JP2018037531A - 表示装置及びヘッドアップディスプレイ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光源の温度に関わらず、光出力が絶対最大定格光出力を超えることが抑制される表示装置及びヘッドアップディスプレイ装置を提供する。【解決手段】レーザー走査型表示装置５は、レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを出射するＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂと、ＬＤへの供給電流を検出する電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂと、ＬＤの温度を検出する温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂと、検出されるＬＤの温度が任意の基準温度に比べてＬＤの光出力の効率が高くなる温度にあるとき光出力制限を行い、この効率が低くなる温度にあるとき電流制限を行う制御部７０と、を備える。電流制限は制御部７０がＬＤの温度に合った電流規定値を選択してＬＤへの供給電流を前記選択した電流規定値以下に制限することである。光出力制限は制御部７０がＬＤの温度に合った光出力規定値を選択してＬＤの光出力を選択した光出力規定値以下に制限することである。【選択図】図３

Description

本発明は、表示装置及びヘッドアップディスプレイ装置に関する。

従来から、表示装置の一例として、表示光をフロントガラス等の照射部材に照射し、表示光に応じた虚像を運転者に視認させるヘッドアップディスプレイ装置（以下、ＨＵＤ装置と呼ぶ）が提案されている。

例えば、特許文献１には、光源が発するレーザー光をスクリーンに向けて走査することでスクリーン上に表示画像を生成するレーザー走査型ＨＵＤ装置が開示されている。

特開平７−２７０７１１号公報

上記レーザー走査型ＨＵＤ装置は、光源に供給される電流値をモニタし、光源の破損を抑制する観点から、そのモニタされる電流値が光源の絶対最大定格電流を超えないように制御することが一般的である。しかし、図１０に示すように、光源の温度変化によって、光源に供給される電流値が同一の場合であっても、レーザー光の光出力が変化することが知られている。例えば、光源の温度が低い場合には、光源の温度が高い場合に比べて、レーザー光の光出力は大きくなる傾向がある。そのため、上記レーザー走査型ＨＵＤ装置は、電流値が光源の絶対最大定格電流を超えないように制御したとしても、上記例では光源の温度が低い場合に、レーザー光の光出力が光源の絶対最大定格光出力を超えるおそれがあり、光源の不具合を招くおそれがある。

本発明は、上記実状を鑑みてなされたものであり、光源の温度に関わらず、光出力が絶対最大定格光出力を超えることが抑制される表示装置及びヘッドアップディスプレイ装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明に係る表示装置は、レーザー光を出射する光源と、前記光源への供給電流を検出する電流検出部と、前記光源の温度を検出する温度検出部と、前記レーザー光の光出力を検出する光出力検出部と、前記光源を安全に動作させることができる電流値に設定される電流規定値と、前記光源を安全に動作させることができる光出力に設定される光出力規定値と、がそれぞれ前記光源の異なる温度毎に記憶される記憶部と、前記温度検出部により検出される前記光源の温度が任意の基準温度に比べて前記光源の光出力の効率が高くなる温度にあるとき光出力制限を行い、前記基準温度に比べて前記光源の光出力の効率が低くなる温度にあるとき電流制限を行う制御部と、を備え、前記電流制限は、前記制御部が前記記憶部に記憶される複数の前記電流規定値のうち前記温度検出部の検出結果に基づき前記光源の温度に合った前記電流規定値を選択し、前記電流検出部により検出される前記光源への供給電流を前記選択した前記電流規定値以下に制限することであり、前記光出力制限は、前記制御部が前記記憶部に記憶される複数の前記光出力規定値のうち前記温度検出部の検出結果に基づき前記光源の温度に合った前記光出力規定値を選択し、前記光出力検出部により検出される前記光源の光出力を前記選択した前記光出力規定値以下に制限することである。

上記目的を達成するため、本発明に係るヘッドアップディスプレイ装置は、上記表示装置と、前記表示装置からの前記レーザー光を視認者まで導くリレー光学部と、を備える。

本発明によれば、光源の温度に関わらず、光出力が絶対最大定格光出力を超えることが抑制される。

本発明の一実施形態に係るＨＵＤ装置を搭載した車両を示す模式図である。 本発明の一実施形態に係るＨＵＤ装置の構成を示す概略図である。 本発明の一実施形態に係る合成レーザー光発生装置の構成を示す概略図である。 本発明の一実施形態に係る走査軌跡を示すスクリーンの平面図である。 本発明の一実施形態に係る（ａ）はＬＤ温度及び絶対最大定格電流のグラフを示す図であり、（ｂ）はＬＤ温度及び絶対最大定格光出力のグラフを示す図である。 本発明の一実施形態に係るＨＵＤ装置の電気的構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係る制御部によって実行される処理手順を示すフローチャートである。 本発明の一実施形態に係る制御部によって実行されるＲＧＢ混色計算の処理手順を示すフローチャートである。 本発明の一実施形態に係るＬＤ温度及び光出力のグラフを示す図である。 光源への供給電流及び光源の光出力のグラフを示す図である。

以下、本発明に係る表示装置を備えたヘッドアップディスプレイ（Head-Up Display；ＨＵＤ）装置の一実施形態について添付図面を参照しつつ説明する。

ＨＵＤ装置１は、図１に模式的に示すように、車両２のダッシュボード内に設けられ、表示光Ｌをウインドシールド３に向けて出射する。視認者（主に運転者）は、その視域であるアイボックス４において、ウインドシールド３に反射した表示光Ｌを受けることでウインドシールド３を介して虚像Ｗを視認可能となる。

ＨＵＤ装置１は、図２に示すように、レーザー走査型表示装置５と、リレー光学部５０と、ハウジング６０と、外光検出部９０と、を備える。レーザー走査型表示装置５は、合成レーザー光発生装置１０と、走査部の一例であるＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）スキャナ２０と、フィールドレンズ３０と、透過スクリーン４０と、制御部７０と、を備える。

ハウジング６０は、硬質樹脂等によって箱状に形成されている。ハウジング６０には、そのウインドシールド３に対向する位置に、貫通した開口部６０ａが形成されている。ハウジング６０の開口部６０ａには、湾曲板状の窓部６１が取り付けられる。窓部６１は、表示光Ｌが透過するようにアクリル等の透光性樹脂からなる。ハウジング６０の内部には、ＨＵＤ装置１の各構成が収納されている。

