JP2017009358A - 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
この特許文献1の測色装置では、測定対象に光に照射し、測定対象により反射された光を波長可変干渉フィルターに入射させ、波長可変干渉フィルターにより所定波長の光を透過させてディテクターにて検出する。この際、波長可変干渉フィルターを制御して反射膜間のギャップの寸法を順次変更することで、透過光の波長を順次切り替え、これらの各波長の光の光量をディテクターにて検出する。これにより、測定対象の分光スペクトルを測定(測色)することができる。
ところで、波長可変干渉フィルターを用いた分光測定を行う場合、反射膜間のギャップの寸法を初期寸法から徐々に小さく(又は大きく)し、その際に波長可変干渉フィルターから出力された光を検出することで、所定波長域に対する分光測定を実施する。この際、次の分光測定を実施する際に、再びギャップの寸法を初期寸法に戻すと、ギャップの寸法の変動分だけ反射膜が振動してしまう。この状態で、分光測定を実施すると、正確な測定結果が得られないため、通常は、振動が収束するまでの間待機し、振動が収束した後に次の分光測定を開始することになる。この場合、分光測定の開始タイミングが遅れ、測定に係る時間が長くなる。
この場合、例えば1つのカラーパッチに対して、第一分光測定及び第二分光測定の少なくともいずれか一方の処理を実施することで、そのカラーパッチの分光測定を精度よく実施することができる。
また、本適用例では、分光器の測定位置がカラーパッチ内に位置する際に、第一分光測定及び第二分光測定の少なくともいずれかが実施可能となるように、各カラーパッチの幅寸法を設定すればよい。つまり、従来の走査測定処理のように、反射膜の振動収束が収まるまでの待機時間を考慮して、カラーパッチの幅寸法を設定する必要がなく、ギャップの寸法を可変させて波長走査させるための時間と、分光器の移動速度とに基づいて、各カラーパッチの幅寸法を設定できる。これにより、各カラーパッチの幅寸法を小さくできる。ここで、前記所定方向に沿うカラーパッチの数が決まっている場合は、上記のように、個々のカラーパッチの幅寸法を小さくできる分、走査測定処理に係る総時間を短縮できる。また、前記所定方向に沿うカラーパッチの数を変更可能な場合では、個々のカラーパッチの幅寸法が小さくなる分、より多くのカラーパッチを所定方向に沿って配置することができる。この場合、短い時間でより多くのカラーパッチを測定することが可能となり、測定対象に対する走査測定処理に係る時間短縮をさらに図れる。
本適用例では、分光器の測定位置がカラーパッチ上に存在している間に、第一分光測定と、第二分光測定とを切り替える。つまり、1つのカラーパッチに対して、分光器の測定位置が当該カラーパッチ上を移動している間に、第一分光測定と、第二分光測定とを交互に切り替えて複数回実施する。このような構成では、1つのカラーパッチに対する複数回の分光測定の測定結果に基づいて、カラーパッチに対する分光測定をより高精度に実施できる。
本適用例では、上述にように、複数のカラーパッチを測定対象とする場合に、分光器による測定位置がカラーパッチ間を跨ぐ際に、第一分光測定と第二分光測定とを切り替え、かつ、測定位置が1つのカラーパッチ上を移動している間においても、第一分光測定と第二分光測定とを切り替えて複数回の分光測定を実施する。この場合でも、上記適用例と同様に、1つのカラーパッチに対する複数回の分光測定の測定結果に基づいて、カラーパッチに対する分光測定を高精度に行うことができる。
本適用例では、第一分光測定と、第二分光測定との間において、分光器の移動速度を、分光測定時の移動速度よりも速くする。上述したように、本適用例では反射膜の振動が収束するまでの待機時間を短くできるので、第一分光測定と、第二分光測定との間に長い待機時間を設ける必要がない。よって、分光器による測定位置を、第一分光測定を行う第一測定領域から第二分光測定を行う第二測定領域まで(又は、第二測定領域から第一測定領域まで)移動させる際の移動速度を速めることで、より迅速に次の測定領域に対する分光測定を実施することができ、走査測定処理に係る時間をさらに短縮することができる。
この場合、分光器を、例えば、分光時速度で、分光器を所定方向に移動させる場合に比べて、分光測定を行っていない間の分光器の移動速度を速める分、測定対象全体に対する測定(走査測定処理)に係る総時間を短縮することができる。
上述した適用例と同様に、各カラーパッチに対して少なくとも1回の分光測定を実施することができる。また、分光器による測定位置がカラーパッチ間を跨ぐ際には、分光器の移動速度を速めることで、次のカラーパッチに対する分光測定をより早いタイミングで実施でき、その結果、走査測定処理の総時間を短縮することができる。
本適用例では、画像形成部により、カラーパッチを画像形成対象に形成した上で、分光測定装置により、形成されたカラーパッチに対する分光測定を行うことができる。また、このような画像形成装置では、形成されたカラーパッチの色が、画像形成部に指令した色と同じ色であるか否かを確認することができ、異なる場合には、分光測定結果に応じて画像形成部にフィードバックすることができる。
本適用例では、上述した適用例と同様、ギャップの寸法が小さくなるように波長走査を行う第一分光測定ステップと、ギャップの寸法が大きくなるように波長走査を行う第二分光測定ステップとを交互に実施する。これにより、各分光測定(第一分光測定ステップ、第二分光測定ステップ)の終了時における反射膜の振動を小さくでき、その振動収束に係る待機時間も短くできる。よって、待機時間を短くできる分、測定対象の全体の測定処理に係る時間を短縮できる。
本適用例では、上述した適用例と同様、分光器における測定位置を、第一測定領域から第二測定領域まで、より迅速に移動させることができ、測定に係る時間を短縮できる。
以下、本発明に係る第一実施形態について、図面に基づいて説明する。本実施形態では、本発明の画像形成装置の一例として、分光測定装置を備えたプリンター10(インクジェットプリンター)について説明する。
図1は、第一実施形態のプリンター10の外観の構成例を示す図である。図2は、本実施形態のプリンター10の概略構成を示すブロック図である。
図1に示すように、プリンター10は、供給ユニット11、搬送ユニット12と、キャリッジ13と、キャリッジ移動ユニット14と、制御ユニット15(図2参照)と、を備えている。このプリンター10は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機器20から入力された印刷データに基づいて、各ユニット11,12,14及びキャリッジ13を制御し、媒体A上に画像を印刷する。また、本実施形態のプリンター10は、予め設定された較正用印刷データに基づいて媒体A上の所定位置に測色用のカラーパッチ31(図7,8,9等参照)を形成し、かつ当該カラーパッチ31に対する分光測定を行う。これにより、プリンター10は、カラーパッチ31に対する実測値と、較正用印刷データとを比較して、印刷されたカラーに色ずれがあるか否か判定し、色ずれがある場合は、実測値に基づいて色補正を行う。
