JP2018196920A - 切削装置 - Google Patents

切削装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018196920A
JP2018196920A JP2017102601A JP2017102601A JP2018196920A JP 2018196920 A JP2018196920 A JP 2018196920A JP 2017102601 A JP2017102601 A JP 2017102601A JP 2017102601 A JP2017102601 A JP 2017102601A JP 2018196920 A JP2018196920 A JP 2018196920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
unit
cutting
blade
edge detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017102601A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6932436B2 (ja
Inventor
剛史 笠井
Takeshi Kasai
剛史 笠井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2017102601A priority Critical patent/JP6932436B2/ja
Priority to KR1020180053514A priority patent/KR102388222B1/ko
Priority to TW107117330A priority patent/TWI774771B/zh
Priority to CN201810493357.6A priority patent/CN108943444B/zh
Publication of JP2018196920A publication Critical patent/JP2018196920A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6932436B2 publication Critical patent/JP6932436B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D1/00Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor
    • B28D1/22Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor by cutting, e.g. incising
    • B28D1/24Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor by cutting, e.g. incising with cutting discs
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0058Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/02Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by rotary tools, e.g. drills
    • B28D5/022Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by rotary tools, e.g. drills by cutting with discs or wheels
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D7/00Accessories specially adapted for use with machines or devices of the preceding groups
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67259Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mining & Mineral Resources (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Confectionery (AREA)
  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

【課題】刃先検出ユニットが汚染された切削装置のセットアップ工程の可否を判定する。【解決手段】刃先検出ユニット40は、発光部50及び受光部52の間に切削ブレード18aが進入した状態で発光部から光を放射し、前記光のうち切削ブレードにより遮蔽されずに受光部に到達した光を受光し、光の受光量から切削ブレードの刃先の下端の切り込み方向における位置を検出する刃先検出機能を有し、発光部及び受光部の間に切削ブレードが進入していない状態で、受光部に受光された光の受光量が閾値に達しているか否かを判定する受光量判定部54と、光の受光量が閾値に達していないと受光量判定部が判定する場合に、切削ブレードの切り込み送り方向における位置と、受光部に到達する光の受光量と、の関係を検出し、刃先検出ユニットが刃先検出機能を発揮できるか否かを判定する刃先検出可否判定部56と、を備える。【選択図】図2

Description

本発明は、半導体ウェーハやパッケージ基板、セラミックス基板、ガラス基板等の被加工物を切削する切削装置に関する。
半導体ウェーハやパッケージ基板、セラミックス基板、ガラス基板等の表面は、格子状に配列された複数の分割予定ラインで区画され、区画された各領域にはIC等のデバイスが形成される。半導体ウェーハや基板等の被加工物が最終的に該分割予定ラインに沿って分割されると個々のデバイスチップが形成される。
被加工物の分割には、円環状の切削ブレードを備える切削装置が用いられる。該切削装置では、該切削ブレードを被加工物の表面に対して垂直な面内に回転させ、回転する該切削ブレードを所定の高さ位置に位置づけ、被加工物を該分割予定ラインに沿う方向に加工送りすることで切削加工が実施される。
該切削ブレードを用いて被加工物を切削する際は、該切削ブレードの刃先の下端が適切な高さ位置となるように該切削ブレードを位置付けるのが重要となる。切削装置では、被加工物を保持するチャックテーブルの保持面が該刃先の下端の高さの基準位置とされる。切削加工を実施する際は、切削ブレードの刃先の下端を該基準位置に合わせるセットアップ工程が実施される。
ところで、切削装置において切削加工を繰り返し実施すると、円環状の切削ブレードが徐々に消耗し、該切削ブレードの直径が小さくなる。すると、該切削ブレードの刃先の下端の高さが該基準位置から徐々にずれる。そのため、切削加工を繰り返し実施する間に適宜セットアップ工程が実施される。
従来、セットアップ工程は、切削ブレードを回転させながら徐々に降下させてチャックテーブルを僅かに切削させ、該切削ブレード及び該チャックテーブルの接触を検知することで実施していた。しかし、セットアップ工程を実施する度に該切削ブレードがチャックテーブルを切削するため、切削ブレードの刃先に目詰まりや目潰れが発生して切削ブレードの切削能力が低下するとの問題を生じていた。そこで、非接触式のセットアップ工程が考案された(特許文献1参照)。