合成レーザー光発生装置１０は、制御部７０による制御のもと、Ｒ（レッド），Ｇ（グリーン），Ｂ（ブルー）の三原色のレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを合波して１本の合成レーザー光ＣをＭＥＭＳスキャナ２０に向けて出射する。本例では、合成レーザー光発生装置１０は、制御部７０による制御のもと、レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂのうち何れか一つを選択的に出射し、この出射するレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを高速で切り替えることで所望の色の合成レーザー光Ｃを出射する、いわゆるフィールドシーケンシャル方式にて動作する。詳しくは、合成レーザー光発生装置１０は、図３に示すように、レーザーダイオード（Laser Diode；ＬＤ）群１１と、集光レンズ群１２と、光合成部１４と、調光部１９と、第１の光出力検出部２６と、第２の光出力検出部１３ａと、透過板１３ｂと、反射板２７と、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂと、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂと、を備える。
上記制御方式は、フィールドシーケンシャル方式であるが、Ｒ，Ｇ，Ｂ光源を同時に出射する方式を用いても良い。また、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂを個別にしているが、単一の回路により構成するものであっても良い。

ＬＤ群１１は、図３に示すように、赤色レーザー光Ｒを発する赤色ＬＤ１１ｒと、緑色レーザー光Ｇを発する緑色ＬＤ１１ｇと、青色レーザー光Ｂを発する青色ＬＤ１１ｂとから構成される。各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂは光源の一例である。

温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂは、例えば、それぞれサーミスタからなる。温度検出部２８ｒは赤色ＬＤ１１ｒの温度を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。温度検出部２８ｇは緑色ＬＤ１１ｇの温度を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。温度検出部２８ｂは青色ＬＤ１１ｂの温度を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。

電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂは、例えば電流制限抵抗からなる。図６に示すように、電流検出部２９ｒは、赤色ＬＤ１１ｒに供給される供給電流Ｉｒを検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。電流検出部２９ｇは、緑色ＬＤ１１ｇに供給される供給電流Ｉｇを検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。電流検出部２９ｂは、青色ＬＤ１１ｂに供給される供給電流Ｉｂを検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。

集光レンズ群１２は、図３に示すように、各ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂから出射された発散光である各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを屈折させることで収束光に変換する３つの集光レンズ１２ｒ、１２ｇ、１２ｂから構成される。集光レンズ１２ｒは、赤色ＬＤ１１ｒから出射される赤色レーザー光Ｒの光路に設置される。集光レンズ１２ｇは、緑色ＬＤ１１ｇから出射される緑色レーザー光Ｇの光路に設置される。集光レンズ１２ｂは、青色ＬＤ１１ｂから出射される青色レーザー光Ｂの光路に設置される。各集光レンズ１２ｒ、１２ｇ、１２ｂからの収束光は、透過スクリーン４０上でほぼ最小ビーム径となる。

図２に示すように、外光検出部９０はフォトダイオードからなる。外光検出部９０は、外光の光強度を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。

図３に示すように、調光部１９は、合成レーザー光Ｃの透過率を調整することで出射される合成レーザー光Ｃの光量を調整する。例えば、調光部１９は、図３に示すように、第１の偏光板１５と、液晶素子１６と、第２の偏光板１７と、を備える。
第１の偏光板１５は各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光路に設置される。第１の偏光板１５は、各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂのうち自身の透過軸に沿った光のみを透過させる。
液晶素子１６は、何れも図示しない液晶層及び電極を備える。液晶素子１６は、この電極への印加電圧に応じて、液晶層の液晶分子の配列が変化することにより、各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの偏光軸の向きを変化させることができる。
なお、液晶素子１６は、ヘッドアップディスプレイ装置において、意図しない表示を避けるためにノーマリーブラックであることが望ましい。
第２の偏光板１７は、光合成部１４からの合成レーザー光Ｃの光路に設置されている。第２の偏光板１７の透過軸は、例えば、第１の偏光板１５の透過軸と直交する。第２の偏光板１７は、合成レーザー光Ｃのうち第２の偏光板１７の透過軸に沿った光のみを透過させる。調光部１９は、その液晶素子１６を通じて各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの偏光軸の向きを変化させることで、第２の偏光板１７を透過する合成レーザー光Ｃの光量を調整できる。

光合成部１４は、図３に示すように、各レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光軸を揃えることで合成レーザー光Ｃを生成する。詳しくは、光合成部１４は、ダイクロイックミラー１４ｒ，１４ｇ，１４ｂから構成される。各ダイクロイックミラー１４ｒ，１４ｇ，１４ｂは、屈折率のそれぞれ異なる誘電体の多層膜からなる。赤用ダイクロイックミラー１４ｒは、赤色レーザー光Ｒの波長領域のみを反射し、他の波長領域の光を透過させる。緑用ダイクロイックミラー１４ｇは、緑色レーザー光Ｇの波長領域のみを反射し、他の波長領域の光を透過させる。青用ダイクロイックミラー１４ｂは、青色レーザー光Ｂの波長領域のみを反射し、他の波長領域の光を透過させる。各ダイクロイックミラー１４ｒ，１４ｇ，１４ｂは、それらの反射光が一致して合成レーザー光Ｃを生成するように配置されている。

透過板１３ｂは、光合成部１４と第２の偏光板１７との間に設けられる。透過板１３ｂは、光合成部１４からの合成レーザー光Ｃの大部分を第２の偏光板１７に向けて透過させ、合成レーザー光Ｃの残り一部を第２の光出力検出部１３ａに向けて反射させる。第１の光出力検出部２６は、後述する光出力制限モードにおいて使用される。

