JP2016511241A - ヘテロポリオキソメタレート - Google Patents

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Abstract

本発明は、殺菌目的のための、かつ抗菌表面、塗料、またはコーティング、及びそれらの調製のための中間体における、ヘテロポリオキソメタレートの使用に関する。

Description

本発明は、殺菌目的のための、かつ抗菌表面、塗料、またはコーティング、及びそれらの調製のための中間体における、ヘテロポリオキソメタレートの使用に関する。
多くの工業及び家庭プロセスでは、廃水が生成され、または淡水が後の目的のために保存される。本質的に全ての水源が非滅菌水を提供するため、淡水、特に廃水において、保存または処理中の微生物汚染の危険性がある。
飲料水、廃水、地表水、または同様の液体の保存用の容器における、微生物汚染、特に生物膜の発生を避けるための多くの方法が当業者に既知である。さらに、例えば病院または屠殺場において、表面の微生物汚染を避けるためのいくつかの方法が既知である。例えば、通常、容器の表面は、熱処理によって、例えば表面または容器を高温の液体または気体、例えばお湯または蒸気ですすぐことによって洗浄される。さらに、オゾンまたは塩素含有気体による処理は、表面及び容器の殺菌、ならびに有機汚染の洗浄及び除去として知られている。
表面、容器、さらには液体を殺菌するために、紫外線(UV)放射を適用することも既知である。液体に、二酸化チタン等の特定の物質を添加すること、または殺菌もしくは洗浄目的で表面に二酸化チタンを適用することも既知である。しかしながら、これらの表面及び物質は、二酸化チタンの殺菌有効性を活性化するために、UV放射を必要とする。
さらに、微生物汚染を低減するために、溶液に銀イオンまたは銅イオンを適用することが既知である。
これらの全ての手段及び手法は、多くのエネルギーを無駄にし、十分に効果的となるために高い装置費用及び動作費用を必要とし、または銀イオンもしくは銅イオン等のかなり高価な物質を使用しなければならないため、不利であり、後者は水及び土壌汚染に関してさらなる不利益を有する。さらに、取扱いが危険である物質、例えばオゾンまたは塩素含有物質、ならびに紫外線放射を使用することは、不利であり、さらなる安全対策を必要とする。
ポリオキソメタレートの使用は、例えば、分析化学の一般領域(例えば、元素分析、電子染色)において、光触媒を含む触媒としての使用、生化学において、電子移動プロセスの抑制のための使用及び生体分子の結晶化における高電子密度で剛性のコンポーネント(例えば2009年ノーベル賞へと導いたリボソーム)としての使用、ならびに医学において、それらの抗ウイルス性及び抗腫瘍活性の理由から、いくつかの目的のために、当業者に既知である。酸性及び酸化触媒としてのポリオキソメタレートの使用は工業において(例えばオレフィンの水和のため)既知である。
当技術分野において、液体及び表面の微生物汚染を避けるための、効果的で環境に優しく安価な手段を提供する必要性が依然として存在する。
驚くべきことに、ある特定のヘテロポリオキソメタレートが、液体、特に廃水と接触している表面に適用されると、優れた抗菌効率を提供し、それにより表面及び液体の微生物汚染を回避し、生物膜形成の低減をもたらすことが見出されている。
特に、リン系の特定のヘテロポリオキソメタレートは、下記に定義されるモリブデンまたはタングステン、及び少なくとも1つの四級アンモニウムもしくはホスホニウムカチオン、または少なくとも1つの三級スルホニウムカチオンとの組み合わせで、他のヘテロポリオキソメタレート、特にシリコン系の既知のヘテロポリオキソメタレートと比較して、優れた抗菌作用を示すということが見出されている。驚くべきことに、抗菌作用は、空気中または液体に溶解した酸素の単純な存在によって保証されるように見え、よって、ヘテロポリオキソメタレートの活性化も活性剤の追加も必須でない。
したがって、本発明は、式(I)、(II)、または(III)のヘテロポリオキソメタレートの使用に関する。
Figure 2016511241
式中、
Zは、MoまたはWから選択され、
指数q=0、1、2、または3であり、
Aは、自己洗浄、ストリッピング、殺菌、自己消毒、殺生物、抗菌、及び/または脱臭特性を、基材もしくは基材の表面の少なくとも一部にまたはコーティングに提供するために、あるいは有機物質の分解及び/または減成のために、1つ以上のカチオンから選択され、かつ四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される少なくとも1つのカチオンを含む。
ヘテロポリオキソメタレート内のカチオンAの選択によって、式(I)、(II)、または(III)の化合物の電荷が0であるべきでない場合、カチオンAの数は低減され得、かつ/または、電荷は1つ以上のさらなるカチオン及び/もしくはアニオンによって均衡されるということが理解される。
本発明は、式(I)、(II)、または(III)の2つ以上の異なるヘテロポリオキソメタレートの混合物の使用にも関し、すなわち、少なくとも1つのパラメータZもしくはqが、それぞれのカチオンAのそれぞれのアニオンのために異なって選択され、または、式(I)、(II)、または(III)の同じヘテロポリオキソメタレートアニオンが、少なくとも2つの異なるカチオンAと一緒に存在する。
特定の実施形態では、本発明は、式(I)、(II)、または(III)のいくつかの異なるヘテロポリオキソメタレートの混合物の使用にも関し、すなわち、少なくとも1つのパラメータZもしくはqがそれぞれの四級アンモニウムカチオンAのそれぞれのアニオンのために異なって選択され、または、式(I)、(II)、または(III)の同じヘテロポリオキソメタレートアニオンが少なくとも2つの異なる四級アンモニウムカチオンと一緒に存在する。
