JP2017103977A - インバータ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】装置全体が密閉筐体で覆われた場合であっても、該密閉筐体内の受動部品の温度上昇を抑制することができるインバータ装置を提供すること。
【解決手段】パワー半導体モジュール13が接合される冷却器11の冷却面11aとインバータ筐体10とでパワー半導体モジュール13と受動部品を含むインバータ回路モジュール16とを含むインバータ回路を密閉したインバータ装置1であって、冷却器11の冷却面11a上に密閉断熱層である密閉空間E1〜E3を形成し、密閉空間E1〜E3の厚さd1〜d3を最大対流抑制距離d以下とする。これによって密閉空間E1〜E3内での対流の発生がなくなり、密閉空間E1〜E3内の高断熱性能が維持される。
【選択図】図1

Description

本発明は、装置全体が密閉筐体で覆われた場合であっても、該密閉筐体内の受動部品の温度上昇を抑制することができるインバータ装置に関する。
従来から、各種装置のモータを駆動させるインバータ装置は、コストダウンのためや、限られたスペースの電気室内に収めるために、小型軽量化が求められている。また、インバータ装置は、屋外や粉じんなどが存在する工場環境で使用する場合、耐環境性能としてIP66のような高い防塵、防水性を得るための高密閉性が求められる。
一方、インバータ装置内で、モータに流れる電流を制御するパワー半導体素子は、通電時の導通損失、オンオフの過渡時に発生するスイッチング損失によって発熱が生じる。このため、インバータ装置は、パワー半導体素子からの発熱を抑制するために、空冷冷却器や水冷冷却器が取り付けられている。しかし、例えば空冷冷却器を用いたインバータ装置は、空冷冷却器の構造部材が大きな体積を占めてしまう。設計条件によっては、空冷冷却器の構造部材の体積は、パワー半導体モジュールの体積に対して10倍以上の体積を占めてしまう場合がある。
したがって、インバータ装置の小型化を図るためには、冷却器の小型化が必要となる。この冷却器の小型化は、パワー半導体素子の損失を小さくすることや、パワー半導体素子をより高温で使用可能なものとすることによって実現することができる。パワー半導体素子の損失の低減は、パワー半導体素子の進歩によってなされる。また、パワー半導体素子をより高温で使用できるようにするためには、はんだなどの接合剤の高信頼性化などのパッケージ技術の進歩によるところが大きい。現在、パワー半導体素子の最高接合温度は、175℃であり、パワー半導体素子の連続駆動接合温度は、175℃まで許容されているものがある。
特開2000−14169号公報
ところで、インバータ装置を小型化すると、インバータ装置内で、高温のパワー半導体モジュールや冷却器と、電解コンデンサをはじめとする受動部品との距離が近くなり、受動部品の温度が上昇してしまう。
ここで、受動部品は、パワー半導体モジュールと同様な耐熱性は有しておらず、温度上昇によって信頼性の低下および寿命の短縮が生じる。
特に、受動部品としての電解コンデンサは、周囲温度によって寿命が決定される部品である。寿命は、アレニウスの法則に従うとされ、温度が10℃高くなると寿命が半分になるとされている。
さらに、IP66などの高密閉性を満足する密閉筐体のインバータ装置では、外気を取り込むことができないため、筐体内は、パワー半導体素子の発熱を含むインバータ回路の発熱によって熱がこもってしまう。すなわち、密閉筐体のインバータ装置は、開放型筐体のインバータ装置に比較して、筐体内温度が高くなってしまう。
そこで、特許文献1では、パワー半導体モジュールを除き、電解コンデンサを含めたインバータ回路が設置されるインバータ筐体内の温度上昇を抑制するため、パワー半導体モジュールが設置される冷却器と、インバータ回路が設置されるインバータ筐体内との間に空間を設け、この空間に自然対流や強制空冷で積極的に外気を流入させるものが記載されている。