以下、プリンター10の各構成について具体的に説明する。
なお、本実施形態では、ロール体111に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等の媒体Aをローラー等によって例えば1枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によって媒体Aが供給されてもよい。
搬送ローラー121は、図示略の搬送モーターからの駆動力が伝達され、制御ユニット15の制御により搬送モーターが駆動されると、その回転力により回転駆動されて、従動ローラーとの間に媒体Aを挟み込んだ状態でY方向に沿って搬送する。また、搬送ローラー121のY方向の下流側(+Y側)には、キャリッジ13に対向するプラテン122が設けられている。
このキャリッジ13は、キャリッジ移動ユニット14によって、Y方向と交差する主走査方向(本発明における所定方向であり、X方向)に沿って移動可能に設けられている。
また、キャリッジ13は、フレキシブル回路131により制御ユニット15に接続され、制御ユニット15からの指令に基づいて、印刷部16による印刷処理(媒体Aに対する画像形成処理)及び、分光器17による分光測定処理を実施する。
なお、キャリッジ13の詳細な構成については後述する。
このキャリッジ移動ユニット14は、例えば、キャリッジガイド軸141と、キャリッジモーター142と、タイミングベルト143と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸141は、X方向に沿って配置され、両端部がプリンター10の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター142は、タイミングベルト143を駆動させる。タイミングベルト143は、キャリッジガイド軸141と略平行に支持され、キャリッジ13の一部が固定されている。そして、制御ユニット15の指令に基づいてキャリッジモーター142が駆動されると、タイミングベルト143が正逆走行され、タイミングベルト143に固定されたキャリッジ13がキャリッジガイド軸141にガイドされて往復移動する。
[印刷部(画像形成部)の構成]
印刷部16は、本発明の画像形成部であり、媒体Aと対向する部分に、インクを個別に媒体A上に吐出して、媒体A上に画像を形成する。
この印刷部16は、複数色のインクに対応したインクカートリッジ161が着脱自在に装着されており、各インクカートリッジ161からインクタンク(図示略)にチューブ(図示略)を介してインクが供給される。また、印刷部16の下面(媒体Aに対向する位置)には、インク滴を吐出するノズル(図示略)が、各色に対応して設けられている。これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させることで、インクタンクから供給されたインク滴が吐出されて媒体Aに着弾し、ドットが形成される。
図3は、分光器17の概略構成を示す断面図である。
分光器17は、図3に示すように、光源部171と、光学フィルターデバイス172、受光部173と、導光部174と、を備えている。
この分光器17は、光源部171から媒体A上に照明光を照射し、媒体Aで反射された光成分を、導光部174により光学フィルターデバイス172に入射させる。そして、光学フィルターデバイス172は、この反射光から所定波長の光を出射(透過)させて、受光部173により受光させる。また、光学フィルターデバイス172は、制御ユニット15の制御に基づいて、透過波長を選択可能であり、可視光における各波長の光の光量を測定することで、媒体A上の測定対象領域Rの分光測定が可能となる。
光源部171は、光源171Aと、集光部171Bとを備える。この光源部171は、光源171Aから出射された光を媒体Aの測定対象領域R内に、媒体Aの表面に対する法線方向から照射する。
光源171Aとしては、可視光域における各波長の光を出射可能な光源が好ましい。このような光源171Aとして、例えばハロゲンランプやキセノンランプ、白色LED等を例示でき、特に、キャリッジ13内の限られたスペース内で容易に設置可能な白色LEDが好ましい。集光部171Bは、例えば集光レンズ等により構成され、光源171Aからの光を測定対象領域Rに集光させる。なお、図3においては、集光部171Bでは、1つのレンズ(集光レンズ)のみを表示するが、複数のレンズを組み合わせて構成されていてもよい。
図4は、光学フィルターデバイス172の概略構成を示す断面図である。
光学フィルターデバイス172は、筐体6と、筐体6の内部に収納された波長可変干渉フィルター5(波長可変干渉フィルター)とを備えている。
波長可変干渉フィルター5は、波長可変型のファブリーペローエタロン素子であり、図4に示すように、透光性の固定基板51及び可動基板52を備え、これらの固定基板51及び可動基板52が、接合膜53により接合されることで、一体的に構成されている。
固定基板51は、エッチングにより形成された第一溝部511、及び第一溝部511より溝深さが浅い第二溝部512を備えている。そして、第一溝部511には、固定電極561が設けられ、第二溝部512には、固定反射膜54が設けられている。
固定電極561は、可動電極562とともに、本発明のギャップ変更部である静電アクチュエーター56を構成する。例えば第二溝部512を囲う環状に形成されており、可動基板52に設けられた可動電極562に対向する。
固定反射膜54は、例えばAg等の金属膜、Ag合金等の合金膜、高屈折層及び低屈折層を積層した誘電体多層膜、又は、金属膜(合金膜)と誘電体多層膜を積層した積層体により構成されている。
可動部521は、保持部522よりも厚み寸法が大きく形成されている。この可動部521は、固定電極561の外周縁の径寸法よりも大きい径寸法に形成されており、可動部521の固定基板51に対向する面に、可動電極562及び可動反射膜55が設けられている。
可動電極562は、固定電極561に対向する位置に設けられ、固定電極561とともに、本発明のギャップ変更部である静電アクチュエーター56を構成する。
可動反射膜55は、固定反射膜54に対向する位置に、ギャップGを介して配置されている。この可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射膜を用いることができる。なお、固定反射膜54及び可動反射膜55により、本発明における一対の反射膜が構成される。
なお、本実施形態では、ダイアフラム状の保持部522を例示するが、これに限定されず、例えば、平面中心点を中心として、等角度間隔で配置された梁状の保持部が設けられる構成などとしてもよい。
また、可動基板52の外周部(固定基板51に対向しない領域)には、固定電極561や可動電極562と個別に接続された複数の電極パッド57が設けられている。
筐体6は、図4に示すように、ベース61と、ガラス基板62と、を備えている。これらのベース61及びガラス基板62は、例えばガラスフリット(低融点ガラス)を用いた低融点ガラス接合、エポキシ樹脂等による接着などを利用でき、これにより、内部に収容空間が形成され、この収容空間内に波長可変干渉フィルター5が収納される。