該非接触式のセットアップ工程を実施する切削装置には、チャックテーブルの近傍に刃先検出ユニットが配設される。該刃先検出ユニットの本体には、上方に開口した切削ブレード進入溝が設けられ、切削ブレードの刃先の下端の高さ位置を検出するときは、該切削ブレード進入溝に切削ブレードを進入させる。
該切削ブレード進入溝の一方の側壁には発光部が設けられ、該切削ブレード進入溝の他方の側壁には該切削ブレード進入溝を挟んで該発光部に対向する位置に受光部が設けられる。該発光部は光ファイバー等を介して光源に接続され、該光源を作動させると該発光部から光が放射される。該受光部には光ファイバー等を介して光電変換部が接続されており、該受光部に到達した光は該光電変換部で受光される。そして、光電変換部からは受光量に応じた電気信号等が出力される。
該発光部と、該受光部と、は略同一の高さ位置に設けられる。該高さ位置は、セットアップ工程において切削ブレードが所定の高さ位置に位置付けられたときの該切削ブレードの刃先の下端付近の高さ位置である。
該非接触式のセットアップ工程では、該刃先検出ユニットの該光源を作動させて発光部から受光部に向けて光を放射させ、該受光部に到達した光を光電変換部で受光して電気信号に変換する。そして、受光部から光を放射させた状態で、切削ブレードを該切削ブレード進入溝に進入させる。
すると、発光部から放射された光の一部が該切削ブレードに遮られるため、光電変換部で受光される光の受光量が低下する。切削ブレードの高さ位置によって該切削ブレードにより遮られる光の量が変化するため、該受光量により切削ブレードの高さ位置を検出できる。したがって、該刃先検出ユニットを用いると切削ブレードを所定の高さ位置に位置付ける非接触式のセットアップ工程を実施できる。
非接触式のセットアップ工程を実施するために、切削装置には、切削ブレードが所定の高さに位置付けられた際に該光電変換部で受光される光の基準の受光量が予め登録される。該非接触式のセットアップ工程では、切削ブレードを切削ブレード進入溝に向けて下降させる。セットアップ工程により該切削ブレードの位置付けられるべき所定の高さ位置は、該光電変換部における受光量が該基準の受光量に達したときの切削ブレードの高さ位置である。
特開2001−298001号公報
切削装置の稼働時間が増えると、該刃先検出ユニットの発光部や受光部に汚れ等が付着する場合がある。すると、該汚れにより光が遮られて、発光部から放射される光の強度が低下したり、受光部に到達する光の量が低下したりする場合がある。発光部や受光部が汚れたままセットアップ工程を実施すると、切削ブレードが所定の高さに位置付けられる前に該光電変換部で受光される光の受光量が該基準の受光量と一致してしまうため、該切削ブレードを所定の高さ位置に位置付けられないとの問題を生じる。
そこで、切削ブレードを該切削ブレード進入溝に進入させていない状態において該光電変換部で受光される該光の受光量を監視し、該受光量が所定の閾値を下回る時に警報を発する機能を備えた切削装置が開発された。該切削装置は、該警報を発することで該切削装置のオペレータ等に発光部や受光部の清掃を促す。
しかし、警報の意味が正しく理解されず、オペレータ等が発光部や受光部を清掃せずに、光源を不適切に操作して該発光部から放射される光の強度を上昇させる場合がある。該光電変換部で受光される光の該受光量が増大して該所定の閾値を上回ると該警報は停止する。しかし、この状態では刃先検出ユニットによる適切な刃先検出は困難である。発光部や受光部に付着した汚れの状態次第では刃先検出を実施できる可能性も考えられる。しかし、その場合でも実施される刃先検出が適切であるか否かは客観的に確認されない。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、刃先検出ユニットに汚れが付着した際に、その後のセットアップ工程が可能であるか否かを判定できる切削装置を提供することである。
本発明の一態様によると、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削する切削ブレードが装着された切削ユニットと、該切削ユニットを該チャックテーブルに対して切り込み送り方向に移動させる切り込み送りユニットと、該切削ユニットの該切り込み送り方向における位置を認識する位置認識ユニットと、発光部及び受光部を有し該切削ブレードの刃先の下端の該切り込み送り方向における位置を検出する刃先検出ユニットと、警告を発する報知ユニットと、各構成要素を制御する制御ユニットと、を備える切削装置であって、該刃先検出ユニットは、該発光部及び該受光部の間に切削ブレードが進入した状態で該発光部から光を放射し、該光のうち該切削ブレードにより遮蔽されずに該受光部に到達した光を受光し、該光の受光量から該切削ブレードの刃先の下端の該切り込み方向における位置を検出する刃先検出機能を有し、該制御ユニットは、該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で、該発光部から放射され該受光部に到達して受光された光の受光量が閾値に達しているか否かを判定する受光量判定部と、該発光部及び該受光部の間に進入する該切削ブレードの該切り込み送り方向における位置と、該発光部から放射され該切削ブレードに遮られずに該受光部に到達する光の受光量と、の基準となる関係が登録される関係登録部と、該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で、受光される光の受光量が該閾値に達していないと該受光量判定部が判定する場合に、該切削ブレードを該発光部と該受光部との間に進入させ、該切削ブレードの該切り込み送り方向における位置と、該発光部から放射され該切削ブレードに遮られずに該受光部に到達する光の受光量と、の関係を検出し、検出した該関係と、該関係登録部に登録された該基準となる関係と、を比較し、該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できるか否かを判定する刃先検出可否判定部と、を備え、該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できないと該刃先検出可否判定部が判定する場合に該報知ユニットから該刃先検出ユニットの点検を促す警告を発することを特徴とする切削装置が提供される。
なお、本発明の一態様において、該刃先検出ユニットは、該受光部に到達した光を受光し、該光の受光量に応じた電気信号を出力する光電変換部と、該発光部が放射する光の強度を調節する調光器と、を備え、該制御ユニットは、該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できると該刃先検出可否判定部が判定する場合、該調光器により該発光部から放射される光の強度を増大させ、該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で該発光部から放射され該受光部に到達し該光電変換部で受光された光の受光量を該閾値以上となるように調整してもよい。
本発明の一態様に係る切削装置には、該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で、該発光部から放射され該受光部に到達して受光された光の受光量が閾値に達しているか否かを判定する受光量判定部が備えられている。刃先検出ユニットに付着した汚れが十分に少なく該受光量が該閾値に達する場合、該受光量判定部は刃先検出ユニットによる刃先検出を適切に実施できると判定する。この場合、該切削装置では、刃先検出ユニットを用いて適切にセットアップ工程を実施できる。