しかしながら、特許文献1に記載されたものは、IP66などのような完全密閉を前提としておらず、パワー半導体モジュールが設置される冷却器と、インバータ回路が設置されるインバータ筐体内との間の空間が密閉されるとこの空間に外気を流入できないため、この空間では、パワー半導体モジュールの発熱によって高温となった内部空気に対流が発生する。この内部空気の対流熱伝導によって、冷却器の熱はインバータ筐体内に伝えられ、インバータ筐体内温度が上昇してしまい、電解コンデンサをはじめとする受動部品であるインバータ回路の寿命が短くなる。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、装置全体が密閉筐体で覆われた場合であっても、該密閉筐体内の受動部品の温度上昇を抑制することができるインバータ装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかるインバータ装置は、パワー半導体モジュールが接合される冷却器の冷却面とインバータ筐体とで前記パワー半導体モジュールと受動部品を含むインバータ回路モジュールとを含むインバータ回路を密閉したインバータ装置であって、前記冷却器の冷却面上に密閉断熱層を形成し、該密閉断熱層の厚さを最大対流抑制距離以下とすることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層は、空気層であることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層は、複数の前記密閉断熱層が多層配置されることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層は、前記パワー半導体モジュールを覆うように形成したことを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、折り曲げ可能な厚さあるいは材質であることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、樹脂であることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、アルミニウムであり、かつ、表面がアルマイト処理されていることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料および前記インバータ筐体を形成する材料の表面放射率は、0.8以上であることを特徴とする。
また、本発明にかかるインバータ装置は、上記の発明において、前記パワー半導体モジュール内のパワー半導体素子は、ワイドバンドギャップ半導体素子であることを特徴とする。
本発明によれば、パワー半導体モジュールが接合される冷却器の冷却面とインバータ筐体とで前記パワー半導体モジュールと受動部品を含むインバータ回路モジュールとを含むインバータ回路を密閉したインバータ装置であって、前記冷却器の冷却面上に密閉断熱層を形成し、該密閉断熱層の厚さを最大対流抑制距離以下として密閉断熱層内で対流が生じないようにしているので、冷却面から受動部品側への断熱性能が高く維持され、熱によって受動部品の寿命が短くなるのを抑えることができる。
図1は、本発明の実施の形態であるインバータ装置の断面図である。 図2は、空気層の厚さに対する空気層の熱抵抗の変化を示す図である。 図3は、図1に示したインバータ装置内の温度分布を示す図である。 図4は、本発明の実施の形態の変形例1であるインバータ装置の断面図である。 図5は、本発明の実施の形態の変形例2であるインバータ装置の断面図である。
以下、添付図面を参照してこの発明を実施するための形態について説明する。
図1は、本発明の実施の形態であるインバータ装置の断面図である。図1において、インバータ装置1は、インバータ筐体10と冷却器11の冷却面11aとによって、IP66などの高密閉性を満足する密閉空間Eを形成している。インバータ筐体10と冷却面11aとはパッキン12によってシールされている。
密閉空間E内には、パワー半導体モジュール13と、パワー半導体モジュール13に配線14を介して接続され、電解コンデンサ15などの受動部品を含むインバータ回路モジュール16とが配置される。パワー半導体モジュール13は、ねじ止めなどによって冷却面11aに強く接合され、冷却フィンの放熱によって冷却される。パワー半導体モジュール13は、インバータ回路のうちの整流ダイオードや半導体スイッチング素子などの発熱素子を有したモジュールであり、インバータ回路モジュール16から離隔されて配置される。
図1において、重力方向は−Z方向である。一般にパワー半導体モジュール13から発生する熱は、大部分が冷却器11に向かい、冷却器11の温度が上昇する。冷却器11の冷却面11aの温度とインバータ筐体10内の空気温度との温度差によってインバータ筐体10内に対流が発生し、インバータ筐体10内の温度が上昇する。