ベース61の凹部611の底面には、光通過孔612が設けられている。この光通過孔612は、波長可変干渉フィルター5の反射膜54,55と重なる領域を含むように設けられている。また、ベース61のガラス基板62とは反対側の面には、光通過孔612を覆うカバーガラス63が接合されている。
図3に戻り、受光部173は、波長可変干渉フィルター5の光軸上に配置され、当該波長可変干渉フィルター5を透過した光を受光する。そして、受光部173は、制御ユニット15の制御に基づいて、受光量に応じた検出信号(電流値)を出力する。なお、受光部173により出力された検出信号は、I−V変換器(図示略)、増幅器(図示略)、及びAD変換器(図示略)を介して制御ユニット15に入力される。
導光部174は、反射鏡174Aと、バンドパスフィルター174Bとを備えている。
この導光部174は、測定対象領域Rで、媒体Aの表面に対して45°で反射された光を反射鏡174Aにより、波長可変干渉フィルター5の光軸上に反射させる。バンドパスフィルター174Bは、可視光域(例えば380nm〜720nm)の光を透過させ、紫外光及び赤外光の光をカットする。これにより、波長可変干渉フィルター5には、可視光域の光が入射されることになり、受光部173において、可視光域における波長可変干渉フィルター5により選択された波長の光が受光される。
制御ユニット15は、図2に示すように、I/F151と、ユニット制御回路152と、メモリ153と、CPU(Central Processing Unit)154と、を含んで構成されている。
I/F151は、外部機器20から入力される印刷データをCPU154に入力する。
ユニット制御回路152は、供給ユニット11、搬送ユニット12、印刷部16、光源171A、波長可変干渉フィルター5、受光部173、及びキャリッジ移動ユニット14をそれぞれ制御する制御回路を備えており、CPU154からの指令信号に基づいて、各ユニットの動作を制御する。なお、各ユニットの制御回路が、制御ユニット15とは別体に設けられ、制御ユニット15に接続されていてもよい。
各種データとしては、例えば、波長可変干渉フィルター5を制御する際の、静電アクチュエーター56への印加電圧に対する、波長可変干渉フィルター5を透過する光の波長を示したV−λデータ、印刷データとして含まれる色データに対する各インクの吐出量を記憶した印刷プロファイルデータ等が挙げられる。また、光源171Aの各波長に対する発光特性(発光スペクトル)や、受光部173の各波長に対する受光特性(受光感度特性)等が記憶されていてもよい。
CPU154は、メモリ153に記憶された各種プログラムを読み出し実行することで、図5に示すように、走査制御手段181、印刷制御手段182、測定タイミング取得手段183、フィルター制御手段184、測色手段185、及びキャリブレーション手段186等として機能する。
カラーパッチ31についての詳細な説明は後述する。
印刷制御手段182からユニット制御回路152に指令信号が出力されると、ユニット制御回路152は、印刷部16に印刷制御信号を出力し、ノズルに設けられたピエゾ素子を駆動させて媒体Aに対してインクを吐出させる。なお、印刷を実施する際は、キャリッジ13がX方向に沿って移動されて、その移動中に印刷部16からインクを吐出させてドットを形成するドット形成動作と、媒体AをY方向に搬送する搬送動作とを交互に繰り返し、複数のドットから構成される画像を媒体Aに印刷する。
カラーパッチ31は、上記のように、較正用印刷データに基づいて媒体A上に形成されるものであり、X方向に対する幅寸法は較正用印刷データに記録された所定寸法となる。本実施形態では、1つのカラーパッチ31に対して、可視光域における所定間隔となる複数波長の光(例えば、400nmから700nmまでにおける20nm間隔毎の16バンド分の光)の分光特性を取得する。したがって、測定対象領域R(図8,9参照)が1つのカラーパッチ31上を移動する間に、これらの複数の波長の光をそれぞれ検出できるように、波長可変干渉フィルターを駆動させる必要がある。
測定タイミング取得手段183は、カラーパッチ31の領域内における測定領域Mに対する測定開始時間、及び測定終了時間をそれぞれ取得する。これらの測定開始時間及び測定終了時間としては、予めメモリ153に記憶されていてもよく、既知のデータに基づいて算出してもよい。
測定開始時間及び測定終了時間を算出する場合、測定タイミング取得手段183は、波長可変干渉フィルター5の透過光を切り替えるために必要なフィルター駆動時間Tn、取得する光の数(バンド数)n、キャリッジ13をX方向に移動(等速直線運動)させる際の速度v、及びカラーパッチの寸法(パッチ幅寸法Wp)に基づいて、カラーパッチ31の領域内における測定領域Mの開始位置M1(図8,9参照)、終了位置M2(図8,9参照)をそれぞれ設定する。そして、設定された開始位置M1に、測定対象領域Rの所定の基準点Rb(図9参照)が移動するまでの時間(測定開始時間)、終了位置M2に測定対象領域Rの基準点Rbが移動するまでの測定終了時間を算出する。
この際、フィルター制御手段184は、反射膜54,55の間のギャップGの寸法が、徐々に(段階的に)小さくなるように、静電アクチュエーター56への駆動電圧を変化させる第一波長走査を実施する。これにより、波長可変干渉フィルター5を透過する光の波長が段階的に切り替えられ、各波長の光を受光部173にて受光することで、第一分光測定処理が実施される。
また、第一分光測定処理の後、フィルター制御手段184は、静電アクチュエーター56への駆動電圧を、第一分光測定処理で最後に印加した駆動電圧のまま維持する。
そして、測定対象領域Rが、次の測定領域Mに移動されると、ギャップGの寸法が、徐々に(段階的に)大きくなるように、静電アクチュエーター56への駆動電圧を変化させる第二波長走査を実施する。これにより、波長可変干渉フィルター5を透過する光の波長が段階的に切り替えられ、各波長の光を受光部173にて受光することで、第二分光測定処理が実施される。
また、第二分光測定処理の後、フィルター制御手段184は、静電アクチュエーター56への駆動電圧を、第二分光測定処理で最後に印加した駆動電圧のまま維持する。
フィルター制御手段184により、以上の第一波長走査と第二波長走査を交互に実施することで、分光器17を用いた第一分光測定処理と、第二分光測定処理とが交互に実施されることになる。
キャリブレーション手段186は、測色手段185による測色結果と、較正用印刷データとに基づいて、印刷プロファイルデータを補正(更新)する。
なお、制御ユニット15における各機能構成の詳細な動作については後述する。
次に、本実施形態のプリンター10における分光測定方法について、図面に基づいて説明する。
図6は、プリンター10における分光測定方法を示すフローチャートである。
なお、本実施形態では、測定対象となる波長域は400nmから700nmの可視光域であり、初期波長を700nmとして、20nm間隔となる16個の波長の光の光量に基づいて分光測定を実施する例を示す。
