、各種機器を用いて人が行なってもよく、或いは、機械と人の双方で行なってもよい。より正確な結果を期待できることから、少なくとも人が再検査を行なうことが好ましい。再検査対象となる第２グループＧ２のフィルム製品Ｆは、比較的少量であるため、人が精密に検査したとしても製品コストに殆ど影響しない。このため、再検査を少なくとも人が行なうことにより、欠陥を有する製品を確実に不良品として除くことができる。

１，１ａ 光学積層フィルム
１１，１１ａ 光学フィルム
１２，１２ａ 表面保護フィルム
１３，１３ａ セパレーターフィルム
７１ 第１マーク
７２ 第２マーク
Ｇ１ 第１グループ
Ｇ２ 第２グループ
Ｇ３ 第３グループ
ｄ，ｄ－１，ｄ－２ ドット
ＳＷ ドットの径よりも小さい間隔
ＬＷ ドットの径以上の間隔

Claims (8)

1. 光学フィルムと前記光学フィルムの表面に貼り付けられた表面保護フィルムと前記光学フィルムの裏面に貼り付けられたセパレーターフィルムとを有する光学積層フィルムを製造する過程で、前記光学フィルムの欠陥を検査する検査工程と、
   前記検査により検出された欠陥に対応するマークを前記光学積層フィルムに付けるマーキング工程と、を有し、
   前記検査工程において、前記光学積層フィルムから前記表面保護フィルム及びセパレーターフィルムの少なくとも一方を剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥と、を区別し、
   前記マーキング工程において、前記剥離顕在化欠陥に対応する第１マークを前記光学積層フィルムに付け、前記剥離顕在化欠陥以外の欠陥に対応するマークであって前記第１マークとはパターンの異なる第２マークを前記光学積層フィルムに付ける、
   光学積層フィルムの検査方法。
2. 前記第１マーク及び前記第２マークが、それぞれ、前記光学積層フィルムの搬送方向に沿って略直線状に並んだ２個以上のドットから構成されており、
   前記第１マークは、１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含み、
   前記第２マークは、前記１個のドットの径よりも小さい間隔を有して並んだ２個以上のドットを含まない、請求項１に記載の光学積層フィルムの検査方法。
3. 前記第１マーク及び前記第２マークが、それぞれ、前記光学積層フィルムの搬送方向に沿って略直線状に並んだ２個以上のドットから構成されており、
   前記第１マークを構成するドットと第２マークを構成するドットが異なる形状である、請求項１または２に記載の光学積層フィルムの検査方法。
4. 前記剥離顕在化欠陥が、前記表面保護フィルム及び前記セパレーターフィルムを貼り付ける前から前記光学フィルムに生じていた欠陥である、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光学積層フィルムの検査方法。
5. 前記剥離顕在化欠陥が、前記光学積層フィルムから前記表面保護フィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、前記光学積層フィルムから前記セパレーターフィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥と、を含む、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の光学積層フィルムの検査方法。
6. 前記表面保護フィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥に対応する第１マークのパターンと前記セパレーターフィルムを剥離することによって検出できる剥離顕在化欠陥に対応する第１マークのパターンが異なる、請求項５に記載の光学積層フィルムの検査方法。
7. 請求項１乃至６のいずれか一項に記載の検査方法のマーキング工程を行なった後、
   前記光学積層フィルムから複数のフィルム製品を切り出す工程と、
   得られた前記複数のフィルム製品をグループ分けする工程と、を有し、
   前記グループ分け工程において、前記第１マークが付いたフィルム製品を第１グループとし、前記第２マークが付いたフィルム製品を第２グループとし、前記第１マーク及び第２マークのいずれも付いていないフィルム製品を第３グループとする、
   フィルム製品の製造方法。
8. 前記第１グループのフィルム製品を、不良品として扱い、
   前記第２グループのフィルム製品に対して再検査を行い、その再検査に合格したフィルム製品を正常品として扱う、請求項７に記載のフィルム製品の製造方法。

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