また、刃先検出ユニットに付着する汚れが所定の量を超えると、該光の受光量が該閾値に届かなくなり、刃先検出ユニットの汚染が検知される。しかし、この場合においても直ちに刃先検出ユニットによる刃先検出機能が発揮できないとは判定されない。該切削装置では、刃先検出可否判定部により刃先検出ユニットの刃先検出の可否を判定する。
本発明の一態様に係る切削装置の制御ユニットは、関係登録部を有する。該関係登録部には刃先検出ユニットに汚れが付着していない場合における該切削ブレードの刃先の下端の切り込み送り方向における位置と、発光部から放射され該切削ブレードに遮られずに該受光部に到達して光電変換部で受光される光の受光量と、の基準となる関係が登録されている。
該刃先検出ユニットの発光部または受光部が全体に渡って概ね均一に汚れている状態では、該切削ブレードの刃先の下端の切り込み深さ方向における位置と、該切削ブレードに遮られずに受光される光の受光量と、の関係が該基準となる関係に類似した関係となる。この場合、例えば、該発光部から放射される光の強度が増大するように発光部に接続された光源を調整することで、該刃先検出ユニットが汚染されていない場合と同様に刃先検出ユニットが刃先検出機能を発揮できる。
その一方で、発光部や受光部が局所的に汚染された状態であると、該切削ブレードの刃先の下端の切り込み深さ方向における位置と、該切削ブレードに遮られずに受光される光の受光量と、の関係が該基準となる関係に類似しない。すると、発光部から放射される光の強度を増大させても、該刃先検出ユニットが刃先検出機能を発揮できない。
そこで、該切削装置の制御ユニットに備えられた刃先検出可否判定部が、切り込み深さ方向における刃先の下端の位置と、該受光部に到達する光の受光量と、の関係が該基準となる関係に類似しているか否かを判断する。
刃先検出可否判定部は、該両者が類似していると判断される場合に、該刃先検出ユニットが刃先検出機能を発揮できると判定する。この場合、発光部から放射される光の強度を調整して刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できる状態にする。その一方で、刃先検出可否判定部が、該刃先検出ユニットが刃先検出機能を発揮できないと判定する場合、切削装置の制御ユニットは報知ユニットに警告を発せさせ、切削装置のオペレータ等に該刃先検出ユニットの清掃の必要性について報知できる。
該切削装置では、刃先検出ユニットに汚れが付着している場合でも切削ブレードの刃先検出が可能である場合に、刃先検出が可能であることが客観的に確認された上で刃先検出を実施できるため、信頼性の高いセットアップ工程を実施できる。また、刃先検出ユニットに汚れが付着していても刃先検出が可能である場合、直ちに刃先検出ユニットを清掃しなくてもよい。例えば、切削装置のメンテナンス等のタイミングに合わせて清掃を実施することで、切削装置の停止時間を少なくして加工効率を上げることができる。
したがって、本発明の一態様によると、刃先検出ユニットに汚れが付着した際に、その後のセットアップ工程が可能であるか否かを判定できる切削装置が提供される。
切削装置を模式的に示す斜視図である。 図2(A)は、刃先検出ユニットを模式的に示す斜視図であり、図2(B)は、切削ユニットと、刃先検出ユニットと、制御ユニットと、を模式的に示す概念図である。 図3(A)は、表示部の表示の一例を模式的に示す図であり、図3(B)は、切削ブレードの下降時間と光電変換部の出力電圧との関係を模式的に示す図である。 図4(A)は、汚れが付着していない受光部と切削ブレードとを模式的に示す側面図であり、図4(B)は、汚れが付着している受光部と切削ブレードとを模式的に示す側面図である。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。まず、図1を用いて、本実施形態に係る切削装置について説明する。図1は、シリコン、SiC(シリコンカーバイド)、若しくは、その他の半導体等の材料、または、サファイア、ガラス、石英等の材料からなる略円板状の基板等の被加工物を切削する切削装置2である。
被加工物の表面は格子状に配列された複数の分割予定ラインで区画されており、区画された各領域にはIC等のデバイスが形成されている。最終的に、被加工物が分割予定ラインに沿って分割されることで、個々のデバイスチップが形成される。例えば、被加工物は、環状のフレームに張られたテープに保持された状態で切削加工される。被加工物が適切に切削加工される場合、後述の切削ブレードの刃先の下端は該テープに達する。
図1に示す通り、該切削装置2は、各構成要素を支持する装置基台4を備えている。装置基台4の中央上部には、X軸移動テーブル6と、該X軸移動テーブル6をX軸方向(加工送り方向)に移動させるX軸移動機構と、X軸移動機構を覆う排水路20と、が設けられている。該X軸移動機構は、X軸方向に平行な一対のX軸ガイドレール12を備えており、X軸ガイドレール12には、X軸移動テーブル6がスライド可能に取り付けられている。
X軸移動テーブル6の下面側には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレール12に平行なX軸ボールねじ14が螺合されている。X軸ボールねじ14の一端部には、X軸パルスモータ16が連結されている。X軸パルスモータ16でX軸ボールねじ14を回転させると、移動テーブル6はX軸ガイドレール12に沿ってX軸方向に移動する。
X軸移動テーブル6上には、被加工物を吸引、保持するためのチャックテーブル8が設けられている。チャックテーブル8は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、チャックテーブル8の上面に垂直な回転軸の周りに回転可能である。また、チャックテーブル8は、上述したX軸移動機構によりX軸方向に送られる。
チャックテーブル8の表面(上面)は、被加工物を吸引、保持する保持面8aとなる。この保持面8aは、チャックテーブル8の内部に形成された流路(不図示)を介して吸引源(不図示)に接続されている。該保持面8aの周囲には、テープを介して該被加工物を保持する環状のフレームを固定するためのクランプ10が配設されている。
装置基台4の上面には、被加工物を切削する2つの切削ユニット18を支持する支持構造22が、X軸移動機構を跨ぐように配置されている。支持構造22の前面上部には、2つの切削ユニット18をそれぞれY軸方向(割り出し送り方向)及びZ軸方向に移動させる切削ユニット移動機構が設けられている。
切削ユニット移動機構は、支持構造22の前面に配置されY軸方向に平行な一対のY軸ガイドレール24を備えている。Y軸ガイドレール24には、切削ユニット18のそれぞれに対応する2つのY軸移動プレート26がスライド可能に取り付けられている。それぞれのY軸移動プレート26の裏面側(後面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Y軸ガイドレール24に平行なY軸ボールねじ28が螺合されている。
