JP2016518725A5 - - Google Patents
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Description
オプトエレクトロニクス素子のある実施形態では、オプトエレクトロニクス半導体チップは、第1の幾何学的な形状を備えた上面を有する。ここで第1のキャビティは、幾何学的な基本形状を備えた底面を有する。これは、第1の幾何学的な形状から延ばすことによって形成される。さらに、第1のキャビティの底面は、この幾何学的な基本形状に対して付加的に張り出し部を有している。ここで、ボンディング面は、底面に接している張り出し部内に配置されている。有利には、オプトエレクトロニクス半導体チップの上面の第1の幾何学的な形状と、第1のキャビティの底面の幾何学的な基本形状とが相似していることによって、第1のキャビティの壁部は、第1のキャビティ内に配置されているオプトエレクトロニクス半導体チップを、オプトエレクトロニクス半導体チップの全面で、ほぼ同じ間隔で包囲することができる。張り出し部の領域においてのみ、第1のキャビティの形状は、オプトエレクトロニクス半導体チップの形状と相違する。しかし、この張り出し部は、ボンディングワイヤーを収容するためだけに設けられているので、この張り出し部を小さく形成することができる。オプトエレクトロニクス半導体チップ全面で、オプトエレクトロニクス半導体チップの外縁と、第1のキャビティの壁部との間の間隔がほぼ同じであることによって、第1のキャビティ内に配置された注封材料は、オプトエレクトロニクス半導体チップの全面で、ほぼ同じ大きさのメニスカスを形成する。これによって、オプトエレクトロニクス半導体チップの確実な組み込みと、注封材料によるボンディングワイヤーの確実な被覆が保証される。底面に、第1のキャビティの張り出し部内に、ボンディング面を配置することによって、有利には、次のことが可能になる。すなわち、第2のキャビティ、および、要望に応じては、オプトエレクトロニクス素子のケーシングの、第1のキャビティと第2のキャビティとの間の接続チャネルを包囲する部分も切り離すことが可能になる。これによって、オプトエレクトロニクス素子のケーシングの全体的な大きさを低減することができる。
オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701は、幾何学的形状を有する。図示の例では、オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701は、長方形を有している。しかしオプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701の第1の幾何学的形状を、長方形と異なった形状に形成することができる。ケーシング100の第1のキャビティ200の底面210は、幾何学的な基本形状を有している。これは、オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701の第1の幾何学的形状を延ばすことによって形成される。すなわち、底面210の幾何学的な基本形状は、オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701の第1の幾何学的な形状に相似している。しかし、底面210の幾何学的な基本形状は、オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701の第1の幾何学的な形状よりも大きい。図示の例では、第1のキャビティ200の底面210は、長方形の、幾何学的な基本形状を有している。
有利には、第1のキャビティ200の開放面220も、オプトエレクトロニクス半導体チップ700の上面701の第1の幾何学的な形状に相似している、幾何学的な基本形状を有している。ここで、第1のキャビティ200の開放領域220も、張り出し部250の領域においてのみ、この幾何学的な基本形状と相違している。
Claims (15)
- オプトエレクトロニクス素子であって、
ケーシング(100)を有しており、
当該ケーシング(100)は、当該ケーシング(100)の上面(101)に向かって開放されている第1のキャビティ(200)と、当該ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって開放されている第2のキャビティ(300)とを有しており、
前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)とは、接続チャネル(400)によって接続されており、
前記第1のキャビティ(200)の中には、オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)が配置されており、
前記第1のキャビティ(200)の、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)を包囲している領域内には、注封材料(800、810)が配置されており、
前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)の電気的なコンタククト面と、前記ケーシング(100)のボンディング面(610)との間にボンディングワイヤー(630)が配置されており、
前記ボンディング面(610)は前記接続チャネル(400)に配置されており、
前記第2のキャビティ(300)内に、注封材料(800、820)が配置されており、
前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、前記第1のキャビティ(200)における、前記第1のキャビティ(200)の底面(210)からの前記注封材料の高さ(811)と、前記第2のキャビティ(300)における、前記第2のキャビティ(300)の底面からの前記注封材料の高さ(821)とは異なっている、
ことを特徴とするオプトエレクトロニクス素子。 - 前記接続チャネル(400)は、前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)との間の接続方向に対して垂直に、前記第1のキャビティ(200)および前記第2のキャビティ(300)よりも狭い幅(401)を有している、請求項1記載のオプトエレクトロニクス素子。
- 前記第1のキャビティ(200)は第1の容積(202)を有しており、
前記第2のキャビティ(300)は第2の容積(302)を有しており、
前記第2の容積(302)は少なくとも、前記第1の容積(202)と同じ大きさである、請求項1または2記載のオプトエレクトロニクス素子。 - 前記第1のキャビティ(20)は、周囲を包囲している壁部(230)によって画定されており、
前記壁部(230)は段階部(260)を有しており、
前記第1のキャビティ(200)は当該段階部(260)で、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって幅が広くなっている、請求項1から3までのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス素子。 - 前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)は、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、異なる深さを有している、請求項1から4までのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス素子。
