JP2020101604A - 発光表示装置 - Google Patents
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Abstract
Description
従来技術の一例である特許文献1から5には、画素ごとに発光素子を有する発光表示装置の表示を安定して高品質とするための技術が開示されている。
また、上記の特許文献3に開示された技術では、使用される信号の数及び固定電圧の数が多く、また、低電源電圧線の電圧変動を補償することができない。
また、上記の特許文献4,5に開示された技術では、高電源電圧線の電圧変動を補償することができない。
すなわち、上記の従来技術では、信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を可能とすること、及び電源電圧線の電圧変動を補償可能であることを両立することは困難である、という問題があった。
ただし、本発明は、以下の実施形態の記載によって限定解釈されるものではない。
図1は、本実施形態に係る発光表示装置10の全体構成を示すブロック図である。
図1に示す発光表示装置10は、制御部11と、データ線駆動回路12と、発光制御線及び走査線駆動回路13と、電源線及び初期化電圧線制御回路14と、マトリクス状に配置された複数の画素100とを備える。
なお、図1には、複数の画素100の一部のみを抜き出して3行×3列で示しているが、実際には図1に示すよりも多くの画素が配置されているものとする。
なお、nは自然数である。
図2Aに示す画素100には、P型TFT(Thin Film Transistor)であるトランジスタ101,102,105,106,107,108と、容量素子103,104と、発光素子109とが設けられている。
ただし、本発明に適用可能なトランジスタはP型TFTに限定されるものではなく、N型TFTを用いてもよい。
ここで、トランジスタ106は、初期化TFTである。
また、トランジスタ107は、駆動TFTである。
初期化TFTは駆動TFTよりも抵抗を大きくすることが好ましく、後述するように、初期化TFTのチャネル長Lを長くし、チャネル幅Wを短くすると、破壊されることを防止することができる。
具体的には、初期化TFTのチャネル長Lを駆動TFTのチャネル長Lよりも長くし、且つ初期化TFTのチャネル幅Wを駆動TFTのチャネル幅Wよりも短くする。
ここでは、高電圧電源線の電源電圧VDDとしては3Vを例示し、初期化電圧Viniとしては−4Vを例示し、低電圧電源線の電源電圧VSSとしては−2Vを例示することができる。
また、Δdropは、高電圧電源線の電圧変動値である。
第1ノードN1は、トランジスタ101のソースドレインの一方と、トランジスタ102のソースドレインの一方と、容量素子103の一方の電極と、容量素子104の一方の電極とに接続されたノードである。
第2ノードN2は、容量素子104の他方の電極と、トランジスタ105のソースドレインの一方と、トランジスタ107のゲートとに接続されたノードである。
第3ノードN3は、トランジスタ105のソースドレインの他方と、トランジスタ107のソースドレインの一方と、トランジスタ108のソースドレインの一方とに接続されたノードである。
第4ノードN4は、トランジスタ106のソースドレインの一方と、トランジスタ108のソースドレインの他方と、発光素子109のアノードとに接続されたノードである。
図2Bは、図2Aに示す画素100の画素回路の動作を説明するタイミングチャートである。
期間t1は、前フレームの発光期間であり、期間t2は、容量素子及び発光素子のリセット期間であり、期間t3は、発光素子のリセット及びセンシング期間であり、期間t4は、書き込み期間であり、期間t5は、待機期間であり、期間t6は、現フレームの発光期間である。
また、図2Bに示すようにデータ線Dataの電圧は、映像に応じてV(L)からV(H)の範囲内で段階的に可変であり、第n−2の走査線Scan(n−2)、第nの走査線Scan(n)及び第nの発光制御線EM(n)の電圧は、V(L),V(H)のいずれかである。
P型TFTを使用する場合には、V(L)がオン信号であり、V(H)がオフ信号である。
ここで、各々の配線におけるV(L),V(M),V(H)の大小関係は、V(L)<V(M)<V(H)である。
このような電圧とすることで、期間t2では、トランジスタ101がオフし、トランジスタ102,105,106,107,108がオンする。