概して、モリブデン(Mo)またはタングステン(W)系のポリオキソメタレートは、特にKeggin型ポリアニオン[XZ1240n−として当業者に既知であり、式中、Xは、P、Si、Ge、As、BまたはAlから選択される。Keggin型ポリオキソメタレートは、例えばリン(P5+)、シリコン(Si4+)、ゲルマニウム(Ge4+)等であり得る、特定のヘテロ原子(X)を含むということもまた既知である。さらに、モリブデンまたはタングステン系のKeggin型ポリオキソメタレートにおいては、1つ以上、特に1〜3つのモリブデンまたはタングステン原子が、バナジウム原子(例えばV5+)によって交換され得る。ポリオキソアニオンの別の例は、ウェルズドーソン種[X1862n−である。このポリアニオンは、リン(P5+)またはヒ素(As5+)及び18個のモリブデンまたはタングステン原子(Z)であり得る、2つのヘテロ原子(X)を含む。さらに、タングステン系のWells−Dawson型ポリオキソメタレートにおいては、1つ以上、特に1〜3つのタングステン原子が、バナジウム原子(例えばV5+)によって交換され得る。さらに、いくつかの種類のペロキソタングステン酸塩が既知である。最も重要なもののうちの1つが、Venturelloポリオキソアニオン[PW243−であり、この触媒特性は幅広く研究されている。Venturelloポリオキソアニオンは中央[PO4]3′′基から成り、これは4つの{WO(O}ユニットに接続される。概して、これらのポリオキソメタレートアニオンは当業者に既知であり、既知のアニオンの負電荷は、典型的には、結果として生じる塩の水中での可溶性を提供する、Li、Na、K、またはNH4+等のカチオンによって平衡される。
その一方で、本発明において使用されるヘテロポリオキソメタレートは、水中での可溶性がより低いか、またはさらには不溶性であることが見出された。よって、Aが特定のヘテロポリオキソメタレートの負電荷を平衡するために上記のように選択されるとき、結果として、ヘテロポリオキソメタレートは、水中での可溶性をより低くするか、またはさらには不溶性にする。
驚くべきことに、Aがヘテロポリオキソメタレートの電荷を平衡するために上記のように選択されるとき、結果として、ヘテロポリオキソメタレートは、水中での可溶性がより低くなるか、またはさらには不溶性になるだけでなく、特に該カチオンが四級ホスホニウムカチオンである場合に、好ましい安定性、具体的には熱安定性を有することが見出された。この熱安定性は、特にヘテロポリオキソメタレートが、タイル、セラミック、エナメル、釉薬、コーティング、または発火及び/または仕上げに高温を必要とする他の物質等の基材内に含まれる場合に、非常に有利であり得る。
本発明に従って使用されるヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aは、1つ以上のカチオンから選択され、かつ四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される少なくとも1つのカチオンを含む。これらのカチオンは、ヘテロポリオキソメタレートアニオンの負電荷を平衡するために使用される。1つより多い、2つより多く、または適用可能であれば、3つより多く、4つより多く、またはさらにはすべてのカチオンが、上記の一覧から選択されることが好ましい。1つより多くのカチオンが一覧から選択される場合、これらは同じであっても異なってもよい。
本発明において使用されるヘテロポリオキソメタレートにおいて「ヘテロ原子」は、リンである。式(I)のヘテロポリモリブデン酸塩(式中、残基Zは、モリブデン(Mo)である)、及び式(III)のポリタングステン酸塩(式中、残基Zは、タングステン(W)である)が好ましい。
好ましい実施形態では、式(I)のヘテロポリオキソメタレートにおいて、指数qは、2または3、特に2である。これは、モリブデンまたはタングステン系のヘテロポリオキソメタレートにおいて、12個の酸化モリブデンまたは酸化タングステンサブユニットから、2つまたは3つが酸化バナジウムサブユニットによって交換されるということを意味する。特に好ましい実施形態では、ヘテロポリオキソメタレートは、式(VII)のものである。
Figure 2016511241
式中、Zは、MoまたはWから選択され、Aは、1つ以上のカチオンから選択され、少なくとも1つの四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、または三級スルホニウムカチオンを含み、四級アンモニウム及びホスホニウムカチオンが好ましい。別の好ましい例は、APMo1040である。
別の特に好ましい実施形態では、式(III)のヘテロポリオキソメタレートにおいて、残基Zは、Wである、すなわち、ヘテロポリオキソメタレートは、APW24である。
本発明において使用されるヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aは、1つ以上のカチオンから選択される。四級アンモニウムカチオンは、式(IV)のものであり得、四級ホスホニウムカチオンは、式(V)のものであり得、三級スルホニウムカチオンは、式(VI)のものであり得る。
Figure 2016511241