第２の光出力検出部１３ａはフォトダイオードからなる。第２の光出力検出部１３ａは、透過板１３ｂを反射した合成レーザー光Ｃを受けて、その合成レーザー光Ｃの光出力を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。合成レーザー光Ｃは時分割されたレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂからなるため、正確には第２の光出力検出部１３ａは合成レーザー光Ｃを構成するレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力を検出する。
なお、上記制御方式は、フィールドシーケンシャル方式であるが、Ｒ，Ｇ，Ｂ光源を同時に出射する方式の場合、不可視領域を利用し、フレームごとに各Ｒ，Ｇ，Ｂの光強度を検出するものであっても良い。

反射板２７は、数％程度の透過率を有する部材からなり、合成レーザー光発生装置１０からの合成レーザー光Ｃを受ける位置に設けられる。反射板２７は、合成レーザー光Ｃの大部分をＭＥＭＳスキャナ２０に向けて反射させ、合成レーザー光Ｃの残り一部を第１の光出力検出部２６に向けて透過する。

第１の光出力検出部２６はフォトダイオードからなる。第１の光出力検出部２６は、反射板２７を透過した合成レーザー光Ｃを受けて、その合成レーザー光Ｃの光出力を検出し、その検出結果を制御部７０に出力する。第１の光出力検出部２６は、後述するＡＰＣ（Auto Power Control）制御において使用される。

ＭＥＭＳスキャナ２０は、図２に示すように、ミラー面２０ａを備え、そのミラー面２０ａを振動可能に構成される。ＭＥＭＳスキャナ２０は、ピエゾ型、電磁型及び静電型の何れが採用されてもよい。ＭＥＭＳスキャナ２０は、ミラー面２０ａを振動させることで、合成レーザー光発生装置１０が出射した合成レーザー光Ｃを透過スクリーン４０に向けて反射させつつ走査する。ＭＥＭＳスキャナ２０は、制御部７０による制御に基づき、図４に示すように、合成レーザー光Ｃを、長方板状の透過スクリーン４０の長手方向に延びる主走査方向Ｈに沿って往復運動させつつ、透過スクリーン４０の短手方向に延びる副走査方向Ｖに沿って移動させる。これにより、走査軌跡５００は、副走査方向Ｖに沿って略正弦波をなす。これにより、透過スクリーン４０の上面には、表示画像Ｍが生成される。

フィールドレンズ３０は、ＭＥＭＳスキャナ２０と透過スクリーン４０との間に設けられるとともに、ＭＥＭＳスキャナ２０で走査された合成レーザー光Ｃを、走査位置に応じた入射角で透過スクリーン４０へ入射させる。フィールドレンズ３０は、合成レーザー光Ｃの透過スクリーン４０への入射角を、透過スクリーン４０以降の光学系（リレー光学部５０、ウインドシールド３）の特性に合わせて最適化するように構成されている。

透過スクリーン４０は、例えば、マイクロレンズアレイなどの透過型の拡散性スクリーンであって、例えば、長方形板状に形成されている。詳しくは、図４に示すように、透過スクリーン４０は、その厚さ方向から見て、透過スクリーン４０の外周を囲む長方形の枠状の不可視領域５００ａと、不可視領域５００ａ内に位置する長方形の可視領域５００ｂと、を備える。透過スクリーン４０の可視領域５００ｂは、合成レーザー光Ｃが照射されたときに可視領域５００ｂからの光が透過スクリーン４０以降の光学系（リレー光学部５０、ウインドシールド３）を介してアイボックス４に到達する領域である。透過スクリーン４０の不可視領域５００ａは、合成レーザー光Ｃが照射されたときに不可視領域５００ａからの光が図示しない筐体の一部などで遮断されてユーザに到達しない領域である。透過スクリーン４０は、図４に示すように、ＭＥＭＳスキャナ２０が走査した合成レーザー光Ｃに基づき、その表面の可視領域５００ｂに表示画像Ｍを表示する。走査中において、合成レーザー光Ｃが不可視領域５００ａにある期間は、表示画像Ｍを描画しない非表示期間である。

リレー光学部５０は、図２に示すように、透過スクリーン４０とウインドシールド３との光路間に設けられ、具体的には平面ミラー５１及び拡大ミラー５２の２枚の鏡から構成される。平面ミラー５１は、平面状の全反射ミラー等であり、透過スクリーン４０を透過した表示光Ｌを拡大ミラー５２に向かって反射させる。拡大ミラー５２は、凹面鏡等であり、平面ミラー５１からの表示光Ｌをウインドシールド３に向かって反射させる。

次に、図６を参照しつつ、ＨＵＤ装置１の電気的構成について説明する。
ＨＵＤ装置１は、上述したＭＥＭＳスキャナ２０、ＬＤ群１１、制御部７０、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂ、外光検出部９０、液晶素子１６、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂ、第１及び第２の光出力検出部２６，１３ａに加えて、ＭＥＭＳドライバ２５と、液晶駆動部１６ａと、を備える。ＭＥＭＳドライバ２５は、制御部７０による制御のもと、ＭＥＭＳスキャナ２０を駆動するための駆動回路である。また、液晶駆動部１６ａは、制御部７０による制御のもと、液晶素子１６を駆動するための駆動回路である。

また、制御部７０は、図６に示すように、不揮発性のメモリ７１と、時間を計測するタイマ７２と、を備える。メモリ７１には、図５（ｂ）に示すようなＬＤの温度に対するＬＤの絶対最大定格光出力Ｐｍ及び光出力規定値ＴｈＰを示す温度−光出力特性と、図５（ａ）に示すようなＬＤの温度に対するＬＤの絶対最大定格電流Ｉｍ及び光出力規定値ＴｈＩを示す温度−電流特性と、が記憶されている。メモリ７１には、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂ毎に異なる温度−光出力特性及び温度−電流特性が記憶されている。メモリ７１は記憶部の一例である。

制御部７０は、タイマ７２を通じてＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂ毎に電流を供給する積算時間を計測する。制御部７０は、この積算時間に応じて温度−光出力特性及び温度−電流特性を更新する。この更新は、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの経時に伴う温度−光出力特性及び温度−電流特性の変化に合わせて行われる。例えば、メモリ７１には、積算時間に紐付けされた更新後の温度−光出力特性及び温度−電流特性が記憶される。そして、制御部７０は、積算時間に合った更新後の温度−光出力特性又は温度−電流特性を利用して、後述する電流制限又は光出力制限を行う。