このようにして期間t2では、第1ノードN1、第2ノードN2、第3ノードN3及び第4ノードN4の全てが初期化電圧線に接続されて初期化電圧Viniとなる。
このとき、容量素子103の電圧はV103=VDD−Δdrop−Viniである。
このような電圧とすることで、期間t3では、トランジスタ101,108がオフし、トランジスタ102,105,106がオンする。
そして、トランジスタ107もオンするが、トランジスタ107においてはVgs=Vthとなりソースドレイン間に電流が流れなくなるまで、第3ノードN3が充電される。
ここで、Vgsはトランジスタ107のソースを基準としたゲートソース間電圧であり、Vthはトランジスタ107のしきい値電圧である。
このようにして期間t3では、容量素子103の電圧はV103=VDD−Δdrop−Viniであり、容量素子104の電圧はV104=VDD−Δdrop+Vth−Viniとなり、第2ノードN2及び第3ノードN3の電圧はVDD−Δdrop+Vthとなる。
このような電圧とすることで、期間t4では、トランジスタ102,105,106,107,108がオフし、トランジスタ101がオンする。
期間t4では、第1ノードN1の電圧はデータ線Dataの電圧Vdataとなり、容量素子103の電圧はV103=Vdata−(VDD−Δdrop)となり、容量素子104の電圧はV104=VDD−Δdrop+Vth−Viniであるため第2ノードN2の電圧はVdata+V104=Vdata+VDD−Δdrop+Vth−Viniとなる。
このような電圧とすることで、期間t5では、トランジスタ101,102,105,106,107,108はオフする。
このような電圧とすることで、期間t6では、トランジスタ101,102,105,106がオフし、トランジスタ107,108がオンする。
これにより、蓄積された電荷が第3ノードN3及び第4ノードN4を介して発光素子109のアノードに流れ、発光素子109が発光する。
このとき、駆動トランジスタであるトランジスタ107において、Vgs=Vdata+Vth−Viniである。
このように、発光時の駆動トランジスタのゲートソース間電圧に電圧電源線の電圧変動が含まれていないため、電源電圧線の電圧変動を補償することができる。
そのため、従来よりも信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を行うことができ、且つ電源電圧線の電圧変動を補償可能な発光表示装置を得ることができる。
従って、従来よりも安定して高品質な表示が可能な発光表示装置を得ることができる。
図3Aは、図2Aに示す初期化トランジスタであるトランジスタ106の上面及び断面を示す図である。
図3Aに示すトランジスタ106はコプラナ型トップゲート構造である。
図3Aに示すように、基板160上には半導体層161が設けられ、半導体層161を覆って絶縁層162が設けられ、絶縁層162に設けられた開口部163A,163Bを介して半導体層161に接続するように第1の電極層164A,164Bが設けられ、絶縁層162上であって半導体層161と重畳する位置に第2の電極層165が設けられている。
また、図3Aに示すように、初期化トランジスタであるトランジスタ106はチャネル長Lt−iがチャネル幅Wt−iよりも短い形状である。
絶縁性基板としては、ガラス基板を例示することができる。
多結晶シリコンとしては、非晶質シリコンをレーザ結晶化することによって形成される低温ポリシリコン(LTPS:Low Temperature Poly Silicon)を例示することができる。
酸化物半導体としては、IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide)を例示することができるが、これに限定されるものではない。
なお、半導体層161ではソースドレインと接する箇所にチャネル導体化部が設けられており、コンタクト抵抗が低減されている。
絶縁層162は、CVD(Chemical Vapor Deposition)法により形成することができる。
ここで、エッチングはドライエッチングにより行うことが好ましい。
第1の電極層164A,164Bは、例えばスパッタリング法により形成された金属膜の一部を選択的にエッチングすることで形成することができる。
第2の電極層165は、第1の電極層164A,164Bと同様の方法によって形成することができる。
なお、図3Bにおいては、開口部163A,163Bの各々が複数設けられているが、本発明はこれに限定されるものではない。