式中、残基R、R、R、及びRは、独立して選択され得る。好ましくは、残基R、R、R、及びRは、独立して、ポリマーを含む炭化水素から選択される。好ましくは、炭化水素は、C〜C20炭化水素、より好ましくはC〜C16炭化水素、特にC〜C炭化水素、例えばC〜C炭化水素またはC〜C16炭化水素である。炭化水素は、好ましくは、分岐または直鎖、飽和または不飽和の、アルキル基、アリール基、またはヘテロアリール基である。例は、メチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、へキシル、へプチル、オクチル、ノニル、デシル、ウンデシル、ドデシル、トリデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、ヘプタデシル、及びオクタデシル残基である。任意で、残基R、R、R、及び存在する場合Rのうちの2つは、任意で中央窒素、リン、または硫黄原子と一緒に、環の一部であり、例えば一緒に環を形成する。環は、芳香族等の飽和または不飽和であり得る。
特に好ましい四級アンモニウムカチオンは、テトラプロピルアンモニウムカチオン、テトラブチルアンモニウムカチオン、テトラペンチルアンモニウムカチオン、テトラへキシルアンモニウムカチオン、テトラへプチルアンモニウムカチオン、テトラオクチルアンモニウムカチオン、テトラノニルアンモニウムカチオン、テトラデシルアンモニウムカチオン、テトラウンデシルアンモニウムカチオン、テトラドデシルアンモニウムカチオン、テトラトリデシルアンモニウムカチオン、テトラテトラデシルアンモニウムカチオン、テトラペンタデシルアンモニウムカチオン、メチルトリブチルアンモニウムカチオン、メチルトリペンチルアンモニウムカチオン、メチルトリへキシルアンモニウムカチオン、メチルトリへプチルアンモニウムカチオン、メチルトリオクチルアンモニウムカチオン、メチルトリノニルアンモニウムカチオン、メチルトリデシルアンモニウムカチオン、メチルトリウンデシルアンモニウムカチオン、メチルトリドデシルアンモニウムカチオン、メチルトリトリデシルアンモニウムカチオン、メチルトリテトラデシルアンモニウムカチオン、トリブチルへキシルアンモニウムカチオン、トリブチルへプチルアンモニウムカチオン、トリブチルオクチルアンモニウムカチオン、トリブチルノニルアンモニウムカチオン、トリブチルデシルアンモニウムカチオン、トリブチルウンデシルアンモニウムカチオン、トリブチルドデシルアンモニウムカチオン、トリブチルトリデシルアンモニウムカチオン、トリブチルテトラデシルアンモニウムカチオン、トリブチルペンタデシルアンモニウムカチオン、トリブチルヘキサデシルアンモニウムカチオン、トリへキシルテトラデシルアンモニウムカチオン、及びトリへキシルヘキサデシルアンモニウムカチオン、特に、テトラブチルアンモニウムカチオン、テトラへキシルアンモニウムカチオン、メチルトリオクチルアンモニウムカチオン、トリブチルテトラデシルアンモニウムカチオンであり、特に好ましい四級ホスホニウムカチオンは、テトラプロピルホスホニウムカチオン、テトラブチルホスホニウムカチオン、テトラペンチルホスホニウムカチオン、テトラへキシルホスホニウムカチオン、テトラへプチルホスホニウムカチオン、テトラオクチルホスホニウムカチオン、テトラオクチルホスホニウムカチオン、テトラノニルホスホニウムカチオン、テトラデシルホスホニウムカチオン、テトラウンデシルホスホニウムカチオン、テトラドデシルホスホニウムカチオン、テトラトリデシルホスホニウムカチオン、テトラテトラデシルホスホニウムカチオン、メチルトリオクチルホスホニウムカチオン、トリブチルテトラデシルホスホニウムカチオン、トリブチルドデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルテトラデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルヘキサデシルホスホニウムカチオン、特に、テトラブチルホスホニウムカチオン、テトラへキシルホスホニウムカチオン、メチルトリブチルホスホニウムカチオン、メチルトリペンチルホスホニウムカチオン、メチルトリへキシルホスホニウムカチオン、メチルトリへプチルホスホニウムカチオン、メチルトリオクチルホスホニウムカチオン、メチルトリノニルホスホニウムカチオン、メチルトリデシルホスホニウムカチオン、トリブチルペンチルホスホニウムカチオン、トリブチルへキシルホスホニウムカチオン、トリブチルへプチルホスホニウムカチオン、トリブチルオクチルホスホニウムカチオン、トリブチルノニルホスホニウムカチオン、トリブチルデシルホスホニウムカチオン、トリブチルウンデシルホスホニウムカチオン、トリブチルドデシルホスホニウムカチオン、トリブチルトリデシルホスホニウムカチオン、トリブチルテトラデシルホスホニウムカチオン、トリブチルペンタデシルホスホニウムカチオン、トリブチルヘキサデシルホスホニウムカチオン、トリヘキシルヘプチルホスホニウムカチオン、トリへキシルオクチルホスホニウムカチオン、トリへキシルノニルホスホニウムカチオン、トリへキシルデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルウンデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルドデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルトリデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルテトラデシルホスホニウムカチオン、トリへキシルペンタデシルホスホニウムカチオン、及びトリへキシルヘキサデシルホスホニウムカチオンである。特に好ましい三級スルホニウムカチオンは、トリプロピルスルホニウムカチオン、トリブチルスルホニウムカチオン、トリペンチルスルホニウムカチオン、トリへキシルスルホニウムカチオン、トリへプチルスルホニウムカチオン、トリオクチルスルホニウムカチオン、メチルジオクチルスルホニウムカチオン、及びジブチルテトラデシルスルホニウムカチオン、特にトリブチルスルホニウムカチオン、及びトリへキシルスルホニウムカチオンである。さらに好適なアンモニウム、ホスホニウム、及びスルホニウムカチオン、及びそれらの調製は当業者に既知である。特に好ましいヘテロポリオキソメタレートは、例えば、[(CH(CHN)[PVMo1040]、[CH(CHN][PW24]、[(CH(CHN][PW24],[(CH(CHN][PW24]、[(CH(CHN(CH)][PW24]、及び[(CH(CHP((CH13CH)][PW24]である。
