JP5215939B2 - 分光蛍光光度計および分光分析光度計 - Google Patents
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Description
前記データ処理部は、(1−1)前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに既知の輝線スペクトルを有する入射光が入射されたとき、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対し、前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンを指示し、(1−2)前記指示に基づく前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンによって前記検知器から得られる往方向スペクトルおよび復方向スペクトルを、前記既知の輝線スペクトルと比較して、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける往方向波長校正値および復方向波長校正値を取得しておき、(2−1)前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち一方の分光器に対し、入射光の0次光を選択して透過させるように設定する第1の処理と、(2−2)前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち他方の分光器に対して、前記往方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得し、その取得した前記蛍光のスペクトルにおける波長値を、前記他方の分光器の往方向波長校正値で校正する第2の処理と、(2−3)前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち他方の分光器に対して、前記復方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得し、その取得した前記蛍光のスペクトルにおける波長値を、前記他方の分光器の復方向波長校正値で校正する第3の処理と、を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行し、前記蛍光のスペクトルの時間推移を表した3次元時間変化スペクトルを生成することを特徴とする。
請求項3に記載の分光蛍光光度計は、請求項1に記載の分光蛍光光度計であって、前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、前記復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であることを特徴とする。
請求項8に記載の分光分析光度計は、請求項4ないし請求項6のいずれか1項に記載の分光分析光度計であって、前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、前記復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であることを特徴とする。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る分光蛍光光度計の構成の例を示した図である。図1に示すように、分光蛍光光度計100は、光度計部110、データ処理部120、操作・表示部130を含んで構成される。
図13は、本発明の第2の実施形態に係る分光分析光度計の構成の例を示した図である。図13に示すように、分光分析光度計150は、光度計部155、データ処理部120、操作・表示部130を含んで構成され、第1の実施形態における分光蛍光光度計100の一部が改変されて、測定試料6の透過率や吸光度を測定する装置にされたものである。従って、分光分析光度計150の構成は、図1に示した分光蛍光光度計100(または、図7に示した波長校正用光源15を内蔵した分光蛍光光度計100a)の構成とほとんど同じである。以下、その構成と相違する部分についてのみ説明する。
以上に説明した実施形態では、励起側パルスモータ12や蛍光側パルスモータ11などの波長駆動系で生じるバックラッシュに起因する波長設定誤差を実測し、実測した誤差を校正値とすることによって、バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避できるようにしたが、例えば、励起側パルスモータ12および蛍光側パルスモータ11として回折格子を直接回転させるダイレクトドライブモータを用いることによって、バックラッシュを防止するようにしてもよい。
2 励起側分光器(第1の分光器)
3 ビームスプリッタ
4 モニタ検知器
5 試料設置部
6 測定試料
7 蛍光側分光器(第2の分光器)
8 検知器
9 A/D変換器
10 コンピュータ
11 蛍光側パルスモータ
12 励起側パルスモータ
13 モニタ表示装置
14 操作パネル
15 波長校正用光源
16 光源切替ミラー
19 ミラー
100 分光蛍光光度計
110 光度計部
120 データ処理部
130 操作・表示部
150 分光分析光度計
Claims (8)
- それぞれ、入射光をスペクトルスキャンして、そのスペクトルスキャン時に設定される波長の光を選択的に取り出す第1の分光器および第2の分光器と、
所定の光源からの入射光のうち、前記第1の分光器により選択的に取り出された第1の波長の選択光が、測定試料に照射され、前記選択光の照射により前記測定試料から発せられた蛍光または間接光が前記第2の分光器へ入射されたとき、前記第2の分光器により選択的に取り出された第2の波長の蛍光または間接光の強度を検出する検知器と、
前記第1の分光器および第2の分光器に対するスペクトルスキャン動作を制御するとともに、前記検知器によって検出される蛍光の強度を取得し、前記取得した蛍光の強度に基づき、前記蛍光の3次元時間変化スペクトルを生成するデータ処理部と、
を備え、
前記データ処理部は、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに既知の輝線スペクトルを有する入射光が入射されたとき、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対し、前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンを指示し、
前記指示に基づく前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンによって前記検知器から得られる往方向スペクトルおよび復方向スペクトルを、前記既知の輝線スペクトルと比較して、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける往方向波長校正値および復方向波長校正値を取得しておき、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち一方の分光器に対し、入射光の0次光を選択して透過させるように設定する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち他方の分光器に対して、前記往方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得し、その取得した前記蛍光のスペクトルにおける波長値を、前記他方の分光器の往方向波長校正値で校正する第2の処理と、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のうち他方の分光器に対して、前記復方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得し、その取得した前記蛍光のスペクトルにおける波長値を、前記他方の分光器の復方向波長校正値で校正する第3の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行し、
前記蛍光のスペクトルの時間推移を表した3次元時間変化スペクトルを生成すること
を特徴とする分光蛍光光度計。 - 前記往方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であり、復方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項1に記載の分光蛍光光度計。 - 前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項1に記載の分光蛍光光度計。 - それぞれ、入射光をスペクトルスキャンして、そのスペクトルスキャン時に設定される波長の光を選択的に取り出す第1の分光器および第2の分光器と、
所定の光源からの入射光のうち、前記第1の分光器により選択的に取り出された第1の波長の第1の選択光のうち、さらに、測定試料を透過した透過光が前記第2の分光器へ入射されたとき、前記第2の分光器により選択的に取り出された第2の波長の第2の選択光の強度を検出する検知器と、
前記第1の分光器および第2の分光器に対するスペクトルスキャン動作を制御するとともに、前記検知器によって検出される前記第2の選択光の強度を取得し、前記取得した第2の選択光の強度に基づき、前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成するデータ処理部と、
を備え、
前記データ処理部は、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに既知の輝線スペクトルを有する入射光が入射されたとき、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対し、前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンを指示し、
前記指示に基づく前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンによって前記検知器から得られる往方向スペクトルおよび復方向スペクトルを、前記既知の輝線スペクトルと比較して、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける往方向波長校正値および復方向波長校正値を取得し、
前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成する場合には、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対してそれぞれ設定された前記第1の波長および第2の波長を、そのとき前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおいて行われていたスペクトルスキャンの方向に応じて、前記往方向波長校正値または復方向波長校正値により校正すること
を特徴とする分光分析光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器および前記第2の分光器に対して、前記第1の波長と第2の波長とを一致させる同期スペクトルスキャンを前記往方向に実行することを指示し、前記指示された往方向の同期スペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2の分光器に対して、前記第1の波長と第2の波長とを一致させる同期スペクトルスキャンを前記復方向に実行することを指示し、前記指示された復方向の同期スペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第2の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行すること
を特徴とする請求項4に記載の分光分析光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器および前記第2のうち一方の分光器を、入射光の0次光を選択して透過させるように設定する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記往方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第2の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記復方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第3の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行すること
を特徴とする請求項4に記載の分光分析光度計。 - 前記往方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であり、復方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項4ないし請求項6のいずれか1項に記載の分光分析光度計。 - 前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項4ないし請求項6のいずれか1項に記載の分光分析光度計。
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