また、初期化トランジスタであるトランジスタ106のチャネル長Lt−iは、駆動トランジスタであるトランジスタ107のチャネル長Lt−dよりも長く、初期化トランジスタであるトランジスタ106のチャネル幅Wt−iは、駆動トランジスタであるトランジスタ107のチャネル幅Wt−dよりも短い。
また、初期化トランジスタであるトランジスタ106のチャネル層では、駆動トランジスタであるトランジスタ107のチャネル層よりも電流方向の長さに対する幅の比が小さく、すなわち、Wt−i/Lt−i<Wt−d/Lt−dである。
このような構造とすることで、初期化トランジスタであるトランジスタ106の抵抗を駆動トランジスタであるトランジスタ107の抵抗よりも大きくしている。
図4Aは、図2Aに示すトランジスタ106の変形例であるトランジスタ106aの上面及び断面を示す図である。
図4Aに示すトランジスタは逆スタガ型ボトムゲート構造である。
図4A,4Bに示すように、ボトムゲート構造においても上述したトップゲート構造と同様の長さの関係がある。
すなわち、初期化トランジスタであるトランジスタ106aのチャネル長Lb−iは、駆動トランジスタであるトランジスタ107aのチャネル長Lb−dよりも長く、初期化トランジスタであるトランジスタ106aのチャネル幅Wb−iは、駆動トランジスタであるトランジスタ107aのチャネル幅Wb−dよりも短い。
また、初期化トランジスタであるトランジスタ106aのチャネル層では、駆動トランジスタであるトランジスタ107aのチャネル層よりも電流方向の長さに対する幅の比が小さく、すなわち、Wb−i/Lb−i<Wb−d/Lb−dである。
このような構造とすることで、初期化トランジスタであるトランジスタ106aの抵抗を駆動トランジスタであるトランジスタ107aの抵抗よりも大きくしている。
本実施形態では実施形態1と同様に、従来よりも信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を行うことができ、且つ電源電圧線の電圧変動を補償可能な発光表示装置であって、実施形態1とは異なる形態について説明する。
図5に示す発光表示装置20は、制御部11と、データ線駆動回路12と、発光制御線及び走査線駆動回路13と、電源線及び初期化電圧線制御回路14と、マトリクス状に配置された複数の画素200とを備える。
なお、図5には、複数の画素200の一部のみを抜き出して3行×3列で示しているが、実際には図5に示すよりも多くの画素が配置されているものとする。
なお、nは自然数である。
図6Aに示す画素200には、P型TFTであるトランジスタ201,202,203,206,207,208,209と、容量素子204,205と、発光素子210とが設けられている。
ただし、本発明に適用可能なトランジスタはP型TFTに限定されるものではなく、N型TFTを用いてもよい。
ここで、トランジスタ207は、初期化TFTである。
また、トランジスタ208は、駆動TFTである。
そして、本実施形態においても、実施形態1にて説明したように、初期化TFTは駆動TFTよりも抵抗を大きくすることが好ましく、具体的には初期化TFTのチャネル長Lを駆動TFTのチャネル長Lよりも長くし、且つ初期化TFTのチャネル幅Wを駆動TFTのチャネル幅Wよりも短くすることで、初期化TFTの破壊を防止する。
ここでは、高電圧電源線の電源電圧VDDの電圧値としては3Vを例示し、初期化電圧Viniとしては−4Vを例示し、低電圧電源線の電源電圧VSSとしては−2Vを例示することができる。
なお、Δdropは、高電圧電源線の電圧変動値である。
第1ノードN1は、トランジスタ201のソースドレインの一方と、トランジスタ203のソースドレインの一方と、容量素子205の一方の電極とに接続されたノードである。
第2ノードN2は、トランジスタ203のソースドレインの他方と、トランジスタ202のソースドレインの一方と、容量素子204の一方の電極とに接続されたノードである。
第3ノードN3は、容量素子204の他方の電極と、トランジスタ206のソースドレインの一方と、トランジスタ208のゲートとに接続されたノードである。
第4ノードN4は、トランジスタ206のソースドレインの他方と、トランジスタ208のソースドレインの一方と、トランジスタ209のソースドレインの一方とに接続されたノードである。
第5ノードN5は、トランジスタ209のソースドレインの他方と、トランジスタ207のソースドレインの一方と、発光素子210のアノードとに接続されたノードである。