さらに、上記のヘテロポリオキソメタレート内のカチオンAがポリマー残基または複素環式残基を含む場合、得られるヘテロポリオキソメタレートは、低水可溶性及び熱安定性ならびに高い抗菌効果性に関して、特に好ましい特性を示すということが見出された。したがって本発明は、式(I′′)、(II′′)、または(III′′)のヘテロポリオキソメタレート、ならびに、自己洗浄、ストリッピング、殺菌、自己消毒、殺生物、抗菌、及び/または脱臭特性を、基材もしくは基材の表面の少なくとも一部にまたはコーティングに提供するための、あるいは有機物質の解体及び/または分解のための、これらのヘテロポリオキソメタレートの使用にも関する。
Figure 2016511241
式中、
Zは、MoまたはWから選択され、
指数q=0、1、2、または3であり、
A′は1つ以上のカチオンから選択され、かつ以下から選択される少なくとも1つのカチオンを含み、
Figure 2016511241
式中、残基R、R、R、及びRは、独立して、C〜C20炭化水素から選択され、残基R、R、R、及びRのうちのいずれもがポリマーでない場合、R、R、R、及び存在する場合Rのうちの少なくとも2つが、窒素、リン、または硫黄原子と一緒に環を形成する。
窒素、リン、または硫黄原子と一緒に形成される環は、例えば、飽和または不飽和であり得、かつ、酸素、窒素、リン、または硫黄原子等の、1つ以上のさらなるヘテロ原子を含み得る、3、4、5、6、またはさらには7員環であり得る。環が不飽和である場合、及び、アンモニウム、ホスホニウム、またはスルホニウムカチオンの、窒素、リン、または硫黄原子に二重結合が存在する場合、R、R、R、またはRのうちの1つが不在であり得る。好適な環の例は、アジリジニウム、チイラニウム、アゼチジニウム、チエチウム、ピロリジニウム、テトラチドロチオフェニウム、ピロリウム、チオフェニウム、ピペリジニウム、テトラヒドロチオピラニウム、ピリジニウム、チオピリリウム、ヘキサメチレンイミニウム、ヘキサメチレンスルフィジウム、アザトロピリデニウム、チオトロピリデニウム、ピラゾリウム、イミダゾリウム、ベニミダゾリウム、イミダゾリニウム、インドリウム、チノリニウム、イソチノリニウム、プリニウム、ピリミジニウム、オキサゾリウム、チアゾリウム、及びチアジニウム、ならびにこれらの環系のリン類似体である。
環は、1つ以上の炭化水素残基、特にC〜C12アルキルまたはアリール(特にフェニル)C〜Cアルキル残基によって置換され得る。環を含む好適なカチオンは、例えば、1−ブチル−3−メチルイミダゾリウム、1−ブチル−2,3−ジメチルイミダゾリウム、1−メチル−3−オクチルイミダゾリウム、1−ヘキサデシル−3−メチルイミダゾリウム、1,3−ジデシル−3−メチルイミダゾリウム、及び1−ベンジル−3−メチルイミダゾリウムである。
好適なポリマーは、例えば、ホスホニウム含有カチオン性ポリ(スチレン)ポリマー等の、カチオン性側鎖を含むポリマー、四級アンモニウムヒドロキシドもしくは四級ホスホニウムヒドロキシド官能基を含むヒドロキシ交換膜、例えばEP0 580 078 A1に記載されるポリ(ビニルアミン)誘導体、例えばWO94/10214に記載されるポリマーホスホニウムイオノマー、ポリ(アルキル−及びアリール)p−フェノキシ−フェニルスルホニウム塩、ポリ(アクリルアミド−コ−ジアリル−ジメチルアンモニウム)、及び(ジアリルジメチルアンモニウム)である。
本発明の一実施形態では、ヘテロポリオキソメタレートは、支持され、特に、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化シリコン、酸化チタン、または酸化セリウム、好ましくは酸化シリコン(SiO)上で支持される。酸化物、特に酸化シリコンは、好ましくは高い表面積、例えば少なくとも約150m/gを有する。本発明のヘテロポリオキソメタレートと、支持する酸化物、特に酸化シリコンとの重量比は、約10:1〜1:100、好ましくは、1:1〜1:10、例えば約1:2である。
式(I)、(II)、(III)のヘテロポリオキソメタレートは、既知のプロセスに従って調製され得る。
式(I)及び(II)のヘテロポリオキソメタレートの調製のための1つの典型的なプロセスは、以下の工程:
a)q=1である場合、[PZ11397−アニオンを含む塩、
q=2である場合、[PZ10367−アニオンを含む塩、
q=3である場合、[PZ349−アニオンを含む塩、または、
[PO3−アニオンを含む塩、任意でVO アニオンを含む塩、及びZO 2−アニオンを含む塩であって、
式中、
ZがMoまたはWから選択される、塩を、
水性溶剤、好ましくは水中で溶解して、溶液を得ることと、
b)工程a)の後で得られる溶液のpHを低減するために、酸を加えることと、
c)四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される少なくとも1つのカチオンを含む化合物を加えることと、を含む。
式(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製のための1つの典型的なプロセスは、以下の工程:
a)[PZ12403−を含む塩または酸であって、式中、ZがMoまたはWである、塩または酸を、過酸化水素の水溶液内で溶解させて、溶液を得ることと、
b)工程a)の溶液のpHを低減するために酸を加えることと、
c)四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される少なくとも1つのカチオンを含む化合物を加えることと、を含む。
式(I)及び(II)のヘテロポリオキソメタレートの調製のためのプロセスの工程a)において使用される、ヘテロポリオキソモリブデン酸塩またはヘテロポリオキソタングステン酸塩[PZ9〜1134〜40y−、及び式(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製のための工程a)において使用される[PZ12403−は、当業者において公知であるように得られ得る(例えば、Holleman−Wiberg,Lehrbuch der Anorganischen Chemie、第101版、頁1467〜1469;M.T.Pope,Heteropoly and Isopoly Oxometalates,Springer,1983;またはHuheey et al.,Anorganische Chemie,Prinzipien von Struktur und Reaktivitat,4.Auflage,2012,章16.2等に記載される通り)。特に、モリブデン酸塩及びタングステン酸塩アニオン、ならびに対応するヘテロ原子オキソアニオンまたは酸、すなわち、それぞれリン酸HPOまたはそれぞれのアニオンPO 3−、を含む水溶液が酸性化され、ヘテロポリオキソモリブデン酸塩またはヘテロポリオキソタングステン酸塩は、結晶化または化学沈殿によって得られる。
式(I)のヘテロポリオキソメタレートの調製のためのプロセスの工程a)では、VO アニオンが溶液内に提供され、空隙(=空)ヘテロポリオキソモリブデン酸塩またはヘテロポリオキソタングステン酸塩アニオン[PZ9〜1134〜39y−(式中、Zは、MoまたはWである)を含む、対応する塩が添加され、水性溶剤、好ましくは水中の溶液を得る。
式(I)、(II)、または(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製のためのプロセスの工程b)では、好適な酸、好ましくは鉱酸、例えば、塩酸または硫酸が添加され、工程a)の結果として得られる溶液のpHを低減する。
式(I)、(II)、または(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製のためのプロセスの工程c)では、上記のカチオンAを含む少なくとも1つの化合物、または上記のカチオンAを提供もしくは放出することができる化合物が添加される。好ましくは、四級アンモニウムカチオン含有化合物は、式(IV)の化合物を含み、四級ホスホニウムカチオン含有化合物は、式(V)の化合物を含み、三級スルホニウムカチオン含有化合物は、式(VI′)の化合物を含む。
Figure 2016511241
式中、残基R、R、R、及びRは、上記に定義される通りであり、Xは、硫酸またはハロゲンイオン、好ましくは塩化物または臭化物であり、Xが硫酸である場合、pは2であり、Xがハロゲンイオンである場合、pは1である。好ましくは、上記のプロセスにおいて使用される四級アンモニウムカチオン含有化合物は、臭化テトラブチルアンモニウム及び/または硫酸テトラブチルアンモニウム及び/または臭化テトラへキシルアンモニウムを含み、四級ホスホニウムカチオン含有化合物は、臭化テトラブチルホスホニウム及び/または硫化テトラブチルホスホニウム及び/または臭化テトラへキシルホスホニウムを含み、三級スルホニウムカチオン含有化合物は、臭化トリブチルスルホニウム及び/または硫化トリブチルスルホニウム及び/または臭化トリへキシルスルホニウムを含む。
式(I)、(II)、(III)のヘテロポリオキソメタレートは、ゲルまたは沈殿物として得られ、これは典型的に、HOで数回洗浄され、かつ粉末を得るために乾燥させられ得る。
任意で、ヘテロポリオキソメタレートは、ゲルまたは粉末を、好適な有機溶剤、例えばエタノール内で溶解させて、対応するゲルまたは粉末を得るために生じた溶液を乾燥させることによって、任意の好適な形状にされ得る。この方法で、ヘテロポリオキソメタレートは、混合されて、少なくとも2つの異なるカチオン、特に四級アンモニウムカチオン、または上記の少なくとも2つの異なるヘテロポリオキソメタレートアニオンを含むヘテロポルキシオキソメタレートが調製され得る。
さらに、本発明で使用されるヘテロポリオキソメタレートの調製のための上記のプロセスでは、中間体化合物が生じ、かつ単離され得る、ということが見出されている。これらの中間体化合物もヘテロポリオキソメタレートであるが、これらは、式(I′)、(II′)、または(III′)のアニオンを含む。
Figure 2016511241
式中、
Zは、MoまたはWから選択され、
qは、0、1、2、または3であり、
mは、20を超えて40未満の数であり、
nは、31を超えて62未満の数であり、
oは、12を超えて24未満の数であり、
少なくとも1つのカチオンAは、上記に定義される通りである。