Y軸ボールねじ28の一端部には、Y軸パルスモータ28aが連結されている。Y軸パルスモータ28aでY軸ボールねじ28を回転させると、対応するY軸移動プレート26は、Y軸ガイドレール24に沿ってY軸方向に移動する。Y軸移動プレート26の表面(前面)には、それぞれ、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール30が設けられている。それぞれのZ軸ガイドレール30には、Z軸移動プレート32がスライド可能に取り付けられている。
Z軸移動プレート32の裏面側(後面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール30に平行なZ軸ボールねじ34が螺合されている。Z軸ボールねじ34の一端部には、Z軸パルスモータ36が連結されている。Z軸パルスモータ36でZ軸ボールねじ34を回転させれば、Z軸移動プレート32は、Z軸ガイドレール30に沿ってZ軸方向(切り込み送り方向)に移動する。
2つのZ軸移動プレート32のそれぞれの下部には、被加工物を加工する切削ユニット18と、チャックテーブル8に保持された被加工物を撮像できる撮像ユニット(カメラ)38と、が固定されている。Y軸移動プレート26をY軸方向に移動させれば、切削ユニット18及び撮像ユニット38はY軸方向(割り出し送り方向)に移動し、Z軸移動プレート32をZ軸方向に移動させれば、切削ユニット18及び撮像ユニット38はZ軸方向(切り込み送り方向)に移動する。
切削ユニット18は、Y軸方向に平行な回転軸を構成するスピンドル(不図示)の一端側に装着された円環状の切削ブレード18a(図2(B)参照)を備えている。スピンドルの他端側にはモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、スピンドルに装着された切削ブレード18aを回転できる。切削ブレード18aは、円盤状の基台を有している。基台の中央部には、この基台を貫通する略円形の装着穴が設けられている。基台の外周部には、被加工物に切り込ませるための環状の切り刃が固定されている。
切削装置2は、切削ユニットの切り込み送り方向における位置を認識する位置認識ユニットをさらに備える。切削装置2は、該切削ブレード18aを切り込み送り方向に移動させて所定の高さ位置に位置付け、該切削ブレード18aを回転させる。そして、X軸移動機構を作動させてチャックテーブル8を加工送り方向に移動させ被加工物に切り込ませることで、該被加工物を切削できる。
切削時には、該切削ブレード18aの刃先の下端18bが被加工物の裏面に貼着されたテープに達するように、該位置認識ユニットを用いて該切削ブレード18aを所定の高さに位置付ける。
切削装置2は、さらに、制御ユニット46を備えている。制御ユニット46は、切削ユニット18、チャックテーブル8、各移動機構、撮像ユニット38、刃先検出ユニット40(後述)等の切削装置2の各構成要素を制御する機能を有する。制御ユニット46の機能は、例えば、装置制御用コンピュータのソフトウェアとして実現される。
また、図1に示す通り、切削装置2は、タッチパネル付きディスプレイパネル等でなる表示部42を有する。該表示部42は、制御ユニット46に電気的に接続されている。該切削装置2のオペレータ等は該タッチパネルを用いて制御ユニット46に加工条件等の情報を入力できる。該表示部42は、情報等の入力や切削装置2の操作のためのインターフェース画像を表示する。さらに、切削加工の結果、制御ユニット46における判定の結果、及び、各種の警告等を表示する。
また、切削装置2の上部には、該制御ユニット46に電気的に接続された警報ランプ44が配設される。該警報ランプ44は、例えば、緑色のランプと、赤色のランプと、を有する。制御ユニット46は、切削装置2が正常な稼働状況にあるときは該緑色のランプを点灯させて、切削装置2が正常であることをオペレータ等に報知する。その一方で、切削装置2に何等かの問題が生じたときには、該制御ユニットは赤色のランプを点灯させて、その旨を該オペレータ等に報知する。
該表示部42及び警報ランプ44は、切削装置2のオペレータに警告を発する報知ユニットとして機能する。
切削装置2の切削ユニット18の近傍には、刃先検出ユニット40が配設されている。該刃先検出ユニット40を用いると、切削ブレード18aの刃先の下端18b(図2(B)参照)を適切な高さ位置(切り込み送り方向における位置)に位置付けるためのセットアップ工程を実施できる。図2(A)は、刃先検出ユニット40を模式的に示す斜視図であり、図2(B)は、切削ユニット18と、刃先検出ユニット40と、制御ユニット46と、を模式的に示す概念図である。
該刃先検出ユニット40の本体48には、上方に開口した切削ブレード進入溝48aが設けられ、切削ブレード18aの刃先の下端18bの高さ位置を検出するときは、該切削ブレード進入溝48aに切削ブレード18aを進入させる。
該切削ブレード進入溝48aの一方の側壁には発光部50が設けられ、該切削ブレード進入溝48aの他方の側壁には該発光部50に対向する位置に受光部52が設けられている。該発光部50には光源50aが光ファイバー等を介して接続されており、該光源50aを作動させると該発光部50から光が放射される。該光源50aには調光器50bが接続されている。該調光器50bは、光源50aの発光量を調整する機能を有する。
該受光部52には光ファイバー等を介して光電変換部52aが接続されており、受光部52に到達した光は該光電変換部52aで受光される。光電変換部52aには光センサが組み込まれており、該光電変換部52aからは受光量に応じた電気信号(例えば、電圧)が出力される。該光電変換部52aは制御ユニット46に電気的に接続されており、該電気信号を該制御ユニット46に送信する。
該発光部50と、該受光部52と、は略同一の高さ位置に設けられる。該高さ位置は、切削ブレード18aが所定の高さ位置(切り込み送り方向における位置)に位置付けられたときの該切削ブレード18aの刃先の下端18b付近の高さ位置である。該刃先検出ユニット40には、該刃先検出ユニット40の不使用時に発光部50や受光部52を保護する開閉可能なカバー48bが備えられている。刃先検出ユニット40の使用時には、予め該カバー48bを開けて、切削ブレード18aの本体48を露出させる。
本体48には、さらに、該発光部50または受光部52に向いた複数の流体噴出ノズルが配設されている。該流体噴出ノズルからエアーや水等の流体を噴出させると、該発光部50や該受光部52に付着した汚れが除去され、または、該汚れの付着が抑制される。ただし、該流体噴出ノズルを作動させても、該発光部50や該受光部52に汚れが残留する場合がある。
刃先検出ユニット40による切削ブレード18aの刃先検出時には、光源52aを作動させ切削ブレード進入溝48aの発光部50から光を放射させて、該光を受光部52で受ける。該受光部52に接続された光電変換部52aでは、受光部52で受けた光を、例えば、光センサ等により受光する。該光電変換部52aは、該光を受光量に応じた電気信号(例えば電圧)に変換して、該電気信号を制御ユニット46に送る。
切削ブレード進入溝48aに向けて切削ブレード18aを下降させると、発光部50から放射された光が徐々に切削ブレード18aにより遮られるようになり、受光部52に到達して受光される光の受光量は徐々に減少する。
そのため、光電変換部52aから出力された電気信号を制御ユニット46で解析することにより、切削ブレード18aの刃先の下端18bの高さ位置(切り込み送り方向における位置)を検出できる。そして、受光部52に到達する光の受光量が基準の受光量となるとき、制御ユニット46で検出された該刃先の下端18bの高さ位置が所定の高さ位置となる。
