JP2020088296A - 印刷システムおよび印刷方法 - Google Patents
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Abstract
Description
20 基板
20a 電極パターン
20b レジスト
20c シルク
22 マスク
22b 開口
D 距離
Ra アスペクト比
Claims (11)
- 基板に半田を印刷する印刷システムであって、
複数の開口が形成されたマスクを介して、前記基板に半田を印刷する印刷装置と、
前記基板に印刷された半田を検査する検査装置と、
前記マスクに形成された前記複数の開口に関するデータに基づいて、印刷難易度が高い少なくとも一つの開口を特定する特定部と、
前記特定された開口を介して印刷された半田の検査結果に基づいて印刷不良の予兆を判定する予兆判定部を有する、印刷システム。 - 請求項1に記載の印刷システムであって、さらに、
前記印刷装置および前記検査装置と通信ネットワークを介して接続されるとともに、前記検査装置から検査結果を受信する管理装置を有し、
前記管理装置は、前記特定部と、前記予兆判定部を有する、印刷システム。 - 請求項2に記載の印刷システムであって、
前記検査装置は、全ての前記複数の開口を介して印刷された半田の検査を行い、
前記予兆判定部は、前記検査装置による検査結果から、前記特定部により特定された前記開口を介して印刷された半田の検査結果を抽出して印刷不良の予兆を判定する、印刷システム。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載の印刷システムであって、
前記特定部は、前記複数の開口のそれぞれについてアスペクト比を求め、前記アスペクト比が所定値よりも高い開口を印刷難易度が高いと評価する、印刷システム。 - 請求項1から4のいずれか一項に記載の印刷システムであって、
前記特定された開口を介して印刷された半田の検査結果は、少なくとも一つの印刷パラメータを含み、
前記予兆判定部は、前記印刷パラメータを所定値と比較して印刷不良の予兆を判定する、印刷システム。 - 請求項1から5のいずれか一項に記載の印刷システムであって、
前記予兆判定部は、印刷不良の予兆があると判定した場合、前記印刷装置に対して、前記マスクのクリーニングおよび印刷条件の変更のうち少なくとも1つを指示する、印刷システム。 - 基板に半田を印刷する印刷方法であって、
複数の開口が形成されたマスクを介して、前記基板に半田を印刷する印刷工程と、
前記基板に印刷された半田を検査する検査工程と、
前記マスクに形成された前記複数の開口に関するデータに基づいて、印刷難易度が高い少なくとも一つの開口を特定する特定工程と、
前記特定された開口を介して印刷された半田の検査結果に基づいて印刷不良の予兆を判定する予兆判定工程とを含む、印刷方法。 - 請求項7に記載の印刷方法であって、
前記検査工程において、全ての前記複数の開口を介して印刷された半田の検査を行い、
前記予兆判定工程において、前記検査装置による検査結果から、前記開口特定部により特定された前記開口を介して印刷された半田の検査結果を抽出して印刷不良の予兆を判定する、印刷方法。 - 請求項8に記載の印刷方法であって、
前記特定工程において、前記複数の開口のそれぞれについてアスペクト比を求め、前記アスペクト比が所定値よりも高い開口を印刷難易度が高いと評価する、印刷方法。 - 請求項7から9のいずれか一項に記載の印刷方法であって、
前記特定された開口を介して印刷された半田の検査結果は、少なくとも一つの印刷パラメータを含み、
前記予兆判定工程において、前記印刷パラメータと所定値を比較して印刷不良の予兆を判定する、印刷方法。 - 請求項7から10のいずれか一項に記載の印刷方法であって、
前記予兆判定工程において、印刷不良の予兆があると判定した場合、前記印刷装置に対して、前記マスクのクリーニングおよび印刷条件の変更のうち少なくとも1つを指示する、印刷方法。
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WO2022024326A1 (ja) * | 2020-07-30 | 2022-02-03 | 株式会社Fuji | 印刷品質管理システムおよび印刷品質管理方法 |
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