JP2021015130A - 測定用チップ、測定装置、および測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
10…光源
11…導入部
13…伝搬部
15…測定装置
17…導出部
30…受光部
31…測定部
32…制御部
101…伝搬層
102…リガンド
105…基材
107…中間層
109…伝搬層
201…アナライト
Claims (18)
- 光が伝搬する伝搬層と、
前記伝搬層に前記光を導入する導入部と、
前記伝搬層から前記光を導出する導出部と、
前記伝搬層の表面に形成され、測定対象物中のアナライトに反応するリガンド層と、を備え、
前記伝搬層の表面において、前記リガンド層の前記光の伝搬方向に直交する垂直方向の長さが前記伝搬方向に沿って増加または減少する前記リガンド層の領域を含む
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1に記載の測定用チップであって、
前記リガンド層の領域は、前記リガンド層の前記垂直方向の長さが前記伝搬方向に沿って連続的に増加または減少する領域である
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1または請求項2に記載の測定用チップであって、
前記リガンド層の領域は、前記リガンド層の前記垂直方向の長さが前記伝搬方向に沿って線形に増加または減少する領域である
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記リガンド層の領域の形状は、前記伝搬層を平面視して三角形である
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項4に記載の測定用チップであって、
前記リガンド層の領域の形状は、前記伝搬層を平面視して直角三角形である
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記アナライトと前記リガンド層との反応による前記伝搬層の周辺における屈折率の変化により、前記光の位相分布が変化する
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記リガンド層の領域は、前記伝搬層を挟む両表面に形成されている
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項7のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記光は、ガウスビームである
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項8のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記光は、可視光である
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記伝搬層は、アクリル樹脂、ガラス、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル、シリコーン樹脂、およびポリスチレンのうちの1つからなる
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項10のいずれかに記載の測定用チップであって、
前記導入部および/または前記導出部は、回折格子およびプリズムのうちのいずれかからなる
ことを特徴とする測定用チップ。 - 請求項1乃至請求項11のいずれかに記載の測定用チップが配置される測定装置であって、
前記測定用チップの前記導入部に前記光を導く光源と、
前記導出部から導出された光を受光する受光部と、
前記測定用チップを前記測定対象物に接触させる前後での前記受光部で受光される光のパターンの変化を分析する制御部と、
を備えた測定装置。 - 請求項12に記載の測定装置であって、
前記制御部は、前記光のピーク角度の変化を分析する分析処理を行うことを特徴とする測定装置。 - 請求項12または請求項13に記載の測定装置であって、
前記制御部は、前記光の進行方向の変化を分析する分析処理を行うことを特徴とする測定装置。 - 伝搬層に光を導入し、
測定対象物中のアナライトに反応するリガンド層が形成された前記伝搬層の表面において、前記リガンド層の前記光の伝搬方向に直交する垂直方向の長さが前記伝搬方向に沿って増加または減少する前記リガンド層の領域で前記光を全反射させ、
前記伝搬層から前記光を導出する、
ことを特徴とする測定方法。 - 請求項15に記載の測定方法であって、
測定用チップを前記測定対象物に接触させる前後での前記伝搬層から導出される前記光のパターンの変化を分析する、
ことを特徴とする測定方法。 - 請求項15または請求項16に記載の測定方法であって、
前記伝搬層から導出される前記光のピーク角度の変化を分析する
ことを特徴とする測定方法。 - 請求項15乃至請求項17のいずれかに記載の測定方法であって、
前記伝搬層から導出される前記光の進行方向の変化を分析する
ことを特徴とする測定方法。
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