これらのイオンの電荷は、それぞれ、m、n、及びoに依存し、よって式において提供されず、m、n、及びoは上記範囲内の任意の数を示し、整数に限定されない。これらのイオンは、それぞれ、40個、62個、及び24個の酸素原子を含む、最終ヘテロポリオキソメタレートアニオンの形成の間に形成されると推測される。この形成の間に、最終アニオンよりも少ない酸素原子を含む種が生じて単離され得る。好ましい実施形態では、mは、25を超える、より好ましくは30を超える、例えば、35を超える、36を超える、37を超える、38を超える、または39を超える、数である。それぞれの場合において、mは40未満である。nは、好ましくは36を超える、より好ましくは41を超える、例えば、46を超える、51を超える、56を超える、57を超える、58を超える、59を超える、60を超える、及び61を超える数であり得る。いずれの場合においても、nは62未満である。oは、好ましくは、17を超える、例えば18を超える、19を超える、20を超える、21を超える、22を超える、及び23を超える数であり得る。いずれの場合においても、oは24未満である。
上記の式(I′)、(ΙI′)、及び(III′)のヘテロポリオキソメタレートは、上記の式(I)、(II)、及び(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製において有用である。式(I′)、(ΙI′)、及び(III′)のヘテロポリオキソメタレートは、例えば、酸素の存在下でこれらの化合物の懸濁液を撹拌することによって、最終ヘテロポリオキソメタレートに変換され得る。
さらには、式(I′)、(ΙI′)、及び(III′)の中間体もまた、式(I)、(II)、及び(III)のヘテロポリオキソメタレートと同じ抗菌及び殺生物効果を示すということが見出されている。したがって、中間体化合物もまた、所望の特性を基材の表面に提供するために使用され得、かつ、表面層、塗料、及びコーティングにおけるコンポーネントとして有用である。
本発明はさらに、上記のヘテロポリオキソメタレートを含む、基材または表面層、塗料またはコーティングに関する。一実施形態では、ヘテロポリオキソメタレートは、基材またはかかる基材の一部内に組み込まれ得る。ヘテロポリオキソメタレートは、例えば、基材の調製の前に、それから基材が調製される成分を、混合することによって、基材に組み込まれる。例えば、基材は天然または合成物質、例えばプラスチック材料、ゴム、接着剤、密封剤、またはシリコンペーストであり得る。
対応する表面層を提供するために、ヘテロポリオキソメタレートは、好適な溶剤、好ましくは有機溶剤、例えばエタノール内で溶解して、表面に適用され得る。表面コーティングのために既知の好適な沈殿物及びアドバント(advant)が、適用される溶液に添加され得る。同様に、ヘテロポリオキソメタレートが、塗料またはコーティングに添加され得る。Li、Na、K、またはNH4+等のカチオンを含む既知のヘテロポリオキソメタレートとは対照的に、本発明において使用されるカチオンは、ヘテロポリオキソメタレートの水(20℃)中での可溶性をより低くまたはさらには不溶性にする。好ましくは、本発明において使用されるヘテロポリオキソメタレートの可溶性は、20℃の水中で1mg/ml未満、より好ましくは20℃の水中で0.1mg/ml未満、特に、20℃の水中で0.01mg/ml未満である。水性液体へのこの低可溶性、またはさらには不溶性は、特に殺菌のために保存または処理される液体、典型的には、水性液体と直接接触する表面層、塗料、またはコーティングにおけるそれらの使用を特に可能にする。
本発明は、上記のヘテロポリオキソメタレートの、自己洗浄、ストリッピング、殺菌、自己消毒、殺生物、抗菌、及び/または脱臭目的のための使用に関する。該目的は、有機物質の減成、分解、及びストリッピング(例えば、グリース、塗料、及び他の残基等の不純物の酸化、生物膜の形成の回避等)によって、自己洗浄及び/またはストリッピングする能力によって、微生物生命(例えば、細菌、ウイルス、真菌、胞子形態等)の全ての形態及び/または部分の制御効果を、阻止する、無害にする、破壊する、及び/または行使する能力によって特徴付けられ得る。
上記の特質は、基材を修正(改造)するために使用され得る。ここにおいて、該基材の1つ以上の部分(例えば、物質、接着剤、表面層、内部層、外装、内装等)は、上記のヘテロポリオキソメタレートを含み、かつ/または該基材の1つ以上の表面(例えば機能表面)は、表面層、塗料、コーティング、クリーナー、及び/もしくはストリッピング剤で少なくとも部分的にコーティングされ、ここにおいて、該表面層、塗料、コーティング、クリーナー(例えば酸化クリーナー)及び/もしくはストリッピング剤は、ヘテロポリオキソメタレートを含む。上記の基材は、飲料水(例えば飲料産業における)、廃水、または地表水の保存のための容器;廃棄物のための容器;浄水のための容器;病院、医療機器、屠殺場、船、ボート、屋根葺、屋根タイル、屋内タイル、屋外タイル、キッチン、シンク、便所、トイレ、携帯トイレ、セラミック、ポリマー、ファイバー、雨水下水道、外装ファサード、ファサードの要素、プール、ポンプ、配管、工業用繊維品、運動着布、紙、木、空気清浄及び浄水のための装置、土壌汚染除去のための装置、窓ガラス(例えば自己洗浄窓)、鏡(例えば鏡及び/ガラスのための防曇コーティング)、不織布等のフィルター物質、呼吸マスク、空調フィルター等の空気フィルター、水フィルター、及び浄水及び空気清浄のための活性炭素フィルター、から成る群から選択され得る。
ヘテロポリオキソメタレートは、リサイクル、再利用、及び/または処分目的等のための、有機物質(例えばプラスチック、有機ポリマー等)の分解及び/または減成のためにさらに使用され得る。
ヘテロポリオキソメタレートは、パルプ及び/またはファイバー漂白及び/または処理のためにさらに使用され得る。
実施例3のヘテロポリオキソメタレートのTGA/DSC測定結果を示す。 実施例4のヘテロポリオキソメタレートのTGA/DSC測定結果を示す。