プリンター10による分光測定方法では、まず、媒体A上にカラーパッチ31を含むカラーチャートを形成する。
これには、走査制御手段181は、媒体Aを所定位置にセットする(ステップS1)。すなわち、走査制御手段181は、供給ユニット11、搬送ユニット12を制御して、媒体Aを副走査方向(+Y方向)に搬送し、媒体Aの所定の印刷開始位置をプラテン122上にセットする。また、走査制御手段181は、キャリッジ13を、初期位置(例えば主走査方向の−X側端部)に移動させる。
すなわち、走査制御手段181により、キャリッジ13を+X側に例えば一定速度で走査させる。印刷制御手段182は、例えば走査開始からの時間に応じてキャリッジ13の印刷部16の位置を特定し、較正用印刷データに基づいた所定位置に所定色のノズルからインクを吐出させてドットを形成する(ドット形成動作)。また、走査制御手段181は、キャリッジ13が+X側端部まで移動されると、供給ユニット11及び搬送ユニット12を制御して媒体Aを+Y方向に搬送する(搬送動作)。そして、走査制御手段181は、キャリッジ13を−X方向に走査させ、印刷制御手段182は、較正用印刷データに基づいて、所定位置にドットを形成する。
以上のようなドット形成動作と搬送動作を繰り返すことで、媒体A上にカラーチャートが形成される。
本実施形態では、図7に示すように、複数色のカラーパッチ31がX方向に沿って隙間なく配置されて構成されたカラーパッチ群30を、Y方向に沿って複数個配置させたカラーチャート3が印刷により形成される。また、カラーチャート3には、カラーパッチ群30の−X側でY方向に平行な直線状のスタートバー32、及びカラーパッチ群30の+X側でY方向に平行な直線状のゴールバー33が設けられている。スタートバー32及びゴールバー33は、初期波長に対する反射率が、媒体Aと異なる色で形成されており、本実施形態では、白色紙面の媒体Aに対して、黒色のスタートバー32及びゴールバー33が形成されている。
本実施形態では、図8(A)に示すように、ギャップGの寸法を段階的に小さくする第一波長走査を実施しながら分光測定を行う第一分光測定処理と、ギャップGの寸法を段階的に大きくする第二波長走査を実施しながら分光測定を行う第二分光測定処理と、を交互に実施する。
また、第一分光測定処理の終了時点から第二分光測定処理の開始時点までの間において、ギャップGは最小ギャップ寸法gminに維持される。同様に、第二分光測定処理の終了時点から第一分光測定処理の開始時点までの間において、ギャップGは最大ギャップ寸法gmaxに維持される。
この場合、例えば、図8(B)に示す従来例に比べて、各カラーパッチ31に対する測定開始タイミングを早めることが可能となり、各カラーパッチの幅寸法Wpを小さくすることが可能となる。
図6に戻り、ステップS2の後、印刷されたカラーチャート3のインクが乾燥されると、走査制御手段181は、搬送ユニット12を制御して、媒体Aを−Y方向に搬送させ、カラーパッチ31における第1行目を、キャリッジ13(測定対象領域R)に対向する走査直線上に位置させる(ステップS3)。
なお、以降の説明にあたり、カラーパッチ31は、Y方向に沿ってJ行配置されており、カラーパッチ31における測定対象の行数を変数j(jは1〜Jの整数)にて示す。ステップS3では、変数j=1がセットされることで、走査制御手段181は、第1行目のカラーパッチ群30がプラテン122上に位置するように、媒体Aを搬送する。また、ステップS3では、走査制御手段181は、キャリッジ13を−X側端部(初期位置X=0)に移動させる。
図9は、カラーパッチに対する測定対象領域の位置と、出力値の変化と、キャリッジの移動時間との関係を示す図である。上記ステップS3の後では、キャリッジ13は、−X側端部の初期位置に位置しているため、測定対象領域Rは、図9に示すように、スタートバー32よりも−X側に位置している。
媒体Aとして白色紙面を用いる場合、制御ユニット15は、この初期位置の白色紙面に対する分光測定を実施する。すなわち、制御ユニット15は、光源171Aを点灯させて、フィルター制御手段184により、波長可変干渉フィルター5の静電アクチュエーター56に印加する駆動電圧を順次変化させ、初期波長から20nm間隔となるnバンド(例えば16バンド)の受光部173の出力値をそれぞれ取得する。また、制御ユニット15は、受光部173に光が入射していない状態での出力値(暗電圧)を測定する。これには、例えば光源171Aを消灯させた状態で受光部173からの出力値を取得してもよく、例えば分光器17の導光部174に、光路に対して進退可能な遮光板を設け、遮光板により受光部173への光の入射を遮断した上で、受光部173からの出力値を取得してもよい。
なお、本実施形態では、媒体Aが白色紙面の例を示したが、その他の色であってもよい。この場合では、媒体Aの色(各波長に対する反射率)が既知であるため、キャリブレーション時の各波長の出力値から基準出力値を算出できる。また、カラーチャート3の形成時に、スタートバー32の−X側に、基準色となる白色カラーパッチを形成してもよい。この場合、インク顔料として白色を有する場合、媒体Aによらず反射率が既知となる白色カラーパッチを形成することができる。
つまり、光源171Aの発光特性及び受光部173の受光感度特性が既知であるため、光源171Aの発光特性及び受光部173の受光感度特性を掛け合せた分光特性と、ステップS4での出力値の波形とを比較することで、V−λデータに基づく印加電圧に対する透過波長と、実際に印加した電圧に対する透過波長とのずれを検出することが可能となる。この場合、測定結果に基づいて、例えばV−λデータを補正することで、波長可変干渉フィルター5のキャリブレーションを実施できる。
また、媒体Aの初期位置に対して、所定波長(例えば初期波長である700nm)の反射率又は吸収率が他の波長と比べて高い補正用カラーパッチを形成してもよい。例えば、初期波長に対する反射率のみが高い補正用カラーパッチを配置する場合では、各波長に対する分光測定を実施し、反射率のピーク(初期波長)が検出された電圧と、V―λデータに記録された初期波長に対する電圧とが一致するか否かを判定し、ずれている場合は、V−λデータを補正する。
ステップS4の後、制御ユニット15は、カラーチャート3のカラーパッチ群30の各カラーパッチ31を測定するための測定タイミング(測定開始時間及び測定終了時間)を取得する(ステップS5)。
較正用印刷データに基づいてカラーチャート3が形成され、キャリッジ13の移動速度vも既知となるので、当該カラーチャート3の各カラーパッチ31に対応する測定開始時間や測定終了時間が、予めメモリ153に記憶されていてもよい。この場合、ステップS4では、メモリ153に記憶された測定開始時間や測定終了時間を読み込む。
また、較正用印刷データや、キャリッジ13の移動速度vに基づいて、測定領域Mや測定開始時間、測定終了時間等を算出してもよい。
以下において、測定領域Mや測定開始時間、測定終了時間を算出する場合の、算出方法の一例を説明する。