図6Bは、図6Aに示す画素200の画素回路の動作を説明するタイミングチャートである。
期間t1は、前フレームの発光期間であり、期間t2は、容量素子及び発光素子のリセット期間であり、期間t3は、発光素子のリセット、センシング及び書き込み期間であり、期間t4は、待機期間であり、期間t5は、容量接続期間であり、期間t6は、現フレームの発光期間である。
また、図6Bに示すようにデータ線Dataの電圧は、映像に応じてV(L)からV(H)の範囲内で段階的に可変であり、第nの走査線Scan(n)、第n−1の発光制御線EM(n−1)及び第nの発光制御線EM(n)の電圧は、V(L),V(H)のいずれかである。
P型TFTを使用する場合には、V(L)がオン信号であり、V(H)がオフ信号である。
ここで、各々の配線におけるV(L),V(M),V(H)の大小関係は、V(L)<V(M)<V(H)である。
このような電圧とすることで、期間t2では、トランジスタ203がオフし、トランジスタ201,202,206,207,208,209がオンする。
このようにして期間t2では、第2ノードN2、第3ノードN3、第4ノードN4及び第5ノードN5が初期化電圧線に接続されて初期化電圧Viniとなる。
このような電圧とすることで、期間t3では、トランジスタ209がオフし、トランジスタ201,202,203,206,207がオンする。
そして、トランジスタ208もオンするが、トランジスタ208においてはVgs=Vthとなりソースドレイン間に電流が流れなくなるまで、第4ノードN4が充電される。
ここで、Vgsはトランジスタ208のソースを基準としたゲートソース間電圧であり、Vthはトランジスタ208のしきい値電圧である。
このようにして期間t3では、第1ノードN1の電圧はデータ線Dataの電圧Vdataとなり、第4ノードN4の電圧はVDD−Δdrop+Vthとなり、容量素子204の電圧はV204=VDD−Δdrop+Vth−Viniとなり、容量素子205の電圧はV205=Vdata−(VDD−Δdrop)となる。
このような電圧とすることで、期間t4では、トランジスタ201,202,203,206,207,208,209がオフする。
期間t4では、容量素子204の電圧はV204=VDD−Δdrop+Vth−Viniであり、容量素子205の電圧はV205=Vdata−(VDD−Δdrop)である。
このような電圧とすることで、期間t5では、トランジスタ201,202,206,207,208,209がオフし、トランジスタ203がオンする。
これにより期間t5では、第1ノードN1と第2ノードN2が接続されることで容量素子204の一方の電極と容量素子205の一方の電極とが接続される。
このような電圧とすることで、期間t6では、トランジスタ201,202,206,207,208がオフし、トランジスタ203,209がオンする。
これにより、蓄積された電荷が第4ノードN4及び第5ノードN5を介して発光素子210のアノードに流れ、発光素子210が発光する。
このとき、駆動トランジスタであるトランジスタ208において、Vgs=Vdata+Vth−Viniである。
このように、発光時の駆動トランジスタのゲートソース間電圧に電圧電源線の電圧変動が含まれていないため、電源電圧線の電圧変動を補償することができる。
そのため、本実施形態においても、従来よりも信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を行うことができ、且つ電源電圧線の電圧変動を補償可能な発光表示装置を得ることができる。
従って、従来よりも安定して高品質な表示が可能な発光表示装置を得ることができる。
本実施形態では実施形態1,2と同様に、従来よりも信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を行うことができ、且つ電源電圧線の電圧変動を補償可能な発光表示装置であって、実施形態1,2とは異なる形態について説明する。
なお、本実施形態に係る発光表示装置の全体構成は、実施形態2の図5における画素200を画素300に置き換えたものとする。
図7Aに示す画素300には、P型TFTであるトランジスタ301,302,305,306,307,308,309と、容量素子303,304と、発光素子310とが設けられている。
ただし、本発明に適用可能なトランジスタはP型TFTに限定されるものではなく、N型TFTを用いてもよい。
