JP2015094002A - 基板保持盤およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】例えば液晶パネルまたはウェーハの露光装置用ないし検査装置用の基板を保持する基板保持盤に好適で、基板保持盤の全周面にDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜を被覆し、基板載置面の摩耗を防止し基板の摺動を円滑にするとともに、露光または検査時に側面から基板保持盤へ入射する光を抑制し基板載置面の低反射率を維持して、露光装置ないし検査装置の大型化と表面の低反射率化を図るとともに、DLC膜コーティングの合理化と低廉化を図り安価に製作できるようにした、基板保持盤およびその製造方法を提供する。【解決手段】母材表面1a側に複数のピン3と凹部4と吸引孔6を形成し、母材表面1aと裏面1bおよび側面1cの全周面をDLCコーティングした基板保持盤1。側面1cのDLC膜7aの膜厚を他部位周面のDLC膜7よりも肉厚に形成した。また、他部位周面のDLC膜7の膜厚を薄膜化した。【選択図】図2

Description

本発明は、例えば液晶パネルまたはウェーハの露光装置用ないし検査装置用の基板を保持する基板保持盤に好適で、基板保持盤の全周面にDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜を被覆し、基板載置面の摩耗を防止し基板の摺動を円滑にするとともに、側面のDLC膜の膜厚を他部位周面よりも厚く形成して、露光または検査時に側面から基板保持盤へ入射する光を抑制し基板載置面の低反射率を維持して、露光装置ないし検査装置の大型化と表面の低反射率化を図るとともに、他部位周面のDLC膜の膜厚を薄膜化して、DLC膜コーティングの合理化と低廉化を図り安価に製作できるようにした、基板保持盤およびその製造方法に関する。
微細なパタ−ンを形成する露光装置では、波長365nm(i線)、405nm(h線)、436nm(g線)の光線が使用され、光学検査用の装置では、白色光が使用される
これらの装置において、液晶パネル基板やSiCウェ−ハ等の透明基板を対象として露光処理または光学的な検査をする場合、基板保持盤からの光の反射によって、露光が不要な領域まで光が照射されたり、反射光のコントラストの変化から傷や異物等の擬似的な欠陥が検出されたりする不具合が生じていた。
このため、基板保持盤表面を黒色化したり粗面にして、前記表面の低反射率化を図るようにしている。
例えば、黒色系セラミックス製の基板保持盤表面を所定の粗面に研削後、ブラスト加工したり、アルミニウム製の基板載置台の表面をアルマイト処理して艶消し処理し、基板保持盤表面を低反射率化したものがある(例えば、特許文献1および2参照)。
しかし、前者の場合は、セラミックス製基板保持盤の焼結成形時に収縮や割れを生じ易いため、大型化が難しく歩留まりが低い上に、反射率が6〜10%と比較的高いという問題があった。また、後者の場合は、母材であるアルミニウムの熱変形による露光精度の低下や、繰り返し使用による載置面の摩耗によって、反射率が経年的に上昇変化する問題があった。
このような問題を解決するものとして、基板保持盤の表面に第1の被覆層を被覆し、この第1の被覆層を透明材料からなる第2の被覆層で被覆したものや、冶具本体表面にSiC製の内部層とAl23製の透明な表面層との二層からなるセラミック薄膜層を被覆したもの、更にアルミニウム板等の母材表面にセラミックス皮膜を溶射し、該セラミックス皮膜の表面に凹凸部を形成し、該凹凸部の表面に透明な超薄膜を形成して、基板保持盤の表面の反射率を低くしたものがある(例えば、特許文献3乃至5参照)。
しかし、前記内外二層の被覆層ないし皮膜は製作に手間が掛かり高価になるとともに、前二者の保持盤表面の反射率は約13%で高く、また後者の反射率は6〜7%であるが、均一なセラミックス皮膜を得難く、またその製作が高価になって近時の低反射率化と大型化ないしその軽量化と高精度化への対応が難しいという問題があった。
ところで、基板保持盤は経年的な使用によって基板の載置面が摩耗するため、基板保持盤の表面と裏面並びに側面に、耐摩耗性と摺動性に優れるDLC膜をコーティングして、摩耗を抑制するとともに、基板の摺動を円滑にするようにしたものがある(例えば、特許文献6および7参照)。