次に、制御部７０の制御手順について図７のフローチャートに沿って説明する。
まず、制御部７０は、各温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂの検出結果を通じて赤色ＬＤ１１ｒの温度Ｔｒ、緑色ＬＤ１１ｇの温度Ｔｇ及び青色ＬＤ１１ｂの温度Ｔｂを認識する（Ｓ１０１）。制御部７０は、認識した赤色ＬＤ１１ｒの温度Ｔｒが第１の温度閾値Ｔｈ１を超えるか否かを判別する（Ｓ１０２）。制御部７０は、認識した赤色ＬＤ１１ｒの温度Ｔｒが第１の温度閾値Ｔｈ１を超える旨判別すると（Ｓ１０２でＹＥＳ）、電流制限モードにて赤色ＬＤ１１ｒの電流制御を行う（Ｓ１０３）。制御部７０は、認識した赤色ＬＤ１１ｒの温度Ｔｒが第１の温度閾値Ｔｈ１以下である旨判別すると（Ｓ１０２でＮＯ）、光出力制限モードにて赤色ＬＤ１１ｒの電流制御を行う（Ｓ１０４）。

次に、制御部７０は、認識した緑色ＬＤ１１ｇの温度Ｔｇが第２の温度閾値Ｔｈ２を超えるか否かを判別する（Ｓ１０５）。制御部７０は、認識した緑色ＬＤ１１ｇの温度Ｔｇが第２の温度閾値Ｔｈ２を超える旨判別すると（Ｓ１０５でＹＥＳ）、電流制限モードにて緑色ＬＤ１１ｇの電流制御を行う（Ｓ１０６）。制御部７０は、認識した緑色ＬＤ１１ｇの温度が第２の閾値Ｔｈ２以下である旨判別すると（Ｓ１０５でＮＯ）、光出力制限モードにて緑色ＬＤ１１ｇの電流制御を行う（Ｓ１０７）。

次に、制御部７０は、認識した青色ＬＤ１１ｂの温度Ｔｂが第３の温度閾値Ｔｈ３を超えるか否かを判別する（Ｓ１０８）。制御部７０は、認識した青色ＬＤ１１ｂの温度Ｔｂが第３の温度閾値Ｔｈ３を超える旨判別すると（Ｓ１０８でＹＥＳ）、電流制限モードにて青色ＬＤ１１ｂの電流制御を行う（Ｓ１０９）。制御部７０は、認識した青色ＬＤ１１ｂの温度Ｔｂが第３の温度閾値Ｔｈ３以下である旨判別すると（Ｓ１０８でＮＯ）、光出力制限モードにて青色ＬＤ１１ｂの電流制御を行う（Ｓ１１０）。
なお、上記Ｒ，Ｇ，Ｂ光源の制御手順は、Ｒ，Ｇ，Ｂの順番に限らず、例えば、Ｇ，Ｂ，Ｒの順番でもよく、制御手順はこの限りではない。

電流制限モードにおいては、制御部７０は、図５（ａ）に示す温度−電流特性を利用してＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂへの供給電流を絶対最大定格電流Ｉｍ以下、本例では後述する電流規定値ＴｈＩ以下に制限する電流制限を行う。この電流規定値ＴｈＩは、メモリ７１に記憶される温度毎に異なる複数の電流規定値ＴｈＩのうち温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂにより検出されるＬＤの温度に合うものが制御部７０により選択される。また、光出力制限モードにおいては、制御部７０は、図５（ｂ）に示す温度−光出力特性を利用して第２の光出力検出部１３ａの検出結果に基づき光出力を絶対最大定格光出力Ｐｍ以下、本例では後述する光出力規定値ＴｈＰ以下に制限する。この光出力規定値ＴｈＰは、メモリ７１に記憶される温度毎に異なる複数の光出力規定値ＴｈＰのうち温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂにより検出されるＬＤの温度に合うものが制御部７０により選択される。光出力規定値ＴｈＰは、安全を取って絶対最大定格光出力Ｐｍよりも余裕分だけ小さく設定されている。電流規定値ＴｈＩは、安全を取って絶対最大定格電流Ｉｍよりも余裕分だけ小さく設定されている。
一般的に、背景技術において図１０を参照しつつ説明したように、光源であるＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度が低い場合には、供給電流に対するＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの発光効率が高くなり、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの光出力が絶対最大定格光出力Ｐｍを超え易い。各温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３は、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの光出力が絶対最大定格光出力Ｐｍを超え易い温度範囲の上限に設定される。温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３は、ＬＤの特性に合わせてそれぞれ異なる値に設定されてもよい。制御部７０は、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度が低いとき、具体的には温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３以下であるとき、第２の光出力検出部１３ａにより直接にＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの光出力を見つつＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの光出力を絶対最大定格光出力Ｐｍ以下に制限する。これにより、ＨＵＤ装置１の動作期間中において、ＬＤの光出力が絶対最大定格光出力Ｐｍを超えることがより確実に抑制される。

次に、制御部７０はＲＧＢ混色計算を行う（Ｓ１１１）。このＲＧＢ混色計算については後で詳述する。そして、制御部７０は、走査中の非表示期間であるか否かを判別する（Ｓ１１２）。制御部７０は、非表示期間である旨判別すると（Ｓ１１２でＹＥＳ）、ステップＳ１１３〜Ｓ１１６からなる実測補正処理を行う。この実測補正処理は、実際の光出力又は供給電流をモニタし、そのモニタした光出力又は供給電流が規定値ＴｈＩ，ＴｈＰを超える場合には規定値ＴｈＩ，ＴｈＰを補正する処理をいう。これにより、ＬＤの劣化など理論計算で合わない外部ノイズへの耐性を上げられ、確実にＬＤの破損を抑制できる。
この実測補正処理においては、まず、制御部７０は、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂに供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂとして検査用電流Ｉｔを供給し（Ｓ１１３）、第２の光出力検出部１３ａの検出結果を通じてレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂと、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂの検出結果を通じて供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂとをモニタする（Ｓ１１４）。そして、制御部７０は、光出力制限モードの場合、モニタ値である光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰ以下であるか否かを判断し、電流制限モードの場合、モニタ値である供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩ以下であるか否かを判断する（Ｓ１１５）。光出力制限モードの場合、検査用電流Ｉｔは、光出力規定値ＴｈＰに対応する電流値に設定される第２の検査用電流である。電流制限モードの場合、検査用電流Ｉｔは、電流規定値ＴｈＩと同一値に設定される第１の検査用電流である。