以下の実施例は、本発明を例示するよう意図されているが、限定するものと解釈されるべきではない。
実施例1
Figure 2016511241
24.4gのNaV03+100mLの沸騰しているHOを、7.1gのNaHPO+100mLのHOに添加し、室温まで冷却し、その後、5mLの濃縮HSOを添加し、200mLのHO中の121gのNaMoO×2HOを添加し、激しく撹拌し、その後、85mLの濃縮HSOを、得られた均一溶液の半分に緩徐に添加し、19.5gのTBA−Brを添加して橙色のTBA[PMo1040]を得て、これを水で完全に洗浄し、得られた粉末を最小量のアセトン中に溶解し、10gのSiOをその溶液に添加した。結果として生じた混合物を激しく撹拌し、ペトリ皿上に積層することによって移し、24時間空気乾燥させた。
物質の重量:27g
分子量:158.8g/モル
モル数:170ミリモル
実施例2
Figure 2016511241
70mLの30%H中の10gのHPW1240に、10mLのHPOを添加した。この溶液を40℃で4時間撹拌し、得られた均質溶液に12gのTBA−SOを添加し、白色のTBA[PW24]を得て、これを水で完全に洗浄し、得られた粉末を最小量のアセトン中に溶解し、10gのSiOを溶液に添加した。結果として生じた混合物を激しく撹拌し、ペトリ皿上に積層することによって移し、24時間空気乾燥させた。
物質の重量:27g
分子量:158.4g/モル
モル数:170ミリモル
実施例3
Figure 2016511241
70mLの30%H中の10gのHPW1240に、10mLのHPOを添加した。この溶液を40℃で4時間撹拌し、得られた均質溶液に12gのTHA−CIを添加して、白色のTHA[PW24]を得て、これを水で完全に洗浄し、得られた粉末を最小量のアセトン中に溶解し、10gのSiOを溶液に添加した。結果として生じた混合物を激しく撹拌し、ペトリ皿上に積層することによって移し、24時間空気乾燥させた。
物質の重量:27g
分子量:158.7g/モル
モル数:170ミリモル
実施例4
Figure 2016511241
リンタングステン酸(10g、3.47ミリモル)を、70mlの30%H中に溶解し。10mlの5モル濃度のHPOを添加し、この溶液を40℃で4時間撹拌した。その後、反応混合物を室温まで冷却した。(反応混合物A)
[PW243−のカチオンに対する正確なモル比が不明であるため、それの10gが生成物であると推測された。したがって、カチオンTBTDP(トリブチルテトラデシルホスホニウム)の3つの等価物を、固体塩化物として反応混合物Aに添加し、8〜10分間撹拌した。この溶液を静かに注ぎ、沈殿物を二重脱イオン水で完全に洗浄した。Cl内容物(すなわち未反応カチオン)をAgNOによって検査した。
沈殿物(ゲル)をアセトン中に溶解し、ペトリ皿に注いだ。
比較例1
Figure 2016511241
NaVO(0.7g、6.0ミリモル)と5.0gのNa10[α−SiW34xHO(2.0ミリモル)を乾燥粉末として混合し、50mlの室温のHOに添加した。この溶液を30分間激しく撹拌し、その後、6モル濃度のHClを滴加してpHを1.5にし、透明なワインレッド色の溶液を得た。結果として生じた溶液を濾過し、15.0gの臭化テトラへキシルアンモニウム(THABr)を添加した。橙色のゲルを上部水層を除去して分離し、HOで完全に洗浄した。
Figure 2016511241
THA−SiVの得られた粉末を最小量のエタノール中に溶解し、10gのSiO(洗浄及び焼成、概位、造粒0.1〜0.5mm最小70%、CAS番号14808−60−7、Sigma−aldrich)を溶液に添加した。結果として生じた混合物を激しく撹拌し、ペトリ皿に移し、24時間空気乾燥させて、55℃のオーブン内で12時間乾燥させた。
物質の重量:29.8g
分子量:175.3g/モル
モル数:174ミリモル
実施例5
実施例1〜3及び比較例1のヘテロポリオキソメタレートを、それらの殺菌情動性について試験した。家庭用洗濯機から得られた洗濯廃水を、それぞれのヘテロポリオキソメタレートで覆われたペトリ皿内で、保存前、かつ100分間及び5日間の保存後のその合計好気性細菌数を試験した。結果を以下の表に要約する。
Figure 2016511241
これらの結果は、実施例1、2、3、及び4のヘテロポリオキソメタレートが優れた殺菌効率を示す一方で、シリコン系の比較例1のヘテロポリオキソメタレートは抗菌活性を示さないことを示す。
実施例6
実施例3及び4のヘテロポリオキソメタレートの熱安定性を、TGA(熱重量分析)及びDSC(示差走査熱量測定)によって決定した。
これらの測定の結果を、実施例3については図1、実施例4については図2に示す。RA4及びBK−6は、それぞれのヘテロポリオキソメタレートを示し、THAは、塩化テトラへキシルアンモニウムを示し、TBTDは、塩化トリブチルテトラデシルホスホニウムを示す。
データは、実施例3の化合物が最大約140℃まで熱的に安定であるということを示す。驚くべきことに、実施例4の類似のホスホニウム化合物は、最大約300℃までの熱安定性を示したということが見出された。

Claims (15)

  1. 式(I)、(II)、または(III)のヘテロポリオキソメタレートの使用であって、
    Figure 2016511241
    式中、
    ZがMoまたはWから選択され、
    指数q=0、1、2、または3であり、
    Aが、自己洗浄、ストリッピング、殺菌、自己消毒、殺生物、抗菌、及び/または脱臭特性を、基材もしくは基材の表面の少なくとも一部にまたはコーティングに提供するために、あるいは有機物質の分解及び/または減成のために、1つ以上のカチオン(陽イオン)から選択され、かつ四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される少なくとも1つのカチオンを含む、前記使用。