しかし、これらの基板保持盤は、低反射率を得るための適切なDLC膜の厚さが明示されておらず、一様な厚さのDLC膜コーティングで低反射率を得ようとすると、膜厚が10μm以上も必要となり、コーティングに時間が掛かりコ−ティング費用が高価になるとともに、DLC膜の残留応力の増加によって剥離し易くなる問題があった。
また、DLC膜が経年的な使用によって摩耗すると、基板載置面が短期間で摩耗し、基板の露光時に外部に散乱した光や周辺の光が側面のDLC膜から基板保持盤に入射して反射率が変化し、良好で一様な露光作用を得られず、近時の基板保持盤の大型化と低反射率化に対応できなくなる等の問題があった。
特許文献1:特許第4518876号公報
特許文献2:特開2005−332910号公報
特許文献3:特許第3095514号公報
特許文献4:特開平8−139168号公報
特許文献5:特開2012−203286号公報
特許文献6:特開2005−101247号公報
特許文献7:特開2004−9165号公報
本発明はこのような問題を解決し、例えば液晶パネルまたはウェーハの露光装置用ないし検査装置用の基板を保持する基板保持盤に好適で、基板保持盤の全周面にDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜を被覆し、基板載置面の摩耗を防止し基板の摺動を円滑にするとともに、側面のDLC膜の膜厚を他部位周面よりも厚く形成して、露光または検査時に側面から基板保持盤へ入射する光を抑制し基板載置面の低反射率を維持して、露光装置ないし検査装置の大型化と表面の低反射率化を図るとともに、他部位周面のDLC膜の膜厚を薄膜化して、DLC膜コーティングの合理化と低廉化を図り安価に製作できるようにした、基板保持盤およびその製造方法を提供することを目的とする。
請求項1の発明は、母材表面側に複数のピンと凹部と吸引孔を形成するとともに、母材表面と裏面および側面の全周面をDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜でコーティングした基板保持盤において、側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成し、露光時に側面側から基板保持盤へ入射する光を抑制し、基板保持盤表面の低反射率を維持して良好な露光作用ないし検査精度または検査環境を得られ、露光装置ないし検査装置の大型化と高精度化と高機能化を図る一方、他部位周面のDLC膜の薄膜化を図り、他部位周面のDLC膜コーティング時間と費用を低減して、合理的かつ安価に製作し得るようにしている。
そして、基板保持盤の表面側のDLC膜が損傷して石英基材等の母材が露出しても、他部位周面のDLC膜によって低反射率を維持できるという利点があり、この効果は一部のDLC膜コーティングが剥離しても、直ちに装置を停止して基板保持盤を交換する必要が無く、しばらくの間、性能を低下させることなく継続して使用でき、装置の稼働率の向上と生産性の向上を図れるようにしている。
請求項2の発明は、側面のDLC膜の膜厚を3〜6μmに形成するとともに、少なくとも前記ピンと凹部を含む母材表面に透明な薄膜をコーティングし、側面のDLC膜の膜厚を従来よりも薄膜に形成してコーティング時間と費用を低減するとともに、母材表面の透明な薄膜によって低反射率化を促進し、良好な露光作用ないし検査精度または検査環境を得られるようにしている。
しかも、前述のように表面側のDLC膜の損傷によって反射率の増加を生じないから、継続使用ないし寿命の向上を図れる極めて有効な効果を奏するようにしている。
請求項3の発明は、吸引孔の内面にDLC膜をコーティングし、吸引孔による反射を防止して、基板保持盤表面の低反射率化を促進するようにしている。
請求項4の発明は、母材表面の全反射率を5%以下にして、従来の基板保持盤に比べて全反射率を低下し、露光装置における二重露光を確実に防止して良好な露光作用を得られるようにしている。また、検査装置においては、反射光強度が低くなることによって、保持盤に起因するコントラスト変化を抑制し、検査基板の欠陥に起因するコントラストの変化を確実に検出できるようにしている。