なお、以降の説明に当たり、図9に示すように、1つのカラーパッチ31のX方向に沿う−X側端部(マイナス側端部)を第一パッチ端部311、+X側端部(プラス側端部)を第二パッチ端部312とする。本実施形態では、カラーパッチ群30におけるi番目のカラーパッチ31の第一パッチ端部311は、i−1番目のカラーパッチ31の第二パッチ端部312と一致し、i番目のカラーパッチ31の第二パッチ端部312は、i+1番目のカラーパッチ31の第一パッチ端部311と一致する。また、本実施形態では、測定対象領域Rは、直径r(測定幅寸法r)の円形のスポットであり、その−X側端部を第一測定領域端部R1、+X側端部を第二測定領域端部R2とする。また、本実施形態では、測定対象領域Rにおける円中心点を基準点Rbとする。
また、本実施形態では、走査制御手段181は、キャリッジ13をX方向に沿って等速運動(速度v)で走査させる。
さらに、波長可変干渉フィルター5の静電アクチュエーター56に駆動電圧を印加した後、駆動電圧に応じた透過波長の光が透過されるまでの時間(フィルター駆動時間)Tnは、例えば波長可変干渉フィルターの検査時において予め測定しておくことで取得できる。従って、nバンド分の光の光量(出力値)を取得するために必要な時間は、n×Tnとなり、その期間において測定対象領域RがX方向に移動する測定距離Wm(図9参照)は、Wm=v×(n×Tn)となる。実際に測色を実施する際には、この測定距離Wmを移動する間、測定対象領域Rがカラーパッチ31の領域内に収まっている必要があるので、測定領域Mとして、少なくとも下記式(1)を満たす必要がある。
r+Wm<Wp …(1)
したがって、本実施形態では、第一パッチ端部311に第一測定領域端部R1が重なる位置よりも、所定のマージンa1(第一距離)だけ+X側の位置を開始位置M1とし、第二パッチ端部312に第二測定領域端部R2が重なる位置よりも、所定のマージンa2(第二距離)だけ−X側の位置を終了位置M2とした測定領域Mを設定する。
したがって、測定タイミング取得手段183は、下記式(2)を満たすように、マージンa1,a2を設定し、測定領域Mを設定する。なお、これらのマージンa1,a2としては、同値であることが好ましい。実際に分光測定を実施する際には、測定領域Mがどちらの方向に移動するか予想がつかないため、+X側及び−X側に同値のマージンa1,a2を設定することで、分光測定時の信頼性を高めることができる。
r+(a1+a2)+Wm=Wp …(2)
よって、測定対象領域Rがスタートバー32を超えたタイミングを基準位置として、キャリッジ13を速度vで等速直線運動させた際の移動時間により、測定対象領域Rの位置を検出することが可能となる。つまり、本実施形態では、測定タイミング取得手段183は、測定領域Mの設定として、測定対象領域Rの基準点Rbが、各カラーパッチ31の開始位置M1に移動する時間(測定開始時間)を算出する。なお、基準点Rbが、各カラーパッチ31の終了位置M2に移動する時間(測定終了時間)をさらに算出してもよい。
また、基準位置から最初のカラーパッチ31の開始位置M1までの距離は、図9に示すように、「W0+a1」となる。したがって、基準タイミングT0から、最初のカラーパッチ31における開始位置M1までの(基準点Rbの)移動時間(測定開始時間)Tm1(1)は、下記式(3)となる。なお、終了位置M2までの移動時間(測定終了時間)Tm2(1)を算出する場合は、下記式(4)を用いればよい。
Tm1(1)=(W0+a1)/v …(3)
Tm2(1)=Tm1(1)+Wm/v=(W0+a1+Wm)/v …(4)
Tm1(i)=Tm1(i−1)+Wp/v …(4)
Tm2(i)=Tm1(i)+Wm/v
(=Tm2(i−1)+Wp/v) …(5)
(ただし、i≧2)
r+(a1(i)+a2(i))+Wm=Wp(i) …(6)
Tm1(i)=Tm1(i−1)+(r+Wm+a2(i−1)+a1(i))/v
(=Tm2(i−1)+(r+a2(i−1)+a1(i))/v)…(7)
Tm2(i)=Tm2(i−1)+(r+a2(i−1)+a1(i)+Wm)/v
(=Tm1(i)+Wm/v) …(8)
(ただし、i≧2)
ステップS5の後、以下に示す走査測定処理を実施する。
図10は、本実施形態において、連続する2つのカラーパッチのそれぞれに対する分光測定における測定波長、測定次数、ギャップGの寸法、及び当該寸法の変動量を示す図である。
走査測定処理では、フィルター制御手段184は、波長可変干渉フィルター5の静電アクチュエーター56に印加する電圧を、初期駆動電圧に設定する(ステップS6)。この初期駆動電圧は、1番目のカラーパッチ31に対して最初に測定する測定波長に対する駆動電圧であり、例えばメモリ153に記憶されたV−λデータに記憶されている。例えば、図10に示す例では、i=1に対応するカラーパッチに対する分光測定において、測定順番「1」で測定される波長は「600(nm)」であり、ギャップの寸法を「523.2(nm)」に設定する。したがって、初期駆動電圧は、ギャップの寸法を「523.2(nm)」に対応した駆動電圧がV−λデータから読み込まれ、静電アクチュエーター56に印加される。
また、フィルター制御手段184は、カラーパッチ31の位置を示す変数iを初期化(i=1)する(ステップS7)。
そして、フィルター制御手段184は、基準タイミングT0からの経過時間tがステップS5にて取得された測定開始時間Tm1(i)となったか否かを判定する(ステップS10)。
ステップS10において、「Yes」と判定された場合、制御ユニット15は、i番目のカラーパッチ31に設定された測定領域Mに対して、分光測定処理を実施する。
具体的には、カラーパッチを示す変数iが奇数(i=2n+1;ただし、nは0以上の整数)であるか否かを判定する(ステップS11)。
この第一分光測定処理では、フィルター制御手段184は、静電アクチュエーター56に印加する電圧を段階的に大きくすることで、図10に示すように、ギャップGの寸法を、段階的に減少させる(第一波長走査)。これにより、受光部173から所定波長域におけるnバンドの光に対する出力値(例えば400nm〜700nmにおける20nm間隔の波長の光に対する16個の出力値)が制御ユニット15に出力される。制御ユニット15は、これらの出力値を適宜メモリ153に記憶する。
また、上記のように、ギャップGの寸法を徐々に(段階的に)変化させることで、ギャップ変動間隔が小さくなり、可動部521の変位時の振動を抑えることができる。すなわち、波長可変干渉フィルター5の透過光を切り替えるために必要なフィルター駆動時間Tnを短縮することができるので、測定領域Mを縮小できる。
この第二分光測定処理では、フィルター制御手段184は、静電アクチュエーター56に印加する電圧を段階的に小さくすることで、図10に示すように、ギャップGの寸法を、段階的に増加させる(第二波長走査)。これにより、受光部173から所定波長域におけるnバンドの光に対する出力値(例えば400nm〜700nmにおける20nm間隔の波長の光に対する16個の出力値)が制御ユニット15に出力される。制御ユニット15は、これらの出力値を適宜メモリ153に記憶する。
すなわち、本実施形態では、奇数番目のカラーパッチ31に対する第一分光測定処理と、偶数番目のカラーパッチ31に対する第二分光測定処理とが、交互で実施されることになる。このため、図8(A)に示すように、ギャップGにおける急激な寸法変動が抑制されることになり、これに伴う待機時間も短縮される。