本実施の形態では、密閉空間Eが、4つの密閉空間E1〜E4に分割される。密閉空間E1は、冷却面11aと、冷却面11aに対向して配置されるパワー半導体モジュール13の基板13aと、インバータ筐体10とで囲まれた空間である。密閉空間E1は、断熱材としての空気層が形成され、冷却面11aからの熱伝導を抑止する密閉断熱層として機能する。
密閉空間E2は、基板13aと対流抑制板17とインバータ筐体10とで囲まれた空間である。密閉空間E2は、断熱材としての空気層が形成され、密閉空間E1からの熱伝導を抑止する密閉断熱層として機能する。なお、対流抑制板17は、インバータ筐体10に取り付けられた位置決め用突起17aによって位置決めされる。
密閉空間E3は、対流抑制板17と対流抑制板18とインバータ筐体10とで囲まれた空間である。密閉空間E3は、断熱材としての空気層が形成され、密閉空間E2からの熱伝導を抑止する密閉断熱層として機能する。なお、対流抑制板18は、インバータ筐体10に取り付けられた位置決め用突起18aによって位置決めされる。
密閉空間E4は、対流抑制板18とインバータ筐体10とで囲まれた空間である。密閉空間E4は、パワー半導体モジュール13、密閉空間E1、冷却器11から最も離隔された空間であり、インバータ回路モジュール16が配置される。インバータ回路モジュール16は、基板16aを有する。基板16aと基板13aとの間は、配線14によって接続される。配線14は、対流抑制板17,18を貫通して接続される。対流抑制板17,18は、配線14を通す貫通孔を予め設けておき、組立時に対流抑制板17,18と配線14とを接着する。
ここで、各密閉空間E1〜E3の厚さd1〜d3は、各密閉空間E1〜E3内で対流が生じない最大対流抑制距離d以下である。発熱源であるパワー半導体モジュール13がインバータ筐体10内で重力方向の下側に配置された場合、図2に示すように、空気層の熱抵抗Rtha[m・K/W]は、厚さdに依存する。熱抵抗Rthaは、厚さdの増大に伴って厚さdが10mmの点Pまでは増大するが、厚さdを超えると飽和して増大しない。これは、厚さdが10mmを超えると、対流の発生によって空気の見かけ上の熱伝導が大きくなって、熱抵抗Rthaが増大しないためである。すなわち、厚さdが10mmまでの間は、空気層に対流が生じないため、断熱性能が高く維持されることを意味する。したがって、各密閉空間E1〜E3の厚さd1〜d3は、最大対流抑制距離d=10mm以下としている。なお、各密閉空間E1〜E3は、厚さd1〜d3が大きいほど断熱性能が高いため、厚さd1〜d3は、10mmとすることが好ましい。
基板13a、対流抑制板17,18は、断熱性能を有する。対流抑制板17,18は、強度が必要とされないので、加工が容易な折り曲げ可能な樹脂フィルムを用いている。この樹脂は、耐熱性を有したエンジニアリングプラスチックや、スーパーエンジニアリングプラスチックが好ましい。
なお、対流抑制板17,18は金属を用いてもよい。対流抑制板17,18としてアルミニウムを用いる場合は、表面にアルマイト処理を施して表面放射率を0.8以上にしておくことが好ましい。また、対流抑制板17,18として他の金属を用いる場合も、メッキなどの表面処理を行って表面放射率を0.8以上にしておくことが好ましい。なお、樹脂や木材、紙等の表面放射率は0.8以上である。
表面放射率が0.8以上であると、受け取った熱を空気層に伝熱せず、輻射によって放熱する効率が高くなる。表面放射率が0.8以上の場合、熱はインバータ筐体10に輻射され、インバータ筐体10から直接、外部に放熱することができる。したがって、インバータ筐体10の表面も表面放射率を0.8以上としておくことが好ましい。
図3は、冷却面11aからの距離Zに対する密閉空間E内の温度変化を示す図である。図3において、曲線L1は、図1に示した構造をもつ場合の温度変化を示し、曲線L2は、密閉空間E1〜E3を持たない従来の構造である場合の温度変化を示している。なお、距離Z1〜Z3は、それぞれ基板13a、対流抑制板17、対流抑制板18の位置に対応している。図3に示すように、冷却面11a近傍の温度は、密閉空間E1をもつ本実施の形態の方が温度T2となって従来構造の温度T1に比して高い。しかし、本実施の形態では、密閉空間E1〜E3の断熱性能によって、密閉空間E1〜E4に向かって徐々に温度が降下し、最終的に密閉空間E4における温度はT2´となる。これに対して密閉空間E1〜E3を持たない従来の構造の場合、対流の発生よってZ方向の上部に高温の空気が溜まり、インバータ筐体10内の温度が上昇し、従来の構造では密閉空間E4における温度はT1´となる。このように、密閉空間E4での本実施の形態の温度T2´は、従来構造の温度T1´に比して低い温度とすることができる。