制御部７０は、光出力制限モードの場合、モニタ値である光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰを超える旨判断したとき（Ｓ１１５でＹＥＳ）、供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを低減して、モニタ値である光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを光出力規定値ＴｈＰ以下に制御する（Ｓ１１６）。そして、制御部７０は、そのときの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを光出力規定値ＴｈＰとして補正し（Ｓ１１７）、次にＡＰＣ制御を行う（Ｓ１１８）。この補正は、メモリ７１に記憶される光出力規定値ＴｈＰを上書きすることで行われる。制御部７０は、モニタ値である供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩ以下である旨判断すると（Ｓ１１５でＮＯ）、次にＡＰＣ制御を行う（Ｓ１１８）。

制御部７０は、電流制限モードの場合、モニタ値である供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩを超える旨判断したとき（Ｓ１１５でＹＥＳ）、供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを低減して、モニタされる供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを電流規定値ＴｈＩ以下に制御する（Ｓ１１６）。そして、制御部７０は、そのときの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを電流規定値ＴｈＩとして補正し（Ｓ１１７）、ＡＰＣ制御を行う（Ｓ１１８）。制御部７０は、モニタ値である光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰ以下である旨判断すると（Ｓ１１５でＮＯ）、次にＡＰＣ制御を行う（Ｓ１１８）。なお、ステップＳ１１３〜Ｓ１１６からなる実測補正処理は、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂ毎に順番に行われる。
なお、上記実測補正処理は、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの順番に限らず、例えば、ＬＤ１１ｇ，１１ｂ，１１ｒの順番でもよく、実測補正処理はこの限りではない。

制御部７０は、非表示期間において、第１の光出力検出部２６の検出結果に基づきＡＰＣ制御を行う。ＡＰＣ制御とは、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂ、より具体的には第１の光出力検出部２６の検出値が予め定められた基準値あるいは予め定められたＲ，Ｇ，Ｂの比が一定となるように、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが制御されることをいう。制御部７０は、ＡＰＣ制御を行った後（Ｓ１１８）、当該フローチャートに係る処理を終了する。

次に、図７のステップＳ１１１のＲＧＢ混色計算について図８のフローチャートに沿って説明する。このＲＧＢ混色計算は、図７のステップＳ１０１〜Ｓ１１０において課された電流制限又は光出力制限のもと、ホワイトバランスを保つ供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを決定するための処理である。

まず、制御部７０は、外光検出部９０の検出結果を調光信号として認識して、その調光信号に応じて調光レベルを決定する（Ｓ２０１）。具体的には、制御部７０は、外光の光強度が高いほど、調光レベルを高く設定する。なお、これに限らず、制御部７０は、車両２に搭載されるＥＣＵ（Electronic Control Unit）からの調光信号に応じて調光レベルを決定してもよい。

制御部７０は、調光レベルに基づき赤色ＬＤ１１ｒへの供給電流Ｉｒを仮決めする（Ｓ２０１）。そして、制御部７０は、仮決めした供給電流Ｉｒにおける赤色ＬＤ１１ｒの光出力Ｐｒに対して、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように緑色ＬＤ１１ｇの光出力Ｐｇ及び青色ＬＤ１１ｂの光出力Ｐｂを設定できるか否かを判断する（Ｓ２０３）。制御部７０は、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように光出力Ｐｇ，Ｐｂを設定できる場合（Ｓ２０３でＹＥＳ）、これら光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂに対応する供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを、ホワイトバランスを保つ供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂとして決定する（Ｓ２０４）。以上で、制御部７０は、当該ＲＧＢ混色計算に係る処理を終了する。

一方、制御部７０は、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように光出力Ｐｇ，Ｐｂを設定できない場合（Ｓ２０３でＮＯ）、ステップＳ２０１において仮決めされた供給電流Ｉｒを破棄する（Ｓ２０５）。ステップＳ２０３でＮＯの場合とは、例えば、光出力制限のもとでホワイトバランスを保つ光出力Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰを超えているときであり、電流制限のもとでホワイトバランスを保つ供給電流Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩを超えているときである。

次に、制御部７０は、緑色ＬＤ１１ｇへの供給電流Ｉｇを仮決めする（Ｓ２０６）。制御部７０は、仮決めした供給電流Ｉｇにおける緑色ＬＤ１１ｇの光出力Ｐｇに対して、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように、赤色ＬＤ１１ｒの光出力Ｐｒ及び青色ＬＤ１１ｂの光出力Ｐｂを設定できるか否かを判断する（Ｓ２０７）。制御部７０は、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように光出力Ｐｒ，Ｐｂを設定できる場合（Ｓ２０７でＹＥＳ）、これら光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂに対応する供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂをホワイトバランスを保つ供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂとして決定する（Ｓ２０８）。以上で、制御部７０は、当該ＲＧＢ混色計算に係る処理を終了する。

一方、制御部７０は、光出力制限又は電流制限のもとでホワイトバランスを保つように光出力Ｐｒ，Ｐｂを設定できない場合（Ｓ２０７でＮＯ）、ステップＳ２０６において仮決めされた供給電流Ｉｇを破棄する（Ｓ２０９）。そして、制御部７０は、青色ＬＤ１１ｂへの供給電流Ｉｂを決定し（Ｓ２１０）、この供給電流Ｉｂに対してホワイトバランスを保つ供給電流Ｉｒ，Ｉｇを決定する（Ｓ２１１）。以上で、制御部７０は、当該ＲＧＢ混色計算に係る処理を終了する。
上記ＲＧＢ混色計算は、実際にＬＤに電流が供給されない計算処理であるが、実際にＬＤに電流を供給し、その電流をモニタして、ホワイトバランスを保つ供給電流を決定してもよい。