請求項5の発明は、母材表面側に複数のピンと凹部と吸引孔を形成後、母材表面と裏面および側面の全周面をDLC(ダイヤモンドライクカ−ボン)膜コーティングする基板保持盤の製造方法において、ピンと凹部と吸引孔と側面にDLC膜コーティング後、前記側面と吸引孔と裏面をDLC膜コーティングし、前記側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成し、側面のDLC膜の肉厚化を容易かつ安価に実現し得るようにしている。
請求項1の発明は、側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成したから、露光時に側面側から基板保持盤へ入射する光を抑制し、基板保持盤表面の低反射率を維持して良好な露光作用を得られるとともに、他部位周面のDLC膜の薄膜化を図り、該周面のDLC膜コーティング時間と費用を低減して、安価に製作することができる。
そして、基板保持盤の表面側のDLC膜が損傷して石英基材等の母材が露出しても、他部位周面のDLC膜によって低反射率を維持できるという利点があり、この効果は一部のDLC膜コーティングが剥離しても、直ちに装置を停止して基板保持盤を交換する必要が無く、しばらくの間、性能を低下させることなく継続して使用でき、装置の稼働率の向上と生産性の向上を図ることができる。
請求項2の発明は、側面のDLC膜の膜厚を3〜6μmに形成するとともに、少なくとも前記ピンと凹部を含む母材表面に透明な薄膜をコーティングしたから、側面のDLC膜の膜厚を従来よりも薄膜に形成してコーティング時間と費用を低減するとともに、母材表面の透明な薄膜によって低反射率化を促進し、良好な露光作用ないし検査精度または検査環境を得ることができる。
しかも、前述のように表面側のDLC膜の損傷によって反射率の増加を生じないから、継続使用ないし寿命の向上を図れる極めて有効な効果を奏する。
請求項3の発明は、吸引孔の内面にDLC膜をコーティングしたから、吸引孔による反射を防止して、基板保持盤表面の低反射率化を促進することができる。
請求項4の発明は、母材表面の全反射率を5%以下にしたから、従来の基板保持盤に比べて全反射率を低下し、二重露光を確実に防止して良好な露光作用ないし検査精度または検査環境を得ることができる。
請求項5の発明は、ピンと凹部と吸引孔と側面にDLC膜コーティング後、前記側面と吸引孔と裏面をDLC膜コーティングし、前記側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成したから、側面のDLC膜の肉厚化を容易かつ安価に実現することができる。
本発明を適用した基板と基板保持盤の要部を拡大して示す斜視図である。 図1のA−A線に沿う基板保持盤の拡大断面図である。 本発明の基板保持盤の製造工程を順に示す説明図で、(a)は基板保持盤の母材を板状に切断した拡大断面図、(b)は切断した板状の母材に吸引孔を加工した状況を示す拡大断面図、(c)は吸引孔を形成後の表面にエッジとピンと凹部を形成した状況の要部を示す拡大断面図、(d)は前記加工後の表面側にDLC膜をコーティングした前半の状況の要部を示す拡大断面図、(e)は前半コーティング後、基板を反転し裏面側にDLC膜をコーティングした後半の状況の要部を示す拡大断面図、(f)はDLC膜コーティング後の表面に薄膜をコーティングした状況の要部を示す拡大断面図である。
本発明の基板保持盤の種々の実験例の要部を示す拡大断面図で、(a)〜(e)は実験例1〜5を示している。 前記実験例2,3と従来技術の全反射率の測定結果を比較して示すグラフである。
以下、本発明を液晶露光装置の液晶基板保持盤に適用した図示の実施形態について説明すると、図1乃至図4において1は石英ガラスを母材とする透明な基板保持盤で、矩形板状に形成され、その表面1aの周囲にエッジ2が突設され、該エッジ2の内側の表面1a側に多数のピン3と凹部4がそれぞれ等間隔に形成され、このピン3上にウエハ等の石英ガラス製の基板5を載置している。
前記ピン3と凹部4は、表面1aの表面を所望の平面度に研削後、サンドブラストまたは研削加工によって形成され、このうちピン3はエッジ2よりも幅狭の直径1mmφ、高さ0.2mmの円錐台形状または円筒状に形成され、隣接するピン3とは2mmピッチで形成されている。
前記適宜な凹部4に吸引孔6が形成され、該吸引孔6の下側開口部は真空ポンプ(図示略)に連通していて、ピン3周辺の空気を吸引して減圧し、ピン3上に載置した基板5を吸着保持するようにしている。