ここで、トランジスタ307は、初期化TFTである。
また、トランジスタ308は、駆動TFTである。
そして、本実施形態においても、実施形態1にて説明したように、初期化TFTは駆動TFTよりも抵抗を大きくすることが好ましく、具体的には初期化TFTのチャネル長Lを駆動TFTのチャネル長Lよりも長くし、且つ初期化TFTのチャネル幅Wを駆動TFTのチャネル幅Wよりも短くすることで、初期化TFTの破壊を防止する。
なお、Δdropは、高電圧電源線の電圧変動値である。
ここでは、高電圧電源線の電源電圧VDDの電圧値としては3Vを例示し、初期化電圧Viniとしては−4Vを例示し、低電圧電源線の電源電圧VSSとしては−2Vを例示することができる。
なお、Δdropは、高電圧電源線の電圧変動値である。
第1ノードN1は、トランジスタ301のソースドレインの一方と、トランジスタ302のソースドレインの一方と、容量素子303の一方の電極とに接続されたノードである。
第2ノードN2は、容量素子303の他方の電極と、容量素子304の一方の電極と、トランジスタ305のソースドレインの一方とに接続されたノードである。
第3ノードN3は、容量素子304の他方の電極と、トランジスタ306のソースドレインの一方と、トランジスタ308のゲートとに接続されたノードである。
第4ノードN4は、トランジスタ306のソースドレインの他方と、トランジスタ308のソースドレインの一方と、トランジスタ309のソースドレインの一方とに接続されたノードである。
第5ノードN5は、トランジスタ307のソースドレインの一方と、トランジスタ309のソースドレインの他方と、発光素子310のアノードとに接続されたノードである。
図7Bは、図7Aに示す画素300の画素回路の動作を説明するタイミングチャートである。
期間t1は、前フレームの発光期間であり、期間t2は、容量素子及び発光素子のリセット期間であり、期間t3は、発光素子のリセット、センシング及び書き込み期間であり、期間t4は、待機期間であり、期間t5は、容量接続期間であり、期間t6は、現フレームの発光期間である。
また、図7Bに示すようにデータ線Dataの電圧は、映像に応じてV(L)からV(H)の範囲内で段階的に可変であり、第nの走査線Scan(n)、第n−1の発光制御線EM(n−1)及び第nの発光制御線EM(n)の電圧は、V(L),V(H)のいずれかである。
P型TFTを使用する場合には、V(L)がオン信号であり、V(H)がオフ信号である。
ここで、各々の配線におけるV(L),V(M),V(H)の大小関係は、V(L)<V(M)<V(H)である。
このような電圧とすることで、期間t2では、トランジスタ302がオフし、トランジスタ301,305,306,307,308,309がオンする。
このようにして期間t2では、第3ノードN3、第4ノードN4及び第5ノードN5が初期化電圧線に接続されて初期化電圧Viniとなる。
このような電圧とすることで、期間t3では、トランジスタ302,309がオフし、トランジスタ301,305,306,307がオンする。
そして、トランジスタ308もオンするが、トランジスタ308においてはVgs=Vthとなりソースドレイン間に電流が流れなくなるまで、第4ノードN4が充電される。
ここで、Vgsはトランジスタ308のソースを基準としたゲートソース間電圧であり、Vthはトランジスタ308のしきい値電圧である。
このようにして期間t3では、第1ノードN1の電圧はデータ線Dataの電圧Vdataとなり、第4ノードN4の電圧はVDD−Δdrop+Vthとなり、容量素子303の電圧はV303=(VDD−Δdrop)−Vdataとなり、容量素子304の電圧はV304=Vthとなる。
このような電圧とすることで、期間t4では、トランジスタ301,302,305,306,307,308,309がオフする。
期間t4では、容量素子303の電圧はV303=(VDD−Δdrop)−Vdataであり、容量素子304の電圧はV304=Vthである。
このような電圧とすることで、期間t5では、トランジスタ301,305,306,307,308,309がオフし、トランジスタ302がオンする。
このような電圧とすることで、期間t6では、トランジスタ301,305,306,307,308がオフし、トランジスタ302,309がオンする。
これにより、蓄積された電荷が第4ノードN4及び第5ノードN5を介して発光素子310のアノードに流れ、発光素子310が発光する。
