JP2018174046A - 劣化診断装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (7)
- 劣化診断対象の加熱装置を構成するヒータの正常時の特性を示す基準線を用意する第1工程と、
前記ヒータの劣化診断のための許容範囲を設定する第2工程と、
前記ヒータを制御するための制御値を取得する第3工程と、
前記第3工程で取得された制御値に従って前記ヒータに供給される電流を測定して測定値を取得する第4工程と、
前記測定値が前記許容範囲を超えると前記加熱装置が劣化したものと判定する第5工程と
を備え、
前記第1工程では、正常時の前記ヒータにおける制御値と対応する電流との関係を示すヒータ特性を近似線化して前記基準線を作成し、
前記第2工程では、前記基準線における制御値に対する電流値の上側許容値および下側許容値から前記許容範囲を設定する
ことを特徴とする劣化診断方法。 - 請求項1記載の劣化診断方法において、
前記第1工程では、前記ヒータ特性における制御値の最小値および制御値の最大値に設定点を設定し、設定した設定点を接続する直線による近似線を作成し、
前記近似線と前記ヒータ特性を示す曲線との間の前記ヒータ特性の方が小さい領域と前記ヒータ特性の方が大きい領域との各々において最大偏差を求め、
求めた2つの最大偏差が所定の許容偏差より小さい場合、前記近似線を前記基準線とし、
いずれかの最大偏差が前記許容偏差より大きい場合、
前記ヒータ特性の前記2つの最大偏差となる箇所に新たに設定点を設定し、新たに設定した設定点と既に設定してある設定点とにおいて隣り合う設定点どうしを直線で接続した新たな近似線を作成する近似線作成工程と、新たな近似線と前記ヒータ特性を示す曲線との間の前記ヒータ特性の方が小さい領域と前記ヒータ特性の方が大きい領域との各々において新たな最大偏差を求める最大偏差探索工程とを、求めた新たな最大偏差が前記許容偏差より小さくなるまで繰り返すことで、前記近似線を前記基準線とする
ことを特徴とする劣化診断方法。 - 請求項1記載の劣化診断方法において、
前記第1工程では、
正常時の前記ヒータにおいて、制御値の最小・最大の範囲内で複数の制御値を設定して設定した各制御値においてヒータ電流値を実測し、
前記実測の結果得られた各制御値と各ヒータ電流値とによる複数の設定点を用い、隣り合う設定点を直線で接続した折れ線を作成し、作成した折れ線を前記ヒータ特性を折れ線近似した基準線とする
ことを特徴とする劣化診断方法。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の劣化診断方法において、
前記第2工程では、前記制御値が大きい値ほど前記許容範囲を広く設定することを特徴とする劣化診断方法。 - 劣化診断対象の加熱装置を構成するヒータの劣化診断のための許容範囲を記憶する基準記憶部と、
前記ヒータを制御するための制御値を取得するように構成された制御値取得部と、
前記制御値取得部で取得された制御値に従って前記ヒータに供給される電流を測定して測定値を取得するように構成された電流測定部と、
前記電流測定部で取得された測定値が前記許容範囲を超えると前記加熱装置が劣化したものと判定するように構成された劣化判定部と
を備え、
前記許容範囲は、前記ヒータの正常時の特性を示す基準線における制御値に対する電流値の上側許容値および下側許容値から設定されたものであり、
前記基準線は、正常時の前記ヒータにおける制御値と対応する電流との関係を示すヒータ特性を近似線化したものである
ことを特徴とする劣化診断装置。 - 請求項5記載の劣化診断装置において、
前記許容範囲は、前記制御値が大きい値ほど広く設定されていること特徴とする劣化診断装置。 - 請求項6または5記載の劣化診断装置において、
前記基準線、前記許容範囲、および前記制御値取得部で取得された制御値と前記電流測定部で取得された測定値とによる測定点が、前記制御値および前記測定値を軸とする2次元平面の座標上に配置されたグラフが表示されるように構成された表示部を備えることを特徴とする劣化診断装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | 理化工業株式会社 | 制御装置及び異常検知方法 |
CN114630454A (zh) * | 2020-12-11 | 2022-06-14 | 东京毅力科创株式会社 | 加热装置和led的控制方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002343537A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-11-29 | Omron Corp | ヒータ断線検出方法、温度調節器および熱処理装置 |
JP2007178166A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Rkc Instrument Inc | ヒータ断線検知方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2683851B2 (ja) | 1991-06-25 | 1997-12-03 | 理化工業株式会社 | 制御対象の異状検知装置 |
JP3988942B2 (ja) | 2003-03-31 | 2007-10-10 | 株式会社国際電気セミコンダクターサービス | ヒータ検査装置及びそれを搭載した半導体製造装置 |
KR20050001866A (ko) * | 2003-06-26 | 2005-01-07 | 두산중공업 주식회사 | 크레인에서 스페이스 히터 모니터링 장치 |
JP2005228732A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-08-25 | Omron Corp | 故障検出装置 |
JP2009270932A (ja) * | 2008-05-07 | 2009-11-19 | Denso Corp | ガスセンサ用ヒータの劣化判定装置 |
EP2407950A3 (en) * | 2010-07-16 | 2016-02-10 | BlackBerry Limited | Gps trace filtering |
JP5467964B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-04-09 | オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 | 電力変換制御装置および電力変換制御方法 |
US8788223B2 (en) * | 2010-10-29 | 2014-07-22 | GM Global Technology Operations LLC | Comprehensive method of electrical fluid heating system fault detection and handling |
CN103972853B (zh) * | 2013-02-05 | 2017-03-01 | 施耐德电器工业公司 | 安全保护装置和方法 |
ES2659414T3 (es) * | 2015-05-18 | 2018-03-15 | E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH | Dispositivo calentador para el calentamiento de fluidos y método para la puesta en funcionamiento de un dispositivo calentador de este tipo |
JP2017044699A (ja) * | 2015-08-25 | 2017-03-02 | 株式会社リコー | 劣化検知装置、誘導加熱装置、画像形成装置及び劣化検知方法 |
-
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002343537A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-11-29 | Omron Corp | ヒータ断線検出方法、温度調節器および熱処理装置 |
JP2007178166A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Rkc Instrument Inc | ヒータ断線検知方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | 理化工業株式会社 | 制御装置及び異常検知方法 |
JPWO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | ||
CN115004856A (zh) * | 2020-04-03 | 2022-09-02 | 理化工业株式会社 | 控制装置及异常检测方法 |
JP7266169B2 (ja) | 2020-04-03 | 2023-04-28 | 理化工業株式会社 | 制御装置及び異常検知方法 |
CN114630454A (zh) * | 2020-12-11 | 2022-06-14 | 东京毅力科创株式会社 | 加热装置和led的控制方法 |
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