JP4969664B2 - 半田印刷検査装置及び半田印刷システム - Google Patents
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Description
前記基板に対し光を照射可能な照射手段と、
前記光の照射された基板を撮像可能な撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された画像データに基づき、2以上の前記ランドと接する半田ブリッジを検出可能な半田ブリッジ検出手段と、
1つの前記半田ブリッジと接する2以上のランド又は当該ランドに対応して設定される半田印刷領域若しくは半田検査枠のうち、最も遠い位置関係にある2つのランド同士又は半田印刷領域同士若しくは半田検査枠同士を抽出する抽出手段と、
前記抽出された2つのランド同士又は半田印刷領域同士若しくは半田検査枠同士の間の最短距離をブリッジ距離として算出する距離算出手段と、
前記ブリッジ距離が許容範囲内であるか否かを判定する距離判定手段と、
前記ブリッジ距離が許容範囲内でないと判定した場合に、所定の重欠陥処理を実行する重欠陥処理手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
前記半田ブリッジ検出手段は、前記設計データを基に前記半田ブリッジを検出するためのブリッジ検査枠を設定することを特徴とする手段1に記載の半田印刷検査装置。
手段1乃至3のいずれかに記載の半田印刷検査装置とを備えた半田印刷システムであって、
前記重欠陥処理手段は、前記重欠陥処理として、前記半田印刷機に対し所定の異常信号を出力し、
前記半田印刷機は、前記異常信号を入力した場合には、所定の処理を実行することを特徴とする半田印刷システム。
Claims (4)
- 電子部品を実装するための複数のランドを有した基板上に印刷された半田を検査するための半田印刷検査装置であって、
前記基板に対し光を照射可能な照射手段と、
前記光の照射された基板を撮像可能な撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された画像データに基づき、2以上の前記ランドと接する半田ブリッジを検出可能な半田ブリッジ検出手段と、
1つの前記半田ブリッジと接する2以上のランド又は当該ランドに対応して設定される半田印刷領域若しくは半田検査枠のうち、最も遠い位置関係にある2つのランド同士又は半田印刷領域同士若しくは半田検査枠同士を抽出する抽出手段と、
前記抽出された2つのランド同士又は半田印刷領域同士若しくは半田検査枠同士の間の最短距離をブリッジ距離として算出する距離算出手段と、
前記ブリッジ距離が許容範囲内であるか否かを判定する距離判定手段と、
前記ブリッジ距離が許容範囲内でないと判定した場合に、所定の重欠陥処理を実行する重欠陥処理手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。 - 前記基板の製造に係る各種設計データを記憶する記憶手段を備え、
前記半田ブリッジ検出手段は、前記設計データを基に前記半田ブリッジを検出するためのブリッジ検査枠を設定することを特徴とする請求項1に記載の半田印刷検査装置。 - 前記半田ブリッジの検出数を、前記ブリッジ距離の距離別に表示可能な表示手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の半田印刷検査装置。
- 半田の印刷を行う半田印刷機と、
請求項1乃至3のいずれかに記載の半田印刷検査装置とを備えた半田印刷システムであって、
前記重欠陥処理手段は、前記重欠陥処理として、前記半田印刷機に対し所定の異常信号を出力し、
前記半田印刷機は、前記異常信号を入力した場合には、所定の処理を実行することを特徴とする半田印刷システム。
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