しかし、刃先検出ユニット40の発光部50、または、受光部52に汚れが付着すると、該汚れにより光が遮られて、発光部50から放射される光の強度が低下したり、受光部52に到達して受光される光の受光量が低下したりする場合がある。これらの場合には、切削ブレード18aが所定の高さ位置(切り込み送り方向における位置)に位置付けられる前に該受光量が該基準の受光量に達する。そのため、該切削ブレード18aが所定の高さ位置に位置付けられないとの問題を生じる。
そこで、切削ブレード18aが該切削ブレード進入溝48aに進入していない状態において、該受光部52に到達して受光される光の受光量を監視し、該受光量が所定の閾値を下回る時に報知ユニットにより警報を発することが考えられる。該警報を発することで、該切削装置2のオペレータ等に発光部50や受光部52の清掃や点検を促すことができる。しかし、警報の意味が正しく理解されずに、オペレータ等が発光部50を不適切に操作して該発光部50から発せられる光の強度を調整することが考えられる。
例えば、発光部50や受光部52がその全体にわたって概ね均一に汚れている場合には、発光部50から発せられる光の強度を適切に上昇させることで再び適切に切削ブレード18の刃先の下端18bの高さ位置を検出できる場合がある。しかし、無計画に光の強度を上昇させても、刃先検出ユニット40が適切な刃先検出を実施できる状態になるとは限らない。
また、発光部50や受光部52に付着する汚れの状態次第では、単に発光部50から放射される光の強度を上昇させるだけでは、刃先の下端18bの高さ位置と、受光部52に到達した光の受光量と、の関係が正常時の関係にならない場合がある。この場合、発光部50から放射される光の強度を調整しても、適切な刃先検出が実施される状態にはならず、刃先検出ユニット40が刃先検出をすることはできない。
そこで、本実施形態に係る切削装置2では、刃先検出ユニット40の発光部50や受光部52が汚れている場合に、刃先検出が可能であるか否かが判断される。刃先検出が可能と判断される場合には、適切に刃先検出を実施できるように発光部50から放射される光の量を調整する。また、光の発光量を調整しても適切な刃先検出が困難である場合は、その旨をオペレータ等に警告し、刃先検出ユニット40の清掃または点検を強く促す。
以下、刃先検出ユニット40による刃先検出の可否の判定を実現する制御ユニット46について説明する。該制御ユニット46は、該刃先検出ユニット40に電気的に接続された受光量判定部54と、該受光量判定部54に接続された刃先検出可否判定部56と、該刃先検出可否判定部56に接続された刃先検出部58と、を有する。
受光量判定部54は、例えば、光電変換部52aで受光された光の受光量に対応した電圧の電気信号を光電変換部52aから受信する。受光量判定部54は、発光部50から放射された光が切削ブレード18aに遮られることなく受光部52に到達するときに、該光電変換部52aから出力される該電気信号をもとに該受光量が所定の閾値に達しているか否かを判定する。判定の詳細については後述する。
制御ユニット46は、受光量判定部54に接続された閾値登録部54aを備える。該閾値登録部54aには、刃先検出ユニット40の発光部50や該受光部52に付着した汚れが十分に少なく、汚れの影響を受けずに刃先検出ユニット40による刃先検出が可能であると判定できる受光量に関する閾値が予め登録されている。受光量判定部54による判定が実施される際には、該閾値が該閾値登録部54aから読み出される。
受光量判定部54は、受光部52で受ける光の受光量が所定の閾値以上であれば刃先検出ユニット40による刃先検出をそのまま実施できると判定する。これに対して、該発光部50または受光部52に汚れ等が比較的多く付着しており該光の受光量が閾値以下となる場合、受光量判定部54は、刃先検出ユニット40による刃先検出の可否について刃先検出可否判定部56による判定が必要であると判定する。この場合、受光量判定部54は、判定結果を刃先検出可否判定部56に送る。
受光部52で受ける光の受光量が該閾値に達しない場合、受光量判定部54は、受光部52で受光される光の受光量に関する情報とともに、その旨を報知ユニット62(例えば表示部42)に送り、切削装置2のオペレータ等に知らせる。図3(A)に、表示部42による表示の例を示す。
図3(A)は、切削装置2が有する2つの切削ユニット18(Z1、Z2)のそれぞれにおいて刃先検出ユニット40の光電変換部52aで受光される光の受光量を示す表示の一例である。表示部42には、該受光部52に到達して該光電変換部52aで受光される光の受光量の、発光部50及び受光部52に汚れが付着していない状態の受光量を100%としたときの割合が表示される。
図3(A)には、Z1が有する刃先検出ユニット40の発光部50または受光部52に付着する汚れが少なく、Z2が有する刃先検出ユニット40の発光部50または受光部52に付着する汚れが比較的多い場合の表示部42の表示の例が示されている。図3(A)に示す例には、Z2では閾値登録部54aから読み込まれた閾値54bよりも光の受光量が小さいためZ2において受光量が不足していることを示す警告42bが表示部42に表示されている。
発光部50または受光部52に汚れが付着していても、該汚れの状態によっては刃先検出ユニット40による刃先検出が可能である場合があるため、刃先検出可否判定部56では、該刃先検出が可能であるか否かを判定する。以下、刃先検出可否判定部56における刃先検出可否の判定について説明する。
まず、光源50aを作動させて発光部50から光が放射されている状態で切削ブレード18aを切り込み送り方向に沿って一定の速度で下降させて、切削ブレード進入溝48aに切削ブレード18aを進入させる。刃先検出可否判定部56では、切削ブレード18aの切り込み送り方向における下降開始からの経過時間(下降時間)と、受光部52で受光される光の受光量に応じて光電変換部52aから出力される電圧(出力電圧)と、の関係を得る。該関係の一例を図3(B)に示す。
図3(B)には、発光部50または受光部52に汚れが付着していない場合における該下降時間と、該出力電圧と、の関係64aと、発光部50または受光部52に汚れが付着している場合における該下降時間と、該出力電圧と、の関係64b、64cと、が示されている。図3(B)には、縦軸が光電変換部52aから出力される電圧(出力電圧)、横軸が切削ブレードの下降開始からの経過時間(下降時間)としてそれぞれの関係が示されている。
図3(B)に示す例では、切削ブレード18aや汚れに遮られていない状態における出力電圧を5Vとする。発光部50または受光部52に汚れが付着していない状態において、所定の高さ位置(切り込み送り方向における位置)に切削ブレード18aの刃先の下端18bが位置付けられたときの基準となる出力電圧66を3Vとする。
発光部50から発せられる光の一部が切削ブレード18aの刃先の下端18bに遮られはじめるときの時間をtとし、該光のすべてが該切削ブレード18aに遮られて受光部52に到達しなくなる時間をtとする。
図4(A)及び図4(B)に、該出力電圧が基準となる出力電圧66となるときの切削ブレード18aの刃先の下端18bと、受光部52と、の位置関係を模式的に示す側面図を示す。図4(A)には、発光部50または受光部52に汚れが付着していない場合の、該刃先の下端18bの高さ位置が示されている。図4(B)には、受光部52に部分的に汚れ68が付着している場合の、該刃先の下端18bの高さ位置が示されている。