前記基板保持盤1の全周面、すなわち表面1a側のエッジ2とピン3と凹部4の全周面、および裏面1bの全周面と側面1cの全周面、吸引孔6の内面全面に耐磨耗性と摺動性に優れ、導電性を有するDLC膜7,7aがコーティングされている。
このうち、側面1cの全周面を除くDLC膜7の膜厚を10μm以下、実施形態では3μm以下に形成し、側面1cの全周面のDLC膜7aの膜厚を3〜6μmに形成し、側面1cのDLC膜7aを他のDLC膜7よりも肉厚に形成している。
前記DLC膜7,7aは、基板保持盤1に対するピン3と凹部4と吸引孔6の形成後、例えば実施形態のようなプラズマCVD法、或いはスパッタリング法によってコーティングしている。
すなわち、前記各部を形成した基板保持盤1を反応器8に搬入し、これを反応器8内に配置したカソード電極9に載置し、このカソード電極9と対向配置したアノード電極(図示略)間に高周波電圧を印加する。
これと同時に反応器8の入口側(図示略)から、例えば原料ガスであるメタンを供給して原料ガスをプラズマ10化し、反応器8内部のガスを出口側(図示略)から真空ポンプ(図示略)で排出する。
このようにして、原料ガスのメタンを分解し、分解した炭素をカソ−ド電極9上の基板保持盤1に付着させDLC膜7を堆積して、凹部4と吸引孔6の内面を含む基板保持盤1の表面1a側周面と、側面1c周面にDLC膜をコ−ティングする。
そして、前記周面を所定肉厚にDLC膜コーティング後、該コーティングを一旦中断し、カソード電極9上の基板保持盤1を反転して配置し、つまり裏面1bを上向きに配置し、エッジ2とピン3と凹部4を下向きに配置した後、反応器8内のプラズマ10化とDLC膜コーティングを再開し、吸引孔6の内面を含む基板保持盤1の裏面1bと側面1c周面にDLC膜コーティングする。
この場合、基板保持盤1を反転する代わりに、基板保持盤1を回転させながら表裏両面にDLC膜コーティングすることも可能であり、その場合は基板保持盤1の保持部におけるDLC膜コーティングに対応する必要がある。
このように基板保持盤1を反転し、その表面1a側と裏面1b側から前後二回に亘ってDLC膜コーティングすることによって、吸引孔6の内面を精密にDLC膜コーティングできるとともに、側面1c周面を前後二回に亘ってDLC膜コーティングすることによって、当該部のDLC膜7aを他の表面1a側周面および裏面1bのDLC膜7よりも容易かつ安価に肉厚に形成できるとともに、露光時に側面1cから基板保持盤1へ入射する光を抑制し、基板保持盤1表面の低反射率を維持できる。
そして、側面1cのDLC膜7aを他の表面のDLC膜7よりも肉厚に形成することによって、他の表面のDLC膜7の薄膜化を促がし、当該部のDLC膜7のコーティングの合理化と低廉化を図れる。
実施形態では基板保持盤1の表面1a側周面と裏面1bのDLC被膜の膜厚を3μm以下に形成し、側面1c周面のDLC被膜の膜厚を前記部位の膜厚以上の3〜6μmに形成している。
この後、少なくとも前記基板保持盤1の表面1a側の表面、つまりエッジ2とピン3と凹部4周面のDLC被膜上に無機透明の薄膜11を形成している。
前記薄膜11は、基板保持盤1の全表面にDLC膜コーティング後、基板保持盤1の表面1a側の表面に、硬化被膜が透明になる低粘性コート剤を塗布して形成され、その膜厚を2μm以下に形成している。したがって、薄膜11による基板保持盤1の平面度の悪化の懸念が無く、顕著な反射率低減が可能である。
実施形態では前記コート剤として、アルコキシシラン化合物を含むものやシロキサン系の無機系コート剤を使用し、基板保持盤1の表面1a側の表面に硬化被膜の無機透明の薄膜11を形成している。
次に、発明者は構成を異にした種々の基板保持盤1を製作し、それらの平面度や反射率、製作コストを比較して、最良の基板保持盤1を採択した。
先ず、実験例1の基板保持盤1は、図4(a)のように表面1a側のみに膜厚3μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面には薄膜11をコーティングせず、また側面1cと吸引孔6内にDLC膜7をコーティングしていない。
