JP2017058386A - 顕微鏡装置および観察方法 - Google Patents
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Abstract
Description
光強度変調器21を備える。光源20は、例えば、射出するレーザ光の波長が互いに異なる複数のレーザ光源を含む。光源20は、波長が異なる複数のレーザ光を、同時又は個別に射出可能である。光源20は、例えば、赤外光と可視光の2種類のレーザ光を射出可能である。光源20から射出される赤外光は、例えば、標本Sに含まれる蛍光物質の多光子励起を誘発するパルス状の光(以下、IRパルス光という)である。IRパルス光は、所定の周期(例、100フェムト秒)で射出される。光強度変調器は、例えば音響光学素子(Acousto-Optic Modulator;AOM)である。光強度変調器21は、光源20からの照明光が入射する位置に配置されている。光強度変調器21は、通過する照明光の強度を0%以上100%以下の間で変化させる。
Claims (15)
- 標本に照明光を照射する照明光学系と、
前記照明光の波面を調整する波面調整部と、
前記標本の表面形状を検出する表面検出部と、
前記表面検出部の検出結果を使って、前記照明光の収差を算出する収差算出部と、
前記収差算出部の算出結果に基づいて、前記波面調整部を制御する制御部と、
前記波面調整部が制御された状態で前記標本からの光を検出する検出部と、を備える顕微鏡装置。 - 前記収差算出部は、前記照明光学系における複数の位置それぞれから前記標本に向かう光線を追跡し、前記照明光の収差を算出する、請求項1に記載の顕微鏡装置。
- 前記複数の位置は、前記照明光学系の光軸から離れるにつれて密になるように配置される、請求項2に記載の顕微鏡装置。
- 前記複数の位置は、前記波面調整部と共役な位置である、請求項2または請求項3に記載の顕微鏡装置。
- 前記収差算出部は、前記表面検出部の検出結果から算出される前記標本の表面形状を表す数式をもとに、前記収差を算出する、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 前記表面検出部は、前記標本の画像に基づいて、前記標本の表面を検出する、請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 前記照明光学系は、対物レンズを備え、
前記波面調整部は、前記対物レンズの後側焦点位置と共役な位置に配置される、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。 - 前記収差算出部は、前記算出した収差に基づいてツェルニケ係数を算出する、請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 前記収差算出部は、前記算出した収差に基づいて波面を算出する、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 前記算出された表面形状又は前記波面を表示する表示部をさらに有する請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 前記検出部は、第1の時間間隔で光を検出し、
前記表面検出部は、第2の時間間隔で前記標本の表面形状を検出する、請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。 - 前記表面検出部は、共焦点法を用いて得られる前記標本の検出結果に基づいて、前記標本の表面形状を検出し、
前記検出部は、多光子励起顕微鏡において、前記標本からの光を検出する、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。 - 前記表面検出部は、共焦点法を用いて得られる前記標本の検出結果に基づいて、前記標本の表面形状を検出し、
前記検出部は、前記共焦点法を用いて、前記標本からの光を検出する、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。 - 前記表面検出部は、前記標本を撮像した画像を二値化し、前記標本の表面形状を検出する、請求項1から請求項12のいずれか一項に記載の顕微鏡装置。
- 標本の表面形状を検出することと、
前記表面形状の検出結果を使って、前記標本に照射される照明光の収差を算出することと、
前記収差の算出結果に基づいて、前記照明光の波面を調整することと、
前記照明光の波面が調整された状態で前記標本からの光を検出することと、を含む観察方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190133145A (ko) * | 2017-04-14 | 2019-12-02 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 수차 보정 방법 및 광학 장치 |
CN114556182A (zh) * | 2019-10-11 | 2022-05-27 | 阿贝里奥仪器有限责任公司 | 用于在荧光显微技术中像差校正的方法和装置 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5673306A (en) * | 1979-11-20 | 1981-06-18 | Rikagaku Kenkyusho | Differential pattern display device for displacement and oscillation amplitude of object |
JPH06313707A (ja) * | 1993-04-29 | 1994-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
JPH11101942A (ja) * | 1997-08-01 | 1999-04-13 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 顕微鏡におけるアダプティブ光学装置 |
JP2002525596A (ja) * | 1998-09-23 | 2002-08-13 | アイシス イノヴェイション リミテッド | 波面感知装置 |
JP2005062155A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-03-10 | Olympus Corp | コヒーレントラマン散乱顕微鏡 |
JP2005521123A (ja) * | 2001-10-22 | 2005-07-14 | ライカ ミクロジュステムス ヴェツラー ゲーエムベーハー | 光学顕微鏡検出3次元画像の生成方法及び生成装置 |
JP2007101268A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2011508896A (ja) * | 2007-11-02 | 2011-03-17 | ロウイセ ゲルクフベルグ | 超解像を達成するための新規なデジタル方法を有する光学顕微鏡 |
JP2013011856A (ja) * | 2011-06-01 | 2013-01-17 | Canon Inc | 撮像システムおよびその制御方法 |