- 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)は、ビームを放射する上面(701)を有しており、
ビームを放射する前記上面(701)上には、波長変換素子(730)が配置されている、請求項1から5までのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス素子。 - 前記波長変換素子(730)の上面(731)と、前記第1のキャビティ(200)の、前記ケーシング(100)に形成されている、周囲を囲んでいる縁部(240)との間に、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、60μmを下回る、高さの相違が生じている、請求項6記載のオプトエレクトロニクス素子。
- 前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)の上面(701)と、前記第1のキャビティ(200)の、前記ケーシング(100)に形成されている、周囲を取り囲んでいる縁部(240)との間に、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、60μmを下回る、高さの相違が生じている、請求項1から5までのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス素子。
- 前記ケーシング(100)は、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって開放されている、別のキャビティ(1300)を有しており、
当該別のキャビティ(1300)は、別の接続チャネル(1400)によって、前記第1のキャビティ(200)または前記第2のキャビティ(300)と接続されている、請求項1から8までのいずれか1項記載のオプトエレクトロニクス素子。 - 前記別のキャビティの中には、別のオプトエレクトロニクス半導体チップ(1700)が配置されている、請求項9記載のオプトエレクトロニクス素子。
- オプトエレクトロニクス素子であって、
ケーシング(100)を有しており、
当該ケーシング(100)は、当該ケーシング(100)の上面(101)に向かって開放されている第1のキャビティ(200)と、当該ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって開放されている第2のキャビティ(300)とを有しており、
前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)とは、接続チャネル(400)によって接続されており、
前記第1のキャビティ(200)の中には、オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)が配置されており、
前記第1のキャビティ(200)の、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)を包囲している領域内には、注封材料(800、810)が配置されており、
前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)の電気的なコンタククト面と、前記ケーシング(100)のボンディング面(610)との間にボンディングワイヤー(630)が配置されており、
前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)は、第1の幾何学的形状を備えた上面(701)を有しており、
前記第1のキャビティ(200)は、幾何学的な基本形状を有している底面(210)を有しており、当該幾何学的な基本形状は、前記第1の幾何学的形状と相似関係にあり、かつ、当該第1の幾何学的形状を拡大することにより形成され、
前記第1のキャビティ(200)の前記底面(210)は、前記幾何学的な基本形状に対して付加的に張り出し部(250)を有しており、
前記ボンディング面(610)は、前記底面(210)に接している前記張り出し部(250)内に配置されており、
前記第2のキャビティ(300)内に、注封材料(800、820)が配置されており、
前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、前記第1のキャビティ(200)における、前記第1のキャビティ(200)の底面(210)からの前記注封材料の高さ(811)と、前記第2のキャビティ(300)における、前記第2のキャビティ(300)の底面からの前記注封材料の高さ(821)とは異なっている、
ことを特徴とするオプトエレクトロニクス素子。 - 前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)は、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、異なる深さを有している、請求項11記載のオプトエレクトロニクス素子。
- 前記ケーシング(100)は、前記ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって開放されている、別のキャビティ(1300)を有しており、
当該別のキャビティ(1300)は、別の接続チャネル(1400)によって、前記第1のキャビティ(200)または前記第2のキャビティ(300)と接続されている、請求項11または12記載のオプトエレクトロニクス素子。 - オプトエレクトロニクス素子の製造方法であって、
・ケーシング(100)を提供するステップを有しており、当該ケーシング(100)は、当該ケーシング(100)の上面(101)に向かって開放されている第1のキャビティ(200)と、当該ケーシング(100)の前記上面(101)に向かって開放されている第2のキャビティ(300)とを有しており、前記第1のキャビティ(200)と前記第2のキャビティ(300)とは、接続チャネル(400)によって接続されており、
・オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)を前記第1のキャビティ(200)内に配置するステップを有しており、
・注封材料(800)を、前記第1のキャビティ(200)の、前記オプトエレクトロニクス半導体チップ(700)を包囲している領域に入れるステップを有しており、
前記注封材料(800)を前記第2のキャビティ(300)内に入れ、
前記注封材料(800)は前記第2のキャビティ(300)から前記接続チャネル(400)を通じて、前記第1のキャビティ(200)に達し、
前記ケーシング(100)の前記上面(101)に対して垂直な方向(11)において、前記第1のキャビティ(200)における、前記第1のキャビティ(200)の底面(210)からの前記注封材料の高さ(811)と、前記第2のキャビティ(300)における、前記第2のキャビティ(300)の底面からの前記注封材料の高さ(821)とは異なっている、
ことを特徴とする、オプトエレクトロニクス素子の製造方法。 - 前記製造方法は、
・前記ケーシング(100)の、前記第2のキャビティ(300)を含んでいる部分を切り離すステップを含んでいる、請求項14記載の方法。
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