制御部７０は、調光する際、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度に応じて調光部１９の透過率を調整する。
一般的に、図９に示すように、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度によって合成レーザー光発生装置１０からの合成レーザーＣの最大光出力Ｐｍａｘが変化することが知られている。本例では、ＬＤの高温域Ｔｈｉ時の最大光出力Ｐｍｌは、ＬＤの常温域Ｔｎでの最大光出力Ｐｍｈよりも小さい。
制御部７０は、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度が常温域Ｔｎにあるとき、調光部１９の透過率を第１の値に設定する。そして、制御部７０は、各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度が高温域Ｔｈｉにあるとき、調光部１９の透過率を上記第１の値より大きい第２の値に設定する。このように、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度により調光部１９の透過率を変化させることで、ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを変化させることなく、上記のようにホワイトバランスが保たれる。

（効果）
以上、説明した一実施形態によれば、以下の効果を奏する。

（１）レーザー走査型表示装置５は、レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを出射するＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂと、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを検出する電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂと、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度を検出する温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂと、レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを検出する第２の光出力検出部１３ａと、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂを安全に動作させることができる電流値に設定される電流規定値ＴｈＩと、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂを安全に動作させることができる光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂに設定される光出力規定値ＴｈＰと、がそれぞれＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの異なる温度毎に記憶されるメモリ７１と、電流制限又は光出力制限を行う制御部７０と、を備える。制御部７０は、電流制限において、メモリ７１に記憶される複数の電流規定値ＴｈＩのうち温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂの検出結果に基づきＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度に合った電流規定値ＴｈＩを選択し、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂを前記選択した電流規定値ＴｈＩ以下に制限する。制御部７０は、光出力制限において、メモリ７１に記憶される複数の光出力規定値ＴｈＰのうち温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂの検出結果に基づきＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度に合った光出力規定値ＴｈＰを選択し、第２の光出力検出部１３ａにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを前記選択した光出力規定値ＴｈＰ以下に制限する。制御部７０は、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が任意の基準温度に比べてＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂの効率が高くなる温度にあるとき光出力制限を行い、その任意の基準温度に比べてＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂの効率が低くなる温度にあるとき電流制限を行う。
この構成によれば、供給電流に対するＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂの効率が高くなるようなＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度となった場合に光出力制限が選択される。これにより、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が変化した場合であっても、光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが絶対最大定格光出力Ｐｍを超えることが抑制される。また、光出力制限においては、直接に光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが検出されるため、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを光出力規定値ＴｈＰ以下に保ちつつ最大とすることができる。

（２）制御部７０は、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３以上であるとき電流制限を行い、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３未満であるとき光出力制限を行う。
ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が低くなると、供給電流に対するＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂの効率が高くなる傾向がある。上記構成によれば、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が低くなると光出力制限が行われる。よって、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が低下した場合であっても、光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが絶対最大定格光出力Ｐｍを超えることが抑制される。

（３）制御部７０は、電流規定値ＴｈＩに基づき設定される検査用電流Ｉｔを実際にＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに供給したときに、電流検出部２９ｒ，２９ｇ，２９ｂにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩを超える場合、供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが電流規定値ＴｈＩ以下となるように検査用電流Ｉｔを低減し、電流規定値ＴｈＩを当該低減した値に補正する実測補正処理を行う。
この構成によれば、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの劣化などの理論計算に合わない変化が生じた場合でも、その変化に合わせた電流規定値ＴｈＩが設定される。よって、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが最大定格電流Ｉｍを超えることが抑制され、ひいては、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの破損を抑制できる。

（４）制御部７０は、光出力規定値ＴｈＰに基づき設定される検査用電流Ｉｔを実際にＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに供給したときに、第２の光出力検出部１３ａにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰを超える場合、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが光出力規定値ＴｈＰ以下となるように検査用電流Ｉｔを低減し、当該低減した検査用電流ＩｔをＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに供給したときのＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂと同一値に光出力規定値ＴｈＰを補正する実測補正処理を行う。
この構成によれば、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの劣化などの理論計算に合わない変化が生じた場合でも、その変化に合わせた光出力規定値ＴｈＰが設定される。よって、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが最大定格光出力Ｐｍを超えることが抑制され、ひいては、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの破損を抑制できる。

（５）レーザー走査型表示装置５は、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂからのレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを透過スクリーン４０に向けて走査することで画像Ｍを生成するＭＥＭＳスキャナ２０を備える。制御部７０は、実測補正処理を、ＭＥＭＳスキャナ２０の走査中における画像Ｍを描画しない非表示期間に行う。
この構成によれば、走査中の非表示期間に実測補正処理が行われるため、実測補正処理により画像表示処理が遅延することが防止される。

（６）レーザー走査型表示装置５は、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂからのレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを透過スクリーン４０に向けて走査することで画像Ｍを生成するＭＥＭＳスキャナ２０と、複数のＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂから出射される異なる色の複数のレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを合成することで合成レーザー光Ｃを生成し、合成レーザー光ＣをＭＥＭＳスキャナ２０に出射する光合成部１４と、合成レーザー光Ｃの透過率を調整することで合成レーザー光Ｃの調光を行う調光部１９と、を備える。調光部１９は、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂと光合成部１４との間のレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光路上に位置する第１の偏光板１５及び液晶素子１６と、光合成部１４とＭＥＭＳスキャナ２０との間の合成レーザー光Ｃの光路上に位置する第２の偏光板１７と、を備え、第２の光出力検出部１３ａは、第２の偏光板１７よりも光合成部１４側の合成レーザー光Ｃ、正確には合成レーザー光Ｃを構成するレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを検出する。
この構成によれば、第２の光出力検出部１３ａは、ほとんど減光されていない合成レーザー光Ｃを検出することができる。このため、第２の光出力検出部１３ａは、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを精度良く検出できる。よって、第２の光出力検出部１３ａの検出結果を利用して、精度良く光出力制限が行われる。

（７）制御部７０は、異なる色のレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを出射する複数のＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂ毎に電流制限又は光出力制限を行い、電流制限又は光出力制限のもと、ホワイトバランスが保たれるように、各ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに供給される電流を設定するＲＧＢ混色計算を行う。この構成によれば、電流制限又は光出力制限のもとでホワイトバランスが保たれる。