(変形例1)
図4は、本発明の実施の形態の変形例1のインバータ装置の断面図である。なお、図4においても重力方向は−Z方向である。上述した実施の形態では、密閉空間E1を、基板13aを用いて形成していたが、この変形例1では、密閉空間E1に対応する空間に絶縁紙21を重ねている。この変形例1では、パワー半導体モジュール13に基板13aを持たない場合、あるいは基板13aがインバータ筐体10まで広がっていないものである場合に有効である。
図4に示すように、絶縁紙21は、密閉空間E1に対応する空間に、最大対流抑制距離d以下の密閉断熱層を複数層、形成している。なお、絶縁紙21は、冷却面11a上に配置されるパワー半導体モジュール13を貫通する穴が形成されている。なお、密閉断熱層を形成する部材の材料(絶縁紙21、対流抑制板17,18)は、折り曲げ可能な厚さや材質によって形成すると、加工が容易になる。
なお、複数の絶縁紙21を設けず、基板13aに対応する1枚の絶縁紙21のみを設けてもよい。これによって、絶縁紙21と冷却面11aとインバータ筐体10とによって、実施の形態と同様な密閉空間E1が形成されるからである。なお、この場合、絶縁紙21は、パワー半導体モジュール13およびインバータ筐体10に接着する。
(変形例2)
図5は、本発明の実施の形態の変形例2のインバータ装置の断面図である。なお、図5においても重力方向は−Z方向である。この変形例2では、密閉空間E3,E4がパワー半導体モジュール13および冷却面11aを覆うようにしている。この構成は、インバータ筐体10の幅が冷却面11aに比して大きい場合に適している。
図5に示すように、インバータ装置2の冷却面11aの周囲は、インバータ筐体10の幅に応じたフレーム10aが取り付けられる。インバータ筐体10とフレーム10aとの間にはパッキン12が設けられてシールされる。また、冷却面11aとフレーム10aとの接続部分には、パッキン22が設けられてシールされる。このパッキン22の上部に下面ケース23が設けられる。下面ケース23上には、密閉空間E2を形成するための対流抑制柱27aおよび密閉空間E3を形成するための対流抑制柱28aが立設される。また、対流抑制柱27aの上端には、対流抑制板27が覆われる。さらに、対流抑制柱28aの上端には、対流抑制板28が覆われる。
密閉空間E1は、冷却面11aと、パワー半導体モジュール13の基板13aと、対流抑制柱27aの下部の一部とで囲まれた空間である。密閉空間E2は、対流抑制板27と、基板13aと、対流抑制柱27aの上部の一部とで囲まれた空間である。密閉空間E3は、対流抑制板28と、対流抑制板27と、対流抑制柱28aと、対流抑制柱27aとで囲まれた空間であって、下部が開放したコの字状の断面を有する空間である。密閉空間E4は、インバータ筐体10と、対流抑制板28と、対流抑制柱28aと、フレーム10aとによって囲まれた空間であって、下部が開放したコの字状の断面を有する空間である。
ここで、厚さd1〜d3,d31は、最大対流抑制距離d以下である。したがって、密閉空間E1〜E3内では対流が生じないので、実施の形態と同様に、高い断熱性能を有する。
なお、対流抑制柱28aは、冷却面11aの外側に設けることが好ましい。すなわち、密閉空間E4と冷却面11aとが直接接合しない配置とすることが好ましい。
また、変形例1と同様に、密閉空間E1内に絶縁紙21を重ねてもよいし、基板13aに替えて絶縁紙21を設けてもよい。
なお、上述した実施の形態、変形例1,2において、各密閉空間E1〜E3は、さらに分割してもよい。例えば、変形例2の密閉空間E3の幅方向と高さ方向とを分割してもよい。
また、上述した実施の形態、変形例1,2では、3つの密閉断熱層である密閉空間E1〜E3を形成するようにしたが、少なくとも1つの密閉断熱層である密閉空間E1が形成されればよい。ただし、密閉空間E1は、パワー半導体モジュール13を覆うことが好ましいため、密閉空間E1,E2を形成することが好ましい。なお、パワー半導体モジュール13の厚さが最大対流抑制距離d未満である場合には、密閉空間E1を形成せず、密閉空間E1,E2を1つの密閉空間としてもよい。
さらに、密閉空間E1は、断熱性能が高い空気であることが好ましいが、グラスウールなどの断熱材を充填してもよい。