図3(B)の関係64bは、図4(B)のように、受光部52に部分的に汚れ68が付着している場合の該出力電圧と、該下降時間と、の関係を示している。該汚れ68が光を遮るため、時間tにおいて出力電圧は5Vとはならず、例えば、4Vとなる。この場合、切削ブレード18aの刃先の下端18bが所定の高さ位置に位置付けられる前に該出力電圧が基準となる出力電圧66の3Vとなる。
図4(B)に示す二点鎖線は、該汚れ68が付着していない場合に出力電圧が3Vとなるときの切削ブレード18aの刃先の位置を示している。受光部52に汚れ68が付着している場合、該位置に該刃先の下端18bが到達する前に出力電圧が3Vとなる。この場合、例えば、発光部50の光源50aに接続された調光器50bで該発光部50から放射される光の強度を大きくする調整を実施して、時間tの該出力電圧を5Vにしても、刃先検出ユニット40による適切な刃先検出は望めない。
これに対して、図3(B)に示す関係64cは、発光部50または受光部52の全面にわたって概ね均一に汚れが付着している場合の該出力電圧と、該下降時間と、の関係である。この場合、例えば、関係64cでは関係64bと同様に時間tにおける該出力電圧は4Vとなるが、該関係64cは縦軸方向に引き伸ばすと関係64aと一致する形状となる。すなわち、関係64cは、関係64aに類似しているといえる。
そのため、時間tの該出力電圧が5Vとなるように調光器50bにより該光源50aの出力を調整すると、該出力電圧と、該下降時間と、の関係が関係64aと同形となる。すると、該刃先の下端18bが所定の高さ位置となるように切削ブレード18aを位置付けられるようになる。
そこで、刃先検出可否判定部56では、受光量判定部54から刃先非検出時の該受光量が閾値に達しておらず、刃先検出可否判定部56による刃先検出可否の判定が必要であるとの判定が通知されたとき、刃先検出可否を判定する。刃先検出可否判定部56には、関係登録部56aが接続されている。関係登録部56aには、正常に刃先検出が可能であるときの該出力電圧と、該下降時間と、の基準となる関係(例えば64a)が登録されており、刃先検出可否判定部56が判定を行う際には、該基準となる関係が読み出される。
そして、切削ブレード18aを下降して得られた該出力電圧と、該下降時間と、の関係と、該関係登録部56aに登録された関係と、を比較して、両者が類似するか否かを判断する。該刃先検出可否判定部56では、類似と判断される場合に刃先検出ユニット40による刃先検出が可能であると判定する。
該刃先検出可否判定部56が、刃先検出ユニット40による刃先検出が可能となると判定するとき、該判定結果を刃先検出部58と、該調光器50bと、に送る。そして、該調光器50bにより光源50aを調整することで該発光部50から放射される光の強度を調整して、該受光部52で受光する光の受光量が該閾値登録部54aに登録された閾値を超えるようにする。
その一方で、切削ブレード18aを下降して得られた該出力電圧と、該下降時間と、の関係と、該関係登録部56aに登録された関係と、を比較して、両者が非類似であると判断される場合に、刃先検出ユニット40は刃先検出機能を発揮できないと判定する。このとき、該刃先検出可否判定部56は報知ユニット62に該判定結果を送る。そして、該報知ユニット62で該切削装置2のオペレータ等にその判定結果を報知し、刃先検出ユニット40の清掃や点検を強く促す。
刃先検出部58は、刃先検出可否判定部56から刃先検出が可能であるとの判定を受信したとき、調光器50bにより光源50aが調整された後、再度切削ブレード18aを切削ブレード進入溝48aの上方から該切削ブレード18aを進入させる。そして、該切削ブレード18aの刃先の下端18bが所定の高さに位置付けられるときの該切削ブレード18aの高さ位置を割り出すことができる。
刃先検出部58は、例えば、Z軸パルスモータ36に接続された補正部60に接続されている。該切削ブレード18aの刃先の下端18bが所定の高さに位置付けられるときの該切削ブレード18aの高さ位置に関する情報を基に、該補正部60は該Z軸パルスモータ36を制御して切削ブレード18aを該高さ位置に位置付けさせる。
本実施形態に係る切削装置2では、刃先検出ユニット40により非接触で切削ブレード18aのセットアップ工程を実施できる。本実施形態に係る切削装置2では、刃先検出ユニット40に汚れが付着した際に、その後のセットアップ工程が可能であるか否かが判定され、セットアップ工程を実施できる場合に該発光部から放射される光の強度が調整される。
そのため、刃先検出ユニット40に汚れが付着する場合でも、その汚れの状態次第では、該切削装置2は該刃先検出ユニット40の刃先検出機能を発揮することができる。この場合、刃先検出ユニット40が汚れても直ちに清掃する必要がないため、切削装置2のメンテナンス等に合わせて清掃や点検を実施することもできる。清掃等のためだけに切削装置2を停止する必要がないため、切削装置2による加工効率を上げることができる。
なお、上記実施形態では、切削装置2が2つの切削ユニットを有し、それぞれの切削ユニット18に備えられた刃先検出ユニット40によりセットアップ工程を実施する場合について説明したが、本発明の一態様はこれに限定されない。2つの切削ユニットが共通して1つの刃先検出ユニット40を使用してもよい。また、切削装置2に備えられた切削ユニット18は一つでもよい。
また、上記実施形態では、切削装置2の刃先検出ユニット40に汚れが付着した場合に、刃先検出可否を判定して、発光部50から放射される光の強度を調整する場合について説明したが、本発明の一態様はこれに限定されない。本発明の一態様に係る切削装置2では、汚れとは別の要因により光電変換部52aで受光される光の受光量が通常とは異なる状態となる場合にも、刃先検出ユニット40による切削ブレードの刃先検出を実施可能にできる場合がある。
ここで、該別の要因とは、例えば、刃先検出ユニット40の発光部50や受光部52の切削ブレード進入溝48aに露出する面に生じる損傷や、発光部50や受光部52に接続された光ファイバーの屈曲状態の変化である。これらの場合も上記実施形態と同様に、受光量判定部54で受光量が閾値に達しているか否かを判定できる。さらに、刃先検出可否判定部56を作動させて、刃先検出ユニット40による刃先検出が可能であるか否か判定でき、可能であると判定される場合に調光器50bにより光源50aを調整する。
ただし、この場合、刃先検出ユニット40の点検や清掃を実施しても受光量判定部54で判定される受光量が閾値に達しない場合や、切削ブレード18aの高さ位置と、光電変換部52aから出力される該出力電圧と、の関係が基準の関係に類似しない場合がある。すなわち、点検や清掃を実施しても刃先検出ユニット40が初期の状態に戻らない場合がある。
本発明の一態様に係る切削装置2では、そのような場合にも刃先検出ユニット40の刃先検出機能を発揮できるように刃先検出ユニット40を調整できる。まず、調光器50bにより光源50aから発出される光を調整して、光電変換部52aで受光される光の受光量を閾値以上に設定する。次に、この状態において切削ブレード18aを切削ブレード進入溝48aに進入させ、切削ブレード18aの下降時間と出力される電圧との関係を得て、該関係を新たな基準となる関係として関係登録部56aに登録する。
さらに、チャックテーブル8と、切削ブレード18aと、を接触させるセットアップ工程を実施して、該切削ブレード18aの刃先の下端を所定の高さ位置に位置付け、そのときの光電変換部52aの出力電圧を新たな基準となる出力電圧に設定する。すると、該刃先検出ユニット40は再び非接触式のセットアップ工程を実施可能できるようになる。