このとき、駆動トランジスタであるトランジスタ308において、Vgs=−Vdata+Vth+Viniである。
このように、発光時の駆動トランジスタのゲートソース間電圧に電圧電源線の電圧変動が含まれていないため、電源電圧線の電圧変動を補償することができる。
そのため、本実施形態においても、従来よりも信号の数及び固定電圧の数を抑えつつ、発光素子のアノード及び補助容量の初期化を行うことができ、且つ電源電圧線の電圧変動を補償可能な発光表示装置を得ることができる。
従って、従来よりも安定して高品質な表示が可能な発光表示装置を得ることができる。
11 制御部
12 データ線駆動回路
13 発光制御線及び走査線駆動回路
14 電源線及び初期化電圧線制御回路
100,200,300 画素
101,102,105,106,106a,107,107a,108,201,202,203,206,207,208,209,301,302,305,306,307,308,309 トランジスタ
103,104,204,205,303,304 容量素子
109,210,310 発光素子
160 基板
161,168 半導体層
162,167 絶縁層
163A,163B 開口部
164A,164B,166 第1の電極層
165,169A,169B 第2の電極層
Claims (6)
- 複数の画素がマトリクス状に配置された発光表示装置であって、
前記複数の画素の各々は、
アノードとカソードとの間に発光層が設けられた発光素子と、
前記発光素子の前記アノードにソースドレインの一方が接続されたエミッショントランジスタと、
前記エミッショントランジスタのソースドレインの他方にソースドレインの一方が接続された駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタのゲートと、前記駆動トランジスタのソースドレインの一方と、前記発光素子の前記アノードとを同時に固定電圧の初期化電圧線に接続可能とする初期化トランジスタとを備え、
前記初期化トランジスタは、前記駆動トランジスタよりも抵抗が大きい発光表示装置。 - 第1の走査線にゲートが接続され、第1ノードにソースドレインの一方が接続され、データ線にソースドレインの他方が接続された第1トランジスタと、
第2の走査線にゲートが接続され、前記第1ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された第2トランジスタと、
前記第1ノードに一方の電極が接続され、第1電源線に他方の電極が接続された第1容量素子と、
前記第1ノードに一方の電極が接続され、第2ノードに他方の電極が接続された第2容量素子と、
前記第2の走査線にゲートが接続され、前記第2ノードにソースドレインの一方が接続され、第3ノードにソースドレインの他方が接続された第3トランジスタと、
前記第2の走査線にゲートが接続され、第4ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された前記初期化トランジスタである第4トランジスタと、
前記第2ノードにゲートが接続され、前記第3ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第1電源線にソースドレインの他方が接続された前記駆動トランジスタである第5トランジスタと、
発光制御線にゲートが接続され、前記第3ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第4ノードにソースドレインの他方が接続された前記エミッショントランジスタである第6トランジスタと、
前記第4ノードに前記アノードが接続され、第2電源線にカソードが接続された前記発光素子とを備え、
前記第2の走査線は、前記第1の走査線の2列前の走査線であり、
前記第1電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の大きい高電圧電源線であり、前記第2電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の小さい低電圧電源線である請求項1に記載の発光表示装置。 - 走査線にゲートが接続され、第1ノードにソースドレインの一方が接続され、データ線にソースドレインの他方が接続された第1トランジスタと、
前記走査線にゲートが接続され、第2ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された第2トランジスタと、