また、密閉空間E1〜E3は、真空状態としてもよい。真空状態では対流が生じないため断熱性能が高くなる。ただし、真空状態の劣化を考慮して、上述した最大対流抑制距離d以下の厚さとしておくことが好ましい。
さらに、インバータ装置1,2の設置方向は任意である。すなわち、密閉空間E1〜E3の厚さ方向は、鉛直方向であってもよいし、水平方向であってもよい。いずれの場合でも、厚さ方向への対流が生じないため、結果的に、密閉空間E1〜E3内での対流が生じないからである。
ところで、近年では、次世代デバイスとしてSiCパワー半導体等のワイドバンドギャップ半導体が注目されている。ワイドバンドギャップ半導体は、炭化ケイ素、窒化ガリウム、ダイアモンド等からなり、損失低減の限界に達しつつあるSiパワー半導体に比べて損失低減のポテンシャルが高く、接合温度を200℃以上でも使用可能とされている。SiCパワー半導体等のワイドバンドギャップパワー半導体を適用すると、Siパワー半導体を用いた場合に比して劇的にインバータ装置の小型軽量化を図ることができる。したがって、パワー半導体モジュール13のパワー半導体素子は、ワイドバンドギャップパワー半導体素子であることが好ましい。
上述した実施の形態、変形例1,2では、密閉筐体のインバータ装置で、パワー半導体モジュールを高温で使用して冷却器の小型化を図る場合であっても、密閉断熱層である密閉空間E1〜E3によって電解コンデンサなどの受動部品の温度上昇を抑制でき、結果的に受動部品の寿命を延ばし、受動部品の信頼性を高めることができる。
1,2 インバータ装置
10 インバータ筐体
10a フレーム
11 冷却器
11a 冷却面
12,22 パッキン
13 パワー半導体モジュール
13a,16a 基板
14 配線
15 電解コンデンサ
16 インバータ回路モジュール
17,18,27,28 対流抑制板
17a,18a 位置決め用突起
21 絶縁紙
23 下面ケース
27a,28a 対流抑制柱
d 最大対流抑制距離
E,E1〜E4 密閉空間

Claims (9)

  1. パワー半導体モジュールが接合される冷却器の冷却面とインバータ筐体とで前記パワー半導体モジュールと受動部品を含むインバータ回路モジュールとを含むインバータ回路を密閉したインバータ装置であって、
    前記冷却器の冷却面上に密閉断熱層を形成し、該密閉断熱層の厚さを最大対流抑制距離以下とすることを特徴とするインバータ装置。
  2. 前記密閉断熱層は、空気層であることを特徴とする請求項1に記載のインバータ装置。
  3. 前記密閉断熱層は、複数の前記密閉断熱層が多層配置されることを特徴とする請求項1または2に記載のインバータ装置。
  4. 前記密閉断熱層は、前記パワー半導体モジュールを覆うように形成したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載のインバータ装置。
  5. 前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、折り曲げ可能な厚さあるいは材質であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載のインバータ装置。
  6. 前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、樹脂であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載のインバータ装置。
  7. 前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料は、アルミニウムであり、かつ、表面がアルマイト処理されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載のインバータ装置。
  8. 前記密閉断熱層を密閉して形成する部材の材料および前記インバータ筐体を形成する材料の表面放射率は、0.8以上であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載のインバータ装置。
  9. 前記パワー半導体モジュール内のパワー半導体素子は、ワイドバンドギャップ半導体素子であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載のインバータ装置。
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