実験例2の基板保持盤1は、図4(b)のように表面1a側と裏面1b側に膜厚3μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面には薄膜11をコーティングせず、また側面1cに膜厚4〜6μmのDLC膜7をコーティングし、吸引孔6内に膜厚2〜6μmのDLC膜7をコーティングしている。
実験例3の基板保持盤1は、図4(c)のように表面1a側と裏面1b側に膜厚3μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面に極薄の薄膜11をコーティングするとともに、側面1cに膜厚4〜6μmのDLC膜7をコーティングし、吸引孔6内に膜厚2〜6μmのDLC膜7をコーティングしている。
実験例4の基板保持盤1は、図4(d)のように表面1a側と裏面1b側に膜厚10μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面に極薄の薄膜11をコーティングするとともに、側面1cに膜厚5〜20μmのDLC膜7をコーティングし、吸引孔6内に膜厚5〜20μmのDLC膜7をコーティングし、全体的にDLC膜7を肉厚にしている。
実験例5の基板保持盤1は、拡大して示した図4(e)のように表面1a側と裏面1b側に膜厚1μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面に極薄の薄膜11をコーティングするとともに、側面1cに膜厚1.5〜2μmのDLC膜7aをコーティングし、吸引孔6内に膜厚1〜2μmのDLC膜7をコーティングし、全体的にDLC膜7を肉薄にしている。
こうして製作した5種類の基板保持盤1に対し、平面度と波長360〜740nmに亘る反射率を測定する。
この場合、平面度測定にはミツトヨ製三次元測定器(RVA1500A)を使用し、基材表面のエッジ部およびピン先端部を合計20箇所測定した。また、反射率測定にはコニカミノルタ製分光側色計CM−2600dを使用して表面側の10箇所について、全反射率および拡散反射率を測定した。
前記反射率の結果は表1の通りで、正反射成分と拡散反射成分を足し合わせた全全反射率の測定結果は図5の通りである。
このうち、反射率は表面側の薄膜11のコーティングの有無によって、反射率が大きく変化し、薄膜11がコーティングされている、例えば実験例3が、コーティングされていない、例えば実験例2に比べて、反射率が著しく改善されていることが分かる。
また、全反射率は図5のように、実験例3が波長360〜720nmの全域に亘って約4%を維持し、実験例2が約8%であるのに比べて非常に低く、従来技術(特許文献5)と比べても360〜500nmの範囲で大幅に反射率を低下できる結果を得られた。
このことから薄膜11のコーティングが有利であると考えられる。これは薄膜11とDLC膜7の二重皮膜を入射光が伝播する際の屈折に原因していると考えられる。
製造コストは、DLC膜7の肉厚ないしその塗布作業の手間に関係し、DLC膜7が肉厚のものが薄肉のものよりも高いことが分かる。
これらの結果を実験例毎にまとめて総合評価したところ、次のような結果を得た。
Figure 2015094002
こうして平面度と反射率と製造コストを総合評価すると、実験例3が最も良い結果を得られた。実験例3を再掲すると次のようである。
表面1a側と裏面1b側に膜厚3μmのDLC膜7をコーティングし、それらの表面に極薄の薄膜11をコーティングし、側面1cに膜厚4〜6μmのDLC膜7aをコーティングし、吸引孔6内に膜厚2〜6μmのDLC膜7をコーティングする。
前記実験例3を前記実施形態と比較すると、両者は側面1cのDLC膜7aの膜厚以外は共通し、ただ実施形態の側面1cのDLC膜7aの膜厚が3〜6μmであるのに対し、実験例3のそれは4〜6μmであり、その範囲が僅かに狭くなっているが、概ね両者の構成は同一である、といえる。
このように構成した液晶基板保持盤は、母材を透明な石英ガラスとしたから、軽量で液晶基板サイズないし基板ステ−ジの大型化に伴なう基板保持盤1の大型化に対応できるとともに、熱変形が極めて小さく、露光装置においては露光精度の低下を防止することもできる。
また、検査装置においては、保持盤に起因する反射光の強度が低く、検査基板の欠陥に起因するコントラストの変化を確実に検出できるとともに、反射光のコントラストの変化を抑制し、擬似的な傷や異物等の検出を未然に防止し、検査精度を向上し得る。