（８）レーザー走査型表示装置５は、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂからのレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを透過スクリーン４０に向けて走査することで画像Ｍを生成するＭＥＭＳスキャナ２０と、複数のＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂから出射される異なる色の複数のレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを合成することで合成レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを生成し、合成レーザー光Ｒ，Ｇ，ＢをＭＥＭＳスキャナ２０に出射する光合成部１４と、合成レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの透過率を調整することで合成レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの調光を行う調光部１９と、を備える。制御部７０は、外部からの調光信号に応じて合成レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂを調整する調光を行い、当該調光を行う際、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度の変化により合成レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが変化した分を補正するように調光部１９の透過率を調整する。この構成によれば、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が変化した場合でも所望の調光レベルを実現することができる。

（９）レーザー走査型表示装置５は、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに電流が供給される時間を積算する時間積算部の一例であるタイマ７２を備える。制御部７０は、タイマ７２を通じて積算された時間に応じて電流規定値ＴｈＩ及び光出力規定値ＴｈＰを更新する。
この構成によれば、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに経時変化が起こった場合でも、電流規定値ＴｈＩ及び光出力規定値ＴｈＰが更新されるため、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂが最大定格光出力Ｐｍを超えること、及びＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂへの供給電流Ｉｒ，Ｉｇ，Ｉｂが最大定格電流Ｉｍを超えることが抑制される。

（変形例）
なお、上記実施形態は、これを適宜変更した以下の形態にて実施することができる。

上記実施形態においては、制御部７０は、非表示期間である旨判別すると（Ｓ１１２でＹＥＳ）、ステップＳ１１３〜Ｓ１１６からなる実測補正処理を行っていたが、実測補正処理を行うタイミングはこれに限定されない。例えば、ＨＵＤ装置１は、拡大ミラー５２を回転させる回転機構を備える。制御部７０は、車両２のイグニッションがオンに切り替えられたとき、拡大ミラー５２を初期位置から表示位置に移動させる。表示位置は、表示光Ｌをアイボックス４に導く位置である。制御部７０は、拡大ミラー５２を初期位置から表示位置に移動させる間に、ステップＳ１１３〜Ｓ１１６からなる実測補正処理を行ってもよい。

上記実施形態においては、レーザー走査型表示装置５は、第１及び第２の光出力検出部２６，１３ａを備えていたが、何れか一方を省略し、他方のみを利用して図７及び図８のフローチャートに係る処理及びＡＰＣ制御を行ってもよい。

上記実施形態においては、図５（ｂ）に示すように、光出力規定値ＴｈＰは、安全を取って絶対最大定格光出力Ｐｍより小さく設定されているが、光出力規定値ＴｈＰは絶対最大定格光出力Ｐｍと同一であってもよい。同様に、図５（ａ）に示すように、電流規定値ＴｈＩは、安全を取って絶対最大定格電流Ｉｍより小さく設定されているが、電流規定値ＴｈＩは絶対最大定格電流Ｉｍと同一であってもよい。

上記実施形態においては、第２の光出力検出部１３ａは、第２の偏光板１７よりも光合成部１４側の合成レーザー光Ｃ（正確には時分割されたレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂ）の光出力を検出するように設けられている。第２の光出力検出部１３ａの設置位置はこれに限らず、第２の光出力検出部１３ａは各ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂに設けられていてもよい。この構成によれば、第２の光出力検出部１３ａは、光学デバイスを経ないレーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂを検出することができる。このため、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの光出力Ｐｒ，Ｐｇ，Ｐｂは精度良くモニタされる。よって、第２の光出力検出部１３ａの検出結果を利用して、精度良く光出力制限が行われる。

上記実施形態においては、制御部７０は、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂにより検出されるＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３以上であるとき電流制限を行い、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が温度閾値Ｔｈ１〜Ｔｈ３未満であるとき光出力制限を行っていた。しかし、制御部７０は、通常は光出力制限及び電流制限の一方を行い、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの温度が特定の範囲にあるときに光出力制限及び電流制限の他方を行ってもよい。すなわち、ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂの特性により、電流制限を行う温度範囲と、光出力制限を行う温度範囲とは適宜変更される。
また、光出力制限及び電流制限は、レーザー光Ｒ，Ｇ，Ｂ（ＬＤ１１ｒ,１１ｇ，１１ｂ）毎に設定されるものであっても良く、例えば、赤色レーザー光Ｒ（赤色ＬＤ１１ｒ）を光出力制限とし、緑色レーザー光Ｇ（緑色ＬＤ１１ｇ），青色レーザー光Ｂ（青色ＬＤ１１ｂ）を電流制限としても良い。

上記実施形態においては、温度検出部２８ｒ，２８ｇ，２８ｂは各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂに設けられていたが、１つの温度検出部がＬＤ群１１に設けられ、その温度検出部の検出結果を通じて各ＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂの温度が認識されてもよい。

上記実施形態においては、レーザー走査型表示装置５は３つのＬＤ１１ｒ，１１ｇ，１１ｂを備えていたが、ＬＤの数はこれに限定されず、ＬＤの数は１、２又は４以上であってもよい。

上記実施形態では、レーザー走査型表示装置５を車載用のＨＵＤ装置１に適用したが、車載用に限らず、飛行機、船等の乗り物に搭載されるＨＵＤ装置に適用してもよい。また、ＨＵＤ装置１は、表示光Ｌを、ウインドシールド３ではなく、専用のコンバイナに投射してもよい。また、レーザー走査型表示装置５をＨＵＤ装置ではなく、屋内または屋外で使用されるプロジェクタ等の表示装置に適用してもよい。また、例えば、レーザー走査型表示装置５をメガネ型ウェアラブル端末に搭載してもよい。