ステップS19において、「No」と判定された場合は、走査制御手段181は、行送り処理を行い、第j行目のカラーパッチ群30がプラテン122上に位置するように、媒体Aを搬送する(ステップS20)。この後、ステップS6に戻る。
ステップS19において、「Yes」と判定された場合、走査制御手段181は、搬送ユニット12を制御して排紙動作を行い、媒体Aを排出させる(ステップS21)。
この後、キャリブレーション手段186は、較正用印刷データに記録された各カラーパッチの色度と、ステップS21により算出された色度とに基づいて、メモリ153に記憶された印刷プロファイルデータを更新する(ステップS23)。
本実施形態のプリンター10は、分光器17及び印刷部16を備えたキャリッジ13をX方向に移動させながら、分光器17に設けられた波長可変干渉フィルター5におけるギャップGの寸法を変化させてカラーパッチ31に対する分光測定を実施する。この際、プリンター10は、第一分光測定処理と、第二分光測定処理と、を交互に実施する。
すなわち、第一分光測定処理において、測定対象波長域の最大ギャップ寸法(523.2(nm)から最小ギャップ寸法(234.9(nm))まで、段階的にギャップGの寸法を変動させた後、再び最大ギャップ寸法に戻さず、最小ギャップ寸法を維持する。そして、次の第二分光測定処理において、維持された最小ギャップ寸法から、最大ギャップ寸法まで段階的にギャップGの寸法を変動させた後、その最大ギャップ寸法を維持する。したがって、第一分光測定処理及び第二分光測定処理の終了時における反射膜の振動が小さく、その振動収束に係る待機時間を短縮できる。これによって、走査測定処理に係る総時間を大きく短縮することができる。
また、各カラーパッチ31に対する分光測定処理に係る時間が短縮される分、その後の各種処理の開始時間を早めることができる。すなわち、印刷部16によるカラーチャート3の作成から、各カラーパッチ31の分光測定処理、分光測定結果に応じた測色処理、及びキャリブレーション処理に係る総時間を短縮できる。
このため、1つのカラーパッチ31に対して、第一分光測定処理又は第二分光測定処理が実施されることで、各カラーパッチ31に対する測色処理を精度よく実施することが可能となる。
このため、1行に配置されるカラーパッチ31の数を多くでき、カラーチャート3に含まれるカラーパッチ群30の行数も少なくすることが可能となる。この点においても、キャリッジ13の初期位置への移動や、媒体Aの搬送動作に係る時間を短縮でき、走査測定処理に係る総時間の短縮を図れる。
例えば、従来、10個のカラーパッチ31が配置されたカラーパッチ群30を6行形成することで60個のカラーパッチ31に対する分光測定を実施する場合を考える。ここで、本実施形態では、上記のように、カラーパッチ31の幅寸法Wpを小さくすることで、1つのカラーパッチ群30に属するカラーパッチ31の個数を多くでき、例えば12個のカラーパッチ31を含ませることが可能となる。この場合では、60個のカラーパッチ31を測定するために、カラーパッチ群30を5行形成すればよく、キャリッジ13の初期位置への移動や媒体Aの搬送動作を1行分短縮することが可能となる。
次に、本発明に係る第二実施形態について説明する。なお、以降の説明に当たり、第一実施形態と同様の構成、同様の処理については、同符号を付し、その説明を省略又は簡略化する。
上述した第一実施形態では、キャリッジ13を移動速度vで等速直線運動させる例を示したが、第二実施形態では、キャリッジ13の移動速度vを走査途中で変更する点で上記第一実施形態と相違する。
本実施形態では、上記第一実施形態と同様に、走査測定処理において、第一分光測定処理と第二分光測定処理とを交互に行う。また、第一実施形態と同様に、第一分光測定処理の後、次の第二分光測定処理までの間、ギャップGの寸法を、第一分光測定処理における最後の測定で設定された寸法(234.9(nm))に維持する。同様に、第二分光測定処理の後、次の第一分光測定処理までのギャップGの寸法を、第二分光測定処理における最後の測定で設定された寸法(523.3(nm))に維持する。
つまり、走査制御手段181は、測定対象領域Rが、i番目のカラーパッチ31における測定領域Mの終了位置M2から、基準点Rbがカラーパッチ31間の境界(i番目の第二パッチ端部312、i+1番目の第一パッチ端部311)に重なる位置までを移動する間、キャリッジ13を所定の加速度αで加速させる。そして、走査制御手段181は、測定対象領域Rが、基準点Rbがカラーパッチ31間の境界に重なる位置から、i+1番目のカラーパッチ31における測定領域Mの開始位置M1までを移動する間、キャリッジ13を所定の加速度αで減速させ、分光測定時の移動速度v(第一速度及び第三速度)に戻す。
また、走査制御手段181は、経過時間tが{Tm1(i+1)−Tm2(i)}/2から、Tm1(i+1)までの間、速度V=v−α{Tm1(i+1)−t}でキャリッジ13を移動させる。
本実施形態では、測定対象領域Rが隣り合うカラーパッチ31間を跨いで移動し、カラーパッチ31に対する分光測定処理を実施しない期間(第一分光測定処理と第二分光測定処理との間の期間)において、キャリッジ13の移動速度Vを、分光測定処理時の移動速度vよりも速くする。
これにより、i番目のカラーパッチ31に対する分光測定処理(第一分光測定処理又は第二分光測定処理)が終了後に、i+1番目のカラーパッチ31に対する測定の開始位置M1まで、迅速に測定対象領域Rを移動させることができ、走査測定処理における総時間の更なる短縮を図ることができる。
次に、本発明に係る第三実施形態について、図面に基づいて説明する。
上記第一及び第二実施形態では、1つのカラーパッチ31に対して1つの測定領域Mが設定されており、この測定領域Mに対して分光測定処理(第一分光測定処理又は第二分光測定処理)を実施する例を示した。これに対して、第三実施形態では、1つのカラーパッチ31に対して複数回の分光測定処理を実施する点で上記実施形態と相違する。
図12(A)に示すように、本実施形態では、1つのカラーパッチ31に対して、第一分光測定処理と、第二分光測定処理との双方を実施する。このように、1つのカラーパッチ31に、複数回の分光測定を実施することで、当該カラーパッチに対するより多くの測定結果を得ることができ、分光測定精度を向上させることが可能となる。例えば、複数回の分光測定結果の平均値を用いることで、これらの分光測定結果のいずれかにノイズ成分が含まれている場合でも、その影響を低減させることができる。
すなわち、図12(B)に示すような、従来の分光測定方法では、第一測定領域M−1に対して分光測定処理を行った後、可動部521の振動が収束するまでの待機時間TW0の間、次の分光測定処理を実施できない。これに対して、本実施形態では、上記実施形態と同様、待機時間が十分に小さいので、第一分光測定処理に続けて第二分光測定処理を実施することができる。