しかも、基板保持盤1の表面と吸引孔6の内面に耐摩耗性と摺動性に優れるDLC膜7,7aをコーティングしたから、経年的な使用による摩耗を抑制し、基板5の長期に亘る円滑な移動を促がし、基板5の脱着を容易かつ速やかに行なえる。
したがって、従来のセラミックス製のように、焼結時の収縮や割れを生じ易くて歩留まりが悪かったり、またアルミニウムにブラックアルマイトをコーティングしたもののように、熱変形によって露光精度が低下するとともに、経年的な使用によってブラックアルマイトが摩耗し、反射率が変化する不具合から解消される。
更に、基板保持盤1は全面をDLC膜コーティングしたから、表面側のDLC膜コーティングがトラブルまたは劣化により剥離しても、他部位のDLC膜によって反射率は上昇することなく低反射率を維持できるため、直ちに装置を停止して基板保持盤を交換する必要がない。したがって、新たな基盤保持盤を準備している間も装置を稼働し得るから、装置稼働率の大幅な向上と生産性の向上を図れる。
前記基板保持盤1を製作する場合は、先ず透明な石英ガラスのインゴットを切断し、これを基板保持盤1を形成可能な寸法の矩形板状に切り出す。
この状況は図3(a)のようで、前記切断をダイヤモンド砥粒を固着した金属ブレードを用い、または切削油等の流体中に砥粒を混在させ、これをノズルから高速で噴射させて行なう。
次に、前記切り出した石英ガラス板の表裏両面を研削加工し、所望の厚さに精密に加工するとともに、それらの両面を所定の平面度と平坦度に加工し、この石英ガラス板に吸引孔6を形成する。この状況は図3(b)のようである。
この後、石英ガラス板の表面1aをサンドブラストおよび研削加工して、外周にエッジ2を形成し、その内側に多数のピン3と凹部4を形成する。この状況は図1および図2、図3(c)のようである。
そして、前記基板保持盤1の全周面、すなわち表面1a側のエッジ2とピン3と凹部4の全周面、および裏面1bの全周面と側面1cの全周面、吸引孔6の内面全面に耐磨耗性と摺動性に優れるDLC膜7,7aをコーティングする。
前記コーティングは、側面1cの全周面を除くDLC膜7の膜厚を10μm以下、実施形態では3μm以下に形成し、側面1cの全周面のDLC膜7aの膜厚を3〜6μmに形成し、側面1cのDLC膜7aを他のDLC膜7よりも肉厚に形成する。
前記DLC膜7,7aは、基板保持盤1に対するピン3と凹部4と吸引孔6の形成後、プラズマCVD法によってコーティングする。
すなわち、前記各部を形成した基板保持盤1を反応器8に搬入し、これを反応器8内に配置したカソ−ド電極9に載置し、このカソ−ド電極9と対向配置したアノ−ド電極(図示略)間に高周波電圧を印加する。
これと同時に反応器8の入口側(図示略)から、例えば原料ガスであるメタンを供給して原料ガスをプラズマ10化し、反応器8内部のガスを出口側(図示略)から真空ポンプ(図示略)で排出する。
このようにして、原料ガスのメタンを分解し、分解した炭素をカソード電極9上の基板保持盤1に付着させDLC膜7を堆積して、凹部4と吸引孔6の内面を含む基板保持盤1の表面1a側周面と、側面1c周面にDLC膜コーティングする。この状況は図3(d)のようである。
そして、前記周面に所定膜厚のDLC膜コーティング後、該コーティングを一旦中断し、カソ−ド電極10上の基板保持盤1を反転して配置し、つまり裏面1bを上向きに配置し、エッジ2とピン3と凹部4を下向きに配置した後、反応器8内のプラズマ10化とDLC膜コーティングを再開し、吸引孔6の内面を含む基板保持盤1の裏面1bと側面1c周面にDLC膜コーティングする。この状況は図3(e),(f)のようである。
この場合、基板保持盤1を反転する代わりに、基板保持盤1を回転させながら表裏両面にDLC膜コーティングすることも可能であり、その場合は基板保持盤1の保持部におけるDLC膜コーティングの欠損部に対処する。
このように基板保持盤1を反転し、その表面1a側と裏面1b側から前後二回に亘ってDLC膜コーティングすることによって、吸引孔6の内面を精密にDLC膜コーティングできる。
また、側面1c周面を前後二回に亘ってDLC膜コーティングすることによって、当該部のDLC膜7aを、他の表面1a側周面および裏面1bのDLC膜7よりも肉厚に形成でき、他の表面1a側周面および裏面1bのDLC膜7の膜厚の薄膜化を図れるから、当該部のDLC膜コーティングを合理的かつ安価に行なえる。