１…ＨＵＤ装置
２…車両
３…ウインドシールド
４…アイボックス
５…レーザー走査型表示装置
１０…合成レーザー光発生装置
１１…ＬＤ群
１１ｒ…赤色ＬＤ
１１ｇ…緑色ＬＤ
１１ｂ…青色ＬＤ
１２…集光レンズ群
１２ｒ，１２ｇ，１２ｂ…集光レンズ
１３ａ…第２の光出力検出部
１３ｂ…透過板
１４…光合成部
１４ｒ，１４ｇ，１４ｂ…ダイクロイックミラー
１５…第１の偏光板
１６…液晶素子
１７…第２の偏光板
１８…絞り部材
１９…調光部
２０…ＭＥＭＳスキャナ（走査部）
２６…第１の光出力検出部
２７…反射板
２８ｒ，２８ｇ，２８ｂ…温度検出部
２９ｒ，２９ｇ，２９ｂ…電流検出部
３０…フィールドレンズ
４０…透過スクリーン
５０…リレー光学部
７０…制御部
７１…メモリ（記憶部）
７２…タイマ（時間積算部）
Ｒ…赤色レーザー光
Ｇ…緑色レーザー光
Ｂ…青色レーザー光
Ｃ…合成レーザー光
Ｗ…虚像

Claims (11)

1. レーザー光を出射する光源と、
   前記光源への供給電流を検出する電流検出部と、
   前記光源の温度を検出する温度検出部と、
   前記レーザー光の光出力を検出する光出力検出部と、
   前記光源を安全に動作させることができる電流値に設定される電流規定値と、前記光源を安全に動作させることができる光出力に設定される光出力規定値と、がそれぞれ前記光源の異なる温度毎に記憶される記憶部と、
   前記温度検出部により検出される前記光源の温度が任意の基準温度に比べて前記光源の光出力の効率が高くなる温度にあるとき光出力制限を行い、前記基準温度に比べて前記光源の光出力の効率が低くなる温度にあるとき電流制限を行う制御部と、を備え、
   前記電流制限は、前記制御部が前記記憶部に記憶される複数の前記電流規定値のうち前記温度検出部の検出結果に基づき前記光源の温度に合った前記電流規定値を選択し、前記電流検出部により検出される前記光源への供給電流を前記選択した前記電流規定値以下に制限することであり、
   前記光出力制限は、前記制御部が前記記憶部に記憶される複数の前記光出力規定値のうち前記温度検出部の検出結果に基づき前記光源の温度に合った前記光出力規定値を選択し、前記光出力検出部により検出される前記光源の光出力を前記選択した前記光出力規定値以下に制限することである、
   ことを特徴とする表示装置。
2. 前記制御部は、前記温度検出部により検出される前記光源の温度が温度閾値以上であるとき前記電流制限を行い、前記光源の温度が前記温度閾値未満であるとき前記光出力制限を行う、
   ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
3. 前記制御部は、前記電流規定値に基づき設定される第１の検査用電流を実際に前記光源に供給したときに、前記電流検出部により検出される前記光源への供給電流が前記電流規定値を超える場合、前記供給電流が前記電流規定値以下となるように前記第１の検査用電流を低減し、前記電流規定値を当該低減した値に補正する実測補正処理を行う、
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置。
4. 前記制御部は、前記光出力規定値に基づき設定される第２の検査用電流を実際に前記光源に供給したときに、前記光出力検出部により検出される前記光源の光出力が前記光出力規定値を超える場合、前記光源の光出力が前記光出力規定値以下となるように前記第２の検査用電流を低減し、当該低減した前記第２の検査用電流を前記光源に供給したときの前記光源の光出力の値に前記光出力規定値を補正する実測補正処理を行う、
   ことを特徴とする請求項１から３の何れか一項に記載の表示装置。
5. 前記光源からの前記レーザー光をスクリーンに向けて走査することで画像を生成する走査部を備え、
   前記制御部は、前記実測補正処理を、前記走査部の走査中における前記画像を描画しない非表示期間に行う、
   ことを特徴とする請求項３又は４に記載の表示装置。
6. 前記光源からの前記レーザー光をスクリーンに向けて走査することで画像を生成する走査部と、
   複数の前記光源から出射される異なる色の複数の前記レーザー光を合成することで合成レーザー光を生成し、前記合成レーザー光を前記走査部に出射する光合成部と、
   前記合成レーザー光の透過率を調整することで前記合成レーザー光の調光を行う調光部と、を備え、
   前記調光部は、
   前記光源と前記光合成部との間の前記レーザー光の光路上に位置する第１の偏光板及び液晶素子と、
   前記光合成部と前記走査部との間の前記合成レーザー光の光路上に位置する第２の偏光板と、を備え、
   前記光出力検出部は、前記第２の偏光板よりも前記光合成部側の前記合成レーザー光の光出力を検出する、
   ことを特徴とする請求項１から５の何れか一項に記載の表示装置。
7. 前記光出力検出部は前記光源に設けられる、
   ことを特徴とする請求項１から５の何れか一項に記載の表示装置。
8. 前記制御部は、異なる色の前記レーザー光を出射する複数の前記光源毎に前記電流制限又は前記光出力制限を行い、前記電流制限又は前記光出力制限のもと、ホワイトバランスが保たれるように、前記各光源に供給される電流を設定するＲＧＢ混色計算を行う、
   ことを特徴とする請求項１から７の何れか一項に記載の表示装置。
9. 前記光源からの前記レーザー光をスクリーンに向けて走査することで画像を生成する走査部と、
   複数の前記光源から出射される異なる色の複数の前記レーザー光を合成することで合成レーザー光を生成し、前記合成レーザー光を前記走査部に出射する光合成部と、
   前記合成レーザー光の透過率を調整することで前記合成レーザー光の調光を行う調光部と、を備え、
   前記制御部は、外部からの調光信号に応じて前記合成レーザー光の光出力を調整する調光を行い、当該調光を行う際、前記光源の温度の変化により前記合成レーザー光の光出力が変化した分を補正するように前記調光部の透過率を調整する、
   ことを特徴とする請求項１から８の何れか一項に記載の表示装置。
10. 前記光源に電流が供給される時間を積算する時間積算部を備え、
    前記制御部は、積算された前記時間に応じて前記電流規定値及び前記光出力規定値を更新する、
    ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の表示装置。
11. 請求項１から１０の何れか一項に記載の表示装置と、
    前記表示装置からの前記レーザー光を視認者まで導くリレー光学部と、を備える、
    ことを特徴とするヘッドアップディスプレイ装置。

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