本実施形態では、上記第一及び第二実施形態と同様に、フィルター制御手段184は、キャリッジ13の走査移動中において、第一波長走査と第二波長走査とを交互に実施することで、第一分光測定処理と、第二分光測定処理とを交互に実施する。これにより、上記各実施形態と同様に、迅速な走査測定処理を実施できる。
また、図12(B)に示すような従来の分光測定方法では、待機時間TW0を考慮して、カラーパッチ31の幅寸法Wp0を大きく設定する必要がある。これに対して、本実施形態では、図12(A)に示すように、第一測定領域M−1と第二測定領域M−2とを隣接でき、第一分光測定処理の直後に引き続き第二分光測定処理を実施することができる。よって、カラーパッチ31の幅寸法Wpを従来に比べて小さくできる。これにより、1つのカラーパッチ群30に対してより多くのカラーパッチ31を配置することができる。上記第一実施形態と同様、走査測定処理に係る総時間を短縮することができる。
次に、本発明に係る第四実施形態について説明する。
上述した第一実施形態では、第一分光測定処理と第二分光測定処理とを交互に実施することで、待機時間を短縮して走査測定処理に係る総時間を短縮した。
これに対して、本実施形態では、複数回の分光測定処理の間におけるキャリッジ13の移動速度を速めることで、走査測定処理に係る総時間を短縮する点で、上記第一実施形態と相違する。
すなわち、本実施形態では、図13(A)に示すように、従来と同様、分光測定時において、ギャップGの寸法を段階的に小さくしながら分光測定処理を実施し、分光測定処理の終了後に初期ギャップ寸法(最大ギャップ寸法gmax)に戻す。
そして、i番目のカラーパッチ31に対する測定領域M(第一測定領域)に対する分光測定処理(第一領域測定処理、第一領域測定ステップ)では、走査制御手段181は、分光測定処理によりエラーが生じない速度v(第一速度)に設定する。また、走査制御手段181は、i番目のカラーパッチ31に対する測定領域Mの終了位置M2から、i+1番目のカラーパッチ31に対する測定領域M(第二測定領域)の開始位置M1に、測定対象領域Rを移動させる際に、第二実施形態と同様に、キャリッジ13の移動速度vを、分光測定時よりも速い速度(第二速度)に設定する。
この後、測定対象領域Rが、i+1番目のカラーパッチ31に対する測定領域M(第二測定領域)の開始位置M1に移動されると、元の移動速度v(第三速度=第一速度)に戻し、当該測定領域Mに対する分光測定処理(第二領域測定処理、第二領域測定ステップ)を開始する。
このような本実施形態では、図13に示すように、従来の各分光測定処理の測定開始時間t14,t16よりも、本実施形態における各分光測定処理の測定開始時間t11、t13を早めることができ、その分走査測定処理の総時間の短縮を図れる。
本実施形態では、キャリッジ13を移動させながら、複数回の分光測定処理を実施する走査測定処理において、各分光測定処理の間におけるキャリッジ13の移動速度を、分光測定時の移動速度よりも速くする。このため、例えば分光測定時の速度のままでキャリッジ13を移動させる場合に比べて、より迅速な走査測定処理を実施できる。
特に、本実施形態では、図13(A)に示すように、複数のカラーパッチ31のそれぞれに対して1回の分光測定処理を実施し、測定対象領域Rが隣接するカラーパッチ31に移動する際に、キャリッジ13の移動速度を速める。つまり、測定対象領域Rがカラーパッチ31の境界を跨ぐ期間は、正確な分光測定を実施することができないので、この期間におけるキャリッジ13の速度を速めることで、走査測定処理の総時間の短縮を図れ、分光測定時には、キャリッジ13の移動速度を所望のバンド数の測定結果を得るための速度に戻すので、分光測定精度の低下も抑制できる。
なお、本発明は上述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良、及び各実施形態を適宜組み合わせる等によって得られる構成は本発明に含まれるものである。
例えば、キャリッジ13を固定し、媒体Aをキャリッジ13に対して移動させる構成としてもよい。この場合、キャリッジ13の移動に伴う波長可変干渉フィルター5の振動を抑制でき、波長可変干渉フィルター5の透過波長を安定化させることができる。
また、X方向に沿って複数配置されたカラーパッチ31に対して、測定対象領域RをX方向に沿って走査させる例を示したが、カラーパッチ31に対して測定対象領域RをY方向に沿って走査させてもよい。この場合、搬送ユニット12によって媒体AをY方向に送ることで、測定対象領域Rをカラーパッチ31に対して相対移動させることができる。なお、この場合では、本発明における所定方向(走査方向)はY方向となる。
また、カラーチャート3に配置される奇数行目のカラーパッチ群30に対してはキャリッジ13を+X側に移動する間に分光測定処理を実施し、偶数行目のカラーパッチ群30に対しては、キャリッジ13を−X側に移動する間に分光測定処理を実施してもよい。
例えば、測定領域Mとパッチ端部311,312との間にマージンが設けられず、第一パッチ端部311と第一測定領域端部R1とが重なる位置(測定対象領域Rがカラーパッチ31の領域内に入った直後)を分光測定処理の開始位置M1としてもよい。同様に、第二パッチ端部312と第二測定領域端部R2とが重なる位置(測定対象領域Rがカラーパッチ31外に出る直前)を分光測定処理の終了位置M2としてもよい。
特に、上述した第一から第三実施形態では、走査測定処理において、第一分光測定処理と、第二分光測定処理とを交互に実施するため、ギャップGの大きな振動がなく、当該振動収束までの待機時間も短い。よって、マージンを設けず、測定対象領域Rの全体がカラーパッチ31内に入った直後のタイミングを測定開始時間とし、カラーパッチ31外に出る直前のタイミングを測定終了時間としても、十分な測定精度の測定結果を得ることができる。また、この場合では、各カラーパッチ31の幅寸法Wpをさらに小さくできるため、走査測定処理の総時間をさらに短縮できる。
例えば、キャリッジ13が−X側の最端部に位置する状態(初期位置)を基準位置として、初期位置からの各カラーパッチ31に対する測定領域Mの測定開始時間及び測定終了時間を設定してもよい。
また、各カラーパッチ31に対する測定開始時間及び測定終了時間として、測定対象領域Rの全域が前段に配置されたカラーパッチ31の第二パッチ端部312を超えるタイミングを基準に、測定開始時間及び測定終了時間を設定してもよい。
これに対して、キャリッジ13の位置を位置センサーや、キャリッジ移動ユニット14の駆動モーターの回転角度及び回転数に基づいて、X方向におけるキャリッジ13の位置(測定対象領域Rの位置)を検出し、検出されたキャリッジ13の位置に基づいた測定処理を実施してもよい。例えば、フィルター制御手段184は、検出された位置に基づいて、静電アクチュエーター56に印加する電圧を制御して、第一波長走査や第二波長走査を行ってもよい。また、第二及び第四実施形態においては、走査制御手段181は、検出された位置に基づいて、キャリッジ13の速度を変化させてもよい。
第三実施形態においても、奇数回目の分光測定処理では、第一分光測定処理を実施し、偶数回目の分光測定処理では、第二分光測定処理を実施したが、奇数回目の分光測定処理において第二分光測定処理を実施し、偶数回目の分光測定処理において第一分光測定処理を実施してもよい。