JP2013034127A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Canon Inc | 撮像装置 |
WO2014059331A1 (en) * | 2012-10-12 | 2014-04-17 | Thorlabs, Inc. | Compact, low dispersion, and low aberration adaptive optics scanning system |
JP2015018045A (ja) * | 2013-07-09 | 2015-01-29 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法 |
JP2015022073A (ja) * | 2013-07-17 | 2015-02-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡と収差補正方法 |
JP2015031813A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社ニコン | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 |
JP2015031812A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社ニコン | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 |
JP2015102537A (ja) * | 2013-11-28 | 2015-06-04 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計 |
JP2015219502A (ja) * | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光刺激装置及び光刺激方法 |
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Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5673306A (en) * | 1979-11-20 | 1981-06-18 | Rikagaku Kenkyusho | Differential pattern display device for displacement and oscillation amplitude of object |
JPH06313707A (ja) * | 1993-04-29 | 1994-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
JPH11101942A (ja) * | 1997-08-01 | 1999-04-13 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 顕微鏡におけるアダプティブ光学装置 |
JP2002525596A (ja) * | 1998-09-23 | 2002-08-13 | アイシス イノヴェイション リミテッド | 波面感知装置 |
JP2005521123A (ja) * | 2001-10-22 | 2005-07-14 | ライカ ミクロジュステムス ヴェツラー ゲーエムベーハー | 光学顕微鏡検出3次元画像の生成方法及び生成装置 |
JP2005062155A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-03-10 | Olympus Corp | コヒーレントラマン散乱顕微鏡 |
JP2007101268A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2011508896A (ja) * | 2007-11-02 | 2011-03-17 | ロウイセ ゲルクフベルグ | 超解像を達成するための新規なデジタル方法を有する光学顕微鏡 |
JP2013011856A (ja) * | 2011-06-01 | 2013-01-17 | Canon Inc | 撮像システムおよびその制御方法 |
JP2013034127A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Canon Inc | 撮像装置 |
WO2014059331A1 (en) * | 2012-10-12 | 2014-04-17 | Thorlabs, Inc. | Compact, low dispersion, and low aberration adaptive optics scanning system |
JP2015018045A (ja) * | 2013-07-09 | 2015-01-29 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法 |
JP2015022073A (ja) * | 2013-07-17 | 2015-02-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡と収差補正方法 |
JP2015031813A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社ニコン | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 |
JP2015031812A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社ニコン | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 |
JP2015102537A (ja) * | 2013-11-28 | 2015-06-04 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計 |
JP2015219502A (ja) * | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光刺激装置及び光刺激方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190133145A (ko) * | 2017-04-14 | 2019-12-02 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 수차 보정 방법 및 광학 장치 |
KR102490763B1 (ko) | 2017-04-14 | 2023-01-20 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 수차 보정 방법 및 광학 장치 |
CN114556182A (zh) * | 2019-10-11 | 2022-05-27 | 阿贝里奥仪器有限责任公司 | 用于在荧光显微技术中像差校正的方法和装置 |
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