このように側面1cのDLC膜7aを肉厚に形成することによって、露光時に側面1cから基板保持盤1へ入射する光を抑制し、基板保持盤1表面の低反射率を維持して良好な露光作用を奏する。その際、吸引孔6の内面もDLC膜コーティングされているから、基板保持盤1表面の低反射率化を促す。
こうして製作した基板保持盤1を用いて基板5を露光する場合は、基板保持盤1を露光装置(図示略)の基板ステージ(図示略)上に配置し、その吸引孔6を真空ポンプ(図示略)に連通し、表面1a側に基板5を載置して真空ポンプを作動し、ピン3と凹部4周辺の空気を吸引して当該スペースを減圧し、基板5を保持する。
この状況の下で基板5の上方から露光光を照射し、これを投影光学系を介して基板5に入射し、所定のパターン像を基板5に結像する。
その際、基板5を透過した露光光の一部が基板保持盤1の表面1aに到達し、その一部が前記表面1aで反射して基板5に入射し、二重露光を引き起こす可能性がある。
この場合、実施形態の基板保持盤1の表面1aはDLC膜7と薄膜11とで被覆され、当該部の全反射率は5%以下で僅少であるから、前記反射光の入射を抑制し二重露光を防止する。
その際、基板5の外周部で露光光が散乱し、この散乱光と基板保持盤1の外部の光が側面1cから内部に入射し得るが、側面1cのDLC膜7aは他の部位のDLC膜7よりも肉厚であるから、前記入射を抑制する。
しかも、吸引孔6の内面にはDLC膜7が被覆され、吸引孔6を透過して表面1a側へ伝播する入射光を遮蔽するから、基板保持盤1の表面1aにおける反射光を抑制する。
このようにして基板保持盤1の表面1aにおける反射率が低下され、前記表面1aにおける反射が抑制されて、前記二重露光の発生を阻止し良好かつ安定した露光を実現する。 また、検査装置においては、保持盤からの反射光強度が低いため、保持盤起因のコントラスト変化を無視することができ、検査基板に起因する欠陥を精度良く検出し検査精度を向上することができる。
このように本発明の液晶基板保持盤およびその製造方法は、基板保持盤の全周面にDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜を被覆し、基板載置面の摩耗を防止し基板の摺動を円滑にするとともに、側面のDLC膜の膜厚を他部位周面よりも厚く形成して、露光または検査時に側面から基板保持盤へ入射する光を抑制し基板載置面の低反射率を維持して、露光装置ないし検査装置の大型化と表面の低反射率化を図るとともに、他部位周面のDLC膜の膜厚を薄膜化して、DLC膜コーティングの合理化と低廉化を図り安価に製作できるから、例えば液晶パネルまたはウェーハの露光装置用ないし検査装置用の基板を保持する基板保持盤に好適である。
1 母材(基板保持盤)
1a 母材表面
1b 裏面
1c 側面
3 ピン
4 凹部
5 基板
6 吸引孔
7,7a DLC膜
11 薄膜

Claims (5)

  1. 母材表面側に複数のピンと凹部と吸引孔を形成するとともに、母材表面と裏面および側面の全周面をDLC(ダイヤモンドライクカーボン)コーティングした基板保持盤において、前記側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成したことを特徴とする基板保持盤。
  2. 前記側面のDLC膜の膜厚を3〜6μmに形成するとともに、少なくとも前記ピンと凹部を含む母材表面に透明な薄膜をコーティングした請求項1記載の基板保持盤。
  3. 前記吸引孔の内面にDLC膜をコーティングした請求項2記載の基板保持盤。
  4. 前記母材表面の全反射率を5%以下にした請求項2または3記載の基板保持盤。
  5. 母材表面側に複数のピンと凹部と吸引孔を形成後、母材表面と裏面および側面の全周面をDLC(ダイヤモンドライクカーボン)コーティングする基板保持盤の製造方法において、前記ピンと凹部と吸引孔と側面にDLC膜コーティング後、前記側面と吸引孔と裏面をDLC膜コーティングし、前記側面のDLC膜の膜厚を、前記側面以外の他部位周面のDLC膜よりも肉厚に形成することを特徴とする基板保持盤の製造方法。
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