なお、このような刃先検出ユニット40の調整は、発光部50や受光部52に汚れが付着した場合に実施してもよい。すなわち、刃先検出可否判定部56にて、光電変換部52aの該出力電圧と、切削ブレード18aの該下降時間と、の関係と、該関係登録部56aに登録された関係と、を比較して、両者が非類似であると判断される場合に、刃先検出ユニット40の調整を実施してもよい。
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
2 切削装置
4 装置基台
6 X軸移動テーブル
8 チャックテーブル
8a 保持面
10 クランプ
12 X軸ガイドレール
14 X軸ボールねじ
16 X軸パルスモータ
18 切削ユニット
18a 切削ブレード
18b 刃先の下端
20 排水路
22 支持構造
24 Y軸ガイドレール
26 Y軸移動プレート
28 Y軸ボールねじ
28a Y軸パルスモータ
30 Z軸ガイドレール
32 Z軸移動プレート
34 Z軸ボールねじ
36 Z軸パルスモータ
38 撮像ユニット(カメラ)
40 刃先検出ユニット
42 表示モニタ
42a 受光量ゲージ
42b 警告
44 警報ランプ
46 制御ユニット
48 本体
48a 切削ブレード進入溝
48b カバー
50 発光部
50a 光源
50b 調光器
52 受光部
52a 光電変換部
54 受光量判定部
54a 閾値登録部
54b 閾値
56 刃先検出可否判定部
56a 関係登録部
58 刃先検出部
60 補正部
62 報知ユニット
64a,64b,64c 切削ブレードの下降時間と出力される電圧との関係
66 基準電圧
68 汚れ

Claims (2)

  1. 被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削する切削ブレードが装着された切削ユニットと、該切削ユニットを該チャックテーブルに対して切り込み送り方向に移動させる切り込み送りユニットと、該切削ユニットの該切り込み送り方向における位置を認識する位置認識ユニットと、発光部及び受光部を有し該切削ブレードの刃先の下端の該切り込み送り方向における位置を検出する刃先検出ユニットと、警告を発する報知ユニットと、各構成要素を制御する制御ユニットと、を備える切削装置であって、
    該刃先検出ユニットは、該発光部及び該受光部の間に切削ブレードが進入した状態で該発光部から光を放射し、該光のうち該切削ブレードにより遮蔽されずに該受光部に到達した光を受光し、該光の受光量から該切削ブレードの刃先の下端の該切り込み方向における位置を検出する刃先検出機能を有し、
    該制御ユニットは、
    該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で、該発光部から放射され該受光部に到達して受光された光の受光量が閾値に達しているか否かを判定する受光量判定部と、
    該発光部及び該受光部の間に進入する該切削ブレードの該切り込み送り方向における位置と、該発光部から放射され該切削ブレードに遮られずに該受光部に到達する光の受光量と、の基準となる関係が登録される関係登録部と、
    該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で、受光される光の受光量が該閾値に達していないと該受光量判定部が判定する場合に、該切削ブレードを該発光部と該受光部との間に進入させ、該切削ブレードの該切り込み送り方向における位置と、該発光部から放射され該切削ブレードに遮られずに該受光部に到達する光の受光量と、の関係を検出し、検出した該関係と、該関係登録部に登録された該基準となる関係と、を比較し、該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できるか否かを判定する刃先検出可否判定部と、を備え、
    該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できないと該刃先検出可否判定部が判定する場合に該報知ユニットから該刃先検出ユニットの点検を促す警告を発することを特徴とする切削装置。
  2. 該刃先検出ユニットは、
    該受光部に到達した光を受光し、該光の受光量に応じた電気信号を出力する光電変換部と、
    該発光部が放射する光の強度を調節する調光器と、を備え、
    該制御ユニットは、該刃先検出ユニットが該刃先検出機能を発揮できると該刃先検出可否判定部が判定する場合、該調光器により該発光部から放射される光の強度を増大させ、該発光部及び該受光部の間に該切削ブレードが進入していない状態で該発光部から放射され該受光部に到達し該光電変換部で受光された光の受光量を該閾値以上となるように調整することを特徴とする請求項1記載の切削装置。
JP2017102601A 2017-05-24 2017-05-24 切削装置 Active JP6932436B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017102601A JP6932436B2 (ja) 2017-05-24 2017-05-24 切削装置
KR1020180053514A KR102388222B1 (ko) 2017-05-24 2018-05-10 절삭 장치
TW107117330A TWI774771B (zh) 2017-05-24 2018-05-22 切割裝置
CN201810493357.6A CN108943444B (zh) 2017-05-24 2018-05-22 切削装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017102601A JP6932436B2 (ja) 2017-05-24 2017-05-24 切削装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018196920A true JP2018196920A (ja) 2018-12-13
JP6932436B2 JP6932436B2 (ja) 2021-09-08

Family

ID=64499348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017102601A Active JP6932436B2 (ja) 2017-05-24 2017-05-24 切削装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6932436B2 (ja)
KR (1) KR102388222B1 (ja)
CN (1) CN108943444B (ja)
TW (1) TWI774771B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114102718A (zh) * 2020-08-26 2022-03-01 Towa株式会社 切割装置以及切割品的制造方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7325203B2 (ja) * 2019-03-25 2023-08-14 株式会社ディスコ 加工装置
JP7325904B2 (ja) * 2019-07-26 2023-08-15 株式会社ディスコ 切削ユニットの位置検出方法、及び切削装置