第1発光制御線にゲートが接続され、前記第1ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第2ノードにソースドレインの他方が接続された第3トランジスタと、
前記第2ノードに一方の電極が接続され、第3ノードに他方の電極が接続された第1容量素子と、
前記第1ノードに一方の電極が接続され、第1電源線に他方の電極が接続された第2容量素子と、
前記走査線にゲートが接続され、前記第3ノードにソースドレインの一方が接続され、第4ノードにソースドレインの他方が接続された第4トランジスタと、
前記走査線にゲートが接続され、第5ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された第5トランジスタと、
前記第3ノードにゲートが接続され、前記第4ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第1電源線にソースドレインの他方が接続された前記駆動トランジスタである第6トランジスタと、
第2発光制御線にゲートが接続され、前記第4ノードにソースドレインの一方が接続され、第5ノードにソースドレインの他方が接続された第7トランジスタと、
前記第5ノードに前記アノードが接続され、第2電源線にカソードが接続された前記発光素子とを備え、
前記第1発光制御線は、前記第2発光制御線の1列前の発光制御線であり、
前記第1電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の大きい高電圧電源線であり、前記第2電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の小さい低電圧電源線である請求項1に記載の発光表示装置。 - 走査線にゲートが接続され、第1ノードにソースドレインの一方が接続され、データ線にソースドレインの他方が接続された第1トランジスタと、
第1発光制御線にゲートが接続され、前記第1ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された第2トランジスタと、
前記第1ノードに一方の電極が接続され、第2ノードに他方の電極が接続された第1容量素子と、
前記第2ノードに一方の電極が接続され、第3ノードに他方の電極が接続された第2容量素子と、
前記走査線にゲートが接続され、前記第2ノードにソースドレインの一方が接続され、第1電源線にソースドレインの他方が接続された第3トランジスタと、
前記走査線にゲートが接続され、前記第3ノードにソースドレインの一方が接続され、第4ノードにソースドレインの他方が接続された第4トランジスタと、
前記走査線にゲートが接続され、第5ノードにソースドレインの一方が接続され、前記初期化電圧線にソースドレインの他方が接続された第5トランジスタと、
前記第3ノードにゲートが接続され、前記第4ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第1電源線にソースドレインの他方が接続された前記駆動トランジスタである第6トランジスタと、
第2発光制御線にゲートが接続され、前記第4ノードにソースドレインの一方が接続され、前記第5ノードにソースドレインの他方が接続された第7トランジスタと、
前記第5ノードに前記アノードが接続され、第2電源線にカソードが接続された前記発光素子とを備え、
前記第1発光制御線は、前記第2発光制御線の1列前の発光制御線であり、
前記第1電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の大きい高電圧電源線であり、前記第2電源線は、前記初期化電圧線よりも電圧の小さい低電圧電源線である請求項1に記載の発光表示装置。 - 前記初期化トランジスタのチャネル層では、前記駆動トランジスタのチャネル層よりも電流方向の長さに対する幅の比が小さい請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の発光表示装置。
- 前記初期化トランジスタのチャネル長は前記駆動トランジスタのチャネル長よりも長く、
前記初期化トランジスタのチャネル幅は前記駆動トランジスタのチャネル幅よりも短い請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の発光表示装置。
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