また、インクジェット方式のものに限定されず、例えば熱転写方式を用いたサーマルプリンターや、レーザープリンター、ドットインパクトプリンター等、如何なる印刷方式のプリンターに対しても適用できる。
例えば、媒体Aの表面に対して45°の角度で光を入射させ、媒体Aの法線方向に反射された光を、波長可変干渉フィルター5を介して受光部173で受光させる構成としてもよい。
また、媒体Aを45°で反射する光を、波長可変干渉フィルター5を介して受光部173で受光したが、例えば30°等、45°以外で反射された光を受光してもよい。すなわち、媒体Aにて正反射された光が受光部173に受光されないように、受光部173及び波長可変干渉フィルター5の光軸の角度を設定すればよい。
また、筐体6に波長可変干渉フィルター5が収納された光学フィルターデバイス172を例示したが、波長可変干渉フィルター5が直接分光器17に設けられる構成などとしてもよい。
さらに、波長可変干渉フィルター5を備えた光学フィルターデバイス172が、導光部174から受光部173の間に設けられる構成(後分光)を例示したがこれに限定されない。
例えば、光源部171内に波長可変干渉フィルター5、若しくは、波長可変干渉フィルター5を備えた光学フィルターデバイス172を配置し、波長可変干渉フィルター5により分光された光を媒体Aに照射する構成(前分光)としてもよい。
さらには、第三実施形態では、分光素子として波長可変干渉フィルターに限られず、その他の分光素子を用いてもよい。例えば、AOTF(Acousto-Optic Tunable Filter)やLCTF(Liquid crystal tunable filter)、グレーティング等の各種分光素子を用いることができる。
Claims (10)
- 測定対象からの光が入射される波長可変干渉フィルターを含む分光器と、
前記分光器を前記測定対象に対して所定方向に沿って相対移動させる移動機構と、を含み、
前記波長可変干渉フィルターは、一対の反射膜と、前記一対の反射膜の間のギャップ寸法を変化させるギャップ変更部とを有し、
前記分光器が前記所定方向に相対移動される間に、前記ギャップ寸法を減少させながら分光測定を行う第一分光測定と、前記ギャップ寸法を増加させながら前記分光測定を行う第二分光測定と、を交互に実施する
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項1に記載の分光測定装置において、
前記測定対象が前記所定方向に沿って配置された複数のカラーパッチである場合に、前記分光器を前記所定方向に沿って相対移動させて、前記分光器により測定される領域が前記複数のカラーパッチのうちの1つから前記複数のカラーパッチのうちの他の1つに切り替わる毎に、前記第一分光測定と前記第二分光測定とを切り替える
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項1に記載の分光測定装置において、
前記測定対象がカラーパッチである場合に、前記分光器により測定される領域が前記カラーパッチと重なっている間に、前記第一分光測定と前記第二分光測定とを交互に切り替える
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項2に記載の分光測定装置において、
前記分光器により測定される領域が前記複数のカラーパッチのうちの1つと重なっている間に、前記第一分光測定と前記第二分光測定とを交互に切り替える
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の分光測定装置において、
前記移動機構は、前記第一分光測定の終了時点から前記第二分光測定の開始時点までの間、及び、前記第二分光測定の終了時点から前記第一分光測定の開始時点までの間において、前記第一分光測定を行っている時の前記分光器の移動速度及び前記第二分光測定を行っているときの前記分光器の移動速度よりも速い速度で、前記分光器を相対移動させる
ことを特徴とする分光測定装置。 - 測定対象からの光が入射される分光素子を含む分光器と、
前記分光器を前記測定対象に対して所定方向に沿って相対移動させる移動機構と、を含み、
前記分光器が前記所定方向に相対移動される間に、前記測定対象の第一測定領域に対する分光測定を行う第一領域測定処理と、前記第一測定領域よりも前記分光器が相対移動される側に配置された第二測定領域に対する分光測定を行う第二領域測定処理と、を実施し、前記第一領域測定処理の終了から、前記第二領域測定処理の開始までの間において、前記第一領域測定処理及び前記第二領域測定処理における前記分光器の相対移動速度よりも速い速度で、前記分光器を相対移動させる
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項6に記載の分光測定装置において、
前記測定対象が前記所定方向に沿って配置された複数のカラーパッチである場合に、前記第一測定領域及び前記第二測定領域は、それぞれ異なるカラーパッチの領域である
ことを特徴とする分光測定装置。 - 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の分光測定装置と、
画像形成対象に画像を形成する画像形成部と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 測定対象からの光が入射される波長可変干渉フィルターを含む分光器と、前記分光器を前記測定対象に対して所定方向に沿って相対移動させる移動機構と、を含み、前記波長可変干渉フィルターは、一対の反射膜と、前記一対の反射膜の間のギャップ寸法を変化させるギャップ変更部とを有する分光測定装置の分光測定方法であって、
前記分光器が前記所定方向に相対移動されている間に、前記ギャップ寸法を減少させながら分光測定を行う第一分光測定ステップと、
前記分光器が前記所定方向に相対移動されている間に、前記ギャップ寸法を増加させながら分光測定を行う第二分光測定ステップと、を実施し、
前記第一分光測定ステップ及び第二分光測定ステップは、交互に実施される
ことを特徴とする分光測定方法。 - 測定対象からの光が入射される分光素子を含む分光器と、前記分光器を前記測定対象に対して所定方向に沿って相対移動させる移動機構と、を含む分光測定装置の分光測定方法であって、
前記分光器を第一速度で相対移動させながら、前記分光器により前記測定対象の第一測定領域に対する分光測定を行う第一領域測定ステップと、
前記分光器を、前記第一測定領域から、前記第一測定領域よりも前記分光器が相対移動される側に配置された第二測定領域まで、第二速度で相対移動させる移動ステップと、
前記移動機構により前記分光器を第三速度で相対移動させながら、前記分光器により前記第二測定領域に対する分光測定を行う第二領域測定ステップと、を実施し、
前記第二速度は、前記第一速度及び前記第三速度よりも速い
ことを特徴とする分光測定方法。
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