CN110744731B (zh) * 2019-10-30 2021-07-27 许昌学院 一种基于光电控制的晶片切片设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03261219A (ja) * 1990-03-09 1991-11-21 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0550363A (ja) * 1991-08-21 1993-03-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd ブレード位置検出装置及びその信頼性の判定方法
JPH0947943A (ja) * 1995-08-10 1997-02-18 Disco Abrasive Syst Ltd ブレードの非接触セットアップ手段
JP2002343745A (ja) * 2001-05-14 2002-11-29 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
US20030082995A1 (en) * 2001-11-01 2003-05-01 Motty Cohen In-situ wear measurement apparatus for dicing saw blades
JP2007158641A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Keyence Corp 光電センサ
JP2009083076A (ja) * 2007-10-03 2009-04-23 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4590058B2 (ja) 2000-04-12 2010-12-01 株式会社ディスコ 切削装置の切削ブレード検出機構
JP2009083077A (ja) * 2007-10-03 2009-04-23 Disco Abrasive Syst Ltd 切削ブレード検出機構
JP6294748B2 (ja) * 2014-04-23 2018-03-14 株式会社ディスコ 切削装置
JP6491044B2 (ja) * 2015-05-29 2019-03-27 Towa株式会社 製造装置及び製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03261219A (ja) * 1990-03-09 1991-11-21 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0550363A (ja) * 1991-08-21 1993-03-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd ブレード位置検出装置及びその信頼性の判定方法
JPH0947943A (ja) * 1995-08-10 1997-02-18 Disco Abrasive Syst Ltd ブレードの非接触セットアップ手段
JP2002343745A (ja) * 2001-05-14 2002-11-29 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
US20030082995A1 (en) * 2001-11-01 2003-05-01 Motty Cohen In-situ wear measurement apparatus for dicing saw blades
JP2007158641A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Keyence Corp 光電センサ
JP2009083076A (ja) * 2007-10-03 2009-04-23 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114102718A (zh) * 2020-08-26 2022-03-01 Towa株式会社 切割装置以及切割品的制造方法
CN114102718B (zh) * 2020-08-26 2024-01-30 Towa株式会社 切割装置以及切割品的制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108943444A (zh) 2018-12-07
KR102388222B1 (ko) 2022-04-18
TWI774771B (zh) 2022-08-21
JP6932436B2 (ja) 2021-09-08
CN108943444B (zh) 2021-11-19
KR20180128834A (ko) 2018-12-04
TW201901787A (zh) 2019-01-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102388222B1 (ko) 절삭 장치
CN107303695B (zh) 切削装置的设置方法
CN106024709B (zh) 晶片的分割方法
US20110124181A1 (en) Workpiece cutting method
JP6125867B2 (ja) 切削方法
JP7297385B2 (ja) 切削装置、及び切削ブレードの管理方法
KR102628741B1 (ko) 처리 장치
CN110039674B (zh) 切削刀具的管理方法和切削装置
JP7366493B2 (ja) 切削装置、及び切削ブレードの監視方法
JP7408306B2 (ja) 切削装置
KR102631713B1 (ko) 가공 방법
KR102551970B1 (ko) 절삭 장치의 셋업 방법
JP7058908B2 (ja) 切削装置
JP7098239B2 (ja) ノズル高さ検査方法及び切削装置
CN109501015B (zh) 切削装置
CN108987340B (zh) 扇状晶片的加工方法
JP5528245B2 (ja) 切削方法
JP2018093042A (ja) ウエーハ加工装置及びウエーハの加工方法
JP2006214896A (ja) 形状認識装置
JP2019016730A (ja) 切削装置及び被加工物の分割方法
JP2024082748A (ja) 加工装置
JP2022115618A (ja) 切削装置及び刃先検出ユニットの検査方法
TW202106441A (zh) 切削單元的位置檢測方法、及切削裝置
TW202224069A (zh) 加工裝置
JP2015047651A (ja) バイト切削装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200306

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210316

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210507

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210817

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210817

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6932436

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150