  2. 式(I)の前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、ZがMoであり、q=2である、請求項1に記載の使用。
  3. 式(III)の前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、ZがWである、請求項1に記載の使用。
  4. 前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aが四級アンモニウムカチオン及び四級ホスホニウムカチオンから選択され、好ましくはAがこれらのカチオンのうちの少なくとも2つの異なるカチオンを含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の使用。
  5. 前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aが少なくとも1つの四級アンモニウムカチオンを含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の使用。
  6. 前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aが少なくとも2つの異なる四級アンモニウムカチオンを含む、請求項5に記載の使用。
  7. 前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、前記四級アンモニウムカチオンが式(IV)のものであり、前記四級ホスホニウムカチオンが式(V)のものであり、前記三級スルホニウムカチオンが式(VI)のものであり、
    Figure 2016511241
    式中、残基R、R、R、及びRが、独立して、ポリマー及びC〜C20炭化水素から選択され、かつ任意で、前記残基R、R、R、及び存在する場合Rのうちの少なくとも2つが、環の一部であるか、または窒素、リン、もしくは硫黄原子と一緒に環を形成する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の使用。
  8. 前記ヘテロポリオキソメタレートにおいて、Aが、テトラブチルアンモニウムカチオン、テトラへキシルアンモニウムカチオン、テトラオクチルアンモニウムカチオン、メチルトリオクチルアンモニウムカチオン、トリブチルテトラデシルアンモニウムカチオン、テトラブチルホスホニウムカチオン、テトラへキシルホスホニウムカチオン、テトラオクチルホスホニウムカチオン、メチルトリオクチルホスホニウムカチオン、及び/またはトリブチルテトラデシルホスホニウムカチオンを含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載の使用。
  9. 前記ヘテロポリオキソメタレートが、[(CH(CHN][PW24]、[(CH(CHN][PW24]、[(CH(CHN(CH)][PW24]、及び[(CH(CHP((CH13CH3)][PW24]から選択される、請求項1に記載の使用。
  10. 式(I′)、(ΙI′)、または(III′)のイオンを含むヘテロポリオキソメタレートであって、
    Figure 2016511241
    式中、
    ZがMoまたはWから選択され、
    qが0、1、2、または3であり、
    mが20を超えて40未満の数であり、
    nが31を超えて62未満の数であり、
    oが12を超えて24未満の数であり、
    少なくとも1つのカチオンAが、四級アンモニウムカチオン、四級ホスホニウムカチオン、及び三級スルホニウムカチオンから成る群から選択される、前記ヘテロポリオキソメタレート。
  11. 請求項1で定義される式(I)、(II)、または(III)のヘテロポリオキソメタレートの調製における、請求項10に記載の式(I′)、(ΙI′)、または(III′)のヘテロポリオキソメタレートの使用。
  12. 自己洗浄、ストリッピング、殺菌、自己消毒、殺生物、抗菌、及び/または脱臭特性を、基材もしくは基材の表面の少なくとも一部にまたはコーティングに提供するための、あるいは有機物質の分解及び/または減成のための、請求項10に記載のヘテロポリオキソメタレートの使用。
  13. 請求項1〜10のいずれか一項で定義されるヘテロポリオキソメタレートまたはそれらの混合物を含む、基材、表面層、塗料、またはコーティング。
  14. 式(I′)、(II′)、または(III′)のヘテロポリオキソメタレートであって、
    Figure 2016511241
    式中、
    ZがMoまたはWから選択され、
    指数q=0、1、2、または3であり、
    A′が1つ以上のカチオンから選択され、かつ以下から選択される少なくとも1つのカチオンを含み、
    Figure 2016511241
    式中、残基R、R、R、及びRが、独立して、ポリマー及びC〜C20炭化水素から選択され、R、R、R、及びRのうちのいずれもポリマーでない場合、R、R、R、及び存在する場合Rのうちの少なくとも2つが、窒素、リン、または硫黄原子と一緒に環を形成する、前記ヘテロポリオキソメタレート。
  15. [(CH(CHN][PW24]、[(CH(CHN][PW24]、及び[(CH(CHP((CH13CH)][PW24]から選択されるヘテロポリオキソメタレート。
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